磁光调制实验
5.5磁光调制制
与磁场强度H成正比。
由马吕斯定律：强度为I0的偏振光，通过检偏器后， 透射光的强度为：I=I0 cos2α 其中α为检偏器的偏振化方向与入射偏振光的偏 振化方向之间的夹角。
因此，只要用调制信号控制磁场强度的变化，就会使光
的偏振面发生相应的变化。但这里因加有恒定磁场 Hdc ，
(n左 n右 )l
左旋圆 偏振光
右旋椭圆 偏振光
迎着光线看（对着光的传播方向），光矢量顺时针转 的称右旋圆偏振光（或椭圆偏振光）；光矢量逆时针 转的称左旋圆偏振光（或椭圆偏振光）
二、磁光相互作用
当光波进入施加了磁场的介质时，其传播特性发生变化，这种 现象称为磁光效应。磁光效应包括法拉第旋光效应、克尔效应、 磁双折射效应等
• 实验测量糖溶液的旋光系数
三、磁光器件
1.磁光隔离器
利用磁致旋光只依赖于磁场方向，而与光传播方向无关 的性质制成。 • B // k， 产生法拉弟旋光效应
• 起偏与检偏夹角 45
B
45介质后（调整B或L）， 偏振面旋转 45 ，正好通过P2
•反向光，线偏振光通过磁光介质后（调整B或L）， 偏振面同方向旋转 450，与P1成900，不通过P1
0
二、磁光调制器 磁光调制是把欲传递的信息转换成光载波的强度(振幅)等参量
随时间的变化，与电光调制、声光调制所不同的是，磁光调制
是电信号先转换成与之对应的交变磁场，由磁光效应改变在介 质中传输的光波的偏振态，从而达到改变光强度等参量的目的。
磁光体调制器的组成如图所示。
工作物质钇铁石榴石(YIG或掺Ga的YIG棒)放在沿
但在很多晶体中，线偏振光沿光轴方向通过晶体后，偏
法拉第效应与磁光调制实验
一、实验目的 1. 用特斯拉计测量电磁铁磁头中心的磁感应强度，分析线性范围。 2. 法拉第效应实验：正交消光法检测法拉第磁光玻璃的费尔德常数。 3. 磁光调制实验：熟悉磁光调制的原理，用倍频法精确测定消光位置；精确测量不同样品
角位移倒转。在磁致旋光介质的入射截面上，入射线偏振光的电矢量 E 可以分解为图 3-(a)
所示两个旋转方向不同的圆偏振光 ER 和 EL ，通过介质后，它们的相位滞后不同，旋转方向
也不同，在出射界面上，两个圆偏振光的旋转电矢量如图 3-(b)所示。当光束射出介质后， 左、右旋圆偏振光的速度又恢复一致，我们又可以将它们合成起来考虑，即仍为线偏振光。
（7）
由式（7）可知，当α 一定时，输出光强 I 仅随θ 变化，因为θ 是受交变磁场 B 或信号电流
i = i0 sin ωt 控制的，从而使信号电流产生的光振动面旋转，转化为光的强度调制，这就是磁
光调制的基本原理。
图 4 磁光调制装置
根据倍角三角函数公式由式（7）可以得到
I
=
1 2
I0[1 +
cos
器之间加一个由励磁线圈（调制线圈）、磁光调制晶体和低频信号源组成的低频调制器，则调
制励磁线圈所产生的正弦交变磁场 B = B0 sin ωt ，能够使磁光调制晶体产生交变的振动面转
角θ = θ0 sin ωt ，θ0 称为调制角幅度验
I = I0 cos2 (α + θ ) = I0 cos2 (α + θ0 sin ωt)
幅度 i0 连续可调，所以磁光调制器的光强调制深度 i0 连续可调。只要选定调制频率 f （如
实验四 磁光调制实验
实验四、磁光调制实验[实验目的]1.了解法拉第效应的工作原理；2.掌握磁光调制器件性能参数的测量方法；[实验原理]原来没有旋光性的透明介质，如水、铅玻璃等，放在强磁场中，可产生旋光性，这种现象称为法拉第效应。
