第一章 射线检测的物理基础
第一章射线检测的物理基础

第一章射线检测的物理基础1.1 原子与原子结构1.1.1 元素与原子世界上一切物质都是由元素构成的,迄今为止,已发现的元素有100多种,其中天然存在的有94种,人工制造的有十几种。
为便于表达和书写,每种元素都用一定的符号来表示,称作元素符号。
元素符号采用该元素拉丁文名称第一个字母的大写,或再附加一个小写字母。
例如,碳的元素符号是C,钴的元素符号是Co,铁的元素符号是Fe,等等。
原子是元素的具体存在,是体现元素性质的最小微粒。
在化学反应中,原子的种类和性质不会发生变化。
原子质量极其微小,例如氢原子质量为1.673×10-24克,以常用质量单位表示很不方便,因此物理学中采用“原子质量单位”,用符号“u”表示,即规定碳同位素的质量的1/12为1u,而原子量就是某元素的原子的平均质量相对于原子质量1/12的比值。
照此规定,氢元素的原子量为1,氧元素的原子量为16。
原子由一个原子核和若干个核外电子组成。
原子核带正电荷,位于原子中心,电子带负电,在原子核周围高速运动。
原子核所带的正电荷与核外电子所带的负电荷相同,所以,整个原子呈电中性。
电子的质量极轻,为9.109×10-28克,等于氢原子质量的1/1837。
电子带有1个单位负电荷(1.602×10-19库仑)。
在原子中,原子核所带的正电荷数(简称核电荷数)与核外电子所带的负电荷数相等。
所以核外电子数就等于核电荷数。
不同元素的核电荷数不同,核外电子数也不同。
元素周期表中,元素的次序就是按核电荷数排列的,因此,周期表中的原子序数z等于核电荷数。
原子核仍然可以再分,试验证明,原子核是由两种更小的粒子即质子和中子组成的。
中子不带电,1个质子带1个单位正电荷,原子核中有几个质子,就有几个核电荷,因此得到以下关系:质子数=核电荷数=核外电子数=原子序数质子的质量为1.6726×10-24克,中子的质量为1.6749×10-24克,两者质量几乎相等。
射线检测培训

二、射线检测设备和器材
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4、X射线管的焦点:(P34) a、实际焦点—阳极靶上受电子轰击的部分。 b、有效焦点—实际焦点在垂直于管轴线方向上的投影。 c、焦点大,利于散热,管电流可以较大;焦点小,散热 条件差,管电流不能太大。 d、焦点形状和尺寸取决于灯丝形状和尺寸,圆形和正方 形焦点尺寸为 a(a为直径或边长);长方形和椭圆形焦点 尺寸为( a和b为边长或轴长)。
状谱,由一个或几个特定的波长组成。 c、连续X射线的能量(波长)取决于管电压;标识X射线的能
量(波长)取决于靶材,与管电压无关。
一、射线检测物理基础
6、连续X射线的最短波长:
minV1(K2.4V)
0
(A)
4
7、X射线的产生效率:(P6) 0ZV
式中:η0≈1.1~1.4×10-6,
V—管电压(KV)
5
8、X射线和γ射线的相同和不同之处:(习题P20—371)
a、相同之处:X射线和γ射线都是电磁波,它们具有相同 的性质,如不可见、依直线传播、不带电、能穿透物质、 能使物质电离、使胶片感光、能发生生物效应等。
b、不同之处:
⑴、产生机理不同,X射线是高速电子与物质碰撞产生的; 而γ射线是放射性物质原子核衰变时放射出来的。
二、射线检测设备和器材
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9、X射线机管电压和管电流:(P43—44)
①、管电压调节是通过调节高压变压器初级线圈并联的自耦
变压器的电压来实现的。
管电压越高,电子运动速度越快,产生的X射线能量越高,穿透力越大。
②、管电流是通过调节灯丝变压器电压从而调节灯丝加热电
流来实现的。
管电流越大,产生的X射线强度就越大。
解:设增厚前胶片接受
增厚之后胶片接受的照
II级培训射线检测物理基础

3 原子核结构 原子核由带正电的质子和不带电的中子构成。原子核体积为原子半径的
万分之一,而质量且占原子质量的99%以上。所以原子是一个极其空旷的结构, 在射线与物质发生作用时给部分射线穿过物质而不与射线发生作用造成了可 能。
与原子核库仑场相互作用发生骤然减速时,由此伴随产生的辐射。 (3)X射线的波谱特点:由连续谱和标识谱两部分组成 连续谱:即波长连续变化,它的最短波长只与外加电压有关;
