试验原理多晶X射线衍射仪结构示意60140100806040200
x射线多晶衍射测试原理及样品制备要求
5000
4000
3000 2000 1000
0 20
Y-(Fe,Ni) (200) Ni (200)
Y-(Fe,Ni) (311)
Ni (311) Ni (222)
40
60
80
100
2/degree
FeNi非晶粉末
I
50
40
30
20
10
0
10
20
30
40
50
60
70
80
90
100
衍射角
In situ HTXRD of Mg–Al–CO3 LDH as a function of temperature
独山玉x射线衍射测试结果
天然膨润土定量分析图
石英
Ni44Fe56合金薄膜镀态和退火处理后 微观结构比照
Intensity/arb.unit Intensity/arb.unit
1600
Ni44Fe56 1400 as-deposit
1200
1000
800
600
400
200
0
0
20
Y-(Fe,Ni) (111) Ni (111)
2、金属样品如块状、板状、圆拄状要求磨出一个平面，面 积不小于10×10毫米。
3、粉末样品要求磨成可以通过250~300目筛子的粒度，约50 微米。粒度粗大衍射强度底，峰形不好，分辨率低。
4、 粉末样品要求在3克左右，如果太少也需5毫克。 5、 样品可以是金属、非金属、有机、无机材料粉末，但要
求提供样品主要成份。 6、 对于不同基体的薄膜样品，X射线测量的膜厚度约20个纳
药物氟哌酸
谢谢大家！
x射线衍射仪的原理及应用实验报告
x射线衍射仪的原理及应用实验报告1. 引言x射线衍射仪是一种常见的科学实验设备，用于研究材料的晶体结构和晶体学性质。
本实验报告旨在介绍x射线衍射仪的原理和应用。
2. 原理x射线衍射仪的原理基于x射线通过晶体产生衍射现象。
当x射线穿过晶体时，与晶体中的原子发生作用，产生衍射图样。
根据衍射图样，可以推断晶体的晶体结构和晶胞参数。
x射线衍射的原理可以用下列公式描述：2dsinθ = nλ其中，d是晶体的晶面间距，θ是x射线入射角度，n是衍射级数，λ是x射线波长。
通过测量衍射角度以及已知的波长和衍射级数，可以计算出晶体的晶面间距。
3. 实验步骤本实验使用x射线衍射仪进行实验，以下是实验步骤：1.准备样品：选择一个单晶样品或者多晶样品，将其固定在样品台上。
2.调整仪器：调整x射线衍射仪的位置、角度和焦距，确保x射线能够准确地照射到样品上。
3.测量衍射角度：将样品台转动，使得x射线通过样品，观察衍射图样，并使用角度测量仪测量衍射角度。
4.计算晶面间距：根据测量得到的衍射角度、已知的波长和衍射级数，计算晶体的晶面间距。
5.分析结果：根据实验结果，分析样品的晶体结构和晶胞参数。
4. 应用4.1. 材料科学x射线衍射仪在材料科学研究中发挥着重要的作用。
通过衍射图样，可以了解材料的晶体结构和晶胞参数，进而研究材料的物理和化学性质。
例如，可以通过x射线衍射仪研究新型材料的晶体结构，以发现其特殊的物理性质。
4.2. 药物研发在药物研发领域，x射线衍射仪被广泛用于研究药物的晶体结构。
通过了解药物的晶体结构，可以了解药物的稳定性、溶解性、活性以及药物与受体的相互作用方式等，为药物设计和研发提供重要的指导。
4.3. 新能源材料x射线衍射仪也被用于研究新能源材料的晶体结构。
通过研究材料的晶体结构，可以了解材料的电子结构和离子导电性能，为新能源材料的研发提供重要的理论依据。
