LED可靠度信赖性试验程序
LED信赖性检验规范
陇汉8000
2
冷热冲击实验
Thermal Shock
测试样品：抽检30pcs
测试条件：
(-40℃/30mins)→(120℃/30mins)/cycle
测试要求：实验前测试不死灯，放置冷热冲击箱内注意防止静电，实验后测试不死灯，循环200次。
判定标准：LED不死灯及明显损坏
作业方法: 见<冷热冲击实验作业指导书>
判定标准：LED碗杯无发黑现象
烧杯
酒精灯
13
防静电测试
ESD test
测试样品：10pcs
测试条件：Ta=25℃
测试要求：电压设定300V、500V、1KV、2KV、3KV、4KV、5KV、6KV、7KV、8KV,
放电间隔时间为0.2S,放电次数10次。
判定标准： 漏电流测试Ir﹤1µA
ESD
Keithley (2400 series)
测试条件：Ta=85±2℃;RH=90±5% IF=产品规格
测试要求：实验前测试初始光电参数并记录，将待测产品放入高温高湿箱内点亮达到规格电流，实验完成后测试光电参数并记录，时间1000Hrs。
判定标准：1、亮度或光通量为初始值的0%以内
2、VF变化±0.2V内
3、X、Y偏移量≤0.013
4、IR﹤2µA
测试要求：实验前测试初始光电参数并记录，将待测产品放入常温实验室内点亮达到规格电流，实验完成后测试光电参数并记录，时间1000Hrs。
判定标准：1、亮度或光通量为初始值的0%以内
2、VF变化±0.2V内
3、X、Y偏移量≤0.013
4、IR﹤2µA
作业方法: 见<常温动态实验作业指导书>
陇汉8000
LED可靠性试验ORT测试规范
（3）试验条件、场所；
（4）开始时间与结束时间。
6.2取样品：每个星期的星期二，实验员按质量部主管给的上一周《信赖性（ORT）计划表到仓库领料211颗（注：可以零头包装，但必须为合格品）。
6.3试验准备：样品领来后先放到烘箱里进行除湿，烘箱参数设置150℃±5℃，烘烤1小时,除湿后将样品分成15颗、50颗、100颗、20颗、20颗、6颗共6份。
（2）为使设备利用最大化，可以在试验过程中加进新的实验工单，但要做好记录以免拿错影响实验结果；
（3）试验完成后用2.5V稳压电源做点亮测试，如发现某一个颗粒死灯，则在X-RAY设备上拍摄焊线形态做定性分析并记录，试验结束后将试验的样品全部返回工厂实验员（不良品也要返回）
6.5高温存储：
（1）试验条件：100℃ 1000 小时
6.3.3回流焊接试验：
（1）设置回流焊机参数：炉温：160、170、180、190、200、210、230、260链速80cm/min；
（2）把50颗样品用锡膏贴到铝基板上，待炉温升到设定的温度时放到回流焊机器的履带上，进行回流焊接试验；
（3）冷却后，再次过一遍回流焊；
（4）将过了两遍回流焊并冷却的试验颗粒用稳压电源点亮并记录结果。
五、作业流程图：
5颗
六、作业步骤：
6.1每周一质量主管从ERP系统导出上一周投单量大于500K的所有工单，如果多个工单的芯片、支架、胶水和金线（合金线）全部相同（不考虑色温），则从多个工单里随机取2个工单做可靠性实验，列出《信赖性试验计划》，计划的内容必须明确以下信息：
（1）工单基本信息及参数要求；
试验条件：温度：60℃ ，湿度：90%RH，时间： 1000 小时；
（2）试验方法：将20颗灯珠放到料盘里，首次开机按机器操作规范打开设备，放入样品，启动实验；
LED灯具可靠性测试规范
LED灯具可靠性测试规范1、目的建立实验室LED灯具可靠性测试的标准与规范，完善产品测试标准，提高产品质量。
2、适用范围本标准适用于模组类、柔性灯带类以及直条灯类成品可靠性测试。
3、内容3.1 测试项目成品可靠性测试包含但不限于以下项目，在提交测试过程中根据实际情况在测试单中注明需要执行的测试项目。
基础参数测试：产品的基本参数；环境测试：温度循环、冷热冲击、高湿热循环、高温存储、低温存储、高温高湿储存、抗UV测试；寿命测试：常规衰减测试、高温高湿寿命测试、低温衰减测试、加速衰减测试、规定焊点温度下衰减测试；破坏性测试：通断电测试、过压/欠压测试、IP防护等级测试、输入输出短路测试、导线连接处抗拉力测试、灯带弯折性测试、极性保护测试、耐酸性测试、盐雾试验、静电测试；机械测试：振动测试、堆码测试、跌落测试。
3.2 测试要求类别试验项目试验设备试验条件持续时间样品数量测试部门基础参数电流/功率/光通量/显色指数/色温/压降和电流差/配光曲线电源积分球万用表室温下，产品在标配情况下点亮测试。
主要测试参数有：单个成品的电流、功率、光通量、显色指数、色温、产品级联后的的压降和首尾电流差。
产品配光曲线图（必要时）两个标准级联单位的成品质保中心实验室环境试验温度循环高低温交变湿热试验箱 -40℃～25℃～100℃～25℃30分钟5分钟30分钟5分钟循环100回合 5pcs/0.5m/<0.6m冷热冲击 -40-7015分钟15分钟循环150回合 5pcs/0.5m/<0.6m高湿热循环 30℃～65℃RH=90% 24小时/1回合 72h 5pcs0.5m/<0.6m高温存储 Ta=80℃ 168h 5pcs/0.5m/<0.6m低温存储 Ta=-40℃ 168h 5pcs/0.5m/<0.6m高温高湿存储Ta=70℃RH=90% 168h 5pcs/0.5m/<0.6m抗UV测试BE-UV-8 紫外线灯箱用强紫外线直接照射被测试件表面，加速表面的老化。
