透射电镜

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透射电镜成像原理

透射电镜成像原理

透射电镜成像原理
透射电镜是一种常用的电子显微镜,用于观察和研究材料中的微观结构。

它利用电子的波粒二象性,通过透射原子层的电子来形成显微图像,具有比光学显微镜更高的分辨率。

透射电镜的成像原理可以简单概括为以下几个步骤:
1. 电子发射:透射电镜使用热阴极或冷阴极发射出高速电子,这些电子被加速到高能状态。

2. 透射样品:加速的电子通过一个非常薄的样品片,如薄片状的金属、陶瓷或生物组织。

样品必须具有高度透射性,以允许电子通过。

3. 散射与透射:入射电子束在样品中发生散射和透射两种现象。

散射是指电子与样品中的原子或电子相互作用,改变其运动方向,而透射是指电子穿过样品的现象。

4. 透射电子形成图像:透射电镜使用透射电子成像器件,如方形磁透镜或电磁透镜,将透射电子聚焦在屏幕或感光材料上。

根据电子的能量和散射情况,屏幕上形成亮暗不同的区域,形成图像。

透射电镜成像原理的关键在于控制电子束的发射和透射过程,以及透射电子的成像聚焦和检测。

通过调整透射电子的能量、电磁透镜的设置和样品的准备,可以获得高分辨率的电子显微图像,揭示材料的微观结构和性质。

TEM(透射电子显微镜)

TEM(透射电子显微镜)

细胞结构解析
细胞膜结构
透射电镜图像可以清晰地展示细胞膜的精细结构,如细胞膜的厚度、 细胞器的分布等。
细胞器结构
透射电镜能够观察到细胞内的各种细胞器,如线粒体、内质网、高 尔基体等,有助于了解细胞器的形态和功能。
细胞骨架结构
透射电镜能够观察到细胞骨架的超微结构,如微管、微丝和中间纤维 等,有助于了解细胞骨架在细胞运动、分裂和分化中的作用。
TEM应用领域
01
02
03
04
生物学
研究细胞、组织和器官的超微 结构,如细胞器、细胞膜、染
色体等。
医学
用于诊断疾病,如癌症、传染 病等,以及药物研发和疫苗制
备过程中的结构分析。
地质学
观察岩石、矿物和矿物的微观 结构,研究地球科学中的各种
地质现象。
材料科学
研究金属、陶瓷、高分子等材 料的微观结构和性能,以及材
控制切片的厚度,通常在50~70纳米之间,以确 保电子束能够穿透并观察到样品的内部结构。
切片收集与处理
将切好的超薄切片收集到支持膜上,并进行染色、 染色脱水和空气干燥等处理。
染色
染色剂选择
选择适当的染色剂,如铅、铀或 铜盐,以增强样品的电子密度并
突出其结构特征。
染色时间与温度
控制染色时间和温度,以确保染色 剂与样品充分反应并达到最佳染色 效果。
清洁样品室
定期清洁样品室,保持清洁度 。
检查电子束系统
定期检查电子束系统,确保聚 焦和稳定性。
更新软件和驱动程序
及时更新TEM相关软件和驱动 程序,确保兼容性和稳定性。
定期校准
按照厂家建议,定期对TEM进 行校准,确保观察结果的准确
性。
06 TEM未来发展

