PCB基板涨缩的判定与测量[1]

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pcb板材涨缩系数的标准

pcb板材涨缩系数的标准

pcb板材涨缩系数的标准PCB(Printed Circuit Board)板材在电子制造业中起着至关重要的作用。

作为一种基础材料,它承载并连接了电子组件。

在实际使用过程中,PCB板材会受到温度和湿度等环境因素的影响,导致其尺寸发生变化,这就需要了解和控制PCB板材的涨缩系数。

PCB板材的涨缩系数是指在温度变化时,PCB板材的尺寸变化量与温度变化量之间的关系。

涨缩系数通常以ppm/℃(百万分之一/摄氏度)为单位。

了解和控制PCB板材的涨缩系数对于确保电子设备的稳定性和可靠性至关重要。

然而,由于PCB板材的种类繁多,涨缩系数也会有所不同。

因此,有关PCB板材涨缩系数的标准是必不可少的。

以下是制定PCB板材涨缩系数标准的几个重要因素:1. PCB板材类型:不同类型的PCB板材具有不同的材料组成和结构,因此其涨缩系数也会有所不同。

例如,FR-4、铝基板、金属基板等,它们的涨缩系数会因为材料的热胀冷缩特性而有所差异。

因此,在制定标准时,需要根据不同的PCB板材类型进行分类和考虑。

2. 基准温度:制定涨缩系数标准时,需要确定一个基准温度。

涨缩系数通常是以相对于基准温度的温度变化量来计算的。

目前,常用的基准温度为25℃,但在特定行业领域,如航空航天或高温环境下使用的PCB板材,可能需要设定不同的基准温度,并相应调整涨缩系数标准。

3. 板材厚度:不同厚度的PCB板材在热胀冷缩方面会有所差异。

较薄的板材在受热时膨胀程度较大,而较厚的板材则相对较小。

因此,在制定涨缩系数标准时,应将板材厚度作为一个重要因素进行考虑。

制定PCB板材涨缩系数标准的目的是为了确保在实际应用中,PCB板材的尺寸变化量能够在预期范围内,并能够准确预测和控制。

尺寸变化量过大可能导致电子元件之间的连接失效或者应力集中等问题,影响电子设备的性能和可靠性。

然而,制定这样的标准并不容易,因为不同的行业和应用对PCB板材的要求有所不同。

一些精密电子设备可能需要更加严格的控制,而其他一些应用则可以容忍一定的尺寸变化。

pcb制造过程中基材涨缩之形成机理及其控制

pcb制造过程中基材涨缩之形成机理及其控制

pcb制造过程中基材涨缩之形成机理及其控制下载提示:该文档是本店铺精心编制而成的,希望大家下载后,能够帮助大家解决实际问题。

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PCB基板涨缩的判定与测量[材料浅析]

PCB基板涨缩的判定与测量[材料浅析]
漲縮的判定與測量Biblioteka Report:重点资料
制作﹕生技課
1
講解內容框架
✓漲縮的判定 ✓漲縮發生的時機與原因 ✓漲縮的測量 ✓漲縮的改善與預防 ✓CASE STUDY
重点资料
2
✓漲縮的判定
1.漲縮的發生﹕ 漲縮是物體在受環境作用下尺寸發生變 化的一種現象。和其息息相關的環境因素 有溫度和濕度﹐其次制程中的外力作用也 會引發漲縮﹐本次講解就主要針對非環境 作用引發的漲縮現象。
壓合中央基准補償鑽靶﹐發生3個靶孔同時延Y軸向內偏或外偏現象﹐為漲 縮補償鑽偏﹐其偏移標准看鑽靶的補償值﹐壓合鑽靶補償≦6mil為我司目前 管控標准﹐其對靶偏的尺寸影響計算方法如下﹕
重点资料
15
CAM距離
b.鑽偏.漲縮引起整板圖形變形﹐導致鑽孔時局部或全部孔偏現象。
c.外偏.因漲縮引起輕度鑽偏﹐鑽孔修改機械坐標后外層曝光仍按照原比例生 產﹐即會引起外層整板或部分Step曝光偏移。
5.2 漲縮異常與相關異常的區分﹕
5.2.1.漲縮與鉚偏—同心圓對比
同心圓 4﹑5層 同時延Y 方向向 外或向 內可判 定為Y向
偏移
以上歸納的為較為常見的几種漲縮與鉚偏容易混淆的異常區分辦法﹐ 而實際生產中會出現更多更復雜的現象﹐那樣就需要我們憑借經驗去做 層別﹐判定異常的真實歸屬。
重点资料
10
5.2.2 漲縮與內短—同心圓判定(查看是否存在層間偏移)。
內層短路一般由底片漏光或吸氣不良﹑顯影不潔等造成﹐壓合及基板的銅粉 銅屑和壓合的鉚釘屑也會引起內短。而漲縮引起的內短則是因層間漲縮差異造 成﹐只會存在于8層以上板﹐因此只需要觀察同心圓是否有漲縮即可判定漲縮對內 短有多大貢獻度。
第三步﹑如外圍孔與靶孔表象不