LED信赖性测试标准
LED信赖性测试标准——P2、SMD LED(GB)(2011-08-16 21:13:40)转载▼标签：f4测试标准信赖性杂谈分类：LEDACPP2 LED Lamps/SMD---InGaN and GaN (Blue, Cyan, Green)Type Test ApplicableStandardsTest Condition NoteNumberofDamagedEnvironment al Sequence Temperature CycleJEITAED-4701100 105–40℃~25℃~100℃~25℃30mins,5mins,30mins,5mins200cycles0/20 Thermal Shock*MIL-STD-202G–40℃~100℃30mins,30mins200cycles0/20Moisture-ResistanceCycleJEITAED-4701200 20325℃~65℃~–10℃90%RH 24H/cycle10cycles0/20High-TemperatureStotageJEITAED-4701200 201T A=100℃1000H0/20 Humidity Heat StorageJEITAED-4701100 103T A=60℃RH=90%1000H0/20Low-TemperatureStorage*JEITAED-4701200 202T A=–40℃1000H0/20Operation Sequence Life Test*–T A=25℃Oval: I F=35mA(GB)1000H0/20Items marked with * are selective.LED信赖性测试标准——P4 LED(RY)(2011-08-16 21:15:24)转载▼标签：杂谈分类：LEDACPP4 LED Lamps---AlInGaP(Red, Amber)Type Test ApplicableStandardsTest Condition NoteNumberofDamagedEnvironmen tal Sequence Temperature CycleJEITAED-4701100 105–40℃~25℃~100℃~25℃30mins,5mins,30mins,5mins200cycles0/20 Thermal Shock*MIL-STD-202G–40℃~100℃30mins,30mins200cycles0/20Moisture-ResistanceCycleJEITAED-4701200 20325℃~65℃~–10℃90%RH 24H/cycle10cycles0/20High-TemperatureStotageJEITAED-4701200 201T A=100℃1000H0/20 Humidity Heat StorageJEITAED-4701100 103T A=60℃RH=90%1000H0/20Low-TemperatureStorage*JEITAED-4701200 202T A=–40℃1000H0/20Operation Sequence Life Test*–T A=25℃I F=35mA1000H0/20 High Humidity Heat LifeTest*–60℃RH=90%I F=20mA500H0/20 Low Temperature LifeTest–T A=–30℃I F=30mA1000H0/20Destructive Sequence Resistance to SolderingHeatJEITAED-4701T SOL=260(+/-5)℃,10sec3 time0/20Items marked with * are selective.LED信赖性测试标准——P4 LED(RY)(2011-08-16 21:15:24)转载▼标签：杂谈分类：LEDACPP4 LED Lamps---AlInGaP(Red, Amber)Type Test ApplicableStandardsTest Condition NoteNumberofDamagedEnvironmen tal Sequence Temperature CycleJEITAED-4701100 105–40℃~25℃~100℃~25℃30mins,5mins,30mins,5mins200cycles0/20 Thermal Shock*MIL-STD-202G–40℃~100℃30mins,30mins200cycles0/20Moisture-ResistanceCycleJEITAED-4701200 20325℃~65℃~–10℃90%RH 