金属电子逸出功的测定_大学物理实验

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实验311 金属电子逸出功的测定

实验311 金属电子逸出功的测定

但其电流不计入阳极电流中,这样使其成为
理想二极管。
图2 理想二极管的结构
大学物理实验
实验原理:
1.电子的逸出功及热电子发射
(1)逸出功:电子逸出金属表面至少需要从外界得到的能
量为 E0Eb ,EF称为e金属E电0 子的逸出功,
也称功函数
e是电子电荷, 称为逸出电位,EF 称为费密能级, Eb 势阱的深度。
If值时为何要预热几分钟才测量?
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作业:
完成本次实验的数据处理,预习下一次实验内容。
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3.从加速场外延求零场电流
肖脱基效应:外加电场Ea使逸出功减小,发射电流 增大的现象
Ia I0e x p (0 .4 3 9E a/T )
(3 )
式中Ia和I0分别是加速电场为Ea和零时的发射电流
对(3)式取对数得
0 .4 3 9 lgIa lgI02 .3 0E a/T
(4 )
0.550A 。 4.调节理想二极管的阳极电压,使阳极电压分别为
25.0V、36.0V、49.0V、64.0V……144.0V电压,分
别测出对应的阳极电流Ia,记录相应的数据.
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5.二极管的灯丝电流,每次增加0.050A,重复上述测 量,直至0.800A。每改变一次灯丝电流都要预热5 分钟 。
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将电场E用电压V来代替得:
lgIalgI002.4 .3309
1 r1lnrr1 2
Va/T
(5)
当阴极的温度T一定时,lgIa和 V a 成线性关系
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如果以lgIa为纵坐标,以
Va
V a为横坐标作图,如图
T5
5所示,此直线的延长 lgI0

实验5金属逸出功

实验5金属逸出功

实验5.4 金属电子逸出功的测量【实验目的】(1) 了解热电子发射的基本原理(2) 学习用里查逊直线法测量钨的逸出功[1] (3) 学习外延测量法和补偿测量法等基本实验方法 (4) 进一步学习实验处理的方法【实验仪器】WF —3型逸出功测定仪,包括:主机、理想二极管及座驾、WF —3型组合数字电表【仪器介绍】1. 理想(标准)二极管2. WF —3型金属电子逸出功测定仪【实验原理】(1)热电子发射公式实验中,给金属通电加热,提高其温度,使电子的动能增加,从而使电子金属中逸出,形成热电子发射。

热电子发射公式I=AST 2exp (-e∅K T)A--------------与阴极材料表面化学纯度有关的系数 T--------------阴极的绝对温度I---------------热电子发射的电流K--------------玻尔兹曼常数, S--------------阴极的有效发射面积原则上只要测出I 、A 、S 、T ,即可计算出阴极材料的逸出功。

但由于A ,S 这两个量难以直接测定以及肖特基效应[2],还不能求出逸出功。

在实际测量中,常用以下测量和数据处理的方法: (3)用里查逊直线法测逸出功 将热电子发射公式两边除以T 2,再取对数得2311.3810J k k --=⨯⋅lg IT 2=lg (AS )-5.039X 103∅T可见,lg IT 2与1T 成线性关系。

由直线的斜率可得出金属的逸出电位。

这种方法称为里查逊直线法。

(5) 零场电流的测量加速电场为零时阴极的发射电流称为零场电流I 。

为了使阴极发射的热电子连续不断地飞向阳极,必须在阴极与阳极之间加一个加速电场,但加速电场的存在导致阴极表面的势垒[3]E b 降低,逸出功减少,助长阴极的电子发射。

可以证明,阴极热电子发射电流与加速电场的关系为I a =Iexp (0.439 E aT)式中E a ----------阴极表面加速电场的电场强度 I a -----------阴极加速场强为E a 时的阴极发射电流 I ------------零场电流(6) 灯丝温度的测定理想二极管的灯丝(纯钨丝)电流已经标定,只要准确测定灯丝电流,查表就能得到阴极温度。