PCB基板涨缩的判定与测量[1]33450

PCB基板涨缩的判定与测量[1]33450
异常发生时不会是单一数量﹐而是生产过程中使用同一参数的一批产 品。
异常受影响的因素过多﹐生产中有任意参数变更都会引起涨异常的发 生。
04.08.2020
整理ppt
5
3.引起涨缩异常的要因分析﹔

压机热盘温度 均匀性是否达标
内层底片检测是否 按标准进行
钻靶机钻 靶精度是 否达标

压机升温速 率是否均匀
内短的原因判定还需要找点﹐切片及数据分析﹐涨缩引起的内短只能计算其贡献 度﹐单独的涨缩不会引起内短﹐还需要加上钻偏﹑层偏导致。如下图﹕
铜面 线路
04.08.2020
介质层
导通孔
整理ppt
线路
如果孔与线最小距离为 8mil﹐层间偏移2mil﹐涨 缩3mil﹐钻孔偏3mil(以上皆偏 上限或下限)﹐导通孔就会连接 到线路﹐造成层间短路。
涨缩
同心圆 4﹑5层 同时延X 方向向 外或向 内可判 定为X向
涨缩 整理ppt
同心圆 4﹑5层 同时向 4个拐 角偏移 可以确 定为整 板涨缩
9
层次铆偏以8层板为例﹕
同心圆 某一层 次同时 向一个 方向偏

同心圆 某一层 延一个 圆心朝 不同的 方向偏

同心圆 一边正 常﹐另 一边同 时往一 个方向
偏移
以上归纳的为较为常见的几种涨缩与铆偏容易混淆的异常区分办法﹐而 实际生产中会出现更多更复杂的现象﹐那样就需要我们凭借经验去做层 别﹐判定异常的真实归属。
04.08.2020
整理ppt
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5.2.2 涨缩与内短—同心圆判定(查看是否存在层间偏移)。
内层短路一般由底片漏光或吸气不良﹑显影不洁等造成﹐压合及基板的铜粉铜屑 和压合的铆钉屑也会引起内短。而涨缩引起的内短则是因层间涨缩差异造成﹐只 会存在于8层以上板﹐因此只需要观察同心圆是否有涨缩即可判ppt

PCB基板涨缩的判定与测量[1]83508ppt课件

PCB基板涨缩的判定与测量[1]83508ppt课件
异常发生时不会是单一数量﹐而是生产过程中使用同一参数的一批产 品。
异常受影响的因素过多﹐生产中有任意参数变更都会引起涨异常的发 生。
28.06.2020
.
5
3.引起涨缩异常的要因分析﹔

