PPK计算公式
spc中cpCPKPPK评级标准
spc中cp\cpk\ppk等等级标准作者: sea_kang(站内联系TA)收录: 2009-07-17 发布: 2009-07-17Cp、Cpk、Pp、Ppk过程能力计算及评价方法：1．稳定过程的能力指数Cp、Cpk计算及评价方法：（1）计算公式：K=2︱M-μ︱/T注：T=规格上限USL-规格下限LSL，规范中心M= （USL+LSL）/2，μ为过程输出中心。
（A. Cp = T / 6σ（当产品和/或过程特性为双边规格时）或Cpu（上稳定过程的能力指数）=（USL-μ）/3σ（当产品和/或过程特性为单边规时）Cpl（上稳定过程的能力指数）=（μ-LSL）/3σ（当产品和/或过程特性为单边规时）注：σ=R / d2 （ R 为全距之平均值，d2为系数，与抽样的样本大小n有关，当n = 4时，d2 = 2.059；当n = 5时，d2 = 2.3267）B. Cpk=min{ USL-μ, μ-LSL}/3σ=(1-K)*Cp当产品特性为单边规格时，Cpk值即以Cpu值或Cpl值计算，但需取绝对值；Cpk 值取Cpu值和Cpl值中的最小值。
(2) 等级评价及处理方法：等级 Cp值判断处理方法等级说明特级CP≥1.67过程能力过剩为提高质量，对关键项目再次缩小公差范围：为提高效率降低成本放宽波动幅度，减低设备等级。
Cp值当T与3σ的比越大，Cp值也越大，也就是说过程越稳定。
1级 1.67＞CP≥1.33过程能力充分不是关键项目时可：1.放宽波动幅度。
2.降低对材料的要求。
3.减少检验的频次。
2级 1.33＞CP≥1过程能力尚可必须用控制图或其他方法进行控制和监督：对产品按常规进行检验。
3级 1＞CP≥0.67过程能力不足分析散步大的原因，全数检查或增加检验频次。
4级 0.67＞ CP 过程能力严重不足停止继续加工，找出原因。
否则全数检查挑选出不合格品。
Cpk等级评价等级 Cpk值改进措施处理方法等级说明A Cpk≥1.67继续保持制程非常稳定，继续保持，当Cpk大于2倍时，可以考虑缩小规格。
ppk,cpk,mk三者的区别及计算、首先我们先说明Pp、Cp两者的定义及公式
ppk,cpk,mk三者的区别及计算、首先我们先说明Pp、Cp两者的定义及公式Cp（Capability Indies of Process）：稳定过程的能力指数，定义为容差宽度除以过程能力，不考虑过程有无偏移，一般表达式为：Pp（Performance Indies of Process）：过程性能指数，定义为不考虑过程有无偏移时，容差范围除以过程性能，一般表达式为：（该指数仅用来与Cp及Cpk对比，或/和Cp、Cpk一起去度量和确认一段时间内改进的优先次序）CPU：稳定过程的上限能力指数，定义为容差范围上限除以实际过程分布宽度上限，一般表达式为：CPL：稳定过程的下限能力指数，定义为容差范围下限除以实际过程分布宽度下限，一般表达式为：2、现在我们来阐述Cpk、Ppk的含义Cpk：这是考虑到过程中心的能力（修正）指数，定义为CPU与CPL的最小值。
它等于过程均值与最近的规范界限之间的差除以过程总分布宽度的一半。
即：Ppk：这是考虑到过程中心的性能（修正）指数，定义为：或的最小值。
即：其实，公式中的K是定义分布中心μ与公差中心M的偏离度，μ与M的偏离为ε=| M-μ|3、公式中标准差的不同含义①在Cp、Cpk中，计算的是稳定过程的能力，稳定过程中过程变差仅由普通原因引起，公式中的标准差可以通过控制图中的样本平均极差估计得出。
因此，Cp、Cpk一般与控制图一起使用，首先利用控制图判断过程是否受控，如果过程不受控，要采取措施改善过程，使过程处于受控状态。
确保过程受控后，再计算Cp、Cpk。
②由于普通和特殊两种原因所造成的变差，可以用样本标准差S来估计，过程性能指数的计算使用该标准差。
4、几个指数的比较与说明① 无偏离的Cp表示过程加工的均匀性（稳定性），即“质量能力”，Cp越大，这质量特性的分布越“苗条”，质量能力越强；而有偏离的Cpk表示过程中心μ与公差中心M的偏离情况，Cpk越大，二者的偏离越小，也即过程中心对公差中心越“瞄准”。
