XPS峰拟合规则
xps峰拟合规则及测试条件
n XPS Peak 软件拟合数据的简单步骤:用excel 调入外部数据打开数据文件。
1. Excel 中的数据转换成TXT 格式从Excel 中的数据只选择要进行拟合的数据点，copy 至txt 文本中，即BD 两列数据，另存为*.txt 文件。
2.XPS Peak41中导入数据打开xps peak 41分峰软件,在XPS Peak Fit 窗口中,从Data 菜单中选择Import (ASCII),即可将转换好的txt 文本导入,出现谱线3.扣背底在打开的Region 1窗口中，点击 Backgrond ，选择Boundary 的默认值，即不改变High BE 和Low BE 的位置，Type 一般选择Shirley 类型扣背底4.加峰选择Add Peak ，选择合适的Peak Type(如s,p,d,f),在Position 处选择希望的峰位，需固定时点fix 前的小方框,同时还可选半峰宽（FWHM ）、峰面积等。
各项中的constaints 可用来固定此峰与另一峰的关系。
如W4f 中同一价态的W4f 7/2和W4f 5/2的峰位间距可固定为2.15eV ，峰面积比可固定为4:3等，对于%Lorentzian-Gaussian 选项中的fix 先去掉对勾，点击Accept 完成对该峰的设置。
n 点Delete Peak 可去掉此峰。
再选择Add Peak 可以增加新的峰，如此重复。
注意：% Lorentzian-Gaussian 值最后固定为20%左右。
加峰界面举例：对峰的限制constraints ，峰1的峰位=峰0峰位+1.55.拟合选好所需拟合峰的个数及大致参数后，点XPS Peak Processing 中的Optimise All 进行拟合，观察拟合后总峰与原始峰的重合情况，如不好，可多次点Optimise All合适图谱6.参数查看拟合完成后，分别点XPS Peak Processing窗口总的Region Peaks下方的0、1、2等，可查看每个峰的参数，此时XPS峰中变红的曲线为被选中的峰。
XPS原始数据处理含分峰拟合
XPS 原始数据处理（含分峰拟合）1. XPS 高分辨谱可以拿到什么数据?般而言，大家在做高分辨谱的时候，是期望看到表面某些元素的电子结构信息,判断该元素的化学态以及所处的化学环境等等，进而说明样品的表面结构或其变化。
故此，XPS 的高分辨一定是有针对性的，所要测的元素也是大家很明了的。
在上一期我们说过，对于绝缘体或者半导体而言，具有荷电效应，因此除了大家 想要测的元素之外，一般测试的时候还需要测一个 C 的高分辨谱，用于荷电校正。
国内像XPS 这样的大型仪器一般都有专人进行测试，因此我们所得到的原始数据 般为xls 文件。
下图所示为PbQ 的XPS 原始数据，除了 Pb 0之外，还有C 的高 分辨谱以及各元素的半定量分析结果。
2. 荷电校正如何进行校正呢？上一期分享中我们已经说过，荷电校正一般将外来污染碳（284.8eV ）作为基准。
具体如何操作呢? 1）.计算荷电校正值。
45 67AxisEnergyEleaents-2016S C:\traLning\l iufu\ltLsc\E3peri*cnt\KonQ 650Um\Polnt <005\01s Scan. ¥GD131415 Einding Energy (£) 16 17 13药27J8293031毎一页代叢無一种元索的高分耕谱” peak table 给出的是半定量蜻果数扌亳•表*Counts / s545,oe55483. 7544.9855736.日 544. SE 55247.2 544,78 54363. 6 544,68 54709. 8 544, 58 55383.2 吕g 46 5431&. 3544, 38 54745.6 544.2054309. S 544.1855118.1 544. OB54741.7 543, 58544&3. 8 543. 88 53956.6 543. 7853763.4 543. ABj5R丘4曲7拿到XPS 高分辨谱，第步是要进行荷电校正，得到准确的结合能数据。
xpsc1s标准xps分峰拟合c1s结合能标准
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xps拟合半峰宽规则
X射线粉末衍射（XPS）是一种常用的材料分析方法，它可以提供材料晶体结构、化学组成和物理性质的信息。