具体的现象是，把磁光介质放到磁场中，使光线平行于磁场方向通过介质时，入射的平面偏振光的振动方向就会发生旋转，转移角度的大小与磁光介质的性质、光程和磁场强度等因素有关。
对于不同的介质其振动面的旋转方向不同，顺着磁场方向看，使振动面向右旋的，称为右旋或正旋介质，反之，则称为左旋或负旋介质。
ψ＝VlBcosα式中，ψ为振动面旋转的角度， l为光程，B为磁感应强度，α为光线与磁场的夹角，V为比例常数，称费尔德常数，单位rad/Tm，它与磁光介质和入射光的波长有关，是一个表征介质磁光特性强弱的参量。
对于给定的磁光介质，振动面的旋转方向只决定于磁场方向，与光线的传播方向无关。
这点是磁光介质和天然旋光介质之间的重要区别。
就是说，天然旋光性物质，它的振动面旋转方向不只是与磁场方向有关，而且还与光的传播方向有关。
例如，光线两次通过天然性的旋光物质，一次是沿着某个方向，另一次是与这个方向相反，观察结果，振动面并没旋转。
可是磁光物质则不同，光线以相反的两个方向两次通过磁光物质时，其振动面的旋转角是叠加的。
因此，在磁致旋光的情况下，使光线多次通过磁光物质可得到旋转角累加。
图1 磁光调制器结构简图磁光调制器就是根据法拉第效应制成的，其结构见图67-1。
将磁光介质（铁钇石榴石Y3Fe5O12或三溴化铬CrBr3）置于激磁线圈中。
在它的左右两边，各加一个偏振片。
安装时，使它们的光轴彼此垂直。
没有磁场时，自然光通过起偏振片变为平面偏振光通过磁光介质。
达到检偏振片时，因振动面没有发生旋转，光因其振动方向与检偏振片的光轴垂直而被阻挡，检偏振片无光输出。
有磁场时，入射于检偏振片的偏振光，因振动面发生了旋转，检偏振片则有光输出。
光输出的强弱与磁致的旋转角ψ有关。
光学实验二—_电光、声光和磁光调制实验指导书
电光调制实验一 实验原理电光调制实验仪作为高等院校新一代的物理实验仪器，在基础物理实验和相关专业的实验中用以研究电场和光场相互作用的物理过程，也适用于光通讯与光信息处理的实验研究。
电光调制器的调制信号频率可达 Hz 量级，因而在激光通讯、激光显示等领域中有广泛的应用。
（一）电光调制原理某些晶体在外加电场的作用下，其折射率随外加电场的改变而发生变化的现象称为电光效应，利用这一效应可以对透过介质的光束进行幅度,相位或频率的调制，构成电光调制器。
电光效应分为两种类型：（1）一级电光（泡克尔斯—Pockels ）效应，介质折射率变化正比于电场强度。
（2）二级电光（克尔—Kerr ）效应，介质折射率变化与电场强度的平方成正比。
本实验仪使用铌酸锂（LiNbO 3）晶体作电光介质，组成横向调制（外加电场与光传播方向垂直）的一级电光效应。
图1 横向电光效应示意图如图1所示，入射光方向平行于晶体光轴（Z 轴方向），在平行于X 轴的外加电场（E ）作用下，晶体的主轴X 轴和Y 轴绕Z 轴旋转45°，形成新的主轴X ’轴—Y ’轴（Z 轴不变），它们的感生折射率差为Δn ，并正比于所施加的电场强度E ：rE n n 30=∆式中r 为与晶体结构及温度有关的参量，称为电光系数。
n 0为晶体对寻常光的折射率。
当一束线偏振光从长度为l 、厚度为d 的晶体中出射时，由于晶体折射率10910~10１的差异而使光波经晶体后出射光的两振动分量会产生附加的相位差δ，它是外加电场E 的函数： U d l r n rE n nl ⎪⎭⎫ ⎝⎛==∆=3030222λπλπλπδ (1) 式中λ为入射光波的波长；同时为测量方便起见，电场强度用晶体两极面间的电压来表示，即U=Ed 。
当相差πδ=时，所加电压l d r n U U 302λπ== (2) πU 称为半波电压，它是一个可用以表征电光调制时电压对相差影响大小的重要物理量。
