千分尺自校指导书
千分尺校验作业指导书
千分尺校验作业指导书引言概述：千分尺是一种常用的测量工具，广泛应用于各个行业中。
为了确保测量结果的准确性，正确的使用和校验千分尺是非常重要的。
本文将为大家提供一份千分尺校验作业指导书，以匡助大家正确进行千分尺的校验工作。
一、校验前的准备工作1.1 清洁千分尺在进行校验之前，首先需要确保千分尺的表面和刻度清洁无尘。
使用干净的布或者纸巾轻轻擦拭千分尺的表面，移除表面的灰尘和污垢。
同时，确保刻度线清晰可见，以便准确读取测量结果。
1.2 校准基准尺千分尺的校准需要依赖于一个准确的基准尺。
在进行校验之前，需要先校准基准尺，确保其准确度。
可以使用专业的校准工具，如光学投影仪或者激光测量仪，对基准尺进行校准。
校准时应遵循操作手册中的指示，并确保校准结果的准确性。
1.3 确定校验环境校验千分尺需要在一个稳定的环境中进行，以避免外界因素对测量结果的影响。
选择一个干燥、无风的环境，并确保温度和湿度的稳定。
同时，避免在有振动或者噪音的环境中进行校验，以免影响测量的准确性。
二、千分尺校验步骤2.1 校验零点将千分尺的两个测量脚彻底关闭，确保它们密切贴合。
使用基准尺的零点对千分尺进行校准。
将基准尺的零点与千分尺的刻度线对齐，确保两者彻底重合。
如果存在偏差，可以使用千分尺上的调零螺钉进行微调，直到两者彻底对齐。
2.2 校验刻度线将千分尺的测量脚张开到所需的测量范围，如10毫米。
使用基准尺的刻度线进行校准。
将基准尺的刻度线与千分尺的刻度线对齐，确保两者彻底重合。
如果存在偏差，可以使用千分尺上的调节螺钉进行微调，直到两者彻底对齐。
2.3 校验测量范围将千分尺的测量脚张开到最大范围，如150毫米。
使用基准尺的测量范围进行校准。
将基准尺的测量范围与千分尺的刻度线对齐，确保两者彻底重合。
如果存在偏差，可以使用千分尺上的调节螺钉进行微调，直到两者彻底对齐。
三、校验结果的记录和分析3.1 记录校验数据在进行校验过程中，需要记录每一个校验点的数据。
千分尺校验作业指导书
千分尺校验作业指导书一、背景介绍千分尺是一种常用的测量工具，用于精确测量小尺寸物体的长度、宽度、高度等尺寸。
为了确保测量结果的准确性和可靠性，需要进行千分尺的校验作业。
本指导书将详细介绍千分尺校验的步骤和要求，以确保校验过程的标准化和规范化。
二、校验仪器和设备1. 校验千分尺：使用精确度高、稳定性好的校验千分尺，确保校验结果的准确性。
2. 校验块：使用精确度高、稳定性好的校验块，用于校验千分尺的测量误差。
三、校验步骤1. 准备工作a. 清洁千分尺：使用干净的软布或纸巾擦拭千分尺的测量面和刻度线，确保表面干净无尘。
b. 准备校验块：选择适当的校验块，校验块的尺寸应覆盖千分尺的测量范围。
2. 校验零点a. 将千分尺的测量面与校验块的平面接触，调整千分尺的刻度线，使其与校验块的尺寸相等。
b. 确保千分尺的刻度线与校验块的尺寸完全吻合，即千分尺的零点校验完成。
3. 校验刻度线a. 使用校验块的不同尺寸，分别对千分尺的刻度线进行校验。
b. 将校验块的尺寸与千分尺的刻度线对应，记录下测量结果。
c. 重复以上步骤，校验千分尺的各个刻度线，确保其准确性和一致性。
4. 校验误差计算a. 将校验块的尺寸与千分尺测量结果进行比较，计算出测量误差。
b. 根据测量误差的大小，判断千分尺的准确性和可靠性。
c. 若测量误差超出规定范围，需要进行调整或更换千分尺。
四、校验要求1. 校验环境：校验千分尺的环境应保持干燥、无尘、无振动，确保校验过程不受外界干扰。
2. 操作人员：校验千分尺的操作人员应具备一定的测量经验和技能，能够熟练操作校验仪器和设备。
3. 校验周期：千分尺的校验应定期进行，根据使用频率和重要性确定校验周期，通常为每半年或每年一次。
4. 校验记录：每次校验都应记录校验日期、校验结果、测量误差等信息，以便追溯和分析。
