5第5章非平衡载流子 - 修改版 微电子学基础课件

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第5非平衡载流子

第5非平衡载流子

2020/5/17
7
5-2 寿命
非平衡载流子的平均生存时间称为非平衡 载流子的寿命,用符号τ表示。常称为少数 载流子寿命。
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8
5-2非平衡载流子浓度--时间的关系
设有一块受均匀光照的半导体,稳定时,半导体中非平衡载流子的浓度 为⊿n和⊿p,在t=0时光照停止,单位时间内非平衡载流子浓度的减少 应为-d⊿p(t)/dt,非平衡载流子的复合率(有时也称它为电子-空穴对的净 复合率,即单位体积内净复合消失的电子-空穴对数)应为⊿p/τ,
附加电导率⊿σ:
qnn qp p qp(n p )
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3
小注入
测量附加电导率,可以计算出 △n, △p
小注入:⊿σ<<σ0
大注入
对掺杂半导体,即使小注入,非平衡载流 于浓度还比平衡时的少数载流子浓度多得 多。因此,通常所说的非平衡载流子,一 般指非平衡少数载流子。其浓度简称少子 浓度。
热平衡时:甲=丙;乙=丁
非平衡稳态,复合中心能级Et上的电子数保持不变。稳定条件
为:
甲十丁=乙十丙
非平衡载流子的复合率U,U=甲-丙=乙-丁
得到非平衡载流子的复合率为
U Ntrnrp (np ni2 ) rn (n n1) rp ( p p1)
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当复合中心浓度很小时,复合中心积累电 子的效应就可以忽略,则⊿n=⊿p。
– 复合率R:单位时间和单位体积内复合掉的电 子-空穴对数
– 非平衡载流子:差值⊿n=n-n0,⊿p=p-p0称为 非平衡载流子。
– 过剩载流子⊿n和欠缺的载流子⊿n
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2
2.非平衡少数载流子注入及附加电导

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假定
5.1 非平衡载流子的注入与复合3
注:
(1)在小注入的情况下,非平衡少数载流子浓度可以比平衡少数 载流子浓度大得多
(2)非平衡少数载流子起重要作用,非平衡载流子都指非平衡少 数载流子
附加光电导现象
附加光电导
5.1 非平衡载流子的注入与复合4
光脉冲
t 0
间接检验非平衡少子的注入半Βιβλιοθήκη RL导0t
pNVe k0T p0e k0T nie k0T
对于n 型半导体p0<<Δp=Δn<<n0 (小注入) EFn与EF很接近,而EFp与EF可以有显著的差别
例子
5.3 准费米能级5
ECEFn
EFnEF
EFnEi
nNCe k0T n0e k0T nie k0T
EFpEV
EFEFp
令 则
复合率,即单位时间单位体积内
非平衡载流子浓度的减少,为:
5.2 非平衡载流子的寿命2
非平衡载流子的寿命,即非平衡载流子的平均生存时间为
1、非平衡少数载流子的影响处于主导、决定地位——τ即为非 平衡少数载流子寿命
2、当 t= τ 时,p()(p)0/e ,故寿命标志着非平衡载流子浓度
第5章 非平衡载流子
5.1 非平衡载流子的注入与复合 5.2 非平衡载流子的寿命 5.3 准费米能级 5.4 复合理论 5.5 陷阱效应 5.6 载流子的扩散运动 5.7 载流子的漂移扩散,爱因斯坦关系式 5.8 连续性方程式 *5.9 硅的少数载流子寿命与扩散长度
5.1 非平衡载流子的注入与复合1
减小到原值的1/e所经历的时间;寿命越短,衰减越快
3、τ: 高纯Si ≥103μs;高纯Ge≥104μs;高纯GaAs≤10-8~10-9s