24H/cycle10cycles0/20High-TemperatureStotageJEITAED-4701200 201T A=100℃1000H0/20 Humidity Heat StorageJEITAED-4701100 103T A=60℃RH=90%1000H0/20Low-TemperatureStorage*JEITAED-4701200 202T A=–40℃1000H0/20Operation Sequence Life Test*–T A=25℃I F=35mA1000H0/20 High Humidity Heat LifeTest*–60℃RH=90%I F=20mA500H0/20 Low Temperature LifeTest–T A=–30℃I F=30mA1000H0/20Destructive Sequence Resistance to SolderingHeatJEITAED-4701T SOL=260(+/-5)℃,10sec3 time0/20300 302(3mm from the base ofthe epoxy bulb)Solderability JEITAED-4701300 303T SOL=235(+/-5)℃,5sec(using flux)3 time(over95%)0/20Lead Bend Test JEITAED-4701400 401Load 5N (0.5kgf)0°~ 90°~ 0° bend 2timesNonotice-abledamage0/20Lead Pull Test JEITAED-4701400 401Load 10N (1kgf)10(+/-1)secNonotice-abledamage0/20ESD Electrostatic DischargeTestAEC(Q101-001)Human body model1000V(Forward and Reversecurrent conductelectricity,each 1 time)0/10Items marked with * are selective. Failure CriteriaItem Symbol TestConditionCriteria for JudgmentMin MaxForwardVoltageV F I F=70mA–Initial Data x 1.1 ReverseCurrentI R V R=5V–1uALuminousFlux/ Intensity /I V I F=70mAInitial Data x 0.65(Totaldegradation)Initial Data x 0.5(Singlelamp degradation)–分享LED信赖性测试标准——P4 LED(GB)(2011-08-16 21:17:53)标签：分类：LEDf4测试标准信赖性p4杂谈ACPP4 LED Lamps---InGaN and GaN (White,Blue, Cyan, Green)Items marked with * are selective.LED信赖性测试标准——P2、SMD LED(RY)(2011-08-16 20:53:42)转载▼标签：杂谈分类：LEDACPP2 LED Lamps/SMD---AlInGaP(Red, Amber)Type Test ApplicableStandardsTest Condition NoteNumberofDamagedEnvironmen tal Sequence Temperature CycleJEITAED-4701100 105–40℃~25℃~100℃~25℃30mins,5mins,30mins,5mins200cycles0/20 Thermal Shock*MIL-STD-202G–40℃~100℃30mins,30mins200cycles0/20Moisture-ResistanceCycleJEITAED-4701200 20325℃~65℃~–10℃90%RH 24H/cycle10cycles0/20High-TemperatureStotageJEITAED-4701200 201T A=100℃1000H0/20 Humidity Heat StorageJEITAED-4701100 103T A=60℃RH=90%1000H0/20Low-TemperatureStorage*JEITAED-4701200 202T A=–40℃1000H0/20Operation Sequence Life Test*–T A=25℃Oval: I F=20mA(GB)IF=30mA(R)Round:I F=20mA(GB)IF=30mA(R)1000H0/20High Humidity Heat LifeTest*–60℃RH=90%I F=20mA500H0/20 Low Temperature LifeTest–T A=–30℃I F=20mA1000H0/20Items