温升测试报告LED产品

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产品温升测试报告

产品温升测试报告

□ 合格PASS
硅钢片:
□不合格NG 审核:
初级圈数/线径: 次级圈数/线径: 其它: 电路板: 次级保险丝: 胶壳材质:
陶瓷电容: 电阻: 屏蔽罩:有/无 初级保险丝:
测量点
室温(℃) Room temp(℃) 初级负载电流(mA) pri.load current(mA) 次级负载电压(V) Sec.load voltage(V) 次级负载电流(mA) Sec.load current(mA) 初级电阻(Ω ) Pri.resistance(Ω ) 初级线圈温度(℃) Pri.winding temp(℃) 次级线圈温度(℃) Sec.winding temp(℃) 铁芯顶温度(℃) Top core temp(℃) 胶壳顶温度(℃)
Top case surface temp(℃)
胶壳底表面温度(℃)
Bottom case scase temp(℃) 电解电容表面温度(℃) E.cap.surface temp(℃) 二极管表面温度(℃) Diode surface temp(℃)
产品温升测试报告
客户Customer: 工程号Project NO: 产品名称Product: 型号Model:
表格编号:QD-BG-051
版本:01
测试日期Test date: 测试标准Test Standard: % W V V mA
HZ额定输出Rated output: V mA测试条件Testing condition:输入I/P: 额定输入 Rated input V 初级额定输入Pri.rated input:AC V HZ 初级功率(次级负载)Pri input watts(sec.load): Start 初级空载电流Pri.exiting current: 初级负载电流Pri.load current: 初级铁损功率Pri.power loss: 时间time 开始测试 Test begin mA 次级空载电压sec.no-load voltage:AC/DC mA 次级负载电压sec.load voltage:AC/DC W 次级额定负载电流sec.rated load current:AC/DC

灯具温度测试报告模板

灯具温度测试报告模板

灯具温度测试报告模板
测试目的
本次测试旨在对灯具进行温度测试,以了解其在长时间使用时的温度情况,为灯具的设计和生产提供参考。

测试范围
本次测试范围为三款LED灯具,分别是A型号、B型号和C型号。

测试方法
1.将每款灯具在室温下长时间(超过3小时)使用,达到稳定状态。

2.用红外测温仪对各部位进行温度测试,包括灯具表面和内部关键部件
(如LED芯片、散热器等)的温度。

3.将测试数据记录下来并分析。

测试结果
下面是各款灯具的温度测试结果:
A型号
•灯具表面温度:45℃
•LED芯片温度:55℃
•散热器温度:48℃
B型号
•灯具表面温度:48℃
•LED芯片温度:60℃
•散热器温度:52℃
C型号
•灯具表面温度:50℃
•LED芯片温度:62℃
•散热器温度:55℃
分析与结论
从测试结果可以看出,三款灯具在稳定状态下的温度相对较低,符合相关设计要求。

其中,A型号的温度最低,可能是因为其散热器设计较好。

B型号和C型号的温度较高,可能需要在设计中进行相应调整。

建议
建议在灯具设计和生产中,更加注重散热器设计和材料选择,确保灯具在长时间使用中温度不会过高,同时加强对各部位温度的测试和分析,为灯具质量的提升提供保障。

结束语
本次测试结果仅供参考,相信能为灯具的设计和生产提供一定的指导。

谢谢!。

温升测试报告

温升测试报告

50℃ 176V / 24V实测温度ຫໍສະໝຸດ Temp264V / 24V
实测温度℃ Temp
最大温度 Temp MAX
测试结果 Result
■PASS
□FAIL
中山市穆峰照明电器有限公司
中山市穆峰照明电器有限公司
元件温升测试报告
Component Thermal Stress Testing Report
产品信息/Product Information : 产品型号 Part No. 测试依据 according to 测试标准 Test Standard 参数测试/parameter Test: 烤箱温度/Temp. in the Oven(℃) 输入电压 /Input Voltage(V),带载/Loading(V) 元件 Component 电解 capacitor 保险丝 桥堆Bridge pile 变压器Transformer 变压器Transformer IC 二极管 Diode 验证结果/confirmation result: 测试结果 Test result 结论 conclustion 元件温升符合标准要求,测试通过/ Component Thermal Stress meet the standard requirements, test passed. 审核/Checked: 批准/Approved: 标准最大温度 元件位 (℃) Designation △t Standard Max ≤90℃ ≤110℃ ≤110℃ ≤110℃ ≤110℃ ≤100℃ ≤110℃ 申请人 Test applicant 测试负载 Test load 仪器设备 Test Instrument 测 试 人 Operator 环境温度 Ambient Temp 测试时间 Test Date 环境湿度 Ambient humidity 数量 quantity

