连接器性能及测试
连接器的测试标准
连接器的测试标准
一、引言
二、连接器的物理特性测试标准
1．外形尺寸：包括连接器的外形尺寸、公称尺寸、总长度、总宽度、厚度、外壳厚度、把手高度、窗口宽度等；
细节要求：公称尺寸精度为±0.3mm，总长度精度为±0.5mm，总宽度
精度为±0.2mm，厚度精度为±0.1mm，外壳厚度精度为±0.1mm，把手高
度精度为±0.2mm，窗口宽度精度为±0.2mm。
2．连接器结构：包括连接器构件、插芯、拔插件、凸块、锁定元件等；
细节要求：如果有多个插芯，则所有插芯必须都是弹性的，拔插件必
须能够很好的与插芯连接，凸块的位置及尺寸与插芯的设计有效空间及性
能有关，锁定元件必须能够稳定的锁定连接件，以保证整个连接结构的牢
固可靠。
3．连接器连接件：包括连接器的导线、连接片、金属导线、接地片等；。
连接器一般的测试方法及条件
連接器一般的測試方法及條件
A. 連接器的主要功能特性及規格
1. 電氣功能特性
a. 接觸阻抗（Contact Resistance）：兩導體連接後所增加的阻抗
b. 絕緣阻抗（Insulation Resistance）：相鄰兩導體間阻隔最大電流流通的難易程度
c. 耐電壓（Dielectric Withstanding Voltage）：最小電流量貫穿絕緣材料時之最大電壓
2. 机械功能特性
a. 插拔力：連接器對連接器、端子對端子
b. 操作力：推桿操作力、PC板操作力、元件操作力
c. 保持力：端子對塑膠、電線對端子、排線對連接器
d. 使用壽命：插拔次數、插拔力變化
3. 可靠性
a. 耐濕度性：高常溫、高濕
b. 耐溫度性：高溫、低溫
c. 抗振動性：靜態、動態
d. 抗衝擊性：物理、溫度
e. 耐腐蝕性：酸性、鹼性
f. 耐老化性：鹽霧、高溫高濕
g. 焊接性能：可焊性、耐焊接熱
4. 連接器的主要規格。
连接器测试规范范文
连接器测试规范范文一、引言连接器是电子设备中常见的一种连接元件，用于连接或断开电子电气信号传输线路。
连接器的质量对电子设备的可靠性和性能有着重要的影响。
为了确保连接器的质量，需要进行相应的测试。
连接器测试规范是对连接器进行测试的一套具体规定，旨在确保连接器的可靠性、一致性和性能。
二、测试对象三、测试设备1.物理测试设备：包括连接器引出线、测试电缆、夹子以及测试工具等。
2.电气测试设备：包括电阻测量仪、绝缘测试仪、信号发生器、示波器等。
3.环境测试设备：包括温度测试仪、湿度测试仪、震动台等。
四、测试项目1.物理测试项目：1.1连接器外观检查：检查连接器外壳、引脚、插头、插座等是否完好无损。
1.2连接力测试：测试连接器的插拔力是否满足设计要求。
1.3引线拉力测试：测试连接器引线的拉力是否满足设计要求。
1.4机械寿命测试：测试连接器的机械寿命，包括插拔次数和连接力的变化情况。
2.电气测试项目：2.1电阻测试：测试连接器的接触电阻是否满足设计要求。
2.2绝缘电阻测试：测试连接器的绝缘电阻是否满足设计要求。
2.3信号传输测试：测试连接器的信号传输质量，包括信号波形、噪声抑制等。
2.4电流负载测试：测试连接器的电流负载能力。
3.环境测试项目：3.1温度测试：测试连接器在正常工作温度范围内的性能。
3.2湿度测试：测试连接器在高湿度环境下的性能。
3.3震动测试：测试连接器在振动和冲击环境下的性能。
五、测试方法1.物理测试方法：采用目测、测量和机械测试等方法进行。
2.电气测试方法：采用测试仪器进行接线连接，按照测试规范进行测试。
3.环境测试方法：根据测试要求设置相应的环境参数，采用测试仪器进行测试。
六、测试结果评定测试结果根据设计要求和连接器特性来评定，可以分为合格、不合格和待修复等结果。
七、测试记录和报告测试记录和报告应包含测试样品信息、测试环境参数、测试方法、测试结果和评定等内容，并进行归档保管。