金属电子逸出功的测定实验报告

金属电子逸出功的测定实验报告

金属电子逸出功的测定实验报告金属电子逸出功的测定实验报告引言:金属电子逸出功是指金属表面的电子脱离金属表面所需的最小能量。

测定金属电子逸出功对于理解金属的电子结构以及应用于光电子学等领域具有重要意义。

本实验旨在通过测定金属电子逸出功的实验方法,探究金属电子的逸出行为,并分析其与金属表面性质的关系。

实验材料与仪器:本实验使用的材料为常见的金属样品,如铜、铝等。

实验所需仪器包括电子能谱仪、真空系统、光源等。

实验步骤:1. 准备金属样品:选择适当的金属样品,并将其表面清洗干净,以确保实验结果的准确性。

2. 搭建实验装置:将金属样品放置于真空系统中,确保系统处于良好的真空状态。

调整光源的位置和强度,以保证实验的可靠性。

3. 测定电子能谱:通过电子能谱仪测定金属样品的电子能谱曲线。

在实验过程中,可以调整光源的波长和强度,以获得不同能量下的电子能谱数据。

4. 分析数据:根据电子能谱曲线,确定金属电子的逸出功。

通过计算能量差值,可以得到电子逸出所需的最小能量。

结果与讨论:根据实验数据,我们可以得到不同金属样品的电子逸出功数值。

通过对比不同金属的逸出功,我们可以发现金属的电子逸出功与其物理性质之间存在一定的关系。

首先,金属的电子逸出功与其导电性能有关。

一般来说,导电性能较好的金属具有较低的电子逸出功,因为其电子更容易脱离金属表面。

相反,导电性能较差的金属则具有较高的电子逸出功,因为其电子与金属原子之间的束缚力较强。

其次,金属的电子逸出功与其晶格结构有关。

晶格结构较紧密的金属通常具有较高的电子逸出功,因为其表面原子对电子的束缚力较大。

相反,晶格结构较疏松的金属则具有较低的电子逸出功,因为其表面原子对电子的束缚力较小。

此外,金属的电子逸出功还与其表面的化学性质有关。

金属表面的氧化物、硫化物等化学物质会影响金属电子的逸出行为。

一般来说,金属表面存在氧化物等化学物质时,电子逸出功会增加,因为这些化学物质会增加电子与金属原子之间的相互作用力。

金属电子逸出功的测量分析-中山大学物理学院2016

金属电子逸出功的测量分析-中山大学物理学院2016
Ia mA 0.12
0.10
0.08
I a =0.319-0.751 I S
0.06
0.04
0.02 0.15
I C 0.2878 A
0.20 0.25 0.30 0.35 0.40 0.45 IS A
图 8、2.0V 阳极电压下的临界电流 I c 6/8
物理学院
Ia mA 0.14 0.12 0.10 0.08 0.06 0.04 0.02
1、 逸出功的测量
实验测得阳极电压 U a 、阳极电流 I a 以及相应的灯丝电流 I f 的数据如下表 1:
表 1、
U a (V)
I a (mA)
25 0.032 0.060 0.107 0.189 0.323 0.536 0.873 1.378
36 0.033 0.062 0.110 0.193 0.330 0.546 0.890 1.407
物理学院
近代物理实验 I
金属电子逸出功的测量分析
13 级材料物理 合作人: 实验时间:2016.11.29、2016.12.6
一、 实验目的
1、 了解费米-狄拉克量子统计规律; 2、 理解热电子发射规律和掌握逸出功的测量方法; 3、 用里查逊直线法分析阴极材料(钨)的电子逸出功。
二、 实验原理
若真空二极管的阴极(用被测金属钨丝做成)通以电流加热,并 在阳极上加以正电压时,在连接这两个电极的外电路中将有电流通 过,如图 1 所示。这种电子从热金属发射的现象,称热电子发射。 1、 热电子发射公式 1911 年里查孙提出了之后又经受住了 20 年代量子力学考验的热 电子发射公式(里查孙定律)为
100 0.036 0.066 0.118 0.207 0.352 0.584 0.948 1.505

金属电子逸出功的测定

金属电子逸出功的测定

实验二十九金属电子逸出功的测定实验目的1.了解热电子发射的概念2.了解电子逸出功的概念3.掌握里查孙直线法测定金属电子逸出功的方法4.学习直线测量法、外延测量法和补偿法等基本实验方法实验前应回答的问题1.什么是里查逊直线法,怎样应用它测得溢出功ϕe,优点是什么?2.实验中直接测量的量是哪几个,怎么测定?3.什么是肖脱基效应,实验中怎样消除肖脱基效应的影响?4.比较热电子发射和光电子发射的异同点,是否可用光电效应法测定金属电子的溢出功?实验过程中重点学习内容1.电子逸出功的概念2.里查孙直线法原理3.直线测量法、外延测量法和补偿法数据处理4.阴极灯丝温度的测定实验要求关于里查孙直线法测定电子逸出功的原理必须清楚,该实验数据处理是难点和重点,主要用到了直线测量法、外延测量法和补偿法等基本实验方法,学生了解仪器原理的基础上,自己调试和使用仪器,掌握实验数据处理的方法,注意作图法处理数据的注意事项和重点内容。

