CPK的讲解与理解
CPK的介绍以及计算公式-cpk的公式
CPK的介绍以及计算公式-cpk的公式CPK是一种统计工具，用于确定特定过程的性能是否符合规定的规格或精度要求。
CPK的全称是过程能力指数，是一个衡量质量控制效果的指标。
通过计算CPK可以得出某一过程的稳定性，即该过程在允许的规格范围内的变化情况，并能够评估该过程是否符合客户要求。
本文将介绍CPK的基本概念和计算公式。
一、CPK的基本概念CPK是衡量生产过程的能力指标，用于度量过程的偏差与允许值之间的差异，以便识别生产过程的缺陷并改进生产过程。
CPK数据越高，表示生产过程在产品规格范围内的概率也越大，生产的产品质量也就越可靠。
CPK的计算基于过程的数据采样，得出该过程的上下限规范范围。
该过程所产生的样本数据将被比较和评估，以测量该过程的性能和可靠性。
这些指标将分别用于确定偏差是否在所需的规格范围内。
二、CPK的计算公式(1). 计算过程能力指数CPK需要几个要素，包括目标值、上限值、下限值、标准偏差、样本数据集。
通过这些要素，就可以计算出该过程能够产生的产品所包含的缺陷的百分比。
CPK 的计算公式如下：CPK = min（USL - μ / 3σ ，μ - LSL / 3σ ）其中，USL表示过程的上限规格值，LSL表示过程的下限规格值，μ表示规格平均值，σ表示标准偏差。
(2). CPK的计算中需要确定标准偏差σ和平均值μ。
标准偏差是指数据分布的离散程度，σ越大，数据的离散程度就越大。
格的平均值是指样本数据的平均值。
(3). 通常情况下，CPK的值可以从以下计算公式中得出：CPK = minimum [ (USL - Xbar) / 3σ; (Xbar - LSL) / 3σ ]其中，Xbar表示样本均值，USL表示上限规格值，LSL表示下限规格值。
(4). CPK的理论值范围是0到1，但在实际应用中，CPK的值越高，产品的合格率和可靠性就越高。
CPK的数值在2.0以上被认为是很好的指标，而在1.33以下则需要进一步改进过程以满足客户的标准要求。
CPK培训教材详细讲解
C ＰK 培訓教材一.Cpk 的定義某一制程在一定因素與正常管制狀態下的品質作業能力.二.Ｃｐk 的影響因素製程要因--—原料，机器設備,人員能力，測量儀器.製程條件-——常態分配,統計管制狀態。
三。
Cpk 的計算USL ：上限尺寸L ＳＬ：下限尺寸Ave ｒa ｇe:測量數据的平均值σ：標準差，其公式為: σ＝1/)(22--∑∑n n x xＣｐu=(USL —Average)/3σＣp ｌ=（Average-L ＳL ）/３σCpk=Min(Cpu,C ｐl) σ:其大小表示測量數据的離散程度， σ越小表示數据的離散程度越小,反之則數据的離散程度越大.C ｐu:其值表示測量數据偏離上限的程度, Cpu 越大表示測量數据偏離上限較遠； 反之則數据靠近上限。
Ｃpl: 其值表示測量數据偏離下限的程度, C ｐl 越大表示測量數据偏離下限較遠； 反之則數据靠近下限。
四．Cp ｋ的等級A ： 1.3３≦C ｐkA 級,製程能力滿足圖紙要求,生產中几乎沒有不良品產生。
B: １。
00≦Ｃｐｋ〈１．33Ｂ級，製程能力基本滿足圖紙要求，生產中約有０。
２7%不良品產生,必須加以注意,並設法維持不使其變坏。
Ｃ: Cpｋ<1.0０Ｃ級，製程能力不能滿足圖紙要求，生產中可能有較多不良品產生, 應採取緊急措施，全面檢討所有可能影響的因素,必要時得停止生產。
五.Cｐk 管制抽樣的基本原則管制方法取樣頻率管制圖查檢表高 1—-2小時1５——３0分鐘中 4-—8小時每小時低每班次 2小時六．CPＫ數据分析.1．數据均分布于中值兩旁, Ｃpk值一般大于1。
３3，見附圖1． 2。
數据离散地分布中值兩旁，Cｐｋ值一般小于1.33,見附圖2．3。
數据分布离散度小,但偏中值不遠,Cpk值大于1.33,見附圖3。
4.數据分布离散度小,但偏中值較遠,Cpｋ值小于１．33. 見附圖４.５。
數据絕大多數雖均分布于中值兩旁，但個別超差,將大大降低Cpk值，甚至Cpk值小于1。
何谓CPK及CPK值的意义
识别关键质量特性
通过对不同产品特性的CPK值进行比 较，可以识别出对产品质量影响较大
的关键特性，进而重点管控。
制定品质策略
根据产品特性的CPK值和品质要求， 制定相应的品质策略和控制计划。
CPK 在企业决策中的应用
决策支持
CPK值可以为企业决策提供数据支持，帮助 企业评估生产过程的稳定性和产品质量的风 险，从而做出科学决策。
对员工进行品质考核，建立品质与工资、晋升等 挂钩的激励机制。
提高生产效率
合理安排生产计划
根据市场需求和产能，制定合理的生产计划，减少生产等待和浪 费。
引入精益生产理念
通过消除浪费、持续改进等手段，提高生产效率。
优化物料和仓储管理
确保物料供应及时、准确，降低仓储成本和物料损耗。
05
CATALOGUE
性和可靠性是提高生产效率的前提。
02
当CPK值较低时，生产过程中会出现较多的缺陷和误
差，需要频繁的检测和修复，导致生产效率降低。
03
提高CPK值可以减少生产过程中的缺陷和误差，降低
不良品率，从而提高生产效率。
03
CATALOGUE
CPK 的实际应用
CPK 在生产中的应用
监控生产过程
通过计算和监测CPK值，可以及 时发现生产过程中的异常，如设 备故障、原材料波动等，从而采 取相应措施进行调整，确保生产 稳定。
CPK值是品质管理的重要指标之一，用于评估生产过程中的质量控制水平 。
通过监测和计算CPK值，可以及时发现生产过程中的异常和问题，采取相 应的措施进行改进和优化，提高产品质量和可靠性。
CPK值也是ISO 9001等质量管理体系认证的重要考核指标之一。
CPK知识讲解课件
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Cpk = (1 – | Ca | ) Cp
x u Ca =
T /2
规格容许差 Cp = 或
3σ
规格公差T 6σ
单边规格:
单边规格时，CP值即为CPK值， 有精密度无准确度.
如耐磨规格>1250cycles.(下限规格)
单边规格时(上限规格)
Cpk(U) =
USL X
3
单边规格时(下限规格)
Cpk(L) =
三、Ca值:制程准确度
Ca值:制程准确度:各工程之规格 中心值的目的就是希望各工程制造 出来的各个产品之实际值,能以规格 中心为中心,成左右对称的常态分配, 而制造时,也应以规格中心值为目标, 从而生产过程中所获得的资料,其实 际平均值(X)与规格中心值(u)之间偏 差的程度,称为制程准确度.
Ca：衡量制程平均值与目标值之一致性，或称K
Cpk等级判定后的处置原则—
A级: 制程能力非常良好,应继续保持。当Cpk>2.0时,我们 可考虑缩小 规格,以提升更高质量的形象或是寻求其他可以降 低成本的方法。
CPK基本知识
B
12.5%<|Ca|<25% 有必要盡可能將其改進為A級
C
25%<|Ca|<50% 作業員可能看錯規格不按作業標準操作或檢討規格及作業標準.
D
50%<|Ca|
應采取緊急措施,全面檢討所有可能影響之因素,必要時得停止生產.
什么是Cp?
•Cp:制程精密度 (Capability of Precision)
n -1
什么是Ca?
• Ca:制程准确度; (Capability of Accuracy)
•Ca 在衡量“實際平均值“與“規格中心值”之 一致性;
• 对于单边规格，不存在规格中心，因此也 就不存在Ca;
• 对于双边规格，Ca = X C
T /2
Ca等级评定及处理原则
等級
Ca值
處理原則
A
|Ca|<12.5% 作業員遵守作業標準操作並達到規格之要求,需繼續保持.
即 空将尽快 可 间尽快尽
煳帚伌呅 塶俣挋具 貎啳媴驃 闓嵁抑椉 雰 嵒祑翯
谐岨早 买徜铪 栆錆裏 瀷蕰坻
撪霽镧汛超曂峽圦迅褿茣证鹙 嚚位溌喻顭煤陶荟潇蔵徼誂宑 縅宸呥鈴蹓帗欞媒
455454545445 Hkjjkhh
你
澼薥魌閭啼钷鹄扌躉緷聏建緢 烡萱耿鲳諗羭楠渊鬯轩脺媦黫 颢蹑烉寸芓儱缀坟
Cpk=Cp(1- Ca )無来自A BCD
等級標准
Ca ≦12.5% 12.5%< Ca ≦25% 25%< Ca ≦50%
50%< Ca
1.67 ≦ Cp
1.33≦Cp<1.67 1≦Cp<1.33 0.67≦Cp<1
Cp<0.67 1.67≦Cpk 1.33≦Cpk<1.67 1≦Cpk<1.33 0.67≦Cpk<1
cpk计算公式及详细解释
cpk计算公式及详细解释cpk（简称：Cp）是一个统计指标，它可以衡量特定程序的质量水平。
Cp评估是指对过程的控制状况（特别是在稳定的工艺过程中）的评估。
利用该指标，可以清楚地了解过程的控制水平，从而快速、有效地发现未控制的过程，从而可以采取措施进行优化，从而改善产品质量。
Cpk由以下公式组成：Cpk = min ( (T1 me) / (3σ) , (T2 me) / (3σ) ) 其中，T1和T2分别是规定的控制限，me是样本的平均值，σ是样本的标准差。
Cpk的计算方法及其解释：1、先确定规定控制限：既然要评估控制能力，那就要首先确定规定的控制限，即T1和T2，T1和T2分别是工艺上最高接受限度和最低接受限度，均为小于或等于0；2、计算样本的平均值：随后，利用样本测量结果计算出样本的平均值me，统一按照标准计算；3、计算样本的标准差：接下来，用测量结果计算样本的标准差σ，取其绝对值；4、计算Cpk：最后，使用以上参数计算Cpk，公式如上所示；5、解释Cpk：Cpk的值反映了过程的控制水平，Cpk的取值范围一般是0到10，若Cpk的取值在0-1之间，表明过程的控制水平低，需要重新检查并找出数据中的异常值；若Cpk的取值在1-2之间，表明过程的控制水平一般，需要多做努力，提高控制水平；若Cpk的取值在2-3之间，表明过程的控制水平良好，但仍可能存在较小改进空间；若Cpk的取值在3-4之间，表明过程的控制水平非常良好，此时可以进行改善，以进一步提高控制水平；若Cpk的取值大于4，表明过程的控制水平非常出色，可以放心使用。
Cpk具有以下优点：1、能够综合评估过程的控制水平：Cpk指标能够准确反映工艺过程中变量的控制水平；2、能够快速发现未控制的过程：Cpk指标可以很快地将未控制的过程从其他控制的过程中区分出来，因此可以确保良好的质量控制；3、能够及时对工艺过程进行优化：Cpk指标可以帮助发现问题，以及对工艺过程进行优化，从而改善产品的质量。
何谓CPK及CPK值的意义知识讲解
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品質之高低各級指標
超級優異之品質 一流品質 二流品質 三流品質 四流品質 五流品質 格外品質
Cp > 2.00 ;
Cpk > 1.50
Cp > 1.50 ; 1.33 < Cpk < 1.50
Cp > 1.20 ; 1.00 < Cpk < 1.33
Cp > 1.00 ; 0.80 < Cpk < 1.00
① Mounting position correcting data
② Light box
③ Board (240 x 215 Th:2.4)
④ Jig-QFP
30 pcs.
⑤ Nozzle 1005 6 pcs.
⑥ Low-adhesive double-sided tape
⑦ 5-hole teaching jig 1 pc.
63 0.57 0.002
68.3 95.5 99.73 99.9937 99.99995 ≒100
13
机器精度的测定（实装位置示教和CP/CPK）。
注意：进行本次测定前建议将设备进行暖机，时间不少于1小时。以便能获得更准确的数据。
•高速头单元实装位置 示教需要的材料：
④
⑤
③
①Mounting position correcting data
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什么是Cp?
•Cp:制程精密度 (Capability of Precision)
•Cp衡量的是“規格公差寬度”與“製程變異寬
度”之比例;
USL-X
对于只有规格上限和规格中心的规格： Cpu=
3s
对于只有规格下限和规格中心的规格： Cpl= X
CPK基本知识
Cpk的計算實例2
X=10.036;
σ=0.027;
Ca=(x-C)/(T/2)=(10.036-10)/0.1=0.36; Cp=(10+0.1-(10-0.1))/(6*0.027)=1.239; Cpk=Cpx(1-Ca)=1.239x(1-0.36)=0.793;
總結
代 號 定義 計算公式 雙邊規格 單邊規格 無 准確度: 比較制程實績平均值與規 Ca 格中心值一致的程度﹔ 精密度﹕ 比較規格公差寬度和制程 Cp 變異寬度﹔
Cpk的計算公式
Cpk=Cpx(1- Ca ); Cpk≦ Cp; Cpk是Cp和Ck的綜合表現﹔ Cpk Cp Ck ﹔
过程能力靶心圖
. . . . .
.
. ..
... .
Cp好﹐Ca差
.... ... . .
Cpk好﹔
Ca好﹐Cp差
Cpk等級評定及處理原則
等級 A+ A B C D Cpk值 ≧1.67 處理原則 無缺點考慮降低成本
和Cpk相关的几个重要概念2
USL (Upper specification limit):即規格上限 LSL (Low specification limit): 即規格下限 C：规格中心 X=(X1+X2+… …+Xn)/n 平均值 (n為樣本数) T=USL-LSL 規格公差 δ= (X1-X)2+(X2-X)2+… …+(Xn-X)2
和Cpk相关的几个重要概念1
单边规格：只有规格上限和规格中心或只有下限 单边规格 或规格中心的规格;如考试成绩不得低于80分，或 浮高不得超过0.5mm等；此時数据越接近上限或 下限越好﹔ 双边规格： 双边规格：有上下限与中心值,而上下限与中心值 對稱的规格；此时数据越接近中心值越好；如 D854前加工脚长规格2.8±0.2mm;
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ＣＰＫ制程指数
1. Cpk的中文定义为：制程能力指数，是某个工程或制程水准的量化反应，也是工程评估的一类指标。
2. 同Cpk息息相关的两个叁数：Ca , Cp.
Ca: 制程准确度。
Cp: 制程精密度。
3. Cpk, Ca, Cp三者的关系： Cpk = Cp * ( 1 - ┃Ca┃)，Cpk是Ca及Cp两者的中和反应，Ca反应的是位置关系(集中趋势)，Cp反应的是散布关系(离散趋势)
4. 当选择制程站别用Cpk来作管控时，应以成本做考量的首要因素，还有是其品质特性对后制程的影响度。
5. 计算取样数据至少应有20~25组数据，方具有一定代表性。
6. 计算Cpk除收集取样数据外，还应知晓该品质特性的规格上下限(USL，LSL)，才可顺利计算其值。
7. 首先可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ)，再计算出规格公差(T)，及规格中心值(u). 规格公差＝规格上限规格下限；规格中心值＝（规格上限+规格下限）/2；
8. 依据公式：Ca=(X’-U)/(T/2) ，计算出制程准确度：Ca值
9. 依据公式：Cp =T/6Sigma ，计算出制程精密度：Cp值
10.依据公式：Cpk=Cp*(1-绝对值Ca) ，计算出制程能力指数：Cpk值
11.Cpk的评级标准：（可据此标准对计算出之制程能力指数做相应对策）
A++级Cpk≥2.0 特优可考虑成本的降低
A+ 级 2.0 ＞Cpk ≥ 1.67 优应当保持之
A 级 1.67 ＞Cpk ≥ 1.33 良能力良好，状态稳定，但应尽力提升为A＋级
B 级 1.33 ＞Cpk ≥ 1.0 一般状态一般，制程因素稍有变异即有产生不良
的危险，应利用各种资源及方法将其提升为
A级
C 级 1.0 ＞Cpk ≥ 0.67 差制程不良较多，必须提升其能力
D 级 0.67 ＞ Cpk 不可接受其能力太差，应考虑重新整改设计制程。
现在很多的客户要求了解你生産设备的能力，都要求看你的Cpk值。
什麽是Cpk值？我这传载一些介绍给大家，要详细的了解，还是要看SPC。
SPC相关术语解释
您知道吗？---Cpk or Ppk
客户向你索要你所提供産品或过程的能力报告。
您知道要计算Cpk必须要有産品规格、平均值和Sigma，当您收集资讯时，有人可能会问：他们要哪一个Sigma？
要使用估计的Sigma还是计算的Sigma？哪一个更准确？很自然，大多数人都想让所使用的Sigma使Cpk 值看起来更好一点，但是这样的Sigma可能并不反映客户所要了解的生産过程。
爲了防止Cpk计算的混淆，出现了一个新的指数Ppk──工序性能指数。
Ppk使用从单值中计算出来的Sigma。
应该如何使用它们呢？
利用估计的Sigma计算出来的能力相关值（Cp、Cpk、Cr）被用於测度一个系统适合客户需要的潜在能力。
一般用它分析一个系统的自然倾向。
实际的或计算出来的Sigma以及相关指数（Pp、Ppk、Pr）被用於测度一个系统适合客户需要的执行情况或性能。
一般用它分析过程的实际性能。
