第四章 太赫兹的时域光谱

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光整流产生太赫兹辐射及核黄素太赫兹时域光谱的研究解析

光整流产生太赫兹辐射及核黄素太赫兹时域光谱的研究解析

光整流产生太赫兹辐射及核黄素太赫兹时域光谱的
研究
太赫兹辐射是指中心频率在太赫兹波段的电磁辐射,太赫兹辐射作为电磁波谱最近几十年来开发的一个新窗口,由于其特殊的性质,使它在很多方面都有广阔的应用前景。

太赫兹技术研究领域的两个重要方向:太赫兹辐射源和太赫兹时域光谱。

本文搭建了一套太赫兹时域光谱系统,结合量子化学计算分析了核黄素在太赫兹波段的吸收光谱。

本文第一章介绍了太赫兹的发展历程和现状做了简要的回顾和介绍。

第二章对太赫兹辐射的产生和探测进行了研究,阐述了实验室产生太赫兹辐射和探测太赫兹辐射的方法。

第三章研究了核黄素的太赫兹时域光谱,测得了核黄素在0.5-2THz波段的吸收谱和折射率;第四章通过量子化学计算,计算了核黄素在该波段的振动吸收谱,并与实验数据作比较。

第五章对本文做出总结以及对今后工作的展望。

太赫兹时域光谱系统测量金属薄膜 光学参数的原理和方法

太赫兹时域光谱系统测量金属薄膜 光学参数的原理和方法

郑州大学物理工程学院本科生毕业论文太赫兹时域光谱系统测量金属薄膜光学参数的原理和方法赵博电子科学与技术专业20062230136目录太赫兹时域光谱系统测量金属薄光学参数的原理和方法1摘要:1第一章引言太赫兹波技术综述21.1 太赫兹辐射简介21.2 太赫兹波的特性21.3 太赫兹波的产生技术31.4 太赫兹波的探测技术51.5 太赫兹波的应用领域6第二章太赫兹时域光谱系统简述72.1 太赫兹时域光谱技术72.2 太赫兹时域光谱系统光路图8第三章获得薄膜光学参数的方法103.1 金属薄膜内太赫兹传播的理论推导103.2 超薄金属薄膜太赫兹特性113.3 光学参数测量方法123.4 几种常用的具体算法133.5 实验结果和讨论143.6 总结16第四章全文总结17致谢18参考文献19太赫兹时域光谱系统测量金属薄膜光学参数的原理和方法摘要:太赫兹辐射技术是近年来发展迅速的一种技术,在很多方面展现了优良的特性。

本文介绍了太赫兹理论方面的内容,包括源、探测器的原理和结构以及太赫兹波技术的应用领域。

金属薄膜作为一种电磁功能膜,由于其特征尺寸在太赫兹频段内是将介于太赫兹波的穿厚深度附近,因而具有许多独特的性质。

金属薄膜的电导率,介电常数、消光系数等光学特性,也都有各自特点。

介绍太赫兹时域光谱系统,并介绍用太赫兹时域光谱系统通过检测金属薄膜的折射、透射和吸收等过程,获得包括折射率,消光系数,介电常数等在内的薄膜光学参数的原理。

关键字:太赫兹时域光谱系统金属薄膜复折射率Abstract:Terahertz radiation technology is developing rapidly in recent years, a technique demonstrated in many ways, good features. This article describes the theoretical aspects of terahertz, including the source, detector, and the principles and structure of the field of terahertz technology. In the terahertz frequency band, as a function of magnetic film, the feature size of metal film is thick between the THz wave of wear depth in the vicinity, which has many unique properties. Conductivity of dielectric constant, extinction coefficient, optical properties of thin metal film, get their own characteristics. This article describes the terahertz time domain spectroscopy system and ways to the determine optical parameters of metal film, including refraction, transmission and absorption process.Keywords: terahertz time-domain spectroscopy system complex refractive index第一章引言太赫兹波技术综述本章简要介绍了太赫兹太赫兹的相关理论即背景知识。

