MicroVec-粒子图像测速(PIV)
粒子影像测速技术概述
粒子影像测速技术概述粒子影像测速（Particle Image Velocimetry，PIV）技术是一种非侵入式流体力学测量方法，用于研究流体的运动和流场。
该技术通过在流体中悬浮微小颗粒，并利用激光照射和相机拍摄的方式，获得颗粒在不同时间间隔内的位置信息，从而推导出流体的速度场。
PIV技术的基本原理是利用流体中的颗粒作为标记物，在连续拍摄的图像序列中跟踪颗粒的运动轨迹，从而得到流体速度场的空间分布情况。
其中，激光光束被用来照射流体中的颗粒，通过相机拍摄颗粒图像，并计算相邻两幅图像中颗粒位置的变化，从而计算颗粒的位移和速度。
PIV技术的实施过程主要包括以下几个步骤：1.准备实验环境：选择合适的流场实验装置和流体介质，并在流体中悬浮微小颗粒，以便在图像中能够清晰地观察到颗粒的运动轨迹。
2.激光照射：通过激光光源照射流体，形成一个平面光束，并在流体中的颗粒上产生散射，从而在图像中形成明亮的颗粒光斑。
3.图像拍摄：使用高速相机或摄像机对照明的颗粒图像进行连续拍摄，并以一定的时间间隔记录图像序列。
4.图像处理：对连续的图像序列进行处理，包括背景校正、图像配准、颗粒定位等步骤，以获得颗粒位置信息。
5.数据分析：通过比较颗粒在不同时间间隔内的位置信息，计算颗粒的位移和速度，并进一步推导出整个流体区域的速度场分布。
PIV技术的优点在于它能够提供全场的速度信息，而不仅仅是单点或线性的数据。
这使得PIV技术在研究流体湍流、气动性能以及流体工程等领域具有广泛的应用。
同时，PIV技术还可以与其他测量技术相结合，如激光雷达、压力传感器等，以提供更加全面和准确的流体力学数据。
然而，PIV技术也存在一些局限性。
首先，要求流体中应有足够数量和密度的微小颗粒，以便在图像中清晰可见，这对于一些实验环境下的流体可能是困难的。
其次，由于颗粒在流体中的多次散射，会造成颗粒在一些位置上的位置模糊，从而影响速度计算的准确性。
总的来说，粒子影像测速（PIV）技术作为一种先进的非侵入式流体力学测量方法，具有高时空分辨率、全场测量等优点，被广泛应用于航空航天、水力学、气动学等领域的流体力学研究。
粒子图像测速技术
粒子图像测速技术（PIV ）1．PIV 简介粒子图像测速技术(PIV)作为一种全新的无扰、瞬态、全场速度测量方法，在流体力学及空气动力学研究领域具有极高的学术意义和实用价值。
粒子图像测速技术（PIV ）是一种用多次摄像以记录流场中粒子的位置，并分析摄得的图像，从而测出流动速度的方法。
PIV 是流场显示技术的新发展。
它是在传统流动显示技术基础上, 利用图形图像处理技术发展起来的一种新的流动测量技术。
动测量技术。
综合了单点测量技术和显示测量技术的优点综合了单点测量技术和显示测量技术的优点, 克服了两种测量技术的弱点而成的, 既具备了单点测量技术的精度和分辨率, 又能获得平面流场显示的整体结构和瞬态图像。
的整体结构和瞬态图像。
图1. 粒子图像测速技术粒子图像测速技术2．PIV PIV的原理的原理PIV 技术原理简单，就是在流场中撤入示踪粒子，以粒子速度代表其所在流场内相应位置处流体的运动速度．应用强光(片形光束)照射流场中的一个测试平面，用成像的方法(照像或摄像)记录下2次或多次曝光的粒子位置，用图像分析技术得到各点粒子的位移，由此位移和曝光的时间间隔便可得到流场中各点的流速矢量，并计算出其他运动参量(包括流场速度矢量图、速度分量图、流线图、漩度图等)。
因采用的记录设备不同, 又分别称FPIV FPIV ( ( 用胶片作记录) 和数字式图像测速DPIV （用CCD 相机作记录)。
3．PIV PIV系统组成系统组成PIV 系统通常由三部分组成, 每一部分的要求都相当严格。
