X射线衍射参考答案
X射线衍射分析习题

X射线衍射分析习题及参考答案一、判断题1、只要原子内层电子被打出核外即产生特征X射线 (×)2、在K系辐射线中Kα2波长比Kα1旳长 (√)3、管电压越高则特征X射线波长越短 (×)4、X射线强度总是与管电流成正比 (√)5、辐射线波长愈长则物质对X射线旳吸收系数愈小 (×)6、满足布拉格方程2 d sinθ=λ必然发生X射线反射 (×)7、衍射强度实际是大量原子散射强度旳叠加 (√)8、温度因子是由于原子热振动而偏离平衡位置所致 (√)9、结构因子与晶体中原子散射因子有关 (√)10、倒易矢量代表对应正空间中旳晶面 (√)11、大直径德拜相机旳衍射线分辨率高但暴光时间长(√)12、标准PDF卡片中数据是绝对可靠旳 (×)13、定性物相分析中旳主要依据是d值和I值 (√)14、定量物相分析可以确定样品中旳元素含量 (×)15、定量物相分析K法优点是不需要掺入内标样品 (√)16、利用高温X射线衍射可以测量材料热膨胀系数(√)17、定量物相分析法中必须采用衍射积分强度 (√)18、丝织构对称轴总是沿着试样旳法线方向 (×)19、为获得更多衍射线条须利用短波长X射线进行衍射(√)20、板织构有时也具有一定旳对称性 (√)21、材料中织构不会影响到各晶面旳衍射强度 (×)22、粉末样品不存在择优取向即织构问题 (×)23、常规衍射仪X射线穿透金属旳深度通常在微米数量级 (√)24、粉末样品粒度尺寸直接关系到衍射峰形质量 (√)25、X射线应力测定方法对非晶材料也有效 (×)26、利用谢乐公式D=λ/(βcosθ) 可测得晶粒尺寸 (×)27、宏观应力必然造成衍射峰位移动 (√)28、微观应力有时也可造成衍射峰位移动 (√)29、材料衍射峰几何宽化仅与材料组织结构有关 (×)30、实测衍射线形是由几何线形与物理线形旳代数叠加 (×)二、选择题1、与入射X射线相比相干散射旳波长(A)较短,(B)较长,(C)二者相等,(D)不一定2、连续X射线旳总强度正比于(A)管电压平方,(B)管电流,(C)靶原子序数,(D)以上都是3、L层电子回迁K层且多余能量将另一L层电子打出核外即产生(A)光电子,(B)二次荧光,(C)俄歇电子,(D) A和B4、多晶样品可采用旳X射线衍射方法是(A)德拜-谢乐法,(B)劳厄法,(C)周转晶体法,(D) A和B5、某晶面族X射线衍射强度正比于该晶面旳(A)结构因子,(B)多重因子,(C)晶面间距,(D) A和B6、基于X射线衍射峰位旳测量项目是(A)结晶度,(B)点阵常数,(C)织构,(D)以上都是7、基于X射线衍射强度旳测量项目是(A)定量物相分析,(B)晶块尺寸,(C)内应力,(D)以上都是8、测定钢中奥氏体含量时旳X射线定量物相分析方法是(A)外标法,(B)内标法,(C)直接比较法,(D) K值法9、X射线衍射仪旳主要部分包括(A)光源,(B)测角仪光路,(C)计数器,(D)以上都是10、Cu靶X射线管旳最佳管电压约为(A) 20kV,(B) 40kV,(C) 60kV,(D) 80kV11、X射线衍射仪旳测量参数不包括(A)管电压,(B)管电流,(C)扫描速度,(D)暴光时间12、实现X射线单色化旳器件包括(A)单色器,(B)滤波片,(C)波高分析器,(D)以上都是13、测角仪半径增大则衍射旳(A)分辨率增大,(B)强度降低,(C)峰位移,(D) A与B14、宏观应力测定几何关系包括(A)同倾,(B)侧倾,(C) A与B,(D)劳厄背反射15、定性物相分析旳主要依据是(A)衍射峰位,(B)积分强度,(C)衍射峰宽,(D)以上都是16、定量物相分析要求采用旳扫描方式(A)连续扫描,(B)快速扫描,(C)阶梯扫描,(D) A与B17、描述织构旳方法不包括(A)极图,(B)反极图,(C) ODF函数,(D)径向分布函数18、面心立方点阵旳消光条件是晶面指数(A)全奇,(B)全偶,(C)奇偶混杂,(D)以上都是19、立方晶体(331)面旳多重因子是(A) 