第五章--非平衡载流子ePPT课件

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E Fn E F
n N ce k0T N ce k0T e k0T
E Fn E F
n0e k0T
E Fp E v
EF Ev
E F E Fp
p N ve
k0T
N ve
e k 0T
k0T
E F E Fp
p0e k0T.29E c Nhomakorabea E Fn
Ec Ei
E Fn E i
EFnEF
Ec EFn
n Nce k0T
EF Ev
pp0pp0 p0 Nve k0T
EFpEvEFEv
EFpEv
p Nve k0T
EFpEF
.
31
n型材料: EFnEF 小, E Fn 略高于EF ,
EF EFp 大, E Fp 远离EF
p型材料: EF EFp小, E Fp 略低于EF ,
第五章 非平衡载流子
§1 非平衡载流子的寿命 §2 准费米能级 §3 复合理论概要 §4 陷阱效应 §5 载流子的扩散和漂移 §6 连续性方程
.
1
基本概念
1、非平衡态 一定温度下,在外界作用下(光照、电场),
半导体载流子浓度发生变化,偏离热平衡状态, 这种状态就是非平衡状态。
.
2
2、非平衡载流子(过剩载流子)
未被电子占有的复合中心浓度复合中心的空穴浓度时热平衡的电子浓度电子产生率时热平衡的空穴浓度空穴的产生率复合中心电子积累复合中心电子减少稳定条件减少电子数目价带减少空穴数目非平衡载流子复合率稳定条件64非平衡载流子复合率1热平衡npn2非平衡npn可以忽略为深能级接近e强n型材料的非子的间接复合寿命决定于空穴俘获能力68n型材料若e最大寿命在高阻样品中寿命不多数载流子浓度成反比即不电导率成反比69小注入的强p型材料非子的寿命决定于电子俘获能力寿命在高阻样品中寿命不多数载流子浓度成反比即不电导率成反比71大注入72有效复合中心75对间接复合讨论的主要结果

第五章非平衡载流子

第五章非平衡载流子

EFp Ev K 0T
)

ni
exp(
EFp Ei K 0T
)
5.3准费米能级
因此(EFn-EF)和(EF-EFp)也可以作为对热平衡偏离大 小的量度。
np

n0
p0
exp(
EFn EFp K 0T
)

ni2
exp(
EFn EFp K 0T
)
即np与 ni2 相差的程度,或者说EFn与EFp的相差

Nc
exp(
Ec ET K 0T
)
p1

Nv
exp(
ET Ev K 0T
)
有pn00>pN1>v enx1p>(p0E,FK只0TE取v )n0,忽略其它。
'
5.1非平衡载流子的注入与复合
③电离碰撞使载流子浓度改变。
④热激发使载流子浓度改变。 这些外界作用,使平衡被破坏
f0(E) f (E)
n0 n
p0 p
△n, △p远小于多数载流子的注入叫小注入。 △n, △p接近或大于多数载流子的注入叫大注入
5.1非平衡载流子的注入与复合
5.1非平衡载流子的注入与复合
rn电子俘获系数,是温度的函数
S
电子激发几率,是温度的函数
n
rp空穴俘获系数
S
空穴激发几率
p
5.4复合理论
热平衡时
n n0 p p0 nt nt0 Rn0 Gn0 rn (Nt nt0 )n0 Sn nt0 Rp0 G p0 rp p0nt0 S p (Nt nt0 )
光照使半导体产生非平衡载流子