5. 结论x射线衍射仪是一种重要的实验设备，利用x射线衍射原理可以研究材料的晶体结构和晶胞参数。
用X射线衍射仪进行多晶体物质的相分析
实验一 用X 射线衍射仪进行多晶体物质的相分析一 实验目的1 概括了解x 射线衍射仪的结构与使用。
2 练习用PDF(ICDD)卡片及索引对多晶物质进行相分析二 实验原理1 X 射线衍射原理1.1 衍射现象x 射线照射到晶体上产生的衍射现象实质上是x 射线与电子交互作用的结果。
由于晶体空间点阵结构的周期性，入射x 射线被晶体的各个原子中的电子散射，产生了与入射x 射线相同波长的相干散射波，这些相干散射波之间相互干涉叠加的结果即为所观察到的宏观衍射现像。
如图1-1，设有两个任意的阵点O 、A ，取O 为坐标原点，A 点的位置矢量r=ma+nb+pc ，即空间坐标为（m,n,p ），S0和S 分别为入射线和散射线的单位矢量，散射波之间的光程差为:)(00S S r S r S r MA ON -=⋅-⋅=-=δ其位相差为：图1-1任意两阵点的相干散射1.2布拉格定理布拉格方程2dsin θ=n λ)(S0-22pc nb ma k r k r S ++=⋅===Φλπδλπ图1-2 布拉格定理示意图式中：n为整数，称为反射级数；θ为入射线或反射线与反射面的夹角，称为掠射角，由于它等于入射线与衍射线夹角的一半，故又称为半衍射角，把2θ称为衍射角。
2 X射线衍射仪结构X射线衍射仪一般由下面几部分构成1 X射线发生器；2衍射测角仪；3辐射探测器；4测量电路；5控制操作和运行软件的电子计算机系统本实验所用的X射线衍射仪为X'Pert PRO X射线衍射仪。
图1-3 X'Pert PRO X射线衍射仪产品型号: X'Pert PRO生产厂家:荷兰帕纳科公司PANalytical B.V.（原飞利浦分析仪器）仪器介绍:X'Pert PRO X射线衍射仪采用陶瓷χ光管、DOPS直接光学定位传感器精确定位和最优化的控制台及新型窗口软件。
采用模块化设计，可针对不同的要求采用最优的光学系统，从而得到最佳的实验数据，达到最高的实验效率。
XRD-X射线衍射仪专题实验讲义
实验八、 X射线衍射仪的原理及应用一.【实验题目】X射线衍射仪的原理及应用二.【实验目的及要求】学习了解X射线衍射仪的结构和工作原理；掌握X射线衍射物相定性分析的方法和步骤；了解X射线衍射物相定量分析的原理和方法；了解X射线衍射精确测定晶胞参数的方法；应用Scherrer公式求粉末多晶的平均粒径；给定实验样品，设计实验方案，做出正确分析鉴定结果。
三.【实验原理】对某物质的性质进行研究时，不仅需要知道它的元素组成，更为重要的是了解它的物相组成。
X射线衍射方法可以硕士对晶态物质进行物相分析的最权威的方法。
每一种结晶物质都有各自独特的化学组成和晶体结构。
没有任何两种物质，它们的晶胞大小、质点种类及其在晶胞中的排列方式是完全一致的。
因此，当x射线被晶体衍射时，每一种结晶物质都有自己独特的衍射花样，它们的特征可以用各个衍射晶面间距d和衍射线的相对强度I／I0来表征。
其中晶面间距d与晶胞的形状和大小有关，相对强度则与质点的种类及其在晶胞中的位置有关。
所以任何一种结晶物质的衍射数据d和I／I0是其晶体结构的必然反映，因而可以根据它们来鉴别结晶物质的物相。
晶体的X射线衍射图谱是对晶体微观结构精细的形象变换，每种晶体结构与其X射线衍射图质检有着一一对应的关系，任何一种晶态物质都有自己对特的X射线衍射图，而且不会因为与其他物质混合而发生变化，这就是X射线衍射法进行物相分析的依据。