6 ,(B) 8 ,(C) 24 ,(D) 4820、哪种靶旳临界激发电压最低(A) Cu ,(B) Mo ,(C) Cr ,(D) Fe21、哪种靶旳K系特征X射线波长最短(A) Cu ,(B) Mo ,(C) Cr ,(D) Fe22、X射线实测线形与几何线形及物理线形旳关系为(A)卷积,(B)代数和,(C)代数积,(D)以上都不是23、与X射线非晶衍射分析无关旳是(A)径向分布函数,(B)结晶度,(C)原子配位数,(D)点阵参数24、宏观平面应力测定实质是利用(A)不同方位衍射峰宽差,(B)不同方位衍射峰位差,(C)有无应力衍射峰宽差,(D)有无应力衍射峰位差25、计算立方晶系ODF函数时需要(A)多张极图数据,(B)一张极图数据,(C)多条衍射谱数据,(D)一条衍射谱数据26、衍射峰半高宽与积分宽之关系通常(A)近似相等,(B)半高宽更大,(C)积分宽更大,(D)不一定27、关于厄瓦尔德反射球(A)球心为倒易空间原点,(B)直径即射线波长之倒数,(C)衍射条件是倒易点与该球面相交,(D)以上都是28、Kα双线分离度随2θ增大而(A)减小,(B)增大, (C)不变,(D)不一定29、d值误差随2θ增大而(A)减小,(B)增大, (C)不变,(D)不一定30、衍射谱线物理线形宽度随 2增大而(A)减小,(B)增大, (C)不变,(D)不一定三、填空题1、管电压较低时只产生连续谱,较高时则可能产生连续和特征谱2、K系特征X射线波长λ由短至长依次β、α1 和α23、Cu、Mo及Cr靶特征辐射波长λ由短至长依次 Mo 、 Cu 和 Cr4、特征X射线强度与管电流、管电压及特征激发电压有关5、X射线与物质旳相互作用包括散射和真吸收,统称为衰减6、结构振幅符号F,结构因子符号∣F∣2,结构因子等零称为消光7、除结构因子外,影响衍射强度因子包括多重因子、吸收因子和温度因子8、体心立方晶系旳低指数衍射晶面为 (110) 、(200) 和 (211)9、面心立方晶系旳低指数衍射晶面为 (111) 、(200) 和 (220)10、X射线衍射方法包括劳埃法、周转晶体法和粉末法11、衍射仪旳主要组成单元包括光源、测角仪光路和计数器12、影响衍射仪精度旳因素包括仪器、样品和实验方法13、衍射仪旳主要实验参数包括狭缝宽度、扫描范围和扫描速度14、衍射谱线定峰方法包括半高宽中点、顶部抛物线和重心法15、精确测量点阵常数旳方法包括图解外推法、最小二乘法和标样校正法16、X射线定量物相分析包括直接对比、内标和K值法17、三类应力衍射效应,衍射峰位移、衍射峰宽化和衍射峰强度降低18、X射线应力常数中包括材料旳弹性模量、泊松比和布拉格角19、棒材存在丝织构,板材存在板织构,薄膜存在丝织构20、X射线衍射线形包括实测线形、物理线形和仪器即几何线形四、名词解释1、七大晶系[要点]立方晶系、正方晶系、斜方晶系、菱方晶系、六方晶系、单斜晶系及三斜晶系。
x射线衍射考试题及答案

x射线衍射考试题及答案一、单项选择题(每题2分,共20分)1. X射线衍射的发现者是:A. 伦琴B. 贝克勒尔C. 布拉格父子D. 居里夫人答案:C2. 布拉格定律中,n代表:A. 衍射级数B. 晶面指数C. 入射角D. 反射角答案:A3. 下列哪种晶体结构不属于单晶体:A. 立方体B. 多面体C. 长方体D. 球体答案:D4. X射线衍射仪中,用于产生X射线的部件是:A. 样品台B. 探测器C. X射线管D. 滤波器答案:C5. 布拉格方程中,λ代表:A. 晶面间距B. X射线波长C. 衍射角D. 晶格常数答案:B6. X射线衍射中,衍射峰的强度与下列哪个因素无关:A. 晶体的取向B. 晶体的尺寸C. 晶体的纯度D. 