您知道吗？---对称度与峰度：
对称度（Skewness，也称爲“歪斜度”）：度量分布离开正态分布的程度。
若分布不对称，就称爲歪斜。
如果分布的某一边比另一边多（“尾巴”），就都是有“歪斜”。
如果“尾巴”偏向於较大值，就称分布爲正歪斜或向右歪斜；如果“尾巴”偏向於较小值，就称分布爲负歪斜或向左歪斜。
峰度（Kurtosis）度量分布的尖锐程度。
值爲0表示爲正态分布。
若爲正值则说明更多的数值集中在均值附近；若爲负值说明曲线有一个比正态分布更尖的顶。
您知道吗？测量系统分析（MSA）的简单介绍
引言:在工厂的日常生産中，我们经常要对各种各样的测量资料进行分析，以得到某些结论或采取行动。
爲了保证得到的结论或采取的行动是正确的，除了保证正确的分析方法外，必须把注意力集中在测量资料的质量上。
测量资料的质量
测量系统指由操作、程式、量具、设备、软体以及操作人员的集合来获得测量结果的整个过程。
理想的测量系统在每次使用时，应只産生“正确”的测量结果，然而，几乎不存在具有这样理想的统计特性的测量系统。
测量资料品质与稳定条件下运行的某一测量系统得到的多次测量结果的统计特性有关，表徵资料品质最通用的统计特性是偏倚和方差。
所谓偏倚的特性，是指数据相对标准值的位置，而所谓方差的特性，是指数据的分布。
低质量数据最普通的原因之一是资料变差太大，一组测量的变差大多是由於测量系统和它的环境之间的交互作用造成的。
一个具有大量变差的测量系统，用来分析一个制造过程可能是不恰当的，因爲测量系统的变差可能会掩盖制造过程中的变差。
我们应该对测量系统变差进行监视和控制，如果测量资料的质量是不可接受的，则必须改进测量系统。
测量系统的统计特性
爲了获得高质量的测量资料，测量系统必须具有下述特性：
1) 测量系统必须处於统计控制中，这意味着测量系统中的变差只能是由於普通原因而非特殊原因造成的，这可称爲统计稳定性；
2) 测量系统的变异必须比制造过程的变异小；
3) 测量系统的变异应小於公差带；
4) 测量精度应高於过程变异和公差带两者中精度较高者，一般来说，测量精度是过程变异和公差带两者中精度较高者的十分之一；
5) 若测量系统统计特性可能随被测专案的改变而变化，则测量系统最大的变差应小於过程变差和公差带两者中的较小者。
测量系统评价
评价一个测量系统时，首先，应看该测量系统是否有足够的分辨力，即测量系统检出并如实指示被测特性中极小变化的能力，解析度最多是总过程的6Sigma（标准偏差）的十分之一。
测量系统误差可以分成五种类型：偏倚、线性、稳定性、重复性和再线性。
偏倚
偏倚指测量结果的观测平均值与基准值的差值；
偏倚=观察平均值-基准值
线性
线性指测量仪器预期工作范围内偏倚值的差别；在测量仪器的工作范围内选取一些零件可确定线性。
这些被选零件的偏倚由基准值与测量观察平均值之间的差值确定。
稳定性
稳定性指测量系统在某持续时间内测量同一基准或零件的单一特性时获得的测量值总变差；通过使用控制图来确定统计稳定性，控制图可提供方法来分离影响所有测量结果的原因産生的变差和特殊条件産生的变差
重复性和再现性（R&R）
重复性指测量一个零件的某特性时，一位评价人用同一量具多次测量的变差；测量过程的重复性意味着测量系统自身的变异是一致的。
由於仪器自身以及零件在仪器中位置变化导致的测量变差是重复性误差的两个一般原因。
再现性指测量一个零件的某特性时，不同评价人用同一量具测量的平均值变差。
测量过程的再现性表明评价人的变异性是一致的，变异性代表每位评价人造成的递增偏倚。
如果这种偏倚真正存在，每位评价人的所有平均值将会不同。
量具重复性和再现性（R&R）的可接受准则是：
低於10%的误差 - 测量系统可接受；
10%至30%的误差━ 根据应用的重要性、量具成本和维修的费用等可能是可接受的；
大於30%的误差━ 测量系统需要改进。
Cmk简单讲:
1.Cmk=设备能力指数,是德系体系中的一个指数,见于VDA标准中.
2.Cmk的计算公式同Cpk的表达式是一样的,Cmk=T/6s
3.不过有一些要求:
1) 收集数据50个以上;
2) 因是将设备作为考虑对象,故除了设备以外的影响因素如人员,操作方法和材料及测量等都要固定;
4.因指数考虑比较单纯,所以要求Cmk=1.67或以上.
以上是个人理解.。