太赫兹时域光谱技术原理知乎

太赫兹时域光谱技术原理知乎

太赫兹时域光谱技术原理知乎
太赫兹时域光谱技术是一种用于研究和分析太赫兹频段(介于
红外和微波之间)电磁波的方法。

其原理基于太赫兹波的时域分析
和频域分析。

在太赫兹时域光谱技术中,首先通过一个激光器产生一串短脉
冲的光束,这些光脉冲经过一个光学元件(例如光栅或光学晶体)
分成两束,一束作为参考光束,另一束通过样品。

样品对通过的光脉冲进行干涉,产生干涉图样。

通过调节参考
光束的光程,可以得到一系列不同时间延迟的干涉图样。

接下来,使用探测器检测每个时间延迟下的干涉图样,并将其
转换为电信号。

然后,通过傅里叶变换将这些电信号从时域转换到
频域,得到太赫兹频段的频谱信息。

通过分析得到的频谱信息,可以获得样品在太赫兹频段的吸收、透射、反射等光学性质。

这种技术可以应用于材料的物性研究、生
物医学成像、安全检测等领域。

总结来说,太赫兹时域光谱技术利用干涉和频谱分析的原理,通过短脉冲光束与样品的相互作用,实现了对太赫兹频段电磁波的研究和分析。

太赫兹时域光谱_气体和自由基检测新方法

太赫兹时域光谱_气体和自由基检测新方法

太赫兹时域光谱——气体和自由基检测新方法葛敏赵红卫张兆霞朱红平王文锋(中国科学院上海应用物理研究所,上海 201800)关键词:太赫兹,时域光谱,自由基太赫兹(THz)辐射是指频率在0.1~10THz(波长在30ìm ~3mm)之间的电磁波,其波段位于微波和红外光之间。

在相当长的时间里,由于缺乏有效的产生和检测方法,使人们对该波段辐射性质的认识非常有限,以致被称为电磁波谱中THz空隙。

近十几年来,超快激光技术的迅速发展,为THz脉冲的产生提供了稳定、可靠的激发光源,使THz辐射技术和应用研究得到蓬勃发展。

20世纪90年代发展起来的THz-TDS是基于飞秒超快激光技术的THz波段光谱测量新技术[1,2,3]。

它利用物质对THz频带的不同特征吸收谱分析研究物质成分、结构及其相互作用关系。

 THz-TDS装置是将来自超快激光器的具有皮秒脉宽的激光脉冲分为两路,一路作为泵浦光,激发太赫兹发射元件产生太赫兹波。

另一路作为探测光与太赫兹脉冲汇合后共线通过太赫兹探测元件。

通过延迟装置改变探测光与泵浦光之间的光程差,使探测光在不同的时刻对太赫兹脉冲的电场强度进行取样测量,最后获得太赫兹脉冲电场强度的时间波形。

通过对测量频谱的分析和处理,可以同时得到被测样品的吸收和色散光谱[4],另外还可以获得物质的折射率、介电常数、吸收系数和载流子浓度等参数。

THz脉冲峰值功率很高,脉宽在皮秒量级,能方便地进行时间分辨研究,并通过取样测量技术有效地抑制背景辐射的干扰,辐射强度测量的信噪比大于1010。

通常气体分子的全部或部分转动光谱都位于远红外区,连续的THz波谱在气体光谱学研究中具有独到之处,能直接测定分子的转动光谱,宽带的THz-TDS脉冲检测可同时测定混合气体中不同成份的吸收、测定化学组成和浓度。

