微波暗室设计地要求说明书

微波暗室环境保护要求

微波暗室环境保护要求
微波暗室是用于测试和评估微波器件和系统的设备，其环境保
护要求主要包括以下几个方面：
1. 电磁辐射保护，微波暗室需要具备良好的电磁屏蔽性能，以
防止外部电磁辐射的干扰影响测试结果。

因此，在设计和建造微波
暗室时，需要采用合适的屏蔽材料和技术，确保其内部环境能够有
效地隔离外部电磁辐射。

2. 安全保护，微波暗室内部通常会使用高功率的微波信号进行
测试，因此需要确保设备和人员的安全。

这包括防止电磁辐射对人
体的危害、防止设备短路或过载引发火灾，并且需要在紧急情况下
能够迅速疏散人员。

3. 温度和湿度控制，微波器件的性能受环境温度和湿度的影响，因此微波暗室需要具备良好的温湿度控制系统，确保测试环境的稳
定性和可重复性。

4. 设备保护，微波暗室内通常会安装昂贵的测试设备和仪器，
需要提供良好的环境保护，防止灰尘、湿气或其他污染物对设备造
成损害。

5. 环保要求，在微波暗室的建造和运行过程中，需要符合当地的环保法规和标准，确保不对周围环境造成污染或影响。

综上所述，微波暗室的环境保护要求涉及到电磁辐射保护、安全保护、温湿度控制、设备保护以及环保要求等多个方面，需要在设计、建造和运行过程中综合考虑，以确保测试环境的稳定性和可靠性。

微波暗室分类

微波暗室分类暗室一般分为电波暗室、微波暗室、雷达仿真测试暗室：3M法暗室产品描述：上海墨石电子3米法暗室是一个最新设计的EMC测试场地，主要用于辐射发射和辐射敏感性的标准性测试。

整个的系统具有多功能用途，覆盖国际、欧洲、美国和各国的标准。

产品性能：1.频率范围：30MHz～18GHz2.吸波材料反射损耗：30MHz～18GHz≥15dB3.3M 法暗室及屏蔽控制室必须按照EN50147-1 进行测试，屏蔽效能至少能满足如下要求：4.归一化场地衰减：3M法暗室可确保在直径为2M的静区内从30MHz 至1GHz 测量的归一化位衰减(NSA、Normalized site Attenuation)与理论值偏差不超过±3.5dB（标准要求±4.0dB），符合ANSIC63.4--1992， CISPR16， EN50147-2 的要求。

5M法暗室产品描述:5米法暗室是一个最新设计的EMC测试场地，主要用于辐射发射和辐射敏感性的标准性测试。

产品性能：和电磁敏感度（EMS）测试。

适用频率30MHz-18GHz可延至40GHz。

产品性能：2. 按照ANSI C63.4-2003的步骤和规定在直径3米的圆柱体静区内所有位置从30MHz至1GHz进行归一化场衰减测试，按照10米法测量的归一化衰减 (NSA)值与理论值偏差优于±4dB；1GHz至18GHz频率范围内使用传输损耗（TL）测试方法进行测试，仅在5GHz、10GHz 和18GHz三点进行测试,归一化衰减(NSA)值与理论值偏差优于±4dB。

同时满足CISPR16、EN50147-2、CISPR22-1997、 GB9254-1998、VCCI V-3/99.05标准对场衰减的要求。

3. 按照IEC61000-4-3步骤和规定，符合EN61000-4-3:1996和GB/T 17626.3-1998的要求，在30MHz至1GHz进行场均匀度测试，标准场为转台之上0.8米-2.3米范围内1.5米x1.5米的垂直平面，按照3米测试距离要求16个测试点的75%即12点场均匀性在0-6dB之间；1GHz至18GHz的测试仅在5GHz、10 GHz和18GHz三点以低于3v/m进行测试。

微波暗室功能介绍

微波暗室
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上海墨石对微波暗室分为三类：
微波暗室分类：

ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ
3M法暗室产品描述：上海墨石电子3米法暗室是一个最新设计的EMC测试场地，主要用于辐射发射和辐射敏感性的标准性测试。整个的系统具有多功能用途，覆盖国际、欧洲、美国和各国的标准。

