牙科医疗-Uceph正畸头影测量软件牙医测量软件标准版
诊断是口腔正畸的精髓，头影测量是正畸诊断的重要手段，是指导我们制定矫治方案、评估矫治效果、交流矫治体会的利剑。
遗憾的是，国内外多款头影测量软件，虽性能各有千秋，但总难及期许！有的售价昂贵操作复杂，令人望而却步；有的图形粗糙功能单一，难登大雅；有的过度简化不符专业，让人费解无语……
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久而久之，头影测量渐渐变成了“神一般的存在”——大家想用，但用不好且不敢信。正畸医生的“临床利器”变成了只可远观的“花瓶”摆设，或完全被束之高阁！
面对以上困惑和国内外现状，华西王军教授率领团队，经历了两年多日夜，246个版本版本的更迭，着眼于临床诊断、治疗和展示需求，博众家之长，补多家之短，2018年2月5日，这款U秀的为U定制的头影测量软件----Uceph，闪亮登场！
X线头影测量分析
目录 ?1拼音 ?2 X线头影测量的主要应用 ?3头颅定位X线照像和头影图的描绘 o 3.1头颅定位X线照像 o 3.2头影图的描绘 ?4常用X线头影测量的标志点及平面 o 4.1头影测量标志点 o 4.2头影测量平面 ?5常用硬组织测量项目 o 5.1上下颌骨的常用测量项目。 o 5.2上下前牙的常用测量项目 o 5.3面部高度的常用测量项目 ?6电子计算机化的X线头影测量 o 6.1电子计算机化的X线头影测量特点 o 6.2电子计算机化X线头影测量系统的组成及工作过程 o 6.3数学模型的建立 [返回]1拼音 X xiàn tóu yǐng cè liàng fèn xī X线头影测量（Cephalometrics），主要是测量X线头颅定位照像所得的影像，对牙颌、颅面各标志点描绘出一定的线角进行测量分析，从而了解牙颌、颅面软硬组织的结构，使对牙颌、颅面的检查、诊断由表面形态深入到内部的骨骼结构中去。几十年来X线头影测量一直成为口腔正畸及口腔外科等学科的临床诊断、治疗设计及研究工作的重要手段。 在我国，X线头影测量于60年代初开始在口腔正畸的科研及临床工作中应用。70年代末，电子计算机X线头影测量亦开始应用于我国口腔正畸临床及科研工作上。[返回]2 X线头影测量的主要应用 1研究颅面生长发育：X线头影测量是研究颅面生长发育的重要手段，一方面可通过对各年龄阶段个体作X线头影测量分析，从横向研究颅面生长发育，同时也可用于对个体不同时期的测量分析，而作颅面生长发育的纵向研究。由于X线头颅照像是
严格定位的，因而系列的X线头颅片具有可靠的可比性。Brodie1941年以X线头影测量，对出生后3个月至8岁的儿童的颅面生长发育作了纵向研究，所得出的头影生长图迹重叠图，至今仍广为应用。Enlow提出并为大家所推崇的颅面生长发育新理论，也是以X线头影测量作为研究手段。林景榕在60年代中亦以X线头影测量对我国儿童的颅面生长发育作了横向研究。林久祥、张兴中等在90年代中纵向研究分析了我国儿童的颅面生长发育。通过颅面生长发育的X线头影测量研究，明确了颅面生长发育机制，快速生长期的年龄、性别间差异，以及颅面生长发育的预测。 2牙颌、颅面畸形的诊断分析：通过X线头影测量对颅面畸形的个体进行测量分析，可了解畸形的机制、主要性质及部位，是骨骼性畸形抑或牙合性畸形，使对畸形能作出正确的诊断，而这种诊断的依据，来源于明确了颅面软硬组织各部分间的相互关系。而对于牙颌、颅面畸形的诊断分析基础，又首先必须通过X头影测量对正常合人颅面结构进行分析，得出正常合人各项测量的参考标准，并应用到对畸形的诊断分析中去。 3确定错合畸形的矫治设计：从X线头影测量分析研究中得出正常合关系可存在于各种不同的颅面骨骼结构关系中，而一些牙齿的位置能在一定的颌面结构下得到稳定，因而当通过测量分析牙颌、颅面结构后，根据错合的机制，可确定颌位及牙齿矫治的理想位置，从而制定出正确可行的矫治方案。 4研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化：X线头影测量亦常用作评定矫治过程中，牙颌、颅面形态结构发生的变化，从而了解矫正器的作用机制和矫治后的稳定及复发情况。