嵌入式测试方案及高速测试技术
IDDQ测试原理及方法
电流测试1 电流测试简介功能测试是基于逻辑电平的故障检测，逻辑电平值通过测量原始输出的电压来确定，因此功能测试实际上是电压测试。
电压测试对于检测固定型故障特别是双极型工艺中的固定型故障是有效的，但对于检测CMOS 工艺中的其他类型故障则显得有些不足，而这些故障类型在CMOS 电路测试中是常见的对于较大电路，电压测试由于测试图形的生成相当复杂且较长，因而电流测试方法被提出来电流测试的测试集相当短，这种测试方式对于固定型故障也有效。
CMOS 电路具有低功耗的优点，静态条件下由泄漏电流引起的功耗可以忽略，仅表示，Q 代表静态在转换期间电路从电源消耗较大的电流。
电源电压用VDD（quiescent) ，则IDDQ 可用来表示MOS电路静态时从电源获取的电流，对此电流的测试称为IDDQ 测试，这是一种应用前景广泛的测试。
IDDQ 测试概念的提出时间并不很长，但自半导体器件问世以来，基于电流的测量一直是测试元器件的一种方法，这种方法即所谓的IDDQ 测试，用在常见的短接故障检测中。
自从Wanlsaa 于1961 年提出CMOS 概念, 1968 年RCA 制造出第一块CMOS IC 和1974 年制造出第一块MOS 微处理器以来，科研人员一直研究CMOS 电路的测试，而静态电流测试则作为一项主要的参数测量1975 年Nelson 提出了IDDQ 测试的概念和报告，1981 年M.W Levi 首次发表了关于VLSI CMOS 的测试论文，这就是IDDQ 测试研究的开端。
其后，IDDQ 测试用来检测分析各种DM0S 缺陷，包括桥接故障和固定型故障1988 年W.Maly 首次发表了关于电流测试的论文, Levi, Malaiya, C.Crapuchettes, M.Patyra , A .Welbers 和S.Roy 等也率先进行了片内电流测试的研究开发工作，这些研究奠定了IDDQ 测试的基础、1981 年Philips semiconductor 开始在SRAM 产品测试中采用片内IDDQ 检测单元，其后许多公司把片内IDDQ 检测单元用在ASIC产品中，但早期的IDDQ 测试基本上只为政府、军工资助的部门或项目所应用。
基于TEmb和V模型的嵌入式软件测试方案
境 和开发 平 台等 。 通用 元素是 所有 结构化 测试过 程 的基础 ．而结 构化 测试包 含 四个通用 元素 ：
集成 测试
１ 生命 周 期 （ ｉ ｃｃｅ 它定 义必 须进 行 哪些 活 ． Ｌｆ ｙｌ） ｅ
动 以及 按照 什么顺 序来 执行 。 ２ 技术 （ ｅｈ ｉｕ ） ． Ｔ ｃ ｎｑ ｅ 它解 决 的是 如何 做 的 问题 ， 通 过制 定 出标 准化方 法来 执行特 定 的活动 。
‘ 一
图 １ ｒ ｍｂ 方 法 概 览 ｅ
的 ，而在 实际开 发工作 中 ，每个 阶段都 是彼此 交互
的 ， 没有严 格 的区分 。 而
需求分 析
入式 系统 ．根据 所完
成 的功 能不 同 ， 而采 取 的相 对应 的具体 测试 工具 ， 环
型 和最 终产 品 ） 遵 循 一个 完 整 的 Ｖ 型开 发 周 期 ． 都
包 括设 计 、 发 和 测 试 活动 。在 设 计 、 开 开发 和测 试
活 动 的 任何 一 个 环 节 ，都要 考 虑 以上 四个 通 用 元 素 。即嵌 入式 软 件 开发 测试 过 程 ， 乎都 采 用此 模 几 型 ． 本 文 利 用 Ｔ ｍｂ方 法 的 思 想 ． Ｖ模 型 的各 故 Ｅ 从 个 阶段 提 取 通用 元 素 ．但 是 传 统 的 Ｖ模 型在 集 开
