实验三 光敏三极管特性实验

实验三  光敏三极管特性实验
实验三  光敏三极管特性实验

实验三:光敏三极管特性实验

一、实验目的:.

1、熟悉光敏三极管的结构和作用原理;

2、了解光敏三极管的特性,当工作偏压一定时,光敏三极管输出光电流与入射光的照度(或通量)的关系。

二、实验原理:

光敏三极管是在光电二极管的基础上发展起来的,它和普通的晶体三极管相似——具有电流放大作用,只是它的集电极电流不只是受基极电路的电流控制,还受光的控制。所以光敏三极管的外形有光窗。有三根引线的也有二根引线的,管型分为PNP型和NPN型两种光敏三极管,NPN型称3DU型光敏三极管,PNP 型称3CU型光敏三极管。

现以3DU型为例说明硅光敏三极管的结构和作用原理,如图3-1所示。以N 型硅片作为衬底,扩散硼而形成P型,再扩散磷而形成重掺杂N+层,并涂以SiO2作为保护层。在重掺杂的N+侧开窗,引出一个电极并称作“集电极c”,由中间的P型层引出一个基极b,也可以不引出来(由于硅光敏三极管信号是以光注入,所以一般不需要基极引线),而在N型硅片的衬底上引出一个发射e,这就构成一个光敏三极管。

图3-1 3DU型光敏三极管结构原理图及符号

硅光敏三极管的工作原理:工作时各电极所加的电压与普通晶体管相同,即

需要保证集电极反向偏置,发射极正偏置,由于集电极是反偏置,在结区内有很强的内建电场,对3DU型硅三极管来说,内建电场的方向是由c到b,与硅光电二极管工作原理相同,如果有光照到基极--集电极上,能量大于禁带宽度的光子在结区内激发出光生载流子-电子空穴对,这些载流子在内建电场的作用下,电子流向集电极,空穴流向基极,相当于外界向基极注入一个控制电流I b=I p(发射极是正向偏置和普通晶体管一样有放大作用)。当基极没有引线,此时集电极电流:

I c=β I b=β I p=S E·E·β

式中β为晶体管的电流增益系数;E为入射照度;S E为光电灵敏度。由此可见,光敏三极管的光电转换部分是集-基结区内进行,而集电极、基极、发射极又构成了一个有放大作用的晶体管。

三、实验仪器及部件:

光敏三极管、直流稳压电源、采样电阻、跟随器、照度测量器件、照度表、光源、微安表、F/V表。

四、实验步骤:

1、了解所需单元、部件在实验仪上的位置、观察光敏三极管的结构。

2、测量光敏三极管的暗电流:

按图3-2接线,+VCC选择在+10v,

负载电阻至最小,装上光源,对准光敏

三极管,关闭发光管电源,移出遮光罩,

光敏三极管完全被遮盖,微安表显示的

电流值即为暗电流,或测得负载电阻上

的压降V暗,则暗电流I暗=V暗/R L。

注意:光敏三极管的暗电流很小可

能不易测到。

3、测量光敏三极管光电特性:

光敏三极管的光电特性是指当工

作偏压一定时,光敏管输出光电流与入

射照度(或通量)的关系。

图3-3 光电特性测量接线图

按图3-3接线,+VCC选择在+10v,负载电阻调制最小(最小为2K,事先也可用万用表测得),打开光源改变照度(方法同实验一),并记录F/V表的读书填入下表:

表3-1 固定偏压时光照度与光电流关系表

做出照度—电流曲线。

4、测量光敏三极管伏安特性:

当入射光的照度(或通量)一定时,光敏管输出的光电流与偏压的关系称为伏-安特性。接线如图3-3所示,调节光强1000Lx不变,采样电阻至最小。改变+Vcc的电压,记录F/V表的电压值,计算后填入下表并作出V—I曲线。

表3-2 固定光照度时偏压与光电流关系表照度:1000L X

五、思考题:

1、光敏三极管与光敏二极管在工作原理上有何异同?与普通三极管有何差别?

2、根据实验结果,试分析光敏三极管与光敏二极管的伏安特性有何不同之处?

实验四 控制系统频率特性的测试(实验报告)

实验四 控制系统频率特性的测试 一. 实验目的 认识线性定常系统的频率特性,掌握用频率特性法测试被控过程模型的原理和方法,根据开环系统的对数频率特性,确定系统组成环节的参数。 二.实验装置 (1)微型计算机。 (2)自动控制实验教学系统软件。 三.实验原理及方法 (1)基本概念 一个稳定的线性定常系统,在正弦信号的作用下,输出稳态与输入信号关系如下: 幅频特性 相频特性 (2)实验方法 设有两个正弦信号: 若以)(t x ω为横轴,以)(y t ω为纵轴,而以t ω作为参变量,则随t ω的变化,)(t x ω和 )(y t ω所确定的点的轨迹,将在 x--y 平面上描绘出一条封闭的曲线(通常是一个椭圆)。这 就是所谓“李沙育图形”。 由李沙育图形可求出Xm ,Ym ,φ,

四.实验步骤 (1)根据前面的实验步骤点击实验七、控制系统频率特性测试菜单。 (2)首先确定被测对象模型的传递函数, 预先设置好参数T1、T2、ξ、K (3)设置好各项参数后,开始仿真分析,首先做幅频测试,按所得的频率范围由低到高,及ω由小到大慢慢改变,特别是在转折频率处更应该多取几个点 五.数据处理 (一)第一种处理方法: (1)得表格如下: (2)作图如下: (二)第二种方法: 由实验模型即,由实验设置模型根据理论计算结果绘制bode图,绘制Bode图。

(三)误差分析 两图形的大体趋势一直,从而验证了理论的正确性。在拐点处有一定的差距,在某些点处也存在较大的误差。 分析: (1)在读取数据上存在较大的误差,而使得理论结果和实验结果之间存在。 (2)在数值应选取上太合适,而使得所画出的bode图形之间存在较大的差距。 (3)在实验计算相角和幅值方面本来就存在着近似,从而使得误差存在,而使得两个图形之间有差异 六.思考讨论 (1)是否可以用“李沙育”图形同时测量幅频特性和想频特性 答:可以。在实验过程中一个频率可同时记录2Xm,2Ym,2y0。 (2)讨论用“李沙育图形”测量频率特性的精度,即误差分析(说明误差的主要来源)答:用“李沙育图形”测量频率特性的精度从上面的分析处理上也可以看出是比较高的,但是在实验结果和理论的结果之间还是存在一定的差距,这些误差主要来自于从“李沙育图形”上读取数据的时候存在的误差,也可能是计算机精度方面的误差。 (3)对用频率特性测试系统数学模型方法的评测 答:用这种方法进行此次实验能够让我们更好地了解其过程,原理及方法。但本次实验的数据量很大,需要读取较多坐标,教学软件可以更智能一些,增加一些自动读取坐标的功能。 七.实验总结 通过本次实验,我加深了对线性定常系统的频率特性的认识,掌握了用频率特性法测试被控过程模型的原理和方法。使我把书本知识与实际操作联系起来,加深了对课程内容的理解。在处理数据时,需要进行一定量的计算,这要求我们要细心、耐心,作图时要注意不能用普通坐标系,而是半对数坐标系进行作图。

第二章_半导体三极管及其基本电路(附答案)[1].