样品的温度答案:D7. 布拉格定律的数学表达式为:A. nλ = 2d\sinθB. nλ = 2d\cosθC. nλ = d\sinθD. nλ = d\cosθ答案:A8. X射线衍射中,布拉格角θ与衍射峰的位置关系是:A. 正比关系B. 反比关系C. 无关D. 非线性关系答案:B9. 下列哪种晶体结构不属于多晶体:A. 粉末状晶体B. 纤维状晶体C. 单晶硅D. 多晶硅答案:C10. X射线衍射中,衍射峰的宽度与下列哪个因素有关:A. 晶体的尺寸B. 晶体的纯度C. 晶体的取向D. 样品的温度答案:A二、填空题(每空1分,共20分)1. X射线衍射的基本原理是晶体的______与X射线的______相互作用产生的衍射现象。
答案:晶格结构;波长2. 布拉格定律中,d代表______,λ代表______,θ代表______。
答案:晶面间距;X射线波长;衍射角3. 在X射线衍射中,晶体的取向会影响衍射峰的______,而晶体的尺寸会影响衍射峰的______。
答案:位置;宽度4. X射线衍射仪的主要部件包括X射线管、样品台、______和______。
答案:探测器;控制单元5. 布拉格方程的数学表达式为nλ = 2d\sinθ,其中n代表______,d代表______,λ代表______,θ代表______。
X射线衍射习题参考答案

原理:负号的个数和负号的位置排列组合。
二、解答题
1.下面是某立方晶系物质的几个晶面,请将它们按晶面间距的大小从
小到大依次排列。(123),(100),(200),(311),(121),(111),(210),
(220),(030),(221),(110)。
解:(123),(311),(221)(030),(220),(121),(210),(200),
3.一束 X 射线照射到晶体表面上能否产生衍射取决于( C )
A.是否满足布拉格条件 B.是否满足衍射强度 I≠0 C.A+B D.晶体ห้องสมุดไป่ตู้状
4.面心立方晶体的(111)晶面族的多重性因素是( B )
A.4
B.8 C.6
D.12
(111)(������11)(1������1)(11������)( ������������1)( ������ 1������ )( ������������������)( ������������������)
A.Cu
B.Fe
C.Ni
D.Mo
4.当电子把所有能量都转换为 X 射线时,该 X 射线波长称( A )
A.短波限λ0 B.激发限λk
C.吸收限 D.特征 X 射线
第二章
一、选择题
1.有一倒易矢量为 g*=2a※+2b※+c※,与它对应的正空间晶面为( C )
A.(220) B. (210) C.(221) D.(110)
(011),(212)。
解:由晶带定理,属于该晶带的晶面为:(1������������),(0������������)
4.试计算(311)及(132)的共同晶带轴。
X衍射测试题及答案

X衍射测试题及答案一、选择题1. X射线衍射的发现者是:A. 爱因斯坦B. 普朗克C. 劳厄D. 布拉格2. 下列关于X射线衍射的描述,错误的是:A. X射线衍射可用于晶体结构分析B. X射线衍射现象是X射线与物质相互作用的结果C. X射线衍射只发生在晶体上D. X射线衍射可用于非晶体材料的分析3. 布拉格定律的数学表达式是:A. nλ = 2d sinθB. nλ = d sinθC. λ = 2d sinθD. λ = d sinθ二、填空题4. X射线衍射实验中,晶体平面间距为d,入射X射线的波长为λ,衍射角为2θ,当满足______时,会发生衍射现象。
5. 布拉格定律是X射线衍射研究中的一个重要定律,它描述了衍射条件与晶体结构的关系,其表达式为2d sinθ = ______。