5M法暗室
产品描述: 5米法暗室是一个最新设计的EMC测试场地，主要用于辐射发射和辐射敏感性的标准性测试。 10M法暗室产品描述：可对通讯设备、电子、电气设备进行电磁兼容（EMC）测试，即电磁干扰（EMI）和电磁敏感度（EMS）测试。适用频率30MHz-18GHz可延至40GHz。
微波暗室|微波暗室设计|暗室工程-上海墨石
微波暗室功能介绍：

微波暗室主要用于辐射无线电骚扰（EMI）和辐射敏感度（EMS）测量，微波暗室的尺寸和射频吸波材料的选用主要由受试设备的外行尺寸和测试要求确定，分3m法、5m法或10m法。根据具体使用要求还可定制各种非标暗室。

吸波材料反射损耗：30MHz～18GHz≥15dB

微波暗室设计地要求说明书

微波暗室设计要求说明
1、主要用途：模拟自由空间，主要用于天线远、近场测试、分1m 法、3m 法或10m 法。

根据具体使用要求还可定制各种非标暗室。

2、性能指标：
频率范围：30MHz ～18GHz
（一）吸波材料反射损耗：30MHz ～18GHz ≥15dB （吸波材料采用复合吸波
测试方法按GB12190-90 标准
微波暗室内景
（三）归一化场地衰减± 4dB ，场均匀性0～6dB ，多径损耗均匀性±0.25dB 内。

3、结构组成：
（一）屏蔽室：屏蔽室由屏蔽壳体、屏蔽门、通风波导窗及各类电源滤波器等组成。

根据用户要求，屏蔽壳体可采用焊接式或拼装式结构均可。

（二）吸波材料：
1、单层铁氧体片：工作频率范围30MHz ～1000MHz 。

2、锥形含碳海绵吸波材料：锥形含碳海绵吸波材料是由聚氨脂泡沫塑料在碳胶溶液中渗透而成，具有较好的阻燃特性。

（三）其它：主要有信号传输板、转台、天线、监控系统等。

暗室参数要求及误差分析

暗室参数要求及误差分析1、暗室参数微波暗室的电性能指标主要由静区的特征来表征。

静区的特性又以静区的大小、静区内的最大反射电平、交叉极化度、场均匀性、路径损耗、固有雷达截面、工作频率范围等指标来描述。

影响暗室性能指标的因素是多元化的，也是很复杂的，在利用光线发射法和能量物理法则对暗室性能进行仿真计算时，需要考虑电波的传输去耦，极化去耦，标准天线的方向图因素，吸收材料本身的垂直入射性能和斜入射性能，多次反射等影响。