第二章半导体三极管及其基本电路 一、填空题 1、(2-1,中)当半导体三极管的正向偏置,反向偏置偏置时,三极管具有放大作用,即极电流能控制极电流。 2、(2-1,低)根据三极管的放大电路的输入回路与输出回路公共端的不同,可将三极管放大电路分为,,三种。 3、(2-1,低)三极管的特性曲线主要有曲线和曲线两种。 4、(2-1,中)三极管输入特性曲线指三极管集电极与发射极间所加电压V CE一定时,与之间的关系。 5、(2-1,低)为了使放大电路输出波形不失真,除需设置外,还需输入信号。 6、(2-1,中)为了保证不失真放大,放大电路必须设置静态工作点。对NPN管组成的基本共射放大电路,如果静态工作点太低,将会产生失真,应调R B,使其,则I B,这样可克服失真。 7、(2-1,低)共发射极放大电路电压放大倍数是与的比值。 8、(2-1,低)三极管的电流放大原理是电流的微小变化控制电流的较大变化。 9、(2-1,低)共射组态既有放大作用,又有放大作用。 10、(2-1,中)共基组态中,三极管的基极为公共端,极为输入端,极为输出端。 11、(2-1,难)某三极管3个电极电位分别为V E=1V,V B=1.7V,V C=1.2V。可判定该三极管是工作于 区的型的三极管。 12、(2-1,难)已知一放大电路中某三极管的三个管脚电位分别为①3.5V,②2.8 V,③5V,试判断: a.①脚是,②脚是,③脚是(e, b,c); b.管型是(NPN,PNP); c.材料是(硅,锗)。 13、(2-1,中)晶体三极管实现电流放大作用的外部条件是,电流分配关系是。 14、(2-1,低)温度升高对三极管各种参数的影响,最终将导致I C,静态工作点。 15、(2-1,低)一般情况下,晶体三极管的电流放大系数随温度的增加而,发射结的导通压降V BE 则随温度的增加而。 16、(2-1,低)画放大器交流通路时,和应作短路处理。 17、(2-2,低)在多级放大器里。前级是后级的,后级是前级的。 18、(2-2,低)多级放大器中每两个单级放大器之间的连接称为耦合。常用的耦合方式有:,,。 19、(2-2,中)输出端的零漂电压电压主要来自放大器静态电位的干扰变动,因此要抑制零漂,首先要抑制的零漂。目前抑制零漂比较有效的方法是采用。

光敏三极管的结构及工作原理和磁敏三极管

光敏三极管的结构及工作原理 说明:光敏三极管与二极管不同的是有两个背对相接的PN结。与普通三极管相似的是,它也有电流增益。图21-7示出了NPN型光敏兰极管的结构。需要指出的是,因光敏三极管无须电参量控制,所以一般没有基极引出线,只有集电极C和发射极e两个引脚,而且外形和光敏二极管极为相似,很难区别开,需认真看清管壳外缘标注的型号,以免混淆。 有时为了提高电压放大倍数,生产商将光敏三极管与另一普通二极管制作在一个管芯内,连结成复合管形式,称为达林顿型光敏三极管。它的电压放大倍数很高(β=βlβ2),且允许输出较大电流,即电流放大倍数也很高(α=α1α2)。但达林顿型光敏三极管的暗电流较大,非线性严重,温

漂大以及抗干扰能力差,需在电路中增加抑制回路方能正常工作。 网名: sels 光敏三极管基础知识 光敏三极管和普通三极管相似,也有电流放大作用,只是它的集电极电流不只是受基极电路和电流控制,同时也受光辐射的控制。通常基极不引出,但一些光敏三极管的基极有引出,用于温度补偿和附加控制等 作用。 当具有光敏特性的PN 结受到光辐射时,形成光电流,由此产生的光生电流由基极进入发射极,从而在集电极回路中得到一个放大了相当于β倍的信号电流。不同材料制成的光敏三极管具有不同的光谱特性,与光敏二极管相比,具有很大的光电流放大作用,即很高的灵敏度。 通过对半导体二极管和三极管的学习,我了解了晶体管的基本结构和工作原理,晶体三极管,是半导体基本元器件之一,具有电流放大作用,是电子电路的核心元件。三极管是在一块半导体基片上制作两个相距很近的PN结,两个PN结把正块半导体分成三部分,中间部分是基区,两侧部分是发射区和集电区,排列方式有PNP和NPN两种,如图从三个区引出相应的电极,分别为基极b发射极e和集电极c。 发射区和基区之间的PN结叫发射结,集电区和基区之间的PN结叫集电极。基区很薄,而发射区较厚,杂质浓度大,PNP型三极管发射区"发射"的是空穴,其移动方向与电流方向一致,故发射极箭头向里;NPN型三极管发射区"发射"的是自由电子,其移动方向与电流方向相反,故发射极箭头向外。发射极箭头向外。发射极箭头指向也是PN结在正向电压下的导通方向。硅晶体三极管和锗晶体三极管都有PNP型和NPN型两种类型。虽然重点学习了晶体管的放大作用,但是我对晶体管的开关作用更感兴趣。半导体就像 一个开关,可以通过导通与截止来控制电路。 半导体通过添加一部分微量元素会使其特性发生翻天覆地的变化。光敏晶体管就是一种重要的衍生物。视觉是人体最重要的感觉,因此,我觉得通过光来控制电路真是太精妙了,而光敏的二极管三极管恰好就完成这个任务。因为光敏三极管由于还具有放大作用,因此应用比二极管更加广泛。光敏三极管用于测量光亮度,经常与发光二极管配合使用作为信号接收装置。下面用事例说明介绍一下各种功能。 一测量光亮度 在教室图书馆,很多时候日光灯白天也亮着,在宿舍里面,日光灯经常是昼夜不息,同学们对这种浪费已经麻木不仁了。有的同学早晨去教室,虽然教室很明亮但还要开灯,虽然一盏日光灯不会浪费多少资源,但积少成多,浪费就是很大了。因此,我们可以在教室安装一个控制电路,当亮度达到一定程度的时候,使得教室里面和宿舍里面日光灯将无法启动。我们可以利用光敏三极管附加电磁继电器来完成这个电路。采光点的选取是一个关键,因为并不是每一个教室的明亮程度都是相同的,我们可以采用多点取样来达到这个要求。例如在20个教室中都安放光敏三极管,我们可以设置,如果他们全部或者大部分亮度都很高,那么,日光灯就无法正常启动,达到节约能源的目的。 还有一种情况,就是如果有一天天空布满了乌云,亮度不够,那么日光灯可以开启了。但是不久云开雾散,天气放晴,日光灯不会自动关闭。同样造成很大浪费。可以在采光点所在的教室外面再安装一个采光点,当室内外强度的差值缩小到一定范围是,我们可以认为日光灯的作用可以忽略了,日光灯就会自动 关闭。 另外一种情况,如果教室外面正下雨,教室里面日光灯亮着,此时窗外一个闪电,使得外面很亮,日光灯就关闭了,这会造成麻烦。因此要避免这种问题。方法就是在电路中安装计数器,使得亮度差维持一