八、测试频次和范围测试频次和范围应根据连接器的使用要求和实际情况进行确定。
光纤活动连接器认知及性能测试实验总结
光纤活动连接器认知及性能测试实验总结
一、实验目的和背景
本次实验的主要目的是进行光纤活动连接器的认知和性能测试，以深入理解其工作原理，并对其性能进行评估。
我们选择了一款常见的光纤活动连接器，通过一系列的测试来了解其在实际应用中的表现。
二、实验设备和材料
设备、光纤剥离器、光纤熔接机、光纤放大镜、光源、光功率计等。
材料、单模光纤、多模光纤、光纤活动连接器等。
三、实验过程
认知测试、我们进行了对光纤活动连接器的认知测试。
我们通过观察其外形结构，了解了其基本构成；通过读取产品说明书和相关资料，掌握了其工作原理和使用方法。
性能测试、接着，我们进行了对光纤活动连接器的性能测试。
我们使用光源照射光纤，通过光功率计测量了连接器的插入损耗、回波损耗等性能指标。
同时，我们也进行了连接器的插拔试验，检查了其插拔次数对其性能的影响。
四、实验结果与分析
认知测试结果、经过我们的观察和学习，我们已经对光纤活动连接器
有了基本的认知，能够准确地描述其外形结构和工作原理。
性能测试结果、根据我们的测试数据，我们得到了光纤活动连接器的插入损耗和回波损耗等性能指标。
这些数据表明，连接器在正常使用条件下具有良好的性能。
五、结论与建议
通过本次实验，我们对光纤活动连接器有了更深入的理解，同时也对其性能有了更准确的评估。
我们在实验过程中也发现了一些问题，例如在插拔试验中，连接器的插拔次数可能会影响其性能，这需要我们在未来的工作中予以注意。
总的来说，我们认为这次实验是非常成功的，它不仅加深了我们对光纤活动连接器的理解，也为我们今后的工作提供了有价值的经验。
连接器最终检验规范
连接器最终检验规范一、前言连接器作为电子设备中不可或缺的组件，其质量的优劣直接影响到整个设备的性能和可靠性。
为了确保连接器能够满足设计要求和客户期望，特制定本最终检验规范，以明确检验的标准、方法和流程。
二、适用范围本规范适用于本公司生产的各类连接器的最终检验。
三、检验环境1、照明：检验区域的照明应充足，照度不低于 500Lux。
2、温度：检验环境温度应在 20℃ 25℃之间。
3、湿度：相对湿度应控制在 40% 70%之间。
四、检验工具和设备1、游标卡尺：用于测量连接器的尺寸。
2、千分尺：用于精确测量关键尺寸。
3、拉力试验机：用于测试连接器的插拔力和保持力。
4、绝缘电阻测试仪：用于检测连接器的绝缘性能。
5、耐压测试仪：用于测试连接器的耐压能力。
6、显微镜：用于检查连接器的微观缺陷。
五、外观检验1、连接器的外观应整洁，无明显的划痕、变形、污渍和氧化现象。
2、外壳的颜色应均匀一致，无明显的色差。
3、标识和文字应清晰、完整，无模糊、缺失或错误。
4、插针和插孔应无弯曲、变形、缺失或损坏。
5、金属部件应无锈蚀、镀层脱落或起皮现象。
六、尺寸检验1、按照产品图纸的要求，使用游标卡尺和千分尺等工具测量连接器的外形尺寸、插针和插孔的直径、间距等关键尺寸，尺寸偏差应在允许范围内。
2、对于有配合要求的连接器，应测量其配合尺寸，确保与对应的插头或插座能够良好配合。
七、电气性能检验1、绝缘电阻使用绝缘电阻测试仪，在规定的电压下，测量连接器的绝缘电阻，绝缘电阻值应不小于规定值。
2、耐压测试使用耐压测试仪，对连接器施加规定的电压，持续一定时间，期间不应出现击穿或闪络现象。
3、接触电阻使用微电阻测试仪，测量连接器插针和插孔之间的接触电阻，接触电阻值应不大于规定值。
八、机械性能检验1、插拔力使用拉力试验机，测量连接器的插拔力，插拔力应符合产品设计要求，既不能过大导致插拔困难，也不能过小影响连接的可靠性。