Harde[5]和 Mittleman[6]等通过对CH3Cl、H2O 等气体分子THz光谱特性分析,对它们的瞬态振动结构和热力学特性进行了解析。

《太赫兹时域光谱》课件

《太赫兹时域光谱》课件
决定太赫兹波的频率分辨率和测量精度。
脉冲整形方法
利用光学元件或数字信号处理技术对太赫兹波进行整形。
光电导天线
01
02
03
天线材料
半导体材料如硅、锗等, 用于将电信号转换为光信 号。
天线结构
单天线、天线阵列等,影 响太赫兹波的发射和接收 效率。
天线性能
灵敏度、带宽等,决定太 赫兹波的探测精度和范围 。
在食品生产、加工和储存过程中,太赫兹 技术可以检测食品的新鲜度、农药残留和其 他污染物,确保食品安全。
05 太赫兹时域光谱的未来发 展
技术创新与突破
探测器技术
研发更高效、高灵敏度的太赫兹探测器,提高光谱检测的精度和 速度。
光源技术
开发新型太赫兹光源,实现更稳定、更宽频谱的光发射。
信号处理技术
利用人工智能和机器学习算法,优化太赫兹信号处理和分析,提高 数据处理效率和准确性。
数据分析
根据实验目的,对处理后的数据进行进一步分析,如提取光谱信息、计算吸收 系数等。
04 太赫兹时域光谱的应用实 例
生物医学应用
疾病诊断
太赫兹时域光谱能够检测生物组织的分子振动和旋转,从而揭示其 结构和功能。在疾病诊断中,它可以用于检测癌症、炎症和其他疾 病。
药物研发
通过观察药物分子与生物分子相互作用时的太赫兹光谱变化,可以 研究药物的疗效和副作用,加速新药的研发进程。
《太赫兹时域光谱》 PPT课件
目录
CONTENTS
• 太赫兹时域光谱概述 • 太赫兹时域光谱系统 • 太赫兹时域光谱实验技术 • 太赫兹时域光谱的应用实例 • 太赫兹时域光谱的未来发展
01 太赫兹时域光谱概述
太赫兹波的定义与特性
总结词

第四章 太赫兹时域光谱

第四章 太赫兹时域光谱

第四章太赫兹时域光谱电磁波谱技术作为人类认识世界的工具,扩展了人们观察世界的能力。

人眼借助于可见光可以欣赏五颜六色的世界,利用红外变换光谱技术和拉曼光谱技术等可以了解分子的振动和转动等性质,利用X射线衍射技术可以了解物质的结构信息。

而太赫兹光谱技术作为新兴的光谱技术能够与红外、拉曼光谱技术形成互补,甚至在某些方面能够发挥不可替代的作用,从而成为本世纪科学研究的热点领域。

4.1 太赫兹时域光谱技术的优势太赫兹时域光谱(THz-TDS)技术是太赫兹光谱技术的典型代表,是一种新兴的、非常有效的相干探测技术。

由于太赫兹辐射本身所具有的独特性质(可参见第1章1.3节),太赫兹时域光谱技术对应有如下一些特性:(1)THz -TDS系统对黑体辐射不敏感,在小于3太赫兹时信噪比可高达104,这要远远高于傅立叶变换红外光谱技术,而且其稳定性业比较好。

