半导体测试系统

YB6500高速多用途半导体分立器件测试系统广泛应用于航天、航空、兵器、中船、电子多个领域，以产品性价比好、可测器件和参数齐全、测试精度高、速度快、保护性强、稳定性可靠性高、故障率极低、软件丰富、操作使用方便、售后服务为宗旨。

1、电学指标
A-K 极间加压范围: ±2.500mV--2000V A-K 极间测流范围: ±1nA--49.90A
A-K 极间加流范围: ±100nA--49.90A
A-K 极间测压范围: ±2.500mV--2000V
G-K 极间加压范围: ±2.500mV--20V
G-K 极间测流范围: ±1nA--10A
G-K 极间加流范围: ±100nA--10A
G-K 极间测压范围: ±2.500mV--20V
最大电压分辨率: 1mV
最大电流分辨率: 1nA
A-K 极间加/测压精度: 1%+10mV
A-K 极间加/测流精度: 1%+10nA+20pA/V
G-K 极间加/测压精度: 1%+5mV
G-K 极间加/测流精度: 1%+10nA+20pA/V
电参数测试重复性： 1%
2、可测试器件（DUT）种类共计19大类, 27分类分立器件。

序号类型名称符号
1 二极管DIODE
2 稳压（齐纳）二极管ZENER
3 晶体管TRANSISTOR（NPN/PNP）
4 单向可控硅（普通晶闸管）SCR
5 双向可控硅（双向晶闸管）TRIAC
6 金属-氧化物-半导体场效
MOSFET（N-CH/P-CH）
应管
7 结型场效应管J-FET（N-CH/P-CH）
8 绝缘栅双极大功率晶体管IGBT（N-CH/P-CH）
9 达林顿阵列器件DARLINGTON
10* 光电耦合器OPTO-COUPLER（NPN/PNP）
11* 光电逻辑器件OPTO-LOGIC
12* 光电开关管OPTO-SWITCH
13* 固态过压保护器SSOVP
14* 硅触发开关STS，SBS
15* 继电器RELAY（A，B，C型）
16* 金属氧化物压变电阻MOV
17* 压变电阻VARISTOR
18* 双向触发二极管DIAC
19* 三端稳压器REGULATOR
* 需要另行定制专门的测试适配器和测试夹具。

1)、二极管DIODE
IR；BVR ；VF
2)、晶体管TRANSISTOR
ICBO；ICEO；ICER；ICES；ICEV；IEBO；BVCEO (电流大于10mA，脉冲宽度300us)；BVCBO；BVEBO；hFE；VCESAT；VBESAT；VBE(VBEON)；RE(间接参数)；
3)、J型场效应管J-FET
IGSS；IDOFF；IDGO；BVDGO；BVGSS；VDSON，VGSON；IDSS；IDSON；RDSON；GFS；VGSOFF
4)、MOS场效应管MOS-FET
IDSS；IDSV；IGSSF；IGSSR；VGSF；VGSR；BVDSS；VGSTH；VDSON、VF(VSD) IDON；VGSON；RDSON；GFS
5)、双向可控硅开关器件（双向晶闸管）TRIAC
IDRM；IRRM；IGKO；；VD+；VD-；BVGKO；VT+ ；VT-；IGT；VGT ；IL+；IL-；IH+；IH-
6)、单向可控硅整流器（普通晶闸管）SCR
IDRM；IRRM；IGKO；VDRM；VRRM；BVGKO；VTM；IGT；VGT；IL；IH
7)、绝缘栅双极大功率晶体管IGBT
ICES；IGESF；IGESR；BVCES；VGETH；VCESAT；ICON；VGEON；VF；GFS
8)、硅触发可控硅STS
IH+；IH-；VSW+ ；VSW-；VPK+ ；VPK-；VGSW+；VGSW-
9)、达林顿阵列DARLINTON
ICBO；ICEO；ICER；ICES；ICEX；IEBO；BVCEO；BVCER；BVCEE；BVCES ；BVCBO；
BVEBO；hFE ；VCESAT；VBESAT；VBEON
10)、光电耦合器件OPTO-COUPLER
ICOFF、ICBO；IR；BVCEO；BVECO；BVCBO；BVEBO；；CTR；hFE；VCESAT；VSAT；VF(Opto-Diode)
11)、稳压二极管、齐纳二极管ZENER
IR；BVZ；VzMIN；IR；VF；ZZ
12)、三端电源稳压器件REGULATOR
V o Input；Output ；IIN；
13)、光电开关管OPTO-SWITCH
ICOFF；VD；IGT；VON；ION ；IOFF
14)、光电逻辑器件测OPTO-LOGIC
IR；VF；VOH；VOL；IFON；IFOFF；ITH+B；ITH-B；ITH+I；ITH-I；
15)、金属氧化物压变电阻MOV
ID+ ID-；VN+；VN-；VC+ ；VC-
16)、固态过压保护器SSOVP
ID+ ID-；VCLAMP+, VCLAMP-；VT+、VT-；IH+、IH-；；IBO+ IBO-；VBO+ VBO-；VZ+ VZ- ；VT+ VT-；
3、技术特征
该系统产品为供方引进的合作技术项目，功率电源等方面采用新的航天技术做了改进，各项技术指标同于进口产品，测试稳定性、可靠性高于进口产品，故障率明显低于进口产品。

代表了目前国际先进技术水平。

具有下面特征：
* 采用嵌入式计算机，运行速度快，扩展能力强，实现脱机运行；
* 采用高速16位并行D/A、A/D和专用并行内部总线技术设计，速度快、稳定性高；
* 采用脉冲法测试参数、脉宽可为300μS，占空比可达1/3000以上；
* 采用多级开尔文技术，系统稳定性高，测试结果准确，重复性好；
* 在线系统状态、测试结果、故障定位显示功能，使得使用方便简单；
* 完整的系统自检、校准能力，10分钟将系统故障定位到元件级，30分钟完成系统精度检测；
* 完整的软、硬件升级/扩展功能；
* DUT引腿接触性测试、加压限流能力、A-K短路保护、过压/过流保护
能力，保证了系统安全，有效防止DUT损伤；
* 关键元器件均采用进口原装，精密电阻采用国产军级，全部采用进口
装湿型继电器，装焊工艺现已采用航天工艺线代工，保证系统可靠性高于进口产品；
* 二极管极性自动判别功能，不需人工关注极性，提高操作速度，减少失误；
* 填表式编程，3分钟内即可完成一个新器件编程；
* 混合参数编程方式，使电参数测试编程不受器件类别的限制，支持技术人员实现分析编程；
* 单参数测试延时功能，用户可根据需要选择参数测试延迟时间，增加参数测试稳定性；
* 提供系统内部流性负载、阻性负载选择和外部负载接口，最大极限地满足测试需求；
* 计算步功能，允许将任意测试程序步的测试结果列式计算，形成新的参数，方便新参数定义；
* 分类、分档功能，以便通过编程确定DUT的同异性，测试后自动分类、分档、配对等，提高DUT使用价值；
* 单步测试功能，用于对单个参数进行测试，同时将测试结果值在前面板上显示，方便在线分析；
* 完整的其它后测试处理能力；
* 所有测试夹具进行了误差补偿和噪声抑制设计。

4、说明：
a、测试方法符合IEC 60747-5-3-1997标准、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法，美国军标标准；
b、提供上述各类器件测试所用的不同封装形式的测试夹具和测试适配器；
c、可以定做各种阵列、组合封装、表贴器件的测试夹具；
d、帮助用户开发各种器件的测试程序。