2、保持力对于有插头和插座配合的连接器，测量插头和插座之间的保持力，保持力应足够大，以防止在使用过程中插头意外脱落。
连接器测试_中文)
连接器测试_中文)连接器是一种电子元器件，用于在电路板上连接和传递电信号。
它在各种电子设备中广泛应用，如计算机、手机、汽车、电视等。
连接器的质量对于电子设备的正常运行至关重要，因此需要进行连接器测试来确保其质量和可靠性。
首先，进行连接器的外观检查。
这可以通过目视检查或使用显微镜来完成。
外观检查主要包括连接器的尺寸、形状、焊接质量等方面。
检查连接器的尺寸是否符合设计要求，焊接是否均匀、无气孔等。
其次，进行电性能测试。
这包括直流电阻测试、断路和短路测试、绝缘电阻测试等。
直流电阻测试用于检测连接器的电气连接。
断路和短路测试用于检测连接器是否存在断路或短路情况。
绝缘电阻测试用于检测连接器与周围环境的绝缘性能。
接下来，进行接触电阻测试。
接触电阻是指连接器接触点之间的电阻。
低接触电阻是连接器良好连接的重要指标之一、接触电阻测试可以通过四线法来进行，以减少测量误差。
最后，进行物理性能测试。
物理性能测试包括耐久性测试、插拔测试、温度循环测试等。
耐久性测试用于检测连接器的使用寿命。
插拔测试用于测试连接器插拔的可靠性。
温度循环测试用于测试连接器在不同温度条件下的性能。
在连接器测试中，可使用各种测试设备和仪器，如显微镜、万用表、绝缘电阻测试仪、接触电阻测试仪等。
此外，还可以使用自动化测试设备进行大批量的连接器测试，提高测试效率和可靠性。
连接器的测试过程需要严格执行测试标准和规程。
测试结果应记录和分析，以便评估连接器的质量和可靠性，并作为改进设计和制造的依据。
总之，连接器测试是确保连接器质量和可靠性的重要环节。
通过外观检查、电性能测试、接触电阻测试和物理性能测试，可以评估连接器的性能，并为产品的设计和制造提供参考。
只有通过有效的连接器测试，才能保障电子设备的正常运行和稳定性。
光纤活动连接器认知及性能测试实验报告
光纤活动连接器认知及性能测试实验报告摘要
本文旨在介绍有关光纤活动连接器认知及性能测试实验。
实验使用了一个活塞式连接器，并对其进行了拔插测试来检验其认知能力。
同时，还为活动连接器进行了性能测试，包括TDR，S-parameter，VNAs，连接器通断测试和连接器耐久性测试。
实验结果表明，活动光纤连接器在拔插测试中的认知能力不错，耐久性也不错。
此外，在性能测试中，表现也十分出色，TDR和S参数测试表现最好，并且在连接器通断性上，活动连接器表现得很好。
因此，这项实验表明，活动连接器在认知、性能以及耐久性方面的表现都非常出色。
关键词：光纤活动连接器，认知能力，性能测试，耐久性测试
1.绪论
最近，随着现代社会的进步，光纤电缆技术在通信领域中的应用越来越广泛[1]。
随着科技的发展，光纤已经成为当今社会最理想的相关技术[2]。
随着社会的发展，传统电线的传输效率和保护能力无法满足日益增长的通信需求，所以，光纤电缆技术应运而生。
但是，光纤电缆技术面临着一个主要问题，就是电缆连接时会受到障碍。
为了解决这个问题，活动连接器的出现极大地改善了光纤电缆技术的效率和可靠性。
电子连接器可靠性及其测试方法
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三 电子连接器的可靠性
C 端子正向力损失 对于连接器的失效; 正向力的损失;会造成端子接触界面的机械稳定性降低;而机械稳定性 的降低又会引起接触界面对机械或热诱发的应变的扰动的敏感性提高;从而增加接触电阻 正向力损失主要有两个方面： 永久变形 永久变形指端子梁由于塑性变形而偏离原始位置造成梁偏移减少;因此正向力降低 是由插 拔过程中的过应力;通常是因为不正确的或粗鲁的插拔引起的;要通壳体和/或端子的结 构设计来解决;例如增加导向结构防过插入等 应力松驰 应力松驰的结果是应力S的减少;从而正向力下降 应力松驰是不可避免的;只能控制;应力松驰的速度与设计选择的材料和施加的应力及应用 环境的温度有关 应力松驰依赖于时间和温度
