自动光学检查仪校准规范
自动光学检查仪结果不确定度评定示例

校准结果不确定度评定示例C.1像素分辨率测量结果不确定度的评定 C.1.1 测量模型δ=l式中:δ——像素分辨率,μm ;l ——被校仪器1个像素宽度对应刻线尺的读数,μm ;由测量模型可知,根据不确定度传播定律,灵敏系数为1。
C.1.2 不确定度来源测量不确定度来源主要有:测量重复性引入的不确定度分量、测量时刻线尺读数估读引入的标准不确定度、刻线尺量值溯源引入的不确定度分量。
C.1.3 标准不确定度评定C.1.3.1 测量重复性引入的标准不确定度u A1一台标称分辨率为20μm 的被校仪器,进行重复10次测量,得到测量列(20μm ):21、20、20、20、21、21、19、19、20、20。
算数平均值为:l =20.1μm单次测量结果的实验标准偏差为:s =√∑(l i−l )2n n=1(n −1)⁄=0.7μm 实际测量中是3次测量算数平均值作为测量结果,所以:u A1=s √3=0.4⁄μmC 1.3.2 采用0.01mm 分度值的刻线尺按十分之一估读,a =1μm ,符合均匀分布k =√3,因此:u A2=1√3=0.58⁄μm (与测量重复性引入的标准不确定度重复,二者取较大者) C.1.3.2测量标准量值溯源引入的标准不确定度u B根据刻线尺的最大允许误差不超过±1μm ,a =1μm ,符合均匀分布k =√3,因此:u B =1/√3=0.58μmC.1.4 合成标准不确定度不确定度分量见下表C.1.1所示:合成标准不确定度为:u c=√u A22+u B2≈1μmC.1.5 扩展不确定度取包含因子k=2,则扩展不确定度为:U=u c×k=2μmC.2尺寸示值误差结果不确定度的评定C.2.1 测量模型∆l XY=l xy−l s+l xy×αxy×∆t xy−l s×αs×∆t s式中:∆l XY——水平方向尺寸示值误差,mm;l XY——被校仪器3次测量平均值,mm;l s——测量标准的实际尺寸,mm;αxy、αs——被校仪器和标准线纹尺的线膨胀系数;∆t xy、∆t s——被校仪器和标准线纹尺偏离参考温度20℃的数值在公式中:为简化运算,舍去微小量,并转化相关项影响。
自动光学检测仪《Otek 700》操作指示

雅歌电子有限公司
文件名称
自动光学检测仪《Otek 700》操作指示
发行部门
IE
文件编号
OI-SB-044
页码
Page3of4版本A生来自日期2011.04.22
四、错误结果显示操作
1、当检测完一块板有错误时,会自动弹出缺陷图片对话框。
1.1、左面的图片中,黄色框内的元件即为当前NG的元件,右中间请验证图片中器件信息为当前PCB板的检测结果NG数量(X/XX)前面的“X”表示总NG点中的第X个NG点,后面的“XX”表示整块机板中有“XX”个NG点。
2、当电脑完成自检进入操作系统后,双击桌面的“AOI700”图标,打开操作软件,点击“口”放大图像。
3、点击菜单【载入】点击“D盘”→“DAT”→选择所需测试的机型(双击)→【确定】,此时屏幕右上方会显示所测机型的外形图,可以直观的确定是否为需要测试的机型及产品摆放在托架上的方向,显示器中间会弹出图片请放板!“图像采集”“开始检测”。
为了避免电脑硬盘可能受到损伤,并且保证测试程序及数据的完整,必须遵照以下操作顺序来执行系统的关闭工作。
1、点击操作系统菜单点击“停止”→“保存”→关闭操作画面,系统会自动保存数据并退出测试程序。
ALFA GOAL
雅歌电子有限公司
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自动光学检测仪《Otek 700》操作指示
发行部门
IE
文件编号
OI-SB-044
2、在测试时如出现NG点太多时,请及时通知PIE人员进行调试。
3、在关机时必须按正常程序关机,不能非法关机(即不能直接关掉总电源开关)。
发行部门
IE
文件编号
OI-SB-044
