射线透照工艺
射线检测技术6-4透照布置
透照布置
曝光 显影、停显、定影 水洗和干燥 底片质量检查 缺陷判断 结论与报告
暗室处理
结果评定
6.4.2 透照布置
射线照相的基本透照布置
f—射线源到工件源 侧表面的距离。 F—射线源到胶片 表面的距离。 —照射角。 L—有效透照区的 宽度。 T—工件厚度，也 叫透照厚度。
特殊工件
角焊缝
硫化罐
A级技术
B级技术
K<=1.2
K<=1.1
横向裂纹检出角
• 横向裂纹检出角：横向裂纹走向与边缘射线束的 夹角。 • 控制透照厚度比 K 值的目的之一是控制接头横向 裂纹检出角，防止接头横向裂纹漏检。
K 1.03
K 1.01
14
8
• 国外研究表明：K值对横向裂纹检出影响不大。
3.中心射线束方向
• 指向有效透照区的中心，特殊工件特殊考 虑。 如检验焊缝坡口未熔合应使中心射线 束指向坡口角度方向。 • 使有效透照区透照厚度变化较小 使照射角小 从而提高缺陷检出性
4. 有效透照区
(1)概念 • 有效透照区：一次透照的有效透照范围。 • 有效透照区对影像质量要求： 黑度处于规定的黑度范围 射线照相灵敏度符合规定的要求
• 透照厚度：射线穿过工件的路径长度。 • 公称厚度：受检工件名义厚度，不考虑材 料制造偏差和加工减薄。 • 一次透照长度：一次透照的有效透照长度 • 有效评定长度：一次透照检验长度在底片 上的投影长度。
• 搭接长度：一张底片与相邻底片重迭部分 的长度。
有效透照区示意图
L1
L3 L2 T T ' Leff
2)规定f和有效透照区大小关系
•A级技术： f 2L3 •B级技术： f 3L3 •主要在日本等国家使用
RT讲义-第四章 射线透照工艺
第四章射线透照工艺前言（一）X射线能量的选择：选择的首要条件时应具有足够的穿透力，但过高对射线照相的灵敏度不利。
因为随管电压的升高，衰减系数μ减少对比度D∆降低，固有不清晰度Ui增大，底片颗粒度增大，其结果是射线照相灵敏度下降。
因此原则是：在保证穿透力的前提下选择能量较低的X射线。
所以，标准规定了对不同厚度允许使用的最高管电压并要求有适当的曝光量（如AB级不小于15mA.min；焦距700）（二）曝光量：E=I.t (或A. t)互易律：当采用铅箔增感屏或无增感屏时，遵守互易律，即只要两者乘积E值不变。
即射线强度和时间相应变化，底片黑度不变。
平方反比定律：辐射强度与距离平方成反比。
（三）焊缝透照方法要考虑的因素：1、必须确定的事项：射线源位置、透照方向、象质计、标记的放置、散射线的屏蔽。
2、必须确定的几何参数：焦距（L1和L2）；一次透照长度L3；环焊缝100%，透照时的最少曝光次数N。
3、同时需考虑的相关因素：几何不清晰度U g ；透照厚度比K ； 横向裂纹检出角Q ；有效评定长度Leff 。
100%透照时，相邻两片的搭接长度 L 。
一、关于U g 值的问题：U g ：几何不清晰又称半影宽度。
U g =12.L L df JB928-67标准为一固定值，U g =0.2、0.4㎜，要减小U g 值从公式中可以看出提高焦距可以减少U g 。
但要增加曝光量（t 、KV ）为了互相的制约，使用德国标准DIN54111规定：A 级dfL1≥7.5L 232B 级dfL 1≥15L 232JB4730-94标准采用此标准并增加了AB 级即：AB 级：dfL1≥10L 232A 级 L 1≥7.5df.L 232AB 级 L 1≥10df.L 232B 级 L 1≥15df.L 232如果把：df=21.L L U g 代入以上公式得：A 级：U g ≤5.71L 231 AB 级：U g ≤101L 231B 级：U g ≤151L 231从公式可以看出U g 是一个变量，它随工件透照厚度（L 2）的增加而有所增加。
第4章 射线透照工艺
Ir-192
≥20～100
≥20～90
Co-60
≥40～200
≥60～150
X 射线（1MeV～ 4MeV）
≥30～200
≥50～180
X 射线（＞ 4MeV～12MeV）
≥50
≥80
