近代物理实验九 晶体电光调制
电光调制实验指导书V1.0

实验指南一、实验目的1、掌握晶体电光调制的原理和实验方法;2、观察电光调制实验现象,并测量电光晶体的各参数。
3、实现模拟光通讯.二、实验内容1、观察电光调制现象2、计算电光晶体的消光比,透过率,测量晶体的半波电压。
3、进行电光调制与光通讯实验演示三、实验仪器1、光学导轨 1套2、X 轴一维调节滑座 2个3、基本滑座 4个4、起偏器及手动X轴旋转架 1个5、检偏器及手动X轴旋转架 1个6、λ/4 波片及手动X轴旋转架 1个7、He-Ne 激光器 1个8、He-Ne 激光器电源 1个9、电光调制器 1个10、硅光电探测器 1个11、电光调制实验仪信号源 1个12、三相电源线 1根13、音频转接线 1根14、BNC 屏蔽连接线 2根15、有源音箱 1个16、实验指导书 1份17、双踪示波器 1个18、声音源(收音机、MP3 等等) 1个四、实验步骤1.按照系统连接方法将激光器,电光调制器,光电探测器等部件连接到位。
系统连接方法如图4,其中电光调制器的滑动座是二维移动平台,与其他的滑动座有所不同。
其中,信号源面板如图5。
在信号源面板上,“波形切换”开关用于选择输出正弦波或是方波,“信号输出”口用于输出晶体调制电压,若“高压输出开关”拨向上为打开,拨向下为关闭。
如果拨向上那么输出的调制电压上就会叠加一个直流偏压,用于改变晶体的调制曲线,“音频选择”开关用于选择调制信号为正弦波还是外接音频信号,“探测信号”口接光电探测器的输出,对探测器输入的微弱信号进行处理后通过“解调信号”口输出,连接至有源扬声器上。
在具体的连接中,“信号输出”的CH1与CH2输出的信号完全一样,将一个输出连接示波器,另一个输出连接电光调制器。
在观察电光调制现象时,需要使用一个带衰减的探头,连接时,探头的黑色鳄鱼夹连接至前面两根线的黑色鳄鱼夹,探针接红色鳄鱼夹(在测量时,探头应10倍衰减)。
硅光电探测器通过一根两端都是BNC 头的连接线连接至示波器上。
电光调制实验报告

光电工程学院2013 / 2014学年第 2 学期实验报告课程名称:光电子基础实验实验名称:电光调制实验班级学号 09学生姓名丁毅指导教师孙晓芸日期: 2014年 5 月 07 日电光调制实验【实验目的】1、掌握晶体电光调制的原理和实验方法;2、 学会用实验装置测量晶体的半波电压,绘制晶体特性曲线,计算电光晶体的消光比和透射率。
【实验仪器及装置】电光调制实验仪(半导体激光器、起偏器、电光晶体、检偏器、光电接收组件等)、示波器。
实验系统由光路与电路两大单元组成,如图所示:图 电光调制实验系统结构一、光路系统由激光管(L )、起偏器(P)、电光晶体(LN)、检偏器(A)与光电接收组件(R)以及附加的减光器(P 1)和/4波片(P 2)等组装在精密光具座上,组成电光调制器的光路系统。
二、电路系统除光电转换接收部件外,其余包括激光电源、晶体偏置高压电源、交流调制信号发生、偏压与光电流指示表等电路单元均组装在同一主控单元之中。
图 电路主控单元前面板图为电路单元的仪器面板图,其中各控制部件的作用如下: 电源开关 用于控制主电源,接通时开关指示灯亮,同时对半导体激光器供电。
晶体偏压开关用于控制电光晶体的直流电场。
(仅在打开电源开关后有效)偏压调节旋钮调节直流偏置电压,用以改变晶体外加直流电场的大小。
偏压极性开改变晶体的直流电场极性。
注: 本系统仅提供半导体激光管(包括电源)作为光源,如使用氦氖激光管或其他激光源时,需另加与其配套的电源。