在XPS分析中，常常需要拟合实验数据以提取有关材料特性的信息，其中包括半峰宽（Half-Width）的拟合。
在XPS分析中，半峰宽指的是X射线衍射峰的中心位置与峰值高度的一半之间的距离。
它反映了材料的晶体结构和微观结构，可以用来评估材料的纯度、结晶度和晶格参数等。
因此，对半峰宽的拟合非常重要。
在XPS分析中，常用的拟合方法有高斯拟合、洛伦兹拟合和混合拟合等。
其中，高斯拟合和洛伦兹拟合是最常用的两种方法。
高斯拟合是一种基于高斯函数的拟合方法，它假设X射线衍射峰的形状为高斯分布。
高斯函数具有三个参数：峰的中心位置、峰的高度和半峰宽。
通过调整这三个参数，可以拟合实验数据。
洛伦兹拟合是一种基于洛伦兹函数的拟合方法，它假设X射线衍射峰的形状为洛伦兹分布。
洛伦兹函数也有三个参数：峰的中心位置、峰的高度和半峰宽。
通过调整这三个参数，也可以拟合实验数据。
在实际应用中，选择哪种拟合方法取决于实验数据的特点和研究者对数据解释的要求。
如果X射线衍射峰的形状接近高斯分布，则可以选择高斯拟合；如果X射线衍射峰的形状接近洛伦兹分布，则可以选择洛伦兹拟合。
如果需要同时考虑多个X射线衍射峰的拟合，则可以选择混合拟合方法。
在应用高斯拟合或洛伦兹拟合时，可以采用一些商业软件或开源软件来进行数据处理和分析。
这些软件通常提供了易于使用的用户界面和强大的数据处理功能，可以方便地导入实验数据、进行数据预处理、选择合适的拟合函数、调整参数并进行拟合优化等操作。
除了以上提到的三种常用拟合方法外，还有一些其他的方法可以用于XPS分析中的半峰宽拟合。
例如，可以考虑非对称峰的形状，采用非对称函数进行拟合；或者结合其他物理信息，如晶体结构、电子密度等，进行综合分析。
这些方法可以进一步提高半峰宽拟合的准确性和可靠性，提供更丰富的材料信息。
在实际应用中，还需要注意以下几点：数据预处理：在进行半峰宽拟合之前，需要对实验数据进行预处理，包括去除噪声、平滑处理等操作，以提高数据的质量和可靠性。
xps峰拟合步骤及规则
XPS峰拟合步骤及规则1.原始数据的处理:Ａ，与C1s比较标准化数据:将excel表格中的C1s数据的最高点对应的结合能与标准C1s结合能（一般为284.6）比较，算差值+（-）α；将需拟合元素（如Ir）的结合能-（+）α，得标准化数据。
注：若得到的C1s不平滑，先怀疑是否测试过程出现问题。
若无测试问题，数据可信，将C1s进行拟合得到一个最高点（可用XPSPEAK, origin等）。
拟合元素结合能-（+）α最好拷贝到另个excel中处理，得标准化数据。
Ｂ，转化成TXT:将标准化数据拷贝到TXT文本中（两列就足够了）2.下载安装XPS拟合处理软件.hk/%7Esurface/XPSPEAK/3.数据输入:运行XPSPEAK41，点data>Import(ASCII)>*.txt (转换好的标准化数据)，得谱线。
4.背景扣除:点Background，调high 和low BE的值，一般用Shirley背景扣除。
注：基线不能高于需拟合的曲线。
5.加峰:A,查需拟合元素标准结合能值/xps/；Search Menu＞Retrieve Data for a Selected Element＞Binding Energy ＞元素；查需拟合元素分裂能Doublet Separation ＞元素；B,加峰选Add Peak，选合适的Peak Type(如s,p,d,f),Position处选希望的峰位（参考所查标准结合能值），需固定时点fix前的小方框，否则所有Fix选项都不要选。
各项中的constaints可用来固定此峰与另一峰的关系，如Ir4f中同一价态的Ir4f7/2和Ir4f5/2的峰位间距可固定为2.98eV，峰面积比可固定为4:3等。
点击Optimise Peak对峰进行优化,最后点击Accept完成对该峰的设置。
点Delete Peak可去掉此峰。
再选择Add Peak可以增加新的峰，如此重复。
XPS谱高斯峰拟合
反复拟合时，要不断的变化其他三个选项（这个用过软件的人都知道的），设置的时候要记住一点，不能全部固定也不能全部不固定，比如你要是想面积变化，那么方法是先设置好你要的面积然后选上面积固定选项，同时半峰宽不要固定也不要改动，接着进行拟合，根据拟合的结果在按照这个原则进行调节即可。调节半峰宽时也是如此，按照这个方法调节，反复多次后就可以得到想要的结果，不过确实需要点耐心。