但在实际的工程设计过程中，往往以吸收材料的性能作为暗室性能的关键决定因素。

1）交叉极化度：由于暗室结构的不严格对称、吸收材料对各种极化波吸收的不一致性以及暗室测试系统等因素使电波在暗室传播过程中产生极化不纯的现象。

如果待测试天线与发射天线的极化面正交和平行时，所测试场强之比小于-25dB，就认为交叉极化度满足要求。

2）多路径损耗：路径损耗不均匀会使电磁波的极化面旋转，如果以来波方向旋转待测试天线，接收信号的起伏不超过+-0.25 dB，就可忽略多路径损耗。

3）场均匀性：在暗室静区，沿轴移动待测试天线，要求起伏不超+-2dB；在静区的截面上，横向和上下移动待测天线，要求接收信号起伏不超过+-0.25 dB。

2、天线测量的误差1）有限测试距离所引起的误差设待测的是平面天线，接收的来波沿其主波束的轴向。

若测试距离大小，由待测天线之不同部位所接受的场不能相同，因此具有平方根律相位差。

若待测天线恰位于源天线远场区的边界2D2/，其口径边缘与相位中心的场存在22.5度的相位差。

若测试距离加倍，在相位差减半。

对于测量中等旁瓣电平的天线，距离2D2/通常已经足够，测出的增益约偏小0.06dB.测试距离缩短会使测量误差迅速增大，旁瓣会与主波束合并成肩台式，甚至合为一体。

通常0.25 dB的锥销使测出的增益降低约为0.1 dB，并造成近旁瓣的些许误差。

2）反射。

微波暗室技术配置

微波暗室技术配置一、基本要求通过采取屏蔽措施,有效衰减周围环境中的电磁干扰，也避免室内测试电磁场对周围环境的辐射。

同时吸波材料用于微波暗室的顶面、地面及墙面部位的安装和铺放，以获得合格的电磁测试环境。

总体性能满足天线近场测试的技术要求。

二、暗室尺寸与布局暗室布局如图1所示：暗室屏蔽净空尺寸：41.3m(L)×38.0m(W)×22.8m(H)（其中0.5m在零标高以下）。

类似结构示意图如下暗室配置1扇电动屏蔽大门用于大型设备的进出，2扇屏蔽小门用于人员和小型设备的进出,2扇屏蔽小门用于消防逃生。

暗室的指定区域内可安装两套近场扫描系统，其中第一套扫描架系统安装位置（扫描架基础1）见图1，第二套扫描架系统需预留扫描架基础。

屏蔽体可采取必要的吊挂及支撑措施与周围建筑体连接，需向建筑设计单位提供相关需求。

与本次建设的平面测量系统的配套为：1间非屏蔽控制室尺寸为：20m(L)×5.7m(W)×3.5m (H)（暂定），1间会议室，1间休息室，1间扫描架备件储藏室及1间待测天线（AUT）储藏室。

具体建筑位置见图1，具体建筑尺寸可参照原预留房间尺寸。

扫描架基础1（实施）测控室1（实施）会议室1（实施）休息室1（实施）扫描架备件储藏（实施）AUT 储藏（实施）扫描架基础2（预留）图1 暗室布局示意图三、主要性能指标暗室功能：利用平面近场方法实现各类天线的测量。

工作频率范围：0.3～40GHz 暗室屏蔽效能（不包括吸波材料）： 0.3～1GHz ：≥95dB （平面波） 1～10GHz ：≥95dB （微波） 10～18GHz ：≥90dB （微波） 18～40GHz ：≥80dB （微波）静区尺寸：33m(L)×16m(H)×5m(W)（注：待测天线距离测试探头的距离：按低频段0.3GHz 对应的5个波长计算为5米，可覆盖最低可测频段到0.2GHz ）平面近场测试工作区域反射电平： 0.3～1GHz ：≤-35dB1～2GHz：≤-40dB2～12GHz：≤-50dB12～40GHz：≤-55dB四、主要配置如表表1 屏蔽工程主要设备清单五、屏蔽部分介绍屏蔽效能，除符合暗室总体屏蔽效能指标要求外，还应满足GB12190、EN50147-1和MIL-STD285要求，所有设施和配套部件不应影响其屏蔽效能。

微波暗室分类

微波暗室分类暗室一般分为电波暗室、微波暗室、雷达仿真测试暗室：3M法暗室产品描述：上海墨石电子3米法暗室是一个最新设计的EMC测试场地，主要用于辐射发射和辐射敏感性的标准性测试。

整个的系统具有多功能用途，覆盖国际、欧洲、美国和各国的标准。

产品性能：1.频率范围：30MHz～18GHz2.吸波材料反射损耗：30MHz～18GHz≥15dB3.3M 法暗室及屏蔽控制室必须按照EN50147-1 进行测试，屏蔽效能至少能满足如下要求：4.归一化场地衰减：3M法暗室可确保在直径为2M的静区内从30MHz 至1GHz 测量的归一化位衰减(NSA、Normalized site Attenuation)与理论值偏差不超过±3.5dB（标准要求±4.0dB），符合ANSIC63.4--1992， CISPR16， EN50147-2 的要求。