根据晶体对X射线的衍射特征－衍射线的位置、强度及数量来鉴定结晶物质之物相的方法，就是X射线物相分析法。
四.【实验仪器】本实验使用的仪器是XRD－2 X射线衍射仪(普析通用制造)。
X射线多晶衍射仪 (又称X 射线粉末衍射仪) 由X射线发生器、测角仪、X射线强度测量系统以及衍射仪控制与衍射数据采集、处理系统四大部分组成。
下图示出了X射线多晶衍射仪的构成方块图。
图一、X射线多晶衍射仪构造示意图1.X 射线发生器X 射线多晶衍射仪的X 射线发生器是高稳定度的。
X射线衍射仪的构造与操作
图 3.测角仪构造示意图及照片
实验内容和步骤
1.制备试样 将待测粉末(或块状)样品用一样品盛放片盛放,将样品轻轻压紧刮平,固定,,就可插到衍射仪的样 品台上进行扫描测试. 2.辐射的选择 不管是哪种方法,其辐射的选择原则相同.根据化学成分的原则,阳极靶面材料的原子序数 Z最好比 被测物质的原子序数Z小1-2或相等,即 Z靶以减少荧光辐射和降低背底. 3.探测器的选择 衍射仪选用采用计数率的闪烁计数器SC-70,可以实现70万CPS的计数线性. 4.测量参数的选择 测量参数的选择应该说比较繁复,它包括光阑,时间常数,扫描速度,倍率等,受很多因数制约,只能 靠实验的积累. 5数据采集：执行C:\xrdc\xrdc按界面提示操作。 6．数据处理与分析：先执行C：XRDC\Y4toXD将采集的数据文件转换成目标文件，然后再执行开始 -——程序——XRDS，以打开目标文件。按程序界面提示进行数据处理与分析。 衍射实验： 对待测样品进行衍射实验,电脑显示衍射谱图. 五. 安全防护 X射线对人体有害,应尽量防止和减少对人休的照射,特别是直接照射.因此X射线衍射仪安装有铅玻 璃防护罩,所处的房间其墙内容主要部件简述x射线管是x射线产生装置由玻璃外罩将发射x射线的阴极与阳极密封在高真空105107mmhg中的管状装置阴极
X射线衍射仪的构造与操作
一、实验目的要求 1.了解X射线衍射仪的基本构造,原理与方法 2.了解衍射仪法所得粉末衍射花样的基本特征 3.了解实验条件的选择 二、实验仪器 本实验使用的是荷兰菲利蒲公司的Y-4Q型全自动X射线衍 射仪. 仪器主要分为如下几部分:X射线发生装置,X射线测角仪, 射探 测器,电脑. 三、实验内容
主要部件简述
X射线管： X射线管是由玻璃外罩将发射X射线的阴极与阳极密封在高真空(10-5~107mmHg)之中的管状装置。 阴极：由绕成螺线形的钨丝组成，用高压电缆接负高压，并加到灯丝电流， 灯丝电流发射热电子。管壳做成U形，目的是加长阴极与阳极间放电的距离。 阳极 ：又称靶, 是使电子突然减速和发射X射线的地方，靶材为特定的金属材 料(例如铜靶、钼靶等)。靶安装在靶基上(多为铜质)，靶基底部通冷却水管， 在工作过程中不断喷水冷却,并与衍射仪的管座相接并一起接地。
X射线衍射仪介绍及图像简要处理
X射线衍射分析仪X射线衍射仪实物图及结构示意图图1-1.X射线衍射仪实物图图1-2.X射线衍射仪系统方框图1.X射线衍射分析仪重要组成系统1.1.X射线发生器X射线发生器由X射线管和高压发生器两部分组成。
X射线管包括灯丝和靶，灯丝产生电子，电子与靶撞击产生X射线；高压发生器产生高达几万伏的电压，用以加速电子撞击靶。
靶包括封闭靶和转靶，封闭靶是把灯丝和靶封闭在真空玻璃球内，，封闭靶功率比较低，一般为3KW；转靶需要附加高真空系统，功率较高，通常高于12KW，可提高对含量少、灵敏度低的样品的检出限。