第五章 非平衡载流子

第五章  非平衡载流子

第五章 非平衡载流子
例: 1Ω·cm 的 n 型 硅 中 , n0≈5.5×1015cm-3, p0≈3.1×104cm-3 注 入 非 平 衡 载 流 子 △n=△p=1010cm-3 , △n《n0,是小注入。 △p约是p0的106倍,即△p》 p0 。
●在小注入的情况下,非平衡少数载流子浓度还是
第五章 非平衡载流子
复合率R(复合速率)有如下形式
R=rnp (5-12)
比例系数r称为电子-空穴复合概率(直接复合系数)。
产生率=G
(5-13)
G仅是温度的函数,与n、p无关。
第五章 非平衡载流子
讨论热平衡情况。
产生率必须等于复合率。此时n=n0,p=p0, 就得到G和r的关系
G rn0 p0 rni2
引入 导带费米能级 准费米能级 价带费米能级
电子准费米能级(EFn) 空穴准费米能级(EFp)
第五章 非平衡载流子
引入准费米能级,非平衡状态下的载流 子浓度用与平衡载流子浓度类似公式表达
EC EFn n NC exp( ) k0T EFp EV p NV exp( ) k0T
第五章 非平衡载流子
在非平衡状态时,总是多数载流子的准费米 能级和平衡时的费注能级偏离不多,而少载流子
的准费米能级则偏离很大。
第五章 非平衡载流子
EC EFn EFn EF EFn Ei n NC exp( ) n0 exp( ) ni exp( ) k0T k0T k0T EFp EV EF EFp Ei EFp p N v exp( ) p0 exp( ) ni exp( ) k0T k0T k0T (5 10)
G0=R0

《半导体物理学》【ch05】 非平衡载流子 教学课件

《半导体物理学》【ch05】 非平衡载流子 教学课件

复合理论
1 直接复合——电子在导带和价带之间的直接跃迁, 引起电子和空穴的直接复合。
间接复合电子和空穴通过禁带的能级(复合中心)进行复合。根据间接复合过程发生的位置,又可以把
2 它分为体内复合和表面复合。载流子复合时, 一定要释放出多余的能量。放出能量的方法有三种:
1.发射光子,伴随着复合,将有发光现象,常称为发光复合或辐射复合; 2.发射声子,载流子将多余的能量传给晶格,加强晶格的振动; 3.将能量给予其他载流子,增大它们的动能,称为俄歇(Auger)复合。
集成电路科学与工程系列教材
第五章
非平衡载流子
半导体物理学
01
非平衡载流子 的注入与复合
非平衡载流子的注入与复合
处于热平衡状态的半导体在一定温度下,载流子浓度是一定的。这种处于热平衡状态下的载流子浓度, 称为平衡载流子浓度,前面各章讨论的都是平衡载流子。用no 和po分别表示平衡电子浓度和空穴浓 度,在非简并情况下,它们的乘积满足下式
当外界的影响破坏了热平衡,使半导体处于非平衡状态时,就不再存在统一的费米能级,因为前 面讲的费米能级和统计分布函数都指的是热平衡状态。事实上,电子系统的热平衡状态是通过热 跃迁实现的。在一个能带范围内,热跃迁十分频繁,在极短时间内就能形成一个能带内的热平衡。 然而, 电子在两个能带之间,例如,导带和价带之间的热跃迁就稀少得多,因为中间还隔着禁带。
非平衡载流子的注入与复合
最后, 载流子浓度恢复到平衡时的值,半导体又回到平衡态。由此得出结论,产生非平衡载流子的外 部作用撤除后,半导体的内部作用使它由非平衡态恢复到平衡态,过剩载流子逐渐消失。这一过程称为 非平衡载流子的复合。 然而,热平衡并不是一种绝对静止的状态。就半导体中的载流子而言,任何时候电子和空穴总是不断地 产生和复合, 在热平衡状态,产生和复合处于相对的平衡,每秒钟产生的电子和空穴数目与复合的数 目相等,从而保持载流子浓度稳定不变。 当用光照射半导体时,打破了产生与复合的相对平衡,产生超过了复合,在半导体中产生了非平衡载流 子, 半导体处于非平衡态。