(2)由于THz -TDS技术可以有效的探测材料在太赫兹波段的物理和化学信息,所以它可以用于进行定性的鉴别工作,同时它还是一种无损探测的方法。

(3)利用THz -TDS技术可以方便、快捷的得到多种材料如电介质材料、半导体材料、气体分子、生物大分子(蛋白质、DNA等)以及超导材料等的振幅和相位信息。

(4)在导电材料中,太赫兹辐射能够直接反映载流子的信息,THz -TDS的非接触性测量比基于Hall效应进行的测量更方便、有效。

而且,THz -TDS技术已经在半导体和超导体材料的载流子测量和分析中发挥出了重要的作用。

(5)由于太赫兹辐射的瞬态性,可以利用THz -TDS技术进行时间分辨的测量。

另外,太赫兹-TDS技术还具有宽带宽、探测灵敏度高,以及能在室温下稳定工作等优点,所以它可以广泛地应用于样品的探测。

4.2 太赫兹时域光谱系统THz -TDS系统可分为透射式、反射式、差分式、椭偏式等,其中最常见的为透射式和反射式THz -TDS系统。

典型的THz -TDS系统如图4-1所示,它主要由飞秒激光器、太赫兹辐射产生装置及相应的探测装置,以及时间延迟控制系统组成。

太赫兹时域光谱ppt课件

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太赫兹时域光谱技术
太赫兹历史及国内外发展状况 太赫兹时域光谱技术的优势 太赫兹时域光谱系统
透射型太赫兹时域光谱技术 反射型太赫兹时域光谱技术
小结
在日常生活中,随处都可以看到浪费 粮食的 现象。 也许你 并未意 识到自 己在浪 费,也 许你认 为浪费 这一点 点算不 了什么
1.太赫兹历史及国内外发展状况
家支柱技术十大重点战略目标”之首 ;
• 目前,世界上约有130多家研究机构开展了相关的
光电子材料、太赫兹激光器、太赫兹光谱学及相 关生物医学成像等研究。
• 我国对太赫兹研究起步较晚, 2005年11月22日,在
北京香山饭店召开 “太赫兹科学技术的新发展” 为主题的第270次学术讨论会 。
在日常生活中,随处都可以看到浪费 粮食的 现象。 也许你 并未意 识到自 己在浪 费,也 许你认 为浪费 这一点 点算不 了什么
PBS :渥拉斯顿棱镜—产生两个偏振方向垂直的分量
在日常生活中,随处都可以看到浪费 粮食的 现象。 也许你 并未意 识到自 己在浪 费,也 许你认 为浪费 这一点 点算不 了什么
• 原理:该系统利用电光取样的方法进行测量。 • 当THz脉冲电场通过电光晶体时,其瞬态电场将
通过线性电光效应使电光晶体的折射率发生各向 异性的改变,从而调制晶体的折射率椭球。当另 一束探测光和THz 脉冲同时通过晶体时,在晶体 中产生的双折射使探测脉冲的偏振方向发生偏转, 调整探测光脉冲和THz 脉冲间的时间延迟,检测探 测光在晶体中发生的偏振变化就可以获得THz 脉 冲电场的时间波形。
4.小结 在日常生活中,随处都可以看到浪费粮食的现象。也许你并未意识到自己在浪费,也许你认光谱系统在实验调节上比较方
便,但是在测量样品方面,该系统比较适用于固 体材料的测量,样品的大小受到限制;同时测量 样品不应该吸收太严重,否则会降低测量的频率 范围和测量的精度。

太赫兹时域光谱

太赫兹时域光谱
通过线性电光效应使电光晶体的折射率发生各向 异性的改变,从而调制晶体的折射率椭球。当另 一束探测光和THz 脉冲同时通过晶体时,在晶体 中产生的双折射使探测脉冲的偏振方向发生偏转, 调整探测光脉冲和THz 脉冲间的时间延迟,检测探 测光在晶体中发生的偏振变化就可以获得THz 脉 冲电场的时间波形。
3.2 反射型太赫兹时域光谱技术
当THz 脉冲照射样本材料后,THz 探测器接收由样本材料反射 的脉冲信号。延迟线的作用是调节反射镜的位置,从而改变 探测光到达THz 探测器的时间。利用不同的探测光到达时间, THz 电场强度随时间的变化量能够被测量,再通过傅立叶变 换得到反射频谱。
精品课件!
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4.小结
• 透射型太赫兹时域光谱系统在实验调节来自比较方•• •
3.太赫兹时域光谱系统
由飞秒激光器、太赫兹辐射产生装置及相应的探测装置,以及时间延迟控制系 统和数据采集与信号处理系统组成.
3.1 透射型太赫兹时域光谱技术
QWP :四分之一波片—使O光和e光相位长差 / 2 PBS :渥拉斯顿棱镜—产生两个偏振方向垂直的分量
• 原理:该系统利用电光取样的方法进行测量。 • 当THz脉冲电场通过电光晶体时,其瞬态电场将
2.太赫兹时域光谱技术的优势
• 1) 具有大约 0.1~5THz 的带宽,这样大的带宽用
• •
普通方法是很难得到的; 2)光谱计可以在室温下工作,从而避免了复杂的 制冷系统; 3)能够以皮秒级的时间分辨率测量波形,展示物质 中发生在亚皮秒或皮秒级上的现象; 4) 所获得的数据同时包含了THz 脉冲的幅度和相 位信息,因而可以对样品介电常数的实部和虚部 同时进行测量; 5)具有左右的信噪比,如此高的信噪比允许相对 较短的扫描时间,从而提高了整个系统的稳定性。
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第四章太赫兹的时域光谱利用太赫兹脉冲可以分析材料的性质,其中太赫兹时域光谱是一种非常有效的测试手段。