每一部分的要求都相当严格。
图2. 粒子图像测速系统结构粒子图像测速系统结构（1）直接反映流场流动的示踪粒子。
除要满足一般要求( 无毒、无腐蚀、无磨蚀、化学性质稳定、化学性质稳定、清洁等清洁等) 外,还要满足流动跟随性和散光性等要求。
还要满足流动跟随性和散光性等要求。
要使要使粒子的流动跟随性好, 就需要粒子的直径较小, 但这会使粒子的散光性降低,不易于成像。
显微粒子图像测速技术Micro-PIV研究进展
M =10 NA =0.25
2.9 4.3 9.4 18 55
M =20 NA =0.5
2.3 2.8 5.0 9.3 27
M =40 NA =0.6
2.2 2.6 4.3 7.9 23
M =40 NA =0.75
2.2 2.4 3.7 6.4 18
M =60 NA =0.1.4
2.1 2.2 2.6 3.9 10
2
面，获得 2 维粒子图像，只能实现 2 维速度测量。
v
s t
（1）
但由于微器件特征尺度十分微小，对其内部流动进行测量提出了许多新的挑战。因此，与传统 PIV 相 比，Micro-PIV 在粒子图像获取方法、示踪粒子和图像处理三方面存在较大差别[12]，下面将对这三方面差 别及关键技术的最新研究进展进行介绍。
1 引言
近年来，微流动器件(Microfluidic devices)应用成为国内外研究的热点[1,2]，微流动器件结构和功能也越 来越复杂，微流动器件内部的流动行为问题成为了研究的重要内容[3,4]，引起来了广泛关注[5,6]。已有研究 表明，由于流动特征尺度的微小，流体分子间作用力、静电力等表面力效应相对增强，同时流动还受到微 流体器件构型、壁面粗糙度和浸润性等因素影响，微尺度流动行为表现得非常复杂，目前还无法对这些复 杂流动现象进行合理的解释[7,8]。流动可视化技术是微尺度流动研究的重要实验方法[9,10]。显微粒子图像测 速技术(Micro-scale particle image velocimetry, Micro-PIV or µ PIV)是 20 世纪 90 年代发展起来的一种微尺度 流动测量与显示技术[11]，可以实现无干扰、整场、瞬态、定量的微尺度速度场测量，有效测量的尺度范围 为 0.1-100µm[12]，目前已达到相当高的分辨率（<1µ m） ，测速范围从每秒数纳米到数米，成为重要的微流 动研究手段，受到了研究者的广泛关注。目前，其它的微尺度流场测速技术，如磷光显示测速[13]、光漂白 测速[14]、分子标记测速[15]和拉曼散射技术[16]等，只能获得定性研究结果，也被称作流动定性可视化研究， 其分辨率和测量精度都无法和 Micro-PIV 相比。 Micro-PIV 是在 PIV 技术基础上发展起来的，两者基本原理相同，都是通过观测流场中散布的示踪粒 子，获得两副或多幅粒子图像，并对这些粒子图像进行空间相关性分析得到流场速度[17-24]。但是由于两者 的光路设计及组成部件有重大不同，一般认为这是两种相互独立流场测速技术[12,25,26]。最早的利用示踪粒 子进行微流动可视化研究的技术也被称作微尺度粒子跟踪技术(Micro-scale particle tracking, PTV)[27]，最初 被应用于生物和医学研究中[28]。利用 PTV 技术，Taylor 等人[29]和 Brody 等人[30]使用超荧光显微镜对直径 900nm 的荧光示踪粒子进行长时间照明观测，获得粒子运动轨迹图像。这种方法获得的速度场具有不准确
piv测速原理
piv测速原理Piv测速原理。
PIV（Particle Image Velocimetry）是一种流体力学实验技术，用于测量流体中的速度场。