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谚
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特 定方 法
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测试 是 存 在 于整 个 软件 开 发 的过 程 中 的 ． Ｖ模 型 中
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Ⅱ 》
专用 的测试 方法
的 各个 开 发 测 试 阶 段 都 是 以 独立 的方 式体 现 出来
巧妙测试嵌入式USB2.0主机接口信号质量-基础电子
巧妙测试嵌入式USB2.0主机接口信号质量-基础电子摘要: 本文主要讨论了某款嵌入式产品中USB2.0主机接口的眼图测试。
通过一个测试展开了对USB2.0测试机理的探讨，对后续的嵌入式产品USB2.0主机测试有一定的参考意义。
在高速串行技术如此广泛应用的今天，简单易用的USB堪称是PC平台上成功的I/O技术，普及率几乎100％。
而且随着终端用户对于高速USB设备应用需求的不断增加，越来越多的嵌入式通信类终端产品开始增加了USB2.0主机接口的设计以满足客户的应用需求。
成熟的应用技术由PC平台转向嵌入式平台的已经成为一种趋势。
为了满足USB2.0一致性应用的需求，所有的USB2.0设计都必须满足USB IF发布的USB2.0物理层一致性测试要求。
相对于比较成熟的PC平台USB2.0 主机测试技术而言，基于通信类终端的嵌入式USB2.0 主机的测试面临更多的挑战。
特别是进行二次开发的应用厂商而言，如何满足USB2.0物理层一致性测试要求，很大程度上需要原厂在测试模式以及测试封包方面提供更多的支持。
但应用需求的多样化导致了许多设计架构脱离了原厂的测试状态机控制范畴，问题接踵而来。
嵌入式USB2.0主机测试具体过程本文中的USB控制主机采用某大型通讯类方案提供商的IAD 解决方案，片内集成一个USB2.0控制器，然后通过一个USB HUB中继对外提供２个高速主机接口。
所选用的测试设备如表1所示。
表1：嵌入式USB 2.0主机测试所采用的测试设备测试中出现的问题本次测试将主要验证产品上两个USB高速主机接口的眼图。
对于USB2.0物理层的眼图测试，USB IF在USB2.0 SPEC中有着明确的眼图，模板定义如图2所示。
F1: DUT_USB2.0功能框图F2: 传输信号波形模版关于USB高速主机眼图测试的测试方法，USB IF在USB2.0 SPEC中也有清晰的定义，USB2.0主机控制器必须支持规定的测试模式。
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混 合信号 示波器是 在普通 示波器
品， 从家庭 中使用 的 电子时钟 、 数控 电
熨 斗、 温控 咖啡壶 ， 以及 ＭＰ ３播 放器 、
线 ，对 于嵌 入式系统 和混 合信号 调试 上 增加 了 １ ６条逻 辑通道 ， 有的操作 所
方面 也有很 多 的解 决方 案，包括对 于 和 示波器 基本类似 。混 合信 号示 波器 复杂 系统调 试 的逻 辑分 析仪 ，以及 带 之 所 以能够成 为嵌入式 调试 的首 选工 有示波 器模 块 的逻 辑分析 仪 。此外 泰 具 ， 因为其操 作和设置 简单， 能指标 性