marked with * are selective.LED信赖性测试标准——P2、SMD White (2011-08-16 20:49:44)转载▼标签：f4测试标准信赖性杂谈分类：LEDACPP2 White LED Lamps/SMDType Test ApplicableStandardsTest Condition NoteNumberofDamagedEnvironmen tal Sequence Temperature CycleJEITAED-4701100 105–40℃~25℃~100℃~25℃30mins,5mins,30mins,5mins200cycles0/20 Thermal Shock*MIL-STD-202G–40℃~100℃30mins,30mins200cycles0/20Moisture-ResistanceCycleJEITAED-4701200 20325℃~65℃~–10℃90%RH 24H/cycle10cycles0/20High-TemperatureStotageJEITAED-4701200 201T A=100℃1000H0/20 Humidity Heat StorageJEITAED-4701100 103T A=60℃RH=90%1000H0/20Low-TemperatureStorage*JEITAED-4701200 202T A=–40℃1000H0/20Operation Sequence Life Test*–T A=25℃Oval: I F=25mARound: I F=20mA1000H0/20High Humidity Heat LifeTest*–60℃RH=90%I F=20mA500H0/20 Low Temperature Life –T A=–30℃1000H0/20Test I F=20mADestructive Sequence Resistance to SolderingHeatJEITAED-4701300 302T SOL=260(+/-5)℃,10sec(3mm from the base ofthe epoxy bulb)3 time0/20 SolderabilityJEITAED-4701300 303T SOL=235(+/-5)℃,5sec(using flux)3 time(over95%)0/20 Lead Bend TestJEITAED-4701400 401Load 5N (0.5kgf)0°~ 90°~ 0° bend 2timesNonotice-abledamage0/20 Lead Pull TestJEITAED-4701400 401Load 10N (1kgf)10(+/-1)secNonotice-abledamage0/20ESD Electrostatic DischargeTestAEC(Q101-001)Human body model1000V(Forward and Reversecurrent conductelectricity,each 1 time)0/10Items marked with * are selective. Failure CriteriaItem Symbol TestConditionCriteria for JudgmentMin MaxForwardVoltageV F I F=20mA–Initial Data x 1.1 ReverseCurrentI R V R=5V–1uALuminousFlux/ Intensity /I V I F=20mAInitial Data x 0.7(Totaldegradation)Initial Data x 0.5(Singlelamp degradation)–大功率LED一般的可靠性试验标准2012年05月03日11:28 | 分类：经验总结LED封装常用原物料的质量要求：。
LED灯可靠性测试方法汇总
LED灯可靠性测试方法汇总
（1高温高压及其冲击测试，2低温低压及其冲击测试，3常温常压冲击测试，4温度循环测试，5恒定湿热测试，6振动测试，7寿命测试）
一、高温高压及其冲击测试：
测试对象：LED 灯具（含 LED Driver 的成品灯具）
测试方法：
1，将 5 款 LED 灯具放置在一个室温为60℃的房间；
2，通过调压器将 LED 灯具的输入电压调为最大额定输入电压的 1.1 倍
3，接通电源，点灯 24H，并观察灯具是否有损坏、材料受热变形等异常现象；4，点灯测试后，通过继电器控制灯具在此环境下进行冲击测试，测试设置为：点灯 20s、
熄灯 20s，循环 100 次。
测试要求：
A，灯具在经过高温高压测试后，不能发生表面脱漆、变色、开裂、材料变形等异常现象；
B，灯具在经过冲击测试后，不能发生漏电、点灯不亮等电气异常现象。
二，低温低压及其冲击测试：
测试对象：LED 灯具（含 LED Driver 的成品灯具）
测试方法：
1，将 5 款 LED 灯具放置在一个-15℃的环境下；