透射电镜的工作原理

透射电镜的工作原理

透射电镜的工作原理透射电镜(Transmission Electron Microscope,简称TEM)是一种利用电子束来观察样品的微观结构的高分辨率显微镜。

与光学显微镜不同,透射电镜使用的是电子而不是可见光来照射样品,因此能够获得比光学显微镜更高的分辨率。

透射电镜的工作原理涉及到电子的产生、聚焦、透射、成像和检测等多个方面,下面将详细介绍透射电镜的工作原理。

1. 电子的产生。

透射电镜使用的是电子束来照射样品,因此首先需要产生电子。

电子产生的常用方法是热发射和场发射。

热发射是利用热能使金属表面的电子逃逸而产生电子,而场发射则是利用电场使电子从金属表面逃逸。

在透射电镜中,通常使用的是热发射电子源,即利用钨丝或钨钢合金丝受热后发射电子。

2. 电子的聚焦。

产生的电子束需要经过一系列的聚焦系统,使其成为一个细小的束流,以便能够准确地照射到样品上。

透射电镜的聚焦系统通常包括电子透镜和磁透镜。

电子透镜利用电场来聚焦电子束,而磁透镜则利用磁场来聚焦电子束。

通过合理设计和调节,可以使电子束聚焦到非常小的尺寸,从而获得高分辨率的成像能力。

3. 电子的透射。

经过聚焦系统聚焦后的电子束将照射到样品上,这时的电子束被称为透射电子束。

透射电子束穿过样品时,会与样品中的原子和分子发生相互作用,产生散射和吸收。

透射电镜通过检测透射电子束的变化来获取样品的结构信息。

4. 成像。

透射电镜的成像原理是利用透射电子束与样品相互作用后产生的信号来获取样品的结构信息。

透射电镜通常采用透射电子显微镜来观察样品。

透射电子显微镜通过探测透射电子束的强度和位置来获得样品的结构信息,然后将这些信息转换成图像显示出来。

5. 检测。

透射电镜的检测系统通常包括电子探测器和图像处理系统。

电子探测器用于探测透射电子束的强度和位置,然后将这些信息传输给图像处理系统。

图像处理系统将探测到的信息转换成图像,并进行增强和处理,最终显示在显示屏上供用户观察。

总结来说,透射电镜的工作原理涉及到电子的产生、聚焦、透射、成像和检测等多个方面。

扫描电镜SEM和透射电镜TEM的介绍和区别(非常全面)

扫描电镜SEM和透射电镜TEM的介绍和区别(非常全面)

扫描电镜和透射电镜的区别通俗的说扫描电镜是相当与对物体的照相得到的是表面的只是表面的立体三维的图象因为扫描的原理是“感知”那些物提被电子束攻击后发出的此级电子而透射电竟就相当于普通显微镜只是用波长更短的电子束替代了会发生衍射的可见光从而实现了显微是二维的图象会看到表面的图象的同时也看到内层物质就想我们拍的X光片似的内脏骨骼什么的都重叠着显现出来总结就是透射虽然能看见内部但是不立体扫描立体但是不能看见内部只局限与表面最后写论文的时候就用了扫描电镜的图,你说看主要做形貌,凡是需要看物质表面形貌的,都可以用扫描电镜,不过要要注意扫描电镜目前分辨率,看看能否达到实验要求。

两种测试手段的适用情况凡是需要看物质表面形貌的,都可以用扫描电镜,不过最好的扫描电镜目前分辨率在0.5~1nm左右。

如果需要进一步观察表面形貌,需要使用扫描探针显微镜SPM(AFM,STM).如果需要对物质内部晶体或者原子结构进行了解,需要使用TEM. 例如钢铁材料的晶格缺陷,细胞内部的组织变化。

当然很多时候对于nm 材料的形搜索态也使用TEM观察。

区别扫描电镜观察的是样品表面的形态,而透射电镜是观察样品结构形态的。

一般情况下,透射电镜放大倍数更大,真空要求也更高。

扫描电镜可以看比较“大”的样品,最大可以达到直径200mm以上,高度80mm左右,而透射电镜的样品只能放在直径3mm左右的铜网上进行观察。

一、分析信号(1)扫描电镜扫描电子显微镜的制造是依据电子与物质的相互作用。

当一束高能的入射电子轰击物质表面时,被激发的区域将产生二次电子、俄歇电子、特征x射线和连续谱X射线、背散射电子、透射电子,以及在可见、紫外、红外光区域产生的电磁辐射。