太赫兹脉冲时域光谱系统是在二十世纪九十年代出现的,太赫兹脉冲光谱仪利用锁模激光器产生的超快激光脉冲产生和探测太赫兹脉冲。

最常用的锁模激光器是钛宝石激光器,它能产生800nm附近的飞秒激光脉冲。

太赫兹时域光谱系统是一种相干探测技术,能够同时获得太赫兹脉冲的振幅信息和相位信息,通过对时间波形进行傅立叶变换能直接得到样品的吸收系数和折射率等光学参数。

太赫兹时域光谱有很高的探测信噪比和较宽的探测带宽,探测灵敏度很高,可以广泛应用于多种样品的探测。

典型的太赫兹时域光谱系统如图4-1所示,主要由飞秒激光器、太赫兹辐射产生装置、太赫兹辐射探测装置和时间延迟控制系统组成。

飞秒激光器产生的激光脉冲经过分束镜后被分为两束,一束激光脉冲(泵浦脉冲) 经过时间延迟系统后入射到太赫兹辐射源上产生太赫兹辐射,另一束激光脉冲(探测脉冲)和太赫兹脉冲一同入射到太赫兹探测器件上,通过调节探测脉冲和太赫兹脉冲之间的时间延迟可以探测出太赫兹脉冲的整个波形。

太赫兹时域光谱系统分为透射式和反射式,所以它既可以做透射探测,也可以做反射探测,还可以在泵浦-探测的方式下研究样品的时间动力学性质。

根据不同的样品、不同的测试要求可以采用不同的探测装置。

图4-1 典型的太赫兹时域光谱系统4.1 透射式太赫兹时域光谱系统材料的光学常数(实折射率和消光系数)是用来表征材料宏观光学性质的物理量,它是进行其他各项研究工作的基础。

但是一般材料在太赫兹波段范围内的光学常数的数据比较少。

利用太赫兹时域光谱技术可以很方便地提取出材料在太赫兹波段范围内的光学常数。

在本节中所介绍的是T.D.Dorney和L.D.Duvillaret等人提出的太赫兹时域光谱技术提取材料光学常数的模型。

实验中的太赫兹时域光谱系统的响应函数是不随时间改变的。

同时还要求所测的样品结构均匀,上下两平面抛光且保持平行。

一般情况下,可以利用复折射率n n j κ=-来描述样品的宏观光学性质。

其中n 为实折射率,描述样品的色散情况;κ为消光系数,描述样品的吸收特性,而且它们通常都是频率的函数。

消光系数与吸收系数之间有如下关系:2/c αωκ=, (4.1-1) 电磁波与物质相互作用时,在第一个端面边界上振幅变化可由反射系数和透射系数来决定,由菲涅尔(Fresnel)公式可以得出其数值关系: 2112122112cos cos cos cos p n n r n n ϕϕϕϕ-=+, (4.1-2) 111221122cos cos cos p n t n n ϕϕϕ=+, (4.1-3) 1122121122cos cos cos cos s n n r n n ϕϕϕϕ-=+, (4.1-4) 111211222cos cos cos s n t n n ϕϕϕ=+, (4.1-5) 这里的下标p 和s 分别表示p 波和s 波,它们分别对应太赫兹电磁波的偏振方向平行于入射面和垂直于入射面的情况,1ϕ为入射角,2ϕ为出射角。