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Ｔ ｋ ｒ ｎｘ ａ － ｉ ｅ Ｅｍ ｂ ｄ ｅ ｙ ｔ ｍ ｂ ｇ ｉｇ ｌ ｔ ｎ ｅ ｔｏ ｉ Ｒｅ ｌＴｍ ｅ ｄ ｄ Ｓ ｓ ｅ Ｄｅ ｕ ｇ ｎ Ｓｏ ｕ ｉ ｏ Ｅｎ ｂ ｉｇ ｎ ａ ｉ ｎ Ｆ ｆＹ ｕ ｓｇ ａ ｌ Ｉ ｏｖ ｔ ｏ ｏ ｒＤｅ ｉ ｎ ｎ ｎ ｏ
试多条总线 是远远 不够 的。 针对这样 的 用起来， 帮助工程师快速地检索波形。
世 界 电 子 元 器 件 ２ ０７１ ｇｅ ｅ ０ ．１ ｃ．ｃｃｎｃ ｎ ．ｏｒ
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另外 ，Ｍ Ｏ４ ０ Ｓ ０ ０系列里标配了 １ ６通道 电路 设计 中面 临的 问题 ，由于信 号布
最小毛刺脉冲宽度可 以做到 １ ｎ 。 ． ｓ ５ 大部 分的测试需求 ； 此外 ， 由于 工程师 率， 对示 波器熟 悉， 比较 相信示 波器 的测 此 外泰 克还 提供 了模拟和 数字通道 间 量结果 。
还会包含 嵌入 式 Ｃ Ｕ调 试，电源调 试 Ｐ
也 日益 成为一 个重要 因素 ，很 多便携
嵌入式软件测试工具
高性能嵌入式软件测试工具—— CodeTEST作为全球第一台专为嵌入式系统软件测试而设计的工具套件，CodeTEST为追踪嵌入式应用程序，分析软件性能，测试软件的覆盖率以及存储器的动态分配等提供了一个实时在线的高效解决方案。
CodeTEST同时还是一个可共享的网络工具，它将给整个开发和测试团队带来高品质的测试手段。
CodeTEST能同时测试出软件的性能，代码覆盖率以及存储器动态分配，捕获函数的每一次运行，无论是在检测一个局部的软件模块还是整个软件系统测试，工程师只须简单地将CodeTEST的仿真探头(probe)连接到目标系统的处理器、总线或接头上，预处理待测的源程序，启动CodeTEST，运行测试处理软件，测试结果即可在测试进行过程中或在测试结束后随时翻阅。
CodeTEST可同时监视整个应用程序，避免了选择程序的哪部分来进行观测以及如何配置相应工具对各部分进行测试时而带来的麻烦，即便是在程序超出高速缓存(cache)或被动态再分配时，CodeTEST仍能生成可靠的追踪及测试结果。
CodeTEST采用了专利--插桩技术为嵌入式开发者设计了高性能的测试工具 CodeTEST系列产品包括三种嵌入式软件测试和分析工具：a. CodeTEST Nativeb. CodeTESTSoftware-In-Circuitc. CodeTEST Hardware-In-Circuit。
其中每一种工具代表了嵌入式系统开发的每一个周期的不同开发阶段CodeTEST系统软件包括以下四个模块:a) 性能分析（Performance）：CodeTEST 能够同时对多达128000个函数进行非采样性测试，精确计算出每个函数或任务（基于RTOS 下）的执行时间或间隔，并能够列出其最大和最小的执行时间。
对于每两个函数或任务之间的调用也能够计数，从而确认出其中失败的调用和调用次数。
CodeTEST的性能分析功能也能够为嵌入式应用程序的优化提供依据，使软件工程师可以有针对性地优化某些关键性的函数或模块，以及改善整个软件的总体性能。
力科推出UART、RS232和LIN触发和解码功能扩大嵌入式测试解决方案
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大多 数嵌入式 系统包 括各种 各样 的不 同外 设 ，微控 制器 和这