实验三 光电三极管特性测试及其变换电路模板

西南交通大学光电专业实验报告 学号:2015114XXX 姓名:XXX 班级:光电X班组号:X 同组人(姓名/学号):实验名称:光电三极管特性测试及其变换电路本次实验是本学期你所做的第X 个实验实验日期:2018 年 6 月X 日讲指导教师/报告箱号:

极管C极对应组件上红色护套插座,已极对应组件上黑色护套插座。 (4)打开电源,缓慢调节光照度调节电位器,直到光照为3001x (约为环境光照),缓慢

光照3001x时的光电流。 (5)实验完毕,将光照度调至最小,直流电源调至最小,关闭电源,拆除所有连线。2、光电三极管光照特性测试 (1)组装好光通路组件,将照度计与照度计探头输出正负极对应相连(红为正极,黑为负极),将光源驱动及信号处理模块上J2与光通路组件光源接口使用彩排数据线相连。 (2)将开关S2拨到“静态”。 (3)按图3-3所示的电路连接电路图,直流电源选用0-15V可调直流电源,负载RL选择RL=1K欧。 (4)将“光照度调节”旋钮逆时针调节至最小值位置。打开电源,调节直流电源电位器,直到显示值为6V左右,顺时针调节该旋钮,增大光照度值,分别记下不同照度下对应的光生电流值、填入表1。若电流表或照度计显示为“1__”时说明超出量程,应改为合适的量程再测试。 (5)调节直流调节电位器到10V左右,重复述步骤(4),改变光照度值,将测试的电流值填入表2 (6)根据上面所测试的两组数据,在同一坐标轴中描绘光照特性曲线并进行分析。 (7)实验完毕,将光照度调至最小,直流电源调至最小,关闭电源,拆除所有连线。3、光电三极管伏安特性 实验装置原理框图如图3-4所示。 (1)组装好光通路组件,将照度计与照度计探头输出正负极对应相连(红为正极,黑为负极),将光源驱动及信号处理模块上J2与光通路组件光源接口使用彩排数据线相连。 (2)将开关S2拨到“静态”。 (3)按图3-4所示的电路连接电路图,直流电源选用0-15V可调直流电源,负载RL选择RL=2K欧。 (4)打开电源顺时针调节照度调节旋钮,使照度值为200Lx,保持光照度不变,调节电源电压电位器,使反向偏压为0V、IV、2V,4V、6V、8V、10V、12V时的电流表读数,填入表3,关闭电源。 (注意:直流电流不可调至高于30V,以免烧坏光电三极管) (5)根据上述实验结果,作出200Lx照度下的光电三极管伏安特性曲线。 (6)重复上述步骤。分别测量光电三极管在100Lx和500Lx照度下,不同偏压下的光生

线性系统的频率特性实验报告(精)

实验四 线性系统的频率特性 一、实验目的: 1. 测量线性系统的幅频特性 2. 复习巩固周期信号的频谱测量 二、实验原理: 我们讨论的确定性输入信号作用下的集总参数线性非时变系统,又简称线性系统。线性系统的基本特性是齐次性与叠加性、时不变性、微分性以及因果性。对线性系统的分析,系统的数学模型的求解,可分为时间域方法和变换域方法。这里主要讨论以频率特性为主要研究对象,通过傅里叶变换以频率为独立变量。 设输入信号)(t v in ,其频谱)(ωj V in ;系统的单位冲激响应)(t h ,系统的频率特性 )(ωj H ;输出信号)(t v out ,其频谱)(ωj V out ,则 时间域中输入与输出的关系 )()()(t h t v t v in out *= 频率域中输入与输出的关系 )()()(ωωωj H j V j V in out ?= 时间域方法和变换域方法并没有本质区别,两种方法都是将输入信号分解为某种基本单元,在这些基本单元的作用下求得系统的响应,然后再叠加。变换域方法可以将时域分析中的微分、积分运算转化为代数运算,将卷积积分变换为乘法;在信号处理时,将输入时间信号用一组变换系数(谱线)来表示,根据信号占有的频带与系统通带间的关系来分析信号传输,判别信号中带有特征性的分量,比时域法简便和直观。 三、实验方法: 1. 输入信号的选取 这里输入信号选取周期矩形信号,并且要求 τ T 不为整数。这是因为周期矩形信号具有丰富的谐波分量,通过观察系统的输入、输出波形的谐波的变化,分析系统滤波特性。周期矩形信号可以分解为直流分量和许多谐波分量;由于测量频率点的数目有限,因此需要排除谐波幅度为零的频率点,周期矩形信号谐波幅度为零的频率点是 Ω KT ,其中1=K 、2、3、… 。 图11.1 输入的周期矩形信号时域波形 t

光敏三极管特性测试

实验三光敏三极管特性测试 一:实验原理: 光敏三极管是具有NPN或PNP结构的半导体管,结构与普通三极管类似。但它的引出电极通常只有两个,入射光主要被面积做得较大的基区所吸收。光敏三极管的结构与工作电路如图(11)所示。集电极接正电压,发射极接负电压。 二:实验所需部件: 光敏三极管、稳压电源、各类光源、电压表(自备4 1/2位表)、微安表、负载电阻 三:实验步骤: 1、判断光敏三极管C、E极性,方法是用万用 表欧姆20M测试档,测得管阻小的时候红表 棒端触脚为C极,黑表棒为E极。 2、暗电流测试: 按图(11)接线,稳压电源用±12V,调整 负载电阻RL阻值,使光敏器件模板被遮光罩盖 住时微安表显示有电流,这即是光敏三极管的暗 电流,或是测得负载电阻RL上的压降V暗,暗 电流LCEO=V暗/RL。(如是硅光敏三极管,则 暗电流可能要小于10-9A,一般不易测出。 3、光电流测试: 取走遮光罩,即可测得光电流I光,通过实验比较可以看出,光敏三极管与光敏二极管相比能把光电流放大(1+HFE)倍,具有更高的灵敏度。 1、伏安特征测试: 光敏三极管在给定的光照强度与工作电压下,将所测得的工作电压Vce与工作电流记录,工作电压可从+4V~+12V变换,并作出一组V/I曲线。 2、光谱特性测试: 对于一定材料和工艺制成的光敏管,必须对应一定波长的入射光才有响应。按图(11)接好光敏三极管测试电路,参照光敏二极管的光谱特性测试方法,分别用各种光照射光敏三极管,测得光电流,并做出定性的结论。 3、光电特性测试:

图(12)光敏三极管的温度特性图(13)光敏三极管的光电特性曲线 在外加工作电压恒定的情况下,照射光通量与光电流的关系见图(13),用各种光源照射光敏三极管,记录光电流的变化。 4、温度特性测试: 光敏三极管的温度特性曲线如图(12)所示,试在图(11)的电路中,加热光敏三极管,观察光电流随温度升高的变化情况。 思考题:光敏三极管工作的原理与半导体三极管相似,为什么光敏三极管有两根引出电极就可以正常工作?

系统频率特性的测试实验报告

东南大学自动化学院课程名称:自动控制原理实验 实验名称:系统频率特性的测试 姓名:学号: 专业:实验室: 实验时间:2013年11月22日同组人员: 评定成绩:审阅教师:

一、实验目的: (1)明确测量幅频和相频特性曲线的意义; (2)掌握幅频曲线和相频特性曲线的测量方法; (3)利用幅频曲线求出系统的传递函数; 二、实验原理: 在设计控制系统时,首先要建立系统的数学模型,而建立系统的数学模型是控制系统设计的重点和难点。如果系统的各个部分都可以拆开,每个物理参数能独立得到,并能用物理公式来表达,这属机理建模方式,通常教材中用的是机理建模方式。如果系统的各个部分无法拆开或不能测量具体的物理量,不能用准确完整的物理关系式表达,真实系统往往是这样。比如“黑盒”,那只能用二端口网络纯的实验方法来建立系统的数学模型,实验建模有多种方法。此次实验采用开环频率特性测试方法,确定系统传递函数。准确的系统建模是很困难的,要用反复多次,模型还不一定建准。另外,利用系统的频率特性可用来分析和设计控制系统,用Bode 图设计控制系统就是其中一种。 幅频特性就是输出幅度随频率的变化与输入幅度之比,即)()(ωωi o U U A =。测幅频特性时, 改变正弦信号源的频率,测出输入信号的幅值或峰峰值和输输出信号的幅值或峰峰值。 测相频有两种方法: (1)双踪信号比较法:将正弦信号接系统输入端,同时用双踪示波器的Y1和Y2测量系统的输入端和输出端两个正弦波,示波器触发正确的话,可看到两个不同相位的正弦波,测出波形的周期T 和相位差Δt ,则相位差0360??=ΦT t 。这种方法直观,容易理解。就模拟示波 器而言,这种方法用于高频信号测量比较合适。 (2)李沙育图形法:将系统输入端的正弦信号接示波器的X 轴输入,将系统输出端的正弦信号接示波器的Y 轴输入,两个正弦波将合成一个椭圆。通过椭圆的切、割比值,椭圆所在的象限,椭圆轨迹的旋转方向这三个要素来决定相位差。就模拟示波器而言,这种方法用于低频信号测量比较合适。若用数字示波器或虚拟示波器,建议用双踪信号比较法。 利用幅频和相频的实验数据可以作出系统的波Bode 图和Nyquist 图。 三、预习与回答: (1)实验时,如何确定正弦信号的幅值?幅度太大会出现什么问题,幅度过小又会出现什 么问题? 答:根据实验参数,计算正弦信号幅值大致的范围,然后进行调节,具体确定调节幅值时,首先要保证输入波形不失真,同时,要保证在频率较大时输出信号衰减后人能够测量出来。如果幅度过大,波形超出线性变化区域,产生失真;如果波形过小,后续测量值过小,无法精确的测量。

三极管基本电路原理和检修

三极管基本电路原理和检修 三极管是三端、电流控制器件。较低的输入阻抗(发射结可等效为一只电阻,需有实实在在的电流流通,三极管才能导通,因而要求信号源有电流输出能力),挑信号源;较高的输出阻抗(挑负载,要求负载阻抗>>电路本身输出阻抗,输出电压降才能落实到负载上)。在Ic受控于Ib的受控区内,工作于可变电阻区,为线性放大器(模拟电路);在Ic不受Ib控制的开关区,为开关电路(数字电路)。 上文中Ic指三极管集电极电流;Ib指三极管基极电流。 1三极管基本工作原理 三极管是个简称,全称为晶体三体管,早期以锗材料制作的为多,因其热稳定性差漏电流(电磁噪声)大而被淘汰,现在应用的都是硅材料晶体三体管。随着电子技术的进步,由三极管分立元件构成的放大器、逻辑电路已近于绝迹,但做为执行电路的末级驱动器件,如直流继电器线圈和风扇的驱动、IGBT的末级驱动(此处三极管仅仅作为开关来应用,如控制风扇的运转、继电器的动作等)等,大部分电路仍然继续采用三极管器件。所以由三极管构成的线性放大器,已经无须多加关注,仅需关注其开关应用即可以了。其原因为,当一片四运放集成电路的价格与单只小功率三极管的价格相接近时,恐怕已经没有人再愿意用数只甚至更加庞大数量的三极管来搭接线性放大器了,从性价比、电路性能、体积等任何一点考虑,三极管都貌似是永远失掉了它的优势。 2电路示例1——原理分析 虽然如此,为了更好地理解由三极管为核心构成的放大或开关电路,我带领大家设计一款最基本的三极管偏置电路,由对此简易电路的分析,找到分析三极管电路原理的关键所在。 已知:供电电源电压Vcc=10V;三极管β=100; 要求:静态Ic=1mA;静态Vc(三极管集电极电压)=5V。可知这是一款简易单电源供电 1