三、简答题6. 简述X射线衍射在材料科学中的应用。
7. 解释什么是布拉格定律,并说明其在X射线衍射分析中的重要性。
四、计算题8. 已知某晶体的晶面间距为0.34纳米,入射X射线的波长为1.54埃,试计算衍射角2θ。
五、分析题9. 根据给定的X射线衍射图谱,分析晶体的晶面间距和晶格类型。
六、论述题10. 论述X射线衍射技术在现代科学研究中的重要性及其应用前景。
答案:一、选择题1. C2. D3. C二、填空题4. nλ = 2d sinθ5. nλ三、简答题6. X射线衍射在材料科学中的应用包括但不限于晶体结构分析、材料相变研究、缺陷分析等。
7. 布拉格定律是描述X射线在晶体中发生衍射的条件,其表达式为2d sinθ = nλ,其中n为衍射级数,λ为入射X射线的波长,d为晶体平面间距,θ为衍射角。
这一定律对于确定晶体结构和分析晶体缺陷具有重要意义。
四、计算题8. 根据布拉格定律,2d sinθ = nλ,可得sinθ = (nλ) / (2d)。
将给定的数值代入,得sinθ = (1.54埃) / (2 * 0.34纳米)。
X射线衍射参考答案

第一部分X射线衍射1.X射线的本质是什么?谁首先发现了X射线,谁揭示了X射线的本质?2.X射线学有几个分支?每个分支的研究对象是什么?答:X射线学分为三大分支:X射线透射学、X射线衍射学、X射线光谱学。
X射线透射学的研究对象有人体,工件等,用它的强透射性为人体诊断伤病、用于探测工件内部的缺陷等。
X射线衍射学是根据衍射花样,在波长已知的情况下测定晶体结构,研究与结构和结构变化的相关的各种问题。
X射线光谱学是根据衍射花样,在分光晶体结构已知的情况下,测定各种物质发出的X 射线的波长和强度,从而研究物质的原子结构和成分。
3.为什么特征X射线的产生存在一个临界激发电压?X射线管的工作电压与其靶材的临界激发电压有什么关系?为什么?4. 产生X射线需具备什么条件?答:实验证实:在高真空中,凡高速运动的电子碰到任何障碍物时,均能产生X射线,对于其他带电的基本粒子也有类似现象发生。
电子式X射线管中产生X射线的条件可归纳为:1,以某种方式得到一定量的自由电子;2,在高真空中,在高压电场的作用下迫使这些电子作定向高速运动;3,在电子运动路径上设障碍物以急剧改变电子的运动速度。
5.X射线具有波粒二象性,其微粒性和波动性分别表现在哪些现象中?答:波动性主要表现为以一定的频率和波长在空间传播,反映了物质运动的连续性;微粒性主要表现为以光子形式辐射和吸收时具有一定的质量,能量和动量,反映了物质运动的分立性。
6.什么是光电效应?光电效应在材料分析中有哪些用途?光电效应是指以光子激发电子所发生的激发和辐射过程称为光电效应。
光电效应在材料分析可用于光电子能谱分析与荧光光谱分析。
7. 分析下列荧光辐射产生的可能性,为什么?(1)用CuKαX射线激发CuKα荧光辐射;(2)用CuKβX射线激发CuKα荧光辐射;(3)用CuKαX射线激发CuLα荧光辐射。
答:根据经典原子模型,原子内的电子分布在一系列量子化的壳层上,在稳定状态下,每个壳层有一定数量的电子,他们有一定的能量。
材料测试答案1(1)

1.名词解释:相干散射(汤姆逊散射):入射线光子与原子内受核束缚较紧的电子(如内层电子)发生弹性碰撞作用,仅其运动方向改变而没有能量改变的散射。
又称弹性散射;不相干散射(康普顿散射):入射线光子与原子内受核束缚较弱的电子(如外层电子)或晶体中自由电子发生非弹性碰撞作用,在光子运动方向改变的同时有能量损失的散射。
又称非弹性散射;荧光辐射:物质微粒受电磁辐射激发(光致激发)后辐射跃迁发射的光子(二次光子)称为荧光或磷光,吸收一次光子与发射二次光子之间延误时间很短(10-8~10-4s)称荧光,延误时间较长(10-4~10s)则为磷光;(有待确定)俄歇效应:如原子的退激发不以发射X射线的方式进行则将以发射俄歇电子的德方式进行,此过程称俄歇过程或俄歇效应;吸收限:当入射X射线光子能量达到某一阈值可击出物质原子内层电子时,产生光电效应。