为什么会连续呢? 标识谱:也叫特征谱,只与靶材料有关。
(4)连续谱最短波长的计算: 电子的动能E=eV 全部转化为电磁辐射的能量E=hν,则该辐射的波长λmin为:
• 同位素:质子数相同而中子数不同的各种原子互为同位素。 • 核素可分为稳定和不稳定的两类,不稳定的核素称为放射性核素。它能自发
地放出某些射线——α、β或γ射线,而变成另一种元素。 • 放射性核素可分为天然的和人工制造的两类。当前射线检测所用的γ射线源
均为人工放射性核素。
2 核外电子运动规律 原子理论的发展: A 道尔顿原子理论:原子是物质的最小单元,不可分割的。 B 汤姆逊原子理论:正电荷平均分布在整个原子中,而电子则平均分布在这些正
不同点: (1)产生方式不同,
X射线是高速电子轰击阳极靶产生的; γ射线是放射性核素衰变产生的。 (2)能量不同 X射线能量可调,取决于管电压; γ射线能量不可调,取决于源种类。 (3)强度不同, X射线强度决于管电压和管电流; γ射线强度随时间的推移按指数规律减弱。 (4)波谱不同 X射线波谱是连续谱; γ射线波谱是线状谱。
1.2 射线的种类和性质 1 X射线和γ射线的性质 相同点: (1)都是电磁波,在真空中以光速传播; (2)本身不带电,不受电场和磁场的影响; (3)在媒质界面上只能发生漫反射; (4)可以发生干涉和衍射现象; (5)不可见,能够穿透可见光不能穿透的物质; (6)在物质作用过程中,会与物质发生复杂的物理和化学作用; (7)具有辐射效应,能够杀伤生物细胞,破坏生物组织。
RT2级大纲

特种设备无损检测Ⅱ级人员考核大纲(射线检测部分)第一章通用知识中的专业基础知识1 射线检测的物理基础1.1原子与原子结构1.1.1元素与原子(A)1.1.2核外电子运动规律(A)1.1.3原子核结构(A)1.2射线的种类和性质1.2.1 χ射线和γ射线的性质(B)1.2.2 χ射线产生及其特点(1)连续谱的产生和特点(B)(2)标识谱的产生和特点(A)1.2.3 γ射线的产生及其特点(B)1.2.4 射线的种类(A)1.3射线与物质的相互作用1.3.1光电效应(B)1.3.2康普顿效应(B)1.3.3电子对效应(A)1.3.4瑞利散射(A)1.3.5各种相互作用发生的相对概率(A)1.3.6窄束、单色射线的强度衰减规律(B)1.3.7宽束、多色射线的强度衰减规律(A)1.4射线照相法的原理与特点1.4.1射线照相法的原理(C)1.4.2射线照相法的特点(C)2 射线检测设备及器材2.1 χ射线机2.1.1 χ射线机的种类和特点(1)χ射线机的分类(B)(2)携带式χ射线机的技术进展(A)2.1.2 χ射线管(1)结构和种类:普通χ射线管、金属陶瓷管(B)特殊用途管(A)(2)技术性能①阴极特性和阳极特性(B)②管电压(B)③焦点(B)④辐射场的分布(B)⑤真空度(A)⑥寿命(C)2.1.3高压发生电路(1)半波整流电路(B)(2)全波整流电路(A)(3)倍压整流电路(A)(4)全波倍压恒直流电路(A)2.1.4 χ射线机的基本结构(B)2.1.5 χ射线机的主要技术条件(A)2.1.6 χ射线机的使用、维护和修理(1)χ射线机操作程序(C)(2)χ射线机的使用注意事项(C)(3)χ射线机的维护和保养(C)(4)χ射线机的常见故障(A)2.2 γ射线机2.2.1 γ射线源的主要特性参数(A)2.2.2 γ射线探伤设备的特点(B)2.2.3 γ射线探伤设备的分类与结构(A)2.2.4 γ射线探伤机的操作(B)2.2.5 γ射线探伤设备的维护和故障排除(B)2.3射线照相胶片2.3.1射线照相胶片的构造与特点(B)2.3.2感光原理及潜影的形成(A)2.3.3底片黑度(C)2.3.4射线胶片的特性(1)特性曲线(C)(2)特性参数(B)2.3.5卤化银粒度对胶片性能的影响(A)2.3.6胶片的光谱感光度(A)2.3.7工业射线胶片系统的分类(B)2.3.8胶片的使用与保管(C)2.4射线照相辅助设备器材2.4.1黑度计(光密度计)(B)2.4.2增感屏(C)2.4.3像质计(C)2.4.4其他照相辅助设备器材(C)3 射线照相灵敏度的影响因素3.1射线照相灵敏度的影响因素3.1.1 概述(A)3.1.2射线照相对比度(1)对比度公式的推导(A)(2)对比度的影响因素①影响主因对比度的因素(B)②影响胶片对比度的因素(A)3.1.3射线照相清晰度(1)几何不清晰度Ug(C)(2)固有不清晰度Ui(B)3.1.4射线照相颗粒度(B)3.2 