些 外设之 间正确通信至 关重要 。为帮助设 计和调试这些 通信 线路 ，
Ｗａ ｅ ｕ ｎｒＸ 和 Ｗａｅ ｕｆｒＸｓ混合信号 示波器为各种协议提供 ｖ Ｒ ｎ ｅ ｉ ｖＳ ｒ ｅ 了串行数据触发和解码解决方案 。 ＵＡ Ｔ和 Ｒ ２ ２ Ｒ Ｓ ３ 解决 方案可 以同时触发 和解码 Ｒ ２ ２ 号和 Ｓ３ 信
（ 科 公 司 供稿 ） 力
安捷伦设计验证部总经理 ＪｙＡ ｅ ａｄ ｒ 出 ：“ ａ ｌｘ ｎｅ 指 工程师需要拥 有能够 应对今天复杂设计挑战 的工 具。新的 Ａｇｌｎ ５ ０ ｉ ｔ ０ ０系列示波 ｅ 器 以深存储器 、高 分辨 率显示 系统和 优异 的波形捕 获率 满足 工程 师 的需 要 。不 仅帮 助工程 师在 产品交 付客 户前找到 设计 瑕疵 ，同 时也提高了 自身的生产能 力。 ” 安捷 伦 网络 和数 字 解 决 方 案事 业 部 副总 裁 兼 总 经理 Ｄａ ｉ ｖｄ Ｃ ｕｃｉ 说 ：“ ｈ ｒｈｌ ｌ 这一通 用便携式 示波器市场段 在过去 ８年中很少看 到技术 创新 。安捷 伦在最 近几 年示波 器上 的创新使 它成 为这 一领 域 连续 ６年增 长最 Ｉ 央的示波器厂商 ［ 资料来源 ：Ｐｉ Ｄａ ］ ｒ ｍｅ ｔ 。Ａｇ— ａ ｉ ｌｎ ０ ０系列为庞大的市场提供科技创新 ，这也 为安 捷伦 创造了广 ｅｔ ０ ５ 阔的发 展空问 。 ” 为更便于客户使用 ，Ａ ｉ ｎ ０ ０系列 示波器也集成了全套外 ｇｌ ｔ ０ ｅ ５ 围接 口，而且这些接 口都是标准配置 ，包括 前后面板 的 Ｕ Ｂ端 口 、 Ｓ
一
深度 ，２６ ５ 级辉度的高清 晰显 示和极具竞 争力的价格为全球 示波器
嵌入式系统软件测试及测试案例开发
嵌入式系统软件测试及测试案例开发测试是传统软件开发的最后一步。
整个软件开发过程，需要收集要求、进行高层次的设计、详细设计、创建代码、进行部分单元测试，然后集成，最后才开始最终测试。
最佳的开发实践应包含代码检查这个步骤。
然而代码检查一般只能找出70%的系统错误，因此完美的测试环节绝对必不可少。
测试就像个复式记帐系统，可以确保将缺陷扼杀在最终推出的产品之前。
在所有其它的工程实践中，测试都被视为基本环节。
比如，在美国，每一座联邦政府出资修建的桥都必须经过大量的风洞测试。
而在软件领域，测试并没有很受重视。
尽管测试是所有工程实践准则的关键部分，但编写测试程序却感觉是在浪费时间。
好在嵌入式系统设计界内的许多领域已经将测试作为其工作的核心部分，他们认识到将这个关键步骤放在项目末期极不明智，因而主张同步地编写测试程序和应用程序。
嵌入式系统软件测试在诸多方面都与应用软件测试一样。
不过，应用测试与嵌入式系统测试之间还是存在一些重要差异。
嵌入式开发人员一般会用到基于硬件的测试工具，而这类工具通常不会用于应用开发过程中。
此外，嵌入式系统一般都有些独一无二的特性，这些特性应该在测试计划中得以体现。
本文将介绍测试和测试案例开发的基础知识，并指出整个嵌入式系统测试工作的特有细节。
何时测试以及如何测试从图1可以看出，在可行的条件下，测试应尽早展开。
一般来讲，最早的测试是由最初的开发人员进行的模块或单元测试。
遗憾的是，开发人员大多对如何建构一整套测试例程以进行测试所知不足。
由于精心设计的测试例程通常直到集成测试时才能使用，因此许多在单元测试过程中就能找出的缺陷直到集成测试时才会被发现。
比如，硅谷的一家大型网络设备厂商为找出其软件集成问题的关键原因，进行了一项研究。
这家厂商发现，在项目集成阶段找出的缺陷中，有70%是由在集成之前从没被执行过的程序所产生的。