激光强度可由半导体激光器后背的电位器加以调节,故本系统未提供减光器(P 1)。
本系统未提供/4波片(P 2)即可进行实验,如有必要可自行配置。
关偏压指示数字显示晶体的直流偏置电压。
指示方式开关用于保持光强与偏压指示值,以便于读数。
调制加载开关用于对电光晶体施加内部的交流调制信号。
(内置1KHz的正弦波)外调输入插座用于对电光晶体施加外接的调制信号的插座。
(插入外来信号时内置信号自动断开)调制幅度旋钮用于调节交流调制信号的幅度。
电光调制

电光调制电光调制四电光调制与光信模拟实验袁礼文10329073 光信02班C2组2013-03-13&20 一、实验目的通过实验操作以及数据进行分析,学习并掌握电光调制、声光调制、磁光调制的机制及运用,在此基础上进一步了解光通信系统的结构。
二、实验仪器晶体电光调制电源,铌酸锂(LiNbO3),He-Ne 激光器及可调电源,可旋转偏振片,格兰棱镜,光接收器,有源音响图三、实验原理1、电光调制的物理机制电光调制的物理基础是电光效应,目前已发现有两种电光效应,一种是泡克耳斯(Pockels)效应,即折射率的变化量与外加电场强度的二次方成正比。
另一种是克尔效应,即折射率的变化量与外加电场强度的二次方成比例。
利用克尔效应制成的调制器称为克尔盒,其中的光学介质为具有电光效应的液体有机化合物。
利用泡克耳斯制成的调制器称为泡克耳斯盒,其中的光学介质为非中心对称的压电晶体。
泡克耳斯盒又有纵向调制器和横向调制器两种。
现以实验中使用的电光晶体DKDP (磷酸二氘钾)横向调制为例阐述电光调制的简单机理。
图2 电光调制器原理图原理图如上图所示,晶体位于两个正交的偏振器之间,起偏器 P 1的偏振方向平行于电光晶体的 Y 轴,光没晶体入射光的 X 轴方向加上电场后,它们将旋转 45°变成感应轴X ’、Y ’。
现在对晶体内部的偏振光传播进行讨论。
DKDP 是负单轴晶体,它的折射率椭球方程为:2221o o ex y z I I I ++=(1)其中 x 为光轴方向,在平行于光轴的方向加上电压后,折射率椭球方程变为:2226321z o o ex y z E xy I I I γ+++=(2)对上式进行坐标系的变换,消除式中的交叉项:()()'cos 45'sin 45''/2'sin 45'sin 45''/2'x x y x y y x y x y z z ⎧=-=-⎪⎪=+=+⎨⎪=⎪⎩(3)可推导出加了电场后,折射率椭球方程为:2222221'''x y zx y z n n n ++=(4)介电主轴的折射率变为:(5)沿 Z 轴入射的光束经起偏器变为平行于 X 轴的线偏振光,进入晶体后(在 Z =0处),被分 解 成 沿 OX ’、OY ’方向的两个分量,其振幅和相伴都相等,用复数表示为E X’(0)=A, E Y’(0)=A,入射光强度为(6)当光通过长度为L 的晶体后,由于电光效应,E X’、E Y’之间就产生一个相位差δ,从而有:(7)光从晶体出射后,通过检偏器后的光是晶体中的光的两分量在Y 轴上的投影之和,即:(8)从而对应的输出光的强度为:(9)其中,, 从而可知调制器的透过率为:(10)当从晶体出射的光的两个分量的相位差为δπ=时,外电场所加的电压为半波电压,可求得此时的电压为:(11)从而可知透过率可表示为:(12)当加在晶体上的直流电压为U 0,同时加在晶体上的交流调制信号是sin mUtω其中Um 是其振幅,ω是调制频率。
晶体电光调制实验