压机热盘温度 均匀性是否达标
内层底片检测是否 按标准进行
钻靶机钻 靶精度是 否达标

压机升温速 率是否均匀
季节﹑天气 变化
内短的原因判定还需要找点﹐切片及数据分析﹐涨缩引起的内短只能计算其贡献 度﹐单独的涨缩不会引起内短﹐还需要加上钻偏﹑层偏导致。如下图﹕
铜面 线路
28.06.2020
介质层
导通孔
.
线路
如果孔与线最小距离为 8mil﹐层间偏移2mil﹐涨 缩3mil﹐钻孔偏3mil(以上皆偏 上限或下限)﹐导通孔就会连接 到线路﹐造成层间短路。
底片放置的 时间和条件

底片制作时是否按 抓好的补偿进行预
放或预缩
基板的厚 度以及铜

压合参数设 置是否合理
P/P的物性与
基板底片的 尺寸安定性

基板的匹配性 内层补偿值
是否抓准

内层板棕化 后放置条件
压合冷压设置 的冰水温度
为 何 涨 板层多少及 缩
板厚是否一致
残铜率及工 程迭构设计
钻靶前是否 冷却至室温
第三步﹑如外围孔与靶孔表象不
符﹐测量靶距﹐检测压合是否有
钻靶. 异常。
7
5.角度判定與計算偏移值﹕