法拉第效应磁光调制实验
法拉第效应
1845年，迈克尔·法拉第（M.Faraday）
发现:在穿过介质时，偏振光波会因为外
磁场的作用，转变偏振的方向，这一现
象称为
法拉第效应。
法拉第效应第一次 显示了光和电磁现 象之间的联系，促 进了对光本性的研 究，是光学过程与 电磁学过程有密切 联系的最早证据 。
2.多次拟合结果，累计的系统误差较大
疑问： λ-Θ曲线一定是线性的么
λ-Θ二次拟合
B=498.2mT U=12V
可以做这样的近似
V e dn
2mc d
e 0 ( b c ) mc 2 4
e 0 mc
b
2
总结
4.测量出波长与折射率关系进一步求出电子 的荷质比（误差较大）
计算电子的荷质比
V2m ecddn
dn 2104
d
e dn0.03758
2mc d
算 得 e1.12741011Ckg1 m
实 际 e1.75881011Ckg1 m
实验得到的电子荷 质比比理论值偏小 35%！
误差分析
1.使用特斯拉计测电磁铁中心位置磁场，手 持特斯拉计可能不稳定，造成误差。
(mm)
U-B拟合（线性拟合）
U-B拟合（二次拟合）
B-Θ拟合
λ=580nm
证明Θ与B呈线性关系
对所有的λ进行B-Θ拟合 求出V Θ=VBL
λ/
nm 460 480 500 520 540 560 580 600
斜率
1.075 0.860 0.793 0.689 0.672 0.490 0.522 0.486
（ 1 0 -4）
r2
0.996
0.991Leabharlann 0.9940.996
磁光调制实验报告 -回复
磁光调制实验报告-回复通过建立磁光调制实验系统，掌握磁光效应的原理和应用，并实现对载波的二进制调制、解调和调频过程的观测。
实验原理：磁光效应是指介质中的光在磁场作用下偏振状态的旋转或偏振面的移动。
在磁光效应中，光的振动方向和介质中的磁场方向垂直且相邻两个振动方向的偏转角之间存在比例关系。
在实验中，我们采用了单频光源结合锁相放大器的方式对载波进行调制。
首先，将激光光源通过分束器分为两束，分别经过两个图像旋转器使两束光分别旋转α和−α角，接着将这两束光的振动方向合成一束，指向振荡器的P极板，进而进入样品。
此时，当样品中存在磁场时，光的偏振方向会发生改变。
最后，通过锁相放大器对输出信号进行检测和解调，得到载波的调制信息。
实验装置:实验的主要装置包括激光光源、分束器、图像旋转器、P极板、样品室、锁相放大器等。
实验步骤：1、首先将实验中使用的磁光介质（GdIG）放入样品室中，设置样品温度。
2、打开激光光源和分束器。
将激光光源通过分束器分为两束，分别经过两个图像旋转器使两束光分别旋转α和−α角，合成一束射向P极板的偏振光。
3、打开样品室，并将振荡器调至合适频率并置于样品室中间。
4、给样品加上磁场，调节样品室压强，控制样品温度，使样品处于稳定的工作状态。
5、开启锁相放大器，调节放大器的增益，将输出信号进行检测和解调，得到载波的调制信息，观测得到的曲线图像。
实验结果：实验中得到了不同频率射到GdIG中的激光光的偏振角度，以及载波的调制信息。
调制信息的幅度和相位与磁场的存在和强度有关，从实验结果中可以得到磁场的强度大小和方向对载波调制效果的影响。
实验结论：本实验通过建立磁光调制实验系统，掌握了磁光效应的原理和应用，实现了对载波的二进制调制、解调和调频过程的观测。
实验结果表明，磁场强度的大小和方向对载波调制效果具有明显的影响，为后续磁光效应在通讯和信息处理领域的应用提供了实验基础和方法。
物理实验技术中的磁光调制实验方法
