用双棱镜干涉测半导体激光波长
用双棱镜干涉测光波波长(2)-图文
用双棱镜干涉测光波波长(2)-图文【实验目的】1．掌握用双棱镜获得双光束干涉的方法，加深对干涉条件的理解．2．学会用双棱镜测定钠光的波长.【仪器和用具】光具座，单色光源（钠灯），可调狭缝，双棱镜，辅助透镜（两片），测微目镜，白屏.【实验原理】如果两列频率相同的光波沿着几乎相同的方向传播，并且它们的位相差不随时间而变化，那么在两列光波相交的区域，光强分布是不均匀的，而是在某些地方表现为加强，在另一些地方表现为减弱（甚至可能为零），这种现象称为光的干涉，菲涅耳利用图1所示的装置，获得了双光束的干涉现象，图中AB是双棱镜，它的外形结构如图2所示，将一块平玻璃板的一个表面加工成两楔形板，端面与棱脊垂直，楔角A较小（一般小于1）．从单色光源发出的光经透镜L会聚于狭缝S，使成S为具有较大亮度的线状光源．从狭缝S发出的光，经双棱镜折射后，其波前被分割成两部分，形成两束光，就好像它们是由虚光源S1和S2发出的一样，满足相干光源条件，因此在两束光的交叠区域P1P2内产生干涉．当观察屏P离双棱镜足够远时，在屏上可观察到平行于狭缝S的、明暗相间的、等间距干涉条纹．图1双棱镜干涉实验光路图2双棱镜结构设两虚光源S1和S2之间的距离为d，虚光源所在的平面（近似地在光源狭缝S的平面内）到观察屏P的距离为D，且dD，干涉条纹间距为某，则实验所用光源的波长为d某(1)D因此，只要测出d、D和某，就可用(1)式计算出光波波长．【实验内容】1．调节共轴(1)按图1所示次序，将单色光源S0，会聚透镜L，狭缝S，双棱镜AB与测微目镜P放置在光具座上．用目视法粗略地调节它们中心等高、共轴，棱脊和狭缝S的取向大体平行．(2)点亮光源S0，通过透镜L照亮狭缝S，用手执白纸屏在双棱镜后面检查：经双棱镜折射后的光束，有否叠加区P1P2（应更亮些）叠加区能否进入测微目镜？当移动白屏时，叠加区是否逐渐向左、右（或上、下）偏移？根据观测到的现象，作出判断，进行必要的调节使之共轴．2．调节干涉条纹(1)减小狭缝S的宽度，绕系统的光轴缓慢地向左或右旋转双棱镜AB，当双棱镜的棱脊与狭缝的取向严格平行时，从测微目镜中可观察到清晰的干涉条纹．(2)在看到清晰的干涉条纹后，为便于测量，将双棱镜或测微目镜前后移动，使干涉条纹的宽度适当．同时只要不影响条纹的清晰度，可适当增加狭缝S的缝宽，以保持干涉条纹有足够的亮度．（注：双棱镜和狭缝的距离不宜过小，因为减小它们的距离，S1和S2间距也将减小，这对d的测量不利．）3．测量与计算(1)用测微目镜测量干涉条纹的间距如，为了提高测量精度，可测出n条（10～20条）干涉条纹的间距某，除以n，即得某.测量时，先使目镜叉丝对准某亮纹（或暗纹）的中心，然后旋转测微螺旋，使叉丝移过n个条纹，读出两次读数，重复测量几次，求出某.(2)用光具座支架中心间距测量狭缝至观察屏的距离D.由于狭缝平面与其支架中心不重合，且测微目镜的分划板（叉丝）平面也与其支架中心不重合，所以必须进行修正，以免导致测量结果的系统误差，测量几次，求出D．(3)用透镜两次成像法测两虚光源的间距d．参见图3，保持狭缝S与双棱镜AB的位置不变，即与测量干涉条纹间距某时的相同（问：为什么不许动？），在双棱镜与测微目镜之间放置一已知焦距为f的会聚透镜L，移动测微目镜使它到狭缝S的距离D4f，然后维持恒定，沿光具座前后移动透镜L，就可以在L的两个不同位置上从测微目镜中看，其中一组为放大的实像，另一组为缩小的和S2到两虚光源S1和S2经透镜所成的实像S1实像．