它通过在流体中注入颗粒或在流场中存在颗粒的情况下，利用高速摄像机拍摄颗粒图像，进而获取流场速度信息。
PIV技术在流体动力学、空气动力学、生物力学等领域广泛应用，成为研究流体运动的重要手段之一。
PIV测速原理的基本思想是利用颗粒在流场中的运动来推导流体的速度场。
首先，在流体中加入颗粒示踪剂，这些颗粒要足够小，以至于它们的质量对流体的运动不会产生显著影响。
然后，利用激光或者其他光源照射流场，使颗粒产生光斑，再利用高速摄像机拍摄颗粒图像。
最后，通过对连续两帧图像进行处理，可以得到颗粒的位移，从而计算出流场的速度分布。
PIV测速原理的关键在于对颗粒图像的处理和分析。
首先，需要对拍摄到的颗粒图像进行预处理，包括去噪、增强对比度等操作，以便更准确地提取颗粒的位置信息。
接着，利用相关算法或者其他图像处理方法，对两帧图像进行匹配，得到颗粒的位移矢量。
最后，通过位移矢量的计算，可以得到流场中各点的速度信息。
PIV测速原理的优势在于可以在短时间内获取大范围流场的速度信息，且不需要干涉流场，对流体运动不会产生影响。
同时，由于可以获取流场中每个点的速度信息，因此可以对流体运动进行全面的分析和研究。
此外，PIV技术还可以应用于多相流、湍流等复杂流动情况下的速度场测量，具有广泛的适用性。
然而，PIV测速原理也存在一些局限性。
首先，颗粒图像的处理和分析需要较为复杂的算法和技术，对于图像质量和颗粒分布有一定要求；其次，颗粒图像的拍摄需要高速摄像机和高功率激光等设备，成本较高；最后，对于流体中速度梯度较大的情况，PIV技术可能会出现测量误差。
总的来说，PIV测速原理是一种重要的流体力学实验技术，通过对颗粒图像的处理和分析，可以获取流场的速度信息。
它在流体力学研究、流体工程、空气动力学等领域具有广泛的应用前景，对于理解流体运动规律、优化流体设备等具有重要意义。
粒子成像测速技术 PIV
《现代流体测试技术》第九章粒子成像测速技术刘宝杰，于贤君2015年6月15日速度的定义是什么？能不能根据速度的定义直接测量速度？粒子图像测速技术：Particle Image Velocimetry简称PIVParticle Image Velocimetry 简称PIV典型的PIV原理图系统构成：PIV只能测量激光片光平面内的速度分量。
PIV 能干什么？加力燃烧室火焰稳定器流场：单点测量技术都能做到只有PIV技术能做到是一种全场测量技术，能够获得非定常流动的瞬态速度场。
测量速度快，周期短，成本低。
是一种先进的流场诊断技术。
激光散斑测速技术（固体力学）层流、射流和对流（流体力学）七十年代末八十年代初从而建立了流体力学的激光散斑测速技术！发现一般情况下添加的示踪粒子浓度不足以产生激光散斑！1984年：Pickering & HalliwellAdrianPIV技术诞生1985年全数字化的PIV和SPIV已经商品化1998年LDV PIV时间序列的空间单点测量在一个瞬时的空间多点测量时间统计平均瞬时速度场，由多个速度场平均获得统计平均数据由测量移动已知距离的时间来获得速度测量已知时间内粒子位移来获得速度测量统计的尺寸决定了空间分辨率最大的图象位移给出了空间分辨率测量时间长，实验消耗大测量时间短，实验消耗小对于粒子的跟随性要求相同选择的标准是什么？散射特性好跟随性好双腔的Nd：YAG激光器•脉冲光，10ns•能量高，50~1000mJ•频率较低，10~30Hz其它光源为什么要用脉冲光？3．图像记录•胶片式照相机•数码照相机（CCD,CMOS）4．图像处理：4．图像处理：4．图像处理：4．图像处理：1.杨式条纹法2.自相关方法3.互相关方法PIV图像分析过程示意图4．图像处理：4．