物理实验技术中的磁光调制实验方法磁光调制是物理实验中一种重要的技术方法，可以在光学实验中控制光的传输性能。
通过磁场对材料的磁光性质进行调控，磁光调制实验可以实现光的偏振、幅度和相位的调节，从而在光传输的过程中产生一定的调制效应。
本文将从基本原理、实验仪器和实验步骤三个方面，介绍磁光调制实验的方法和应用。
一、基本原理：磁光调制的基本原理是基于磁光效应。
磁光效应是指在磁场的影响下，材料的折射率会发生变化，从而改变光的传播速度和相位延迟。
具体而言，当光通过具有磁光性质的材料时，会出现棘轮效应和线性磁光效应。
棘轮效应是指光的线偏振方向在磁场的作用下旋转一定角度，而线性磁光效应是指光的相位随磁场的改变而发生变化。
二、实验仪器：进行磁光调制实验需要一些基本的仪器设备。
首先需要一个光源，可以使用激光器或白光源。
其次是一套光学系统，包括透镜、偏振片、分光镜和探测器等。
磁光调制实验还需要一个外加磁场装置，可以使用恒定磁场，也可以使用可调节磁场。
最后，还需要一台计算机和数据采集系统，用于记录和分析实验数据。
三、实验步骤：1. 准备工作：根据实验要求，选择合适的磁光材料和适当的光源。
检查实验仪器的连接情况，确保各个部件正常工作。
2. 光路调整：利用透镜、分光镜和偏振片等光学元件，完成光路的调整。
确保光经过偏振片后，能够以所需的偏振方向进入磁光样品。
3. 材料处理：将磁光样品制备成合适的形状和大小，并进行必要的处理，如去除气泡和表面污染物。
将样品固定于实验台上，保持稳定。
4. 磁场调节：根据实验所需，调节外加磁场的大小和方向。
可以使用恒定磁场装置或可调节磁场装置，确保磁场的稳定性和准确性。
5. 数据采集：通过探测器收集实验数据，并利用计算机进行信号处理和数据分析。
可以记录光强度、偏振角度和相位等参数。
6. 实验结果分析：根据所得数据，分析磁光调制实验的结果。
可以通过比较不同光源、不同磁场和不同样品的实验数据，研究磁光效应的特性。
磁光调制实验
1．李鸿章1872年在上海创办轮船招商局，“前10年盈和，成
为长江上重要商局，招商局和英商太古、怡和三家呈鼎立
之势”。这说明该企业的创办
()
A．打破了外商对中国航运业的垄断
B．阻止了外国对中国的经济侵略
C．标志着中国近代化的起步
D．使李鸿章转变为民族资本家
解析：李鸿章是地主阶级的代表，并未转化为民族资本家； 洋务运动标志着中国近代化的开端，但不是具体以某个企业 的创办为标志；洋务运动中民用企业的创办在一定程度上抵 制了列强的经济侵略，但是并未能阻止其侵略。故B、C、D 三项表述都有错误。 答案：A
11
主控单元后面板 注意：“调制输出”输出的是交流信号 “励磁输出”输出的是直流流信号 两接口不要接反，否则会烧坏线圈
12
实验内容及测试方法
调出磁光调制倍频现象 测出直流磁光调制θ∽I曲线
方法一：消光法：直接消光法测量。 方法二：交流倍频法 采用在交流磁光调制下出现的标准倍频现象 做为基准，通过示波器波形间接测量消光位 置。
交流磁光调制0siniit??t?sin0bb?t???sin0???????????tiiii???????sin2cos122cos12cos00020????????6??为起偏器pp与检偏器aa主截面之间的夹角ii00为光强的幅值当线圈通以交流电信号设调制线圈产生的磁场为则介质相应地会产生旋转角设起偏器与检偏器的夹角为??初始入射光强为则从检偏器输出的光强为
消光法：起、检偏器透光轴垂直时，消光；加直流磁光调 制，光偏转一角度，则消光现象消失；再转动检偏器出现 消光，此时，检偏器转过的角度就是磁光调制使光偏振面 旋转的角度。