2，通过调压器将 LED 灯具的输入电压调为最小额定输入电压的 0.9 倍
3，接通电源，点灯 24H，并观察灯具是否有损坏、材料受热变形等异常现象；4，点灯测试后，通过继电器控制灯具在此环境下进行冲击测试，测试设置为：。
LED产品可靠性试验介绍
LED产品可靠性试验介绍本文主要站在LED制造者或使用者的立场来探讨对应不同的使用环境与场所，较具有效益的可靠性试验项目以及这些试验的基本原理，可做为制造者依据不同产品类别选择较有效益的可靠性试验，也可作为平时生产抽样检验之用。
由于地球的能源不断的减少，温室效应所造成的环境问题，也日趋严重，节能减排，降低温室效应以及减低资源的耗损速度等，成为人类共同的责任。
近几年LED随技术与制程能力不断提升，高亮度产品质量与使用寿命提高后，逐渐扩展应用领域到做为室内外照明灯源、LCD产品背光模块、车用灯具组等较高端产品。
再者，LED产品普遍具有体积小、省电、无毒性、光源具方向性、维修费用低等的优点，因而再度受到世人重视，产业因此成为一项重要的发展。
若以电子产品等级架构Level 0～Level 3（注：L0～L3表示电子产品自晶圆制造、构装、上板组装、系统成品等四阶段）的观点来看，LED产品则是自上游至下游均以其为命名主体。
由于产品的普及化与应用范围越来越广泛，因而可靠性的要求得以受到重视。
国际主要LED大厂均有一套独立的验证标准，本文主要站在LED制造者或使用者的立场来探讨对应不同的使用环境与场所，较具有效益的可靠性试验项目以及这些试验的基本原理，可做为制造者依据不同产品类别选择较有效益的可靠性试验，也可作为平时生产抽样检验之用。
零件可靠性试验LED零件结构可概分为表面黏着型（SMD）与插件型（DIP）两大类别。
LED零件与一般IC封装所使用材料不同，但结构相近且较简易。
LED零件的主要可靠性试验可分为：可靠性试验预处理流程、环境寿命试验、焊锡性、耐热性、静电（ESD）等项目，并于试验前后以光学特性量测计算其光学特性衰退情形做为判断基准。
依使用环境与区域不同，得以选择适当的试验项目进行验证。
可靠性试验预处理流程（Pre-conditioning）预处理流程适用于SMD型LED，其目的系仿真LED零件在系统厂组装过程，并且使用较严苛条件，迫使零件吸湿后进行热应力试验，是执行LED零件可靠性试验的标准前处理作业流程。
LED灯可靠性测试
III、测试项目---1,高温高压及其冲击测试：针对对象：LED 灯具（含LED Driver 的成品灯具）参照标准：行业经验测试方法：1，将5 款LED 灯具放置在一个室温为60℃的房间；2，通过调压器将LED 灯具的输入电压调为最大额定输入电压的1.1 倍3，接通电源，点灯24H，并观察灯具是否有损坏、材料受热变形等异常现象；4，点灯测试后，通过继电器控制灯具在此环境下进行冲击测试，测试设置为：点灯20s、熄灯20s，循环100 次。
测试要求：A，灯具在经过高温高压测试后，不能发生表面脱漆、变色、开裂、材料变形等异常现象；B，灯具在经过冲击测试后，不能发生漏电、点灯不亮等电气异常现象。
III、测试项目---2，低温低压及其冲击测试：针对对象：LED 灯具（含LED Driver 的成品灯具）参照标准：行业经验测试方法：1，将5 款LED 灯具放置在一个-15℃的环境下；2，通过调压器将LED 灯具的输入电压调为最小额定输入电压的0.9 倍3，接通电源，点灯24H，并观察灯具是否有损坏、材料受热变形等异常现象；4，点灯测试后，通过继电器控制灯具在此环境下进行冲击测试，测试设置为：点灯20s、熄灯20s，循100 次。
测试要求：A，灯具在经过低温低压测试后，不能发生表面脱漆、变色、开裂、材料变形等异常现象；B，灯具在经过冲击测试后，不能发生漏电、点灯不亮等电气异常现象。
III、测试项目---3，常温常压冲击测试：针对对象：LED 灯具（含LED Driver 的成品灯具）参照标准：行业经验测试方法：1，将5 款LED 灯具放置在一个室温为25℃的环境下；2，按LED 灯具的额定输入电压接通电源点灯；3，通过继电器控制灯具在常温常压下进行冲击测试，测试设置为：点灯30s、熄灯30s，循环10000 次。
测试要求：A，灯具在经过常温常压冲击测试后，不能发生漏电、点灯不亮等电气异常现象。
III、测试项目---4，温度循环测试：针对对象：LED 灯具（含LED Driver 的成品灯具）参照标准：行业经验测试方法：1，将5 款LED 灯具放置在一个测试箱，测试箱的温度可以调节温度变化速率；2，按LED 灯具的额定输入电压接通电源点灯；3，测试箱的温度变化范围设置为从-10℃到50℃，温变速率为：大于1℃/min，但小于5℃/min；4，测试箱在高温和低温各保持0.5H，循环8 次。
LED信赖性检验规范
良品进行试验。 Tested samples shall be in normal temperature Ta=23±5℃ for 2hrs before testing. Testing Condition:Ta=23±5℃ RH=55±20%RH IF=30mA.