灵敏度和缺陷检出的有关研究(1)最小可见对比度△Dmi n(A)(2)射线底片黑度与灵敏度(A)(3)几何因素对小缺陷对比度的影响(A)4 射线透照工艺4.1透照工艺条件的选择4.1.1射线源和能量的选择(1)射线源的选择(A)(2)χ射线能量的选择(B)4.1.2焦距的选择(1)焦距与射线照相灵敏度的关系(C);(2)焦距与被检工件的几何形状及透照方式的关系(B)(3)焦距与总不清晰度的关系(A)4.1.3曝光量的选择和修正(1)曝光量的推荐值(C)(2)互易律、平方反比定律和曝光因子(C)(3)曝光量的修正计算①利用曝光因子的曝光量修正计算(C)②利用胶片特性曲线的曝光量修正计算(A)4.2透照方式的选择和一次透照长度的计算4.2.1透照方式的选择(C)4.2.2一次透照长度的计算(1)透照厚度比K值与一次透照长度的关系(C)(2)直缝透照一次长度的计算(C)(3)环缝单壁外透法一次长度的计算(C)(此要求宜针对图表法而非公式法)(4)环缝单壁内透法一次长度的计算(C)(此要求宜针对图表法而非公式法)(5)环缝双壁单影法一次长度的计算(C)(此要求宜针对图表法而非公式法)4.3曝光曲线的制作及应用4.3.1曝光曲线的构成和使用条件(C)4.3.2曝光曲线的制作(C)4.3.3曝光曲线的使用(C)4.4散射线的控制4.4.1散射线的来源和分类(B)4.4.2散射比的影响因素(A)4.4.3散射线的控制措施(1)选择合适的射线能量(B)(2)使用铅箔增感屏(B)(3)散射线的专门控制措施:背防护铅板、铅罩和光阑、厚度补偿物、滤板、修磨试件(B)4.5焊缝透照常规工艺4.5.1透照工艺的分类和内容(B)4.5.2焊缝透照专用工艺卡示例(B)4.5.3焊缝透照的基本操作(C)4.6射线透照技术和工艺研究4.6.1大厚度比试件的透照技术(B)4.6.2安放式接管管座焊缝的射线照相技术要点(B)4.6.3管子—管板角焊缝的射线照相技术要点(B)4.6.4小径薄壁管透照技术与工艺(1)透照布置(B)(2)厚度变化分析(A)(3)透照次数计算(B)(4)像质要求(B)4.6.4球罐γ射线全景曝光工艺(设备和器材选择、工艺程序、曝光时间的计算、及措施布置、注意事项、安全管理)(B)5.暗室处理技术5.1暗室基本知识5.1.1暗室布置及对工作质量的影响(B)5.1.2暗室设备器材使用知识(B)5.1.3配液注意事项(B)5.1.4胶片处理程序和操作要点(B)5.1.5胶片处理的药液配方(A)5.1.6控制使用单位的胶片处理条件的方法(B)5.2暗室处理技术5.2.1显影(1)显影液的组成及作用(B)(2)影响显影的因素(B)(3)显影的基本原理(A)5.2.2停显(1)组成及作用(B)(2)基本原理(A)5.2.3定影(1)定影液的组成及作用(B)(2)影响定影的因素(B);(3)定影的化学知识(A)5.2.4水洗和干燥(B)5.3 自动洗片机(A)6 射线照相底片的评定6.1评片工作的基本要求6.1.1底片的质量要求(C)6.1.2环境、设备条件要求(C)6.1.3人员条件要求(C)6.1.4与评片基本要求相关的知识(A)6.2评片基本知识6.2.1管片的基本操作(B)6.2.2投影的基本概念(B)6.2.3焊接的基本知识(A)6.2.4焊接缺陷的危害性及分类(A)6.3底片影像分析6.3.1焊接缺陷影像(B)6.3.2常见伪缺陷影像及识别方法(B)6.3.3表面几何影像的识别(B)6.3.4底片影像分析要点(B)6.4焊接接头的质量等级评定6.4.1焊接接头质量分级规定评说(B)6.4.2射线照相检验的记录与报告(B)。
无损射线RT培训复习资料

无损射线RT培训复习资料★关于教材的说明;关于习题集;关于学习方法;关于考试。
★教材重点理一遍学习重点:依托基础理论,掌握基本知识(射线照相时电压太高为什么不对?后板和薄板对比度哪个高?)和操作、评片技能。
第1、2、3章是第4、5章的基础;第1-5章是第6章的基础;第7章是防护(安全知识)。
学习总结(复习):把各章内容联系起来,搞清各物理量之间的关系、影响,从而正确选择。
照出合格底片。
第一章射线检测的物理基础1.原子结构、原子核结构、衰变。
2.X射线、γ射线的特点与区别。
共性:都是电磁波;区别:波长不同、产生方法不同。
3.X射线、γ射线的性质教材第5页与检测有关的5条(1、2、5、6、7);3、4与射线检测关系不大。