交流倍频法测直流磁光调制：以交流磁光调制出现的标准 倍频现象做为基准，检偏器只有在直流调制消光位置时， 才出现倍频信号（此倍频信号可以通过示波器观察，灵敏 度高于光强），由此可用示波器上出现的倍频信号来精确 确定直流调制消光位置。通过调节检偏器，重复出现的标 准倍频现象来判断磁致旋转角变化角度。
磁光调制实验
实验七 磁光调制实验一、 实验背景介绍（一）概述磁光调制是利用某些晶体的磁光效应，对光信号进行调制，使光信号的幅度随着调制信号的变化而变化，实现把调制信号加载到光信号上。
磁光调制在光电检测，光通讯，光显示等领域有着广泛的应用。
（二）磁光效应原理 磁光效应置于外磁场中的物体，在光与外磁场作用下，其光学特性（如吸光特性，折射率等）发生变化的现象。
法拉第效应 1845年由M.法拉第发现。
当线偏振光（见光的偏振）在介质中传播时，若在平行于光的传播方向上加一强磁场，则光振动方向将发生偏转，偏转角度θ与磁感应强度B 和光穿越介质的长度l 的乘积成正比，即V B L θ=⋅⋅，比例系数V 称为费尔德常数，与介质性质及光波频率有关。
偏转方向取决于介质性质和磁场方向。
2 直流磁光调制当线偏振光平行于外磁场入射磁光介质的表面时，偏振光的光强I 可以分解成如图2所示的左旋圆偏振光I L 和右旋圆偏振光I R ，对应的电矢量为E L 和E R ，两者旋转方向相反。
在磁场作用下，处于磁场中的介质呈现各向异性，由于介质对两者具有不同的折射率n L 和n R ，E L 的传播速度与E R 不同，当它们穿过厚度为L 的介质后会产生相位差，E L 与E R 旋转角度为θL 与θR ，合成电矢量则旋转一个角度θ。
2L L n L πθλ= y=Acos(wt+θ) 初相位的改变 2R R n L πθλ=因θθθθ+=-R L1()()()22L R L R R L Ln n L n n cπωθθθλ=-=-=- （2）其中n R 为在磁场作用下，右旋圆偏振光通过介质的折射率，n L 为左旋圆偏振光通过介质的折射率，c 为真空中的光速。
如折射率差()R L n n -正比于磁场强度B ，即可得（1）式，并由θ值与测得的B 与L 求出维尔德常数V图2 入射光偏振面的旋转运动3 交流磁光调制二、磁光调制实验（一）实验要求1、了解磁光调制实验的原理和方法2、了解磁光调制器用于光通讯的基本原理3、掌握磁光调制器的主要参数的测试方法 （二）实验内容1、测定旋光角与激励电流的关系2、出来晶体的半波电压和工作电压3、观察输出光强极小时，产生的倍频信号4、电光调制实现光通讯演示5、测试电光晶体的消光比和透射率 （三）实验步骤1、实验前的准备（1）按图组成实验系统，首先在光具座上放置好激光器和电接受器（2）设置实验仪（3）光路校准（4）插入起偏器，调节起偏器的高度和转角，使激光束垂直入射镜面，旋转起偏器，使透射光强最大。
磁光调制实验报告
磁光调制实验报告课程：_____光电子实验_____**：：专业：信息工程大学工程管理学院磁光调制实验报告一、实验目的1 观察磁光调制现象2 测量调制深度与调制角幅度3测定旋光角与外加磁场的关系4 测量直流磁场对磁光介质的影响5 磁光调制与光通讯实验演示二、实验原理1 磁光效应当平面偏振光穿透*种介质时，假设在沿平行于光的传播方向施加一磁场，光波的偏振面会发生旋转，实验说明其旋转角θ正比于外加的磁场强度B，这种现象称为法拉第〔Faraday〕效应，也称磁致旋光效应，简称磁光效应，即：θ (1)=vlB式中l为光波在介质中的路径，ν为表征磁致旋光效应特征的比例系数，称为维尔德〔Verdet〕常数。