分别测得两放大像的间距d1，和两缩小像的间距d2，则按下式即可求得两虚光源的间距d．多测几次，取平均值d．dd1d2(2)图3用透镜两次成像法测两虚光源的间距d(4)用所测得的某、D、d值，代入式(1)，求出光源的波长．(5)计算波长测量值的标准不确定度．4．注意事项(1)使用测微目镜时，首先要确定测微目镜读数装置的分格精度，要注意防止回程差，旋转读数鼓轮时动作要平稳、缓慢，测量装置要保持稳定．(2)在测量D值时，因为狭缝平面和测微目镜的分划板平面均不和光具座滑块的读数准线（支架中心）共面，必须引入相应的修正,否则将引起较大的系统误差．(3)测量d1、d2时，由于透镜像差的影响，将引入较大误差，可在透镜L上加一直径约lcm的圆孔光阑（用黑纸）以增加d1、d2测量的精确度．（可对比一下加或不加光阑的测量结果．）【思考题】1．双棱镜和光源之间为什么要放一狭缝？为何缝要很窄且严格平行于双棱镜脊才可以得到清晰的干涉条纹？2．试证明公式dd1d2.附：测量钠光波长数据记录与处理表1.干涉条纹间距某的测量结果10条干涉条纹间距序数读数1序数读数210某(mm)k1k2k3k1+10k2+10k3+10k4k5k4+10k5+10D=(mm)某=(mm)表2.用而成成像法测量虚光源像的结果放大像(mm)序数读数112345平均值读数2缩小像(mm)d1读数1读数2d2 d某d1d2某=DD不确定度计算举例：用双棱镜测量光源的波长（λ）实验，测量公式为：d1d2某1nD式中d1为两虚光源经透镜L1所成二亮线（光源实像）的间距，d2为透镜移至L2二亮线的间距，D为虚光源到其实像的距离。
用双棱镜干涉测光波波长(2)-图文
用双棱镜干涉测光波波长(2)-图文【实验目的】1．掌握用双棱镜获得双光束干涉的方法，加深对干涉条件的理解．2．学会用双棱镜测定钠光的波长.【仪器和用具】光具座，单色光源（钠灯），可调狭缝，双棱镜，辅助透镜（两片），测微目镜，白屏.【实验原理】如果两列频率相同的光波沿着几乎相同的方向传播，并且它们的位相差不随时间而变化，那么在两列光波相交的区域，光强分布是不均匀的，而是在某些地方表现为加强，在另一些地方表现为减弱（甚至可能为零），这种现象称为光的干涉，菲涅耳利用图1所示的装置，获得了双光束的干涉现象，图中AB是双棱镜，它的外形结构如图2所示，将一块平玻璃板的一个表面加工成两楔形板，端面与棱脊垂直，楔角A较小（一般小于1）．从单色光源发出的光经透镜L会聚于狭缝S，使成S为具有较大亮度的线状光源．从狭缝S发出的光，经双棱镜折射后，其波前被分割成两部分，形成两束光，就好像它们是由虚光源S1和S2发出的一样，满足相干光源条件，因此在两束光的交叠区域P1P2内产生干涉．当观察屏P离双棱镜足够远时，在屏上可观察到平行于狭缝S的、明暗相间的、等间距干涉条纹．图1双棱镜干涉实验光路图2双棱镜结构设两虚光源S1和S2之间的距离为d，虚光源所在的平面（近似地在光源狭缝S的平面内）到观察屏P的距离为D，且dD，干涉条纹间距为某，则实验所用光源的波长为d某(1)D因此，只要测出d、D和某，就可用(1)式计算出光波波长．【实验内容】1．调节共轴(1)按图1所示次序，将单色光源S0，会聚透镜L，狭缝S，双棱镜AB与测微目镜P放置在光具座上．用目视法粗略地调节它们中心等高、共轴，棱脊和狭缝S的取向大体平行．