2
•
l cos
2
(n"n' )
2
•
1 2
n03
s
in
2
2
(
1 ne2
1 )l
no2
其中,由于 o 光和 e 光的折射角相差很小,取2 为两束光的折射角的平均值。
干涉合成光强为:
Is I0 sin2 2(1 cos ) 2
I p I0[1 1 sin2 2(1 cos )] 2
图 3.晶体的锥光干涉图像
晶体加上偏压时呈现双轴锥光干涉图,如图 3 所示。由此可说明,单轴晶体在电场作用 下变成双轴晶体,即电致双折射现象。
3.测定铌酸锂的透过率曲线(T-U 曲线),求出半波电压和电光系数 22 。
取出镜头纸,光电三极管接收器对准激光光点,在起偏器前加减光片,加在晶体上的直 流电压从 0 开始,逐渐增大。晶体上只加直流电压,不加交流信号,把直流电压从小到大逐 渐改变,输出电流将出现极小值和极大值,两者分别对应的直流电压只差即为半波电压。整 个过程中,光强始终不超过 3.2。
记录晶体所加直流电压 u0 和光强 I,得到下表:
表1
u0 (V) I(cd) u0 (V) I(cd) u0 (V) I(cd) u0 (V) I(cd) u0 (V) I(cd) u0 (V) I(cd)
5
0.08 55 0.86 105 2.36 155 2.5 205 1.26 255 0.15
(四)测量电光调制后输出信号的带宽 调节直流电压,使经电光调制后的输出电压不失真,此时 u=40V,函数发生器输入信号
频率为 1kHz。调节函数发生器输入信号的频率,使得输出信号的幅度降为初始时的一半, 记下此时的频率。
实验九、电光效应及调制综合实验

图 6. 确定起偏器和检偏器的光轴方向 4. 将起偏器和检偏器的光轴旋转至图 4 所示方向,打开晶体高压电源开关,逐渐升高晶体电 压直至检偏器出现消光,记录此时半波电压 Vπ 数值。重复消光现象三次,取平均值。 5. 确定晶体的厚长比,根据(18)式计算出 LiNbO 3 的电光系数。 6.计算绝对和相对误差,并讨论误差来源。 二、了解 λ / 4 波片的作用,利用电光调制实现光信号的传送 1. 按图 5 连接实验装置(不含 λ / 4 波片) 。首先,将信号源的信号线插头插到实验箱的插座 上,并联引出信号线接在示波器的一个通道上。再把光探头对准检偏器出来的透射光,另 一端接在示波器的其它通道上。 2. 旋转检偏器使其光轴与起偏器光轴正交。 3. 打开信号源开关,用示波器的电信号通道观察信号波形,测量三次电信号频率。逐渐给晶 体加电压,用示波器的光探头通道观察调制器输出的光信号波形,测量三次光信号频率。 4. 将 λ / 4 波片放在实验箱晶体与检偏器之间,调整光路使波片与其它光学器件保持同轴性。 打开电信号开关,观察光信号波形,并测量光信号的频率,得出结论。 5. 将信号源信号方式拨到音乐信号档上,开启信号源开关。从示波器上取下光探头接在低频
⎛ 1 ⎞ ⎜ 2 ⎟ xi x j = 1 ∑∑ i j ⎝ n ⎠ ij
1 ⎞ ⎛ 1 ⎞ 其中 ⎛ ⎜ 2 ⎟ 是对称二阶张量,采用下标简化形式以 l 表示 ij ,则 ⎜ 2 ⎟ 的下标为 n ⎝ n ⎠l ⎝ ⎠ ij ij = 11,22,33,23(32),31(13),12(21)
,
其中 k 0 =
E x' (z = L ) = A exp[i (ωt − k 0 n x ' L )]
(12)
2π
λ0
晶体电光调制实验的光路调节_钟土基

大学物理,1987,06: 37 - 38.