光电传感器实验

光电传感器实验研究 电气信息学院 摘要:本实验通过研究光敏电阻、光敏二极管、光敏三极管、硅光电池的伏安特性和光照特性曲线和光纤通讯基本原理,从而掌握光电传感器的原理。这样可以丰富自己的物理知识,使自己感受物理的魅力,并学会运用物理知识解决生活中的实际问题。 关键词:光敏电阻,光敏二极管,光敏三极管,硅光电池,光纤 光敏传感器是将光信号转换为电信号的传感器,也称为光电式传感器,它可用于检测直接引起光强度变化的非电量,如光强、光照度、辐射测温、气体成分分析等;也可用来检测能转换成光量变化的其它非电量,如零件直径、表面粗糙度、位移、速度、加速度及物体形状、工作状态识别等。光敏传感器具有非接触、响应快、性能可靠等特点。光敏传感器的物理基础是光电效应,即光敏材料的电学特性都因受到光的照射而发生变化。本实验主要是研究光敏电阻、硅光电池、光敏二极管、光敏三极管四种光敏传感器的基本特性以及光纤传感器基本特性和光纤通讯基本原理。本实验目的:1、了解光敏电阻的基本特性,测出它的伏安特性曲线和光照特性曲线。2、了解光敏二极管的基本特性,测出它的伏安特性和光照特性曲线。3、了解硅光电池的基本特性,测出它的伏安特性曲线和光照特性曲线。4、了解光敏三极管的基本特性,测出它的伏安特性和光照特性曲线。 5、了解光纤传感器基本特性和光纤通讯基本原理。 一、光敏传感器的基本特性及实验原理 1、伏安特性 光敏传感器在一定的入射光强照度下,光敏元件的电流I与所加电压U之间的关系称为光敏器件的伏安特性。改变照度则可以得到一组伏安特性曲线,它是传感器应用设计时选择电参数的重要依据。某种光敏电阻、硅光电池、光敏二极管、光敏三极管的伏安特性曲线如图1、图2、图3、图4所示。

自动控制原理学生实验:二阶开环系统的频率特性曲线

实验三 二阶开环系统的频率特性曲线 一.实验要求 1.研究表征系统稳定程度的相位裕度γ和幅值穿越频率c ω对系统的影响。 2.了解和掌握欠阻尼二阶开环系统中的相位裕度γ和幅值穿越频率c ω的计算。 3.观察和分析欠阻尼二阶开环系统波德图中的相位裕度γ和幅值穿越频率ωc ,与计算值作比对。 二.实验内容及步骤 本实验用于观察和分析二阶开环系统的频率特性曲线。 由于Ⅰ型系统含有一个积分环节,它在开环时响应曲线是发散的,因此欲获得其开环频率特性时,还是需构建成闭环系统,测试其闭环频率特性,然后通过公式换算,获得其开环频率特性。 自然频率:T iT K = n ω 阻尼比:KT Ti 2 1= ξ (3-2-1) 谐振频率: 2 21ξωω-=n r 谐振峰值:2 121lg 20)(ξ ξω-=r L (3-2-2) 计算欠阻尼二阶闭环系统中的幅值穿越频率ωc 、相位裕度γ: 幅值穿越频率: 24241ξξωω-+? =n c (3-2-3) 相位裕度: 4 24122arctan )(180ξξξω?γ++-=+=c (3-2-4) γ值越小,Mp%越大,振荡越厉害;γ值越大,Mp%小,调节时间ts 越长,因此为使 二阶闭环系统不致于振荡太厉害及调节时间太长,一般希望: 30°≤γ≤70° (3-2-5) 本实验所构成的二阶系统符合式(3-2-5)要求。 被测系统模拟电路图的构成如图1所示。 图1 实验电路 本实验将数/模转换器(B2)单元作为信号发生器,自动产生的超低频正弦信号的频率从低到高变化(0.5Hz~16Hz ),OUT2输出施加于被测系统的输入端r (t),然后分别测量被测系统的输出信号的开环对数幅值和相位,数据经相关运算后在虚拟示波器中显示。 实验步骤: (1)将数/模转换器(B2)输出OUT2作为被测系统的输入。 (2)构造模拟电路:安置短路套及测孔联线表同笫3.2.2 节《二阶闭环系统的频率特性曲线测试》。 (3)运行、观察、记录: ① 将数/模转换器(B2)输出OUT2作为被测系统的输入,运行LABACT 程序,在界面 的自动控制菜单下的线性控制系统的频率响应分析-实验项目,选择二阶系统,就会弹出虚拟示波器的界面,点击开始,实验开始后,实验机将自动产生0.5Hz~16H 等多种频率信号,等待将近十分钟,测试结束后,观察闭环对数幅频、相频曲线和幅相曲线。 ② 待实验机把闭环频率特性测试结束后,再在示波器界面左上角的红色‘开环’或‘闭

(整理)三极管应用电路和基本放大电路.