同时,也可产生电子-空穴对、晶格振动(声子)、电子振荡(等离子体)。

原则上讲,利用电子和物质的相互作用,可以获取被测样品本身的各种物理、化学性质的信息,如形貌、组成、晶体结构、电子结构和内部电场或磁场等等。

透射电镜的基本原理

透射电镜的基本原理

透射电镜的基本原理透射电镜(Transmission Electron Microscope,TEM)是一种使用电子束而非光线进行成像的仪器。

它使用高能电子束将样品穿透,然后收集透射的电子,并通过电子透射图像来获得样品的高分辨率图像。

以下是透射电镜的基本原理。

1.电子源:透射电镜中的电子通常是通过热发射或场发射从钨丝或钨尖中提取出来的。

电子源通常位于电镜的顶部,并通过加热或外加电场使电子发射。

2.加速器和减速器:电子源中产生的电子通过一个加速器进行加速,以达到高能水平。

这样可以使电子具有足够的能量穿透样品。

在穿过样品后,电子被进一步减速,以改变电子束的相对能量。

3.样品:样品通常是非晶态或晶态材料,厚度通常在几纳米到几十纳米之间。

样品先被制备成极薄切片,并被放置在透明的钢网上,并通过透射底座固定在电镜中。

4.磁透镜系统:磁透镜系统用于聚焦和定向电子束。

它可以通过控制磁铁中的磁场来控制电子束的聚焦和导向。

电镜通常包含一个物镜透镜和一个对焦透镜。

物镜透镜具有更大的聚焦能力,用于将电子束聚焦到样品上,而对焦透镜用于微调焦距。

5.透射:电子束穿过样品时会与样品中的原子和电子发生相互作用。

其中一个主要的相互作用是电子与样品中的原子核和电子发生库仑散射。

这些相互作用会使电子的能量损失,并改变电子的路径。

透射电子图像是根据这些散射事件的位置和能量损失来重建的。

6.探测器:透射电子通过样品后,会被收集并转换为可视图像。

光学系统使用透射电子图像来放大和重构样品。

最常用的探测器是闪烁屏幕和摄像机。

闪烁屏幕会发出光,而摄像机则将光转换为电信号,并将其转化为可视化的图像。

7.后处理:获得的透射电子图像可以通过计算机后处理进行增强和处理。

这些处理包括调整对比度,增强细节以及从二维图像中提取出三维信息。

透射电镜的原理允许它在纳米尺度下观察物质的结构和形貌。

与传统的光学显微镜相比,透射电镜具有更高的分辨率和更大的深度解析力。

高分辨透射电镜的原理

高分辨透射电镜的原理

高分辨透射电镜的原理
高分辨透射电镜(High-ResolutionEmissionTomography,HRET)是一种高分辨率的显微成像技术,它以高分辨的电子探针(ElectronProbe)作为主要成像工具。

它可获得原子分辨率的三维图像。

与其他显微成像技术相比,HRET具有下列优点:
1.获得的图像比电子探针观察到的高一个数量级;
2.对样品无破坏性;
3.图像质量高,分辨率可达0.1纳米;
4.可获得样品表面精细结构和信息;
5.可观察样品表面或内部细微结构,且不受样品厚度限制;
6.扫描速度快,每秒可扫描数百张图片。

高分辨透射电镜的工作原理是:电子探针在透射电镜中通过电子束轰击样品时,被激发的电子或离子被偏转到样品表面的不同部位,并在这些部位产生新的电子或离子。

这些被偏转的电子或离子分别向各自相反的方向运动。

偏转后,原来被激发到样品表面的电子或离子又回到原来的位置。

这样,就可以通过扫描电镜记录下来。

—— 1 —1 —。

透射电镜(TEM)讲义

透射电镜(TEM)讲义

05
TEM操作与注意事项
操作步骤与技巧
01
02
03
04
准备样品
选择适当的样品,进行适当的 处理和固定,以确保观察效果 最佳。
调整仪器参数
根据观察需求,调整透射电镜 的加速电压、放大倍数等参数 ,以达到最佳观察效果。
操作步骤
按照仪器操作手册的步骤进行 操作,包括安装样品、调整焦 距、观察记录等。
技巧
定量分析方法
颗粒统计
对图像中颗粒的数量、大 小和分布进行统计,计算 颗粒的平均尺寸和粒度分 布。
电子衍射分析
利用电子衍射技术分析晶 体结构和相组成,确定晶 格常数和晶面间距。
能谱分析
通过能谱仪测定图像中各 点的元素组成和相对含量, 进行定性和定量分析。
04
TEM图像解析实例
晶体结构分析
利用高分辨的TEM图像,可以观察到晶体内部的原 子排列和晶体结构,如面心立方、体心立方或六方 密排结构等。
掌握操作技巧,如正确使用操 作杆、合理利用观察窗口等, 以提高观察效果和效率。
仪器维护与保养
定期清洁
定期对透射电镜进行清 洁,保持仪器内部和外
部的清洁度。
检查部件
更换消耗品
定期检查透射电镜的部 件,如电子枪、镜筒等,
确保其正常工作。
根据需要,及时更换透射 电镜的消耗品,如真空泵
油、电子枪灯丝等。
保养计划
在操作透射电镜时,应严格遵守操作规程, 确保仪器和人身安全。
THANK YOU
感谢聆听
80%
观察模式
根据观察目的选择不同的观察模 式,如明场、暗场、相位对比和 微分干涉等。
图像解析与解读
01
02
03