UA,0. 0,1. 1 * x [i - 1 ],VAL _ MANUAL,0. 0, 面,界面中只包含有上述提到的 5 种控件。在数据控件
1. 1* y [i - 1]) ;
“电压”、“电流” 中输入一组实验数据,点击 “读数”
DeleteGraphPlot ( panel,PANEL_ GRAPH, - 1,VAL_ 命令控件,输入的这组数据就读入到下面的表控件中,
锥光干涉图形的质量还与激光入射到晶体上的情况 有非常密 切 的 关 系,实 验 时 也 要 对 晶 体 进 行 细 微 的 调
3. 1 极值法半波电压 晶体上只加直流电压,不加交流信号,把直流电压
从小到大逐渐改变,输出的光强将会出现极小值和极大 值,相邻极小值和极大值对应的直流电压之差即是半波 电压 Uπ[5]。在调节好光路系统下进行实验测量,所得 到数据曲线如图 6 所示。从图中可以看出光强极小值对 应的直流电压为 145V,极大值对应的直流电压为 278V, 所以,半波电压为 133V。
= π,此时透光率 T = 100% ,对应的电压叫半波电压,
记为 Vπ ,可得[4]:
T = sin2 π 2Vπ
( V0 + Vm + sinωt)
( 1)
式中 V0 是加在铌酸锂晶体的直流偏压,Vmsinωt 是交流
调制信号,Vm 是振幅,ω 是调制信号频率。从上式看
出,透过率 T 随加在晶体两端的电压 V0 或 Vm 变化而变
节,使其达到最佳状态。光在晶体中会发生双折射,激
光从不同角度入射到晶体表面时会产生不同的图像,如
晶体电光调制实验报告数据处理
实验一电光调制一、实验目的:1.了解电光调制的工作原理及相关特性;2.掌握电光晶体性能参数的测量方法;二、实验原理简介:某些光学介质受到外电场作用时,它的折射率将随着外电场变化,介电系数和折射率都与方向有关,在光学性质上变为各向异性,这就是电光效应。
电光效应有两种,一种是折射率的变化量与外电场强度的一次方成比例,称为泡克耳斯(Pockels)效应;另一种是折射率的变化量与外电场强度的二次方成比例,称为克尔(Kerr)效应。
利用克尔效应制成的调制器,称为克尔盒,其中的光学介质为具有电光效应的液体有机化合物。
利用泡克耳斯效应制成的调制器,称为泡克耳斯盒,其中的光学介质为非中心对称的压电晶体。
泡克耳斯盒又有纵向调制器和横向调制器两种,图1是几种电光调制器的基本结构形式。
图1:几种电光调制器的基本结构形式a) 克尔盒 b) 纵调的泡克耳斯盒 c) 横调的泡克耳斯盒当不给克尔盒加电压时,盒中的介质是透明的,各向同性的非偏振光经过P后变为振动方向平行P光轴的平面偏振光。
通过克尔盒时不改变振动方向。
到达Q时,因光的振动方向垂直于Q光轴而被阻挡(P、Q分别为起偏器和检偏器,安装时,它们的光轴彼此垂直。
),所以Q没有光输出;给克尔盒加以电压时,盒中的介质则因有外电场的作用而具有单轴晶体的光学性质,光轴的方向平行于电场。
这时,通过它的平面偏振光则改变其振动方向。
所以,经过起偏器P产生的平面偏振光,通过克尔盒后,振动方向就不再与Q光轴垂直,而是在Q光轴方向上有光振动的分量,所以,此时Q就有光输出了。
Q的光输出强弱,与盒中的介质性质、几何尺寸、外加电压大小等因素有关。
对于结构已确定的克尔盒来说,如果外加电压是周期性变化的,则Q的光输出必然也是周期性变化的。
由此即实现了对光的调制。
泡克耳斯盒里所装的是具有泡克耳斯效应的电光晶体,它的自然状态就有单轴晶体的光学性质,安装时,使晶体的光轴平行于入射光线。
因此,纵向调制的泡克耳斯盒,电场平行于光轴,横向调制的泡克耳斯盒,电场垂直于光轴。
电光调制实验
电光调制实验电光调制实验是一种基于光及电的实验,主要是利用外加电场对光的介质介电常数及折射率发生变化的特性,从而实现对光的调制,达到信息传输的目的。
本文将对电光调制实验的原理、实验过程、实验结果以及应用进行详细介绍。
一、实验原理电光调制实验的基本原理是电-光双向转换。
光通过透明的介质之后会导致光的相位差,从而产生偏振旋转。