三极管应用电路和基本放大电路 2G 郭标2005-11-29 三极管应用电路和基本放大电路 (1) 一、三极管三种基本组态 (2) 二、应用电路 (3) A、偏置使用 (3) B、放大电路应用 (5) 三、射频FET小信号放大器设计 (7) 1、基本概念: (7) 2、基于S-参数和圆图的分析方法 (8) 四、集成中小功率放大器 (9) 附1:容易发生自激的电路形式 (11) 附2 电路分析实例 (11)

一、三极管三种基本组态 共发 共集 共基 特点:共发-对电压电流都有放大,适合制做放大器 共集-电压跟随器 共基-电流继随器 直流工作点选取 交流小信号混和PI 型等效模型 e

二、应用电路 A 、偏置使用 1、有源滤波电路: R1 R2 特点:直流全通,交流对地呈高容性。 使用时可在b 和e 对地接大电容,增强滤波。 2、有源负载电路: Vcc 特点:直流负载很小,交流负载大,提高放大器的Rc 3、恒流源电路 独立电流源 镜像电流源 特点:较大的偏置电压变化,有较小的电流变化

4、电平控制与告警电路 特点:利用导通截至特性,控制电平可调整 5、电流补偿偏置电路 特点:补偿偏置三极管能够补偿放大管因长期工作时,gm变低导致的Ic变低而改变工作点。

特点:适用于设计低噪声、高增益、高稳定性、较低频的放大电路。选择特定的材料可以做到高频。 1、共发放大的形式: ☆发射级接电阻的: 电压放大倍数接近为Rc/Re ☆接有源负载的: 共发有源负载的作用:直流负载很小,交流负载大 以此提高Rc,增大电压放大倍数 电压和电流同时放大的形式只有共发。 2、cb和cc的放大器一般只作为辅助。电流接续和电压接续或隔离作用。 3、级联考虑: 差分放大一般在组合放大的第一级,目的不在提供增益,而是良好的输入性能,如共模抑制比,温度漂移等;(互补型)共集电路(前置隔离级)做为最后一级,可兼容不同负载。而中间级一般是为了取得较高的增益,所以采用(有源偏置的)共发放大器。 放大电路中采用恒流偏置电路提高稳定性。 互补型共集电路 互补型共集电路特点:作为隔离级,提高动态范围

光照度实验分析

光照度实验 实验一发光二极管(光源)的照度标定实验 一、实验目的 了解发光二极管的工作原理;作出工作电流与光照度的对应关系及工作电压与光照度的对应关系曲线,为以后实验提供数据。 二、基本原理 半导体发光二极管筒称LED。它是由Ⅲ-Ⅳ族化合物,如GaAs(砷化镓)、GaP(磷化镓)、GaAsP(磷砷化镓)等半导体制成的,其核心是PN 结。因此它具有一般二极管的正向导通;反向截止、击穿特性。此外,在一定条件下,它还具有发光特性。其发光原理如图1-1 所示,当加上正向激励电压或电流时,在外电场作用下,在P-N 结附近产生导带电子和价带空穴,空穴由P 区注入N 区,进入对方区域的少数载流子(少子)一部分与多数载流子(多子)复合而发光。假设发光是在P 区中发生的,那么注入的电子与价带空穴直接复合而发 图1-1 发光二极管的工作原理 光,或者先被发光中心捕获后,再与空穴复合发光。除了这种发光复合外,还有些电子被非发光中心(这个中心介于导带、价带中间附近)捕获,再与空穴复合,每次释放的能量不大,以热能的形式辐射出来。发光的复量相对于非发光复合量的比例越大,光量子效率越高。由于复合是在少子扩散区内发光的,所以光仅在靠近PN 结面数μm 以内产生。发光二极管的发光颜色由制作二极管的半导体化合物决定。本实验使用纯白高亮发光二极管。 三、需用器件与单元 主机箱(0~20mA 可调恒流源、电流表、0~24V 可调电压源,照度表);照度计探头;发光二极管;通光筒。 四、实验步骤: 照度—电流对应值的测量; 1、按图1-2 配置接线,接线注意+、-极性。 2、检查接线无误后,合上主机箱电源开关。

控制系统频率特性实验

实验名称控制系统的频率特性 实验序号实验时间 学生姓名学号 专业班级年级 指导教师实验成绩 一、实验目的: 研究控制系统的频率特性,及频率的变化对被控系统的影响。 二、实验条件: 1、台式计算机 2、控制理论计算机控制技术实验箱系列 3、仿真软件 三、实验原理和内容: .被测系统的方块图及原理被测系统的方块图及原理: 图—被测系统方块图 系统(或环节)的频率特性(ω)是一个复变量,可以表示成以角频率ω为参数的幅值和相角。 本实验应用频率特性测试仪测量系统或环节的频率特性。 图—所示系统的开环频率特性为: 采用对数幅频特性和相频特性表示,则式(—)表示为: 将频率特性测试仪内信号发生器产生的超低频正弦信号的频率从低到高变化,并施

加于被测系统的输入端[()],然后分别测量相应的反馈信号[()]和误差信号[()]的对数 幅值和相位。频率特性测试仪测试数据经相关器件运算后在显示器中显示。 根据式(—)和式(—)分别计算出各个频率下的开环对数幅值和相位,在半对数坐标纸 上作出实验曲线:开环对数幅频曲线和相频曲线。 根据实验开环对数幅频曲线画出开环对数幅频曲线的渐近线,再根据渐近线的斜率和转角频确定频率特性(或传递函数)。所确定的频率特性(或传递函数)的正确性可以由测量的相频曲线来检验,对最小相位系统而言,实际测量所得的相频曲线必须与由确定的 频率特性(或传递函数)所画出的理论相频曲线在一定程度上相符。如果测量所得的相位 在高频(相对于转角频率)时不等于-°(-)[式中和分别表示传递函数分子和分母 的阶次],那么,频率特性(或传递函数)必定是一个非最小相位系统的频率特性。 .被测系统的模拟电路图被测系统的模拟电路图:见图- 注意:所测点()、()由于反相器的作用,输出均为负值,若要测其正的输出点, 可分别在()、()之后串接一组的比例环节,比例环节的输出即为()、()的 正输出。 四、实验步骤: 在此实验中,利用型系统中的转换单元将提供频率和幅值均可调的基准正弦信 号源,作为被测对象的输入信号,而型系统中测量单元的通道用来观测被测环节的输出(本实验中请使用频率特性分析示波器),选择不同角频率及幅值的正弦信号源作 为对象的输入,可测得相应的环节输出,并在机屏幕上显示,我们可以根据所测得的 数据正确描述对象的幅频和相频特性图。具体实验步骤如下: ()将转换单元的端接到对象的输入端。 ()将测量单元的(必须拨为乘档)接至对象的输出端。 ()将信号发生器单元的和端断开,用号实验导线将端接至单元中的。 (由于在每次测量前,应对对象进行一次回零操作,即为对象锁零控制端,在这里,我们用的口对进行程序控制) ()在机上输入相应的角频率,并输入合适的幅值,按键后,输入的角频率开始闪烁,直至测量完毕时停止,屏幕即显示所测对象的输出及信号源,移动游标,可得 到相应的幅值和相位。 ()如需重新测试,则按“”键,系统会清除当前的测试结果,并等待输入新的角频率,准备开始进行下次测试。 ()根据测量在不同频率和幅值的信号源作用下系统误差()及反馈()的幅值、相 对于信号源的相角差,用户可自行计算并画出闭环系统的开环幅频和相频曲线。 实验数据处理及被测系统的对数幅频曲线和相频曲线 表实验数据(ωπ)