(2)点亮光源S0，通过透镜L照亮狭缝S，用手执白纸屏在双棱镜后面检查：经双棱镜折射后的光束，有否叠加区P1P2（应更亮些）叠加区能否进入测微目镜？当移动白屏时，叠加区是否逐渐向左、右（或上、下）偏移？根据观测到的现象，作出判断，进行必要的调节使之共轴．2．调节干涉条纹(1)减小狭缝S的宽度，绕系统的光轴缓慢地向左或右旋转双棱镜AB，当双棱镜的棱脊与狭缝的取向严格平行时，从测微目镜中可观察到清晰的干涉条纹．(2)在看到清晰的干涉条纹后，为便于测量，将双棱镜或测微目镜前后移动，使干涉条纹的宽度适当．同时只要不影响条纹的清晰度，可适当增加狭缝S的缝宽，以保持干涉条纹有足够的亮度．（注：双棱镜和狭缝的距离不宜过小，因为减小它们的距离，S1和S2间距也将减小，这对d的测量不利．）3．测量与计算(1)用测微目镜测量干涉条纹的间距如，为了提高测量精度，可测出n条（10～20条）干涉条纹的间距某，除以n，即得某.测量时，先使目镜叉丝对准某亮纹（或暗纹）的中心，然后旋转测微螺旋，使叉丝移过n个条纹，读出两次读数，重复测量几次，求出某.(2)用光具座支架中心间距测量狭缝至观察屏的距离D.由于狭缝平面与其支架中心不重合，且测微目镜的分划板（叉丝）平面也与其支架中心不重合，所以必须进行修正，以免导致测量结果的系统误差，测量几次，求出D．(3)用透镜两次成像法测两虚光源的间距d．参见图3，保持狭缝S与双棱镜AB的位置不变，即与测量干涉条纹间距某时的相同（问：为什么不许动？），在双棱镜与测微目镜之间放置一已知焦距为f的会聚透镜L，移动测微目镜使它到狭缝S的距离D4f，然后维持恒定，沿光具座前后移动透镜L，就可以在L的两个不同位置上从测微目镜中看，其中一组为放大的实像，另一组为缩小的和S2到两虚光源S1和S2经透镜所成的实像S1实像．分别测得两放大像的间距d1，和两缩小像的间距d2，则按下式即可求得两虚光源的间距d．多测几次，取平均值d．dd1d2(2)图3用透镜两次成像法测两虚光源的间距d(4)用所测得的某、D、d值，代入式(1)，求出光源的波长．(5)计算波长测量值的标准不确定度．4．注意事项(1)使用测微目镜时，首先要确定测微目镜读数装置的分格精度，要注意防止回程差，旋转读数鼓轮时动作要平稳、缓慢，测量装置要保持稳定．(2)在测量D值时，因为狭缝平面和测微目镜的分划板平面均不和光具座滑块的读数准线（支架中心）共面，必须引入相应的修正,否则将引起较大的系统误差．(3)测量d1、d2时，由于透镜像差的影响，将引入较大误差，可在透镜L上加一直径约lcm的圆孔光阑（用黑纸）以增加d1、d2测量的精确度．（可对比一下加或不加光阑的测量结果．）【思考题】1．双棱镜和光源之间为什么要放一狭缝？为何缝要很窄且严格平行于双棱镜脊才可以得到清晰的干涉条纹？2．试证明公式dd1d2.附：测量钠光波长数据记录与处理表1.干涉条纹间距某的测量结果10条干涉条纹间距序数读数1序数读数210某(mm)k1k2k3k1+10k2+10k3+10k4k5k4+10k5+10D=(mm)某=(mm)表2.用而成成像法测量虚光源像的结果放大像(mm)序数读数112345平均值读数2缩小像(mm)d1读数1读数2d2 d某d1d2某=DD不确定度计算举例：用双棱镜测量光源的波长（λ）实验，测量公式为：d1d2某1nD式中d1为两虚光源经透镜L1所成二亮线（光源实像）的间距，d2为透镜移至L2二亮线的间距，D为虚光源到其实像的距离。
用双棱镜测定光波波长.