LED 出厂检验报告 - 光源类

LED 出厂检验报告  - 光源类
深圳市xxxxxxx科技有限公司
出厂检验报告
产品类别:
LED 光源
编ห้องสมุดไป่ตู้:
产品名称:
商标:
检验类别:
出厂检验
生产日期:
样品数量:
检验日期:
检验依据:
GB 24906-2010 普通照明用50V以上自镇流LED灯 安全要求。
GB 24908-2014 普通照明用非定向自镇流LED灯 性能要求。
检验项目:
1、标称的额定功率<5W:±0.5w;
2、标称的额定功率≥5W:±10%
合格
2.2
电流
在额定电压和频率下实际电流与标称的额定电流之差不得大于10%
合格
2.3
功率因数
在额定电压和频率下实际功率因数不得低于标称值0.05。
合格
2.4
谐波
1、有功功率≤25W,3次谐波电流≤86%,5次谐波电流≤61%;
2、有功功率>25W,2次谐波电流≤2%,3次≤61%,
4、老化后,在170-250VAC电压范围内来回波动5次;
5、最后用250VAC冲击5次,每次间隔5S.
符合要求
合格
4.3
加速开关寿命试验
在额定输入电压下,将灯开启和关闭各30S,循环15000次后,灯能正常工作15min。
符合要求
合格
4.4
元器件温度
在老化房温度下以不同输入电压(187、220、,250VAC)分别老化2小时和5小时后,在80℃高温箱内输入电压187、250VAC分别老化2小时和5小时后,测试试验品主要元器件工作温度,测试值要符合元器件温度要求。
符合要求
合格
4.2
高低压老化冲击试验
在以下依次试验期间不得出现频闪,频响或死机等现象,且试验后能正常工作:

温度对LED的影响分析

温度对LED的影响分析

LED(Light Emitting Diode:发光二极管)作为第四代光源,因其节能、环保、长寿命等优点极具发展前景。

但因为LED对温度极为敏感,结温升高会影响LED的寿命、光效、光色(波长)、色温、光形(配光)以及正向电压、最大注入电流、光度、色度、电气参数以及可靠性等。

本文详细分析了温度升高对LED各光电参数及可靠性的影响,以利于LED芯片和LED照明产品的设计开发。

一、温度过高会对LED造成永久性破坏(1)LED工作温度超过芯片的承载温度将会使LED的发光效率快速降低,产生明显的光衰,并造成损坏;(2)LED多以透明环氧树脂封装,若结温超过固相转变温度(通常为125℃),封装材料会向橡胶状转变并且热膨胀系数骤升,从而导致LED开路和失效。

二、温度升高会缩短LED的寿命LED的寿命表现为它的光衰,也就是时间长了,亮度就越来越低,直到最后熄灭。

通常定义LED光通量衰减30%的时间为其寿命。

通常造成LED光衰的原因有以下几方面:(1)LED芯片材料内存在的缺陷在较高温度时会快速增殖、繁衍,直至侵入发光区,形成大量的非辐射复合中心,严重降低LED的发光效率。

另外,在高温条件下,材料内的微缺陷及来自界面与电板的快扩杂质也会引入发光区,形成大量的深能级,同样会加速LED器件的光衰[1]。

(2)高温时透明环氧树脂会变性、发黄,影响其透光性能,工作温度越高这种过程将进行得越快,这是LED光衰的又一个主要原因。

(3)荧光粉的光衰也是影响LED光衰的一个主要原因,因为荧光粉在高温下的衰减十分严重。

所以,高温是造成LED光衰,缩短LED寿命的主要根源。

不同品牌LED的光衰是不同的,通常LED厂家会给出一套标准的光衰曲线。

例如Philips Lumiled公司的Luxeon K2的光衰曲线如图1所示,当结温从115℃提高到135℃,其寿命就会从50,000小时缩短到20,000小时。

图1 Lumiled Luxeon K2的光衰曲线高温导致的LED光通量衰减是不可恢复的,LED没有发生不可恢复的光衰减前的光通量,称为LED的“初始光通量”。

2.5W和 3W球泡灯温升及散热报告

2.5W和 3W球泡灯温升及散热报告

义乌市闪亮电子有限公司试验报告图1 3W球泡灯和2.5W球泡灯温度线形比较试验结果分析:一、从表格中可以看出:1、2.5W的3个球泡灯温度稳定后幅度范围很大,排除环境因素,有2种可能:①3温度计探头没放在3个球泡灯的同一个位置(可以减小此误差,但不能排除)。