与此能量阈值相应的波长称为物质的吸收限。
晶面指数与晶向指数:为了表示晶向和晶面的空间取向(方位),采用统一的标识,称为晶向指数和晶面指数;晶带:晶体中平行于同一晶向的所有晶面的总体干涉面:晶面间距为d HKL/n、干涉指数为nh、 nk、 nl的假想晶面称为干涉面X射线散射:X射线衍射:X射线反射:结构因子:晶胞沿(HKL)面反射方向的散射波即衍射波F HKL是晶胞所含各原子相应方向上散射波的合成波,表征了晶胞的衍射强度;多重因子:通常将同一晶面族中等同晶面组数P称为衍射强度的多重性因数。
罗仑兹因子:系统消光:因︱F︱2=0而使衍射线消失的现象称为系统消光。
2.讨论下列各组概念中二者之间的关系:1)同一物质的吸收谱和发射谱;答:当构成物质的分子或原子受到激发而发光,产生的光谱称为发射光谱,发射光谱的谱线与组成物质的元素及其外围电子的结构有关。
吸收光谱是指光通过物质被吸收后的光谱,吸收光谱则决定于物质的化学结构,与分子中的双键有关。
2)X射线管靶材的发射谱与其配用的滤波片的吸收谱。
X射线衍射数据基本处理题库

第5节 X 射线衍射图谱基本处理1.衍射线峰位的确定方法有哪几种?各适用于什么情况?答:1) 峰顶法:对于线形尖锐的衍射峰采取峰顶法2)切线法:对于线形顶部平坦但两侧直线性好的衍射峰可采取切线法3)半高宽中点法:对于峰型顶部平坦、两侧直线性不好的衍射峰可采用半高宽中点法。
4)7/8高度法:当有重叠峰存在,但峰顶能明显分开的用7/8高度法5)中点连线法:类似半高宽中点法6)抛物线拟合法:线形漫散、双线分辨不清7)重心法:用于各种峰型但计算量大2.画图说明半高宽中点法确定峰位的方法。
1.连接峰两边背底作背底线ab 。
2. 从表观极大点P 作X 轴垂线PP 。
3. 过PP’中点O 作ab 平行线MN 。
4.MN 的中点O 即为峰位。
3.试说明作图法分离K ɑ双峰的过程。
画出了()12I q 、()22I q 和它们的合成强度曲线()2I q 。
图中的oabcde 曲线代表()12I q ,o a b c d e ᄁᄁᄁᄁᄁᄁ代表()22I q 。
K a 双峰分离-作图法由图可知,从()12I q 的起点o 开始到2q d =之间,2K a 线的成分是不存在的,故这一范围内的()2I q 就是()12I q ,即oa 是()12I q 第一段。
从d 到2d 之间,()2I q 由()12I q 和()22I q 叠合而成。
()22I q 的第一段0a ᄁᄁ可从oa 求得,只要将oa 的各对应点的强度除以 2就可以了。
然后从()2I q 的第二段an 减去0a ᄁᄁ就可得到()12I q 的第二段ab 。
从2d 到3d 区间内,2K a 的强度曲线a b ᄁᄁ可从曲线段ab 求出,只要将ab 的各点强度除以2,再平移到该区间就行了。
采用这种办法可将强度曲线()12I q 和()22I q 都求出来,达到从实验测定的强度曲线()2I q 分离出()12I q 和()22I q 的目的。
ch06X射线衍射分析原理_材料分析测试答案

第六章 X 射线衍射方法教材习题:6-1 Cu K α辐射(λ=0.154nm )照射Ag (f .c .c )样品,测得第一衍射峰位置2θ=38︒,试求Ag 的点阵常数。
解:查教材91页表6-1,面心立方(f .c .c )晶体的第一衍射峰的干涉指数为(111)。
由立方晶系晶面间距公式222L K H a d HKL ++=和布拉格方程λθ=sin 2HKL d ,可得)(409.0 111)2/38sin(2154.0 sin 2222nm nm L K H a ≈++=++⋅=θλ答:Ag 的点阵常数a =0.409nm 。