5M法暗室产品描述: 5米法暗室是一个最新设计的EMC测试场地，主要用于辐射发射和辐射敏感性的标准性测试。

产品性能：（EMI）和电磁敏感度（EMS）测试。

适用频率30MHz-18GHz可延至40GHz。

产品性能：1GHz进行归一化场衰减测试，按照10米法测量的归一化衰减 (NSA)值与理论值偏差优于±4dB；1GHz至18GHz频率范围内使用传输损耗（TL）测试方法进行测试，仅在5GHz、10GHz 和18GHz三点进行测试,归一化衰减(NSA)值与理论值偏差优于±4dB。

同时满足CISPR16、EN50147-2、CISPR22-1997、 GB9254-1998、VCCI V-3/99.05标准对场衰减的要求。

3. 按照IEC61000-4-3步骤和规定，符合EN61000-4-3:1996和GB/T 17626.3-1998的要求，在30MHz至1GHz进行场均匀度测试，标准场为转台之上0.8米-2.3米范围内1.5米x1.5米的垂直平面，按照3米测试距离要求16个测试点的75%即12点场均匀性在0-6dB之间；1GHz至18GHz的测试仅在5GHz、10 GHz和18GHz三点以低于3v/m进行测试。

emc10米暗室介绍大全

在屏蔽室的天花板和四面墙贴上吸波材料，地面的吸波材料采用活动式铺设，即构成EMC实验室。

该EMC暗室（实验室）为十米法半电波暗室，在30MHz至18GHz的频率范围内，在3米测量距离拥有2米静区，10米测量距离拥有3米或更大静区，该暗室满足FCC、CE和VCCI对十米法暗室的认证、测量规则暗室是模拟开阔场而进行EMC测量的，并提供一个电磁背景干净、场均匀性好的一个测量场地。

吸收微波只是吸波材料的特点而已。

暗室使用频率一般在10KHz~40GHz左右。

暗室吸波材料通常是用铁氧体加聚氨酯泡沫尖劈吸波材料组成的复合材料，铁氧体在1GHz以下，最佳在500MHz以下；聚氨酯泡沫尖劈吸波材料通常适在450MHz以上，耐高温、高场强。

为满足30MHz～40GHz的归一化场地衰减规则，通常暗室需采用铁氧体片和渗碳泡沫角锥或空心角锥复合型的宽带吸波材料。

民用为30M-18G，军用为9k-40GHz的频段。

根据文献报道，对于10m法暗室，为满足归一化场地衰减偏差≤±4dB规则，吸波材料在30～1000MHz垂直入射时反射系数应小于-20dB，45°入射角时小于-15dB。

对于1～40GHz频率范围，吸波材料垂直入射及45°角入射的反射系数也应不高于上述数值。

关于复合型宽带吸波材料，要注意以下两点：a)和铁氧体片组合的渗碳聚氨酯泡沫角锥，其含碳量不同于单独使用的角锥，对于这点，国内第一次（1995年）研制复合型吸波材料时并不清楚，而是沿用常规的角锥吸波材料的含碳量配方。

b)复合型吸波材料和屏蔽室之间宜加一层胶合板。

根据国外文献报道，增加这层电介质（胶合板）对改善反射系数是有益的。

没有下面的铁氧体和胶合板的暗室一般是用来测量天线的微波暗室，这个EMC暗室不一样，EMC暗室必须要有铁氧体1）EMC暗室模拟开阔场，也就是说五个面是没有任何障碍物，所以EMC暗室五个面要粘贴吸波材料，吸收电磁波，防止反射；而微波暗室是模拟自由空间，因此六个面都要粘贴吸波材料；2）测量原理不一样，EMC测量接收能量是通过空间直射和地面反射叠加值，而微波暗室是直接发射接收到的值；静区性能是微波暗室综合性能的体现，也是暗室设计的关键。

3米法暗室和10米法暗室介绍

在屏蔽室的天花板和四面墙贴上吸波材料，地面的吸波材料采用活动式铺设，即构成EMC实验室。

该EMC 暗室（实验室）为十米法半电波暗室，在30MHz至18GHz的频率范围内，在3米测量距离拥有2米静区，10米测量距离拥有3米或更大静区，该暗室满足FCC、CE和VCCI对十米法暗室的认证、测量规则。