C 可分离式的接触电阻一般只有几个微欧或更低 低的和稳定的电阻是连接器的一个主要要求之一;永久性接触电阻和体电阻是稳定的; 总体电阻的不稳定是由接触电阻引起的
R接触电阻 =R集中电阻+R膜层电阻
公式 2
R集中电阻主要由接触的面积及接触面的表面处理有关
膜层主要有：
氧化物膜层;存在于大部分膜层
化学膜层;包含氯化物 硫化物 氮化物等;所处的环境有关;是化学粘附
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三 电子连接器的可靠性
B 磨损 由于磨损的作用;增加了接触界面对腐蚀的敏感性;通过对基材的表面处理;保护了基层和优
化了膜层表面;而磨损会使表面处理的功能丧失
影响磨损的因素
V=KFnI/H
公式 3
V为每次循环磨损量;K为摩擦系数;Fn为正向力;I为滑入长度;H为接触表面材料硬度
摩擦系数K;由几何形状 正向力 表面硬度 润滑状况和材料决定
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四 连接器可靠性要求的测试
Environmental Test Thermal; Humid
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連接器常用測試規範
產品或業界規範
2-1. MIL-STD-24308C For D-SUB CONN.
2-2. PCI,EISA Standard
2-3. IEEE 1394 2-4. PCMCIA. 2-5. EIA-540 BOOO,EIA-540 BAAA for ZIF SOCKET
連接器的主要測試項目及目的 一. 電氣特性測試
一. 電氣特性測試
1-1. 絕緣阻抗測試(Insulation Resistance)
1-1-1. 量測目的:評估連接器之絕緣材料在通過直流電壓后,其表 面產生漏電流狀況,以判定其絕緣程度. 1-1-2. 量測依據: MIL-STD-1344 A,method 3003.1 1-1-3. 量測方法: 1-1-3-1. 測試位置為最靠近之相鄰兩端子或端子與鐵殼,如果 是同軸連接器則為內部與外部之端子. 1-1-3-2. 測試時間: 2分鐘. 1-1-3-3. 測試電壓: 500Vdc 或特別規定.
2-5. 耐久性測試(Durability)
連接器的主要測試項目及目的 三. 環境測試
3-1. 鹽水憤霧試驗(Salt spray) 3-2. 耐濕性試驗(Humidity) 3-3. 振動試驗(Vibration) 3-4. 衝擊試驗(Shock) 3-5.熱衝擊試驗(Temperature Cycling or Thermal Shock) 3-6. 高溫壽命試驗(Temperature Life) 3-7. 耐焊錫熱試驗(Resistance To Solder Heat) 3-8. 焊錫性(Solderability)
二. 機械特性測試
2-1. 單點插入力與拔出力(Engagement&Separtion)
2-1-1. 量測目的:評估個別端子插入與拔出時所需之力量. 2-1-2. 量測依據: EIA-364-37A. 2-1-3. 量測方法: 2-1-3-1. 用maximum測試pin預先插拔2次. 2-1-3-2. 如無特別規定則以最大測試pin或測試板量測插入力, 以最小測試pin或測試板測拔出力. 2-1-3-3. 測試之Gage pin應注意其表面粗糙度規格頇符合MS3197之規定.
