02第一章可靠性概论02

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可靠性概论

可靠性概论

可靠性概论(一)一,可靠性工程与管理的重要意义与发展历史实践教育我们,可靠性,是产品质量的重要指标,必须给予高度重视。

它的定义是:产品在规定条件下和规定时间内,完成规定功能的能力。

也就是说,它是用时间尺度来描述的质量,是一个产品到了用户手里,随着时间的推移,能否稳定保持原有功能的问题。

可靠性高,意味着寿命长。

故障少、维修费用低;可靠性低,意味着寿命短、故障多、维修费用高;可靠性差,轻则影响工作,重则造成起火爆炸、机毁人亡等灾难性事故。

对于许多产品,我们不能只关心它的技术性能,而且要关心它的可靠性。

在某些情况下,用户宁可适当降低性能方面的指标,而要求有较高的可靠性。

可靠性概念的产生,可以追溯到1939年。

当时美国航空委员会提出飞机事故率的概念和要求,这是最早的可靠性指标。

1944年,纳粹德国试制V-2火箭袭击伦敦,有80枚火箭还没有起飞就在起飞台上爆炸。

经过研究,人们提出了火箭可靠度是所有元器件可靠度的乘积的结论,这是最早的系统可靠性概念。

第二次世界大战中,美国由于飞行事故损失飞机21000架,比被击落的还要多1. 5倍。

1949年美国海军电子设备有70%失效,每一个使用中的电子管,要有9个新电子管作为备件。

1955年美国国防预算30%用于维修和使用,以后又增加到70%,成为不堪忍受的负担。

正是在这种背景下,美国在可靠性工程与管理的理论与应用方面投入了大量的人力物力,1950年,成立了国防部电子设备可靠性工作组,以后改组为国防部电子设备可靠性顾问团(AGREE)。

这个组织进行了深入的调查研究,提出了著名的AGREE报告棗美国可靠性工作的指导纲领。

以后又相继成立了元器件可靠性管理委员会。

失效数据中心(FARADA)、政府与工业界数据交换网(GIDEP )等组织,研究元器件失效规律,定期发布可靠性数据,为研制与管理决策提供依据。

经过长期研究,制订了一系列通用军用标准,有力地指导了可靠性工程与管理实践。

可靠性概论

可靠性概论

12
图1-3
解:(1)不可修复产品试 验由图1-3(a)统计可得 nf(t)=7,因已知 n = 12,由式(1-2) 和(1-3)有:
13
n s (t ) n n f (t ) R(t ) n n 12 7 12 0.4167
(2) 3台ห้องสมุดไป่ตู้修产品的试验由图1—3(b)统计可得 n = 12, ns(t) = 5,由式(1-3)得:
F (t ) 1 R(t ) n f (t ) / n

17
(1-5)
例1-2 有110只电子管,工作500h时有10只失 效,工作到1000h时总共有53只电子管失效,求 该产品分别在500h与1000h时的累积失效概率。
解: ∵ n 110, n f (500) 10, n f (1000) 53
由上例计算结果可见,从失效概率观点看, 在 t = 100 和 t = 1000h处,单位时间内失效频 率是相同(0.2%)的,而从失效率观点看, 1000h处的失效率比100h处的失效率加大一倍 (0.4%),后者更灵敏地反映出产品失效的变 化速度。
3、平均失效率

27
在工程实践中,常常要用到平均失效率, 其定义为 : (1)对不可修复的产品是指在一个规定时间 内总失效产品数 n f (t ) 与全体产品的累积工作时 间T之比。 (2)对可修复的产品是指它们在使用寿命 期内的某个观测期间,所有产品的故障发生总 数 n f (t )与总累积工作时间T之比。 所以不论产品是否可修复,平均失效率 估计值的公式为 :

= 10 /110 = 9.09% = 53 /110 = 48.18%
三、失效概率密度
f ( t)

老化、环境及可靠性试验

老化、环境及可靠性试验

机理 和原 因
●存在缺陷 的材料
●不合适的 环境
误用 ●环境条件
的变化波 动
老化 ●性能
退化 ●腐蚀
●不够完善 ●不良抗压
的设计
性能
第一章 可靠性概论
1. 可靠性技术是研究如何评价、分析和提

高产品可靠性的一门综合性的学科。
靠 2. 可靠性工作的技术内容包括:
性 工 作
可靠性系统分析、 可靠性设计、
寿命试验(耐久性试验):
寿命试验为了评价分析产品在规定使用和维护条
件下的使用寿命而进行的一种试验。用于调查分析
寿 何时出现电子元器件和机械零件的摩耗和使用寿命
命 试
的问题,使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状; 以及分析失效率上升的原因。专门用来评价产品可 靠性特征量或用来确定产品失效模式而进行的一种

可靠性生产、

可靠性维护、

可靠性失效分析、
内 容
可靠性数据收集处理和交换技术、 可靠性试验、
第二章 可靠性试验的分类
可 •可靠性试验对于不同的应用有不同的分
靠 类方法
性 •试验目的分类、试验场地分类、试验方
试 法分类是常用的3种分类方法
验 分 类
•一般工程和系统人员大部分采用第一种 按试验目的分类 •元器件采用第三种按试验方法分类
老化、环境及可靠性试验
路漫漫其悠远
少壮不努力,老大徒悲伤

1. 1 概述

产品在规定条件下和规定时间内,完成规
可 靠 性
定功能的能力,就叫做电子产品的可靠性。可 靠性试验是为产品(a)发现产品在设计、材料和工艺方面的各种
验 缺陷。
及 (b)为改善产品完好性、减少维修费用及保障

软件设计师教程

软件设计师教程
命令式和结构化程序设 计语言 面向对象的程序设计语 言 函数式程序设计语言 逻辑型程序设计语言
2.1.2 程序设计语言的基本成分
程序设计语言的数据成分
01
02
03
常量和变 全局量和 数据类型

局部量
2.1.2 程序 设计语言的 基本成分
程序设计语言的运算成分
程序设计语言的控制部分
顺序结构
选择结构
01
符号表 管理
02
出错处 理
文法和语言的形式描述
1
字母表、字符串、字符串集合及 运算
2
文法和语言的形式描述
3
词法分析
4
正规式与有限自动机之间的转换
5
词法分析器的构造
6
语法分析
文法和语言的形式描述
语法制导翻 译和中间代 码生成
中间代码优 化和目标代 码生成
文法和语言的形式描述
文法和语言的形式描述
外存储器
01
磁表面 存储器
02
光盘存 储器
03
固态硬 盘
1.2.2存储系统
磁盘阵列技术
1.2.2存储系统
存储域网络
1.2.3输入/输出技术
微型计算机中最常 用的内存与接口的
编址方法
直接程序控 制
中断方式
直接存储器 存取方式
输入/输出处 理机(IOP)
1.2.3输入/输 出技术
微型计算机中最常用的内存与接口 的编址方法
指令的流水处理
指令控制方式 流水线的种类 流水的相关处理 吞吐率和流水建立时 间
1.2.1计算机体 系结构的发展
阵列处理机、并行处理机和多处理 机01 Nhomakorabea列处 理机

02第一章可靠性概论02

02第一章可靠性概论02

23
通常将η称为真尺 度参数,当形状参数 m 值及位置参数δ 值 固定不变。
尺度参数η 值不同
时威尔布分布的失效概
率密度f(t)曲线的高度
及宽度均不相同,见图
1-14(c)所示。
图 1 1(c ) 4 m 2 , 0 时( 不 尺 )的 同 f度 (t)
由图1-14(c)可见,m = 2、δ = 0 时不同尺度参数η
图1-14(a)可见,因为位置参数δ (=1)相同,所以曲线起 始位置相同。
图114(b)形状参数 m2,尺度
22
参数 1时不同位置参数 的
概率密度函f数 (t)曲线。
从图1-14(b)可以看出:
① 当δ <0 时,产品开始 工作时就已失效了,即这些元 件在贮存期已经失效。曲线由 δ = 0 时的位置向左平移 |δ | 的 距离。
因此,在可靠性理论中,研究产品的失效分布 类型是一个十分重要的问题。
一、指数分布
3
在可靠性理论中,指数分布是最基本、最常用的分布,适
合于失效率λ (t)为常数的情况。
指数分布不但在电子元器件偶然失效期普遍使用,而且 在复杂系统和整机方面以及机械技术的可靠性领域也得到广 泛地使用。
指数分布一般记为
T~E()
3.正态分布的可靠度函数 R(t)
28
R(t) 1 e-(t2- 2 )2dt
2t
(1 -31)
正态分布的可靠度 函数R(t)图形如 图1-20所示。
图1-20正态分布的可靠度函数R(t)
4. 正态分布的失效率函数λ(t )
29
(t)f(t) 1 e / -(t2 - μ 2 )2 1 e (t2 2 )2d t (-1 32

可靠性概论

可靠性概论

可靠性概论(一)1. 可靠性概述1 .1可靠性基本概念1 . 1. 1可靠性工程学的诞生产品可靠性是什么?简单地说产品可靠性就是产品不易丧失工作能力的性质。

研究产品可靠性的工程学科称为可靠性工程学。

产品的可靠性本应随产品复杂性的增加而早受重视,但事实上直到第二次世界大战后,它对现代科学技术发起来势凶猛的挑战,才迫使人们耗费大量的财力和物力来研究它,解决它,从而对科学技术的发展起到了巨大的促进作用。

与此同时,一门独立的边缘科学可靠性工程学诞生了。

形成可靠性工程学这一学科的原因归纳起来有如下四个方面:1. 产品的性能优异化和结构复杂化之间的矛盾导致可靠性问题日益突出;2. 产品使用场所的广泛性与严酷性从而对产品的可靠性提出了更高的要求;3. 产品可靠程度与国家及社会安全之间的关系日益密切;4. 可靠性工程学的内部因素有力的推动了可靠性工程学的发展。

1 . 1 . 2可靠性基本概念产品可靠性的定义:产品可靠性是指产品在规定的条件下,在规定的时间内完成规定功能的能力。

“产品”,在过程控制系统行业中,可以是一台整机,如差压变送器,可以是一个装置甚至一个系统,如控制柜、DCS系统,也可以是一台部件以至一个元器件,如放大器,电阻。

总之,可大可小,视所研究问题的范围而定。

随着可靠性工程学的发展,人、语言、方法、程序的软件也可作为产品。

“规定的条件”有着广泛的内容,一般分为:1. 环境条件环境条件是指能影响产品性能的环境特性。

单一环境参数可分为四类:气候环境:主要包括温度、湿度、大气压力、气压变化、周围介质的相对移动、降水、辐射等;生物和化学环境:包括生物作用物质、化学作用物质、机械作用微粒;机械环境:包括冲击在内的非稳态振动、稳态振动、自由跌落、碰撞、摇摆和倾斜、稳态力;电和电磁环境:包括电场、磁场、传输导线的干扰。

2. 动力条件动力条件是指能影响产品性能的动力特性。

一般分为:电源,主要参数为电源电压和频率、电流等;流体源(包括气源和液体源),主要参数为压力、流量等。

(整理)可靠性-LED加速老化寿命试验方法概论

(整理)可靠性-LED加速老化寿命试验方法概论

一、可靠性理论基础1.可靠度:如果有N个LED产品从开始工作到t时刻的失效数为n(t),当N足够大时,产品在t时刻的可靠度可近似表示为:随时间的不断增长,将不断下降。

它是介于1与0之间的数,即。

2.累积失效概率:表示发光二极管在规定条件下工作到t这段时间内的失效概率,用F(t)表示,又称为失效分布函数。

如果N个LED产品从开始工作到t时刻的失效数为n(t),则当N足够大时,产品在该时刻的累积失效概率可近似表示为:3.失效分布密度:表示规定条件下工作的发光二极管在t时刻的失效概率。

失效分布函数的导函数称为失效分布密度,其表达式如下:•早期失效期;•偶然失效期(或稳定使用期) ;•耗损失效期。

二、寿命老化:LED发光亮度随着长时间工作而出现光强或光亮度衰减现象。

器件老化程度与外加恒流源的大小有关,可描述为:B t为t时间后的亮度,B0为初始亮度。

通常把亮度降到B t=0.5B0所经历的时间t称为二极管的寿命。

1. 平均寿命如果已知总体的失效分布密度f(t),则可得到总体平均寿命的表达式如下:2. 可靠寿命可靠寿命T R是指一批LED产品的可靠度下降到r时,所经历的工作时间。