图像处理：He－Ne激光器杨氏条纹观测平面CCD摄像机L1L2二维扫描移动支架三维扫描移动支架控制电机图像处理计算机PIV底片杨氏条纹法自动判读系统示意图4．图像处理：自相关(Auto-Correlation)方法两次Fourier变换的结果最大峰值和次大峰值之间的距离即为粒子的位移！自相关第二次FFT变换方向如何确定？有噪音后会是什么情况？互相关第三次FFT变换4．图像处理：互相关（Cross-Correlation）方法方向如何确定？有噪音后是什么情况？自相关和互相关的对比#空间分辨率高；#测量的动态范围大；#查问域的偏移量允许有更多的有效粒子对；#不需要像移装置。
piv粒子测速仪技术参数
piv粒子测速仪技术参数
PIV（Particle Image Velocimetry）粒子测速仪是一种常用的
流体力学实验技术，用于测量流体中的速度场分布。
以下是一些常
见的 PIV 粒子测速仪的技术参数：
1. 分辨率：PIV 粒子测速仪的分辨率是指它能够检测到的最小
速度变化。
通常以像素/距离的形式表示，例如 1 pixel/mm。
2. 采样率：采样率指的是测速仪在单位时间内进行测量的次数。
它决定了测速仪对流体速度变化的响应能力。
3. 测量范围：测量范围是指测速仪可以有效测量流体速度的区
域大小。
它通常由测速仪的光学系统和图像传感器决定。
4. 粒子浓度：粒子浓度是指在测量中所使用的示踪粒子的浓度。
适当的粒子浓度可以提高图像的质量和测量的准确性。
5. 曝光时间：曝光时间是指光源照射示踪粒子的时间。
适当的
曝光时间可以保证图像清晰度和示踪粒子的轨迹清晰可见。
6. 图像处理算法：PIV 粒子测速仪通常使用图像处理算法来分析图像序列，提取流体速度信息。
常见的算法包括互相关算法和基于相关峰的算法。
这些是一些常见的 PIV 粒子测速仪的技术参数，不同型号的测速仪可能会有一些差异。
在选择和使用 PIV 粒子测速仪时，需要根据实际需求和实验条件来确定合适的技术参数。
piv(粒子图像测速仪)操作使用手册
PIV操作使用手册一、注意事项（使用前必看）1.操作一定要按规定的方法执行。
2.激光开启时，人眼绝对不能看激光源。
3.用相机标定时，需要拆下滤光镜，不能打开激光器；实验时，打开激光器前，必须盖上相机镜头盖。
4.相机不能长时间连接电源，实验完成后一定要将电源线拔掉。
5.激光器必须每周至少使用一次，否则性能下降。
6.实验时，实验台不容许有多于3个人停留。
二、开机步骤先检查线路连接是否正确，然后打开所有仪器的电源（包括相机、激光器、移动架和计算机）。
开启计算机，启动DynamicStudio操作软件。
三、标定步骤采用三维标定靶标定1.运行DynamicStudio软件，新建一个Database并切换到采集模式，在System Control中，点击“Free Run”模式调整两个相机，使标定靶在两个相机拍摄区域的中间位置（注意此时需使标定靶大概在片光平面内调整）。
2.点击“stop”关闭相机，并盖上相机盖，打开激光，激光强度要弱，使用标定靶确定准确的片光平面。
3.标定靶不动，将激光关闭（用激光控制面板），打开相机盖。
4.选择Single Frame Mode单帧拍摄模式，采集图片数量输入1，点击Acquire采集图片，选择Do Not Start（此时激光器处于关闭状态），切换到Acquired Data栏，点击Save for Calibration，把数据存为标定数据，确保拍到图片中心及四周都很清楚（调节相机焦距）；然后分别向前或向后移动坐标靶，对称的采集几个位置（一般6个就可以，步骤如粗体字所示）。
5.采集并存储完成后，点击采集按钮回到Database模式。