CPK与PPK计算入门
CPK与PPK计算入门一、CPK1、定义CPK，过程能力指数（Process capability index），是指过程在一定时间内，处于控制状态（稳定状态）下，固有的满足产品质量标准要求（规格范围等）的能力。
CPK表示过程的潜在固有能力，主要用于周期性的过程评价，大批量生产后的生产能力的评价。
2、计算公式CPK=Min（CPU,CPL）CPU=（USL-X bar）/3σCPL=（X bar-LSL）/3σσ=R bar/d2式中，USL为规格上限；LSL为规格下限；R bar为各个子组极差的平均值；d2为修正值，可查表（附后）。
（1）当公差双侧对称时，CPK=CP*(1-|Ca|)CP=（USL-LSL）/（6σ）Ca=（X bar-U）/（（USL-LSL）/2）式中，U为规格中心值。
（2）当公差双侧不对称时，则分别计算CPU和CPL，取最小值。
（3）当公差为单侧时，有上限公差则只计算CPU，有下限公差则只计算CPL。
3、数值选取Cpk计算之前，一定要检查过程是否稳定，要求受控。
一般要求至少有100个数据，25个均值。
也就是说，采值是进行分组，涉及到子组，子组容量，采值频次等，它针对的是一个长期的过程。
4、指数意义CPK，是进入大批量生产后，为保证批量生产下的产品的品质状况不至于下降，且为保证与小批生产具有同样的控制能力，所进行的生产能力的评价。
·Cpk≥2.0 特优，可考虑成本的降低；·2.0 > Cpk ≥ 1.67 优，应当保持之；·1.67 > Cpk ≥ 1.33 良，能力良好，状态稳定，但应尽力提升；·1.33 > Cpk ≥ 1.0 一般，状态一般，制程因素稍有变异即有产生不良的危险，应利用各种资源及方法将其提升；·1.0 > Cpk ≥ 0.67 差，制程不良较多，必须提升其能力；·0.67 > Cpk 不可接受，其能力太差，应考虑重新整改设计制程。
CPK、PPK计算
製程特性依不同的工程規格其定義如下：。
等級處理原則無規格界限時Cp(Pp)＝＊＊＊Cpk(Ppk)＝＊＊＊Ca ＝＊＊＊單邊上限(USL) Cp(Pp)＝CPUCpk(Ppk)＝CPUCa ＝＊＊＊單邊下限(LSL) Cp(Pp)＝CPLCpk(Ppk)＝CPLCa ＝＊＊＊雙邊規格(USL, LSL) Cp(Pp)＝(USL－LSL)／6σCpk(Ppk)＝MIN(CPU,CPL)Ca ＝|平均值－規格中心|／(公差／2)谈到过程能力，首先得解释变异（或者叫波动），正是因为有了变异的存在，才出现了能力大小。
产生变异的原因可以归结为两种，一种是普通原因，一种是特殊的原因。
所谓的普通原因就是平时一直客观存在，对过程有一定的影响但不明显，而特殊因素则是偶然出现，对过程影响很大。
举例说明：在一个有空调的房间进行培训时，虽然空调可能是设定在25度，但由于房间内外温度存在差异，所以每时每刻都会有能量在和房间外进行交换，所以如果用足够精确的温度计测量房间的温度就会发现房间里的温度其实并不是恒定在25.000度，而是24.99,24.98,25.00,25.01…..在微小的在一定范围内进行变化，这时我们就说受到的是普通因素的影响，而如果有人推门进来，那么在这瞬间，房间内的温度会出现较大变化，此时我们说受到了普通因素和特殊因素两种影响。
过程只受普通因素影响的时候在控制图上表现为过程是受控的，如果有特殊原因的影响在控制图上会有异常点的出现。
所以我们如果用Cp和Cpk来衡量过程能力，前提是要过程稳定且数据是正态分布，而且数据应该在25组以上（建议最少不要低于20组，数据组越少采信结果的风险越大），也就是说计算Cp,Cpk只考虑过程受普通因素的影响。
计算公式为：Cp=(usl-lsl)/6σ;1、Cpk=(1-k)Cp;k=|u-M|/(usl-lsl)/2;2、Cpk=min{(usl-u)/3σ ,(u-lsl)/3σ };注释：usl为上规格线，lsl 为下规格线，u为实际测得的平均值，M为上下规格的中心点，K值表示的意思是实际平均值偏离中心值的程度，此时的即为只考虑普通因素产生的变异，通常根据控制图的不同采用Rbar/d2,或者Sbar/C4,在minitab里有三种不同的估算方法。