4.X射线的产生、谱线特点电子撞击金属靶产生(1%);能谱为连续谱。
5.X射线的强度、能量由什么决定(1)强度→I(i)(管电流);能量→KV(管电压)i增大,强度增大;KV增大,能量增大,强度也同时增加。
X射线的穿透力(透照厚度)取决于KV;γ射线的穿透力取决于源的种类。
(2)射线穿透物质能力的度量(又叫硬度)定性:用“线质”表示定量:用半价层、有效能量或吸收系数(对于连续X射线)半价层、光子能量或波长(对于单色射线)线质硬射线:穿透力强、通过工件时衰减小,ΔD低(如能量高的射线)软射线:穿透力弱、通过工件时衰减大,ΔD高射线的质、线质、硬度、能量描述的是同一个物理量,还有如:照射量、照射率等。
6.γ射线的产生及其特点γ射线是放射性同位素衰变产生的,能谱为线状谱。
(放射性同位素是一种不稳定的核素)γ射线的能量是由放射性同位素的种类决定的。
γ射线的强度单位是活度(活度是不断变化的),是制造时决定的。
半衰期的概念。
X射线的强度、能量是可控的(大小可调节);γ射线的强度、能量是不可控的(不能人为调节),只能透照与能量相应的厚度,有上下限区间。
7.射线对人的危害高能比低能危害大。
8.射线检测照相原理(射线与物质的相互作用)(1)现象(射线穿过物质的变化):强度减弱;(2)强度减弱原因:吸收与散射;吸收与能量和材料的原子序数、密度、厚度有关;散射与能量、波长、厚度、受照面积有关。
射线检测的物理基础

射线检测的物理基础1.1 射线的产生及性质1.1.1 射线的分类射线是宏观上直线高速运动的微观粒子流。
物理学上的射线又称辐射。
射线种类很多,其性质、产生机理、与物质作用时的行为也各不相同,有人为产生的射线,也有客观存在的射线。
按射线粒子是否带有电荷可做如下分类:1、带有电荷的射线带有电荷的射线种类很多。
根据所带电荷性质不同又可把它们分为带正电荷的射线和带负电荷的射线。
前者如:α射线、质子射线等;后者如β射线(电子束)等。
2、不带电荷的射线这类射线如x射线、γ射线、中子射线等。
这些微观粒子本身都不带电荷,其中中子射线是一种实际存在的物质粒子,有质量、大小;而x、γ射线是没有静止质量、几何尺寸,但有一定能量的光量子。
实质上,x、γ射线的本质都是电磁波的一部分。
如图1-1所示:辐射波长单位:埃(Å)106 105 104 103 102 10 1 10-1 10-2 10-3 10-4 10-5Å(105) (104) (103) (102) (10) (1) (10-1) (10-2) (10-3) (10-4)(10-5)(10-6) nm图1-1 电磁波谱因为x、γ射线不带电荷,没有质量,所以它们不受电磁场的影响,在与物质作用时有较强的穿透力,一般射线探伤用的都是x、γ射线,而中子射线和高能射线探伤只在很小范围内使用,所以这里只对x、γ射线进行讨论。
1.1.2 射线的产生1、X射线(亦称“伦琴射线”)的产生根据经典的电磁理论,高速运动的带电粒子受阻会产生电磁辐射,亦称韧致辐射。
在射线管两极高电压的作用下,从阴极发出的电子会得到加速,高速运动的电子在受到阳极靶的阻遏时将产生韧致辐射,使一部分能量转变成x射线,而绝大部分则以热能形式释放出来。
产生x 射线的基本条件:(1)要有一定数量的电子(2)电子向一定方向高速运动(3)在电子前进的路径上,有阻止电子运动的障碍物。
2、γ射线的产生 质子数相同而中子数不同的元素称为同位素。
RT2理论知识 第1章 射线检测的物理基础
射线向四周辐射。
1.2.2 X射线的产生及其特点
1.2.2 X射线的产生及其特点
1.2.2 X射线的产生及其特点
1.2.2 X射线的产生及其特点
1.2.2 X射线的产生及其特点
1.2.2 X射线的产生及其特点
1. <10KeV
光电效应为主
2. 2. 10~100KeV KeV↑,光电↓
3. >100KeV
康普顿为主
4. 1Mev
康普顿几率最大
5. >1Mev
KeV↑,康普顿↓,电子对↑
6. 10Mev
康普顿几率与电子对几率相同
7. >10Mev
以电子对为主
1.3.5 各种相互作用发生的相互概率
各种不同效应对射线照相量的影响
1.2.3 γ射线的产生及其特点
1.2.3 γ射线的产生及其特点
1.3 射线与物质的相互作用
1.吸收与散射; 2.射线与物质的作用形式; 3.强度衰减规律