五、安全注意事项1. 校验千分尺时，应注意操作规范，避免碰撞、摔落或损坏千分尺。
2. 使用校验块时，应注意保持其表面的清洁和完整性，避免影响校验结果。
千分尺校验作业指导书
千分尺校验作业指导书标题：千分尺校验作业指导书引言概述：千分尺是一种常用的精密测量工具，准确的校验是保证其精度和可靠性的关键。
本文将详细介绍千分尺校验的作业指导书，帮助读者正确进行千分尺的校验工作。
一、准备工作1.1 确认校验设备：首先要确保准备好适用于千分尺校验的标准设备，如外径千分尺校验仪、平行度检测仪等。
1.2 检查千分尺状态：在进行校验前，需要检查千分尺的外观是否完好，刻度是否清晰，零位是否准确。
1.3 确定校验环境：选择一个安静、干净、无振动的环境进行校验，以确保准确度和稳定性。
二、零位校验2.1 调零操作：将千分尺放置在平稳的水平面上，轻轻旋转刻度盘至零位，确保指针指向零刻度。
2.2 检查零位误差：使用标准设备进行零位校验，记录零位误差值，如果误差超出规定范围，需进行调整。
2.3 调整零位：根据零位误差值，通过调整千分尺的零位调节螺钉，使其指针准确指向零刻度。
三、量程校验3.1 确定量程范围：根据千分尺的量程规格，选择适当的标准设备进行量程校验。
3.2 逐步校验：依次将千分尺移动至不同位置，使用标准设备进行校验，记录各位置的读数。
3.3 检查误差：比对校验结果与标准值，计算各位置的误差值，确保在规定范围内。
四、平行度校验4.1 定位千分尺：将千分尺固定在校验仪上，确保其平行度正确。
4.2 进行校验：使用平行度检测仪进行校验，记录平行度误差值。
4.3 调整平行度：根据平行度误差值，通过调整千分尺的固定方式或位置，使其平行度达到要求。
五、记录和报告5.1 记录数据：将各项校验结果准确记录在校验记录表中，包括零位误差、量程误差、平行度误差等。
5.2 制作报告：根据记录的数据，制作详细的校验报告，包括校验日期、校验人员、校验结果等内容。
5.3 存档备查：将校验记录和报告进行存档，以备日后查阅和追溯。
总结：千分尺校验是保证其准确性和可靠性的重要工作，正确的校验作业指导书能够帮助操作人员规范操作、提高工作效率，确保千分尺的准确度和稳定性。
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本文部分内容来自网络整理，本司不为其真实性负责，如有异议或侵权请及时联系，本司将立即删除！== 本文为word格式，下载后可方便编辑和修改！ ==千分尺校准指导书篇一：千分尺内部校准作业指导书千分尺内部校准作业指导书1.0 目的：确保千分尺校准严格按规定操作、保证校准的准确性。
2.0 适用范围：适用于公司普通千分尺内部的校准。
3.0 定义：量块：指专为千分尺校准设置的标准长度量块。
4.0 测试条件：温度20度左右，湿度小于80%.5.0内部校准测试步骤：5.1校准前将千分尺清洁干净，准备好校准工具。
5.2确认尺架、测微装置、测微螺杆、固定套筒、微分筒、等是否完好，检查方法：目测。
5.3. 校准项目：。
5.3.1 外观校准方法：目测5.3.1.1 要求没有碰伤、锈蚀、带磁性、或者其他缺陷；5.3.1.2 必须具有调整零位的工具；5.3.1.2 标有分度值、测量范围、制造厂名及出厂编号；5.3.2 各部分相互作用校准方法：实验和目测5.3.2.1 微分筒的转动和测微螺杆的移动无卡死现象；5.3.2.2 锁紧装置有效；5.3.3 测微螺杆的径向，轴向窜动检查方法：固定千分尺后用杠杆千分尺测量；要求窜动量不大于0.01。
5.3.4 测砧和测微螺杆的相对偏移量校准方法：校正测微螺杆同平板水平后，用杠杆千分尺测量；偏移量不大于0.1。
5.3.4 工作面的表面粗糙度校准方法：表面粗糙度标准样块比对。
5.3.4 示值误差的校准方法：采用标准量块均匀测量千分尺5.12、10.25、15.37、20.5 、25等5点，测量5次，测量值相对零点不超过正负0.004mm。