X射线发生装置示意图及发生器结构示意图：图1-3.X射线发生装置示意图图1-4.X射线发生器结构示意图1.2.测角仪测角仪包括样品台，狭缝系统，单色化装置，探测器（光电倍增管）等，用于测量样品产生衍射的布拉格角。
测角仪的轴动比即样品轴θ和测角轴2θ的同轴转动比为1:2.测角仪基本结构图如图1-1；图1-5.测角仪基本结构示意图1.S1，S2-索拉狭缝；2.SS-防散射狭缝；3.RS-接收狭缝；4.DS-发散狭缝；测角仪分类图：图1-6.测角仪分类图1.3.X 射线衍射信号检测系统X射线衍射仪可用的辐射弹射器有正比计数器、闪烁计数器、Si半导体探测器等，常用的探测器是正比计数器和闪烁计数器，用来检测衍射强度和衍射方向，通过仪器测量记录系统或计算机处理系统可以得到多晶衍射图谱数据。
闪烁计数器原理图：图1-7.闪烁器原理图1.4.X 射线衍射图处理分析系统现代X射线衍射仪都附带安装有专用衍射图处理分析软件的计算机系统, 它们的特点是自动化和智能化。
数字化的X射线衍射仪的运行控制以及衍射数据的采集分析等过程都可以通过计算机系统控制完成。
计算机主要具有三大模块：a.衍射仪控制操作系统：主要完成粉末衍射数据的采集等任务；b.衍射数据处理分析系统：主要完成图谱处理、自动检索、图谱打印等任务；c.各种X射线衍射分析应用程序：(1)X射线衍射物相定性分析，(2)X射线衍射物相定量分析，(3)峰形分析，(4) 晶粒大小测量，(5)晶胞参数的精密修正，(6)指标化，(7)径向分布函数分析等。
物理实验报告_X射线多晶衍射法
X 射线多晶衍射法摘要：本实验利用X 射线粉末干涉仪对X 射线的多晶衍射进行研究。
针对实验室中的样品A 、B 、C 、D ，分别测定了它们的衍射图谱，从而对样品进行了定性和定量的物相分析。
实验中分析出样品A 为2TiO 晶体；样品B 为ZnO 晶体，且晶粒大小为204.470.4022A A ︒︒±。
在已知样品C 中A 和B 物质质量分数比为()1A C BX X =，根据测出的样品C 和样品D 的衍射图谱，利用内标法计算出样品D 中A 和B 的物质质量分数比为() 2.52A D B X X =。
引言：X 射线是一种波长很短(约为20～0.06┱)的电磁波，能穿透一定厚度的物质，并能使荧光物质发光、照相乳胶感光、气体电离。
在用高能电子束轰击金属“靶”材产生X 射线，它具有与靶中元素相对应的特定波长，称为特征（或标识）X 射线。
考虑到X 射线的波长和晶体内部原子面间的距离相近，1912年德国物理学家劳厄(M.von Laue)提出一个重要的科学预见：晶体可以作为X 射线的空间衍射光栅,即当一束 X 射线通过晶体时将发生衍射，衍射波叠加的结果使射线的强度在某些方向上加强，在其他方向上减弱。
分析在照相底片上得到的衍射花样，便可确定晶体结构。
这一预见随即为实验所验证。
1913年英国物理学家布拉格父子(W.H.Bragg,W.L.Bragg)在劳厄发现的基础上,不仅成功地测定了NaCl 、KCl 等的晶体结构,并提出了作为晶体衍射基础的著名公式──布拉格方程。
X 射线衍射在金属学中的应用 X 射线衍射现象发现后，很快被用于研究金属和合金的晶体结构，出现了许多具有重大意义的结果。
在用X 射线测定众多金属和合金的晶体结构的同时，在相图测定以及在固态相变和范性形变研究等领域中均取得了丰硕的成果。
如对超点阵结构的发现，推动了对合金中有序无序转变的研究，对马氏体相变晶体学的测定，确定了马氏体和奥氏体的取向关系；对铝铜合金脱溶的研究等等。
XD系列多晶X射线衍射仪技术说明书