xk d D
当
(k 0, 1, 2,)
k
在
D x k k d
处产生亮条纹；
D 1 1 而当 (k ) 即 x k (k ) 产生暗条纹。 d 2 2 D 这样，两相邻亮条纹的距离为：x x k 1 x k d
如果测得D，d及便可由式求出 λ值。
二.如何测量测量D、d、Δx
用两次成像法测量D、d，如下图示意：
在实验光具座上测出透镜两次移动间距（Δ），同时 用测微目镜测量放大和缩小虚光源的间距（d’、d’’）
d dd
'
''
D 2 f 4 f 2 2
测量 Δx
直接用测微目镜测量多条干涉条纹间距nΔX 注意:用测微目镜测量时，要克服螺距差
四.实验仪器
干涉 滤波 片 可调 狭缝
双棱镜 凸透镜 测微 目镜
辅助屏
五.实验常见问题及处理
1.测量仪器没有调节好就开始测量数据。实验中通 过测微目镜来测量数据，首先要调节测微目镜的 可旋转目镜部分，将分划板上的叉丝调节到自己 认为最清晰，方可开始后面的测量。 2.用测微目镜测量数据，在具体的操作中转动读数 鼓轮时同样要克服螺距差。 3.在实验中往往出现干涉条纹不够清晰，而有些操 作者就开始测量。引起条纹不够清晰的原因很多： 1.)狭缝过宽，引起双缝干涉的条纹对比度降低 2.）狭缝没有与双棱镜的棱脊平行，等等。
三.元件共轴调节
实验装置应调节到下述状态： （1）光具座上各元件等高共轴。 （2）双棱镜的棱脊严格平行于狭缝，且狭缝 宽度适当，以获得清晰的干涉条纹。
具体调节方法如下： 1.调节单狭缝与双棱镜以及测微目镜共轴。（利用 白光干涉中心位置的移动调节） 2.调节透镜使其与上述系统共轴。（可参考透镜焦 距测量实验）
双棱镜法测光波波长的方法探究
双棱镜干涉法测光波波长的方法探究13级物理师范 黄传帅引言：前不久，在张老师的指导下我做了双棱镜干涉实验，测得了光的波长。
回去自己思考后并查阅相关文献，获知双棱镜干涉法测光波波长的方法不仅仅局限于一种，而且每种方法都有它的优缺点。
因此通过探究双棱镜法测光波波长的方法，并分析它们的原理及其不足之处，可以提高物理系的本科生的科研能力和科学素养及其分析问题的能力，也可以丰富该实验在教学中的应用，增强学生对光的干涉的理解。
双棱镜干涉测光波波长实验是光学实验中一个基本的又是带有典型的实验,它可作为综合性或设计性实验,整个实验过程动手能力是一个很好锻炼和提高;通过数据处理和误差分析能对培养科学素质和科研能力以及分析问题和解决问题的能力起到很好的促进作用。
【一】 二次成像法（1） 实验原理如果两种频率相同的光波沿着几乎相同的方向传播，并且它们的相位比随时间的变化而变化，那么在两列光波相交的区域，光波分布是不均匀的，而且是在某些区域表现为加强，在某些地方表现为减弱（甚至可能为零），这种表现称为光的干涉。
在菲涅尔1818年设计的双棱镜干涉实验中，杨氏干涉实验中的双狭缝被一个双棱镜取代。
光源S 发出的光经双棱镜折射而形成两束光，可视为分别从虚光源S1、S2发出。
在两光束相交的区域放置观察屏，在P1、P2区间就可以观察到干涉条纹。
虚光源等效于双狭缝 形成了光波的分波面干涉。
设 d '代表两虚光源1S 和2S 间的距离，D 为虚光源所在的平面（近似的在光源狭缝S 的平面内）至观察屏P 的距离，且干涉条纹宽度为.则实验所用光波波长 可由下式表示：x d d ∆='λ 上式表明，只要测出d ',d 和 ，就可算出光波波长。
这是一种光波波长的绝对测量方法，通过使用简单的米尺和测微目镜，进行毫米量级的长度测量，便可推算出微米量级的光波波长。
(2)实验步骤1、调节共轴（1）将单色光源M （氦氖激光器）、会聚透镜L 、狭缝S 、双棱镜AB 与测微目镜P ，按下图图所示次序放置在光具座上，用目视粗略的调整它们中心等高、共轴，并使双棱镜的底面与系统的光轴垂直，棱脊和狭缝的取向大体平行。
菲涅耳双棱镜干涉实验