图1：改正问题的成本。
单元测试：开发人员在单独进行模块级测试时一般是编写存根代码（stub code）取代余下的系统软硬件。
嵌入式软件测试技术与方法
摘
要 ：随着 电子信 息技 术的 不 断发展 ，嵌 入 式 系统 得 到 广 泛 的应 用 ，硬 件 的规 格 和 复 杂度 不
断提 高，软件代码 日益复杂，系统的高可靠性要求给软件测试 工作 带来 了挑 战。针对此特点本
文介 绍 了如 何在 嵌入 式软件 的 生命 周 期 内对嵌入 式软件 进行 全 面测试 的技 术与 方法 。 关键 词 ：软 件测 试 ；嵌 人式 软件 ；覆盖 分 析 ；内存泄露
０ 引 言
随着电子信息技术的不断发展， 嵌入式 系统在 航空 航 天 、 工业 控 制 、 医疗 器 械 、 通讯设备、 汽车、 智 能家 电等领域 得到 广 泛 的应 用 ， 硬 件 系 统 的规 模 和 复杂度不断提高， 软件代码 日 益复杂 ， 系统一旦失效 会 给人 们 的生产 和生 活造 成 很 大 的损 失 ， 甚 至 威 胁
相对于传统软件除了功能、 性能 ， 可靠性是嵌入式软
件测 试必须 考 虑 的 问题 。相 似 的功 能 要求 、 相 似 的 软硬 件 ， 在 不 同的运行 环境下 ， 会有 不 同的可靠 性设 计要 求 。例 如 ， 定位系统 ， 用在 载 人 航天 对 接 上 ， 如 果 出错不仅 会导 致对 接 的失 败 ， 甚 至会 威胁 航 天 员
到人 的 生命 安 全 。因 此 为 了保 障 系 统 正 常稳 定 运
时候 需要 投入 大量 的精 力 ， 有 时甚 至在 市 场上 很 难 找 到适应 的测 试工 具 ， 这 种情 况 下 就需 要 自己进 行
工具 开发 。针 对这 样 的情 况 ， 在 进 行测 试 的 时候 要
合理 安排 测试 环境 ， 一 定 要在 开 发 环境 下 进行 充 分 的测 试后 ， 再 移 植 到 目标 环 境 下 进行 最 终 的 确 认 。
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嵌入式测试方案及高速测试技术
前言
目前，在许多应用领域，例如处理器、移动电话、调制解调器等产品，SOC技术已经成为主要的研究方向。
这类SOC芯片整合了数字逻辑电路、模拟电路、内存模块以及知识产权（IP）核，甚至将微处理器、外围接口、通信模块皆能包括于一芯片中。
SOC芯片的应用，对于提升系统性能、减少系统能耗、降低系统的电磁干扰、提高系统的集成度都有很大的帮助，顺应了产品轻薄短小的趋势。
安捷伦公司推出的93000 SOC测试系统，完全满足业界需求，对于高速数字电路、嵌入式内存、混合信号测试都提出了有效的解决方案。
嵌入式内存测试嵌入式内存是SOC芯片不可或缺的组成部分，因此其测试以及分析的方法也就相当重要。
93000 SOC测试系统在内存的测试上，无须额外的硬件，可直接将高速数字测试通道，作为内存测试之用，以达到全速测试的目的，同时在运行中切换逻辑与内存测试，能有效提高产率，并进一步作冗余分析和修补。
嵌入式内存测试
嵌入式内存是SOC芯片不可或缺的组成部分，因此其测试以及分析的方法也就相当重要。
93000 SOC测试系统在内存的测试上，无须额外的硬件，可直接将高速数字测试通道，作为内存测试之用，以达到全速测试的目的，同时在运行中切换逻辑与内存测试，能有效提高产率，并进一步作冗余分析和修补。
内存测试与除错
首先，在93000提供的APG（算法图码发生器）软件中，我们可以描述出。