一.用途：可对通讯设备、电子、电气设备进行EMC（EMC）测量，即电磁干扰（电磁干扰）和电磁敏感度（EMS）测量。

适用频率30MHz-18GHz可延至40GHz。

二.主要规格及性能1.屏蔽效能，满足EN 50147-1、GB12190-90。

技术参数如下：频率屏蔽效能14 kHz ＞60 dB 磁场100 kHz ＞ 80 dB 磁场100 kHz ＞ 100 dB 电场1 MHz ＞100 dB 磁场1 MHz ＞100 dB 电场100 MHz ＞ 100 dB 电场1 GHz ＞100 dB平面波10 GHz ＞100 dB微波18 GHz ＞100 dB微波100 MHz ＞ 100 dB电场 1 GHz ＞100 dB &nb2.按照ANSI C63.4-2003的步骤和规定在直径3米的圆柱体静区内所有位置从30MHz至1GHz进行归一化场衰减测量，按照10米法测量的归一化衰减(NSA)值和理论值偏差优于±4dB；1GHz至18GHz频率范围内使用传输损耗（TL）测量方法进行测量，仅在5GHz、10GHz和18GHz三点进行测量,归一化衰减(NSA)值和理论值偏差优于±4dB。

同时满足CISPR16、EN50147-2、CISPR22-1997、GB9254-1998、VCCI V-3/99.05标准对场衰减的规则。

3.按照IEC61000-4-3步骤和规定，符合EN61000-4-3:1996和GB/T 17626.3-1998的规则，在30MHz至1GHz进行场均匀度测量，标准场为转台之上0.8米-2.3米范围内1.5米x1.5米的垂直平面，按照3米测量距离规则16个测量点的75%即12点场均匀性在0-6dB之间；1GHz至18GHz的测量仅在5GHz、10 GHz和18GHz三点以低于3v/m进行测量。

天线微波暗室项目设计方案

天线微波暗室项目设计方案一、项目概述二、暗室结构设计1.外部结构设计：暗室外部结构采用金属屏蔽结构，以确保外界信号不会干扰到实验中的测量结果。

采用漏盖屏蔽结构，以便将外部信号波反射回源端并导入负载端进行吸收。

2.内部结构设计：暗室内部采用球面设计，以确保天线和测量仪器的信号都能够集中在一个点上。

球面内涂覆高吸收率的吸波材料，以降低天线辐射的反射和散射。

三、吸收材料选择吸波材料是天线微波暗室中的核心材料，对暗室性能有着重要影响。

常用的吸波材料有碳基吸波材料、金属负载聚合物吸波材料和磁性导体吸波材料等。

根据实际需要选择合适的吸波材料，并根据天线工作频段选择相应的吸波材料的满足频率。

四、内部设备布局1.天线安装：天线安装在暗室球面的中心位置上，以确保信号发射和接收的准确性。

2.测量仪器安装：根据实际需要，将测量仪器安装在暗室内，以方便进行天线的性能测试和分析。

3.辅助设备安装：根据实际需要，安装辅助设备，如功率放大器、信号发生器等。

五、安全措施1.防雷保护：暗室设计应考虑到防雷措施，采取避雷针和接地等措施，以保护设备和人员的安全。

2.防火措施：暗室应设置火灾报警器、灭火设备等，以确保设备和人员在发生火灾时能够及时采取措施。

3.电磁辐射安全：暗室设计应符合电磁辐射安全标准，例如设置防护门、导波管等，以减少对周围环境和人员的辐射。

六、项目实施1.设计与制造：按照上述方案进行暗室的结构设计，并根据需要选择合适的吸波材料，进行制造。

2.安装调试：完成暗室的制造后，根据设计要求进行安装和调试，确保暗室各设备和吸波材料正常工作。

3.测试验证：在安装调试完成后，进行天线的性能测试和验证，以确保暗室设计的可行性和效果是否符合预期。

七、总结通过天线微波暗室的设计方案，可以保障天线的发射和接收性能以及天线的辐射特性的测试。

设计方案中需要考虑暗室的结构、吸波材料的选择、内部设备布局以及安全措施等方面，以保障实验数据的准确性和人员的安全。