②本身温度计存在着一定的系统误差,在做实验中不能避免这些误差。

2、从表中看出3W的球泡灯的工作温度是58±0.5℃。

二、从表格和线型图中可以看出:⑴ 2.5W球泡灯在开始点亮后20分钟的时间里温度上升最快,20分钟后温度继续上升,但温升速度明显下降,最后达到基本稳定状态。

⑵3W球泡灯在开始点亮后30分钟的时间里温度上升最快,30分钟后温度继续上升,但温升速度明显下降,最后达到基本稳定状态。

三、对单个3W的球泡灯进行测试,验证它的散热能力。

测试图标如下:图2 3W铝基板和铝壳的温升曲线比较结果分析:1、从图表中可以很清楚的看到铝基板和铝壳的温度曲线都是相同的趋向,再每个时间点的温度差基本保持相同,这说明铝壳导热性能良好,能充分把热量迅速与空气对流散热到空气中去。

2、再另2组再达到温升稳定后的铝基板和铝壳的温度及温度差。

在图中我们可以看到2号灯铝基板的温度和铝壳的温度稳定后相差5.4℃,分析可能有3种原因:⑴因为都是纯手工操作,不可能每次都很准却的放在同一点测试,所以有误差再里面;⑵在对这3个3W的球泡灯观察时发现2号球泡灯的铝基板下面有导热硅胶片,而其他2个是导热硅脂。

故怀疑导热硅胶片在吸收热量后有储存热量;⑶外界环境的影响,2号灯是在下午测试的,所以外界环境的改变导致温差较打。

四、对单个2.5W的球泡灯进行测试,验证它的散热能力。

测试图标如下:图3 2.5W铝基板和铝壳的温升曲线比较在图中我们可以看出两条线的趋向虽相同那距离有点远,说明铝基板和铝壳的温差有点大,3W的球泡灯的温差最高2.8℃,2.5W达到4.6℃,分析其原因可能⑴2.5W和3W球泡灯的结构不一样,导致散热能力不一样;⑵2.5W用的是导热硅胶片,3W用的是导热硅脂,两者可能存在导热系数不同而导致温差大的结果,而且2.5W的光源是单个螺丝固定,这些有些铝基板会一边翘起,导致导热硅胶片受热不一。

LED元件温升测试指导书

LED元件温升测试指导书

元件温升测试指导书一、试验目的试验机器在正常工作条件下时,其元件的温升是否符合要求;防止出现着火危险和影响可靠性。

二、适用产品公司的TV、AV类产品。

三、试验条件测试信号:RF全白场信号、1KHz音频信号(对于视盘机进行播放)。

图像设置:亮度/对比度调至最大状态。

声音设置:音量调至最大功率的1/4处;音调置中间位置。

电源电压:最低和最高工作电压(电源范围的±10%)。

工作时间:不少于4小时或温度已达稳定状态.四、试验要求2、焊点温升限值要求:元件脚加铆钉的焊点温升限值<55 ℃;元件脚无铆钉的焊点温升限值<50 ℃五、试验程序5.1 温升测试点的选择5.1.1 电阻:所有功率等于或大于1/2W的电阻测试点:a)电阻元件表面;b)PCB板焊盘较小的一端或同一焊盘有多个发热元件的一端。