光敏三极管的应用电路

光敏二极管和光敏三极管简介及应用 光敏二极管和光敏三极管是光电转换半导体器件,与光敏电阻器相比具有灵敏度高、高频性能好,可靠性好、体积小、使用方便等优。 一、光敏二极管 1.结构特点与符号 光敏二极管和普通二极管相比虽然都属于单向导电的非线性半导体器件,但在结构上有其特殊的地方。光敏二极管使用时要反向接入电路中,即正极接电源负极,负极接电源正极。 2. 光电转换原理 根据PN结反向特性可知,在一定反向电压范围内,反向电流很小且处于饱和状态。此时,如果无光照射PN结,则因本征激发产生的电子-空穴对数量有限,反向饱和电流保持不变,在光敏二极管中称为暗电流。当有光照射PN结时,结内将产生附加的大量电子空穴对(称之为光生载流子),使流过PN结的电流随着光照强度的增加而剧增,此时的反向电流称为光电流。不同波长的光(兰光、红光、红外光)在光敏二极管的不同区域被吸收形成光电流。被表面P型扩散层所吸收的主要是波长较短的兰光,在这一区域,因光照产生的光生载流子(电子),一旦漂移到耗尽层界面, 就会在结电场作用下,被拉向N区,形成部分光电流;彼长较长的红光,将透过P型层在耗尽层激发出电子一空穴对,这些新生的电子和空穴载流子也会在结电场作用下,分别到达N区和P区,形成光电流。波长更长的红外光,将透过P型层和耗尽层,直接被N区吸收。在N区内因光照产生的光生载流子(空穴)一旦漂移到耗尽区界面,就会在结电场作用下被拉向P区,形成光电流。因此,光照射时,流过PN结的光电流应是三部分光电流之和。 二、光敏三极管 光敏三极管和普通三极管的结构相类似。不同之处是光敏三极管必须有一个对光敏感的PN 结作为感光面,一般用集电结作为受光结,因此,光敏二极管实质上是一种相当于在基极和集电极之间接有光敏二极管的普通二极管。其结构及符号如图Z0130所示。 三、光敏二极管的两种工作状态 光敏二极管又称光电二极管,它是一种光电转换器件,其基本原理是光照到P-N结上时,吸收光能并转变为电能。它具有两种工作状态: (1)当光敏二极管加上反向电压时,管子中的反向电流随着光照强度的改变而改变,光照强度越大,反向电流越大,大多数都工作在这种状态。 (2)光敏二极管上不加电压,利用P-N结在受光照时产生正向电压的原理,把它用作微型光电池。这种工作状态,一般作光电检测器。 光敏二极管分有P-N结型、PIN结型、雪崩型和肖特基结型,其中用得最多的是P-N结型,

光敏三极管的主要技术特性及参数

光敏三极管的主要技术特性及参数 1、光谱特性 光敏三极管由于使用的材料不同,分为错光敏三极管和硅光敏三极管,使用较多的是硅光敏三极管。光敏三极管的光谱特性与光敏二极管是相同的。 2、伏安特性 光敏三极管的伏安特性是指在给定的光照度下光敏三极管上的电压与光电流的关系。光敏三极管的伏安特性曲线如图下图所示。 3、光电特性 与光照度之间的关光敏三极管的光电特性反映了当外加电压恒定时,光电流I L 系。下图给出了光敏三极管的光电特性曲线光敏三极管的光电特性曲线的线性度不如光敏二极管好,且在弱光时光电流增加较慢。 4、温度特性 温度对光敏三极管的暗电流及光电流都有影响。由于光电流比暗电流大得多,在一定温度范围内温度对光电流的影响比对暗电流的影响要小。下两图中分别给出了光敏三极管的温度特性曲线及光敏三极管相对灵敏度和温度的关系曲线。

5、暗电流I D 在无光照的情况下,集电极与发射极间的电压为规定值时,流过集电极的反向漏电流称为光敏三极管的暗电流。 6、光电流I L 在规定光照下,当施加规定的工作电压时,流过光敏三极管的电流称为光电流,光电流越大,说明光敏三极管的灵敏度越高。 7、集电极一发射极击穿电压V CE 在无光照下,集电极电流IC为规定值时,集电极与发射极之间的电压降称为集电极一发射极击穿电压。 8、最高工作电压V RM 在无光照下,集电极电流Ie 为规定的允许值时,集电极与发射极之间的电压降称为最高工作电压。 9、最大功率P M 最大功率指光敏三极管在规定条件下能承受的最大功率。 10、峰值波长λp 当光敏三极管的光谱响应为最大时对应的波长叫做峰值波长。 11、光电灵敏度 在给定波长的入射光输入单位为光功率时,光敏三极管管芯单位面积输出光电流的强度称为光电灵敏度。 12、响应时间 响应时间指光敏三极管对入射光信号的反应速度,一般为1 X 10-3--- 1 X 10-7S 。 13、开关时间 1.脉冲上升时间t τ:光敏三极管在规定工作条件下调节输入的脉冲光,使光敏三极管输出相应的脉冲电流至规定值,以输出脉冲前沿幅度的10% - 90% 所需的时间。 2.脉冲下降时间t :以输出脉冲后沿幅度的90% - 10% 所需的时间。 t 3.脉冲延迟时间t :从输入光脉冲开始到输出电脉冲前沿的10% 所需的时间。 d 4.脉冲储存时间t :当输入光脉冲结束后,输出电脉冲下降到脉冲幅度的90% 所 s 需的时间。