页码
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光学仪器的调节与校准方法

光学仪器的调节与校准方法光学仪器是科学研究、工程实践和医疗诊断中不可或缺的工具。
为了保证光学仪器的精确度和稳定性,调节与校准方法至关重要。
本文将介绍几种常用的光学仪器调节与校准方法,并探讨它们的原理和应用。
一、对焦调节对焦是光学仪器调节与校准的第一步。
通过调整物镜与目标之间的距离,使目标清晰地出现在像差轴上。
对焦调节可以通过以下几种方法实现:1. 目视对焦:这是最直观的对焦方法,操作人员通过观察物镜下的像差轴,调整物镜与目标的距离,直到获得清晰的像差轴。
这种方法适用于简单的光学仪器,如显微镜和望远镜。
2. 自动对焦:自动对焦是一种快速且准确的对焦方法。
利用传感器检测成像平面上的对焦品质,通过反馈机制控制物镜与目标的距离,使成像结果最佳化。
自动对焦被广泛应用于高端相机和显微成像系统。
二、像差校正像差是光学系统的常见问题之一,它由光的折射和散射引起,导致成像结果模糊或失真。
为了校正像差,常用的方法有:1. 弥散像差校正:弥散像差是由于光线通过非理想的透镜而引起的。
通过选择合适的透镜材料和曲率半径,以及利用多个透镜的组合,可以降低或消除弥散像差。
这需要经验和精确的计算。
2. 色差校正:色差是不同波长的光线通过透镜或棱镜时产生的像差。
色差校正的方法包括选择特定的光学材料,使用复合透镜和棱镜组合,以及使用颜色校正滤波器。
这些方法可以减少或消除色差,提高成像的色彩保真度。
三、光路校正光路校正是调节光学仪器中光源和成像平面之间光线的传播路径,以确保成像结果的准确性和稳定性。
常见的光路校正方法有:1. 光轴调整:光轴调整是指调整光源、物镜和目镜之间的光轴,使其完全重合。
通过利用调节螺丝或细微移动装置,可以实现光轴的精确调整。
2. 平面校正:平面校正是调整光路中的反射镜或棱镜,使光线垂直于成像平面。
通过精确调整平面的位置和倾斜角度,可以确保光线在成像平面上均匀地聚焦,减少畸变。
四、信号校准光学仪器的信号校准是指调整和校准仪器的接收和处理部分,以提高信号的质量和稳定性。
全自动光学影像测量仪验收报告

全自动光学影像测量仪验收报告一、设备基本信息设备名称:全自动光学影像测量仪型号:OMM-2000制造商:XXX仪器有限公司采购日期:XXXX年XX月XX日保修期:一年二、设备外观检查对设备外观进行仔细检查,确认设备无损坏,无明显刮痕,各部件齐全,符合要求。
三、设备性能测试1.测试设备开机、关机及各项功能按键的正常工作。
2.测试设备各轴的移动是否平稳,无异响。
3.测试设备的载物台、镜头及测量软件等主要组件的性能。
4.测试设备的测量重复性和测量精度。
四、设备精度校准按照设备制造商提供的校准方法,对设备的测量精度进行校准,确保设备的测量精度符合要求。
五、操作界面验收1.测试设备的操作界面是否友好,易于操作。
2.测试设备的操作界面与软件功能的匹配性。
3.测试设备操作界面的语言及字体是否清晰、易读。
六、软件功能测试1.测试软件的各项功能是否正常工作。
2.测试软件的兼容性和稳定性。
3.测试软件的数据处理和输出能力。
七、设备稳定性评估连续运行设备一段时间,观察设备的运行状态,包括设备的稳定性、温度控制、声音等。
评估设备的运行稳定性,判断是否需要采取相应的措施。
八、培训与文档1.确保供应商提供了必要的培训资料和培训课程,以便操作人员能够正确使用和维护设备。
2.检查设备的技术规格、操作手册、维修手册等文档是否齐全,内容是否准确无误。
3.验证供应商是否提供必要的技术支持和售后服务,包括电话支持、在线咨询和现场维护等。
确保在设备使用过程中遇到问题时能够及时得到解决。
4.对培训和文档进行详细记录和评估,以便后续的维护和管理。
将培训和文档的评估结果作为验收报告的一部分,为设备的长期使用和管理提供参考依据。