Ppk、Cpk,还有Cmk三者的区别及计算
Ppk、Cpk，还有Cmk三者的区别及计算1、首先我们先说明Pp、Cp两者的定义及公式Cp（Capability Indies of Process）：稳定过程的能力指数，定义为容差宽度除以过程能力，不考虑过程有无偏移，一般表达式为：Pp（Performance Indies of Process）：过程性能指数，定义为不考虑过程有无偏移时，容差范围除以过程性能，一般表达式为：（该指数仅用来与Cp及Cpk对比，或/和Cp、Cpk一起去度量和确认一段时间内改进的优先次序）CPU：稳定过程的上限能力指数，定义为容差范围上限除以实际过程分布宽度上限，一般表达式为：CPL：稳定过程的下限能力指数，定义为容差范围下限除以实际过程分布宽度下限，一般表达式为：2、现在我们来阐述Cpk、Ppk的含义Cpk：这是考虑到过程中心的能力（修正）指数，定义为CPU与CPL的最小值。
它等于过程均值与最近的规范界限之间的差除以过程总分布宽度的一半。
即：Ppk：这是考虑到过程中心的性能（修正）指数，定义为：或的最小值。
即：其实，公式中的K是定义分布中心μ与公差中心M的偏离度，μ与M的偏离为ε=| M-μ| ，则：于是，3、公式中标准差的不同含义①在Cp、Cpk中，计算的是稳定过程的能力，稳定过程中过程变差仅由普通原因引起，公式中的标准差可以通过控制图中的样本平均极差估计得出：因此，Cp、Cpk一般与控制图一起使用，首先利用控制图判断过程是否受控，如果过程不受控，要采取措施改善过程，使过程处于受控状态。
确保过程受控后，再计算Cp、Cpk。
②由于普通和特殊两种原因所造成的变差，可以用样本标准差S来估计，过程性能指数的计算使用该标准差。
即：4、几个指数的比较与说明①无偏离的Cp表示过程加工的均匀性（稳定性），即“质量能力”，Cp越大，这质量特性的分布越“苗条”，质量能力越强；而有偏离的Cpk表示过程中心μ与公差中心M的偏离情况，Cpk越大，二者的偏离越小，也即过程中心对公差中心越“瞄准”。
Z值CPPPCPKPPKCRPR之间的关联公式
Z值CPPPCPKPPKCRPR之间的关联公式1.Z值与CP、PP的关系：Z值反映了过程性能与规格限制之间的差距，可以通过以下公式计算Z值：Z=(X-μ)/σ其中，X为过程的平均值，μ为目标值，σ为标准差。
CP和PP分别表示过程能力指数和过程性能指数，可以通过Z值转化得到：CP=(USL-LSL)/(6σ)PP=(USL-LSL)/(6σ)2.CP和PP与CPK、PPK的关系：CPK和PPK是过程能力指数和过程性能指数的修正版本，考虑了过程的中心位置。
CPK和PPK可以通过以下公式计算：CPK = min(CP, (X - LSL) / (3σ), (USL - X) / (3σ))PPK = min(PP, (USL - X) / (3σ), (X - LSL) / (3σ))其中，X为过程的中心位置。
3.CPK与CR的关系：CR表示能力比率，反映了过程的离散程度和规格宽度之间的关系。
CR可以通过以下公式计算：CR=CPK/CP当CR大于1时，表示过程的离散程度小于规格宽度，说明过程处于控制状态。
4.CP和PP与PR的关系：PR表示产品可靠性，反映了产品的合格率和规格限制之间的关系，可以通过以下公式计算：PR=(CP-Z)/CP当PR大于1时，表示产品的合格率大于规格限制，说明产品具有较高的可靠性。
综上所述，Z值用于衡量过程性能与规格限制之间的差距；CP和PP 表示过程的能力与性能；CPK和PPK考虑了过程的中心位置；CR表示过程的离散程度和规格宽度之间的关系；PR表示产品的合格率和规格限制之间的关系。
这些指标之间的关系可以通过上述公式互相转换和计算，以全面评估过程能力和产品质量。
ppk,cpk,mk三者的区别及计算、首先我们先说明Pp、Cp两者的定义及公式