1.3 射线与物质的相互作用
1.3.1 光电效应
光电效应的发生概率随光子能量增大而减小,随原子序数Z增大而增大。
1.3.2 康普顿效应
1.3.5 各种相互作用发生的相互概率
三种效应的发生概率与入射光子的能量和原子序数有关:
1.对于低能量射线、高原子序数物质,光电效应占优势; 2.对于中等能量射线、低原子序数物质,康普顿效应占优势; 3.对于高能量射线、高原子序数物质,电子对效应占优势;
1.3.5 各种相互作用发生的相互概率
射线在钢中各种效应的发生几率
原子核的构成 原子核由更小的两种粒子:质子和中子
射线检测的物理基础
第1章射线检测的物理基础1.1 原子与原子结构1.1.1 元素与原子1.原子:化学反应的最小粒子。
化学反应中,原子的种类和性质不会发生变化。
2.元素:具有相同核电荷数的同一类原子的总称。
3.原子组成:原子核和若干个核外电子。
●原子核:由质子和中子构成。
质子带一个单位正电荷,中子不带电。
●核外电子:带一个单位负电荷4.对原子而言,原子核所带的正电荷数与核外电子所带的负电荷数相等。
即:质子数=核电荷数=核外电子数5.原子的质量:极其微小,近似等于原子核的质量。
●中子和质子的质量几乎相等。
6.原子量●原子的质量单位:规定C12原子质量的1/12为一个原子质量单位,单位为u。
◊质子和中子的相对质量都近似等于1u。
●原子量:原子的质量与原子质量单位的比值。
◊原子量=质子数+中子数7.原子序数:元素在元素周期表中排列的位置。
2010年11月●质子数=核电荷数=核外电子数=原子序数8.核素:具有一定质子数、中子数并处于特定能量状态的原子或原子核。
●一种元素可包含有多种核素。
9.同位素:质子数相同而中子数不同的原子互称同位素。
●同位素分稳定和不稳定两类,不稳定同位素又称放射性同位素。
●放射性同位素分人工和天然两类。
1.1.2核外电子运动规律玻尔理论:●能级:核外电子运动的各条轨道有不同的能量状态;●基态:正常情况下电子总是在能级最低的轨道上运行;●跃迁:原子吸收或放出一定能量时,电子由一种能级跳到另一种能级●激发态:电子由低能级跳到高能级后原子的状态。
激发态是不稳定的,电子将跃迁回低能级,两个能级的能值差会以光能的形式辐射出来。
1.1.3原子核结构1.核力:原子核中质子和中子之间的结合力。
2.核力的性质●核力与电荷无关,质子和中子都受核力作用。
●核力是短程力,只在相邻的原子核之间发生作用。
●核力比库仑力大100倍,是一种强相互作用。
●核力能促成粒子的成对结合以及对对结合。
3.原子核的稳定性●如果只考虑核力而不考虑库仑力,原子核中质子数和中子数相等的核是最稳定的;●如果考虑库仑力,含有较多中子的核更稳定;●中子过多也不稳定,因为没有质子配对;●质子过多也不稳定,因为库仑力增大;●对小质量的核,中子数/质子数=1附近较稳定;●对大质量的核,中子数/质子数=1.6附近较稳定;4.放射性衰变:不稳定的核素自发蜕变,变成另一种核素,同时放出各种射线的现象。
第一章 射线检测物理基础
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1914年- M.V Laue (劳厄)-发现晶体的X衍射衍射(物理) 1915年-WH.WL.Bragg (布拉格) –用X射线分析晶体结构(物理) 1917年-C.G Barkla (巴克拉)-发现X射线对元素的特征发射(物理) 1921年:阿尔伯特〃爱因斯坦(德国)他对数学物理学的成就,特 别是光电效应定律的发现 1922年:尼尔斯〃亨利克〃大卫〃玻尔(丹麦)关于原子结构以及 原子辐射的研究 1924年-M.G Siegbahn (塞格巴恩)-(瑞典)研究X射线光谱学(物 理) 1925年:弗兰克〃赫兹(德国)发现原子和电子的碰撞规律 1927年-A.H Compton (康普顿)-发现散射X射线的波长变化(物理) 1929年:路易〃维克多〃德布罗意(法国)发现电子的波动性 1935年:詹姆斯〃查德威克(英国)发现中子 1936年-P.J.W Debye (德拜)-X射线偶极矩和衍射及气体中的电子研 究(化学) 1946年-H.I Muller (马勒) -X射线辐照引起变异(生理学或医学)