5.3.4量杆的校准方法：采用标准量块比对测量，误差不允许超过正负0.004mm。
5.4 校准合格贴上合格标签或者暂停使用标签，并填写《卡尺检定记录表》，合格标签上面必须填写校准修正值。
5.5 注意事项：5.5.1 拿取时轻拿轻放。
5.5.2 校准完成，需在千分尺移动滑动部位涂上防锈油，放置时测砧和测微螺杆必须留有间隙。
千分尺校验作业指导书
千分尺校验作业指导书引言概述：千分尺是一种常用的测量工具，用于测量小尺寸物体的精确度。
千分尺校验作业指导书是为了确保千分尺的准确性和可靠性而编写的指导手册。
本文将详细介绍千分尺校验的步骤和注意事项，以及如何进行千分尺的维护和保养。
正文内容：1. 千分尺校验步骤1.1 准备工作- 确保千分尺表面干净，没有灰尘或者污垢。
- 确保千分尺的测量面没有划痕或者损坏。
- 确保千分尺的刻度清晰可读。
1.2 校验零点- 将千分尺放置在水平平面上。
- 轻轻挪移千分尺滑块，使其接触到测量物体或者参考物体。
- 确保千分尺的刻度与物体或者参考物体的接触点对齐。
- 确保千分尺的刻度指针指向零刻度线。
1.3 校验刻度准确性- 使用标准校准物体，如校准块或者校准环。
- 将校准物体放置在千分尺的测量面上。
- 挪移千分尺滑块，使其接触到校准物体。
- 检查千分尺的刻度与校准物体的刻度是否一致。
1.4 校验滑块挪移性- 轻轻挪移千分尺滑块，观察其是否平稳挪移，没有卡顿或者磨擦。
- 检查滑块挪移的力度是否均匀，没有明显的阻力或者松弛。
1.5 校验固定性- 确保千分尺的固定螺丝是否紧固。
- 检查千分尺的刻度是否固定，没有松动或者晃动。
2. 千分尺校验注意事项2.1 温度和湿度- 在进行千分尺校验之前，确保环境温度和湿度稳定。
- 高温和高湿度可能会影响千分尺的精确度。
2.2 使用正确的校准物体- 校准物体应与千分尺的测量范围相匹配。
- 使用过大或者过小的校准物体味导致校验结果不许确。
2.3 避免外部干扰- 在进行千分尺校验时，避免外部干扰，如强光、电磁场等。
- 外部干扰可能会干扰千分尺的测量结果。
3. 千分尺的维护和保养3.1 定期清洁- 使用干净的软布或者棉签清洁千分尺的表面。
- 避免使用化学溶剂或者腐蚀性清洁剂，以免损坏千分尺的表面。
3.2 定期润滑- 使用适量的润滑油或者脂油涂抹千分尺的滑动部件。
- 避免过量润滑，以免油脂进入测量面影响测量结果。
千分尺校验作业指导书
千分尺校验作业指导书标题：千分尺校验作业指导书引言概述：千分尺是一种精密测量工具，用于测量小于毫米级别的尺寸。
为了确保千分尺的准确性和可靠性，在使用过程中需要进行定期的校验。
本文将详细介绍千分尺校验的作业指导书，以帮助使用者正确进行校验操作。
一、校验前准备1.1 清洁千分尺表面：在校验之前，务必确保千分尺表面干净，无尘、油污等杂物。
1.2 检查千分尺零位：将千分尺刻度盘调至零位，确保刻度盘指针指向零刻度。
1.3 准备校验工具：准备好标准尺、外径千分尺和内径千分尺等校验工具。
二、零点校验2.1 外径零点校验：使用外径千分尺测量标准尺的外径，并将千分尺刻度调至与标准尺一致。
2.2 内径零点校验：使用内径千分尺测量标准尺的内径，并将千分尺刻度调至与标准尺一致。
2.3 零点误差修正：如发现零点误差，可通过调整千分尺的零位来修正，确保准确度。
三、线性误差校验3.1 选取不同测量范围：选择不同的测量范围，如0-25mm、25-50mm等，进行线性误差校验。
3.2 多点校验：在选定的测量范围内，选取多个点进行测量，确保千分尺的线性误差在可接受范围内。
3.3 记录误差值：将每个测量点的误差数值记录下来，以便后续分析和修正。
四、重复性校验4.1 连续测量：在同一测量范围内进行多次测量，检查千分尺的重复性。
4.2 分析数据：对多次测量结果进行数据分析，计算重复性误差。
