射线探伤的物理基础
射线检测培训

二、射线检测设备和器材
18
4、X射线管的焦点:(P34) a、实际焦点—阳极靶上受电子轰击的部分。 b、有效焦点—实际焦点在垂直于管轴线方向上的投影。 c、焦点大,利于散热,管电流可以较大;焦点小,散热 条件差,管电流不能太大。 d、焦点形状和尺寸取决于灯丝形状和尺寸,圆形和正方 形焦点尺寸为 a(a为直径或边长);长方形和椭圆形焦点 尺寸为( a和b为边长或轴长)。
状谱,由一个或几个特定的波长组成。 c、连续X射线的能量(波长)取决于管电压;标识X射线的能
量(波长)取决于靶材,与管电压无关。
一、射线检测物理基础
6、连续X射线的最短波长:
minV1(K2.4V)
0
(A)
4
7、X射线的产生效率:(P6) 0ZV
式中:η0≈1.1~1.4×10-6,
V—管电压(KV)
5
8、X射线和γ射线的相同和不同之处:(习题P20—371)
a、相同之处:X射线和γ射线都是电磁波,它们具有相同 的性质,如不可见、依直线传播、不带电、能穿透物质、 能使物质电离、使胶片感光、能发生生物效应等。
b、不同之处:
⑴、产生机理不同,X射线是高速电子与物质碰撞产生的; 而γ射线是放射性物质原子核衰变时放射出来的。
二、射线检测设备和器材
20
9、X射线机管电压和管电流:(P43—44)
①、管电压调节是通过调节高压变压器初级线圈并联的自耦
变压器的电压来实现的。
管电压越高,电子运动速度越快,产生的X射线能量越高,穿透力越大。
②、管电流是通过调节灯丝变压器电压从而调节灯丝加热电
流来实现的。
管电流越大,产生的X射线强度就越大。
解:设增厚前胶片接受
增厚之后胶片接受的照
无损检测(射线,超声)

3.1.3 射线的产生
射线的性质,有利、有弊,应该科学地加以利 用和防范!射线学就是研究如何利用与防范射线 的科学。下面介绍产生x射线的主要设备: (1)x光管基本组成: • 阴极部件:灯丝(钨丝)——发射电子; 阴极罩——聚焦电子。 • 阳极部件:阳极靶——接收电子; 冷却介质——散热作用。 • 真空管——玻璃或金属陶瓷制作的真空外罩。
2.3.1 常用的无损探伤方法及探伤原理
(2)超声波探伤(Ultrasonic testing)—— 是利用超声波在 物质中传播(Propagation)、反射(Reflection)和 (Decay)等物理性质来发现缺陷的。 该法与射线探伤法形成优势互补. (3)磁力探伤(Magnetic testing)—— 是通过对铁磁材料 进行磁化所产生的漏磁场(Leakage magnetic field) 来发现其表面及近表面缺陷的。 在黑色金属( ferrous metal )的表面检测中应用广泛.
3.1.2 射线的性质 (1)不可见,直线传播—具有隐蔽性和指向性; (2)不带电,因而不受电磁场影响—电中性; (3)能穿透物质,但有衰减—具有穿透性和衰减性; 对同1种射线而言,功率越大,穿透性越强,衰减越慢; (4)能与某些物质产生光化作用,使荧光物质发光;可 使胶片感光—可成像; (5)能使某些气体电离—即产生电离辐射; (6)与光波一样,有反射、折射、干涉现象; (7)能产生生物效应,伤害和杀死生物细胞 —对人体有害。(此点非常重要)
2.3 无损检测方法 的种类及其适用性
2.3.1 常用的无损探伤方法及探伤原理
材料或工件未知工艺缺陷的检测中常用的无损 探伤方法有: (1)射线探伤(Ray Testing) —— 是利用射线的穿 透性(Penetrability)和衰减性(Decay)来发现 缺陷,即射线能够穿透物质并且在物质中有衰 减的物理特性来发现缺陷的。 该法是工业生产中最常用的NDT方法!