透射电镜的原理和应用

透射电镜的原理和应用

透射电镜的原理和应用透射电镜(Transmission Electron Microscope,简称TEM)是一种使用电子束来对物质进行成像和分析的先进仪器。

相对于光学显微镜,透射电镜的分辨率更高,可以观察到更小尺寸的物体和更细微的细节。

下文将详细介绍透射电镜的原理和应用。

一、原理透射电镜的工作原理基于电子的波粒二象性。

当高速电子束穿过薄样品时,电子与样品原子发生散射或透射,这些散射和透射电子可以通过其中一种方式被聚焦后投射到屏幕上形成影像。

透射电镜的主要组成部分包括电子源、电子透镜系统、样品台、检测器和成像系统。

2.电子透镜系统:透射电镜中使用的电子透镜系统包括凸透镜、凹透镜和电磁透镜等,用于聚焦和控制电子束的路径。

3.样品台:样品台用于固定和支持待观察的样品。

在样品台上放置薄到几十纳米的切片样品,以便电子束能够透过。

4.检测器:透射电镜中常用的检测器包括透射电子探测器(TED)、散射电子探测器(SED)和能量散射光谱仪(EDS)等。

TED用于接收透射电子并产生明亮的影像,SED用于检测和分析散射电子的信息,EDS用于分析样品中的元素组成。

5.成像系统:透射电镜的成像系统包括投影屏幕、摄像机和电子显微图像处理设备。

通过调整电子透镜系统,可以将电子束上的信息转换成实时图像并显示在投影屏幕上。

二、应用透射电镜在材料科学、生物科学、纳米科学等领域有广泛的应用。

以下是透射电镜的几个主要应用。

1.结构表征:透射电镜可以用于观察材料的结构和形貌。

它能够提供高分辨率的图像,揭示物质的晶体结构、晶体缺陷、晶界和相界等微观结构信息。

2.成分分析:透射电镜结合能量散射光谱仪(EDS)可以分析样品中元素的组成。

EDS通过测量样品上散射电子的能量,确定样品中元素的成分和含量。

3.纳米材料研究:透射电镜可以研究和制备纳米尺寸的材料。

通过观察和测量纳米材料的形貌、尺寸和结构,可以了解纳米材料的特性和性能,并指导纳米材料的设计和合成。

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3.3 透射电镜样品制备方法
3..3.1 直接样品的制备
3.3 透射电镜样品制备方法
3..3.1 直接样品的制备
2.薄膜样品的制备 块状材料是通过减薄的方法(需要先进行机械或化学 方法的预减薄)制备成对电子束透明的薄膜样品。减薄的 方法有超薄切片、电解抛光、化学抛光和离子轰击等. 适用于 生物试 样 适用于金 属材料 适用于在化学试剂 中能均匀减薄的材 料,如半导体、单 晶体、氧化物等。 无机非金属材料大 多数为多相、多组 分的的非导电材料, 上述方法均不适用。 60年代初产生了离 子轰击减薄装臵后, 才使无机非金属材 料的薄膜制备成为 可能。
3.2 透射电镜主要性能指标
(1)分辨率 是透射电镜的最主要的性能指标,它反应了电镜显示 亚显微组织、结构细节的能力。用两种指标表示: 点分辨率:表示电镜所能分辨的两个点之间的最小距离。 线分辨率:表示电镜所能分辨的两条线之间的最小距离。 (2) 放大倍数 是指电子图象对于所观察试样区的线性放大率。 (3)加速电压 是指电子枪的阳极相对于阴极的电压,它决定了电 子枪发射的电子的能量和波长。
3.4 电子衍射
3.4.4 电子衍射方法
(1) 选区电子衍射 透射电镜中通常采用选区电 子衍射,就是选择特定像区的各 级衍射束成谱。 选区是通过臵于物镜像平面 的专用选区光阑(或称视场光阑) 来进行的。在图2-50所示的选区 光阑孔情况下,只有试样AB区的 各级衍射束能通过选区光阑最终 在荧光屏上成谱,而AB区外的各 级衍射束均被选区光阑挡住而不 能参与成谱。 因此所得到的衍射谱仅与试样AB区相对应。通过改 变选区光阑孔大小,可以改变选区大小,使衍射谱与所 造试样像区一一对应。
3.3 透射电镜样品制备方法
3..3.1 间接样品的制备
碳一级复型是通过 真空蒸发碳,在试样表 面沉淀形成连续碳膜而 制成的。