第五章非平衡载流子

第五章非平衡载流子
0
故附加光电导: =nqn +pqp=nq n +p
10
3. 准费米能级 ( Quasi-Fermi Level )
费米分布函数来描述是用来描述平衡状态下的电子按能 级的分布的。也即只有平衡状态下才可能有“费米能级”
热平衡电子系统有统一的费米能级
11
对于热平衡状态下的非简并系统,有:
对于
n型材料(n0>>p0),则有 1 r n0
结论: 在小注入下,当温度和掺杂一定时,寿命是一个 常数。寿命与多数载流子浓度成反比,即电导率 越高,寿命越短。
36
(2) 大注入条件下,即 p n0 p0 1 rp
结论 :寿命不再是常数,依赖于非平衡载流子浓度
理论计算获得室温下本征硅和锗的参数为:
行的复合。
38
(1) 间接复合的四个微观过程:
甲:俘获电子。复合中心能级从导带俘获一个电子; 乙:发射电子。复合中心能级上的电子被激发到导带;(甲的逆过程) 丙:俘获空穴。电子由复合中心落入价带与空穴复合。 丁:发射空穴。价带电子被激发到复合中心能级。(丙的逆过程)
甲乙 丙丁
甲乙 丙丁
过程前
过程后
* 平衡态与非平衡态间的转换过程:
热平衡态: 产生率等于复合率,△n=0; 外界作用: 非平衡态,产生率大于复合率,△n增大; 稳定后: 稳定的非平衡态,产生率等于复合率,△n不变; 撤销外界作用:非平衡态,复合率大于产生率,△n减小; 稳定后: 初始的热平衡态(△n=0)。
8
2. 非平衡载流子的检验——光电导
,
非平衡载流子浓度n p 1010 cm3
则 n n0 而p p0
n p
n0 p0
n p
n0 5.51015cm3 p 1010 cm3