RT2级大纲

特种设备无损检测Ⅱ级人员考核大纲(射线检测部分)第一章通用知识中的专业基础知识1 射线检测的物理基础1.1原子与原子结构1.1.1元素与原子(A)1.1.2核外电子运动规律(A)1.1.3原子核结构(A)1.2射线的种类和性质1.2.1 χ射线和γ射线的性质(B)1.2.2 χ射线产生及其特点(1)连续谱的产生和特点(B)(2)标识谱的产生和特点(A)1.2.3 γ射线的产生及其特点(B)1.2.4 射线的种类(A)1.3射线与物质的相互作用1.3.1光电效应(B)1.3.2康普顿效应(B)1.3.3电子对效应(A)1.3.4瑞利散射(A)1.3.5各种相互作用发生的相对概率(A)1.3.6窄束、单色射线的强度衰减规律(B)1.3.7宽束、多色射线的强度衰减规律(A)1.4射线照相法的原理与特点1.4.1射线照相法的原理(C)1.4.2射线照相法的特点(C)2 射线检测设备及器材2.1 χ射线机2.1.1 χ射线机的种类和特点(1)χ射线机的分类(B)(2)携带式χ射线机的技术进展(A)2.1.2 χ射线管(1)结构和种类:普通χ射线管、金属陶瓷管(B)特殊用途管(A)(2)技术性能①阴极特性和阳极特性(B)②管电压(B)③焦点(B)④辐射场的分布(B)⑤真空度(A)⑥寿命(C)2.1.3高压发生电路(1)半波整流电路(B)(2)全波整流电路(A)(3)倍压整流电路(A)(4)全波倍压恒直流电路(A)2.1.4 χ射线机的基本结构(B)2.1.5 χ射线机的主要技术条件(A)2.1.6 χ射线机的使用、维护和修理(1)χ射线机操作程序(C)(2)χ射线机的使用注意事项(C)(3)χ射线机的维护和保养(C)(4)χ射线机的常见故障(A)2.2 γ射线机2.2.1 γ射线源的主要特性参数(A)2.2.2 γ射线探伤设备的特点(B)2.2.3 γ射线探伤设备的分类与结构(A)2.2.4 γ射线探伤机的操作(B)2.2.5 γ射线探伤设备的维护和故障排除(B)2.3射线照相胶片2.3.1射线照相胶片的构造与特点(B)2.3.2感光原理及潜影的形成(A)2.3.3底片黑度(C)2.3.4射线胶片的特性(1)特性曲线(C)(2)特性参数(B)2.3.5卤化银粒度对胶片性能的影响(A)2.3.6胶片的光谱感光度(A)2.3.7工业射线胶片系统的分类(B)2.3.8胶片的使用与保管(C)2.4射线照相辅助设备器材2.4.1黑度计(光密度计)(B)2.4.2增感屏(C)2.4.3像质计(C)2.4.4其他照相辅助设备器材(C)3 射线照相灵敏度的影响因素3.1射线照相灵敏度的影响因素3.1.1 概述(A)3.1.2射线照相对比度(1)对比度公式的推导(A)(2)对比度的影响因素①影响主因对比度的因素(B)②影响胶片对比度的因素(A)3.1.3射线照相清晰度(1)几何不清晰度Ug(C)(2)固有不清晰度Ui(B)3.1.4射线照相颗粒度(B)3.2 灵敏度和缺陷检出的有关研究(1)最小可见对比度△Dmi n(A)(2)射线底片黑度与灵敏度(A)(3)几何因素对小缺陷对比度的影响(A)4 