5.如果在验收过程中发现设备存在任何问题或不符合要求,应及时通知供应商进行整改或处理。
确保设备的性能和质量符合要求,保证设备的正常运行和使用效果。
同时,在验收报告中记录问题点,以便后续的维护和管理。
AOI自动光学检测仪维护保养规程

AOI自动光学检测仪维护保养规程一、维护保养目的:此文件建立了AOI 设备的预防性维护保养程序.通过执行此文件,能使机器更加稳定的运行,降低停机时间,提高产品品质,并能延长机器使用寿命。
二、维护保养内容工具和保养消耗品:真空吸尘器,T形六角棒,刷子,酒精,无尘纸,除锈剂,1.日维护保养操作员必须做好以下几项:1.1用碎布清洁机器表面.1.2检查气压值是否在5bar以上,当低于5bar时,请通知相关人员。
2.周维护保养:维保责任人必须做好以下几项:2.1检查及清洁各个传感器2.2用无尘布清洁机器内部2.3检查并用无尘布清洁照相机检查传送皮带有无破损及皮带滑轮有无松动必要时更换。
2.4测试各项功能控制系统是否正常3.月维护保养维护保养责任人必须作好以下机器部件的清洁、维护3.1清洁所有防尘盖控制箱和冷却风扇灰尘,擦拭干净所有盖板油污。
3.2清洁空气过滤器芯,调整压缩空气压力为5+0.1bar3.3检查活动部位轴的连线是否松动,如有松动请进行紧固3.4检查皮带松紧度3.5检查并校正(如有必要)传送皮带3.6清洁机器风扇过滤器3.7清洁X/Y轴导轨并加一薄层10#油膜。
4.年度维护保养维护保养责任人除作好设备的周、月维护保养外,还须作好以下几项内容4.1检查调整机器水平4.2检查机器所有螺丝是否松动,如有紧固该部件。
4.3校正机器参数和做备份。
(必须参考说明书)4.4清洁、润滑PCB传送轨道的导轨、丝杆三、注意事项:注意环保,不同垃圾扔进相应垃圾筒。
当机器进行"清洁"和"注油"时一定要先关掉机器电源。
在保养时,当发现有部件即将损坏时应立即更换。
任何部件拆卸过必须做相应的校正。
做保养后须暖机20分钟.不同部件用油必须正确。
月维护包括了周维护,周维护包括了日维护,所以当月维护和周维护一起进行时,保养记录只需做月维护的记录,依此类推。
.做好保养后须填好维护保养记录表。
自动光学检查(AOI)

技术进步:更高精度、更快速 度、更智能的OI设备
应用领域:拓展到更多行业, 如半导体、电子、汽车等
市场竞争:国内外企业竞争加 剧,推动技术升级和创新
环保要求:满足绿色制造和可 持续发展的要求,降低能耗和 污染
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汇报人:XX
OI可以大大提高生产效率,减少人 工检查的错误率。
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OI主要用于检测电子产品的表面缺 陷、焊点质量、元件放置等。
OI广泛应用于电子制造行业,如 PCB、SMT等领域。
自动光学检查 (OI)是一种 通过光学手段 对电子元件进 行自动检查的
技术。
OI系统通常包 括一个摄像头, 一个光源和一 个图像处理系
统。
工作原理:摄像 头拍摄电子元件 的图像,光源提 供均匀的照明, 图像处理系统分 析图像,检测出
缺陷和异常。
OI的优点:速 度快,准确度 高,可以检测 出人工检查难 以发现的缺陷。
电子行业:用于检测电路板、半导 体等电子元件的缺陷和故障
航空航天行业:用于检测机、卫 星等航空航天设备的缺陷和故障
准备阶段:确定检测目标和标准, 准备检测设备和工具
分析阶段:对检测数据进行分析和 处理,找出存在的问题和缺陷
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检测阶段:按照预定的流程和标准 进行检测,获取检测数据
报告阶段:将检测结果和分析结果 整理成报告,提供给相关人员和部 门
检测结果分为合格和不合格两种
不合格结果表示产品不符合标准要 求,需要返修或报废