塑料—碳二级复 型是无机非金属材料 形貌与断口观察中最 常用的一种制样方法
3.3 透射电镜样品制备方法
3..3.1 间接样品的制备
2、萃取复型 萃取复型既复制了试样表面的形貌,同时又把 第二相粒子粘附下来并基本上保持原来的分布状态。 通过它不仅可观察基体的形貌,直接观察第二相的 形态和分布状态,还可通过电子衍射来确定其物相。 因此,萃取复型兼有复型试样与薄膜试样的优点。
可通过以一定的角度在复型膜上蒸镀一层密度大的 金属,增加试样形貌不同部位的密度差,则能大大改善 图象的衬度,使图象层次丰富,立体感强。这种方法称 为重金属投影技术。如图:
3.4 电子衍射
早在1927年,戴维森(Davisson)和革末(Germer) 就已用电子衍射实验证实了电子的波动性,但电子衍射 的发展速度远远落后于X射线衍射。 直到50年代,才随着电子显微镜的发展,把成像和 衍射有机地联系起来后,为物相分析和晶体结构分析研 究开拓了新的途径。 许多材料和粘土矿物中的晶粒只有几十微米大小, 有时甚至小到几百纳米,不能用X射线进行单个晶体的 衍射,但却可以用电子显微镜在放大几万倍的情况下, 用选区电子衍射和微束电子衍射来确定其物相或研究这 些微晶的晶体结构。 另一方面,薄膜器件和薄晶体透射电子显微术的发 展显著地扩大了电子衍射的研究和范围,并促进了衍射 理论的进一步发展。
3.4.1电子衍射基本公式
3.4 电子Байду номын сангаас射
3.4.1电子衍射基本公式
R Ltg2 由于电子波长很短,电 子衍射的2很小,所以 tg sin 2 2 sin 2 代入布拉格公式 d sin ,得: 2 Rd Lλ 这就是电子衍射基本公 式。 L为衍射相机长度,当加 速电压一定时, 值确定, λ L和λ的乘积为一常数: K Lλ
3.3 透射电镜样品制备方法
3..3.1 直接样品的制备
1、粉末样品制备 分散:用超声波分散器将需要观察的粉末在溶 液(不与粉末发生作用的)中分散成悬浮液。
镀膜:用滴管滴几滴在覆盖有碳加强火棉胶支 持膜的电镜铜网上。待其干燥(或用滤纸吸干)后, 再蒸上一层碳膜,即成为电镜观察用的粉末样品。 检查:如需检查粉末在支持膜上的分散情况,可 用光学显微镜进行观察。也可把载有粉末的铜网再 作一次投影操作,以增加图像的立体感,并可根据 投影“影子”的特征来分析粉末颗粒的立体形状。
3.4 电子衍射
3.4.4 电子衍射方法
(2)微束电子衍射 微束电子衍射是利用 经聚光镜系统会聚的、很 细的电子束对试样进行衍 射。微束电子衍射的电子 束直径最小可达50nm,因 而不需要使用选区光阑就 能得到微区电子衍射,也 不会产生衍射与选区不相 对应的情况。微束电子衍 射的光路原理如图2-51b。
3.3 透射电镜样品制备方法
应用透射电镜对材料的组织、结构进行深入研究,需 具备以下两个前提: 制备适合TEM观察的试样,厚度100-200nm,甚至 更薄; 建立阐明各种电子图象的衬度理论。
对于材料研究用的TEM试样大致有三种类型: 经悬浮分散的超细粉末颗粒。 用一定方法减薄的材料薄膜。 用复型方法将材料表面或断口形貌复制下来的复 型膜。
3.4 透射电子显微镜
3.4.5电子衍射
电子衍射几何学与X射线衍射完全一样,都遵循 劳厄方程或布喇格方程所规定的衍射条件和几何关系。 电子衍射与X射线衍射的主要区别在于电子波的 波长短受物质的散射强(原子对电子的散射能力比X 射线高一万倍)。 电子波长短,决定了电子衍射的几何特点,它使 单晶的电子衍射谱和晶体倒易点阵的二维截面完全相 似,从而使晶体几何关系的研究变得简单多了。 散射强,决定了电子衍射的光学特点:第一,衍 射束强度有时几乎与透射束相当;第二,由于散射强 度高,导致电子穿透能力有限,因而比较适用于研究 微晶、表面和薄膜晶体。
第三章 透射电子显微镜
3.1 透射电镜工作原理及结构
3.1.1 透射电镜工作原理
3.1 透射电镜工作原理及结构
3.1.2 透射电镜结构