当外加电场时,通过电光效应,电场可以改变介质的折射率和吸收系数,从而影响光的速度和偏振方向。
在调制过程中,可以控制电场的强度和方向,从而实现光信号的编码、传输和解码。
二、实验材料实验材料主要包括:1.激光器2.半波片3.光偏振器4.电光晶体5.电源6.光探测器三、实验过程在实验开始前,首先将激光器打开并调节其输出功率,以保证激光器的正常工作。
2.半波片和光偏振器的使用。
将半波片和光偏振器连接在激光器的输出端上,并根据需要调整偏振方向和入射角度。
将电光晶体固定在一个平台上,将光束通过电光晶体,并调整电光晶体的入射角度以使其与光束共面。
4.电源的使用。
将电源连接到电光晶体上,并根据需要调整电场的强度和方向。
将光探测器放置在光束的另一端,并记录光信号的强度、频率和相位。
四、实验结果通过电光调制实验,研究者可以获得以下结果:1.光信号的编码和解码。
通过电光调制实验,可以将信息编码成光的信号并传输,然后通过解码技术将信息从光信号中提取出来。
2.光调制的幅度、相位和频率。
通过电光调制实验,可以通过调节电场的强度和方向来改变光的幅度、相位和频率,从而实现对光信号的调制。
3.光传输的性能。
通过电光调制实验,可以研究光传输的性能,包括传输距离、传输带宽、光损耗等特性。
这些研究能够指导光通讯技术的应用和发展。
五、应用电光调制实验的应用非常广泛。
一些典型的应用包括:1.光通讯。
2.光储存。
在光储存中,电光调制技术也是非常重要的。
通过电光调制实验,可以实现将信息储存在光中,然后可以随时读取出来。
3.光计算。
晶体电光调制实验
晶体电光调制实验【实验目的】1. 掌握晶体电光调制的原理和实验方法。
2. 学会用简单的实验装置测量晶体半波电压、电光常数的实验方法。
3. 观察电光效应所引起的晶体光学特性的变化和会聚偏振光的干涉现象。
【实验仪器】晶体电光调制电源、铌酸锂(LiNbO 3)电光晶体、He-Ne 激光器及可调电源、可旋转偏振片、格兰棱镜、光电接收器、有源音响【实验原理】1.一次电光效应和晶体的折射率椭球当给晶体或液体加上电场后,该晶体或液体的折射率发生变化,这种现象成为电光效应。
电光效应在工程技术和科学研究中有许多重要应用,它有很短的响应时间(可以跟上频率为1010Hz 的电场变化),可以在高速摄影中作快门或在光速测量中作光束斩波器等。
在激光出现以后,电光效应的研究和应用得到迅速的发展,电光器件被广泛应用在激光通讯、激光测距、激光显示和光学数据处理等方面。
光在各向异性晶体中传播时,因光的传播方向不同或者是电矢量的振动方向不同,光的折射率也不同。
在主轴坐标中,折射率椭球及其方程为1232222212=++n z n y n x (1)式中n1、n2、n3为椭球三个主轴方向上的折射率,称为主折射率。
当晶体加上电场后,折射率椭球的形状、大小、方位都发生变化,椭球方程变成1222212213223233222222112=+++++n xy n xz n yz n z n y n x(2)晶体的一次电光效应分为纵向电光效应和横向电光效应两种。
纵向电光效应是加在晶体上的电场方向与光在晶体里传播的方向平行时产生的电光效应;横向电光效应是加在晶体上的电场方向与光在晶体里传播方向垂直时产生的电光效应,本实验研究铌酸锂晶体的一次电光效应。
铌酸锂晶体属于三角晶系,3m 晶类,主轴z 方向有一个三次旋转轴,光轴与z 轴重合,是单轴晶体,折射率椭球是旋转椭球,其表达式为1222022=++e n z n y x (3)式中n0和ne 分别为晶体的寻常光和非常光的折射率。
电光调制实实验讲义
电光调制实验实验讲义一、实验背景电光效应在工程技术和科学研究中有许多重要应用。
尤其是激光出现以后,电光效应的研究和应用得到了迅速发展,电光器件被广泛应用在激光通信、激光测距、激光显示和光学数据处理等方面。
晶体电光调制实验可以模拟电光效应在激光通信中的应用,验证激光通信传输速度快,抗干扰能力强,保密性好等优点。
通过该实验可以加深对偏振光干涉、双折射、非线性光学等知识的理解,培养学生的动手能力,提高学生的工程意识。
实验系统结构简单,易于操作,实验效果理想。