•能量较大的电子入射到靶材料的原子中,与壳层电 子碰撞,击出内电子,使原子处于激发态(吸收); 激发态原子释放能量发射光子(辐射)。即发射标 识X射线。 •产生标识X射线的条件:管电压>某一临界值时,才 能产生标识X射线。 •标识X射线强度少,能量低,在工业射线检测中不 起作用。 2 标识谱特征 1、每一谱线都有特定的波长,电子撞击的物质不同, 这些特定波长的值也不同。 2、特征谱可以分成若干系,每一系的谱线都有自己 特定的结构和激发电压,只有电子的加速电压超过 激发电压时,才能产生该系的特征谱线。
第二节
射线的种类和性质
一、 X射线和γ射线的本质与性质(理解) 1 本质: 电磁波 * X射线、γ射线、可见光、无线电波、红外线都是电磁波 * X射线和γ射线是波长较短的电磁波;区别在于波长不同 以及产生方法不同。
射线检测的物理基础
射线检测的物理基础射线检测是一种利用射线在物质中传播的特性进行物质组成分析和缺陷检测的方法。
射线检测常用的射线包括X射线和γ射线。
这两种射线都是电磁波,具有较高的穿透能力和能量,因此可以用于穿透物质并获取内部信息。
射线检测的物理基础主要包括射线的产生、传播以及与物质相互作用的过程。
下面将对这些基础进行详细的介绍。
一、射线的产生射线检测中常用的X射线是通过X射线管产生的。
X射线管由阴极和阳极组成,当阴极上加上一定电压时,会产生一束高速电子,电子在电场作用下加速,并与阳极碰撞。
在碰撞过程中,电子会失去一部分能量,产生X射线。
这些X射线具有较高的能量,可以穿透物质并与物质相互作用。
γ射线则是由放射性核素产生的。
放射性核素的原子核不稳定,会发生衰变,释放出γ射线。
γ射线具有较高的能量和穿透能力,可以用于射线检测。
二、射线的传播射线在物质中的传播是直线传播,具有一定的传播速度。
射线传播的速度取决于射线的能量和介质的密度。
在同一介质中,射线的传播速度是恒定的。
而在不同介质中,射线的传播速度会发生改变,这就是射线折射现象。
三、射线与物质的相互作用射线与物质相互作用的过程是射线检测中最重要的过程。
射线与物质的相互作用包括散射、吸收和衰减三个主要过程。
散射是指射线与物质中的原子或分子碰撞后改变方向的过程。
散射分为弹性散射和非弹性散射。
弹性散射是指射线与原子或分子碰撞后只改变方向而不改变能量的过程,非弹性散射则是指射线与原子或分子碰撞后既改变方向又改变能量的过程。
散射的发生会改变射线的传播方向,从而影响射线检测的结果。
吸收是指射线在物质中传播过程中被物质吸收的过程。
物质对射线的吸收能力取决于射线的能量和物质的性质。
不同物质对射线的吸收能力有所差异,因此可以通过测量射线的吸收量来判断物质的组成。
衰减是指射线在物质中传播过程中能量逐渐减小的过程。
射线的衰减程度取决于射线的能量和物质的厚度。
较厚的物质会对射线的衰减产生更显著的影响。
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第一章射线检测的物理基础一、原子与原子结构1、元素与原子原子指在化学反应中不可分割的最小微粒。
原子由核外电子和原子核组成。
原子核由中子和质子组成。
电子的质量极轻,为9.109×10-28克。
电子带1个单位负电荷(1个单位负电荷=1.602×10-19库仑)。
质子的质量为1.6726×10-24克,中子的质量为1.6749×10-24克,两者质量几乎相等。
中子不带电,质子带1个单位正电荷。
1个原子中,核外电子数=核内质子数原子量=质子数+中子数原子序数=1个原子的质子数元素是具有相同核电荷数(质子数)的同一类原子的总称。
同一元素中的原子具有相同的核电荷数,即核内质子数相同、中子数不同的几种原子互称同为数。
如1H(氢)、21H(氘)、31H(氚)。
12、核外电子运动规律核外电子围绕原子核运动。
电子的运动轨迹各不相同,不同的轨迹具有不同的能量,称为能级。
电子轨迹呈云状分布,称作电子云。
根据电子轨道和电子云的参数,用于确定原子的电子层数和轨道能级,分别用K、L|、M、N·····表示。
当核外电子受激发时,会从低能级轨道跃迁到高能级轨道,高能级轨道的电子不稳定,会从高能级轨道跃迁回低能级轨道。
当电子高能级轨道跃迁回低能级轨道时,多余的能量会会以光能的形式释放,即ν=−'''h E E式中h------普朗克常数,6.626196×10-34J·s,ν------光子的频率。
3、原子核结构原子核由质子和中子构成,原子核的稳定与质子数、中子数分布有关系。
对于较轻的原子核,当质子数等于中子数时,原子核稳定。