4.3 判断准确度：根据重复性误差判断千分尺的准确度，如有必要可进行调整或修正。
五、校验后处理5.1 记录校验结果：将所有校验结果记录在校验报告中，包括零点误差、线性误差、重复性误差等。
5.2 校验结论：根据校验结果判断千分尺的准确性和可靠性，如有问题可及时处理。
5.3 定期校验：建立定期校验制度，确保千分尺的长期稳定性和准确性。
结语：通过本文的指导书，希望读者能够正确、规范地进行千分尺的校验操作，确保测量结果的准确性和可靠性。
千分尺是精密测量工具，只有经过正确的校验和维护，才能发挥其最大的作用。
千分尺校验作业指导书
千分尺校验作业指导书引言概述：千分尺校验作业是一项常见的测量工作，广泛应用于工程和创造领域。
本文将详细介绍千分尺校验作业的步骤和注意事项，以匡助读者正确进行千分尺校验。
一、准备工作1.1 选择合适的千分尺：根据测量对象的尺寸范围和精度要求，选择合适的千分尺。
常见的千分尺有机械式和数字式两种，根据需要选择使用。
1.2 清洁千分尺：在进行校验之前，务势必千分尺清洁干净。
使用干净的布或者纸巾擦拭千分尺的刻度线和测量面，确保无尘和污垢。
1.3 校准设备准备：准备一个已经校准过的标准千分尺，并确保其精度符合要求。
此外，还需准备一个平整的工作台和其他必要的辅助工具，如千分尺夹具等。
二、校验步骤2.1 定位千分尺：将千分尺放置在平整的工作台上，并使用夹具将其固定，以确保测量的稳定性和准确性。
2.2 零位校准：将千分尺的刻度线调整至零位。
如果是机械式千分尺，使用调零螺钉进行微调；如果是数字式千分尺，按照说明书进行零位校准。
2.3 测量校验：使用标准千分尺分别测量待校验尺寸的起始点、中间点和结束点。
确保千分尺与被测尺寸接触良好，避免晃动或者侧倾。
记录测量结果并进行比对。
三、注意事项3.1 温度校正：千分尺的测量精度受环境温度影响较大，因此在校验前应进行温度校正。
根据千分尺的说明书，将温度调整至标准范围内。
3.2 避免磁场干扰：千分尺是一种精密仪器，容易受到磁场的干扰。
在校验过程中，应避免磁性物品的挨近，以免影响测量结果。
3.3 校验频率：千分尺的精度会随时间和使用频率的增加而下降，因此建议定期进行校验。
校验频率应根据使用情况和精度要求来确定，普通为每一个工作周期结束后或者每隔一段时间进行一次校验。
四、结果评估4.1 判定标准：根据测量要求和千分尺的精度等级，确定合理的误差范围。
普通来说，误差在千分尺量程的1/3以内是可接受的。
4.2 记录测量结果：将校验过程中的测量结果记录下来，包括被测尺寸和千分尺示值。
可以使用表格或者记录表格来方便后续分析和比对。
千分尺校验作业指导书
千分尺校验作业指导书一、背景介绍千分尺是一种常用的测量工具，用于精确测量小尺寸物体的长度、宽度和高度。
为了确保千分尺的测量结果准确可靠，需要进行定期的校验作业。
本指导书旨在提供详细的步骤和要求，以确保千分尺校验作业的正确执行。
二、校验工具和设备1. 校验块：校验块是用于校验千分尺的标准工具，通常由金属或石英制成，具有已知的精确尺寸。
校验块的尺寸应符合国家或行业标准。
2. 清洁布：用于清洁千分尺和校验块的表面，确保无尘、无油污。
3. 记录表格：用于记录校验结果和其他相关信息。
三、校验步骤1. 准备工作a. 确保校验区域的环境整洁，避免灰尘和杂物的干扰。
b. 检查千分尺的外观，确保其无损坏或松动的部分。
c. 准备校验块，并检查其表面是否光滑、无划痕。
2. 清洁校验工具a. 使用清洁布轻轻擦拭千分尺的刻度线和测量面，确保无灰尘和污垢。
b. 使用清洁布擦拭校验块的表面，确保无灰尘和指纹。
3. 校验千分尺a. 将校验块放置在千分尺的测量面上，确保其与刻度线平行。
b. 轻轻滑动千分尺的测量滑块，使其与校验块接触，但不要施加过大的压力。
c. 读取千分尺上的测量结果，并记录在记录表格中。
d. 重复以上步骤，至少使用三个不同尺寸的校验块进行校验。