研究性实验报告光的干涉实验（分波面法）激光的双棱镜干涉菲涅耳双棱镜干涉摘要：两束光波产生干涉的必要条件是：1)频率相同；2)振动方向相同；3)相位差恒定。
产生相干光的方式有两种：分波阵面法和分振幅法。
本次菲涅耳双棱镜干涉就属于分波阵面法。
菲涅耳双棱镜干涉实验是一个经典而重要的实验，该实验和杨氏双缝干涉实验共同奠定了光的波动学的实验基础。
一、实验重点1)熟练掌握采用不同光源进行光路等高共轴调节的方法和技术；2)用实验研究菲涅耳双棱镜干涉并测定单色光波长；3)学习用激光和其他光源进行实验时不同的调节方法。
二、实验原理菲涅耳双棱镜可以看成是有两块底面相接、棱角很小的直角棱镜合成。
若置单色光源S0于双棱镜的正前方，则从S0射来的光束通过双棱镜的折射后，变为两束相重叠的光，这两束光仿佛是从光源S0的两个虚像S1和S2射出的一样。
由于S1和S2是两个相干光源，所以若在两束光相重叠的区域内放置一个屏，即可观察到明暗相间的干涉条纹。
如图所示，设虚光源S 1和S 2的距离是a ，D 是虚光源到屏的距离。
令P 为屏上任意一点，r 1和r 2分别为从S 1和S 2到P 点的距离，则从S 1和S 2发出的光线到达P 点得光程差是：△L= r 2-r 1令N 1和N 2分别为S 1和S 2在屏上的投影，O 为N 1N 2的中点，并设OP=x ，则从△S 1N 1P 及△S 2N 2P 得：r 12=D 2+(x-2a)2r 22=D 2+(x+2a)2两式相减，得：r 22- r 12=2ax另外又有r 22- r 12=(r 2-r 1)(r 2+r 1)=△L(r 2+r 1)。
通常D 较a 大的很多，所以r 2+r 1近似等于2D ，因此光程差为：△L=Dax 如果λ为光源发出的光波的波长，干涉极大和干涉极小处的光程差是：= k λ (k=0,±1, ±2,…) 明纹=212 k λ (k=0,±1, ±2,…) 暗纹由上式可知，两干涉条纹之间的距离是：△x=aDλ 所以用实验方法测得△x ，D 和a 后，即可算出该单色光源的波长λ=Da△x三、实验方案 1)光源的选择当双棱镜与屏的位置确定之后，干涉条纹的间距△x 与光源的波长λ成正比。
双棱镜测定波长的方法
双棱镜测定波长的方法
双棱镜测定波长的方法是利用双棱镜的色散性质来测定光的波长。
该方法基于光的不同波长通过双棱镜后的折射角不同的原理。
具体步骤如下：
1. 安装双棱镜：先将双棱镜固定在支架上，并调整好双棱镜的位置。
2. 发射光：通过光源发射一束单色光，并将光线引入到双棱镜中。
3. 观察折射光：观察通过双棱镜后的折射光现象，通常会出现色散现象，即不同波长的光会有不同的偏折角度。
4. 记录数据：测量不同波长的光通过双棱镜后的折射角度，并记录下来。
5. 数据处理：通过计算折射角度和已知的棱镜参数，可以反推出光的波长，通常使用折射定律和色散公式来进行计算。
6. 波长测量：根据计算得到的结果，即可获得光的波长。
需要注意的是，在实际操作过程中，由于棱镜自身的特性和光源的发射情况等会引起一定误差，因此进行多次测量并取其平均值，可以提高结果的准确性。
双棱镜测量波长的实验改进及调节技巧
中文摘要本文首先介绍了双棱镜测量波长的基本的装置和原理及一般的操作步骤及方法，随后分析双棱镜测量波长的实验所引起的系统误差分析，及实验过程中遇到的操作困难等问题，针对这些问题，分别采取不同的实验改进方法对实验进行优化从而减少误差及减少操作的困难。
关键词：双棱镜波长干涉虚光源误差二次成像法等位移法ABSTRACTKey Words：biprism wavelength interference virtual light source error the secondary imaging method1．双棱镜测量光波长的背景利用菲涅尔双棱镜测量光波波长实验是大学物理实验中的基础实验，通过实验可以让学生掌握用菲涅尔双棱镜获得双光束干涉的方法，观察双棱镜产生的双光束干涉现象，进一步理解产生干涉的条件。