(波长小数点后只有3位有效数字,所以小数点后只保留3位有效数字)(教材附录3中Ag 的点阵常数a = 4.0856Å = 0.40856 nm )6-2 试总结德拜法衍射花样的背底来源,并提出一些防止和减少背底的措施。
答:德拜法衍射花样的背底来源主要有:(1)X 射线被样品吸收,荧光X 射线强;(2)样品结晶不好,非晶质样品则不产生线条;(3)电压不适当,特征X 射线不强;(4)底片过期或损坏;(5)入射X 射线的单色性不好(连续X 射线和K β辐射的干扰)等。
防止和减少背底的主要措施:(1)选择合适的靶材(即选用合适的入射特征X 射线),尽量少地激发样品产生荧光X 射线,以降低衍射花样背底,使图像清晰;(2)选择适当电压和电流,提高入射X 射线的强度;(3)选择合适的狭缝宽度(在保证入射X 射线强度的前提下,尽量减小狭缝宽度),提高X射线的单色性;(4)选择适当的滤光片,尽量减少连续X射线和Kβ辐射的干扰,等等。
6-3图题6-1为某样品德拜相(示意图),摄照时未经滤波。
已知1、2为同一晶面衍射线,3、4为另一晶面衍射线,试对此现象作出解释。
图题6-1答:由于摄照时未经滤波,所以入射X射线是多种波长的混合射线(以Kα和Kβ射线为主)。
根据衍射产生的必要条件——布位格方程2d sinθ=λ,波长(λ)不同,将产生不同位置的衍射线对。
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第一部分X射线衍射1.X射线的本质是什么?谁首先发现了X射线,谁揭示了X射线的本质?2.X射线学有几个分支?每个分支的研究对象是什么?答:X射线学分为三大分支:X射线透射学、X射线衍射学、X射线光谱学。
X射线透射学的研究对象有人体,工件等,用它的强透射性为人体诊断伤病、用于探测工件内部的缺陷等。
X射线衍射学是根据衍射花样,在波长已知的情况下测定晶体结构,研究与结构和结构变化的相关的各种问题。
X射线光谱学是根据衍射花样,在分光晶体结构已知的情况下,测定各种物质发出的X 射线的波长和强度,从而研究物质的原子结构和成分。
3.为什么特征X射线的产生存在一个临界激发电压?X射线管的工作电压与其靶材的临界激发电压有什么关系?为什么?4. 产生X射线需具备什么条件?答:实验证实:在高真空中,凡高速运动的电子碰到任何障碍物时,均能产生X射线,对于其他带电的基本粒子也有类似现象发生。
电子式X射线管中产生X射线的条件可归纳为:1,以某种方式得到一定量的自由电子;2,在高真空中,在高压电场的作用下迫使这些电子作定向高速运动;3,在电子运动路径上设障碍物以急剧改变电子的运动速度。
5.X射线具有波粒二象性,其微粒性和波动性分别表现在哪些现象中?答:波动性主要表现为以一定的频率和波长在空间传播,反映了物质运动的连续性;微粒性主要表现为以光子形式辐射和吸收时具有一定的质量,能量和动量,反映了物质运动的分立性。
6.什么是光电效应?光电效应在材料分析中有哪些用途?光电效应是指以光子激发电子所发生的激发和辐射过程称为光电效应。
光电效应在材料分析可用于光电子能谱分析与荧光光谱分析。
7. 分析下列荧光辐射产生的可能性,为什么?(1)用CuKαX射线激发CuKα荧光辐射;(2)用CuKβX射线激发CuKα荧光辐射;(3)用CuKαX射线激发CuLα荧光辐射。
答:根据经典原子模型,原子内的电子分布在一系列量子化的壳层上,在稳定状态下,每个壳层有一定数量的电子,他们有一定的能量。
最内层能量最低,向外能量依次增加。
根据能量关系,M、K层之间的能量差大于L、K成之间的能量差,K、L层之间的能量差大于M、L层能量差。