5第5章非平衡载流子 - 修改版 微电子学基础课件

5第5章非平衡载流子 - 修改版 微电子学基础课件

公式简化后分析:例如:
1,对n型半导体,n0>>p0。由于有效的 复合中心都是深能级,所以n1和p1是比 较小的。在小注入条件下,⊿n、
p
1
N t p
⊿p<<n0,
5,在大注入条件下,⊿n=⊿p>>n0、p0、 n1、p1,
1 Ntrn
1 Ntrp
n
p
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§5-4 复合理论
2,间接复合--少子寿命讨论
2020/7/2
6
§5-2 非平衡载流子寿命
非平衡载流子的平均生存时间称为非平衡
载流子的寿命,用符号τ表示。常称为少数
载流子寿命。少子寿命τ。
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7
§5-2 非平衡载流子寿命
非平衡载流子浓度—时间的关系
设有一块受均匀光照的半导体,稳定时,半导体中 非平衡载流子的浓度为⊿n和⊿p,在t=0时光照停 止,单位时间内非平衡载流子浓度的减少应为d⊿p(t)/dt 非平衡载流子的复合率(有时也称它为电子-空穴对 的净复合率,即单位体积内净复合消失的电子-空 穴对数)应为⊿p/τ
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§5-6 载流子的扩散运动
均匀掺杂的半导体,平衡时 体内的载流子是均匀分布的 通常非平衡载流子在半导体 材料内的浓度是不均匀的 (例如光照射一块均匀掺杂 半导体表面时) 浓度梯度:指单位距离内的 浓度差。 即d⊿p(x)/dx
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Sp(x)dpFra bibliotekx) dx§5-6 载流子的扩散运动
R=rnp 式中r称为复合系数,和温度有关。
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§5-4 复合理论
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d 2n(x) n(x)
Dn
dx2
n
(4-69)
非平衡电子浓度沿扩散方向的分布规律为
x
n(
x)
(n)0
exp
Ln
(4-70)
式中 Ln Dnn 为非平衡电子的扩散长度。
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§5-6 载流子的扩散运动
3,扩散电流
扩散电流密度: 因 为 电 子 和 空 穴 都 是 带 电 粒 子 ,所 以 它 们 的 扩 散 运 动 必 然 伴 随 着 电 流 的 出 现 ,形 成 扩 散 电 流 。空 穴的扩散电流密度为
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Sp
(x)
dp(x) dx
§5-6 载流子的扩散运动
1. 非平衡载流子的扩散运动
扩散流密度:单位时间通过垂直于x轴的单位面积 的载流子数, 用S表示。Sp表示空穴扩散流密度 。 扩散系数D :在单位浓度梯度下、单位时间内通 过单位面积的空穴数目。 (分别用Dp和Dn表示空 穴和电子的扩散系数),单位是cm2·s-1, 负号:表示载流子是从浓度高处向浓度低处扩散, 也就是逆浓度梯度的方向扩散。
§5-4 复合理论
直接复合:导带中的电子直接从导带跃迁到价带 与空穴复合,使一对电子空穴消失的复合。 间接复合:导带中的电子通过位于禁带中的能级 的复合
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§5-4 复合理论
1. 直接复合-推导
以G0表示热平衡时的产生率,以R0表示热平衡时 的复合率,显然在热平衡时有G0=R0
J p _ kuo
qD p
d p(x) dx
(4 -7 1 )
电子的扩散电流密度为
J n _ kuo
qDn
d n(x) dx
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§5-6 载流子的扩散运动
3,扩散电流:三维情况
在稳定情况下,三维空间的稳态扩散方程为
D p 2(p)
p p
(4-73)
Dn 2(n)
26
§5-4 复合理论
2,间接复合--少子寿命讨论
– 实际应用举例:金 – 一种杂质引入了多个复合中心能级 – 浅能级,深能级 – 有效复合中心的概念 – 俘获截面
表面复合 俄歇复合* 5-5 陷阱效应*
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第5章非平衡载流子
§5-1非平衡载流子的注入与复合
§5-2 非平衡载流子的寿命
§5-6载流子的扩散运动
§5-7载流子的漂移运动+爱因斯坦关系式
§ 5-8连续性方程 式
§ 5-9硅的少数载流子寿命与扩散长度
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2
§5-1 非平衡载流子
1.非平衡态和非平衡载流子
– 产生和复合 – 产生率Q :单位时间和单位体积内所产生的电
子-空穴对数 – 复合率R:单位时间和单位体积内复合掉的电
第5章 非平衡载流子
主要内容
非平衡载流子的一些基本性质及其运 动规律。
– 光敏电阻 – 半导体二极管的整流作用 – 晶体管的放大作用 – 光电和发光现象
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1
第5章非平衡载流子
§5-1非平衡载流子的注入与复合
§5-2 非平衡载流子的寿命
§5-3 准费米能级
§5-4 复合理论
§5-5陷阱效应
空穴的复合率: ⊿P(X) / τp
稳定扩散:在恒定光照下,非平衡载流子的浓度在半导体 内的分布应不随时间变化,形成稳定的分布,这种情况称 为稳定扩散。 (积累=复合) 稳态扩散方程:在稳定情况下,空穴的积累率应等于单位 时间在同一体积内因复合而消失的空穴数,
稳态扩散方程 :
d2p(x) p(x)
Dp
1. 直接复合--少子寿命讨论
结论: 1,在小注入条件下,当温度和渗杂一定时, 寿命τ是一个常数。
2,在大注入条件下,寿命与非平衡载流子浓 度成反比,而与平衡载流子浓度无关。