ppk,cpk,mk三者的区别及计算、首先我们先说明Pp、Cp两者的定义及公式Cp（Capability Indies of Process）：稳定过程的能力指数，定义为容差宽度除以过程能力，不考虑过程有无偏移，一般表达式为：Pp（Performance Indies of Process）：过程性能指数，定义为不考虑过程有无偏移时，容差范围除以过程性能，一般表达式为：（该指数仅用来与Cp及Cpk对比，或/和Cp、Cpk一起去度量和确认一段时间内改进的优先次序）CPU：稳定过程的上限能力指数，定义为容差范围上限除以实际过程分布宽度上限，一般表达式为：CPL：稳定过程的下限能力指数，定义为容差范围下限除以实际过程分布宽度下限，一般表达式为：2、现在我们来阐述Cpk、Ppk的含义Cpk：这是考虑到过程中心的能力（修正）指数，定义为CPU与CPL的最小值。
它等于过程均值与最近的规范界限之间的差除以过程总分布宽度的一半。
即：Ppk：这是考虑到过程中心的性能（修正）指数，定义为：或的最小值。
即：其实，公式中的K是定义分布中心μ与公差中心M的偏离度，μ与M的偏离为ε=| M-μ|3、公式中标准差的不同含义①在Cp、Cpk中，计算的是稳定过程的能力，稳定过程中过程变差仅由普通原因引起，公式中的标准差可以通过控制图中的样本平均极差估计得出。
因此，Cp、Cpk一般与控制图一起使用，首先利用控制图判断过程是否受控，如果过程不受控，要采取措施改善过程，使过程处于受控状态。
确保过程受控后，再计算Cp、Cpk。
②由于普通和特殊两种原因所造成的变差，可以用样本标准差S来估计，过程性能指数的计算使用该标准差。
4、几个指数的比较与说明① 无偏离的Cp表示过程加工的均匀性（稳定性），即“质量能力”，Cp越大，这质量特性的分布越“苗条”，质量能力越强；而有偏离的Cpk表示过程中心μ与公差中心M的偏离情况，Cpk越大，二者的偏离越小，也即过程中心对公差中心越“瞄准”。
PPK与CPK定义，差异分析及计算
PPK与CPK定义，差异分析及计算定义：PPK（Performance Index of Process）不考虑过程有无偏移，容差范围除以过程性能。
CPK （Complex Process Capability index）考虑过程有偏差时，样本数据的过程性能。
*PPK 通常用来与CP及CPK对比，度量和确认内改进的优先次序。
适用环境PPK：过程性能指数，表示的是过程在一段时间内的表现。
1:输出满足规格要求+预测图形+长期不稳定过程（不要求过程稳定）2:小批生产（试产）的过程性能评价，要求Ppk>1.67；3·用于实时过程性能研究和初始过程能力评估。
CPK：过程能力指数，表示过程本身的能力，一种理想的状态下的指数。
1:过程稳定+足够历史数据/初始数据（More than 100个体数据&25子组2:大批量生产后的生产能力的评价，要求Cpk>1.333:主要用于周期性的过程评价。
注解：1、有时CPK需要借助PPK的控制界限来作控制2、PPK表示所有数据之间的变差；CPK剔除组内变差（组内均值），仅考虑子组变差。
3、PPK和CPK的区别就好像是一个人的工作表现和工作能力之间的差别一样。
4、Cpk计算之前，一定要检查过程是否稳定。
一般要求有100个数据，25个均值。
取样方式：子样定间隔时间选取（如：每隔1小时连续取4个样本，计算均值。
通过xbar-R图来检查过程是否稳定。
如果稳定，计算得到的是Cpk。
5、PPK不要求检查过程是否稳定。
取样方式：无需1小时间隔，连续取100个数据。
因PPK未检查过程是否稳定（风险），要求目标PPK>1.67.因PPK中可能有特殊原因变差不能称之为过程能力指数，而是过程性能指数。
6、过程不稳定，则需查明特殊原因并消除后重新进行评估（过程繁琐）。
对于初期数据匮乏案例，在客户同意后可采用PPK。
7、当过程稳定+CPK满足要求时，利用控制图来监视过程。