內層pad
28.06.2020
.
切破 90°
切破180 °
8
5.
5.1 涨缩异常表现的形式﹕

pcb变形的量测方法

pcb变形的量测方法

pcb变形的量测方法PCB变形是指PCB板在使用过程中发生的形状改变,通常由于热膨胀、机械应力或不正确的制造过程引起。

这种形状变形可能导致PCB板上元件的失效,并使整个电路系统无法正常工作。

因此,测量和评估PCB变形的方法对于保证电路性能和可靠性至关重要。

本文将介绍几种常用的PCB变形量测方法。

一、光学显微镜测量法光学显微镜是一种非接触式测量方法,通过放大视野,在显微镜下直接观察PCB板的形状变形。

这种方法适用于测量较小的PCB板变形,可以精确地定量评估变形情况。

使用光学显微镜进行测量时,需要事先进行合适的标定,以确保测量结果的准确性。

二、投影仪测量法投影仪是一种通过光学投射放大工件的影像来测量尺寸和形状的设备。

在PCB变形的测量中,投影仪可以将放大的PCB板影像映射到放大屏上,通过比较影像与标准模板之间的差异,评估PCB板的形状变形。

这种方法适用于相对较大的PCB板,可以较快地进行形状变形的定性测量。

三、激光扫描仪测量法激光扫描仪是一种通过激光测距原理来测量物体形状和尺寸的设备。

在PCB变形的测量中,激光扫描仪可以扫描PCB板的表面,获取其形状信息,并生成对应的三维点云模型。

通过对点云模型进行分析和比较,可以准确地测量PCB板的形状变形。

激光扫描仪的优势是具有较高的测量精度和速度,适用于复杂形状的PCB板变形测量。

四、应变片测量法应变片是一种直接测量应变的传感器,可以精确地测量PCB板上的应变分布。

在PCB变形的测量中,应变片可以粘贴在PCB板的表面,通过测量应变片的长度、宽度和应变变化,计算出PCB板的形状变形情况。

应变片测量法具有较高的测量精度,适用于评估PCB板的局部形状变形。

五、X射线测量法X射线测量法是一种间接测量PCB板形状变形的方法,通过测量X射线透射的方式获取PCB板的内部结构信息,从而反推PCB板的形状变形情况。

这种方法适用于评估较深的PCB板变形,能够提供较为准确的变形结果。

pcb制程基板尺寸涨缩

pcb制程基板尺寸涨缩

佳鼎科技股份有限公司VERTEX PRECISION ELECTRONICS INC制程能力改善報告主題:PCB製程基板尺寸脹縮核準: 檢查: 制作:主題:PCB製程基板尺寸脹縮動機:12月份中,因基板尺寸脹縮,以而使制程工具重新設計的比例過高,外層底片,防焊底片的影響甚巨.這增加重工機率,降低工作效率.為了有效降低重工率,提升產能效率,於11月份組織品質改善小組,推動基板脹縮研究,期望在學習過程中可以找出一個規範,以利日后工程設計與制造流程中,有一定的方法可遵循.定義:1.物質有一定的物理特性-----熱脹冷縮2.務物質有膨脹系數不同,銅,樹脂,玻璃纖維皆不同,造成基板內部應力不同,而影響尺寸安定性.3.圖為基尺寸脹縮后,對制程品質影響示意圖.基板發生熱脹冷縮后,板了的尺寸不臺預期之尺寸,所以在制程未修正時,會產生孔對位偏移現象,為左右,上下對稱.4.本次研究主題,在目前制程條件下,材料物理性對產品品質的影響.目的:1.減低重工率2.提升工程設計能力及制程能力現況分析工程部基板脹縮設計各制程孔偏容許誤差值:1.內層板與鑽孔程式-----------±10mil2.外層底片與鑽孔底片程式---±2mil3.S/M底片與外層底片---------±2mil內層基板尺寸數據結論:內層板之脹縮值於壓合制程后,可含蓋其制程上之誤差(鑽孔對內層有10mil的誤差容許範圍)壓合課脹縮料號統計表結論:1.標準化制程參數下,不同料號會產生不同和脹縮比例.同一料號尺寸差異並不會太大.2.基板在經過壓合后,由於會產生很大的障脹比例,所以在工程設計要加以考慮.各制程脹縮分析結論: 1.鑽孔后之制程以鑽孔程式為基準,孔位對準度以鑽孔后為標準.2.引表內所述的制程與CAM值差異小,不會影響孔位對準度品質.3.鑽孔修改程式值,后制程之制造工具(底片等)也應修正.工作計劃進度表制程能力數據收集Array目的:收集目前5制程參數下,基板尺寸脹縮數據內容:1.料號---A2621013D2.壓板材料銅箔0.5oz*1Prepreg 7630*1(聯茂)Lam 1.0mm0.5/0.5 oz(南亞)Prepreg 7630*1(聯茂)銅箔0.5 oz*1各制程脹縮數據追蹤記錄結論: 1.各制程對基板脹縮的貢獻,在誤差容許範圍內.2.外層刷磨后基板脹縮影響品質.結論: 1.FR-4基板之底片脹縮值X=1.2/10000、Y=1.5/10000.2.刷磨方向性並不影響基板脹縮.改善工程部基板脹縮設計結論: 1.根據所收集的各制程數據作工程設計的修正.2.為應付特殊狀況,設計基板脹縮流程,並適時反應資料與工程部.基板漲縮流程圖壓合課與鑽孔課外層課與濕膜課結論:1.三個月來重工率已降低2.目前的工作只是一個開始,日后須更深入研究.制程工具用量表。

【干货好文】PCB板变形原因!不看不知道

【干货好文】PCB板变形原因!不看不知道

【干货好文】PCB板变形原因!不看不知道在上文《深度解析!如何判断PCB 板是否变形?》中,华秋干货铺为大家解析了如何判断PCB 板是否变形。

那么,现在再一起来看看PCB 板之所以会变形的原因。

关于PCB 板的变形,可以从设计、材料、生产过程等几方面来进行分析,这里简单地阐述下,供大家参考。

设计方面:(1)涨缩系数匹配性一般电路板上都会设计有大面积的铜箔来当作接地之用,有时候Vcc 层也会有设计有大面积的铜箔,当这些大面积的铜箔不能均匀地分佈在同一片电路板上的时候,就会造成吸热与散热速度不均匀的问题,电路板当然也会热胀冷缩,但如果涨缩不能匹配,就会造成不同的应力变化,最终引发变形,这时候,板子的温度如果已经达到了Tg 值,板子就会开始软化,并在固化后,变成永久的变形。

(2)电路板上各层的连结点(vias,过孔)限制板子涨缩现今的电路板大多为多层板,而且层与层之间,会有像铆钉一样的连接点(通孔、盲孔、埋孔),在有连结点的地方,会限制板子热涨冷缩的效果,也会间接造成板弯与板翘。