T R可由R(T R)=r求解,假如该产品的失效分布属指数分布规律,则:即可求得T R如下:3. 中位寿命中位寿命T0.5指产品的可靠度R(t)降为50%时的可靠寿命,即:对于指数分布情况,可得:二、LED寿命测试方法LED寿命加速试验的目的概括起来有:•在较短时间内用较少的LED估计高可靠LED的可靠性水平•运用外推的方法快速预测LED在正常条件下的可靠度;•在较短时间内提供试验结果,检验工艺;•在较短时间内暴露LED的失效类型及形式,便于对失效机理进行研究,找出失效原因;•淘汰早期失效产品,测定元LED的极限使用条件1. 温度加速寿命测试法由于通常LED寿命达到10万小时左右,因此要测得其常温下的寿命时间太长,因此采用加速寿命的方法。

《机电产品可靠性设计》教案

《机电产品可靠性设计》教案

教师教案(2012—2013学年第2学期)课程名称:机电产品可靠性设计授课学时:32授课班级:2010级任课教师:朱顺鹏教师职称:讲师教师所在学院:机械电子工程学院电子科技大学教务处第一章可靠性设计概论4学时一、教学内容及要求教学内容共4学时可靠性基本概念2学时(1)可靠性的内涵(2)可靠性工程发展现状(3)可靠性特征量可靠性数学基础2学时(1)数理统计基本概念(2)可靠性常用概率分布(3)随机变量均值与方差的近似计算教学要求(1)了解可靠性学科发展历程(2)掌握可靠性学科研究的内容(3)了解我国可靠性研究的发展现状(4)了解可靠性设计工作的重要意义及面临的主要挑战(5)掌握可靠性的定义(6)掌握可靠度、不可靠度、失效率的定义(7)掌握常用的概率分布(正态分布、指数分布、威布尔分布、对数正态分布)在可靠性设计工作中的应用(8)掌握随机变量均值与方差的近似计算方法二、教学重点、难点教学重点可靠性的定义可靠性特征量定义及相互关系常用概率分布的统计特征量教学难点失效率的定义威布尔分布的相关概念及应用三、教学设计列举航空航天产品(如卫星天线、卫星指向机构、太阳翼展开机构)、民用产品(如汽车)、制造装备(如数控机床)的实例,突出开展可靠性工作的重要意义。

随机变量及数理统计的知识系学生在先修课程中所学内容的复习,可以简要介绍,并要求学生查阅以前的书籍。

正态分布是学生熟知的内容,在教学过程中着重讲解其实际应用;指数分布、对数正态分布和威布尔分布是学生先修课程中没有学习过的,应详细讲解。

威布尔分布是难点内容,应重点介绍其发展历史,统计特征,以及威布尔分布在机械可靠性中的特殊作用,列举工程实例。

随机变量函数的均值与方差计算是后续机械产品可靠性设计需要用到的基本方法,讲解三种常用的方法原理即可,公式可以查表。

四、作业通过课程网站发布。

五、参考资料1. 盛骤, 谢式千, 潘承毅. 概率论与数理统计(第四版), 高等教育出版社,20102. 刘惟信. 机械可靠性设计. 北京:清华大学出版社, 2000六、教学后记第二章系统可靠性设计8学时一、教学内容及要求教学内容共8学时系统可靠性框图2学时串联系统;并联系统;混联系统;表决系统;旁联系统可靠性分配2学时可靠性分配的目的和原则可靠性分配方法(等分配法、再分配法、比例分配法、AGREE法)可靠性预计1学时可靠性预计的目的可靠性预计的方法(应力分析法、元器件计数法、相似产品法、上下限法)故障模式、影响及危害性分析FMECA 1学时FMECA的定义及分类FMECA的一般过程风险优先数和危害性矩阵故障树分析FTA 2学时故障树的各种符号故障树建树步骤常用故障树分析方法介绍教学要求(1)了解系统可靠性设计的任务;(2)掌握系统可靠性建模方法;(3)了解可靠性分配与预计的目的;(4)掌握可靠性分配与预计的常用方法。