右键点击Calibration里面的FlowSenseEO 4M#1，选择Calibrate...，进去后选择Calibrations，选择Multi Camera Calibration，点OK。
进去后观察绿色网格是否充满整个标定纸，如果没有充满需重新标定（返回第4步），如果充满，点击OK，此时图片下方出现Multi Calibration。
PIV实验技术报告
PIV实验技术报告摘要：本文介绍了PIV（粒子图像测速）实验技术的原理、仪器设备、实验过程和数据处理方法。
通过PIV实验，可以精确地测量流体介质中的速度分布，并对流场的运动特性进行分析和研究。
实验结果表明，PIV技术是一种高精度、高分辨率的流场测量方法，对于流体力学研究和工程应用具有重要意义。
1.引言粒子图像测速(PIV)是一种用于测量流体介质中速度场分布的非接触式测量方法。
它通过在流场中添加颗粒或通过实验液体中的已有颗粒来测量流场中颗粒的运动轨迹，并利用计算算法来获得流场中的速度矢量场。
本文主要介绍PIV技术的原理、仪器设备、实验过程和数据处理方法。
2.原理PIV实验的基本原理是通过拍摄两幅连续时间间隔极短的图像，再通过计算机处理这两幅图像来获得流场速度分布。
实验中，通过成像装置将流场中的颗粒的二维图像记录下来，并通过图像处理软件对这些图像进行处理，得到颗粒运动的位移信息。
根据颗粒在两幅图像中的位置变化以及两幅图像之间的时间间隔，可以计算出流场中颗粒的平均速度。
3.仪器设备PIV实验所需的主要仪器设备有：激光器、摄像机、成像装置、实验容器和图像处理软件。
激光器用于提供激光光源，摄像机用于捕捉流场中颗粒的图像，成像装置用于将颗粒的图像传送给摄像机进行记录，实验容器用于容纳流体介质，图像处理软件用于对图像进行处理和分析。
4.实验过程PIV实验的基本步骤包括：实验准备、实验装置安装、调试系统、进行实验和数据处理。
实验前需要根据具体情况选择合适的颗粒，并进行流动性能测试以确定实验参数。
然后需要根据实验要求进行装置安装和调试，确保实验装置的稳定性和准确性。
实验过程中，通过激光照射流体中的颗粒，并通过摄像机记录颗粒的图像。
最后，通过图像处理软件对图像进行处理和分析，得到流场的速度分布数据。
5.数据处理方法PIV实验得到的数据需要经过一系列处理方法来提取有用的流场信息。
数据处理方法包括：图像预处理、图像匹配、自相关分析、位移矢量计算和速度矢量分析。
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三维相机布局
同步器
激光器
1.2 PIV设备组成
外同步TTL输入 同步控制器 计算机USB控制
PIV分析流场结果
图像信号输入 相机同步控制
PIV激光器
光学滤色
光电开关
PIV专用相机
1.3 Microvec系统软件界面
DPIV系统软件界面
2.1 PIV技术互相关算法原理
2.2 PIV技术互相关算法原理(计算位移量)
x[m, n] y[m j, n k ]
S V lim t 0 t
2.3 PIV互相关计算得到相关谱结果流程
互相关计算
第一幅判读区图像
FFT
第二幅判读区图像
FFT
相关谱结果
IFFT
第一幅的频谱 （频域）
第一幅的频谱 （频域）
负变换
相乘
3. MicroVec 特点及功能介绍
3.3 3D-PIV模型实验结果
不同截面平均结果合成--三维等速度分布面显示
4. 2马赫超音速实验
5. 火焰场PIV实验
三维系统实物照片
电动三维遥控调整机构
体视三维PIV系统组成
使用注意事项