X 射线（＞ 12MeV）
≥80
≥100
300kV、350kVX 射线 Ui 值的 3.4 倍、1.8 倍、1.4 倍、1.3 倍。此 外，还有颗粒性，即噪声问题：由于 Ir192 有效能量较高，由此引 起的底片噪声也会明显增大，从而干扰射线照相底片上小缺陷，尤 其小裂纹的影像显示。因此，如果比较γ射线与 X 射线的小缺陷检 出灵敏度，则两者的差距更明显。
5
④ 对厚度大于 150mm 的钢，即使用 Co-60γ射线源，透照厚 度最大只有 200mm，且曝光时间也很长，如工作批量大，或工件照 相灵敏度要求较高时，宜用兆伏级高能 X 射线。
⑤ 受现场透照条件（透照部位空间狭小）的限制、野外作业 （无水无电），宜采用γ射线探伤机，体积较大的 X 射线探伤机使 用不方便
7
变 F或 f的大小。焦距 F越大， Ug值越小，底片上的影像越清晰。 为保证射线照相的清晰度，在 JB/T4730.2-2005标准中，规定了 f
与 d和 b应满足以下关系：
射线检测技 术等级 A 级： AB 级： B 级：
射线透照工艺-射线检测培训教材系列课件
核磁共振仪
利用磁场和射频脉冲对物质进行检测，常用 于医疗和科研领域。
射线检测器材介绍
01
02
03
探测器
用于接收和记录射线的设 备，如影像板、CCD相机 等。
防护用品
用于保护工作人员和受检 者免受辐射伤害的设备， 如铅围裙、铅眼镜等。
辅助器材
包括支架、滤光片、遮光 板等，用于优化检测效果。
射线检测设备的维护与保养
底片质量异常
如出现底片模糊、黑度不 均、斑点过重等情况，需 重新进行透照或调整曝光 参数。
设备故障
如曝光设备、胶片处理设 备等出现故障，需及时维 修或更换设备，确保透照 质量稳定。
环境因素影响
如环境温度、湿度等异常， 需采取相应措施进行调节， 减小环境因素对透照质量 的影响。
05
安全防护与法规标准
射线检测的安全防护措施
监测与记录
防护设备
提供适当的防护设备，如铅围 裙、手套、眼镜等，以减少辐 射暴露。
操作规范
制定详细的操作规范，确保员 工遵循正确的操作程序，避免 意外辐射暴露。
培训与教育
定期进行辐射安全培训和教育 ，提高员工对辐射危害的认识 和自我保护意识。
定期监测辐射剂量，记录员工 辐射暴露情况，以便及时发现 和解决潜在问题。
环保与职业健康要求
01
02
03
04
环保要求
确保射线检测工作符合环保要 求，减少对环境的负面影响。
职业健康要求
确保员工在工作过程中保持良 好的职业健康状态，预防职业
病的发生。
废弃物处理
合理处理射线检测过程中产生 的废弃物，减少对环境的污染
。
事故应急预案
制定事故应急预案，确保在发 生意外事故时能够及时、有效
射线透照工艺
3
一 透照布置
1 中心射线束的方向 透照时中心射线束一般应垂直指向透照区中心， 透照时中心射线束一般应垂直指向透照区中心， 需要时也可选用有利于发现缺陷的方向透照。 需要时也可选用有利于发现缺陷的方向透照。
4
2 有效透照区
主要是控制一次透照中透照厚度变化的范 围，在射线底片上形成的影像能满足下述 的要求： 的要求： 黑度处于规定的黑度范围； 1）黑度处于规定的黑度范围； 射线照相灵敏度符合规定的要求。 2）射线照相灵敏度符合规定的要求。
16
4 选择透照方式的因素
透照灵敏度： 透照灵敏度：选择灵敏度较高的方式 单壁透照比双壁透照灵敏度高）。 （单壁透照比双壁透照灵敏度高）。 一次透照长度： 一次透照长度：一次透照长度大的可 以提高检测速度。 以提高检测速度。 操作方便性：对容器透照， 操作方便性：对容器透照，源在外操 作更方便。 作更方便。 试件及探伤设备具体情况： 试件及探伤设备具体情况：对环焊缝 以源在内中心透照曝光法为最佳， ，以源在内中心透照曝光法为最佳， 透照厚度均一，灵敏度最佳， 透照厚度均一，灵敏度最佳，缺陷检 出率高。 出率高。
5
2 有效透照区
一次透照长度应以 透照厚度比K 透照厚度比K进行控 制。透照厚度比定义 为，有效透照范围内 最大透照厚度与最小 透照厚度之比。 透照厚度之比。按图 所示， 所示，透照厚度比K 可以表示为 K ＝T ' / T