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合格结果表示产品符合标准要求, 可以继续生产
自动光学检查(AOI)
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五、发展的方向
• 智能化:在 SMT的微型化、高密度化、快速组装化、品种多 样化发展特征下,检测信息量大而复杂,依赖人工对AOI获 取的质量信息进行分析、诊断几乎已经不可能,这就需要 AOI还具有自动纠正错误的功能。代替人工进行自动分析。 • 彩色化:AOI虽然用的是3CCD的相机,抓取的彩色的图像, 大部分的算法只提取了颜色中的部分信息,例如灰度,来进 行图像的识别,或者将RG颜色空间的三个通道分别处理后再 合成。人类对大脑的颜色处理机制仍未完全理解。因此,如 何充分利用RGB三颜色通道的信息,是彩色图像处理的关键, 也是AOI技术的一个飞跃。 • 多元化:目前所见的AOI基本只应用于表面贴装技术,应用 最多的是PCB板的检测。不再局限于SMT的应用将是未来几年 的发展方向。
照明光源
电机、驱动系统 机构部分 PCB固定及轨道调整、定 位精度 最大尺寸 被检查物 基板厚度、质量 边缘间距 器件高度
环形LED可调光源最佳
离线设备一般考虑用步进电机、丝杆结构足可 在线设备应有滚珠结构及磁悬浮定位系统。由于AOI的精度主要取决于图像分辨率, 运动控制精度在 一定范围内不会对AOI精度造成影响
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四、存在的问题
2.国内AOI发展的问题
• 由于发展起步相对较晚,目前国内自主研发的AOI检测算法复杂、 烦琐且调整时间长,由于前期的PCB图像拼接等图像处理算法以及 后期的检测识别算法都不够成熟,整个AOI系统不仅操作复杂,而 且经常出现误判漏判等问题,检测速度慢与SMT生产线不协调,检 测精度和速度远远不能满足实际应用的需求精度。
返修标识
软件 图像识别 编程 升级 系统误差 运动误差、图像采集及 处理误差 板弯曲补偿 价格 售后 用户
有的设备是标配, 有的是选配, 并且如果是不同岗位用, 应考虑配置两台机, 以及传输数据等
aoi光学检测仪操作规程
aoi光学检测仪操作规程AOI光学检测仪操作规程一、前言AOI(Automated Optical Inspection)光学检测仪是一种高效、高精度的自动化检测设备,主要用于PCB (Printed circuit board)和SMT(Surface Mount Technology)组装过程中的质量检测。
为确保设备的正常运行和操作人员的安全,制定本操作规程。
二、设备检查与准备1. 检查仪器本体和附件是否完好无损。
2. 检查设备是否连接到正确的电源,并确保电源稳定。
3. 检查设备底座是否平稳,并防滑垫是否牢固。
4. 检查摄像头和光源是否清洁,如有污垢应及时清理。
5. 确保设备周围环境清洁整洁,无杂物和易燃物。
三、操作步骤1. 打开电源开关,待仪器自检完成后,进入系统界面。
2. 使用鼠标点击开始按钮,进入操作界面。
3. 在操作界面上,选择需要检测的项目和参数,例如检测速度、亮度等。
4. 将待检测的PCB或SMT组件放置在检测台上,并根据需要调整组件的位置和方向。
5. 点击开始检测按钮,仪器将自动启动检测流程。
6. 检测过程中,操作人员应密切观察视觉窗口的显示,确保检测结果准确。
7. 若检测结果异常,可以点击提取图像按钮,保存检测图像以便后续分析。
8. 检测结束后,关闭电源开关,将仪器和附件清洁并归位。
四、操作注意事项1. 在操作过程中,应佩戴防静电手套和无尘工作服,以防止静电和灰尘对设备和待检测物品的影响。
2. 严禁将手指或其他物体伸入设备内部,以防止夹伤或触电等意外事故。
3. 仅限经过培训和授权的人员操作设备,未经许可禁止擅自改变设备设置和参数。