2. 双棱镜干涉实验的装置和原理2.1 双棱镜双棱镜外形结构如图1 所示, 将一块平玻璃板上表面加工成两楔形面, 端面与棱脊垂直, 楔角较小, 一般在30′- 1°之间。
2.2 双棱镜干涉实验中所用的仪器有双棱镜，可调狭缝，辅助透镜(两片)，读数显微镜，光具座，白屏，钠灯，原理如图1，双棱镜干涉是光的分波阵面干涉现象，由S发出的单色光经双棱镜折射后分成两列，相当于从两个虚光源S 和S 射出的两束相干光。
这两束光在重叠区域内产生干涉，在该区域内放置的读数显微镜中可以观察到干涉条纹。
图1 双棱镜干涉原理图2.3 根据光的干涉理论能够得出相邻两明(暗)条纹间的距离为：λdDx=∆也就是：xDd∆=λ中λ是光波的波长，d是两个虚光源之间的距离，D是虚光源到接收屏之间的距离，x∆是干涉条纹的间距。
利用双棱镜测量光波的波长，只要测出虚光源到接收屏之间的距离D（可以在光具座中直接读出可调狭缝到读数显微镜之间的距离近似为虚光源到接收屏之间的距离），从读数显微镜中直接测出干涉条纹的间距。
两个虚光源之间的距离无法直接测量出来，可以通过以下的方法，间接测出两个虚光源之间的距离，利用透镜成像法求出两个虚光源之间的距离d ：保持狭缝与读数显微镜的距离不变，并且满足fD 4>，在狭缝与读数显微镜之间放一凸透镜Q ，凸透镜Q 的焦距为f，移动凸透镜，可以在读数显微镜中分别看到放大的实像和缩小的实像。
斐涅耳双棱镜干涉测波长实验
微目镜的共轴调节。 2．观察衍射图样 将测微目镜由近及远向远离圆孔方向移动，观察并记录衍射图样的变化。 注意：用测微目镜观察衍射图样前，必须插入并转动偏振片使出射光减至最
弱，再根据观察需要适当调整光强； 3．测量激光波长 把测微目镜置于距衍射屏（圆孔）1~1.5m处，测量并记录中心亮斑的直径d
和衍射屏到观察屏的距离D（均只作单次测量）；已知圆孔直径约为 0.5mm（准确值需用读数显微镜测量）。 4．数据处理 （1）记录并叙述当接收屏逐渐远离时，圆孔衍射的观察结果； （2）由圆孔衍射的测量数据计算激光波长，并与标称值进行对比。 不要求计算不确定度，但要给出正确的有效数字。 5．选做实验 （1）利用本实验装置测定细丝的直径。 （2）研究圆孔的费涅耳衍射并用于测波长。要求见现场说明，方法自拟。
测出成缩小像和放大像时的物距S、S'，则物到像屏之间距离（即虚光源到测微
目镜叉丝分划板之间距离）D=S＋S'。根据式（4-67），得波长与各测量值之间
关系为
x bb
（4-68）
（3）光路组成
S S
图4-77 双棱镜实验光路图本实验的具体光路布置如图4-77所示，S为半导体激光器，K 为扩束镜，B为双棱镜，P为偏振片，E为测微目镜。L是为测虚光源间距a所用 的凸透镜，透镜位于L1位置将使S1、S2在目镜处成放大像，透镜位于L2位置虚 光源在目镜处成缩小像。所有这些光学元件都放置在光具座上，光具座上附有 米尺刻度，可读出各元件的位置。
斐涅耳双棱镜干涉测波长---实验内容
4. 设计性实验（选做） 用双孔杨氏干涉测量光的波长。方法自拟。
斐涅耳双棱镜干涉测波长--- 预习思考题
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用双棱镜干涉测半导体激光波长实验目的：
1、观察双棱镜产生的干涉现象，进一步理解产生干涉的条件。
2、熟悉干涉装置的光路调节技术，进一步掌握在光具座上多元件的等高
共轴调节方法。
3、学会用双棱镜测定光波波长。
实验仪器：
光学实验导轨、二维+LD、双棱镜、激光功率指示计、十二档光电探头+大一维位移架、凸透镜、白屏等。
实验原理：
双棱镜是由两个折射角很小（小于1度）的直角棱镜组成，且两个棱镜的底边连在一起（实际上是在一快玻璃上，将其上表面加工成两块楔形板而成），用它可实现分波前干涉。
通过对其产生的干涉条纹间距等长度量（毫米量级）的测量，可推算出光波波长。