同理,在第二个界面上会有如下关系: 3223233223cos cos cos cos p n n r n n ϕϕϕϕ-=+, ( 4.1-6) 222332232cos cos cos p n t n n ϕϕϕ=+, (4.1-7) 2233232233cos cos cos cos s n n r n n ϕϕϕϕ-=+, ( 4.1-8) 222322332cos cos cos s n t n n ϕϕϕ=+, (4.1-9) 2ϕ和3ϕ对于1ϕ的关系可由Snell 公式得知:112233sin sin sin n n n ϕϕϕ==, (4.1-10) 一般2ϕ和3ϕ不是实数,不能简单地对应角度,但在230κκ==的情况下,2ϕ和3ϕ便等于折射角。

考虑到太赫兹电磁波在介质中传播时的色散和损耗,这时复折射率、实折射率、消光系数、反射系数、透射系数等都为频率的函数。

当太赫兹电磁波在介质中传播距离L 后,它的振幅和相位会发生相应的改变,由于传播而产生的相位差可表示为:2(,)()()/L n L n L c πδωωωωλ==, (4.1-11)则传输因子可表示为:()(,)exp jn L p L c ωωω-⎛⎫= ⎪⎝⎭, (4.1-12) 其中c 代表太赫兹电磁波在真空中的传播速度。

(4.1-1)~(4.1-12)式都是在频域中给出的,优点是讨论问题比较方便。

同时,由于太赫兹辐射的原始信号多是在时域获得的,因此应将太赫兹时间波形变换到频域从而得到频域的相位信息和振幅信息,进而解出材料的光学常数。

这样的处理相当于将太赫兹电磁辐射脉冲展开成单色平面波进行分析。

如图4-2所示,某一频率的平面电磁波()THz E ω为入射的电磁波,()tm E ω为经反射后第m 个透射出去的部分,()rm E ω为第m 个反射波。

样品架上未放样品时,太赫兹电磁波从样品架到探测器传播距离x 后,函数形式变为(忽略去了衍射效应的影响):()()(,)ref THz air E E p x ωωω=, (4.1-13) 这里(,)air p x ω由(4.1-12)式给出。

如果考虑样品倾斜放置,这时由于太赫兹电磁波在样品中与在空气中直接传播时不同,太赫兹电磁波在样品中会因折射而存在偏折。

产生的附加光程差如图4-2所示。

其中样品的厚度为d ,太赫兹在样品中传输的距离为L ,由图中的几何关系知它们之间有如下的关系:L=d/cos φ2。

b 为参考信号与直接透过的太赫兹电磁波在样品中产生的附加光程差,由下式决定:12cos()b L ϕϕ=-,其中1ϕ和2ϕ分别为入射角和折射角。

这时太赫兹电磁波直接穿过样品后的波在形式上可表示为:01223()()(,)(,)t THz p p air sam E E t t p x b p L ωωωω=-, (4.1-14)231122323()()(,)(,)t THz p p p air sam E E t t r p x b p L ωωωω=-, (4.1-15)452122323()()(,)(,)t THz p p p air sam E E t t r p x b p L ωωωω=-, (4.1-16)2(21)122323()()(,)(,)m m tm THz p p p air samE E t t r p x b p L ωωωω+=-, (4.1-17) 其中利用了2123p p r r =,介质1和3均为同一介质。