实验主要仪器1.金属电子逸出功的测定仪2.理想二极管结构实验报告要求1.实验报告内容包括:实验目的、实验原理、实验器材、实验步骤、实验数据及处理、总结及误差分析、思考题目。

2.数据处理过程特别注意有效数字问题和不确定度对有效数字的要求。

3.要特别注意分析误差产生的原因。

4.数据处理过程要注意作图法的基本注意事项。

拓宽视野,加深实验了解1.介绍金属电子逸出功的测定的计算机软件,软件可以实时采集实验数据、进行实验数据处理和数据分析、自动计算出金属电子逸出功,界面如下所示。

金属电子逸出功的测定的计算机软件金属电子逸出功的测定的计算机处理实验数据2.肖特基二极管(Schottky Barrier Diode)它是具有肖特基特性的“金属半导体结”的二极管。

其正向起始电压较低。

其金属层除材料外,还可以采用金、钼、镍、钛等材料。

其半导体材料采用硅或砷化镓,多为N 型半导体。

这种器件是由多数载流子导电的,所以,其反向饱和电流较以少数载流子导电的PN结大得多。

增补实验:金属电子逸出功的测定

增补实验:金属电子逸出功的测定

增补实验:金属电子逸出功的测定【实验目的】1. 了解热电子发射的基本规律,验证肖特基效应;2. 学习用理查森直线法处理数据,测量电子逸出电位。

【实验原理】电子的逸出电位正是热电子发射的一个基本物理参数。

根据量子理论,原子内电子的能级是量子化的。

在金属内部运动着的自由电子遵循类似的规律:1•金属中自由电子的能量是量子化的;2•电子具有全同性,即各电子是不可区分的;3•能级的填充要符合泡利不相容原理。

根据现代的量子论观点,金属中电子的能量分布服从费米-狄拉克分布。

在绝对零度时,电子数按能量的分布曲线如图1中的曲线(1)所示,此时电子所具有的最大动能为W i,W i所处能级又称为费米能级。

当温度升高时,电子能量分布曲线如图1中的曲线(2)所示,其中少数电子能量上升到比W i高,并且电子数随能量以接近指数的规律减少。

图1电子能级分布曲线图2势能壁垒图由于金属表面存在一个厚约1O-10米左右的电子-正电荷电偶层,阻碍电子从金属表面逸出。

也就是说金属表面与外界之间有势能壁垒W a,如图2,因此电子要从金属中逸出,必须具有至少大于W a的动能,即必须克服电偶层的阻力作功,这个功就叫电子逸出功,以W o表示,显然W o = W a - W i = e o 0。

W o的常用单位为电子伏特(eV),它表征要使处于绝对零度下的金属中具有最大能量的电子逸出金属表面所需要的给予的能量。

0称为逸出电位,其数值等于以电子伏特表示的电子逸出功,单位为伏特( V )。

有上述可知:热电子发射是用提高阴极温度的办法以改变电子的能量分布,使动能大于W i的电子增多,从而使动能大于W a的电子数达到一可观测的大小。

可见,逸出功的大小对热电子的发射强弱有决定性的作用。

根据以上理论,可以推导出热电子发射的理查森-杜旭曼(S.Dushman)公式I e = A S T2 e ■ ( e M/ kT )(1)式中:I e为热电子发射的电流强度,单位为安培;S为阴极金属的有效发射面积,单位为cm2; T为热阴极绝对温度,单位为K; e o $为阴极金属的逸出功,单位为电子伏特;k为波尔兹曼常数k = 1.38*10-23( J*K ); A为与阴极化学纯度相关的系数。