二、实验目的1. 观察电光效应引起的晶体光学性质的变化(单轴晶体、双轴晶体的偏振干涉图)。
2. 观察直流偏压对输出特性的影响,记录数据并绘制输出特性曲线。
3 观察铌酸锂晶体交流调制输出特性。
4. 模拟光通信。
三、实验仪器图1 实验仪器实物图(双踪示波器自备) 1.半导体激光器及四维可调支架 2.起偏器 3.铌酸锂晶体 4.检偏器(及1/4波片) 5.光屏 6.导轨 7.电光调制电源箱 8.接受放大器四、实验原理晶体分各向同性晶体与各向异性晶体。
其中各向异性晶体会发生双折射,而各向同性晶体只会发生普通折射。
光束入射到各向异性的晶体,分解为o 光和e 光。
如果光束沿着光轴的方向传播不会发生双折射现象。
这里光轴并非指一条直线,而是一个特殊的方向。
晶体中o 光与光轴构成的平面叫o 光主平面,e 光与光轴构成的平面叫e 光主平面。
o 光振动方向垂直于o 光主平面,e 光的振动方向平行于e 光主截面。
一般情况下,o 光主平面与e 光主平面不重合,但是理论与实践均表明,当入射线在晶体主平面时o 光主平面与e 光主平面重合。
实用中一般均取入射线在晶体主截面内的情况。
各向异性晶体中o 光与e 光的传播速度一般不同。
速度e o v v >的晶体称为正晶体,e o v v <的晶体称为负晶体。
铌酸锂晶体是各向异性负晶体。
由于双折射现象,当入射光不沿光轴方向入射时,产生的o 光与e 光对应不同的折射率o n 与e n 。
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实验九晶体电光调制【实验目的】1. 掌握晶体电光调制的原理和实验方法2. 学会利用实验装置测量晶体的半波电压,计算晶体的电光系数3. 观察晶体电光效应引起的晶体会聚偏振光的干涉现象【实验仪器】铌酸锂晶体,电光调制电源,半导体激光器,偏振器,四分之一波片,接收放大器,双踪示波器【技术参数】1 激光光源:半导体激光器2 激光波长:650~680nm3 激光功率:0~2.5mW连续可调4 偏置电压:±0~400V连续可调5 调制方式: 横向调制6 调制晶体:铌酸锂晶体 50mm×6mm×1.7mm7 调制波形:1KHz正弦波或其他波形8 电源:220V±10% 50Hz【前言】激光是一种光频电磁波,具有良好的相干性,与无线电波相似,可用来作为传递信息的载波。
激光具有很高的频率(约13151010Hz),可供利用的频带很宽,故传递信息的容量很大。
再有,光具有极短的波长和极快的传递速度,加上光波的独立传播特性,可以借助光学系统把一个面上的二维信息以很高的分辨率瞬间传递到另一个面上,为二位并行光信息处理提供条件。
所以激光是传递信息的一种很理想的光源。
电光效应在工程技术和科学研究中有许多重要应用,它有很短的响应时间(可以跟上1010HZ的电场变化),可以在高速摄影中作快门或在光速测量中作光束斩波器等。
在激光出现以后,电光效应的研究和应用得到迅速的发展,电光器件被广泛应用在激光通讯,激光测距,激光显示和光学数据处理等方面。
要用激光作为信息的载体,就必须解决如何将信息加到激光上去的问题。
例如激光电话,就需要将语言信息加在与激光,由激光“携带”信息通过一定的传输通道送到接收器,再由光接收器鉴别并还原成原来的信息。
这种将信息加在与激光的过程称之为调制,到达目的地后,经光电转换从中分离出原信号的过程称之为解调。
其中激光称为载波,起控制作用的信号称之为调制信号。
与无线电波相似的特性,激光调制按性质分,可以采用连续的调幅、调频、调相以及脉冲调制等形式。
但常采用强度调制。
强度调制是根据光载波电场振幅的平方比例于调制信号,使输出的激光辐射强度按照调制信号的规律变化。
激光之所以常采用强度调制形式,主要是因为光接收器(探测器)一般都是直接地响应其所接收的光强度变化的缘故。
【实验原理】某些晶体(固体或液体)在外加电场中,随着电场强度E 的改变,晶体的折射率会发生改变,这种现象称为电光效应。
通常将电场引起的折射率的变化用下式表示:0200n n aE bE =+++⋅⋅⋅⋅⋅⋅(1)式中a 和b 为常数,0n 为E 0=0时的折射率。