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是曲线的起始位置有所变动,如(b)所示。
图114(a) 1, 1时不同m值的f (t)
图114(b)m 2, 1时不同 (位置)的f (t)
图1-14(a)可见,因为位置参数δ(=1)相同,所以曲线起 始位置相同。
图114(b)形状参数m 2,尺度
22
参数 1时不同位置参数 的
概率密度函数f (t)曲线。
习 题 一 答 案-----------------------------------(35)
2
第三节 常用失效分布
产品的失效分布是指其失效概率密度函数或累积失效 概率函数,它与可靠性特征量有关密切的关系。
研究产品失效分布函数的目的,是为了根据产品失效分 布求出产品可靠度、失效率和寿命特征量。
即使不知道产品具体的分布函数,如果已知失效分布的 类型,也可以通过对分布的参数估计值求得某些可靠性特征 量的估计值。
图114(a) 1, 1时不 同m(形状)的f (t)
图114(b)m 2, 1时不 同 (位置)的f (t)
图114(c)m 2, 0时 不同(尺度)的f (t)
图1-14(a)所示为尺度参数η=1(曲线分布宽度)和 14 位置参数δ=1时,形状参数m不同时的曲线分布图。由图可 见形状参数数值越大,曲线越陡峭,f(t)值越大。
指数分布有一个重要特性,即产品工作了t0 时间后,它11 再工作 t 小时的可靠度与已工作过的时间 t0 无关(无记忆 性),而只与时间 t 的长短有关。
根据条件概率
R(t0
t)
P(T
t0
t
T
t0 )
P(T
t0 t,T P(T t0 )
t0 )
P(T t0 t) P(T t0 )
R(t0 t) R(t0 )
26
F(t)
1
e dt t
-
(t - )2 2 2
2 -
(1- 29)
正态分布的累积失效概率函
数 F(t)的图形如图1-19所示
若令z t - 代入式(1- 29),则可得到标
准化正态分布的累积失效概率函数为
F (t) (z) 1
z -1z2
e 2 dz (1 - 30)
2 -
正态分布的累积失效概率函数 F(t)
f(t)曲线由δ=0时的位置向右平移|δ|的距离。此时,可将
δ称为最小保证寿命。
(3)尺度参数η
23
通常将η称为真尺 度参数,当形状参数
m 值及位置参数δ 值
固定不变。
尺度参数η值不同
时威尔布分布的失效概
率密度f(t)曲线的高度
及宽度均不相同,见图
1-14(c)所示。
图114(c)m 2, 0时不同(尺度)的f (t)
1. 指数分布的失效概率密度函数 f(t)
4
f (t) e-t (t 0)
(1 -17)
式中 λ—指数分布的失效率,为一常数。
指数分布的失效概 率密度函数f(t)的图形 如图1—10所示。
2.指数分布的累积失效概率函数 F(t)
t
F(t) f (t)dt t etdt 1 et (t 0) 0
由图1-14(c)可见,m = 2、δ= 0 时不同尺度参数η
值的失效概率密度曲线。当η值增大时,f(t)的高度变小而
宽度变大。故把η 称为尺度参数。
返回1
三、正态分布
24
正态分布在数理统计学中是一个最基本的分布,在可靠
性技术中也经常用到它,如材料强度、磨损寿命、疲劳失效、
同一批晶体管放大倍数的波动或寿命波动等等都可看作或近
第一章 可 靠 性 概 论(2)
1
第三节 常用失效分布------------------------------(2) 一、指数分布-------------------------(3) 二、威布尔分布----------------------(12) 三、正态分布-------------------------(24) 四、对数正态分布-------------------(30)
图114(c)m 2, 0时不同(尺度)的f (t)
2. 威布尔分布的累积失效概率函数 F(t)
17
-( t-δ )m
F(t) 1 e ( t;m, 0) (1- 25)
图1—15所 示为尺度参数
η=1,位置参数
δ=1时,形状参 数m不同的累积 失效概率函数F (t)的图形。
3.威布尔分布的可靠度函数 R(t)
从图1-14(b)可以看出:
① 当δ<0 时,产品开始 工作时就已失效了,即这些元
件在贮存期已经失效。曲线由
δ= 0 时的位置向左平移 |δ| 的
距离。
图114(b)m 2, 1时不同 (位置)的f (t)
② 当δ= 0时,f(t)曲线为二参数威布尔分布。
③当δ>0时,表示这些元件在起始时间δ内不会失效,
(1- 22)
7. 指数分布的中位寿命 T0.5
10
将 r = 0.5 代入式(1—22)可得:
T0.5
-
1
ln
0.5
1
ln
2
0.693 1
0.693