4. 检测台面应保持平整,以确保待检测物品的稳定和准确度。
5. 检测过程中,应避免突然切断电源或操作错误,以免损坏设备和缺失检测数据。
6. 在设备开机和操作前,应定期清洁设备内外和镜头,以确保检测结果的准确性。
7. 定期对设备进行维护和保养,如清洁过滤器、校准镜头等,以延长设备寿命和保持稳定性。
自动旋光仪的操作规程(3篇)
自动旋光仪的操作规程操作规程如下:1. 准备工作- 确保自动旋光仪工作环境干净整洁,没有杂物- 检查仪器电源是否正常,是否连接到电源插座- 确保仪器的连接线缆和传感器是否安装正确并牢固- 打开仪器电源开关,等待仪器初始化完成2. 校准仪器- 进入仪器设置界面,进行仪器校准- 依据仪器校准的步骤和要求进行操作,校准仪器的各项参数- 校准过程中严格按照操作步骤进行,确保校准的准确性和可靠性- 校准完成后,保存校准参数并退出设置界面3. 样品准备- 准备待测试的样品,确保样品符合测试要求- 根据样品的特性和要求,进行适当的预处理,例如稀释或稀释等- 将样品放置在样品台上,确保样品的位置正确且稳定,避免因样品移动导致测试结果的误差4. 进行测试- 进入测试界面,选择适当的测试模式和参数- 选择合适的测试波长和光源,设置测试时间和间隔- 确定测试的次数和重复度,设置好数据记录方式- 点击开始测试按钮,启动测试过程5. 数据处理- 测试完成后,进入数据处理界面- 可以选择进行数据的查看、保存或导出等操作- 根据需要,进行数据的处理、统计和分析- 确保数据记录的准确性和完整性,避免因操作失误导致数据的错误6. 仪器维护- 测试结束后,及时关闭仪器电源开关- 对仪器进行日常的清洁和维护,确保仪器的正常使用- 定期对仪器的关键部件和传感器进行检查和维修- 如发现仪器存在故障或异常,及时进行故障排除和修复7. 安全注意事项- 在操作过程中,要注意个人安全,避免触碰到有电流的部件- 在仪器工作时,不要将手指或其他物体放入仪器内部- 注意避免仪器受潮、受热或受到强磁场干扰- 在操作过程中,要保持专注和集中注意力,避免操作失误以上即为自动旋光仪的操作规程,按照以上步骤进行操作,可以确保仪器的正常运行和测试结果的准确性。
为了确保操作的可靠性和安全性,请在操作前仔细阅读并理解操作规程,并在操作过程中严格按照规程进行操作。
自动旋光仪的操作规程(2)操作规程-自动旋光仪一、安全注意事项:1. 使用自动旋光仪前,请务必阅读并理解本操作规程,确保操作员能够正确、安全地使用仪器。
自动光学检查(AOI)
多件
立碑 网孔堵塞 虎焊侧立源自破件错件反背
短路
引线浮起
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二、国内外发展
1. AOI发展历史
• 20世纪50年代开始研究二维图像的统计模式识别。 • 60年代Roberts开始进行三维机器视觉的研究。(国内的三维技术现在
处于研发阶段) • 70年代中,MIT人工智能实验室正式开设“机器视觉”课程。 • 1982年,以色列Orbotech开始引入用于PCB裸板的AOI系统。 • 1998年后,国内电子和半导体工厂,开始引进带有高科技技术含量
2. 贴装检测。元件贴装环节过程中常
出现漏贴、偏移、歪斜、极性相反 等缺陷。
3. 回流检测。检测元器件的缺失、偏移
和极性相反等情况,焊点的正确性
以及焊膏是否充分、焊接短路和元
器件翘脚等缺陷进行检测。
4
一、AOI的用途
• AOI基于光学图像处理和计算机视觉识别技术原理来对PCB 组 件生产过程中遇到的缺陷进行检测。
步进马达
伺服马达
线性马达
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三、核心的构造
3.软件系统
软件系统的核心是分析算法,分为设计规则检验法和图形识别检验法。
Ⅰ、规则检验法(DRC)是按照一些给定的规则检测图形。如以所有 连线应以焊点为端点,所有引线宽度、间隔不小于某一规定值等规 则检测PCB电路图形。