由于磁致旋光的偏振方向会使反射光引起的旋角加倍，而与光的传播方向无关，利用这一特性在激光技术中可制成具有光调制、光开关、光隔离、光偏转等功能性磁光器件，其中磁光调制为其最典型的一种。
图1 磁光效应示意图如图1所示，在磁光介质的外围加一个励磁线圈就构成根本的磁光调制器件。
2 直流磁光调制当线偏振光平行于外磁场入射磁光介质的外表时，偏振光的光强I可以分解成如图2所示的左旋圆偏振光I L和右旋圆偏振光I R〔两者旋转方向相反〕。
由于介质对两者具有不同的折射率n L和n R，当它们穿过厚度为l的介质后分别产生不同的相位差，表达在角位移上有：式中λ为光波波长 因θθθθ+=-R L()()l n n R L R L ⨯-=-=λπθθθ221( 2 ) 如折射率差()R L n n -正比于磁场强度B ，即可得〔1〕式，并由θ值与测得的B 与l 求出威德尔常数υ。
3 交流磁光调制用一交流电信号对励磁线圈进展鼓励，使其对介质产生一交变磁场，就组成了交流〔信号〕磁光调制器〔此时的励磁线圈称为调制线圈〕，在线圈未通电流并且不计光损耗的情况下，设起偏器P 的线偏振光振幅为A 0，则A 0可分解为A 0 cos α及A 0 sin α两垂直分量，其中只有平行于P 平面的A 0 cos α分量才能通过检偏器，故有输出光强αα2020cos )cos (I A I ==〔马吕斯定律〕其中200A I =为其振幅。
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16
（4）插入磁光调制器，使激光束正射透过。 打开调制加载开关，将调制幅度和解调幅 度调至最大。再次仔细调节检偏器粗调盘， 使接收光强接近于0（达到最小，应该在 0.1以下），这时PA；同时观察示波器， 解调波形幅度最小时出现倍频现象，即解 调信号频率是调制信号频率的两倍。
和最小值 ImaxIminCO2S
ImaxImin
➢ 调制角幅度θ
012co1sIIm maa xx IIm miinn
10
实验仪器及注意事项
➢ 检偏与光电接受组件
锥体可调圆盘用以粗调检偏器的角度，在交流调制时 调节，后面的精密测微量角器，用以细调检偏器的旋角， 在直流调节时用。
11
➢实验仪前面板 注意：做交流调制时，先将“直流励磁”置
现象消失，再细调检偏器的精密测角器使光强读 数恢复近于0，重新出现倍频现象，记下前后测
角器度盘读数 2，其差值绝对值| 2－ 1|即为 偏振面的旋角 。
18
直流调制数据记录
初始角 1=
直流电流IDC(A)
0.3 0.6 0.9 1.2 1.5
2
偏转角 = | 2－ 1|
作 ∽B (IDC)曲线。IDC通过励磁电流表读出 。
6
交流磁光调制
为起偏器P与检偏器A主截面之间的夹角，I0为光强的幅值，
当线圈通以交流电信号 设调制线圈产生的磁场为
i i0 sint BB0sint
则介质相应地会产生旋转角 0sint
设起偏器与检偏器的夹角为 ，初始入射光强为 I0 A02 ，则
从检偏器输出的光强为：
I I 0 c2 o s I 2 0 1 c2 o s I 2 0 1 c2 o 0 si t n
5
直流磁光调制
▪ 直流线圈产生稳恒磁场; ▪ 当线偏振光平行于外磁场入射磁光介质的表面，
穿过厚度为 l 的介质后,光波的偏振面会发生旋 转，实验表明其旋转角 正比于外加的磁场强度
B: lB
由此可以看出，在直流磁光调制中，维尔德常数。是常量， l是磁光晶体长度是常量。旋转角与磁场强度B的关系是？在
这个实验中,我们能测出B吗?