射线透照工艺4.1透照工艺条件的选择4.1.1射线源和能量的选择(1)射线源的选择(A)(2)χ射线能量的选择(B)4.1.2焦距的选择(1)焦距与射线照相灵敏度的关系(C);(2)焦距与被检工件的几何形状及透照方式的关系(B)(3)焦距与总不清晰度的关系(A)4.1.3曝光量的选择和修正(1)曝光量的推荐值(C)(2)互易律、平方反比定律和曝光因子(C)(3)曝光量的修正计算①利用曝光因子的曝光量修正计算(C)②利用胶片特性曲线的曝光量修正计算(A)4.2透照方式的选择和一次透照长度的计算4.2.1透照方式的选择(C)4.2.2一次透照长度的计算(1)透照厚度比K值与一次透照长度的关系(C)(2)直缝透照一次长度的计算(C)(3)环缝单壁外透法一次长度的计算(C)(此要求宜针对图表法而非公式法)(4)环缝单壁内透法一次长度的计算(C)(此要求宜针对图表法而非公式法)(5)环缝双壁单影法一次长度的计算(C)(此要求宜针对图表法而非公式法)4.3曝光曲线的制作及应用4.3.1曝光曲线的构成和使用条件(C)4.3.2曝光曲线的制作(C)4.3.3曝光曲线的使用(C)4.4散射线的控制4.4.1散射线的来源和分类(B)4.4.2散射比的影响因素(A)4.4.3散射线的控制措施(1)选择合适的射线能量(B)(2)使用铅箔增感屏(B)(3)散射线的专门控制措施:背防护铅板、铅罩和光阑、厚度补偿物、滤板、修磨试件(B)4.5焊缝透照常规工艺4.5.1透照工艺的分类和内容(B)4.5.2焊缝透照专用工艺卡示例(B)4.5.3焊缝透照的基本操作(C)4.6射线透照技术和工艺研究4.6.1大厚度比试件的透照技术(B)4.6.2安放式接管管座焊缝的射线照相技术要点(B)4.6.3管子—管板角焊缝的射线照相技术要点(B)4.6.4小径薄壁管透照技术与工艺(1)透照布置(B)(2)厚度变化分析(A)(3)透照次数计算(B)(4)像质要求(B)4.6.4球罐γ射线全景曝光工艺(设备和器材选择、工艺程序、曝光时间的计算、及措施布置、注意事项、安全管理)(B)5.暗室处理技术5.1暗室基本知识5.1.1暗室布置及对工作质量的影响(B)5.1.2暗室设备器材使用知识(B)5.1.3配液注意事项(B)5.1.4胶片处理程序和操作要点(B)5.1.5胶片处理的药液配方(A)5.1.6控制使用单位的胶片处理条件的方法(B)5.2暗室处理技术5.2.1显影(1)显影液的组成及作用(B)(2)影响显影的因素(B)(3)显影的基本原理(A)5.2.2停显(1)组成及作用(B)(2)基本原理(A)5.2.3定影(1)定影液的组成及作用(B)(2)影响定影的因素(B);(3)定影的化学知识(A)5.2.4水洗和干燥(B)5.3 自动洗片机(A)6 射线照相底片的评定6.1评片工作的基本要求6.1.1底片的质量要求(C)6.1.2环境、设备条件要求(C)6.1.3人员条件要求(C)6.1.4与评片基本要求相关的知识(A)6.2评片基本知识6.2.1管片的基本操作(B)6.2.2投影的基本概念(B)6.2.3焊接的基本知识(A)6.2.4焊接缺陷的危害性及分类(A)6.3底片影像分析6.3.1焊接缺陷影像(B)6.3.2常见伪缺陷影像及识别方法(B)6.3.3表面几何影像的识别(B)6.3.4底片影像分析要点(B)6.4焊接接头的质量等级评定6.4.1焊接接头质量分级规定评说(B)6.4.2射线照相检验的记录与报告(B)。
射线检测

I 2 I 0e
所以,
[ ( d d ) `d ]
I 0e e
Δd
d ( ` ) d
I0 μ`
I2 ( ` ) d I e I1
μ I1
d
I2
基本原理及方法
由两式比较,当厚度相同时,
射线检测
I2 I e ( ` ) d I1
X射线照相检测技术
射线检测