由一次项aE 0引起折射率变化的效应,称为一次电光效应,也称线性电光效应或普克尔电光效应(pokells );由二次项引起折射率变化的效应,称为二次电光效应,也称平方电光效应或克尔效应(kerr )。
由(1)式可知,一次电光效应只存在于不具有对称中心的晶体中,二次电光效应则可能存在于任何物质中,一次效应要比二次效应显著。
光在各向异性晶体中传播时,因光的传播方向不同或者是电矢量的振动方向不同,光的折射率也不同。
通常用折射率椭球来描述折射率与光的传播方向、振动方向的关系,在主轴坐标中,折射率椭球方程为图一 晶体折射率椭球1232222212=++n z n y n x(2)式中1n ,2n , 3n 为椭球三个主轴方向上的折射率,称为主折射率。
如图一所示,从折射率椭球的坐标原点O 出发,向任意方向作一直线OP ,令其代表光波的传播方向K 。
然后,通过O 垂直OP 作椭圆球的中心截面,该截面是一个椭圆,其长短半轴的长度OA 和OB 分别等于波法线沿OP ,电位移矢量振动方向分别与OA 和OB 平行的两个线偏振光的折射率n '和n ''。
显然K , OA ,OB 三者互相垂直,如果光波的传播方向K 平行于x 轴,则两个线偏光波的折射率等于2n 和3n 。
同样当K 平行于y 轴和z 轴时,相应的光波折射率亦可知。
当晶体上加上电场后,折射率椭球的形状、大小、方位都发生变化,椭球的方程变为2222222221122332313122221x y z yz xz xy n n n n n n +++++=(3)只考虑一次电光效应,上式与式(2)相应项的系数之差和电场强度的一次方成正比。
由于晶体的各向异性,电场在x 、y 、z 各个方向上的分量对椭球方程的各个系数的影响是不同的,我们用下列形式表示:1112132211121222322222313233223334142432235152532136********111111111x y zx y zx y Zx y z x y z x y z E E E n n E E E n n E E E n n E E E n E E En E E En γγγγγγγγγγγγγγγγγγ⎧-=++⎪⎪⎪-=++⎪⎪⎪-=++⎪⎪⎨⎪=++⎪⎪⎪=++⎪⎪⎪=++⎪⎩(4)上式是晶体一次电光效应的普遍表达式,式中ij γ叫做电光系数 (i=1,2,…6;j=1,2,3),共有18个,E X 、E Y 、E Z 是电场E 在x 、y 、z 方向上的分量。
式(4)可写成矩阵形式:221112211121322221222322333313233414243223515253616163213212111111111X Y Z n n n n E n n E E n n n γγγγγγγγγγγγγγγγγγ⎛⎫- ⎪ ⎪ ⎪- ⎪⎡⎤ ⎪⎢⎥ ⎪⎢⎥-⎡⎤ ⎪⎢⎥⎢⎥⎪=⎢⎥⎢⎥⎪⎢⎥⎢⎥ ⎪⎣⎦⎢⎥ ⎪⎢⎥ ⎪⎢⎥⎣⎦⎪ ⎪ ⎪ ⎪ ⎪⎝⎭(5)电光效应根据施加的电场方向与通光方向相对关系,可分为纵向电光效应和横向电光效应。
利用纵向电光效应的调制,叫做纵向电光调制;利用横向电光效应的调制,叫做横向电光调制。
晶体的一次电光效应分为纵向电光效应和横向电光效应两种。
把加在晶体上的电场方向与光在晶体中的传播方向平行时产生的电光效应,称为纵向电光效应,通常以KD P *类型晶体为代表。
加在晶体上的电场方向与光在晶体里传播方向垂直时产生的电光效应,称为横向电光效应 ,以3LiNbo 晶体为代表。
这次实验中,我们只做3LiNbo 晶体的横向电光强度调制实验。
3LiNbo 晶体属于三角晶系,3m 晶类,主轴Z 方向有一个三次旋转轴,光轴与Z 轴重合,是单轴晶体,折射率椭球是旋转椭球,其表达式为:1222022=++en z n y x(6) 式中on 和en 分别为晶体的寻常光和非寻常光的折射率。