XD系列多晶X射线衍射仪技术说明书北京普析通用仪器有限责任公司注意安全防护，当心射线伤害！X射线能对人体造成伤害，因此在使用X射线设备时必须十分注意安全，避免受到X射线的照射。
本机的设计虽然考虑到较周全的防护。
但若操作处置不当，仍然可能受到X射线照射。
此外，X射线发生器是一种高压设备，在检修时也必须十分注意安全，避免受到高电压的伤害。
1. 衍射仪X射光路的屏蔽部件不可随意移去。
2. 当需要推开防护罩门进行操作时，应十分注意不要受到X射线的照射。
注意不要受到X射线的直接照射，也要注意不要受到散射线的照射。
更换样品时必需关窗。
3. 当维修X射线发生器的高压部分时，必须切断电源并使高压电容完全放电。
前言 (6)第一章X射线发生器使用说明 (7)1. 概述 (7)1.1 用途与特点 (7)1.2 对使用环境的要求 (7)1.3 安装条件 (7)2. 主要技术指标 (8)2.1 直流高压发生器 (8)2.2 控制系统的X射线管工作高压、管工作电流调节与稳定电路 (8)2.3 保护电路 (8)2.4 高压电缆 (9)3. X射线管 (9)4. 控制系统的结构及工作原理 (9)4.1 结构特征 (9)4.2 工作原理 (10)5. 使用方法及操作说明 (14)5.1 安装前的准备工作 (14)5.2 安装 (16)5.3 操作顺序及简单调校 (16)5.4 X射线窗口开闭 (17)5.5 使用注意事项 (17)5.6 日常例行检查项目 (17)6. 故障排除与维修 (18)6.1 开机步骤和可能出现的故障 (18)6.2 故障的排除 (20)6.3 附图 (22)第二章单道脉冲幅度分析器 (36)1. 引言 (36)2. 使用环境 (36)3. 工作原理及其技术指标的性能 (36)3.1 直流低压电源： (36)3.2 高压电源 (37)3.3 放大–单道分析器 (37)3.4 定标计数单元 (38)4. 操作说明 (39)第三章直流高压发生器 (40)1. 安全 (40)1.1 和配套装置的联用 (40)1.2 发生器的空载试验 (40)1.3 发生器的检修 (40)2. 发生器的技术规格 (41)2.1 负载工作参数 (41)2.2 工作制式 (41)2.3 测量点特性 (41)3. 产品的维护 (41)3.1 高压插座和高压电缆的插头的维护 (41)3.2 检查辉光放电管 (42)3.3 检查注油孔上的密封塑料管套 (42)3.4 检查冷却水管的接头 (42)4. 发生器线路原理图 (43)第四章测角仪 (44)1. 概述 (44)2. 组成 (44)3. 主要技术特性 (44)4. 结构描述 (45)5. 安装 (45)6. 测角仪的校直（对零） (46)6.1 测角仪校正的具体要求 (46)6.2 测角仪校正的具体步骤 (47)6.3 测角仪的衍射角测量准确度和衍射角分辨率的检查 (47)7. 测角仪的维护保养及使用注意事项 (49)第五章操作与分析软件 (50)1. 概述 (50)2. PDP衍射分析系统的运行环境与硬件配置 (50)3. 软件安装 (50)4.版权信息 (50)5. 正确安装后的文件目录结构 (51)6. 关于系统参数设置文件PDP.INI (51)7. PDP程序的使用 (51)7.1 寻峰 (52)7.2 “求峰面积、峰高、重心、积分宽度”和“背景扣除” (56)7.3 减背景 (57)7.4 图谱对比 (57)7.5 关于Pdp应用软件所使用与支持的文件格式 (58)第六章石墨弯晶单色器 (59)1. 概述 (59)2. 技术数据 (60)3. 结构 (60)4. 调整 (61)5. 使用的工作条件选择 (61)6. 注意事项 (61)第七章XD-2/3多晶X射线衍射仪操作规程 (62)1. 衍射仪（XD-2/3）对环境的要求 (62)2. 开机过程 (62)3. 关机顺序 (63)前言首先，感谢您购买北京普析通用仪器有限责任公司的产品！为了您更好的使用本仪器，请在使用前详细阅读本说明书，按照操作规程使用仪器。