③ 金属荧光增感屏:结合了荧光增感屏增 感效果好,金属增感屏底片质量好的优点,制 作而成 所以,此类增感屏使底片的感光速度比金 属屏快,且比荧光屏的像质好,但仍不能满足 生产实际的需要,因此,GB3323-2005规定,射 线照相采用金属增感屏或不用增感屏,个别情 况下,可使用荧光增感屏或金属荧光增感屏, 但只限于A级
射线检测物理基础
2 散射现象
射线检测
射线通过物质后,不仅能量改变, 有部分入射线改变了原来的方向 当方向改变时,称为汤姆逊散射 改变方向及能量时,称为康普顿散射
散射线是一些偏离了原射线的入射线 方向,射向四面八方的射线。射线能量越低,被 透照物质中的电子密度越大,射线的散射效应越 显著,散射线的强度越大
布的连续X射线,有一个极限 波长λ0(或短波限)
1.24 0 (nm) U
射线检测物理基础
② 特征X射线:当
射线检测
管电压超过某一临
界值时,形成与靶
材有关的特殊波长
的射线 3 X射线检测中主
要用连续谱
射线检测物理基础
㈡ γ射线 1 产生
射线检测
同位素—质子数相同,中子数不同,在 周期表中处于同一位置 2 分类 天然放射性同位素:Ra226、U235 人工放射性同位素:Co60、Ir192
射线检测的物理基础

射线检测基础
1.2 射线的种类和性质 1.2.1 x 射线和γ射线的性质 与电波,红外线,光波,紫外线一样都是电磁波。区别只是波长不 同和产生方法不同。 (图1-2) λ = c ν 性质:a.在真空中以光速直线传播。 b.本身不带电,不受电场和磁场的影响。 c.在媒质界面上只能发生漫反射,而不能像可见光那样产生镜 面反射。折射系数接近1。 d.可以发生干涉和衍射现象。 e.不可见光能穿透可见光不能穿透的物质。 f.和物质作用时,会与物质发生复杂的物理,化学作用。 g.具有辐射生物效应,能杀伤生物细胞,破坏生物组织。
λ IM = 1.5λmin
管电流增加撞击电子数增加,管电压增加每个电子能量增大。转换 过程增加Z越高核库仑场越强,韧致辐射作用越强。 x 射线转换效率
η = I T Vi = K i iZV 2 Vi = Kiev
射线检测基础
标识谱的产生及特点 x 射线官的管电压超过某个临界值(激发电压Vk)阴极放射的电 子可以获得足够能量。它与阳极靶相撞时,可以将靶原子的内层 电子逐出壳层之外,使该原子处于激发态,此时外层电子将向内 层跃迁,同时放出1个光子,其能量等于发生跃迁的两能级之差。 例如:Kα标识射线是L层电子跃迁至K层放出的,Kβ标识射线是N 层电子跃迁至K层放出的。 标识x射线强度只占x射线总强度的极少部分,能量也低,所以在 工业射线探伤中不起什么作用。 标识谱的波长只依赖于阳极靶面的材料,与管电压,管电流无关, 不同的靶材激发电压也不同。
射线检测基础
1
散射线和散射比 对射线照相产生影响的散射线来自康普顿效应,在 较低能量范围则来自相干散射(瑞利散射) 应用宽束射线时,一次透射射线Ip 和散射射线Is同 时到达探测器,其射线总强度为I则:
I = I p + I s = I p (1 + I s I p ) = I p (1 + n )
无损射线RT培训复习资料

无损射线RT培训复习资料★关于教材的说明;关于习题集;关于学习方法;关于考试。
★教材重点理一遍学习重点:依托基础理论,掌握基本知识(射线照相时电压太高为什么不对?后板和薄板对比度哪个高?)和操作、评片技能。
第1、2、3章是第4、5章的基础;第1-5章是第6章的基础;第7章是防护(安全知识)。
学习总结(复习):把各章内容联系起来,搞清各物理量之间的关系、影响,从而正确选择。