4. 校验结果分析a. 将千分尺测量结果与校验块的已知尺寸进行比较。
b. 计算千分尺的误差，即测量结果与已知尺寸之间的差值。
c. 根据国家或行业标准，判断千分尺是否符合要求。
d. 如果千分尺的误差超出允许范围，需要进行调整或修理。
5. 记录和报告a. 将校验结果记录在指定的记录表格中，包括千分尺的型号、校验日期、校验人员等信息。
b. 如果千分尺不符合要求，应及时报告相关部门或负责人，并采取相应的措施。
四、注意事项1. 在校验过程中，应避免用手直接触摸千分尺的测量面和校验块的表面，以防止污染和损坏。
2. 校验块应定期进行清洁和校验，以确保其精确度和可靠性。
3. 在校验过程中，应注意校验块和千分尺的温度，避免温度差异对测量结果产生影响。
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外径千分尺自校指导书
1 目的
为保证本公司使用的千分尺的测量准确度，实现量值统一与溯源，规范千分尺的校准程序，特制定本作业指导书。
2 适用范围
本指导书适用于本公司的测砧为固定式的普通千分尺。
3 计量标准
标准量块。
4 校准条件
温度: 22±5℃，恒温2小时。
5 校准周期
十个月
6 校准过程及方法（参照国标JJG21-2008)
6.1 准备
校准前,先清洁量具,千分尺、量块恒温2小时。
6.2 外观与各部分相互作用
6.2.1 千分尺不得有碰伤，锈蚀，带磁或其他缺陷，标尺刻线应清晰，均匀，完整。
6.2.2 千分尺上的标识完整：分度值，测量范围，制造商，全长，型号及序列号等。
6.2.3千分尺调整时应顺畅，平稳，无卡滞现象，调零与锁紧装置的作用切实有效。
6.3 测微螺杆的轴向窜动和径向摆动
6.3.1 要求
测微螺杆的轴向窜动和径向摆动均不大于0.01mm.
6.3.2 自校方法
测微螺杆的轴向窜动，用杠杆千分表检定。
检定时，使杠杆千分表与测微螺杆侧量面接触，沿测微螺杆轴向方向分别往返加力3 -5 N，如图1所示。
杠杆千分表示值的变化，即为轴向串动量。
测微螺杆的径向摆动亦用杠杆千分表检定。
检定时，将测微螺杆伸出尺架1 0mm后，使杠杆千分表接触测微螺杆端部，再沿杠杆千分表测量方向加力2 ~3N,然后以相反方向加力2~3N。
这一检定应在相互垂直的两个径向方向检定。
如图2所示，杠杆千分表示值的变化，即为径向摆动量。
图1 图2
6.4 测砧与测微螺杆工作面相对偏移
6.4.1 要求
不超过下表要求
6.4.2 自校方法
在平板上用杠杆百分表检定。
对于测量范围大于300mm的千分尺用百分表检定。
检定时，借助千斤顶将千分尺放置在平板上，如图3所示，调整千斤顶使千分尺的测微螺杆与平板工作面平行，然后用百分表测出测砧与测微螺杆在这一方位上的偏移量x，然后将尺架侧转90°，按上述方法测出测砧与测微螺杆在另一方位上的偏移量y。
测砧与测微螺杆工作面的相对偏移量△按下式求得：
△=（x2+y2）1/2
此项检定也可用其它专用检具检定。
图3
6.5 测力
6.5.1要求
千分尺的侧力(系指工作面与球面接触时所作用的力)应在6 -1 0N范围内。
6.5.2 检定方法
用分度值不大于0.2N的专用测力计检定。
检定时，使工作面与测力计的球工作面接触后进行。
6.6 刻线宽度及宽度差
6.6.1要求
固定套管纵刻线和微分筒上的刻线宽度为0.15~0.20mm，刻线宽度差应不大于0.03mm。
刻线盘的刻线宽度为0.20~0.30mm，刻线宽度差应不大于0.05mm。
6.6.2自校方法
在工具显微镜上检定。
微分筒或刻线盘上的刻线宽度至少任意抽检3条刻线。
6.7 指针与刻度盘相对位置
6.7.1 要求
板厚千分尺刻度盘上的指针末端应盖住刻线盘短刻线长度的3 0 %~8 0%，指针末端上表面至刻度盘表面的距离应不大于0.7 mm。
指针末端与刻度盘刻线的宽度应一致，差值应不大于0.05mm.