5.2 高温保存试验 High temperature storage 目的：验证产品装置保存在高温时之耐久性试验。 Objective: To verify product characteristics resistance under high temperature storage test. 试验环境：Ta=100℃±10℃ Test environment temp:Ta=100℃±10℃ 试验仪器：高温箱 Test Equipment: Oven 试验数量：22PCS Test Qty’:22PCS 试验条件：T=1,000 hours Test condition: T=1,000 hours 试验步骤：a.试验前测试材料的亮度、VF/IR 值，并将其数值记录在 LED Reliability Test Procedure: (WI-QC-S-0060E). a. Measure tested samples' IV、VF、IR, and record data into “LED Reliability Test” (WI-QC-S-0060E). Before preceding the test. b.将测试好材料放置高温箱 1000hrs. Tested sample be placed in the oven for 1000hrs. c.放置 1000hrs 后，在常温下放置 2 小时以上，若附着水滴时，应事先擦拭干净 后测试 Remove sample from oven and leave for at least 2hrs in room temperature, and dry the sample if sample surface found moisture. d.试验后测试材料的亮度、VF/IR 值，并将其数值记录在 LED Reliability Test 上(WI-QC-S-0060E). Measure and record IV、VF、IR value after the test into“Test Record Sheet”(WI-QC-S-0060E). e.算出每组数据的 AVG、MAX、MIN 值，并判定其结果。 Calculate AVG、MAX、MIN value in every test, and conclude its results for the acceptability. 判定标准：顺向电压（VF）＜1.1×U.S.L Standards: Forward voltage （VF）＜1.1×U.S.L 逆向电流（IR）＜2.0×U.S.L Reverse Current（IR）＜2.0×U.S.L 亮度读值（IV）＞0.5×L.S.L Intensity value (IV) ＞0.5×L.S.L 外观正常 Appearance inspection
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性，平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益，请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间：9:00-18:30)。
可靠度信赖性试验程序目 录List章 节 页 次 Chapter Page1. 目的 (1)Purpose2. 范围 (1)Scope3. 职责 (1)Colligation4. 程序内容 (1)Content of procedure主 题Subject可靠度信赖性试验程序 Credibility and reliability testprocedure 编号NO.系类号Breed NO.部门码Part NO.序号码Order NO.页次PageQP QC 022 1/71.目的:保证本厂的产品品质特性及高可靠度,以满足客户需求。
Purpose: Ensure our factory product quality characteristic and in high reliability to satisfy customer requirement 。
2.范围:Scope2.1 客户提出要求时。
Customer present requirement2.2 新芯片试作时。
Try new die2.3 芯片进料批号抽测时。
Sampling lot NO. of die incoming2.4 依年度信赖性试验计划表排定执行。
Refer yearly of reliability test planning table schedule to perform。
3.职责:品管部主办。
Obligation: QC dept sponsorship生产部协办。
Produce dept cooperated4.程序内容Procedure content4.1 客户要求Customer requirement主 题Subject可靠度信赖性试验程序 Credibility and reliability testprocedure 编号NO.系类号Breed NO.部门码Part NO.序号码Order NO.页次PageQP QC 022 2/74.1.1 如为本地客户需求,管理部服务组填写服务申请单向品管部提出申请。
If customer requirement in local, serviced team of managementdept fill in serviced application to QC dept offerapplication if customer requirement of abroad HK andKingbright business dept can passage FAX E-mail and Telrecords to communication requirement information。
4.1.2 取样型号、数量依客户需求进行取样。
采取样本可采用库存品、指定生产排线或现行生产品。
Sample NO, quantity refer customer requirement tosample ,assumed sample can apply inventory product, namedproduce schedule and actuality product。
4.1.3 试验条件可参考信赖性试验、实施, 或依客户提出之要求条件进行。
Test condition refers reliability test、to execute or refercustomer offer requirement team to do。
4.1.4 试验完成后, 将结果汇整后, 正本保留, 副本转交业务部或管理部服务组, 由该部人员呈交客户。