如关于口外支抗唇弓矫正器及下颌颏兜矫正器等对牙颌、颅面结构的作用及变化，都是在使用X线头影测量以后才得以明确和澄清的。 5外科正畸的诊断和矫治设计：通过X线头影测量对需进行外科正畸的严重颅面畸形患者进行颅面软硬组织的分析，得出畸形的主要机制，以确定手术的部位、方法及所需移动或切除颌骨的数量，同时应用X线头影图迹进行剪裁，模拟拼对手术后牙颌位置，得出术后牙颌、颅面关系的面型图，为外科正畸提供了充分的根据，从而提高了其诊断及矫治水平。 6下颌功能分析：X线头影测量还可以用来研究下颌运动，语言发音时的腭功能以及息止合间隙等方面的功能分析。也有用于下颌由息止位至咬合时髁突、颌位等位置运动轨迹的功能研究。 [返回]3头颅定位X线照像和头影图的描绘 3.1头颅定位X线照像 (1)头颅定位仪： 用作头影测量的X线头颅像，必须要在头颅定位仪(cephalometer)的严格定位下拍摄。因为只有完全排除了因头位不正而造成的误差后，各测量结果才有分析比较的价
实用：正畸常用X线头影测量标志点及平面
实用：正畸常用Ｘ线头影测量标志点及平面 ?????1头影测量标志点：标志点是用来构成一些平面及测量内容的点。理想的标志点应该是易于定位的解剖标志，在生长发育过程中应相对稳定。但并不是常用的标志点均能符合这一要求，不少标志点的确定是由各学者提出的不同测量方法而定，而标志点的可靠性还取决于头颅X线片的质量以及描图者的经验。头影测量标志点可分为两类：一类是解剖的，这一类标志点是真正代表颅骨的一些解剖结构；另一类是引伸的，这一类标志点是通过头影图上解剖标志点的引伸而得，如两个测量平面相交的一个标志点。(1)颅部标志点蝶鞍点(S.sella)：蝶鞍影像的中心。这是常用的一个颅部标志点，在头颅侧位片上较容易确定。鼻根点(N.nasion)：鼻额缝的最前点。这是前颅部的标志点，代表面部与颅部的结合处。有些X线片上，此点显示不太清楚，是因为其形态不规则骨缝形成角度之故。耳点(P.porion)：外耳道之最上点。头影测量上常以定位仪耳塞影像之最上点为代表，称为机械耳点。但也有少数学者使用外耳道影像之最上点来代表，则为解剖耳点。颅底点(Ba.basion)：枕骨大孔前缘之中点。一般此点较易确定，常作为后颅底的标志。Bolton点：枕骨髁突后切迹的最凹点。(2)上颌标志点眶点(O.orbitale:)眶下缘之最低点。当病人两侧对称及在完好的定位下，左右眶点才
于同一水平，但实际上难以达到。一般X线片上可显示左右两个眶点的影像故常选用两点之间的点作为眶点，这样可减小其误差。翼上颌裂点(Ptm.pterygomaxillary fissure)：翼上颌裂轮廓之最下点。翼上颌裂之前界为上颌窦后壁，后界为蝶骨翼突板之前缘，此标志点提供了确定了上颌骨的后界和磨牙的近远中向间隙及位置的标志。前鼻棘(ANS.anterior nasal spine)：前鼻棘之尖。前鼻棘点常作为确定腭平面的两标志点之一，但此标志点的清晰与否与X线片的投照条件有关。一般不作近远中长度测量所用。后鼻棘(PNS.posterior nasal spine)：硬腭后部骨棘之尖。上齿槽座点 (A.subspinale)：前鼻棘与上齿槽缘点间之骨部最凹点。此点仅作为前后向测量所用。上齿槽缘点(SPr.superior prosthion)：上齿槽突之最前下点。此点常在上中切牙之牙釉质-牙骨质界处。上中切牙点(UI.upper incisor)：上中切牙切缘之最前点。一般上中切牙的测量有两种方法，一种是以此点与根尖相连作为中上切牙牙长轴来作为角度测量的一个平面，另一种是测量此点与其他结构间的距离。(3)下颌标志点髁顶点(Co.condylion)：髁突的最上点。关节点(Ar.articulare)：颅底下缘与下颌髁突颈后缘之交点。关节点常在髁顶点不易确定时而代替髁顶点。下颌角点 (Go.gonion)：下颌角的后下点。可通过下颌支平面和下颌平面交角之分角线与下颌角之相交点来确定下齿槽座点