6.7.2 自校方法
指针末端与刻度盘短刻线的相对位置可用目力估计。
指针末端上表面至刻度盘表面的距离应用塞尺进行检定。
上述检定应在刻度盘上均匀分布的3个位置上进行。
指针末端与刻度盘的刻线的宽度差在工具显微镜上检定。
6.8 微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离
6.8.1 要求
微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离应不大于0.4mm,
6.8.2自校方法
在工具显微镜上检定。
也可用0.4mm的塞尺置于固定套管刻线表面上用比较法检定。
检定时在微分筒转动一周内不少于3个位置上进行。
6.9 微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置
6.9.1 要求
当测量下限调整正确后，微分筒上的零刻线与固定套管纵刻线对准时，微分筒的端面与固定套管毫米刻线右边缘应相切，若不相切，压线不大于0.05mm，离线不大于0.1mm。
6.9.2自校方法
当测量下限调整正确后，使微分筒锥面的端面与固定套管任意毫米刻线的右边缘相切时，读取微分筒的零刻线与固定套管纵刻线的偏移量。
6.10 工作面的表面粗糙度
6.10.1 要求
外径千分尺和校对量杆的工作面的表面粗糙度Ra应不大于0.05μm。
壁厚、板厚千分尺工作面的表面粗糙度Ra应不大于0.10μm,
6.10.2自校方法
用表面粗糙度比较样块用比较法检定。
6.11 工作面的平面度
6.11.1 要求
零级外径千分尺工作面的平面度不大于0.6μm,1级外径千分尺工作面的平面度不大于1μm。
壁厚千分尺测微螺杆工作面的平面度应不大于1.2μm，板厚千分尺工作面的平面度应不大于1μm。
6.11.2自校方法
用二级平晶用技术光波干涉法检定。
对于使用中的可用1级刀口尺用光隙法检定。
工作面直径为6.5mm的，距离边缘0.2mm范围内不计。
对于8mm的，距离边缘0.5mm范围内不计。
6.12 两工作面的平行度
6.12.1要求
当外径千分尺锁紧装置紧固与松开时千分尺两工作面的平行度应不大于下表规定。
6.12.2自校方法
量杆的尺寸及工作面的平行度在光学计或测长机上采用4等量块用比较法进行检定。
对于平工作面的量杆应采用球面测帽在图4所示的5点上进行检定。
各点尺寸偏差均不应超过表2中的规定。
5点中的最大值与最小值之差即为量杆两工作面的平行度。
图4
6.13 示值误差
6.13.1 要求
（mm）示值误差检测，示值误差不应超过±0.008mm，以5等量块比较检定，下表为一般推荐检测点：
6.13.2自校方法
千分尺示值误差用5等专用量块进行检定。
各千分尺的受检点应均布于测量范围的5点上，如表3所示。
得出千分尺于相应量块尺寸的差值。
7、结论
校准结果在合格范围内,千分尺为合格,贴上合格标贴并填写校准报告,否则为不合格,不合格根据其实际情况做出维修和报废处理,维修后须再做校准。