对于重核,中子数必须大于质子数才能稳定。
偶数质子和偶数中子的同位素(偶偶核)最稳定,偶奇核和奇偶核都不及偶偶核稳定,最不稳定为奇奇核。
当质子数过多时,过多的质子放射正电子而转变为中子;中子数过多时,过多的中子将放射电子转变为质子。
原子核内部粒子的结合能分为体积能、表面能、对称能、库仑能和奇偶能。
二、原子核的衰变具有不稳定原子核结构的同位素自发地放出射线而转变为其他元素,这些同位素称为放射同位素。
放射同位素放出的射线是由原子核放出的,实际上是核的转变,因此称为原子核的衰变。
有的放射性同位素放出α射线(α衰变),有的放出β射线(β衰变),有的放出α射线或β射线的同时还放出γ射线。
这三种射线的基本性质简述如下:α射线是(42He )原子核,它有很强的电离作用,但贯穿本领很小,在磁场中要发生偏转。
β射线是电子,它的电离作用较小,但有较大的贯穿本领。
在磁场中也要发生偏转,但偏转方向与α粒子的相反。
γ射线是光子,电离作用小,但贯穿本领大,在磁场中不发生偏转。
1. 放射性衰变规律不管是人工的还是自然的放射性同位素,其衰变都遵从指数规律,即0t N e N λ−=式中N 为时刻t 尚未部分的原子核个数,0N 为当t=0时的未部分的原子核个数,λ为衰变常数,每一种放射同位素各有它自己的λ值。
半衰期T :是指放射同位素原子核数量衰变到一半所需要的时间,即T 001N N 21ln 2ln 20.693e T T λλλλ−==−== 2. 放射性强度一个放射源在单位时间内发生的衰变次数dN dt ,称为该放射源的强度I ,即00=t t dN I N e N dtI e I λλλλ−−=== 可见,放射源的强度按指数规律随时间减弱。
放射性强度通常用“居里”作单位,“居里”的定义是:每秒能产生3.7×1010次核衰变得放射源,其放射强度即为1居里。
二、射线检测用射线种类和性质1.X 射线X 射线是由阴极射线管产生的,当电子管的电子在大于100000伏的管电压加速下撞击阳极,阳极就会释放出X 射线。
a. 连续射线连续X 射线由于高速电子受原子核库伦场作用而产生的光子(电磁波),也称韧致辐射。
当某个电子动能全部转换为光子时,发射的光子频率由212CmV eU h h νλ=== 式中计算出的光子频率及为某一管电压下,电子管(X 射线管)发射的最高频率的X射线频率,即X 射线管发射的X 射线最高频率与管电压有关,与阳极靶材料无关。
b. 标识谱当X射线管的管电压超过某个临界值Uk时,阴极发射的电子可以获得足够的能量,它与阳极碰撞时,可以把原子能级低的内层电子逐出到能级高的轨道上,电子在高能级轨道不稳定,又跃回低能级轨道,发射特定的频率的光子,光子的频率为ν=−'''h E E可见标识谱是线状谱,不是连续谱。
标识辐射(也叫特征辐射)的光子频率与X射线管阳极靶的材料有关,与管电压无关。
c.X射线连续谱的曲线和总强度X射线波长与管电流曲线:X射线波长与管电压曲线:连续X射线总强度T I 与管电流i(mA ),管电压U(KV)、靶材料原子序数Z有以下关系:2i T iZU I K =式中,i K 为比例常数,i K ≈1.1~1.4×10-6X 射线的产生效率η等于连续X 射线的总强度与T I 与管电压U 和管电流i 的乘积之比,即2T i i iZU I K ZU K Ui Ui η=== 2.γ射线γ射线是放射同位素在α衰变或β衰变过程中,原子核发射的一种光子,光子频率是线状的,它的频率大小与数量取决于原子核内能级的结构,与放射同位素种类有关。
工业探伤常用放射性同位素衰变公式;(1) Co60(钴)5960272760602728(1.172,1.33)Co n Co Co Ni MeV MeV γβγ+→+→++半衰期5.3年(2) Cs137(铯)13713755583(1.18,0.523,0.661)Cs Ba MeV MeV MeV βγ→++半衰期33年(3) Ir192(铱)191192777719219277761921927778Q ()()()(0.206,0.484,0.201,0.283)(0.670,0.840,0.240,0.5950.880,0.589,0.283,0.604,0.308,0.1360.415Ir n Ir Ir s e K MeV MeV MeV MeV Ir Pt MeV MeV MeV MeVMeV MeV MeV MeV