照出合格底片。
第一章射线检测的物理基础1.原子结构、原子核结构、衰变。
2.X射线、γ射线的特点与区别。
共性:都是电磁波;区别:波长不同、产生方法不同。
3.X射线、γ射线的性质教材第5页与检测有关的5条(1、2、5、6、7);3、4与射线检测关系不大。
4.X射线的产生、谱线特点电子撞击金属靶产生(1%);能谱为连续谱。
5.X射线的强度、能量由什么决定(1)强度→I(i)(管电流);能量→KV(管电压)i增大,强度增大;KV增大,能量增大,强度也同时增加。
X射线的穿透力(透照厚度)取决于KV;γ射线的穿透力取决于源的种类。
(2)射线穿透物质能力的度量(又叫硬度)定性:用“线质”表示定量:用半价层、有效能量或吸收系数(对于连续X射线)半价层、光子能量或波长(对于单色射线)线质硬射线:穿透力强、通过工件时衰减小,ΔD低(如能量高的射线)软射线:穿透力弱、通过工件时衰减大,ΔD高射线的质、线质、硬度、能量描述的是同一个物理量,还有如:照射量、照射率等。
6.γ射线的产生及其特点γ射线是放射性同位素衰变产生的,能谱为线状谱。
(放射性同位素是一种不稳定的核素)γ射线的能量是由放射性同位素的种类决定的。
γ射线的强度单位是活度(活度是不断变化的),是制造时决定的。
半衰期的概念。
X射线的强度、能量是可控的(大小可调节);γ射线的强度、能量是不可控的(不能人为调节),只能透照与能量相应的厚度,有上下限区间。
7.射线对人的危害高能比低能危害大。
8.射线检测照相原理(射线与物质的相互作用)(1)现象(射线穿过物质的变化):强度减弱;(2)强度减弱原因:吸收与散射;吸收与能量和材料的原子序数、密度、厚度有关;散射与能量、波长、厚度、受照面积有关。
x射线探伤原理

x射线探伤原理
X射线探伤原理。
X射线探伤是一种常用的无损检测方法,它利用X射线的穿透能力来检测材料
内部的缺陷和异物。
X射线探伤原理主要包括X射线的产生、穿透和检测三个方面。
首先,X射线是通过X射线管产生的。
X射线管是一种能够产生X射线的设备,它由阴极和阳极组成,当阴极上加上高压电流时,阴极上的电子就会被加速到阳极上,当电子撞击到阳极时就会产生X射线。
这些X射线经过滤波器的过滤后,就
可以照射到被检测物体上。
其次,X射线具有很强的穿透能力。
X射线是一种电磁波,它的波长非常短,
能够穿透大部分物质。
当X射线照射到被检测物体上时,会穿透物体的表面,然
后被检测物体内部的不同材料吸收不同程度,形成透射图像。
最后,X射线的检测是通过X射线探伤仪器来实现的。
X射线探伤仪器主要由
X射线源、探测器和显示器组成。
X射线源产生X射线,照射到被检测物体上;
探测器接收透射的X射线,然后将其转化为电信号;显示器将电信号转化为图像,通过图像来分析被检测物体内部的缺陷和异物。
总的来说,X射线探伤原理是利用X射线的穿透能力来检测材料内部的缺陷和
异物,通过X射线管产生X射线,然后X射线穿透被检测物体,最后通过X射线
探伤仪器来实现检测。
这种无损检测方法在工业生产和安全领域有着广泛的应用,它可以快速、准确地检测出被检测物体内部的缺陷和异物,为生产和安全提供了重要的保障。
射线检测—X射线检测基本原理(无损检测课件)

5. 射线照相规范
♫
(4)曝光量的选择
曝光量E为射线强度I与曝光时间t的乘积,即 E = I·t。曝
光量的大小要能保证足够的底片黑度。如果管电压偏高,
那么小的曝光量也能使底片达到规定黑度,但这样的底
片灵敏度不够好,所以焦距为600mm时X射线照相的曝光