如图1所示，双棱镜AB的棱脊（即两直角棱镜底边的交线）与S的长度方向平行，H为观察屏，且三者都与光具座垂直放置。
由半导体激光器发出的光，经透镜L1会聚与S点，由S出射的光束投射到双棱镜上，经过折射后形成两束光，好象是从两虚光源S1和S2发出的。
由于这两束光满足相干条件，故在两束光相互重叠的区域（图中画斜线的区
域）内产生干涉，可在观察屏H上看到明暗交替的、等间距的直线条纹。
中心O处因两束光的程差为零而形成中央亮纹，其余的各级条纹则分别排列在零级的两侧。
设两虚光源S1和S2间的距离为d，虚光源平面中心到屏的中心之间的距离为D；又设H屏上第k（k为整数）级亮纹与中心O相距为X k，因X k<D，d<<D,故X k由下式决定
X k=(D/d)kλ
而暗条纹的位置X k/则由下式决定
X k/=(D/d)(k+1/2)λ
任何两相邻的亮纹(或暗纹)之间的距离为
δx=X k+1-X k=Dλ/d
故
λ=dδx /D 公式1 上式表明,只要测出d、D和δx ，即可算出光波波长λ。
本实验在光具座上进行。
δx的大小由十二档光电探头+大一维位移架测得；d、D的值可用凸透镜一成像法及三角形相似公式求得。
如图2所示，在双棱镜和白屏之间插入一焦距为f2的凸透镜L2，当D>4f2时,移动L2使虚光源S1和S2成放成放大的实像S1/、S2/，间距为d/，用十二档光电探头+大一维位移架测出d/；根据1/f=1/P+1/P/,可以得出物距P=f P//( P/-f),其中f=100mm，P/可在实验导轨上读出，则可以求出物距P，用下式就可算出d、D值：
d/ d/=P/ P/即d= （P/ P/）*d/ 公式2
D=P+ P/公式3
实验内容及步骤：
一、双棱镜干涉装置的共轴调节与干涉现象的观察
步骤如下：
1、依次将二维+LD、透镜、双棱镜、十二档光电探头+大一维位移架（与激光功率指示计连接好）放置在实验导轨上。
目测粗调各元件中心等高，使中心线平行于导轨，并保障激光光斑能够进入十二档光电探头中。
2、用白屏换下十二档光电探头，调节透镜及双棱镜，在白屏上看到清晰的干涉条纹。
3、再次前后移动双棱镜，可观察到干涉条纹的粗细变化和条纹数量的变化，使干涉条纹数为5至7条（至此，在以下的测量过程中，二维+LD、双棱镜和白屏（或十二档光电探头）的滑块位置不再变化）。
4、用十二档光电探头换下白屏，选择十二档光电探头适当的光栏（如0.2mm的细缝），同时调整激光功率指示计的量程按钮，选择适当的量程。
对干涉条纹进行扫描，并做数据处理。
（注：此处白屏及十二档光电探头，根据需要可能不断的相互调换）
5、将导轨上各滑块及各元件全部固定，保持稳定。
6、用白屏换下十二档光电探头，在双棱镜和白屏之间放置透镜L2（如图2），并使D稍大于4f2，调节L2，使之与系统共轴。
7、移动L2，在白屏上得到清晰的放大的像（两个清晰的光斑），并换
上十二档光电探头，用其对放大的像进行扫描多次，将测量的数据进行记录和处理。
二、测量及数据处理
1、测量d、D
在上述光路已调好的基础上，其他元件不动，只移动透镜L2的轴向位置，使L2成虚光源的最清晰放大像（用白屏来观察），并用十二档光电探头及功率指示计分别测量出放大像间距d/，测5次，取平均值。
并通过滑块和导轨上刻度尺读出像距P/，利用公式2和公式3，计算d和D。
2、测量δx
取下透镜L2，用十二档光电探头测出相隔较远的两条暗纹之间的距离，在除以过经过的条纹数目，即得到相邻条纹的间距δx。
重复测量，取其平均值。
3、将δx、d、D值带入公式1中，求出待测光波波长。
思考题
1、双棱镜是怎样实现双光束干涉的？干涉条纹是怎样分布的？干涉条纹
的间距与那些因素有关？
2、用本实验测光波波长，哪个量的测量误差对实验结果影响最大？应采
取哪些措施来减少误差？
注意事项
1、在未经漫反射时，眼睛不能直视半导体激光光源
2、导轨较轻，操作时勿将其碰倒在地
3、做实验时，导轨上的各元件一定要锁紧，以免读数时产生误差。