加上电场后折射率椭球发生畸变,对于3m 类晶体,由于晶体的对称性,电光系数矩阵形式为⎥⎥⎥⎥⎥⎥⎥⎥⎦⎤⎢⎢⎢⎢⎢⎢⎢⎢⎣⎡---=00000000002251513313221322γγγγγγγγγij(7)当X 轴方向加电场,光沿Z 轴方向传播时,晶体由单轴晶体变为双轴晶体,垂直于光轴Z 方向折射率椭球截面由圆变为椭圆,此椭圆方程为1211222222022220=-⎪⎪⎭⎫⎝⎛++⎪⎪⎭⎫ ⎝⎛-xy E y E n x Ex n x x γγγ(8)进行主轴变换后得到:111222202'2220=⎪⎪⎭⎫⎝⎛++⎪⎪⎭⎫ ⎝⎛-y E n x Ex n x γγ (9)考虑到xE n 2220γ<<1,经化简得到xx E n n n 2230021,γ+= xy E n n n 2230021,γ-=(10)当 X 轴方向加电场时,新折射率椭球绕 Z 轴转动45。
图三为典型的利用3LiNbo 晶体横向电光效应原理的激光强度调制器。
图二 晶体横向电光效应原理图其中起偏器的偏振方向平行于电光晶体的X 轴,检偏器的偏振方向平行于Y 轴。
因此入射光经起偏器后变为振动方向平行于X 轴的线偏振光,它在晶体的感应轴'X 和'Y 轴上的投影的振幅和位相均相等,设分别为tA e t A e y x ωωcos cos 00''==(11)或用复振幅的表示方法,将位于晶体表面(z=0)的光波表示为AE AE y x ==)0()0(''(12)所以,入射光的强度是 2222)0()0('A E E E E I y x =+=•∝*(13)当光通过长为l 的电光晶体后, X ′和Y ′两分量之间就产生位相差δ,即δi y x Ae l E Al E -==)()(''(14)通过检偏器出射的光,是这两分量在Y 轴上的投影之和())1(2-=δi y e A E(15)其对应的输出光强1I ,可写成()()()()222100112sin 22i i y y A I E E e e A δδδ*-⎡⎤⎡⎤∝=--=⎣⎦⎢⎥⎣⎦ (16)由(13)、(16)式,光强透过率T 为2sin 21δ==i I I T(17)''2()x y n n πδλ=-30222ll n Vdπγλ=(18)由此可见,δ和V 有关,当电压增加到某一值时,X ’、Y ’方向的偏振光经过晶体后产生2λ的光程差,位相差00,100T δπ==,这一电压叫半波电压,通常用V π或2V λ表示。
V π是描述晶体电光效应的重要参数,在实验中,这个电压越小越好,如果V π小,需要的调制信号电压也小,根据半波电压值,我们可以估计出电光效应控制透过强度所需电压。
由(18)式⎪⎭⎫⎝⎛=l d n V 22302γλπ(19)其中d 和l 分别为晶体的厚度和长度。
由(18)、(19)式ππδV V=(20)因此,将(17)式改写成()t V V V V V T m ωππππsin 2sin 2sin 022+==(21)其中0V 是直流偏压,sin m V t ω是交流调制信号,m V 是其振幅,ω是调制频率,从(21)式可以看出,改变0V 或m V 输出特性,透过率将相应的发生变化。
由于对单色光,3022n πγλ为常数,因而T 将仅随晶体上所加电压变化,如图四所示,T 与V 的关系是非线性的,若工作点选择不适合,会使输出信号发生畸变。
但在2V π附近有一近似直线部分,这一直线部分称作线性工作区,由上式可以看出:当12V V π=时,00,502T πδ==。
图三 T 与V 的关系曲线图1. 改变直流偏压选择工作点对输出特性的影响(1)当02VV ∏=,m V V ∏〈〈时,将工作点选定在线性工作区的中心处,此时,可获得较高频率的线性调制,把02mV V =代入(16)式,得⎥⎦⎤⎢⎣⎡⎪⎪⎭⎫ ⎝⎛+=⎥⎦⎤⎢⎣⎡⎪⎪⎭⎫ ⎝⎛+-=⎥⎦⎤⎢⎣⎡⎪⎪⎭⎫ ⎝⎛+=t V V t V V t V V T m m m ωπωππωπππππsin sin 121sin 2cos 121sin 24sin 2(22) 当m V V ∏〈〈时⎥⎦⎤⎢⎣⎡⎪⎪⎭⎫⎝⎛+≈t V V T m ωππsin 121(23)即sin m T V t ω∝。