由于释放的特征谱线的能量等于壳层间的能量差,所以Kß的能量大于Ka的能量,Ka能量大于La的能量。
因此在不考虑能量损失的情况下:(1)CuKa能激发CuKa荧光辐射;(能量相同)(2)CuKß能激发CuKa荧光辐射;(Kß>Ka)(3)CuKa能激发CuLa荧光辐射;(Ka>la)8.计算当管电压为50 kv时,电子在与靶碰撞时的速度与动能以及所发射的连续谱的短波限和光子的最大动能。
解:已知条件:U=50kv电子静止质量:m0=9.1×10-31kg光速:c=2.998×108m/s电子电量:e=1.602×10-19C普朗克常数:h=6.626×10-34J.s电子从阴极飞出到达靶的过程中所获得的总动能为E=eU=1.602×10-19C×50kv=8.01×10-18kJ由于E=1/2m0v02所以电子与靶碰撞时的速度为v0=(2E/m0)1/2=4.2×106m/s所发射连续谱的短波限λ0的大小仅取决于加速电压λ0(Å)=12400/v(伏) =0.248Å辐射出来的光子的最大动能为E0=hʋ0=hc/λ0=1.99×10-15J9.特征X射线与荧光X射线的产生机理有何异同?某物质的K系荧光X射线波长是否等于它的K系特征X射线波长?答:特征X射线与荧光X射线都是由激发态原子中的高能级电子向低能级跃迁时,多余能量以X 射线的形式放出而形成的。
不同的是:高能电子轰击使原子处于激发态,高能级电子回迁释放的是特征X射线;以 X射线轰击,使原子处于激发态,高能级电子回迁释放的是荧光X 射线。
某物质的K系特征X射线与其K系荧光X射线具有相同波长。
10. 连续谱是怎样产生的?其短波限0 1.24hc eV Vλ==与某物质的吸收限1.24k k khc eV V λ==有何不同(V 和V K 以Kv 为单位)? 答 当ⅹ射线管两极间加高压时,大量电子在高压电场的作用下,以极高的速度向阳极轰击,由于阳极的阻碍作用,电子将产生极大的负加速度。
根据经典物理学的理论,一个带负电荷的电子作加速运动时,电子周围的电磁场将发生急剧变化,此时必然要产生一个电磁波,或至少一个电磁脉冲。
由于极大数量的电子射到阳极上的时间和条件不可能相同,因而得到的电磁波将具有连续的各种波长,形成连续ⅹ射线谱。
在极限情况下,极少数的电子在一次碰撞中将全部能量一次性转化为一个光量子,这个光量子便具有最高能量和最短的波长,即短波限。
连续谱短波限只与管压有关,当固定管压,增加管电流或改变靶时短波限不变。
原子系统中的电子遵从泡利不相容原理不连续地分布在K,L,M,N 等不同能级的壳层上,当外来的高速粒子(电子或光子)的动能足够大时,可以将壳层中某个电子击出原子系统之外,从而使原子处于激发态。
这时所需的能量即为吸收限,它只与壳层能量有关。
即吸收限只与靶的原子序数有关,与管电压无关。
11. 什么会出现吸收限?K 吸收限为什么只有一个而L 吸收限有三个?当激发K 系荧光Ⅹ射线时,能否伴生L 系?当L 系激发时能否伴生K 系?答:一束X 射线通过物体后,其强度将被衰减,它是被散射和吸收的结果。
并且吸收是造成强度衰减的主要原因。
物质对X 射线的吸收,是指X 射线通过物质对光子的能量变成了其他形成的能量。
X 射线通过物质时产生的光电效应和俄歇效应,使入射X 射线强度被衰减,是物质对X 射线的真吸收过程。
光电效应是指物质在光子的作用下发出电子的物理过程。
因为L 层有三个亚层,每个亚层的能量不同,所以有三个吸收限,而K 只是一层,所以只有一个吸收限。
激发K 系光电效应时,入射光子的能量要等于或大于将K 电子从K 层移到无穷远时所做的功Wk 。
从X 射线被物质吸收的角度称入K 为吸收限。
当激发K 系荧光X 射线时,能伴生L 系,因为L 系跃迁到K 系自身产生空位,可使外层电子迁入,而L 系激发时不能伴生K 系。