6
2 有效透照区
不同级别射线检测技术和不同类型对接焊接接 头的透照厚度比应符合标准的规定。 头的透照厚度比应符合标准的规定。
《射线检测技术》 射线检测技术》
射线透照工艺 主讲教师 魏同锋
1
本节主要内容
透照布置（重点） 透照布置（重点） 射线源和能量的选择 焦距的选择 曝光量的选择
射线透照工艺
射线透照工艺射线透照工艺是指为达到一定要求而对射线透照过程规定的方法、程序、技术参数和技术措施等，也泛指详细说明上述方法、程序、参数、措施的书面文件。
射线透照工艺文件有两种，一种称通用工艺规范，依照有关管理法规和技术标准，结合本单位具体情况（涉及的产品范围和现有设备条件）编制而成。
其内容除包括从试件准备直至资料归档的射线照相全过程，还包括对人员、设备、材料的要求以及一些基本技术数据，如曝光曲线等图表。
另一种称专用工艺，其内容比较简明，主要是与透照有关的技术数据，用于指导给定试件的透照工作。
因其通常用卡片形式填写，所以有时称为透照工艺卡。
工艺条件是指工艺过程中的有关参变量及其组合。
射线透照工艺条件包括设备器材条件，透照几何条件，工艺参数条件，工艺措施条件等。
本章重点介绍一些主要的工艺条件对照相质量的影响及应用选择原则。
4.1 透照设备器材4.1.1 射线源1、射线源分类X射线：400KV以下，可通过调节KV选择能量大小，穿透厚度上限达70－90mm左右。
γ射线：能量不可改变，只能根据工件厚度选择源的种类。
高能X射线：由加速器产生，能量1－30MeV，穿透厚度100－300mm，设备昂贵，适用于厚壁容器制造企业。
2、射线能量（射线源种类）的选择考虑因素：穿透力照相灵敏度设备特点选择原则：1）对于较薄材料（50mm以下）的透照，尤其是钢板对接，应优先选择X 射线，可获得较好的照相灵敏度。
2）厚度50以上的透照，采用X射线、γ射线获得的照相灵敏度相近，根据工件及现场情况选择。
3）透照困难的现场，如狭小空间、架空管道等，可考虑采用γ射线。
4）环焊缝X射线透照，焦距满足要求的情况下，尽量采用锥靶周向X射线机，一来可提高工效，二来可减小缺陷影像的畸变。
4.1.2 胶片1、胶片分类按现行承压设备射线检测标准（JB/T 4730.2－2005）：胶片系统按照GB/T 19384.1分为四类，即T1、T2、T3和T4类。
射线透照工艺
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2 有效透照区
一次透照长度应以 透照厚度比K进行控 制。透照厚度比定义 为，有效透照范围内 最大透照厚度与最小 透照厚度之比。按图
所示，透照厚度比K
可以表示为
K＝T ' / T
4
透照方式—直缝透照
单壁透照 射线源和胶片分
别位于工件两侧
9
2000
8
3000
7
6
2000
1000
B级f / m m m in
5
1000
500
4
300
500
3
200
300
2
200
100
100
50
30
1
50
20
30
20
10
0 .5
10
5
A级f / m m m in
500 400 300
200
100 80 60 50 40 30
20
10 8 6 5 4 3
2
体
5
透照方式—直缝透照
双பைடு நூலகம்透照 射线源和胶片分
别位于工件两侧
6
透照方式—环缝透照—单壁透照
中心透照 射线源位于工件中
心，胶片位于外侧
7
透照方式—环缝透照—单壁透照
偏心透照 射线源位于工件
内侧，胶片位于 外侧。
8
透照方式—环缝透照—单壁透照
单壁单影 射线源位于工件
外侧，胶片位于 内侧 。
18
X射线的曝光曲线
19
本课小结
1 透照布置 中心射线束：指向有效透照区中心 有效透照区：厚度比 透照方式：源、工件、胶片相对位置。 2 如何透照参数的选择 能量：透照厚度 焦距：诺模图 曝光量：曝光曲线
RT讲义-第四章 射线透照工艺
纵缝Leff=L +
= =
对于A、AB级：L =2L ∴ = =