連接器的主要測試項目及目的 二. 機械特性測試
2-1. 單點插入力與拔出力(Engagement&Separation Force)
2-2. 整體插入力與拔出力(Mating&Unmating Force) 2-3. 端子保持力(Contact Retention Force)
2-4. 端子正向力(Normal Force)
II. HP Qualification Requirements
量測依據 : Hp A-5951-1635-1 Rev. C General Requirements. II-1. 測試環境需求: II-1-1. 溫度: 250C~300C. II-1-2. 濕度: 30%~70% II-1-3. 大氣壓力: 650~800mmHg II-2. 測試樣本數及測試點: II-2-1. 樣本數: 除特別規定外,其測試的樣本數參考下列規定: A. Test Group1: 5pairs Minimum B. Test Group2:3pairs Minimum II-2-2. 量測順序見附件:
2-5. 耐久性試驗
2-5-1. 量測目的: 評估連接器經連續插拔后,其端子電鍍層摩耗程 度或插拔前后之電氣特性與機械特性變化。 2-5-2. 量測依據: MIL-STD-1344 A,Method 2015.1。 2-5-3. 量測方法: 2-5-3-1. 插拔速度除特別規定外,每小時不超過300cycle。 2-5-3-2. 測試方式以連接器公母實配為測試原則,若為SLOT系 列產品則以最大板厚之測試板執行測試。
1-2. 耐電壓測試(Dielectrics Withstanding Voltage)
1-2-1. 量測目的:評估連接器之安全額定電壓及承受瞬間脈衝電 壓之安全性,進而評估連接器的絕緣材料與其組成絕緣間 隔是否適當. 1-2-2. 量測依據: MIL-STD-1344 A,method 3001.1 1-2-3. 量測方法: 1-2-3-1. 量測點為最接近的相鄰兩端子,及shell與最接近 shell的端子間. 1-2-3-2. 測試時間: 1分鐘. 1-2-3-3. 耐壓過程之漏電流除特別規定外,不得超過5mA, 一般以0.5mA為測試需求.
1-4. 電容及電感量測(Capacitance & Inductance)
1-4-1. 量測目的:評估連接器之電容值及電感值是否合乎規格 需求,因連接器之目的即為傳輸信號,而傳輸線的電容‘ 電感取決於導體的几何形狀‘介質特性.若是設計不良,則 會導致信號傳輸延遲,訊號扭曲及阻抗不匹配的現象. 1-4-2. 量測依據: 電容(MIL-STD-202 F,method 305),電感 (EIA-364-69)及依客戶之測試需求. 1-4-3. 量測程序: 1-4-3-1. 量測頻率:除特別規定外,一般以1Khz或1Mhz. 1-4-3-2. 電容量測: 在相鄰2pin的遠端開路,近端以電容表或 LCR meter量測其電容值. 1-4-3-3. 電感量測: 在相鄰2pin遠端短路,近端用LCR meter 量測其電感值.