一般规定底片黑度为1.5~4.0D的范围内。
5. 射线照相规范
♫
➢
➢
➢
(7)象质计(透度计)的应用
象质计是用来检查透照技术和胶片处理质量的。我国标准
规定使用线型象质计。
所谓射线照相的灵敏度是射线照相能发现最小缺陷的能力,
射线照相灵敏度分为绝对灵敏度和相对灵敏度。
绝对灵敏度是指射线透照某工件时能发现最小缺陷的尺寸,
第2节 X射线检测的基本原理
2. 物理基础
➢
单色窄束射线在穿过厚度非常小的均匀介质时,其衰减的
基本规律为:
I= 0 −
其中,I0 ——入射射线强度;
I —— 透射射线强度;
T —— 吸收体厚度;
μ —— 线衰减系数。
0.639
➢
半值层厚度: 1Τ =
➢
宽束连续谱射线衰减规律: = 0 1 + −
➢
愈是使用低能量的射线,吸收系数μ值就愈大,从而可以
得到ΔD较大的缺陷图象。
➢
在采用X射线时要尽可能降低管电压,在采用γ射线时,则
要选择能量较低的γ射线源。但是降低管电压会导致射线
穿透力减小,因而不能得到黑度足够的底片。所以降低管
电压也是有一定限度的。
➢
完整的说法是:在能穿透工件的前提下尽可能地降低X射
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性,平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益,请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间:9:00-18:30)。
N0:t=0时初始原子核总数
N:t时刻时的未衰变的原子核个数
λ :衰变常数反映的是物质的一种属性,即λ 越大,其越不稳 定,反映其衰变快慢程度。
§1-2
射线的产生及特点 射线的种类和性质-
①指数衰变规律
射线随时间的延续而衰减。
②半衰期:放射性元素原子核数衰变掉原来原子核数的一半 时,所需的时间叫半衰期。
§1-2
射线的种类和性质-X射线的产生及特点
3、标识X射线谱: 即标识靶材料的谱线 在特定波长位置上出现强度很大的线状谱线,它的波长 只依赖于阳极靶面的材料,而与管电压、管电流无关。由于 其强度只占极少部分,能量也低,所以在工业探伤中不起作 用,只用在材料的光谱分析及X射线衍射中应用。
§1-2
(2)核力是短程力; (3)核力 100倍库仑力,是强相互作用力; (4)核力促成核子的二种结合形式(成对结合及对对结合) 成对结合: 质子 + 中子 对对结合: 一对质子 +一对中子
§1-1
原子与原子结构 -原子核与核外电子运动规律
能级:
是指电子绕核沿着园形轨道运行,各条轨道有不同的能量状态。
元素的概念
定义:具有相同核电荷的一类原子称为元素。 例如:所有一个核电荷数的原子称为氢元素,所有八 个核电荷数的原子称为氧元素。 元素符号: 表示某种元素的一个符号。 A:原子量(原子质量数)。 Z:原子序数:原子在元素周期表中的排列序号。原子 核所带的正电荷数。 同位素
定义:质子数相同而质量数不同的元素称为同位素。 如:1H,2H,3H
S
§1-2
射线的种类和性质-X射线的产生及特点
2、连续X射线:
连续X射线是高速运动的电子和原子核核外库仑场的作用过程 中发射出来的。
(1)X射线的性质: X射线是一种电磁波,具有电磁波的波粒二相性 即:{
C 波的性质:波长与频率的关系:λ=—— υ 粒子的性质:粒子的能量 hυ λ:波长
υ:频率
27
C0
60 27
Ni 60 + 28
平均1.25 MeV
β=0.31MeV =1.17 MeV
=1.133MeV
Ni 60 稳定态 28
射线的波长是固定的,即1.17和1.33 MeV,平均则为
1.25 MeV,所以称线谱(线状谱线)。
§1-2
C0
射线的产生及特点 射线的种类和性质-
D 构成:
原子核(质子 + 中子)+电子
数量关系:原子量 = 质子数 + 中子数 A = Z + N 例:60钴 60 = 27 + 33 即:质子数Z=核的正电荷数=电子数=原子序数
§1-1
原子与原子结构 -原子核与核外电子运动规律
原子核的结构
--精确的结构模型至今尚未建立
--多种模型并存的状态
T 1 = ln 2 0.693 2
§1-3
-概述 射线与物质的相互作用
高速运动的X射线光子流在穿越物质时要发生一系列复杂的物 理过程,射线强度要减弱。 主要分为: -- 射线的散射:射线发生了偏移 -- 射线的被吸收:射线被物质吸收而转化为其它形式的能量 实践证明:射线穿越物质后的强度衰减也与射线的衰变一样 ,遵循一定的统计规律。 即它正比于射线本身的强度I0和穿过物质的厚度d,对于单 色窄束射线的衰减规律是: Δ I= I0-I=μ .I0.Δ d (-Δ I= I-I0=μ .I0.Δ d) I= I0.e-μ .d (∫dI=∫-μ I0.Δ d)
§1-2
射线的种类和性质-X射线的产生及特点
由实验得出:
相 对 强 度
(3) 连续X射线总强度:
I总 K.i.z.V
10mA 波长
2
(Ki)
K比例常数:1.1~1.4×10-6
i:管电流 Z:阳极靶原子序数 W=74
5mA λmin 不同管电流 50kv 40kv 30kv 20kv 不同管电压
h:布郎克常数
在极端情况下,电子的能量全部转变为X射线光电子能 量h,而大部分电子是经过多次制动,逐步丧失动能的。这就 是使转换过程中发出的电磁辐射具有各种波长。因此X射线 的波谱是连续分布的,称为连续谱。
§1-2
射线的种类和性质-X射线的产生及特点
min计算
(2) 最短波长λ
1 c 2 E hv mV eV h. 2
§1-2
射线的产生及特点 射线的种类和性质-
4、 射线的衰变规律和半衰期
放射性元素的衰变遵循一定的统计规律 Δ N = -λ .N.Δ t (λ :放射性元素的衰变常数) 在时间Δ t内发生衰变的原子核数Δ N与原来原子核的总数N成 -λ .N.Δ t 对 dN N .dN 积分 N = N0 e-λ
超声波
无线电波
红外线
可 见 光
紫外线
X射线
宇宙射线
射线
波长
§1-2
射线的种类和性质-X射线和
射线的性质
X、 射线性质
射线都是电磁波,其波长比可见光、天线电波短; --X、
-- -- -- -- --
在真空中以光速直线传播; X、 射线本身不带电性,故不受电场、磁场影响; 有反射、折射、干涉等现象与可见光一样; 不可见、能够穿透物质,能使胶片感光,使某些物质产生荧光现象; 在穿透物质过程中与物质发生复杂的物理化学作用(即发生三大效应) ;如电离、荧光、热作用、光化学作用等 -- 具有辐射生物效应,杀伤生物细胞,破坏生物组织。
§1-1
原子与原子结构 -元素与原子
原子
(1) 原子的概念: 定义:组成单质和化合物分子的最小微粒,由原子核和 核外电子构成。 (2) 原子的构成: * 原子是由原子核和核外电子所构成。 * 电子围绕原子核作行星运动;电子在一定轨道上绕核 运动。 * 原子是有质量、有尺寸的一种粒子。
§1-1
§1-2
射线的种类和性质-X射线和
射线的性质
按物理、化学作用可分为:
--物理特性: ①穿透作用
②荧光作用—探伤、医用 ③电离作用 ④热作用——监测剂量 ⑤反射、折射、干涉现象——分析晶体结构
--化学特性:①感光作用—对工业、医用胶片
②着色作用
--生物特性: 生物损伤—需要防护
§1-2
射线的种类和性质-X射线的产生及特点
原子核的构成
--均匀分布 --不同数量的质子和不同数量的中子构成不同性质(元素)的原子核 --原子的原子量A代表该原子的原子核的质子和中子的总和: A = Z + N
原子核的电荷
--正电荷=原子序数 Z
§1-1
原子与原子结构 -原子核与核外电子运动规律
原子核的半径: 10-13----10-12 cm
V:管电压(千伏)
相 对 强 度
波长
W74
∴原子序数越大则总强 度越大,选择钨等原子 序数大的材料。
§1-2
射线的种类和性质-X射线的产生及特点
结论: 从两个公式中可以看出改变管电流能改变总的强度,而改 变管电压则最短波长向左移动,平均波长(或最高强度的波长 )向左移动。因此,管电压越高,平均波长越短,则穿透力越 强,线质越硬,总的强度与以上三种成正比变化。
主讲人:余劲松 单 位:新疆电力建设有限公司 职 务:副总工程师、教授级高工、 RT高级
内容安排
一、原子与原子结构 二、射线的种类和性质 三、射线与物质的相互作用 四、射线衰减规律
五、射线照相法的原理与特点
§1-1
原子与原子结构
-元素与原子
-原子核与核外电子运动规律
§1-1
原子与原子结构 -元素与原子
跃迁 :
是指原子从外界吸收一定能量时,电子从低能级跳到较高能级的过程。
§1-2
射线的种类和性质
X射线和 射线的性质
X射线的产生及特点 射线的产生及特点
§1-2
射线的种类和性质-X射线和
射线的性质
基本概念 X射线和 射线与无线电波、红外线、可见光、紫外线等都 是电磁波,区别只是波长不同,产生方法不同。
1、X射线产生的条件和原理: X射线是由X射线发生器产生的,X射线发生器由三部分组 成:(即产生的必要条件) ① 发射电子——灯丝(阴极) ② 加速电子的装置——高压发生器 ③ 受电子轰击的阳极靶——阳极 经典电动力学指出,带电粒子在加速或减速时必然 伴随着电磁辐射,当带电粒子与原子相碰撞(与原子 核的库仑场相互作用)发生骤然减速时,由此伴随产 生的辐射称为韧致辐射。
§1-2
射线的种类和性质-X射线的产生及特点
K i .i.Z .V IT V .i i.V
2
(4) X射线效率:
IT:连续X射线总强度
K i .Z .V
V:管电压
i: 管电流
结论: X射线的效率与管电压和靶材料原子序数成正比。管电压的高 压波形越接近于恒压,X射线产生的效率越高,当V=100KV 时, η =1%而4MeV时X射线的η =36%
§1-2
射线的种类和性质-X射线的产生及特点
10-6-10-7mmHg 钨(等)
阳极 阴极
聚焦罩
+
—
玻璃(陶瓷)
密封保持一定的真空度
过程:灯丝加热后放出电子,在灯丝与靶之间加几十~几百千伏电压后,电 子以很高速度撞击靶面,失去所具有的动能,电子的能量绝大多部分 转化为热能,极少部分以X射线形式辐射出来。因为带电粒子在加速减 速时,必然伴随着电磁辐射的发生。
:衰减系数或线衰减系数,线吸收系数. 线衰减系数μ :在射线方向上单位长度的单位衰减. ※线衰减系数μ 是由射线本身的能量及穿越物质本身的性质决定的
§1-3