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S1：入射狭缝 T：斩光调制器
S2：出射狭缝 G：光栅
W1：溴钨灯
D2：氘灯
PM ：光电倍增管
参比光
M'1
2
试 样结
室构
1
M'2 8度 样品光
内示 积意 分图
3
M'3 球
L1
M'1,M'2,M'3：反射镜 L1：光电倍增管接口
1,2,3：标准白板
一、实验目的：
1、了解X射线多晶衍射物相分析的的原理； 2、掌握利用Y4Q多晶粉末衍射仪对未知样品进行物相定性分析的过程和方法。
实验原理及仪器结构图
实验目的
1、了解OMA的组成及工作原理； 2、学习使用OMA分析光谱的方法； 3、了解计算机在数据采集、分析处理中的应用； 4、分析可见光区的各种光源光谱。
实验原理及仪器工作原理图
WGD－6型光学多道分析器
CCD光学多道分析器系统框图
WGD－6型光学多道分析器的光学部分
一、实验目目的的：：
二、实验原原理理：：
面板控制
信号输入
加 法 器
交流放大
X1 X10 X100
噪声输入
加法器输出
参考输入
方波驱动 电路
面板控制 PSD输出
乘法器 PSD
低通
滤波器
T=0.1s, 1s,100s
二、实验原理：
OS
q H S1 F
2dsinq=l
X
点阵空间
q
q
dsinq dsinq
dቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ
布 拉 格 方 程
射 线 衍 射 的
2q
N
M S2
D G
S：样品 F：X射线管 H, S1：入射光阑系统 M, S2, G：接收光阑系统 D：光电计数器
多晶X射线衍射仪结构示意图
倒易空间
K – K0 = G
K 2
Ex
I
HL5500 PC霍尔效应测试系统示意图
(b)材料中横向向电电场场的的建建立立
一、实验目目的的：：
1、掌握磁控与与离离子子束束溅溅射射制制备备薄薄膜膜全全过过程程；； 2、熟悉MIC45500DD型型磁磁控控与与离离子子束束复复合合溅溅射射镀镀膜膜设设备备操操作作程程序序与与使使用用要要领领。。
1、验证核衰变的统计规律。 2、掌握放射性测量结果的误差表示方法。 3、了解测量时间和本底计数对测量准确度的影响。
二、实验原原理理：：
P(N)
P(N ) = Y N eY N!
放射源
探测器
(FJ-367型闪烁探头头)
定标器
(FH-463B自动定标器器))
NP Y
N
泊松分布曲线
高压电源
实验装置图
一、实验目的：
１、理解盖革—弥勒计数器的工作原理和掌握测量方法 ２、了解核辐射计数的统计规律及计数率的测定的标准偏差计算方法
二、实验原理：
计数管
C
R 高压电源
定标器 示波器
计数率
工作原理框图
U0
U1
U2
U
G-M计数管坪特性曲线
实验目的
1、通过光电效应实验了解光的量子性； 2、测量光电管的弱电流特性,找出不同光频率下的遏止电压； 3、验证爱因斯坦方程,由此求出普朗克常数.