• 交流倍频法相对于消光法，现象明显，检偏器位置准确，
能精确测定 ∽B的关系。
15
实验内容及主要步骤
1、打开调制幅度和解调幅度开关，将二者均调 到最大（解调幅度始终保持最大，保证实验成 功率）
２、光路准直 ３、交流调制调节： （1）检偏器的精密测角器盘预置在0位；
（2）插入起偏器(P)，仪器电源打开，调制加载
Experiment of Magneto-optic Modulation
1
实验目的
➢ 了解磁光调制实验原理； ➢ 研究磁场与光场相互作用的物理过程； ➢ 测量磁光效应的旋光特性和调制特性。
2
实验原理
磁光效应:
当平面偏振光穿透某种介质时，若在沿平 行于光的传播方向施加一磁场，光波的偏振面会发生
7
I I 0 c2 o s I 2 0 1 c2 o s I 2 0 1 c2 o 0 si t n
公式中:
为起偏器和检偏器的夹角;
为调制深度控制的角度;
II201co2s0si nt
▪ 当=90°时，上式变为：
I I 2 0[ 1 c o s (20 s int)] I0 s in 2 (0 s int)
l 激励电源
4
磁光效应的应用
▪ 利用磁光效应在激光技术中可制成磁光调制器、 磁光开关、磁光隔离、磁光偏转器、磁光环行器、 磁光衰减器等功能性磁光器件 ，其中磁光调制 器最为典型。磁光调制器又分为直流磁光调制器 和交流磁光调制器。世界上任何透明物质都具有 法拉第效应，利用法拉第效应可以研究物质的能 谱结构知识。
于“关”，否则，长时间加电过热发烫甚至烧坏。
12
➢主控单元后面板 注意：“调制输出”输出的是交流信号 “励磁输出”输出的是直流流信号 两接口不要接反，否则会烧坏线圈
13
实验内容及测试方法
▪ 调出磁光调制倍频现象 ▪ 测出直流磁光调制θ∽I曲线
方法一：消光法：直接消光法测量。 方法二：交流倍频法 采用在交流磁光调制下出现的标准倍频现象 做为基准，通过示波器波形间接测量消光位 置。
旋转，实验表明其旋转角 正比于外加的磁场强度B，
这种现象称为法拉第(Fmday)效应，也称磁致旋光效 应，简称磁光效应。即：
lB
式中l为光波在介质中的路径， 为表征磁致旋光
效应特征的比例系数，称为维尔德(Vedet)常数。
3
磁光效应系统示意图
激光电源
起偏器P
励磁线圈
LASER
检偏器A 出射光
磁光介质
IDC单位：A
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读数问题
▪ 顺时针转时：读数应为0°，1°， 2°，……
▪ 逆时针转时：读数应为90°，89°， 88°，……
注意：为了调出倍频现象，应该把调制幅度 和解调幅度先调到最大，调出倍频后再根 据需要减小。
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4、直流磁光调制
（1）在交流磁光调制倍频状态下，将励磁电 磁铁(M)置于光具座上，粗调盘不得再转动，记
录精密测角器读数为 1 ；
（2）开启直流励磁开关，适当增加励磁强度，
使励磁线圈通以直流电流IDC ，此时原来的倍频
• 消光法：起、检偏器透光轴垂直时，消光；加直流磁光调 制，光偏转一角度，则消光现象消失；再转动检偏器出现 消光，此时，检偏器转过的角度就是磁光调制使光偏振面 旋转的角度。
• 交流倍频法测直流磁光调制：以交流磁光调制出现的标准 倍频现象做为基准，检偏器只有在直流调制消光位置时， 才出现倍频信号（此倍频信号可以通过示波器观察，灵敏 度高于光强），由此可用示波器上出现的倍频信号来精确 确定直流调制消光位置。通过调节检偏器，重复出现的标 准倍频现象来判断磁致旋转角变化角度。
▪ 当=0°时，上式变为： ：
I I 2 0[1 c பைடு நூலகம் s (20 s int)] I0c o s 2 (0 s int)
▪ 可以得到倍频分量，条件是： =0°或90°
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磁光调制的基本参量
➢ 调制深度
Imax Imin
Imax Imin
▪ 式中Imax和Imin,分别为调制输出光强的最大