规则检验法具有可以从算法上保证被检验的图形的正确性,相应的
镜 定焦定倍 头
光 源
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三、核心的构造
2. 机械系统 Ⅰ、AOI的控制结构图
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三、核心的构造
Ⅱ. 马达
线性马达精确度高,但价格昂贵。伺服马达的精确度仅次于 线性马达。步进马达的精确度较低,但价格十分便宜,采用 步进电机作为驱动装置的AOI,检测的质量是不可信的。因
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JJF(电子)0055─2020目录引言 (Ⅱ)1 范围 (1)2 引用文件 (1)3 术语和计量单位 (1)4 概述 (2)5 计量特性 (2)6 校准条件 (2)6.1环境条件 (2)6.2 测量标准及其他设备 (2)7 校准项目和校准方法 (3)7.1外观及工作正常性检查 (3)7.2像素分辨率 (3)7.3尺寸示值误差 (3)7.4 色彩还原能力 (3)7.5 亮度不均匀性 (4)7.6灰阶等级 (4)8 校准结果表达 (4)9 复校时间间隔 (5)附录 A 原始记录格式 (6)附录 B 校准证书内页格式 (9)附录 C 校准结果不确定度评定示例 (12)自动光学检查仪校准规范1 范围本规范适用于利用可见光检测的自动光学检查仪(Automatic Optic Inspection Equipments,简称AOI设备)的校准。
2 引用文件JJG 453 标准色板检定规程JJF 1318 影像测量仪校准规范GB/T 5698 颜色术语GB/T 9403 反射式灰度级测试图注:凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本规范;凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本规范。
3 术语和计量单位3.1 尺寸测量误差 length measurement error与摄像头系统光轴方向垂直的测量平面上尺寸测量的示值误差。
[JJF 1318-2011,术语3.3]3.2 色 color光作用于人眼引起除空间属性以外的视觉特性。
用色名或色的三属性来表示的视觉特性。
[GB/T 5698-2001,术语4.1]3.3 三刺激值 tristimulus values在三色系统中,与待测色刺激达到色匹配所需的三种参照色刺激的量。
注:在XYZ表色系统中,采用[X],[Y],[Z]三刺激值。
在X10Y10Z10表色系统中,采用[X10],[Y10],[Z10]三刺激值。
[GB/T 5698-2001,术语4.23]3.4 色品(度)坐标 chromaticity coordinates各个三刺激值与它们之和的比。
在XYZ色度系统中,由三刺激值X、Y、Z可算出色品坐标x、y、z。
[GB/T 5698-2001,术语4.39]4 概述自动光学检查仪是基于光学原理来对焊接生产中遇到的常见缺陷进行检测的设备。
如下图1所示主要由机械部件、摄像组件、控制模块、数据处理及显示系统组成。
测量原理为:通过摄像头自动扫描PCB等部件,采集图像,测试焊点与数据库中合格的参数进行比较,检查出PCB等部件的缺陷,并通过显示器或自动标记定位缺陷位置。
摄像头LED灯样品架控制器显示器图 1 自动光学检查仪结构示意图5 计量特性5.1像素分辨率:测量范围(10~100)μm,根据出厂指标;5.2尺寸示值误差:测量范围10μm ~1000mm,最大允许误差±10μm;5.3色彩还原能力:至少能够分辨红色、绿色、蓝色;5.4亮度不均匀性:测量范围(0~100)%,最大允许误差≤10%5.5灰度等级:不低于5级或根据出厂指标。
注:以上技术指标不作为合格性判断依据,仅供参考。