(3)V-cut 的设计会影响拼板变形量V-cut 很容易成为外力导致 PCB 板变形的元凶,因为 V-cut 就是在原来一大张的板材上切出沟槽来,所以,V-cut 的地方就容易发生变形。

材料方面:(1)热膨胀系数(CTE)差异PCB 板,通常采用 FR-4 覆铜板最为板材,而 FR-4 覆铜板由铜箔、介质层组成,而树脂与玻纤布,则构成介质层。

不过,通常情况下,不会将树脂与玻纤布在CTE 上进行区分,而是统一作为介质层进行考量。

因铜箔与介质层的材料不一样,其CTE 自然不一样,因此在受温度影响时,造成的变化也不一样。

当这种变化体现在形变上时,两者之间的差异,则体现为 PCB 板变形。

(2)材料本身的局部差异关于材料本身的问题,极为复杂,例如厚度不均匀,在此不作深入探讨。

生产过程方面:PCB 板加工过程的变形原因同样非常复杂,可分为热应力和机械应力导致。

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5.2.3 涨缩与钻偏—X-Ray照孔确认
假设以上为4个PCS﹐以上孔偏方向如红箭头所示﹐孔偏方向为 离心式扩张偏移﹐可以判定此板有整板内缩现象﹔另有单PCS 或部分PCS的孔偏呈现出扩张式﹐也可判定为涨缩异常。
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钻孔所有孔均向一个方向偏移﹐如果压合钻靶未偏移﹐即可断定为钻 孔整体移位。当然﹐钻孔钻偏大多数是BGA密集区部分孔偏移﹐判定 人须根据具体情况做判断﹐不可和涨缩引起的钻偏混淆。
底片放置的 时间和条件

底片制作时是否按 抓好的补偿进行预
放或预缩
基板的厚 度以及铜

压合参数设 置是否合理
P/P的物性与
基板底片的 尺寸安定性

基板的匹配性 内层补偿值
是否抓准

内层板棕化 后放置条件
压合冷压设置 的冰水温度
为 何 涨 缩
板层多少及 板厚是否一致
残铜率及工 程迭构设计
钻靶前是否 冷却至室温
因為4層板只有一張內層板﹐壓合前測量靶距﹐壓合后MARK中心鑽靶
后再測靶距﹐即是其絕對漲縮數據﹐至于層偏的影響一般可以不予考
慮。
1.2 6層板測量
6層板共有兩張內層板﹐基本上為對稱疊構﹐因此壓合后兩面漲縮差異
可以不考慮﹐測量方式與4層板類似。
1.3 8層以上板測量
8層以上板因為層次排列不同﹐內外層次壓合中會產生較大差異﹐因此
需要建立標靶進行監控﹐如下頁圖注。
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2020年3月7日星期六
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2.相對漲縮的測量﹕ 測量工程設定值數據與壓合后數據對比。 2.1 壓合后漲縮測量 壓合后產品可以選擇用X-Ray鑽靶機測量靶距或標靶距離來判定漲縮﹐ 也可以將靶孔用MARK方式鑽破后使用2D測量其數據。 2.2 鑽孔首件后漲縮測量 壓合鑽靶選用中央基准補償式鑽靶﹐當產品到鑽孔后靶孔已無法作為漲 縮測量的參考依據﹐此時可以選擇待鑽板用鑽靶機MARK方式鑽破外圍 孔﹐用X-Ray或2D測量孔距判定漲縮尺寸﹐8層以上有標靶的可以同壓 合測量方式。 2.3 中測漲縮的判定與測量 中測板因為加上外層線路﹐對漲縮的判定有一定遮蔽性。一般漲縮為批 量性異常﹐但也會有鑽孔首件等個別漲縮異常板流入﹐此時需要對異常 板蝕刻后造X-Ray﹐判定方式同鑽孔﹐中測板已無可供測量的孔﹐尺寸 漲縮 值不能測量。
压合中央基准补偿钻靶﹐发生3个靶孔同时延Y轴向内偏或外偏现象﹐为涨 缩补偿钻偏﹐其偏移标准看钻靶的补偿值﹐压合钻靶补偿≦6mil为我司目前 管控标准﹐其对靶偏的尺寸影响计算方法如下﹕
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CAM距离
CAM距离
孔位置
实际靶位
靶距中央
实际靶位
孔位置
中央基准补偿打靶的方式﹕产品因涨缩造成靶距的实际值和工程的CAM值不一 致﹐因此钻靶输入固定值时机器同时找不到两个靶心﹐也就无法下钻﹐必须设 定补偿值﹐才可以生产。所谓补偿值就是实际值和CAM值之间的允许误差。 如补偿值为6mil﹐就说明实际值和CAM值之间允许最大差异为6mil﹐超过规格 则无法生产。 计算方法﹕中央基准补偿对孔距和CAM靶距造成差别值计算﹐假设靶距有缩﹐ 如上图﹔ 实际孔距离L= 实际靶距L1+(CAM靶距L2-实际靶距L1)/2,如果CAM靶距=20 inch﹐ 实际靶距比CAM靶距缩6mil﹐则孔距离L=(20-0.006)+0.006/2=19.997inch﹐此时孔 与实际靶位差别=(19.997-19.994)/2=0.0015inch=1.5mil.
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2.預防
預防流程圖 量產
OK
FA
曝光
壓合