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1 395.36 395.12 395.12 395.20 394.84
检
查
2 395.28 394.84 394.88 395.22 395.00
记
3 395.12 395.34 395.26 395.14 394.96
录
4 394.92 394.98 394.72 394.94 394.96
5
TOTAL 1580.68 1580.28 1579.98 1580.50 1579.76 0.00
SHANGHAI PSD TECHNICAL CONSULTING SERVICE CO.,LTD —— CAPABILITY INDEX（Ppk初始过程能力研究）
工厂车间 零件名称
工序名称 机器编号
质量特性 规格值
395.10
公差上限 公差下限
397.10 393.10
组容/频率 5pcs/连续 生产形态 □ 试生产
394.95
①不要对过程做不必要改变
394.90 394.85 394.80
01-2
01-3
01-4
01-5
LCLX
②注明对过程因素（人机料法环 或MS）所做的调整 ③ 组容 A2 D3 D4 d2
2 1.88 * 3.27
01-1 01-1
● R=AVE（R）= 0.38
UCLR=D4R= 0.88
图号
日 期 2001.01.08
AVERAGES（X BAR CHART ）
● X=AVE（X）=
395.20 395.15 395.10 395.05 395.00
395.06
UCLX=X+A2R= 395.34
LCLX=X-A2R= 394.78 ●对特殊原因采取措施说明 *任何超出控制限的点 *连续7点在中心线之上或之下 *连续7点上升/下降 *任何其它明显非随机的图形 ●采取措施的说明
LCLR=D3R= 0.00
3 1.02 * 2.57
RANGES（R CHART ）
0.80
4 0.73 * 2.28
0.70
UCLR 5 0.58 * 2.11
0.60
MAX-MIN
6 0.48 * 2.00 7 0.42 0.08 1.92
0.50
8 0.37 0.14 1.86
0.40
UCLR 9 0.34 0.18 1.82
MAX-MIN 0.44 0.50 0.54 0.28 0.16 0.00 0.00 0.00 0.00 0.00 0.00 0.00 0.00 0.00 0.00 0.00 0.00 0.00 0.00 0.00 0.00 0.00 0.00 0.00 0.00
SHANGHAI PSD TECHNICAL CONSULTING SERVICE CO.,LTD —— CAPABILITY INDEX（Ppk初始过程能力研究）
0.30
10 0.31 0.22 1.78
0.20
1.连续取样
0.10
2.组容＜7时没有极差下控制限
0.00
●Ppk = Min ( USL-X X-LSL )≥1.67 3σ 3σ
01-5
01-4
01-3
01-2
=Min 7.26 6.98 ) = 6.98
日期班次 01-1 01-2 01-3 01-4 01-5 01-6 01-7 01-8 01-9 01-10 01-11 01-12 01-13 01-14 01-15 01-16 01-17 01-18 01-19 01-20 01-21 01-22 01-23 01-24 01-25
制表 /日 期：
审核/ 日 期：
批准/ 日 期：
表单编 号：
QSPS D-
D0202 -31
SHANGHAI PSD TECHNICAL CONSULTING SERVICE CO.,LTD —— CAPABILITY INDEX（Ppk初始过程能力研究）
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AVERAGE 395.17 395.07 395.00 395.13 394.94 #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0!