操作人员需要经过北京立方天地科技发展有限公司培训合格。 在所有硬件通电之前，需要确保：电源信号可靠接地、相机镜头盖关闭、激光器片 光源出光孔关闭盖严、激光器导光臂可靠固定、各个输入输出信号线连接无误，严 禁将同步控制器的信号输出端口连接到任何高压电源或者将输出端口短路。 按照粒子图像测速系统（PIV）使用手册规定，连接好图像系统的相关硬件；严禁 带电拔插任何电源或者信号线缆。。 根据不同实验要求，参考粒子图像测速系统（PIV）操作手册规定，进一步设定软 件相机控制模式，调整相机工作在相应状态，拍摄和保存实验图像。
FireWire
PCI Frame Grabber SoftWare
Camera Link MicroProcessor Ethernet
Process
PIV相机
4.1 DPIV系统的硬件组成 — 相机双曝光PIV模式
光 线
像素微透镜
感光像素
非感光 高速缓存区域
n t e rl i n e Re g i s t e r P h o t o s i tIe
•普通互相关算法缺陷： 选择判读区（IW） 窗口不能太小，与实际 测量流场得到的矢量场 有关。
窗口迭代算法
•窗口迭代算法： 可以通过使用小的判读 小区（IW）窗口，得到大于 判读小区大小的向量。在提 高PIV测量计算精度的同时， 精细化了测量结果。
适用于结果向量长度达到5个像素以 上
窗口迭代算法原理
相机外触发信号
图像 1
DPIV同步控制
计算速度场的∆T 脉冲激光器氙灯工作在 Q开关出光的倍频状态 标示激光器DQ延时出光的最小时间 用于调节DQ延时调节激光器能量
激光工作频率 在外同步状态 对外部脉冲分频 通过调节DQ延时 调节激光器能量
激光器DQ延时 最佳出光时间
锁定通道7与激光器2延时同步 （用于驱动光电开关）
提前激光器1Q开关 打开的时间提前量
同步控制软件窗口
6. PIV系统操作流程
布置实验设备
不满足实验要求
图像显示采集
满足实验要求
保存图像文件
互相关 计算
保存向量文件
向量结果分析
保存分析结果
涡量场，等速线，流线，三维等值图
DPIV系统软件组成
7.三维体视成像（SPIV）
Laser Sheet
Lens
MicroVec
粒子图像测速（PIV）系统
北京立方天地科技发展有限公司
MICROVEC PIV大纲
1. 公司介绍。 2. PIV原理介绍。 3. MicroVec 特点及功能介绍。 4. PIV图像系统构造。 5. PIV激光器光源系统及同步方案。 6. PIV软件操作。 7. PIV实验操作流程。 8. PIV实验范例介绍。 9. 三维PIV系统。 10. 注意事项。
5. PIV激光器光源 系统及同步方案
T1 T2 T3
同步控制器
T5 T6 T7 IN
T4
•双脉冲PIV激光器控制方案
F1 Q1 F2 Q2 CCD1 CCD2 激光器1 激光器2
激光器延时
激光器氙灯 外触发信号
激光器氙灯 放电能量曲线
∆T
相机延时
激光器Q开关 外触发信号
图 像2 图像 1 图 像2
A
窗口 变形 校正 窗口 变形 校正
B
图像校正 一次
图像校正 二次
n次窗口变形校正 后的第二幅图像 和PIV结果
PIV技术互相关算法软件
计算向量的判读 窗口大小
划分的网格 之间的间隔
迭代计算设定
变形窗口 计算参数设定
变形窗口算法水洞应用
32×32判读小区 迭代1遍 涡破裂结构的涡量大小测量 32×32判读小区 迭代1遍 变形迭代2遍
1.简介
北京立方天地科技发展有限责任公司是国内第一、唯一的专业粒 子图像测速系统（PIV）开发公司。 具有自主知识产权的PIV系统
发明专利：200910162651 实用新型专利：200720140441/200720143783/200920144898 著作权登记号：2003SR0083/2003SR12905。
集成图像系统、同步控制（激光器控制），