鑽靶

NG
測量漲縮值
申請新底片
重設補償值
知會PE
通知工程
2020年3月7日星期六
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3.補償值的設定方式
Y向補償值(R)=漲縮值(r)/CAM值(Y)
X向補償值(R)=漲縮值(r)/CAM值(X)
漲縮值(r)=壓合后靶距(L)-CAM值(Y or X)
2020年3月7日星期六
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5.2.2 涨缩与内短—同心圆判定(查看是否存在层间偏移)。
内层短路一般由底片漏光或吸气不良﹑显影不洁等造成﹐压合及基板的铜粉铜屑 和压合的铆钉屑也会引起内短。而涨缩引起的内短则是因层间涨缩差异造成﹐只 会存在于8层以上板﹐因此只需要观察同心圆是否有涨缩即可判定涨缩对内短有多 大贡献度。
計算結果精確到1/10000位﹐1/10000后的尾數一般使用棄尾法﹐也 可以使用四舍五入法。
例﹕某料號工具規格為 A1B1=20" B1C1=4.5" 壓合后實際測量靶 距為Y=19.9928"﹐X=4.4991"﹐原內層預放為X=Y=1.0003﹐請計算 內層底片預放應改為多少﹖
Y向﹕根據R=r/Y=(19.9928-20)/20= -0.0072/20= -3.6/10000
b.钻偏.涨缩引起整板图形变形﹐导致钻孔时局部或全部孔偏现象。
c.外偏.因涨缩引起轻度钻偏﹐钻孔修改机械坐标后外层曝光仍按照原比例生产 ﹐即会引起外层整板或部分Step曝光偏移。
54﹑5层 同时延Y 方向向 外或向 内可判 定为Y向
涨缩 2020年3月7日星期六
内短的原因判定还需要找点﹐切片及数据分析﹐涨缩引起的内短只能计算其贡献 度﹐单独的涨缩不会引起内短﹐还需要加上钻偏﹑层偏导致。如下图﹕
铜面 线路
介质层
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导通孔
线路
如果孔与线最小距离为 8mil﹐层间偏移2mil﹐涨 缩3mil﹐钻孔偏3mil(以上皆偏 上限或下限)﹐导通孔就会连接 到线路﹐造成层间短路。
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靶偏的表现形式﹐如下图﹕
靶偏表现为三个靶孔同向一个方向偏移﹐有一个或多个靶孔未能打中MARK中 心的异常﹐通常延X方向偏移时3个孔会同时偏移﹐延Y向偏移时会根据补偿设 定不同偏移的孔数一到三不定﹐针对此状况钻靶人员必须遵守SOP作业﹐在固 定频率内增加对机器的校正﹐并规范作业姿势﹐以减少靶偏异常的出现。
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✓漲縮的改善與預防
1.改善
1.1 改善流程﹕
鑽靶
無異常
不同補償做 成型 不同防呆標記
鑽孔首件
OK
NG
異 常
量產
測量漲縮值
修改補 償鑽靶
修改程式
知會PE
2020年3月7日星期六
OK
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1.2 改善方式
a.壓合異常.壓合鑽靶人員更換新料號后首先抽測10pnl板﹐發現有漲縮異常 首先知會當班組長﹐組長要立即知會PE﹐漲縮嚴重的(如漲縮異常比例超過 50%或漲縮R值超過8mil或漲縮最大值超過10mil)開出異常反饋單會簽到PE 及鑽孔﹑中測﹔如果為夜班﹐開好反饋單﹐交接給白班組長。對于異常板 須復測10pnl﹐根據測量數據選擇最佳補償值或篩選式鑽靶﹐補償規格每次 放寬2mil﹐成型時撈槽作區分標記﹐補償6mil撈2槽﹐8mil撈3槽﹐依此類推。
2020年3月7日星期六
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2020年3月7日星期六
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✓涨缩发生的时机与原因
涨缩影响最大的是环境﹐而无论对环境做怎样管控﹐涨缩变化也同样不可控制 ﹐我们需要去做管控的是环境以外的其它部分。
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✓漲縮的測量
1.絕對漲縮的測量﹕
測量內層底片曝光前數據與壓合后數據對比。
1.1 4層板測量
同心圆 4﹑5层 同时延X 方向向 外或向 内可判 定为X向
涨缩
同心圆 4﹑5层 同时向 4个拐 角偏移 可以确 定为整 板涨缩
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层次铆偏以8层板为例﹕
同心圆 某一层 次同时 向一个 方向偏