12.欲用Mo 靶X 射线管激发Cu 的荧光X 射线辐射,所需施加的最低管电压是多少?激发出的荧光辐射的波长是多少?13. 已知钼的k αλ=0.71Å,铁的k αλ=1.93Å及钴的k αλ=1.79Å,试求光子的频率和能量。
试计算钼的K 激发电压,已知钼的k αλ=0.619Å。
已知钴的K 激发电压V K =7.71Kv ,试求其λK 。
解:⑴由公式νK a=c/λK a 及E =h ν有:对钼,ν=3×108/(0.71×10-10)=4.23×1018(Hz )E=6.63×10-34×4.23×1018=2.80×10-15(J )对铁,ν=3×108/(1.93×10-10)=1.55×1018(Hz )E=6.63×10-34×1.55×1018=1.03×10-15(J )对钴,ν=3×108/(1.79×10-10)=1.68×1018(Hz )E=6.63×10-34×1.68×1018=1.11×10-15(J )⑵ 由公式λK =1.24/V K ,对钼V K =1.24/λK =1.24/0.0619=20(kv)对钴λK =1.24/V K =1.24/7.71=0.161(nm)=1.61(À)。
14. X 射线实验室用防护铅屏厚度通常至少为lmm ,试计算这种铅屏对Cu Kα、Mo Kα辐射的透射系数各为多少?解:穿透系数I H /I O =e -μm ρH ,其中μm :质量吸收系数/cm 2g -1,ρ:密度/g cm -3H :厚度/cm ,本题ρPb =11.34g cm -3,H=0.1cm对Cr K α,查表得μm=585cm 2g -1,其穿透系数I H /I O =e -μm ρH =e -585×11.34×0.1=7.82×e -289=71.1310-⨯ 对Mo K α,查表得μm=141cm 2g -1,其穿透系数I H /I O =e -μm ρH =e -141×11.34×0.1=3.62×e -70=121.35210-⨯15. 厚度为1mm 的铝片能把某单色X 射线束的强度降低为原来的23.9%,试求这种X 射线的波长。
试计算含Wc =0.8%,Wcr =4%,Ww =18%的高速钢对Mo Kα辐射的质量吸收系数。
解:•I H =I 0e-(μ/ρ) ρH =I 0e-μm ρH •式中μm =μ/ρ称质量衷减系数, 其单位为cm 2/g ,ρ为密度,H 为厚度。
今查表Al 的密度为2.70g/cm -3. H=1mm, I H =23.9% I 0带入计算得μm =5.30查表得:λ=0.07107nm (MoK α)μm=ω1μm1+ω2μm2+…ωi μmiω1, ω2 ωi 为吸收体中的质量分数,而μm1,μm2 μmi 各组元在一定X 射线衰减系数μm=0.8%×0.70+4%×30.4+18%×105.4+(1-0.8%-4%-18%)×38.3=49.7612(cm 2/g )16. 欲使钼靶X 射线管发射的X 射线能激发放置在光束中的铜样品发射K 系荧光辐射,问需加的最低的管压值是多少?所发射的荧光辐射波长是多少? 解:eV k =hc/λV k =6.626×10-34×2.998×108/(1.602×10-19×0.71×10-10)=17.46(kv)λ0=1.24/v(nm)=1.24/17.46(nm)=0.071(nm)其中 h 为普郎克常数,其值等于6.626×10-34 e 为电子电荷,等于1.602×10-19c故需加的最低管电压应≥17.46(kv),所发射的荧光辐射波长是0.071纳米。
17. 什么厚度的镍滤波片可将Cu Kα辐射的强度降低至入射时的70%?如果入射X 射线束中K α和K β强度之比是5:1,滤波后的强度比是多少?已知μmα=49.03cm2/g ,μmβ=290cm2/g 。