金属电子逸出功的测定大学物理实验

金属电子逸出功的测定大学物理实验

实验结果分析
对比分析
将实验结果与理论值进行对比,分析差异产 生的原因,以检验实验的准确性和可靠性。
规律总结
根据实验结果,总结金属电子逸出功与相关 因素之间的规律,加深对实验原理和物理现 象的理解。
误差分析
误差来源
分析实验过程中可能产生的误差来源,如测 量误差、仪器误差等。
误差传递
根据误差传播理论,计算误差对实验结果的 影响,以提高实验的精度和准确性。
记录加热过程中金属薄膜表面形貌的变化情况,包 括颜色、光泽、熔融等。
02
测量金属薄膜的厚度,计算金属电子逸出功。
03
分析实验数据,得出结论,并与理论值进行比较。
04
结果分析
数据处理与图表绘制
数据处理
将实验测得的数据进行整理、筛选和计 算,确保数据的准确性和可靠性。
VS
图表绘制
根据处理后的数据绘制图表,如柱状图、 曲线图等,以直观地展示实验结果。
感谢您的观看
THANKS
步骤4
观察电子显微镜中的金属薄膜 表面形貌,记录加热过程中的 变化。
步骤1
将金属样品放入真空镀膜机中, 制备一定厚度的金属薄膜。
步骤3
连接恒流电源和恒压电源,调 整电流和电压值,使金属薄膜 加热至一定温度。
步骤5
调整恒流电源和恒压电源的参 数,重复步骤3和步骤4,获取 多组数据。
数据记录与处理
01
金属电子逸出功的性质
与金属种类有关,不同金属的逸出功 不同。
电子逸出功的测量原理
测量原理
通过测量电子在金属表面逸出时的电位差,结合电子的动能和能量守恒定律,计算出金 属的电子逸出功。
电位差测量
通过测量施加在金属样品上的正负电压,得到金属表面的电位差。

电子逸出功的测定实验报告

电子逸出功的测定实验报告

电子逸出功的测定实验报告
《电子逸出功的测定实验报告》
实验目的:通过测定金属表面的逸出功,探究电子逸出的规律并验证光电效应
理论。

实验仪器:光电效应实验装置、光电管、数字示波器、光源、金属样品
实验原理:光电效应是指金属表面受到光照射后,电子从金属表面逸出的现象。

逸出功是指光照射金属表面,使得电子逸出所需的最小能量。

根据光电效应理论,逸出功与光的频率成正比,与光的强度无关。

实验步骤:
1. 将金属样品放置在光电管的阳极上,并连接光电管和数字示波器。

2. 调节光源的频率和强度,使得光照射到金属样品上。

3. 观察数字示波器上的波形变化,记录光照射金属样品后的电压值。

4. 根据实验数据,计算出金属样品的逸出功。

实验结果:通过实验测定,得到金属样品的逸出功为X电子伏特。

实验结论:实验结果验证了光电效应理论,即逸出功与光的频率成正比。

通过
测定金属样品的逸出功,可以进一步了解光电效应的规律,并为相关理论研究
提供实验数据支持。

总结:本实验通过测定金属样品的逸出功,验证了光电效应理论,并为进一步
研究光电效应提供了实验数据支持。

同时,实验结果也可以应用于光电器件的
设计和制造中,具有一定的实际意义。

通过本次实验,我们对电子逸出功的测定有了更深入的理解,同时也对光电效
应的原理有了更加清晰的认识。

希望通过不断的实验和研究,我们能够更好地
探索光电效应的规律,为相关领域的发展做出更大的贡献。

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为什么变换里查逊 公式
金属电子逸出功的定义
在绝对零 度时电子逸出 金属所需的最 小能量叫做电 子逸出功。
光电效应实验
爱因斯坦 光电效应方程
里查逊—杜西曼公式
实验原理图
G
A K
Ua
If
Uf
里查逊—杜西曼公式
1 T
I 1 lg 2 lg AS 5040 T T
lg
I T2
lg
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k 5040
lg I a lg I
4.39 2.303T
1 r r1 ln 2 r1
Ua
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I 1 lg AS 5040 T2 T
Ua
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0
1 T
T5 T4
A K
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T3 T2
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Uf
I lg 2 T
k 5040
lg I a
T1
THE END
金属电子逸出功的测定
张 杨 讲师
理学院物理实验教学中心

实验思路
为什么通常情况下电子 不能逸出,我们采用了 什么方法使电子逸出 为什么只要测得电 压Ua 和电流Ia 即可 完成实验
什么是电子逸出功 w0
怎样理解肖脱基 效应
为什么w0 = eψ 怎样求解热电子 发射电流I 怎样求解ψ
怎样理解里查逊 公式
k 5040
实验原理图
G
Ia
A K
Ua
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Uf
肖脱基效应
4.39 lg I a lg I 2.303T 1 r2 r1 ln r1 Ua
G
Ia
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0
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T5 THale Waihona Puke T3A KT2 T1
If
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里查逊—杜西曼公式
1 T
I 1 lg 2 lg AS 5040 T T
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