同心圆 某一层 延一个 圆心朝 不同的 方向偏

同心圆 一边正 常﹐另 一边同 时往一 个方向
偏移
以上归纳的为较为常见的几种涨缩与铆偏容易混淆的异常区分办法﹐而 实际生产中会出现更多更复杂的现象﹐那样就需要我们凭借经验去做层 别﹐判定异常的真实归属。
b.鑽孔異常,當部分孔有切破內層pad時需要修改鑽孔程式﹐修改程式時要根 據偏孔程度分step進行修改﹐修改后經首件確認OK后量產﹐如發現首件有 漲縮偏破現象﹐先確認壓合是否有做撈槽區分標記﹐沒有做標記的料號須 開異常反饋單會簽壓合﹑中測﹑PE等相關部門,對已有撈槽標記的料號無須 開單。
2020年3月7日星期六
X向﹕R= (4.4991-4.5)/4.5= -0.0009/4.5= - 2/10000
所以內層預放Y向增加0.00036﹐實際為1.0006﹐X向應增加
0.0002﹐實際為1.0005。
2020年3月7日星期六
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✓CASE STUDY
1.異常判定﹕中測有一8層板﹐小片數4﹐其中固定為某一step導通孔密集區出現內層 short﹐20%不良﹐同時無法測量出其固定點﹐蝕刻后經照同心圓確認如下圖﹕
两边板面孔对应孔环向同一方向偏移﹐可判定为涨缩。涨缩造成的外偏多为 整体性﹐板两边的偏移呈对称状﹐有一定规律。外偏形成取决与底片对位及 尺寸管控﹐表现规律不明显。
2020年3月7日星期六
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5.2.5 涨缩与靶偏—X-ray看靶
钻靶过程中会因设备精度问题加上人员操作不当引起靶偏不良﹐涨缩的补偿 钻靶也会引起靶偏﹐两种靶偏是有分别的﹐详见下图﹕
第三步﹑如外围孔与靶孔表象不
符﹐测量靶距﹐检测压合是否有
钻靶异常。
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5.角度判定與計算偏移值﹕




內層pad
2020年3月7日星期六
切破90° 切破180 °
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5.
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