对于B级L =3L ∴ =
∴Leff=L + （A、AB级）
Leff=L + （A级）
3、直缝双壁单影透照
由于搭接标记只能放在胶片侧即Leff=L 所以需在底片两侧各加 长度进行评定区的评定，否则则存在盲区。
吸收剂量
D
拉德 ad
戈瑞GY
1戈瑞=100拉德
剂量当量
H
雷姆 em
希沃特SV
1希沃特=100雷姆
§6-2 剂量测定方法和仪器
一、辐射监测主要分：
1、场地辐射监测：
测定剂量场的分布情况，发现潜在的高剂量区。
2、个人剂量监测
个人受到的总照射量或组织的吸收剂量。
①场地检测：确定工作场所和环境的辐射水平，从而预先估计出在该场所的人员在特定时间内将要受到的照射量或吸收剂量，这是一种预防性的测量。
2、必须确定的几何参数：
焦距（L 和L ）；一次透照长度L ；环焊缝100%，透照时的最少曝光次数N。
3、同时需考虑的相关因素：
几何不清晰度U ；透照厚度比K；
横向裂纹检出角Q；有效评定长度Leff。
100%透照时，相邻两片的搭接长度 L。
一、关于U 值的问题：
U ：几何不清晰又称半影宽度。
U =
JB928-67标准为一固定值，U =0.2、0.4㎜，要减小U 值从公式中可以看出提高焦距可以减少U 。但要增加曝光量（t、KV）为了互相的制约，使用德国标准DIN54111规定：A级 ≥7.5L
即：吸收剂量 1拉德=1雷姆（剂量当量）
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射线透照工艺射线透照工艺是指为达到一定要求而对射线透照过程规定的方法、程序、技术参数和技术措施等，也泛指详细说明上述方法、程序、参数、措施的书面文件。
射线透照工艺文件有两种，一种称通用工艺规范，依照有关管理法规和技术标准，结合本单位具体情况(涉及的产品范围和现有设备条件)编制而成。
其内容除包括从试件准备直至资料归档的射线照相全过程，还包括对人员、设备、材料的要求以及一些基本技术数据，如曝光曲线等图表。
另一种称专用工艺，其内容比较简明，主要是与透照有关的技术数据，用于指导给定试件的透照工作。
因其通常用卡片形式填写，所以有时称为透照工艺卡。
工艺条件是指工艺过程中的有关参变量及其组合。
射线透照工艺条件包括设备器材条件，透照几何条件，工艺参数条件，工艺措施条件等。
本章重点介绍一些主要的工艺条件对照相质量的影响及应用选择原则。
4.1透照设备器材4.1.1射线源1、射线源分类X射线：400KV以下，可通过调节KV选择能量大小，穿透厚度上限达70-90mm左右。
Y射线：能量不可改变，只能根据工件厚度选择源的种类。
常用Y射线源的特性参数高能X射线：由加速器产生，能量1—30MeV,穿透厚度100—300mm，设备昂贵，适用于厚壁容器制造企业。
2、射线能量(射线源种类)的选择考虑因素：穿透力照相灵敏度设备特点选择原则：1)对于较薄材料(50mm以下)的透照，尤其是钢板对接，应优先选择X射线，可获得较好的照相灵敏度。
2)厚度50以上的透照，采用X射线、Y射线获得的照相灵敏度相近，根据工件及现场情况选择。
3)透照困难的现场，如狭小空间、架空管道等，可考虑采用Y射线。
4)环焊缝X射线透照，焦距满足要求的情况下，尽量采用锥靶周向X射线机，一来可提高工效，二来可减小缺陷影像的畸变。
4.1.2胶片1、胶片分类按现行承压设备射线检测标准(JB/T4730.2—2005)：胶片系统按照GB/T19384.1分为四类，即T1、T2、T3和T4类。
T1为最高类别，T4为最低类别。
胶片系统包括了胶片、增感屏和冲洗条件。
2、胶片选择选择原则：1) A级和AB级射线检测技术应采用T3类或更高类别的胶片，B级射线检测技术应采用T2类或更高类别的胶片。
胶片的本底灰雾度应不大于0.3。
2) 釆用丫射线对裂纹敏感性大的材料进行射线检测时，应采用T2类或更高类别的胶片。
采用Y射线允许采用T3类胶片，但灵敏度应满足要求。