MeV MeVM γγβγ+→+→+++→++锇俘获,0.468,0.172,0.612,0.295,0.316)eV MeV MeV MeV MeV MeV 半衰期74天(4) Tm(铥)16917069691701706970()(0.968,0.886,0.084)Tm n Tm Tm Yb MeV MeV MeV γβγ+→+→++镱半衰期129天(5) Se757475343475753433()(e)(K )(0.066,0.097,0.121,0.136,0.199,0.265,0.280,0.304,0.401)Se n Se Se As MeV MeV MeV MeV MeV MeV MeV MeV MeV γγ+→+→+++砷俘获半衰期120.4天3.中子射线中子射线是通过核反应堆或高能加速器获得,工业上不常用。
4.工业射线检测用射线性质虽然X射线、γ射线产生的机制不同, 能量也可以不同, 但它们的量子都是光量子(光子) ,都是电磁辐射。
而α粒子、β电子、中子和质子等都是粒子辐射。
由于α粒子、β电子、质子都带有电荷,容易使物质发生电离,穿透能力特别弱,不能用来进行工业探伤。
中子射线不带电,穿透能力,可用于固体导弹、火箭的检测,但由于设备庞大、防护条件要求高,不能用于民用工业探伤。
X射线、γ射线是超高频电磁波,有较好的穿透能力,防护也方便,是工业探伤常用的射线。
X射线、γ射线是电磁波,探伤符合波的基本物理规律,具有波粒二象性。
三、射线与物质的相互作用 射线照射物质时,会与物质发生光电效应、康普顿效应、电子对效应、瑞利散射四种现象。
1. 光电效应当低能量射线照射物质时,光子的全部能量转移给原子核外电子,使电子脱离原子核约束,变成自由电子(也称光电子),光子消失。
这种现象称为光电效应。
光电子能量 e E 与入射光子能量h ν以及电子所在轨道色逸出能i E 有如下关系:e i E h E ν=−光电效应发生的概率与射线能量和原子序数有关,它随着射线(光子)能量增大而减小,随着原子序数Z的增大而增大。
2.康普顿效应当中等能量射线照射物质时,光子与原子外层电子发生非弹性碰撞,光子的一部分能量转移电子,使电子成为反冲电子,而光子能量和传播方向发生改变。
这种现象称为康普顿效应。
康普顿效应总是发生在自由电子或束缚力最小的原子的最外层电子上。
康普顿效应发生概率大致与物质原子序数成正比,与光子能量成反比。
3. 电子对效应当光子从原子核旁经过时,在原子核库伦场的作用下,光子转化为1个正电子和1个负电子,这种现象称为电子对效。
h e e ν−+=+根据质量守恒定律,入射光子必须大于2个电子的静止能量202m c ,即大于1.02MeV时,才能发生电子对效应。
4. 瑞利散射当射线照射物质时,光子能量刚好等于原子内层电子轨道能级差,低能级轨道电子获得光子能量后跃迁到高能级,电子在高能级轨道上不稳定又反跳回原来低能级轨道,同时释放1个光子,释放的光子能量与入射光子能量相同,但传播方向已发生改变。
这种现象称为瑞利散射。
5.各种相互作用发生的概率及在射线检测上的应用a.对于低能量射线和原子序数高的物质,光电效应占优势。
b.对于中等能量射线和原子序数低的物质,康普顿效应占优势。
c.对于高能量射线和原子序数高的物质,电子对效应占优势。
在射线检测工作中,光电效应和电子对效应引起的射线吸收有利于提高照相对比度,而康普顿效应产生的散射线会降低照相对比度。
四、射线照相的衰减规律及照相原理射线在照射物质时会发生光电效应、康普顿效应、电子对效应、瑞利散射,穿透的射线强度会减弱,射线强度的衰减规律符合指数规律。
1.窄束、单色射线的强度衰减规律窄束射线:指传播方向均平行或接近平行的射线束。
单色射线:指由单一频率电磁波组成的射线,或者说,由相同能量光子组成的辐射流。
窄束、单色射线:由单一频率电磁波组成的平行射线束。
强度为I窄束、单色射线穿透一定厚度T的物质后,穿透的平行射线强度I为0TI I eμ−=式中μ为线衰减系数,与射线能量、物质的原子系数、物质的密度有关。
在实际应用中,常使用半价层表示某种能量射线穿透某种物质的能力,即1200121ln 122ln 20.69312T e I I T T μμμμ−==−== 2. 宽束、多色射线的强度衰减规律实际工作中应用的射线不可能是理想的窄束、单色射线,而是发散、包含几个或无数个频率的射线,射线的衰减规律比较复杂。