考虑到第m 个回波的情况下,图4-2 太赫兹电磁波在平板型介质中传播示意图。

其中E THz (ω)为入射的太赫兹电磁波,E tm (ω)为第m 个出射太赫兹电磁波,E rm (ω)为第m 个反射太赫兹电磁波,边界关系由Snell 公式和Frenel 公式描述,传播效应由传播因子给出,参见文中。

其中从左到右的介质分别为1,2,3与文中复折射率、反射系数、消光系数等的下标对应。

图中反射的角度与实际角度不对应。

实际上穿过样品后的太赫兹电磁波可表示为:122322230()()(,)(,)[(,)]total THz p p air sam m M p sam ech E E t t p x b p L r p L ωωωωω==-⎧⎫⨯⎨⎬⎩⎭∑, (4.1-18) 其中M 代表回波的个数,令22230()[(,)]m M p sam M FP r p L ωω==∑, (4.1-19)由于()FP ω为等比数列,因此()FP ω还可以表示为:1222322231(,)()1(,)m p sam p sam r p L FP r p L ωωω+⎡⎤-⎣⎦=-, (4.1-19’)图4-3 样品斜置时参考信号与样品信号之间光程差关系示意图。

其中E ref (ω)为参考信号,E t0(ω)为直接透射的信号。

其中d 为样品的厚度,b 为参考信号与直接透射的太赫兹电磁波在样品中产生的附加光程差,L 为太赫兹在样品中传输的距离。

其中,m=0、1、2……由(4.1-12)式和(4.1-18)式,并将反射系数和透射系数代入,得到样品在太赫兹波段的复透射系数形式上可表示为: []12122122121()()()4()()cos cos ()cos ()cos [()()]exp ()totalref E H E n n n n j Ln bn FP c ωωωωωϕϕωϕωϕωωωω==+⎛⎫--⎧⎫⨯⎨⎬ ⎪⎩⎭⎝⎭, (4.1-20)如果只考虑在垂直入射的情况,这时12cos cos 1ϕϕ==,并且空气的折射率1()1n ω=。

这时方程(4.1-20)变为:[]22224()()1()[()]exp ()n H n j dn d FP c ωωωωωω=+⎛⎫--⎧⎫⨯⎨⎬ ⎪⎩⎭⎝⎭, (4.1-21) 其中d 为样品的厚度,F-P 因子为:[][]2222222221()1exp (22)()1()()1()1exp 2()1()m n j m n d n FP n jn d n ωωωωωωωωω+⎡⎤---+⎢⎥+⎣⎦=⎡⎤---⎢⎥+⎣⎦, (4.1-22) (4.1-21)式在已知复透射函数()H ω的辐角和幅值的情况下,只是复折射率的方程,可以解出实折射率n 和消光系数κ的值。

一般情况下,应该根据实验数据和样品的情况考虑相应的近似,以便进一步简化运算过程。

例如,厚样品情况下,由于反射波的光程比较大,选用合适的取样窗口可以只包含一个太赫兹脉冲波形,忽略所有回波。

这时,可取m=0,F-P 因子为1,复透射函数简化为:22224()()()exp [1()]n dn d H j n c ωωωωω⎧⎫-⎡⎤=-⎨⎬⎢⎥+⎣⎦⎩⎭, (4.1-23) 将样品的复折射率222()()()n n j ωωκω=-代入(4.1-23)式,并将复透射函数表示成模和辐角的形式()()exp[()]H j ωρωω=-Φ,经过化简得: 221/222222222()4[()()]1exp[()/][()1]n d c n ρωωκωκωωωκω=+⨯-++(), (4.1-24) 222222[()1]()()arctan ()[()1]n dc n n ωωωκωωωκω-Φ=⎡⎤+⎢⎥++⎣⎦(), (4.1-25) 在弱吸收的情况下,22()/()1n κωω<<,这时有近似解析解的形式:2()()1c n dωωωΦ=+, (4.1-26) []2222()1ln ()4()()n c n dωρωωκωω⎛⎫+ ⎪- ⎪⎝⎭=。

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