裂纹敏感材料：屈服强度450MPa或抗拉强度540MPa以上，低合金高强钢类如15MnVNR、18MnMoNbR、07MnCrMoR；低合金耐热钢类如 1.0Cr0.5Mo(15CrMo)、1.25Cr0.5Mo(14CrlMo)、2.25Cr-lMo(lCr2Mol)；马氏体不锈钢类如lCrl3、2Crl33）当对公称厚度或透照厚度较薄的工件进行Y射线照相时应采用高类别的胶片。
4）对可焊性差的材料或Rm±540MPa高强钢，Y射线照相时应选择T2类或更高类别的胶片。
4.1.3像质计1、像质计分类1）通用型像质计JB/T4730标准引出HB7684—2000增加了小于0.100mm的线径，即17号一0.080mm、18号一0.063mm、19号一0.050mm,.组成了4组像质计：1—7、6—12、10—16、13—19。
2）专用像质计（附录F）一般由5根等径金属丝组成，有特殊要求时也可为3根。
适用于小径管的透照。
1）像质计材料种类应与被检工件材料相适应（对射线的吸收特性相似）。
特殊情况下，采用与工件材料种类不同的像质计时，以低原子序数材料制作的像质计可以用于高原子序数材料制成的工件照相。
即铁（Fe）像质计可以用于镍（Ni）、铜（Cu）材料的照相，但不能用于钛（Ti）、铝（Al）材料的照相。
2）应根据检测技术级别、透照方式和像质计摆放的位置及公称厚度（T）/透照厚度（W）确定像质计灵敏度，从而选用不同组别的像质计。
3）小径管的透照，可选用通用型像质计，也可选用专用像质计。
4.2透照方法（方式）按照检测对象、射线源、被检工件焊缝和胶片之间的位置关系，对接焊缝透照方法可分五大类：纵缝单壁透照、环缝单壁外照、环缝单壁内照、双壁单影、双壁双影细分又可划分如下：外照法中心法F=R 内照法｛偏心法F >R偏心法FVR双壁单影直透法t 斜透法双壁双影直透法斜透法纵缝透照「单壁透照双壁透照1、选择透照方式时考虑的因素：1）照相灵敏度灵敏度有明显差异的情况下，应选择灵敏度较高的透照方式。
如单壁透照灵敏度明显高于双壁透照，在两种方式均可采用时，应选前者。
2）缺陷检出特点根据检出缺陷的要求选择。
如单壁外照法对容器内表面裂纹检出较为有利，双壁双影直透法对小径管根部未焊透较为有利。
3）透照厚度差和横向裂纹检出角较小的透照厚度差和横向裂纹检出角有利于提高底片质量和裂纹检出率。
焦距和一次透照长度相同的情况下，单壁内照比单壁外照具有更小的透照厚度差和横向裂纹检出角。
4）一次透照长度各种透照方式的一次透照长度不同，选择选择一次透照长度较大的透照方式可有效提高检测速度。
单壁透照 双壁透照5）操作方便性采用X射线，透照小型容器，外照更为方便，透照球罐，上半球外照方便，下半球内照方便。
6）试件和探伤设备具体情况容器（管道）直径过小时，内照可能导致Ug不满足要求，只能采用外照；移动式探伤设备只能采用外照；周向射线机或Y源透照，内照更能发挥设备优势。
2、透照方式选择原则:（JB/T4730.2—2005）应根据工件特点和技术条件的要求选择适宜的透照方式。
在可以实施的情况下应选用单壁透照方式，在单壁透照不能实施时才允许采用双壁透照方式。
透照时射线束中心一般应垂直指向透照区中心，需要时也可选用有利于发现缺陷的方向透照。
4.3透照工艺参数条件1、射线能量对照相质量的影响选择射线能量的首要因素是对被检工件具有足够的穿透力。
从保证射线照相灵敏度方面考虑，射线能量增高，衰减系数减小，底片对比度降低,固有不清晰度增大，底片颗粒度也增大，其结果射线照相灵敏度（三要素）下降。
但是，如果射线能量过低，穿透力不够，到达胶片的透照射线强度过小，造成底片黑度不足，灰雾度增大。
2、射线能量的选择对于x射线源，能量选择即选择KV,JB/T4730—2005.2中对不同透照厚度允许采用的最高管电压上限作出了限定。
对截面厚度变化大的承压设备，在保证灵敏度要求的前提下，允许采用超 过图1规定的X 射线管电压。
对钢、铜及铜合金材料，管电压增量不应超过50kV ； 对钛及钛合金材料，管电压增量不应超过40kV; 对铝及铝合金材料，管电压增量不应超过30kV 。
•理解：不同材料、不同透照厚度允许采用的最高X 射线管电压与检测技术级别无 关。