关于XPS谱的分峰网上有一些讲解，主要的软件是XPSpesk41，当时在网上看了一些教程，大体差不多，主要是告诉你基本的软件使用步骤，但是具体如何利用软件拟合出满意的结果却没有提到，只是说反复的拟合，那么如何反复呢，软件如何设置才可以呢。因为要写一个关于PU表面湿润性的论文，不得不进行峰拟合，在分峰N次后逐渐发现规律，原来反复分峰是这么分的啊。首先看下C1s和O1s的分峰结果
整个曲线有三个部分组成，原始曲线（实验得到的谱图，有锯齿的线条），拟合后的曲线（基本与原始曲线重合，但更加光滑），分峰后的曲线（拟合好的曲线是由这几个峰叠加而成的）。
软件具体的使用步骤就不说了，这个在里都有，这里主要是对如何进行反复的拟合得到所要的曲线进行说明（仅个人经验哦），
首先添加两个峰，分别输入峰值并固定后拟合，软件自动得上图，图中蓝色为原始曲线，较粗的黑线是拟合后的结果，并且它是有两条细曲线叠加而成的，下面就是要通过设置软件反复使用高斯峰进行拟合，知道得到满意结果。
XPS峰拟合步骤及规则
XPS峰拟合步骤及规则(2010-05-26 10:47:46)转载▼标签：分类：穿越博士杂谈1.原始数据的处理:Ａ，与C1s比较标准化数据:将excel表格中的C1s数据的最高点对应的结合能与标准C1s结合能（一般为284.6）比较，算差值+（-）α；将需拟合元素（如Ir）的结合能-（+）α，得标准化数据。
注：若得到的C1s不平滑，先怀疑是否测试过程出现问题。
若无测试问题，数据可信，将C1s进行拟合得到一个最高点（可用XPSPEAK, origin等）。
拟合元素结合能-（+）α最好拷贝到另个excel中处理，得标准化数据。
Ｂ，转化成TXT:将标准化数据拷贝到TXT文本中（两列就足够了）2.下载安装XPS拟合处理软件.hk/%7Esurface/XPSPEAK/3.数据输入:运行XPSPEAK41，点data>Import(ASCII)>*.txt (转换好的标准化数据)，得谱线。
4.背景扣除:点Background，调high和low BE的值，一般用Shirley背景扣除。
注：基线不能高于需拟合的曲线。
5.加峰:A,查需拟合元素标准结合能值/xps/；Search Menu＞Retrieve Data for a Selected Element＞Binding Energy＞元素；查需拟合元素分裂能Doublet Separation＞元素；B,加峰选Add Peak，选合适的Peak Type(如s,p,d,f),Position处选希望的峰位（参考所查标准结合能值），需固定时点fix前的小方框，否则所有Fix选项都不要选。
各项中的constaints可用来固定此峰与另一峰的关系，如Ir4f中同一价态的Ir4f7/2和Ir4f5/2的峰位间距可固定为2.98eV，峰面积比可固定为4:3等。
点击Optimise Peak对峰进行优化,最后点击Accept完成对该峰的设置。
点Delete Peak可去掉此峰。
XPS谱峰拟合注意事项
XPS谱峰拟合注意事项XPS（X-ray Photoelectron Spectroscopy）是一种常用的表面分析技术，通过测量材料中的光电子能谱来获取元素的化学状态和表面化学组成信息。
在进行XPS谱峰拟合时，需要注意以下几个方面：1.谱峰选择：首先需要选择合适的XPS谱峰进行拟合。
对于元素的3d谱峰，一般选用高分辨率谱进行拟合；而对于元素的2p谱峰，通常选用低分辨率谱拟合。
此外，还需要根据样品的化学组成选择合适的XPS谱峰。
2.光电子能谱线宽：在进行谱峰拟合之前，需要确定光电子能谱的线宽。
光电子能谱的线宽包括仪器效应和样品表面等原因引起的线宽。
通常情况下，可以通过测量标准物质的XPS谱线来确定仪器效应的线宽。
如果样品表面存在不均匀性，还需要考虑表面扩散等因素。
3. 谱峰形状：在进行XPS谱峰拟合时，需要选择合适的谱峰形状函数。
常用的谱峰形状函数有高斯函数、洛伦兹函数和Voigt函数等。
对于复杂的谱峰，可以采用多个形状函数的组合进行拟合。
4.背景拟合：在XPS谱峰拟合中，背景信号会对谱峰的拟合结果产生影响。
背景信号包括激光连续谱、底部散射等引起的背景。
一般情况下，可以采用多项式函数进行背景拟合。
而对于特殊样品，可能需要使用更复杂的数学函数进行背景拟合。
5.谱线强度校正：XPS谱线的强度受到多种因素的影响，如分析深度、探针电强度、距离等。
在进行谱峰拟合时，需要对谱线的强度进行校正，以获得准确的表面化学组成信息。
6.谱峰重叠处理：在一些情况下，不同元素的谱峰可能会发生重叠。