T0.5
0.693 1
0.693
(1- 23)
8. 指数分布的特征寿命 Te-1
r
e1
代入式(1- 22)Tr
-
1
ln
r得
Te-1
-
1
ln
e-1
1
因此,在可靠性理论中,研究产品的失效分布 类型是一个十分重要的问题。
一、指数分布
3
在可靠性理论中,指数分布是最基本、最常用的分布,适
合于失效率λ(t)为常数的情况。
指数分布不但在电子元器件偶然失效期普遍使用,而且 在复杂系统和整机方面以及机械技术的可靠性领域也得到广 泛地使用。
指数分布一般记为
T ~ E()
似看作正态分布。
在电子元器件可靠性的计算中,正态分布主要应用于元
件耗损和工作时间延长而引起的失效分布,用来预测或估计 可靠度有足够的精确性。
由概率论可知,只要某个随机变量是由大量相互独立、 微小的随机因素的总和所构成,而且每一个随机因素对总和
的影响都很均匀、都很微小,那么,就可认定这个随机变量
近似地服从正态分布。
值可查附表1求得(见下页)。
图1-19正态分布的累积 失效概率函数
27 摘自附表1正态分布表
3.正态分布的可靠度函数 R(t)
28
R(t)
1
e dt
-

(t- 2
)
2
2
2 t
(1- 31)
正态分布的可靠度 函数R(t)图形如 图1-20所示。
图1-20正态分布的可靠度函数R(t)
4. 正态分布的失效率函数λ(t )
累积失效概率函 数F(t)的图形如 图1—11所示。
可证,当累积失效概
率函数F(t)=0.632时,
t = θ(平均寿命)。
5
(1-18)
3.指数分布的可靠度函数R(t)
R(t) 1 F (t) e-λt (t 0)
可靠度函数R(t) 的图形如图1-12所示。
可证,当可靠度函数 R(t)=0.368时,
图1-22对数正态分布的失效概率密度函数
2. 对数正态分布的累积失效概率函数F (t )
32
t
F(t)
1
(lnt )2
e 2 2 dt
0 t 2
(1- 34)
对数正态分布的累积 失效概率函数F (t )的图形 如图1-23所示。
0
图1-23 对数正态分布的 累积失效概率函数
3. 对数正态分布的可靠度函数R(t)
t = θ(平均寿命)。
6
(1 -19)
4. 指数分布的失效率函数λ(t)
7
(t) 常数
(1- 20)
指数分布的失效率函数的图形如图1-13所示。
5. 指数分布的平均寿命θ(MTTF或MTBF)
8
对可修产品一般用MTBF 表示平均寿命θ,称“平均无
故障工作时间”
对可不修产品一般用MTTF 表示平均寿命θ,称“失效 前的平均工作时间”
18
-( t-δ )m
R(t) e ( t;m, 0)
(1- 26)
图1—16所示为
尺度参数η=1,位置
参数δ=1时,形状参 数m不同的可靠度函 数R(t)的图形。
4.威布尔分布的失效率函数 λ(t)
19
(t)
m
t
m1
(
t; m,
0)
(1- 27)
图1—17所示 为位置参数δ≠0时, 形状参数m不同失 效率函数 λ(t) 的图 形。
e-(t0 t) et0
e-t0 et
e-t0
e-t
R(t) P(T
t)
返回1
二、威布尔分布
12
威布尔分布在可靠性理论中是适用范围较广的一种 分布。
它能全面地描述浴盆失效率曲线的各个阶段。当威 布尔分布中的参数不同时,它可以蜕化为指数分布、瑞 利分布和正态分布。
大量实践说明,凡是因为某一局部失效或故障所引 起的全局机能停止运行的元件、器件、设备、系统等的 寿命服从威布尔分布;特别在研究金属材料的疲劳寿命, 如疲劳失效、轴承失效都服从威布尔分布。:
)2
tt
(1- 36)
对数正态分布的 失效率函数λ(t)的 图形如图1-25所示。
返回1
图1-25 对数正态分布的失效率函数
间单调下降;
正态分布
② 当m =1时,f(t)曲线为指数分布;
③ 当m>1时,f(t)曲线随时间增加
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