After the test finished and arranged the result, scriptreserved, copy turn sales dept or management dept servicedteam the hand in customer by this dept’s personal。
主 题Subject可靠度信赖性试验程序 Credibility and reliability testprocedure 编号NO.系类号Breed NO.部门码Part NO.序号码Order NO.页次PageQP QC 022 3/74.2 新芯片试作Try new die4.2.1 供应商提供新机种芯片, 由采购单位开立样品试作单后交品管部,品管部对其提供规格进行检验, 相关作业参阅新芯片试作Vendor offer new machine die after purchasing section callfor sample try sheet hand in QC dept QC dept refer this measureto inspection mutuality operator see new die try to enforced4.2.2 试验完成后, 结果汇整交采购及生产单位参考。
After test finished, arranged the result and hand inpurchasing and production section reference。
4.3 芯片进料批号抽测Die incoming lot NO. sampling4.3.1 芯片进料后,须依其批号进行抽检,以验证进料芯片的信赖性,相关作业参考芯片批号试作实施。
After die incoming should refer lot NO to sample forinspection incoming die reliability mutuality operatorreference to die lot NO try to forced。
4.3.2 抽检结果以E_mail的方式通知相关单位, 合格者正常使用, 不合格者开立来料异常通知单该批号芯片须退回供应商。
The result of sampling for “E_mail”notice mutuality section,conforming uses in normal and nonconforming issued “Incomingdefect notification”, this lot NO. die should return tovendor.4.4 年度计划排定Scheduled yearly plans主 题Subject可靠度信赖性试验程序 Credibility and reliability testprocedure 编号NO.系类号Breed NO.部门码Part NO.序号码Order NO.页次PageQP QC 022 4/74.4.1 排定的机种选择主要以客诉抱怨多的机种为主, 其它则以大宗产品为辅进行取样, 若有汽车业专用之产品或较大宗生产品则为参考的主要对象。
Schedule the species of machine select main for customerlawsuits and complain the main of the machine species othersfor democratize product accompany, if there are automobileindustry product appropriation and contrast the democratizeproduct for reference to main target。
4.4.2 全盘尺寸检验与机能测试同纳入排定计划中与信赖性试验合并施行。
All suit inspection and functional test are generalized inscheduled plan and reliability test together executed。
4.4.3 每年6月及12月份排定下半年度计划, 并记录于可靠度信赖性试验进度计划表Before every year June and December schedule the nexthalf-yearly plan and record to credibility and reliabilitytest schedule.4.5 其它需求Others requirement厂内进行额外的信赖性验证, 由主办单位提出样品试作单并载明试作项目及内容。
Making extra reliability confirm in factory, sponsorship offered the try sample sheet and loaded try item and content.4.6 试作步骤Try steps4.6.1 取样方式Sample plan主 题Subject可靠度信赖性试验程序 Credibility and reliability testprocedure 编号NO.系类号Breed NO.部门码Part NO.序号码Order NO.页次PageQP QC 022 5/7(1) 以各式芯片进行取样。
For all sort of the die to sampling(2) 以当月生产产品为主。
For the main of product in moment month produced(3) 或以需求方供应品进行取样。
For supplied product requirement to sample。
4.6.2 测试时机Test Juncture依信赖性试验试验步骤之测试时间进行。
According “Reliability test” and the test time of the teststep to do。
4.6.3 试验结果Test result依信赖性试验判定标准进行。
填妥呈交主管签核后存档。
According “Reliability test” award standard to do fill ingood and hand to chief approved and saved。
4.7 不合格处理(年度计划内)D isposition for nonconforming (within the anniversary plan)4.7.1当检验结果判定为NG时, 填写信赖性不合格品处理 并将不合格批进行分析、处理。
When the inspection result award “NG” fills in reliabilitynom conforming product disposed then analysis and disposed。