模拟滤波器频率特性测试

实验二 模拟滤波器频率特性测试 一、实验目的 1、掌握低通无源滤波器的设计; 2、学会将无源低通滤波器向带通、高通滤波器的转换; 3、了解常用有源低通滤波器、高通滤器、带通滤波器、带阻滤波器的结构与特性; 二、预备知识 1、 学习“模拟滤波器的逼近”; 2、 系统函数的展开方法; 3、低通滤波器的结构与转换方法; 三、实验原理 模拟滤波器根据其通带的特征可分为: (1)低通滤波器:允许低频信号通过,将高频信号衰减; (2)高通滤波器:允许高频信号通过,将低频信号衰减; (3)带通滤波器:允许一定频带范围内的信号通过,将此频带外的信号衰减; (4)带阻滤波器:阻止某一频带范围内的信号通过,而允许此频带以外的信号衰减; 各种滤波器的频响特性图: 图2一1低通滤波器 图2一2高通滤波器 图2一3带通滤波器 图2一4带阻滤波器 在这四类滤波器中,又以低通滤波器最为典型,其它几种类型的滤波器均可从它转化而来。 1、系统的频率响应特性是指系统在正弦信号激励下系统的稳态响应随激励信号频率变化的情况。用矢量形式表示: ()()()j H j H j e φωωω= 其中:|H(j ω)|为幅频特性,表示输出信号与输入信号的幅度比随输入信号频率的变化关系;φ(ω)为相频特性,表示输出信号与输入信号的相位差随输入信号频率的变化关系。

2、H(j ω)可根据系统函数H(s)求得:H(j ω)= H(s)︱s=j ω因此,对于给定的电路可根椐S 域模型先求出系统函数H(s),再求H(j ω),然后讨论系统的频响特性。 3、频响特性的测量可分别测量幅频特性和相频特性,幅频特性的测试采用改变激励信号的频率逐点测出响应的幅度,然后用描图法描出幅频特性曲线;相频特性的测量方法亦可改变激励信号的频率用双踪示波器逐点测出输出信号与输入信号的延时τ,根椐下面的公式推算出相位差 ()2T τφωπ = 当响应超前激励时为 ()φω正,当响应落后激励时()φω为负。 四、实验原理图 图2一5实验电路 图中:R=38k Ω,C=3900pF ,红色框内为实验板上的电路。 五、实验内容及步骤: 将信号源CH1的信号波形调为正弦波,信号的幅度调为Vpp=10V 。 1、RC 高通滤波器的频响特性的测量: 将信号源的输出端(A)接实验板的IN1端,滤波后的信号OUT1接示波器的输入(B) 。根据被测电路的参数及系统的频特性,将输入信号的频率从低到高逐次改变十 次以上(幅度保持Vipp=10v) , 逐个测量输出信号的峰峰值大小(Vopp)及输出信号与输入信号的相位差 ,并将测量数据填入表一: 表一 2.RC 低通滤波器的频响特性的测量: 将信号源的输出(A)接实验板的IN2,滤波后的输出信号OUT2接示波器的输入(B) 。根据被测电路的参数及系统的幅频特性,将输入信号的频率从低到高逐次改变十 次以上(幅度保持Vipp=10v) , 逐个测量输出信号的峰峰值大小(Vopp) 及Φ(ω),并将测量数据填入表二: 表二 Vi(V) 10 10 10 10 10 10 10 10 10 10 10 10 10 10 10 f(Hz) 150 200 300 350 400 450 500 550 1000 1500 2000 2500 3000 3500 4000 Vo(v) 1.44 1.2 1.26 2.96 3.28 3.60 4 4.24 6.60 7.44 8.00 8.40 8.72 8.76 8.88 φ(ω)(10 -2 ) 5.024 3.768 1.884 1.6328 1.5072 1.256 1.1304 1.0048 0.3768 0.1884 0.11304 0.08792 0.05024 0.04396 0.03768 Vi(V) 10 10 10 10 10 10 10 10 10 10 10

光敏二极管和光敏三极管

光敏二极管和光敏三极管 光敏二极管和光敏三极管是光电转换半导体器件,与光敏电阻器相比具有灵敏度高、高频性能好,可靠性好、体积小、使用方便等优。 一、光敏二极管 1.结构特点与符号 光敏二极管和普通二极管相比虽然都属于单向导电的非线性半导体器件,但在结构上有 其特殊的地方。 光敏二极管在电路中的符号如图Z0129 所示。光敏二极管使用时要反向接入电路中,即正极接电源负极,负极接电源正极。 2.光电转换原理 根据PN结反向特性可知,在一定反向电压范围内,反向电流很小且处于饱和状态。此时,如果无光照射PN结,则因本征激发产生的电子-空穴对数量有限,反向饱和电流保持不变,在光敏二极管中称为暗电流。当有光照射PN结时,结内将产生附加的大量电子空穴对(称之为光生载流子),使流过PN结的电流随着光照强度的增加而剧增,此时的反向电流称为光电流。 不同波长的光(兰光、红光、红外光)在光敏二极管的不同区域被吸收形成光电流。被表面P型扩散层所吸收的主要是波长较短的兰光,在这一区域,因光照产生的光生载流子(电子),一旦漂移到耗尽层界面,就会在结电场作用下,被拉向N区,形成部分光电流;彼长较长的红光,将透过P型层在耗尽层激发出电子一空穴对,这些新生的电子和空穴载流子也会在结电场作用下,分别到达N区和P区,形成光电流。波长更长的红外光,将透过P型层和耗尽层,直接被N区吸收。在N区内因光照产生的光生载流子(空穴)一旦漂移到耗尽区界面,就会在结电场作用下被拉向P区,形成光电流。因此,光照射时,流过P N结的光电流应是三部分光电流之和。 二、光敏三极管 光敏三极管和普通三极管的结构相类似。不同之处是光敏三极管必须有一个对光敏感的PN结作为感光面,一般用集电结作为受光结,因此,光敏二极管实质上是一种相当于在基极和集电极之间接有光敏二极管的普通二极管。其结构及符号如图Z0130所示。 当人射光子在基区及集电区被吸收而产生电子一空穴对时,便形成光生电压。由此产生的光生电流由基极进入发射极,从而在集电极回路中得到一个放大了β倍的信号电流。因此,光敏三极管是一种相当干将基极、集电极光敏二极管的电流加以放大的普通晶体管放大。 1、判断光敏三极管C、E极性,方法是用万用表20M电阻测试档,测得管阻小的时候红表棒端触脚为C极,黑表棒为E极。 2、暗电流测试: 按图(11)接线,稳压电源用±12V,调整负载电阻RL阻值,使光敏器件模板被遮光罩盖住时微安表显示有电流,这即是光敏三极管的暗电流,或是测得负载电阻RL上的压降V暗,暗电流LCEO=V暗/RL。(如是硅光敏三极管,则暗电流可能要小于10-9A,一般不易测出。 3、光电流测试: 缓慢地取开遮光罩,观察随光照度变化测得的光电流I光的变化情况,并将所测数据填入下表:

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