1、透射电镜的结构 透射电镜主要由光学成像系统、真空系统和 电气系统三部分组成。 (1)光学成像系统: 照明、成像放大系统、图像观察记录系统 是产生具有一定能量、足 够亮度和适当小孔径角的 稳定电子束的装臵,包括: 电子枪、 聚光镜
3.1 透射电镜工作原理及结构
3.1.2 透射电镜结构
3.1 透射电镜工作原理及结构
3.1.2 透射电镜结构
(2)真空系统 电子显微镜镜筒必须具有高真空,这是因为: –若镜筒中存在气体,会产生气体电离和放电现象; –电子枪灯丝被氧化而烧断; –高速电子与气体分子碰撞而散射,降低成像衬度及 污染样品。 电子显微镜的真空度要求在10-4-10-6 Torr。 (3)电气系统 主要有灯丝电源和高压电源,使电子枪产生稳 定的高照明电子束;各个磁透镜的稳压稳流电源; 电气控制电路。
其减薄原理是:在高真空中,两个相对的冷阴极离 子枪,提供高能量的氩离子流,以一定角度对旋转的样 品的两面进行轰击。当轰击能量大于样品材料表层原子 的结合能时,样品表层原子受到氩离子击发而溅射、经 较长时间的连续轰击、溅射,最终样品中心部分穿孔。 穿孔后的样品在孔的边缘处极薄,对电子束是透明的, 就成为薄膜样品。
3.3 透射电镜样品制备方法
3..3.1 间接样品的制备
在一般复型中,有时为了暴露第二相的形貌需 选用适当的侵蚀剂溶去部分基体,使第二相粒子凸 出,形成浮雕,但并不希望在复型过程中把材料本 身的碎屑粘附下来,因为这些碎屑的密度和厚度比 之碳膜要大得多,在图像中形成黑色斑块,影响形 貌观察和图像质量,因此要适当控制侵蚀程度。
3.4 电子衍射
3.4.1电子衍射基本公式
1.电子衍射基本公式和相机常 数
右图为电子衍射的几何关 系图,当电子束I0照射到试样 晶面间距为d的晶面组(hkl), 在满足布拉格条件时,将产生 衍射。
透射束和衍射束在相机底 版相交得到透射斑点Q和衍射斑 点P,它们的距离为R。由图可 知:
3.4 电子衍射
3.4 电子衍射
3.4.4 电子衍射方法
(5)会聚束电子衍射 是近十年来发展起来的一种电子衍射,它可以给 出有关晶体结构的三维信息。会聚束经试样衍射后成 透射束的明场圆盘和衍射束的暗场圆盘,这些衍射盘 中的强度分布细节及其对称性给出晶体结构的三维信 息。可用于晶体对称性的测定,微区点阵参数的精确 测定等。原理见图2-51e,右图为Si(111)的会聚束 电子衍射图。
3.4 电子衍射
3.4.4 电子衍射方法
(3)高分辨电子衍射
r r 电子衍射的分辨率定义为: L R
r为衍射斑点半径,R为衍射斑到透射斑的距离。r 对L或R比值越小,分辨率越高。但在选区衍射时,物 镜后焦平面的第一级衍射谱的分辨率为r′/f0与荧光 屏上得到的分辨率相同。因f0很小所以分辨率不高。 若按图2-51c所示进行衍射,则大大提高了分辨率。 (4)高分散性电子衍射(小角度电子衍射) 高分散性电子衍射的目的是拉开衍射斑点和透射 斑的距离,以便于分辨和分析。原理如图2-51d。
3.4 电子衍射
3.4.2 单晶电子衍射谱
3.4 电子衍射
3.4.3 多晶电子衍射谱
3.多晶电子衍射谱 多晶电子衍射谱的几何特征和粉末法的X射线衍射 谱非常相似,由一系列不同半径的同心圆环所组成。
3.4 电子衍射
3.4.3 多晶电子衍射谱
产生这种环形花样的原因是:多晶试样是许多取 向不同的细小晶粒的集合体,在入射电子束照射下, 对每一颗小晶体来说,当其面间距为d的{hkl}晶面簇 的晶面组符合衍射条件时,将产生衍射束,并在荧光 屏或照相底板上得到相应的衍射斑点。 当有许多取向不同的小晶粒,其{hkl}晶面簇的 晶面组符合衍射条件时,则形成以入射束为轴,2θ 为半角的衍射束构成的圆锥面,它与荧光屏或照相底 板的交线,就是半径为R= Lλ/d的圆环。 因此,多晶衍射谱的环形花样实际上是许多取向 不同的小单晶的衍射的叠加。d值不同的{hkl}晶面 簇,将产生不同的圆环、从而形成由不同半径同心圆 环构成的多晶电子衍射谱。
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