6 校准条件6.1 环境条件6.1.1 环境温度:(20±3)℃,室温变化±0.5℃/h;6.1.2 相对湿度:不超过70%;校准用标准器在室内平衡温度时间不少于3 h。
6.2 测量标准及其他设备6.2.1刻线尺:至少满足(0~1)mm时,分度值不大于10μm,示值误差不超过±1μm;6.2.2标准线纹尺或台阶规:其扩展不确定度不超过被校对象最大示值允许误差三分之一;6.2.3标准色板或色卡:至少有白色、红色、绿色、蓝色,标准色板符合JJG 453-2002 标准色板检定规程二级以上的要求;6.2.4灰阶卡:符合GB/T 9403-1988的要求。
7 校准项目和校准方法7.1 外观及工作正常性检查外观及工作正常性检查用目视和手动进行检查仪器的名称、型号、出厂编号、制造厂名等标志,记录在附录A.1表格中。
7.2 像素分辨率将刻线尺放在仪器样品架上,调节样品架位置,使刻线尺进入拍摄区域进行拍摄,对拍摄的图像进行放大到能够看到单个像素块,刻线尺读数时按十分之一估读,记录在附录A.2表格中,按式(1)计算分辨率。
δ=l(1)式中:δ——像素分辨率,μm;l——被校仪器1个像素宽度对应刻线尺的读数,μm;7.3 尺寸示值误差选择标准线纹尺及台阶规放入样品架,调节样品架在X、Y或Z方向移动,使测量标准零位位于拍摄区域,设置被校仪器显示值为零,然后移动样品架使测量标准的拟校准点刻度进入拍摄区域进行拍摄,记录被校仪器显示示值,重复3次计算平均值l XY或 ℎZ。
量程范围内选择不少于3个点(量程范围内10%、50%、100%附近)作为校准点。
记录在附录A.3表格中,用以下公式计算尺寸示值误差∆l XY、∆ℎZ。
∆l XY=l XY−l s(2)式中:∆l XY——水平方向尺寸示值误差,mm;l XY——被校仪器3次测量平均值,mm;l s——相应标准玻璃线纹尺刻线间的实际值,mm。
∆ℎZ=ℎZ−ℎs(3)式中:∆ℎZ——垂直高度尺寸示值误差,mm;ℎZ——被校仪器3次测量平均值,mm;ℎs——台阶规的高度实际值,mm。
7.4 色彩还原能力对于能够显示颜色数值的被校仪器,对白色、红色、绿色、蓝色标准色板或色卡的Y、y、x或RGB值进行测量,每种色度重复测量3次,取平均值与测量标准的标准值之差为示值误差,记录在附录A.4表格中,按以下公式计算:∆Y=|Y̅−Y0|∆y=|y̅−y0|(4)∆x=|x̅−x0|或∆R=|R̅−R0|∆G=|G−G0|(5)∆B=|B̅−B0|式中:Y0、y0、x0、R0、G0、B0——标准色板或色卡的标准值;Y̅、y̅、x̅、R̅、G、B̅——被校仪器3次测量平均值。
对于不能读取颜色具体数值的仪器,用目视方法确定颜色识别能力。
7.5 亮度不均匀性对于能够显示亮度数值的被校仪器,使用灰阶卡,放在样品架4个角以及中心位置,分别读取5个测试点的光度值,记录在附录A.5表格中,用以下公式计算亮度不均匀性:×100%(6)R=L max−L minL̅式中:R——被校仪器亮度不均匀性,%;L max——被校仪器光度测试点中的最大示值,cd/cm2或lx及其他光度单位;L min——被校仪器光度测试点中的最小示值,cd/cm2或lx及其他光度单位。
L̅——被校仪器光度测试点中的平均示值,cd/cm2或lx及其他光度单位。
对于无法读取亮度具体数值的仪器,使用灰阶卡,放在样品架4个角以及中心位置,拍摄图片,分别读取5个测试点的灰度等级,最大差值为亮度不均匀。
7.6 灰阶等级在被校仪器样品架放入灰阶卡,使其正常观察状态,直接读取灰阶等级,记录在附录A.6表格中。
8 校准结果表达校准后,出具校准证书。