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§5-4 复合理论
2. 间接复合
非平衡载流子通过禁带中的杂质和缺陷能级进行 的复合叫做间接复合
对非平衡载流子的复合起促进作用的杂质和缺陷 叫做复合中心。
p n
(4-74)
相应的空穴扩散电流密度和电子扩散电流密度为
J p _ kuo qD p ( p ) (4-75)
J n _ kuo qD n ( p ) (4-76)
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§5-4 复合理论
2. 间接复合
当复合中心浓度很小时,复合中心积累电 子的效应就可以忽略,则⊿n=⊿p。
U Ntrnrp(n0pp0pp2) rn(n0n1p)rp(p0p1p)
prn(n0n1 p)rp(p0p1 p)
U
N trnrp(n0p0 p)
非平衡态稳态,即当产生与复合达到了新的动态平 衡,有产生率G=复合率R
R=rnp 式中r称为复合系数,和温度有关。
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§5-4 复合理论
1. 直接复合-推导
热平衡时: R0=rn0p0 G0=rn0p0
当光照停止后,净复合率 U=R-G = R-G0
Ur(npni2)
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复合中心能级越接近禁带中央,促进复合的作用 也就越强。
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§5-4 复合理论
2. 间接复合
1:电子由导带落入空的复合中心能级,称为复合中心俘获电子的过程。 2:电子由复合中心被激发到导带(1的逆过程),称为发射电子过程。 3:电子由复合中心能级落入价带与空穴复合,称为复合中心俘获空穴的过程。 4:电子由价带被激发到空的复合中心能级(3的逆过程),称为发射空穴过程。
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§5-4 复合理论
2. 间接复合
复合中心的浓度为Nt, 复合中心能级Et上的电子浓 度为nt
1:电子俘获率=rnn(Nt-nt) (rn是电子俘获系数)
2:电子产生率=s-nt
(s-称为电子激发几率,温度一定,值就确定)
3:空穴俘获率=rppnt
(rp为空穴俘获系数)
4:空穴产生率=s+(Nt-nt)
导带和价带之间是不平衡的,表现在描述导带中 电子分布的费米能级和描述价带中空穴分布的费 米能级不相同。通常称它们为准费米能级。
电子准费米能级EFn,空穴准费米能级EFp。 非平衡状态下的载流子浓度可表示为
nN cexp E ck 0 T E F n n iexp E ik 0 T E F n
§5-4 复合理论
§ 5-5陷阱效应
§5-6载流子的扩散运动
§5-7载流子的漂移运动+爱因斯坦关系式
§ 5-8连续性方程 式
§ 5-9硅的少数载流子寿命与扩散长度
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§5-6 载流子的扩散运动
1,非平衡载流子的扩散运动和空穴的扩散 运动分析
– 1)扩散流密度,扩散定律,稳态扩散方程和 扩散长度 ,
– 2)稳态扩散方程的解:厚样品和薄样品
2,电子的扩散方程 3,扩散电流 4,电流密度: 三维情况和探针注入
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30
§5-6 载流子的扩散运动
均匀掺杂的半导体,平衡时 体内的载流子是均匀分布的 通常非平衡载流子在半导体 材料内的浓度是不均匀的 (例如光照射一块均匀掺杂 半导体表面时) 浓度梯度:指单位距离内的 浓度差。 即d⊿p(x)/dx
非平衡状态半导体不再存在统一的费米能级。半 导体系统处于一种准平衡态。
n=n0+ △n
n0 ni exp(Eik0TEF)
p0
ni
exp(Ei EF k0T
)
n0 p0 ni2
nn0nniexp(Eik 0TEF)
pp0pniexp(Eik 0TEF)
np
n
2 i
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§5-3 准费米能级
U
N trnrp(n0p0 p)
公式简化后分析:例如:
1,对n型半导体,n0>>p0。由于有效的 复合中心都是深能级,所以n1和p1是比 较小的。在小注入条件下,⊿n、
p
1
N t p
⊿p<<n0,
5,在大注入条件下,⊿n=⊿p>>n0、p0、 n1、p1,
1 Ntrn
1 Ntrp
n
p
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dp(t) dt
p(t)
t
p(t) Cexp( )
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§5-2 非平衡载流子寿命
非平衡载流子浓度—时间的关系
设t=0时,⊿p(0)=(⊿p)0, 代入上式得C=(⊿p) 0
t
p(t)(p)0exp()
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§5-2 非平衡载流子寿命-结论
结论
– 1,非平衡载流子的复合与它们的寿命有关。τ 的值愈大,表明非平衡载流子复合得愈慢;
dp(x) Sp(x) dx
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dp(x) Sp(x)Dp dx
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1,非平衡载流子的扩散运动和扩散电流3
空穴积累率 : 单位时间单位体积中积累的非平衡载流于 的数目。 即⊿x间隔内非平衡载流子的积累率
lx im 0 S p (x ) S p x (x x ) d S d p x (x ) D pd 2 d x p 2 (x )
2020/9/30
6
§5-2 非平衡载流子寿命
非平衡载流子的平均生存时间称为非平衡
载流子的寿命,用符号τ表示。常称为少数
载流子寿命。少子寿命τ。
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