PIV软件计算/分析。 Particle Image Velocimetry (PIV) Particle Tracking Velocimetry (PTV) 粒径分析 标量场分析（浓度/温度/压力场分析） 动量（MV）场分析。 自动批处理。
窗口迭代算法
感光像素
非感光 高速缓存区域 CamLink 二级高速缓存
4.2 DPIV系统的硬件组成 —PCI-E技术
价 格
Camera Link
数据传输带宽 10-20MB/S 50MB/S 500MB/S 2GB/S( PCI-E)
120MB/S(32bit PCI)
DPIV相机控制
科研级数码相机： •全幅分辨率 •全幅采集速率 •像素尺寸（芯片尺寸） •相机工作模式 •像素灰度等级 •信号信噪比 •曝光时间控制
窗口迭代算法计算效果图
窗口迭代算法迭代2遍
窗口迭代算法应用
超音速射流PIV实验对比
变形窗口算法
•普通互相关算法缺陷：
只能使用方形或矩形判读窗口， 对于速度梯度变化剧烈的区域有平滑 效果。
•变形窗口算法：
可以根据每个向量周围的速度向 量大小，自动调整判读窗口的图像， 达到最优的互相关计算效果。
窗口变形算法原理
Particle Tracking Velocimetry (PTV)算法
数字图像粒子搜索： Area/Diameter/Center
PTV结果范例
粒子分析功能介绍
标量场分析模块
实际实验图片
通过标定样片与实 际图片对比计算得 到定量化结果
顺序标定 实验样片
4. PIV图像系统构造
Imaging Head Imaging Engine Communications RS-232 Image Sensor with Support Electronics Field Programmable Gate Array (FPGA) PIV Computer Side
CCD/CMOS
Camera
7.2 普通二维PIV缺陷
x
激光片光
α
W
z
CCD成像平面
11M相机投影误差 达到0.5个像素
7.2 体视成像（SPIV）原理
U
x
W
激光片光
α1 α2
z
u = ( U1 tan 2 + U 2 * tan1 ) / ( tan1 + tan 2 ) v = ( V tan + V * tan ) / ( tan + tan ) 1 2 2 1 1 2 ( , 0) = (V1 + V2 )/2 w * (tan 2 - tan1 )/2 w = ( U - U ) / ( tan + tan ) 2 1 1 2 = ( V2 - V1 ) / ( tan1 tan 2 )
实验工作完毕后，首先关闭相机镜头盖、关闭激光器片光源出口。关闭图像采集系 统电源。关闭激光器灯和Q开关，经过稳定冷却后关闭激光器电源。
在整个实验操作过程中，如果发现不明故障现象，需要严格按照粒子图像测速系统 （PIV）操作手册规定处理。紧急情况下，需要关闭相机镜头盖、关闭激光器片光 源出口、关闭激光器灯和Q开关。其他不明事宜，请及时跟北京立方天地科技发展 有限公司联系，并提供详细的故障现象以便排除。
软硬件指标达到国外同类产品同等水平。 软件完全中文界面易于操作，功能全面。 广泛应用，可靠实验验证。 创新点：
国内首家开发出商用三维PIV系统。 PIV-PTV技术结合。 国际首创64位并行互相关计算技术。 颗粒直径分布统计分析。 浓度场、动量场分析。 迭代算法的应用。
1.1 PIV设备简介
自相关函数
:
: :
R ( )
离散自相关函 )dt
m
x[m]x[k m]
m
离散互相关函数
Rxy [k ]
x[m] y[k m]
m n
二维离散互相关函数 速度计算公式:
: Rxy [ j , k ]
U1
U2
7.1 体视成像（SPIV）校准原理
（a）三维计算 过程示意图