校准证书至少应包含以下信息:a) 标题:“校准证书”;b) 实验室名称和地址;c) 进行校准的地点(如果与实验室的地址不同);d) 证书的唯一性标识(如编号),每页及总页数的标识;e) 客户的名称和地址;f) 被校对象的描述和明确标识;g) 进行校准的日期,如果与校准结果的有效性和应用有关时,应说明被校对象的接收日期;h) 如果与校准结果的有效性应用有关时,应对被校样品的抽样程序进行说明;i) 校准所依据的技术规范的标识,包括名称及代号;j) 本次校准所用测量标准的溯源性及有效性说明;k) 校准环境的描述;l) 校准结果及其测量不确定度的说明;m)对校准规范的偏离的说明;n) 校准证书签发人的签名、职务或等效标识;o) 校准结果仅对被校对象有效的说明;p)未经实验室书面批准,不得部分复制证书的声明。
9 复校时间间隔建议复校时间间隔不超过1年。
由于复校时间间隔的长短是由仪器的使用情况、使用者、仪器本身质量等诸多因素决定的,因此,送校单位可根据实际使用情况自主决定复校时间间隔。
______________________________附录A原始记录格式A.1外观及工作正常性检查表A.1 外观及工作正常性检查A.2像素分辨率表A.2像素分辨率A.3尺寸示值误差表A.3尺寸示值误差A.4色彩还原能力表A.4.1色彩还原能力(适用于可以读出色坐标的自动光学检查仪)表 A 4.2色彩还原能力(适用于不可读出色坐标的自动光学检查仪)A.5亮度不均匀性表A.5亮度不均匀性A.6灰度等级表A.6灰度等级____________________________附录B校准证书内页格式B.1外观及工作正常性检查表B.1 外观及工作正常性检查B.2像素分辨率表B.2像素分辨率B.3尺寸示值误差表B.3尺寸示值误差B.4色彩还原能力表B.4.1色彩还原能力(适用于可以读出色坐标的自动光学检查仪)表 B 4.2色彩还原能力(适用于不可读出色坐标的自动光学检查仪)B.5亮度不均匀性表B.5亮度不均匀性B.6灰度等级表B.6灰度等级____________________________附录C校准结果不确定度评定示例C.1 像素分辨率测量结果不确定度的评定 C.1.1 测量模型δ=l式中:δ——像素分辨率,μm ;l ——被校仪器1个像素宽度对应刻线尺的读数,μm ;由测量模型可知,根据不确定度传播定律,灵敏系数为1。
C.1.2 不确定度来源测量不确定度来源主要有:测量重复性引入的不确定度分量、测量时刻线尺读数估读引入的标准不确定度、刻线尺量值溯源引入的不确定度分量。
C.1.3 标准不确定度评定C.1.3.1 测量重复性引入的标准不确定度u A1一台标称分辨率为20μm 的被校仪器,进行重复10次测量,得到测量列(20μm):21、20、20、20、21、21、19、19、20、20。
算数平均值为:l =20.1μm单次测量结果的实验标准偏差为:s =√∑(l i−l )2n n=1(n −1)⁄=0.7μm 实际测量中是3次测量算数平均值作为测量结果,所以:u A1=s √3=0.4⁄μmC 1.3.2 采用0.01mm 分度值的刻线尺按十分之一估读, a =1μm ,符合均匀分布k =√3,因此:u A2=1√3=0.58⁄μm (与测量重复性引入的标准不确定度重复,二者取较大者) C.1.3.2 测量标准量值溯源引入的标准不确定度u B根据刻线尺的最大允许误差不超过±1μm ,a =1μm ,符合均匀分布k =√3,因此:u B =1/√3=0.58μmC.1.4 合成标准不确定度不确定度分量见下表C.1.1所示:合成标准不确定度为:u c=√u A22+u B2≈1μmC.1.5 扩展不确定度取包含因子k=2,则扩展不确定度为:U=u c×k=2μmC.2尺寸示值误差结果不确定度的评定C.2.1 测量模型∆l XY=l xy−l s+l xy×αxy×∆t xy−l s×αs×∆t s 式中:∆l XY——水平方向尺寸示值误差,mm;l XY——被校仪器3次测量平均值,mm;l s——测量标准的实际尺寸,mm;αxy、αs——被校仪器和标准线纹尺的线膨胀系数;∆t xy、∆t s——被校仪器和标准线纹尺偏离参考温度20℃的数值在公式中:为简化运算,舍去微小量,并转化相关项影响。