5.1.2 晶极管:整流管、中功率稳压管;电源开关管、行管、视放管、枕校输出管及大功率管。

测试点:a)晶体管元件表面;b)二极管或三极管大电流脚的焊盘。

5.1.3 集成电路:电源厚膜IC、场输出IC、伴音功放IC、稳压IC。

测试点:集成电路元件表面;5.1.4 电解电容:所有电源、行/场扫描部分滤波电解电容。

测试点:a)电容元件外壳表面。

b)元件脚焊点。

5.1.5 电感:电源滤波器、开关变压器、线圈、行推动变压器等测试点:a)电感元件线圈/磁芯表面。

b)元件脚焊点。

5.1.6 LOT:行输出变压器测试点:a)行输出变压器元件内部线圈。

b)磁芯表面。

5.1.7 机内和环境温度:机内偏转下5~6 cm处。

注:在测试封装表面温度时,热电偶的线要紧贴封装表面,并且要找到最高温度的点。

5.2 将测温探头(热电偶)粘在元件体表面上,尽可能靠近发热位置点;使用假负载代替喇叭的声音,确认所有测试点正确后,合上后壳、并放置机器在一个测试箱内。

5.3机器接上电源、输入信号。

按测试条件将亮度和对比度调到最大,声音调到1/4最大功率处的音量,音调置中间位置。

LED灯电气性能试验报告

LED灯电气性能试验报告

LED燈電氣性能試驗報告一﹑目的﹕驗証供應商正常及高溫制程LED燈后用于我司作業之可行性。

二﹑條件﹕1.試驗材料﹕正常及高溫制程LED燈﹔2.材料數量﹕28PCS﹔3.試驗條件﹕依LED燈在成品鍍錫﹑測試所需條件﹔可靠性試驗室振動試驗條件﹕4.試驗器材﹕恆溫錫爐﹑測溫計﹑電源供給器﹑數字萬用表﹑3260B電橋等﹔三﹑試驗方法及結果﹕試驗一﹕取正常及高溫制程LED燈(黃與綠各4pcs)。

設定錫爐溫度為260℃(用測溫計實測)﹐將12 pcs LED燈分別浸入錫爐(膠體以下)﹐用秒表控制浸錫時間分別為6分鐘﹑7分鐘﹑8分鐘﹑9分鐘.在每次浸錫時間之后﹐用3260B電橋測試LED燈﹐確定浸錫耐熱后LED燈是否能正常發光。

結果﹕正常LED黃燈浸錫耐熱后出現1 pcs不良﹐試驗二﹕取正常及高溫制程LED燈( (黃與綠各4pcs)。

浸錫時間為5秒鐘(用秒表控制)﹐將12 pcs LED燈分別浸入錫爐(膠體以下)﹐錫爐設定溫度分別為260℃﹑270℃﹑280℃﹑290℃﹑300℃﹑320℃﹐使用溫度計測試錫爐實際溫度。

在每次浸錫后﹐用3260B電橋測試LED燈﹐確定浸錫耐熱后LED燈是否能正常發光。

試驗數據如下﹕結果﹕正常及高溫制程LED燈未出現電氣不良。

試驗三﹕使用直流電源供給器LED燈的發光電壓﹐用數字萬用表實測發光電壓﹐紀錄在發光過程中LED燈所承受之電流﹐觀察LED燈在電流的變換中其發光強度的變化。

結果﹕由上可見﹐隨電流的增加﹐LED燈發光變強﹐發光顏色有偏向橙色﹐膠體發燙﹐在電流值升至100 mA時﹐發光不再增強﹐逐漸變弱。

在電流達到高峰值而逐漸下降時﹐LED燈已被擊穿。

四﹑結論﹕從以上結果可以看出﹐正常及高溫制程LED燈﹐在耐壓﹑耐熱﹑振動等試驗中沒有出現因結構變更而使電氣不良的現象﹐較我司正常使用之LED燈性能相比要好(件為華鼎LED燈實驗數據)。

故此LED燈可用于我司產品作業中。

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4 测试条件: 1 输入电压100V/200V 2 电源装入环形灯管内 3 高低温试验箱测试温度为40℃ 4 测试结果(烤箱测试温度40℃) 100V AC 测试位置 1 2 3 4 5 桥堆 DB1 电解电容C1 电解电容C2 芯片U1 功率电感 0分钟 40 40 40 40 40 40 40 40 40 30分钟 55 53 53 67 51 54 53 65 48 60分钟 60 58 58 72 56 59 58 70 53 125V AC 120分钟 200分钟 67.7 66.2 66 78.3 62.2 69.6 66.8 77.6 59.8 66.8 65 65 77.6 61.4 68.1 65.4 76.8 58.6 200V AC 220分钟 62 61.9 62.5 67.5 55 61 60.2 73.1 55
温升测试报告
产品名称:2.4G遥控吊LED灯 12W 规格型号:Φ225*30mm 测试分类:可靠性测试 测试目的: 让 产品在复杂恶劣的环境下也能正常工作。 测试环境: 环境温度/湿度:26℃ 测试设备: 设备名称 1 温度测试仪 2 变频电源 3 高低温试验箱 规格型号 TES 1310 TYPEK RK5000 GC-500 测试时间:2018-03-16 测试人:胡宗华 委托人:日本客户
6 变压器T1 7 稳压器 U2 8 LED灯珠中心 9 压敏电阻 10 11
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