ASME射线评片要点

焊缝射线检测通用工艺规程
ASME 规篇（节选）
3.6.3像质计型号
使用SE-747中规定的1A、1B、1C线型像质计；特殊情况下也可使用JB4730中规定的R10系列像质计。

常见透照厚度围两种像质计钢丝线径和线编号的对应情况见表3.3。

3.7 透照厚度和像质计的选用
3.7.1部分透照围应达到的像质计灵敏度见表3.3。

3.7.3 像质计的放置
线型像质计应放在射线源一侧的工件表面上被检焊缝区的一端（被检区长度的1/4左右部位）。

金属丝应横跨焊缝并与焊缝方向垂直，且细丝置于外侧。

当射线源一侧无法放置像质计时，也可放在胶片一侧的工件表面上，但可识别像质计的线编号应通过对比试验，使实际像质计灵敏度达到规定的要求。

像质计放在胶片一侧工件表面上时，应附加“F”标记以示区别。

像质计的放置原则见表3.5
在允许的底片黑度围，底片上被测量处的黑度与像质计灵敏度指定钢丝处的底片黑度，当
b
F b
d Ug -=
两者黑度变化超过-15%或+30%时，超差区域应放置像质计重新拍片。

由于工件原因造成底片黑度变化较大时（如管子环缝非中心法透照），应在底片有效评定区围允许黑度的最大部位和最小部位处各放置一个像质计，以测定不同黑度下的底片灵敏度。

3.7.4 像质计的观察
在底片上黑度均匀的部位能够清晰地看到长度不小于10 mm 的连续金属丝影像时，则认为该金属丝是可被识别的。

搭接标记的安放位置见表3.6
3.9.3
几何不清晰度规定
几何不清晰度由下式决定：
式中： Ug ——几何不清晰度，mm ；
d ——焦点尺寸，mm ；
b Ug db F m in +=
b ——工件厚度，mm ； F ——焦距，mm 。

3.9.4 焦距F 、一次透照长度 L3 和最少透照次数 N 的计算 3.9.
4.1 纵缝透照（平板状工件） 最小焦距F min 由下式确定：
最少透照次数N min ：不设定，所需透照次数按底片黑度进行控制。

在可以实施的情况下，应尽可能采用单壁透照技术。

为了证实能充分覆盖，应进行足
够次数的曝光 3.9.4.2 环缝透照
a. 小径管(管子外径Do ≤89mm)双壁双影透照 最少透照次数N min ：
1. 椭圆成像：N min =每个接头至少要进行二次互成90°的曝光。

2. 垂直成像：N min =每个接头至少要进行三次互成60°或120°的曝光。

b. 双壁双影透照时的最小焦距F min ：
不同规格的小径管其透照时的最小焦距应不小于表3.9中的数值。

为便于现场使用，b 可近似看成管子外径Do ，而f (焦点到工件表面的距离)则用b 的倍数
来表示，焦距 F min = f + b 。

(表中b 未包括余高，如精确计算则 b=D O + 双侧余高。

)
表3.10
部分小径管双壁双影透照时的最小f
3.9.
4.3. 除小径管双壁双影外其它环缝透照：
按透照方式可分为以下五种，在满足几何不清晰度要求的情况下其最少透照次数分别为：
1. 环缝单壁外透法：按-15%～+30%控制底片的最大和最小黑度，确定最少透照次数。

2. 环缝透法：
①F=R 中心法（R—半径）透照次数≥1次。

3. 双壁单影法：至少进行三次互成120°的曝光。

3.9.
4.4 底片有效长度
底片有效长度应小于底片实际长度，连续透照时底片两端应各留出≥20mm作为搭接长度。

3.11.
4.1 底片黑度应符合表3.12的要求。

表3.12 底片黑度围
3.12 焊缝缺陷等级评定
长宽比小于或等于3的缺陷定义为圆形缺陷。

它们可以是圆形、椭圆形、锥形或带有尾巴（在测定尺寸时应包括尾巴）等不规则的形状。

缺陷的种类包括气孔、夹渣和夹钨等。

长宽比大于3的缺陷定义为条形缺陷，包括气孔、夹渣和夹钨等。

焊缝缺陷等级评定见表3.13、表3.14、3.15和表3.16。

3.12.1焊缝缺陷评定之一
3.12. 2 焊缝缺陷等级评定之二。