数
器
器
参考电压
开关信号
原理框图
光路图
实验目的
1、用真空镀膜工艺制备银膜 ； 2、用电子束照射金属银的薄膜，观察研究发生的电子衍射现象； 3、拍摄电子衍射图样，计算电子波波长，验证德布罗意公式。
实验原理及仪器工作原理图
l=h= h
p 2meU
r2 = (lD)2(h2 k2 l2)
a
电子衍射仪的电子光学系统示意图
一、实验目目的的：：
1、了解霍尔测测试试系系统统的的工工作作原原理理；； 2、掌握利用HHLL55550000 PPCC霍霍尔尔效效应应测测试试系系统统对对待待测测薄薄膜膜样样品品进进行行电电学学参参数数综综合合测测试试的的方方法法。。
二、实验原原理理：：
四角探针
1 2 51
2 5
防静电手腕
4
3
4
二、实验原原理理：：
hn’
hn
q
e
前置放大器 光电倍增管
闪烁体
线性脉冲 放大器
高压电源
单道脉冲 幅度分析器
定标器
康普顿效应示意图
g能谱仪的结构方框图
一、实验目目的的：：
1．了解相关器的原理；2．测量相关器的输出特性； 3．测量相关器的抑制干扰能力和抑制白噪声能力； 4．测量相关器的过载电平；5．测量相关器的直流漂移；6．测量线器的动态范围。
K’
G’
l
G
C K0
2 l
埃
X
瓦 尔 德 构 图 法
射 线 衍 射 的
实验目的
１、测量暗计数率Rd和光计数率Rp随光电倍增管工作温度的关系， 研究工作温度Rd和Rp的影响；
２、研究计数率Rd和入射光功率P的对应关系 。
实验原理及光路图
光光 子电
倍 增
管
放
大
甄
计
器
别
6
3
6
z
v
y
Ex
v ：载流子的运动速度
B
qE
q ： 载流子所带电荷
B ：外加磁场的磁感应强度
qvB
F = q(E v xB)
Ex：外加电场的电场强度
(a)荷电粒子在在外外加加电电场场EExx和和 外加磁场B作用用下下的的受受力力情情况况
zy
Ey ：霍尔电势所引起的横向电场
Ey
x
I ：样品中通过的电流
一、实验目的：
1、了解紫外及可见光谱分析的原理； 2、掌握利用紫外-可见分光光度计对待测样品进行光学性能分析的过程和方法。
二、实验原理：
UV-VIS双光束分光光度计的光学系统框图
M2 M3
M8 M9
M10
S1
G S2
D2 M5
试样室
M1 M4
M6 M7 T
M1,M2,M3,M4,M6,M7,M8,M9 ：球面反射镜 M5,M10：平面反射镜
二、实验原原理理：：
基片转动控制单元
真空测量系统
真空 阀门
抽真空系统 水冷系统
加热丝 基片
真 空 室
靶原子 e- Ar Ar+
N
S
N
S
N
S
靶 溅射靶台
基片加热控制单元
O2
进气 开关
配气系统
N2
Ar 溅射电源
MIC450D型磁控与离子束复合溅射镀膜设备系统示意图
实验目的
１、掌握喇曼散射的基本原理，初步学会根据喇曼散射 光谱来确定分子结构及其简正振动类型；
２、掌握喇曼散射光谱的实验技术。
实验原理及仪器结构 图
喇曼散射能级跃迁图
激光喇曼光谱仪的结构示意图
一、实验目目的的：：
1、利用电视显微密立根油滴仪测量电子电荷。 2、了解ＣＣＤ图像传感器的原理与应用，学习电视显微测量方法。
二、实验原原理理：：
qE
d
U
mg
实验原理图
实验装置图
一、实验目目的的：：
1.了解γγ射射线线与与物物质质发发生生相相互互作作用用的的基基本本特特性性；； 2.掌握ΝΝaaII((碘碘化化钠钠))γγ能能谱谱仪仪的的工工作作原原理理及及使使用用方方法法；； 3.学会分析137-CS单能γγ能能谱谱及及测测定定谱谱仪仪的的能能量量分分辨辨率率及及线线性性。。