为了准确区分不同元素的贡献，需要进行谱峰重叠处理。
常见的处理方法包括利用化学键能的差异、XPS波长的差异等。
7.数据处理与误差分析：在进行XPS谱峰拟合之后，还需要对数据进行处理和误差分析。
可以计算每个元素的相对百分含量、角分辨率、信噪比等指标。
此外，还需要对拟合结果进行误差分析，以评估数据的可靠性和拟合的准确性。
总之，进行XPS谱峰拟合需要综合考虑实验条件、谱峰形状、背景拟合等多种因素。
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XPS Peak软件拟合数据的简单步骤:
1. Excel中的数据转换成TXT格式
从Excel中的数据只选择要进行拟合的数据点，copy至txt文本中(如C1s scan 中，选择从292eV到280eV的数据，即将该范围的ABC三列同时copy)
2.XPS Peak41中导入数据
打开xps peak 41分峰软件,在XPS Peak Fit窗口中,从Data菜单中选择Import (ASCII),即可将转换好的txt文本导入,出现谱线
3.扣背底
在打开的Region 1窗口中，点击 Backgrond，选择Boundary的默认值，即不改变High BE和Low BE的位置，Type一般选择Shirley类型扣背底
4.加峰
选择Add Peak，选择合适的Peak Type(如s,p,d,f),在Position处选择希望的峰位，需固定时点fix前的小方框,同时还可选半峰宽（FWHM）、峰面积等。
各项中的constaints可用来固定此峰与另一峰的关系。
如W4f中同一价态的
W4f7/2和W4f5/2的峰位间距可固定为2.15eV，峰面积比可固定为4:3等。
点击Optimise Peak对峰进行优化,最后点击Accept完成对该峰的设置。
点Delete Peak可去掉此峰。
再选择Add Peak可以增加新的峰，如此重复
5.拟合
选好所需拟合峰的个数及大致参数后，点XPS Peak Processing中的Optimise All进行拟合，观察拟合后总峰与原始峰的重合情况，如不好，可多次点Optimise All
6.参数查看
拟合完成后，分别点XPS Peak Processing窗口总的Region Peaks下方的0、1、2等，可查看每个峰的参数，此时XPS峰中变红的曲线为被选中的峰。
如对拟合结果不满意，可改变这些峰的参数，然后再点击Optimise All
7.XPS存图
点Save XPS可将谱图存为.xps格式的图，下回要打开时点Open XPS可以打开这副图，并可对图进行编辑
8.XPS图的数据输出
a.点击Data中的Export（spetrum），可将拟合好的数据存为.dat格式的ASCII 文件（该文件可用记事本打开），然后再Origin中导入该ASCII文件，可得到一个包含多列的数据表，这里需要注意的是每列的抬头名称出错（如.dat文件中的Raw Intensity分开到两列中作为两列的抬头，即Raw、Intensity），这时需要根据做出的图与.xps原始谱图比较，更改每列的名称，即可得到正确的谱图
b.点击Data中的Export（Peak Parameters），即将各峰参数导出为.par格式的文件（也可用记事本打开），通过峰面积可计算某元素在不同峰位的化学态的含量比
c.点击Data中的Export to clipboard，即将图和数据都复制到剪贴板上，打开文档（如Word），点粘贴，即把图和数据粘贴过去，不过该图很不清晰
d.点击Data中的Print with peak parameters，即可打印带各峰参数的谱图
峰拟合中的一些基本原则:
1.元素结合能数据可参考/xps/
2.对于p、d、f等能级的次能级（如p3/2、p1/2，光电子能谱中一般省略/2，即
为p3、p1）强度比是一定的，p3:p1=2:1；d5:d3=3:2，f7:f5=4:3。
在峰拟合过程中要遵循该规则。
如W4f中同一价态的W4f7和W4f5峰面积比应为4:3。
3.对于有能级分裂的能级（p、d、f），分裂的两个轨道间的距离也基本上是
固定的，如同一价态的W4f7和W4f5之间的距离为2.15eV左右，Si2p3和Si2p1差值为1.1eV左右。
各元素能级分裂数据可参考网上数据库
/xps/Doublet_Sep.asp
4.全谱扫描((即Survey)中各峰对应的元素能级参考附件BE Lookup Table。