扌空制X 射线管电压的主要目的是保证底片的对比度，避免影响小缺陷的检 出率。
截面厚度变化大：以AB 级T3类胶片为基准，如较厚部位黑度为2.0，而较 薄部位的黑度大于4.0。
对于Y 射线源，穿透力取决于射线源的种类。
由于射线源发出的射线能量不可 改变，而用高能射线透照薄工件时，会出现灵敏度下降的现象。
因此，标准对于源 的选择不仅规定了透照厚度的上限，且也规定了透照厚度的下限。
45?89)0 透厚度WSmm注：L —铜及铜合金；2—■钢；3—钛及钛合金；4—铝及铝合金'图1不同透照厚度允许的X 射线最高透照管电压203040506070100Z 200皿兀6050;203.出创甑幌曙名松€表4丫射线源和能*IMeV以上X射线设备的透照厚度范围（钢、不镌钢、锦合金穿）采用源在内中心透照方式，在保证像质计灵敏度达到4.11.3要求的前提下，允许Y射线最小透照厚度取表4下限值的二分之一。
采用其他透照方式，在采取有效补偿措施并保证像质计灵敏度达到4.11.3要求的前提下，经合同各方同意，A级、AB级技术的lr-192源的最小透照厚度可降至10mm，Se-75源的最小透照厚度可降至5mm。
•关于Se-75源：主要由四种线谱（能量）组成，0.13/0.27/0.281/0.405，平均能量0.226，半衰期120天，价格较lr-192源贵，主要适用于压力管道的安装和在用检测（X射线难于满足工期及全位置检测的要求，lr-192源最小透照厚度难于满足要求）。
通常情况下，射线能量的选择原则：在保证穿透的前提下，选择能量较低的射线，以保证射线照相灵敏度。
选择能量较低的射线可以获得较高的对比度，却意味着较低的透照厚度宽容度。
对于透照厚度差较大的工件将产生很大的底片黑度差，底片黑度值超出允许范围。
因此，在透照厚度差较大的工件时，选择射线能量还必须考虑得到合适的透照厚度宽容度，即适当选择较高一点射线能量。
4.3.2焦距1、焦距对射线照相质量的影响焦距（F、f）对照相灵敏度的影响主要表现在几何不清晰度上。
由几何不清晰度定义（定义式：U="•b（或U=匕）可知，焦距F越大，U值越小，底（F-b）g f片上的影象越清晰。
2、焦距的选择为保证射线照相的，标准对透照距离的最小值作出了限制。
JB/T4730.2-2005规定透照距离f与焦点d和工件表面b应满足以下关系：检测技术等级透照距离L1几何不清晰度U值gA级fM7.5d•b2/3UW2/15b i/3gAB级fM10d•b2/3UW1/10b i/3gB级fM15d•b2/3UW1/15b i/3g2由于焦距F=f+b，所以上述关系式也就限制了F的最小值。
f可通过上列关系式计算（有效焦点尺寸d随机提供，b已知），也可利用标准中的诺模图查出。
-50Qr400k300i[1r200氓r100晅r8ft星—60孑50r4D230r芒io-\S3AB级射线检测技术确定焦点至工件衷面距离的诺糅團实际透照时一般并不采用最小焦距值，所用的焦距比最小焦距要大得多。
这是因为透照场的大小与焦距相关。
焦距增大后，匀强透照场范围增大，这样可以得到较大的有效透照长度同时影象清晰度也进一步提高。
但是焦距也不能太大，因为焦距增大后，按原来的曝光参数透照得到的底片其黑度将变小。
若保持底片黑度不变，就必须在增大焦距的同时增加曝光量或提高管电压，而前者降低了工作效率，后者将对灵敏度产生不利的影响。
影响焦距选择的因素：检测技术级别、焦点尺寸、工件厚度（透照方式）焦距的选择有时也与试件的几何形状以及透照方式有关。
例如，为得到较大一次透照长度和较小的横裂检出角，在双壁单影法透照环缝时，往往选择较小的焦距，极限情况下，焦距就是筒体的外径。
采用源在内中心透照方式周向曝光时，只要得到的底片质量符合4.11.2（黑度）和4.11.3（像质计灵敏度）的要求，f值可以减小，但减小值不应超过规定值的50%。
采用源在内单壁透照方式时，只要得到的底片质量符合4.11.2和4.11.3的要求，f值可以减小，但减小值不应超过规定值的20%。