1-1. 絕緣阻抗測試(Insulation Resistance)
1-2. 耐電壓測試(Dielectrics Withstanding Voltage) 1-3. 低功率接觸阻抗(LLCR)
1-4. 電容及電感量測(Capacitance & Inductance)
1-5. 溫升測試(Temperature Rise)
3-1-3-3. 至少每16小時搜集監霧量一次,監霧量平均每小為 1-2ml。 3-1-3-4. 樣品的放置應不互相接觸,且測試面與垂直面成15° 。 3-1-3-5. 試驗完畢后除特別規定外,試樣應以清水衝洗5分鐘(水 溫不得超過35℃)必要時以軟毛刷洗。
3-2. 耐濕性試驗(Humidity)
2-2. 整體插入力與拔出力(Mating&Unmating Force)
2-2-1. 量測目的:評估連接器在不同環境應力下,測試前及測試后 的整體插入與拔出力,及連接器鐵殼之防護能力. 2-2-2. 量測依據: MIL-STD-1344 A,method 2013.1 2-2-3. 量測方法: 2-2-3-1. 一般為公母實配為測試方法. 2-2-3-2. 樣品為Slot系列時,除特別規定外,則以最大尺寸測試板 測試Mating Force,以最小測試板測試Unmating Force.
2-3. 端子保持力(Contact Retention Force)
2-3-1. 量測目的:評估端子裝配進塑膠后,端子所能承受之最大
軸向力.以避免在使用時因操作錯誤而造成退pin現象. 2-3-2. 量測依據: MIL-STD-1344 A.method 2007.1 2-3-3. 量測方法: 可區分為2種方式: 2-3-3-1. 在端子上施加一規定靜荷重於規定時間后,量測端子之 位移變化量是否符合規定需求. 2-3-3-2. 在端子施加一軸向力,直至端子被退出塑膠体外,記錄 其最大軸向力是否符合規定的需求.
2-4. 端子正向力(Normal Force)
2-4-1. 量測目的: 量測正向力藉以驗證端子設計及材料選定是否 合乎設計理念,進而推算出各相關的力量,以作為設計變更 之參考。 2-4-2. 量測依據: EIA-364-04 2-4-3. 量測方法: 2-4-3-1. 量測端子之Contact point間隙(Gap)。 2-4-3-2. 計算量測之位移量: Disp = (Mating parts之直徑或厚度-gap)/2 若端子之gap為單彈片設計如Smart Card則位移不頇 除以2。 2-4-3-3. 剖開露出待測pin之contact point點。 2-4-3-4. 以推拉力試驗機量測待測端子contact point被壓至計 算
三. 環境測試
3-1. 監水噴霧試驗(Salt spray)
3-1-1. 量測目的: 評估連接器金屬配件及端子鍍層抗監霧腐蝕的 能力。 3-1-2. 量測依據: MIL-STD-1344 A, Method 1001.1。 3-1-3. 量測程序: 3-1-3-1. 量測條件: A. 監水濃度: 5%重量比 B. 試驗艙之溫度: 35± 1.1/1.7℃ C. 飽和桶溫度: 47± 2℃ 3-1-3-2. 量測時間: 測試條件 測試時間 A 96小時 B 48小時(使用較多) C 500小時 D 1000小時
III. Intel Qualification Requirements
量測依據 : Intel Corporation’s Socket Qualification Requirements Specification. III-1. 測試環境需求: III-1-1. 溫度: 150C~350C. III-1-2. 濕度: 20%~80% III-1-3. 大氣壓力: 650~800mmHg III-2. 測試樣本數: III-2-1 Group1~4: 8pairs III-2-2 Group5~7: 4pairs III-2-3 Group8: 2pairs III-3. 量測順序見附件:
連接器產品功能性驗證
I. EIA Standard II. HP Qualification Requirements
III. Intel Qualification Requirement
I. EIA Standard
量測依據 : EIA-364. I-1. 測試環境需求: I-1-1. 溫度: 150C~350C. I-1-2. 濕度: 20%~80% I-1-3. 大氣壓力: 650~800mmHg I-2. 測試樣本數及測試點: I-2-1. 樣本數: 除特別規定外,其測試的樣本數參考下列規定: A. Test Group1: 4pairs. Minimum B. Test Group2~5: 2pairs. Minimum I-2-2. 測試點數: 抽測25% PER Sample,若少於25對,則全測. I-3. Precondition的插拔次數: I-3-1. 25cycles for connectors. I-3-2. 5cycles for socket I-4. 量測順序如附件: