奥氏体晶粒度测定
奥氏体晶粒显示及晶粒度的测定教程文件

奥氏体晶粒显示及晶粒度的测定教程文件一、奥氏体晶粒显示在金相显微镜下观察金属材料的组织时,为了研究材料的奥氏体晶粒大小、形态和分布等性质,需要加入化学试剂,在经过水洗、酸洗、水洗,烘干后进行显微观察。
下面我们分别介绍样品制备和观察方法。
1、样品制备(1)磨削和抛光使用砂纸或研磨布对试样进行磨削,先铁氧化活化,主要是为了去除表面的薄层氧化物,使其表面平整。
然后使用了150目或200目的砂纸或研磨布进行磨削,直到表面平整,再使用2000目或2500目的研磨布进行抛光,获得较好的光洁度,以便于金相显微镜下观察。
(2)腐蚀将试样放入腐蚀试液中,试液可以是: 3%硝酸、酸化硼酸、 5%氢氟酸等。
腐蚀时间要控制在合适的范围内,通常为数秒至数分钟不等。
腐蚀后同时进行多次水清洗,水清洗时间要较久,以保证清洗干净。
2、观察方法奥氏体晶粒可以使用显微镜在金相台下观察,需要放上阳极片,在显微镜的镜片下方插上相片插座,然后可以通过目镜和物镜来观察晶粒。
A型奥氏体晶粒:这类晶粒不容易出现孪晶现象,其晶界比较清晰。
颜色为深褐色至浅金色。
B型奥氏体晶粒:这类晶粒通常呈孪生晶形,晶粒内部存在胞状结构。
颜色较明亮,为浅金黄色。
C型奥氏体晶粒:这类晶粒属于低温下形成,一般在0-280℃的温度区间内。
其晶界不太清晰,常出现位错带。
颜色为深褐色。
奥氏体晶粒度是指材料中奥氏体晶粒大小的评价指标。
其测量方法一般是使用线条法或图像处理软件测量。
1、线条法该方法是通过金相显微镜下的目镜标尺或物镜标尺来测量晶粒大小。
研究者需要在显微镜下调整放大倍率和焦距,找到研究对象后,在其表面划出多条等距离的线条,然后统计跨过线条的晶粒个数,并计算平均直径,从而得到晶粒度的值。
2、图像处理软件测量该方法是通过数字化镜头在计算机中对图像进行处理,并通过软件计算晶粒大小的方法。
具体步骤为:将样品放在金相台下,通过数字化摄像机记录图像,然后将图像传入计算机中,并通过图像处理软件选取研究目标进行分析。
实验一钢的奥氏体晶粒度的测定及评级方法

实验一钢的奥氏体晶粒度的测定及评级方法摘要:本实验旨在通过显微镜观察和图像分析的方式测定一钢的奥氏体晶粒度,并采用标准评级方法对其进行评级。
实验结果表明,通过合理的样品制备和图像分析方法,可以准确测定奥氏体晶粒度,并通过评级方法将其进行评级。
引言:奥氏体晶粒度是金属材料中晶粒大小的衡量指标之一,对于材料的力学性能和耐热性能具有重要影响。
因此,测定和评级奥氏体晶粒度对于材料性能的研究和工程应用具有重要意义。
实验方法:1.样品制备选取一段一钢材料,先将样品磨平,并在样品表面涂抹腐蚀剂。
然后,使用电火花线切割机将样品切割成所需形状。
最后,使用金相切割机将样品用金相样品片尺寸切割成标准形状,并用细砂纸进行打磨,去除表面氧化层。
2.显微镜观察将样品片放置在显微镜台上,使用透射式显微镜观察样品表面奥氏体晶粒的形态和大小。
注意调节合适的亮度和对比度,以获得清晰的图像。
3.图像采集和处理使用数字相机或显微相机采集样品的显微镜图像,并导入计算机进行图像处理和分析。
使用图像处理软件测量奥氏体晶粒的尺寸和数量。
4.奥氏体晶粒度的测定通过图像分析软件,测定每个奥氏体晶粒的尺寸,并计算其平均晶粒尺寸。
可以使用线性拟合或直方图分析等方法进行晶粒尺寸的测定。
5.奥氏体晶粒的评级根据国际标准或相关材料研究的评级标准,将测得的奥氏体晶粒尺寸进行评级。
根据研究要求,可以分为优等级、良好级、及格级和不及格级等。
结果与讨论:经过以上实验步骤,获得了一钢材料的奥氏体晶粒的显微镜图像。
通过图像处理软件测定了奥氏体晶粒的尺寸,并计算得到其平均晶粒尺寸。
根据国际标准,将测得的奥氏体晶粒尺寸进行评级,并给予相应的等级。
结论:本实验通过显微镜观察和图像分析的方法准确测定了一钢材料的奥氏体晶粒大小,并根据评级标准对其进行了评级。
实验结果表明,通过合理的样品制备和图像分析方法,可以准确测定奥氏体晶粒度,并通过评级方法将其进行评级。
1.杨文宇,张书宇,李涵。
原始奥氏体晶粒度的测定

原始奥氏体晶粒度的测定奥氏体是一种常见的金属组织,具有良好的力学性能和耐磨性。
奥氏体的晶粒度对于金属材料的性能有着重要的影响。
因此,准确测定奥氏体的晶粒度对于研究材料的性能和应用具有重要意义。
测定奥氏体的晶粒度可以采用多种方法,其中最常用的是线性拦截法和金相显微镜法。
下面将分别介绍这两种方法的原理和操作步骤。
线性拦截法是一种简单而有效的测定奥氏体晶粒度的方法。
其原理是通过在金相显微镜下观察金属组织的截面,利用线性拦截法测量奥氏体晶粒的线性尺寸,然后根据晶粒形状的假设计算出晶粒度。
具体操作步骤如下:1. 制备金属材料的截面样品。
首先将金属材料切割成所需的尺寸,并将其研磨和抛光,使其表面光滑。
2. 在金相显微镜下观察样品的截面。
调整显微镜的焦距和放大倍数,找到奥氏体晶粒的清晰边界。
3. 在奥氏体晶粒的边界上放置一条线性尺寸,如一条刻度尺或一条直线。
4. 在显微镜下测量线性尺寸。
使用显微镜的目镜和物镜,测量线性尺寸的长度。
5. 重复测量多个奥氏体晶粒的线性尺寸。
为了提高测量结果的准确性,可以在样品的不同位置和不同方向上进行多次测量。
6. 计算奥氏体晶粒的平均线性尺寸。
将测量得到的线性尺寸求平均值,即可得到奥氏体晶粒的平均线性尺寸。
7. 根据晶粒形状的假设计算奥氏体晶粒度。
根据奥氏体晶粒的假设形状,如球形或立方形,使用相应的公式计算奥氏体晶粒度。
金相显微镜法是另一种常用的测定奥氏体晶粒度的方法。
其原理是利用金相显微镜的高分辨率观察奥氏体晶粒的形状和大小。
具体操作步骤如下:1. 制备金属材料的金相显微镜样品。
首先将金属材料切割成所需的尺寸,并将其研磨和抛光,使其表面光滑。
2. 在金相显微镜下观察样品。
调整显微镜的焦距和放大倍数,找到奥氏体晶粒的清晰边界。
3. 使用金相显微镜拍摄奥氏体晶粒的图像。
将奥氏体晶粒的图像保存下来,以备后续的测量和分析。
4. 在图像上测量奥氏体晶粒的尺寸。
使用图像处理软件,测量奥氏体晶粒的尺寸和形状参数,如面积、周长和等效直径。
奥氏体晶粒度测定

实验 钢的奥氏体晶粒度的测定在钢铁等多晶体金属中,晶粒的大小用晶粒度来衡量,其数值可由下式求出:12-=N n式中:n —显微镜放大100倍时,6.45cm 2 (1in 2) 面积内晶粒的个数。
N —晶粒度奥氏体晶粒的大小称奥氏体晶粒度。
钢中奥氏体晶粒度,一般分为1~8等8个等级。
其中1级晶粒度晶粒最粗大,8级最细小(参看YB27—64)。
奥氏体晶粒的大小对以后冷却过程中所发生的转变以及转变所得的组织与性能都有极大的影响。
因此,研究奥氏体晶粒度的测定及其变化规律在科学研究及工业生产中都有着重要的意义。
一、奥氏体晶粒度的一般概念奥氏体晶粒按其形成条件不同,通常可分为起始晶粒、实际晶粒与本质晶粒三种,它们的大小分别以起始晶粒度,实际晶粒度与本质晶粒度等表示。
1、起始晶粒度在临界温度以上,奥氏体形成刚刚结束时的晶粒尺寸,称起始晶粒度。
起始晶粒度决定于奥氏体转变的形核率(n )及线生长速度(c )。
每一平方毫米面积内奥氏体晶粒的数目N 与n 及c 的关系为2101.1⎪⎭⎫⎝⎛=c n N由上式可知,若n 大而c 小,则起始晶粒就细小。
若n 小而c 大则起始晶粒就粗大。
在一般情况下n 及c 的数值决定于原始组织的形态和弥散程度以及加热时的加热速度等因素。
由于在珠光体中存在着大量奥氏体形核部位,n 极大。
故奥氏体的起始晶粒总是比较细小的。
如果加热速度快,则转变被推向高温,奥氏体起始晶粒将更加细化。
这是因为,随着加热速度的增大和转变温度的升高,虽然形核n 和c 都增大,但n 比c 增加的幅度更大。
表1—6示出钢在加热时,奥氏体的n 与c 数值与加热温度的关系,由表1—6中的数据可知。
相变温度从740℃提高到800℃时n 增大280倍而c 仅增加40倍。
表1—6 奥氏体形核(n )和线生长速度(c )与温度的关系应当指出,奥氏体起始晶粒随加热速度的增大而细化的现象,只是在加热速度不太大时比较明显。
当加热速度很大时起始晶粒不再随之细化(见表1—7)表1—7 加热速度对起始奥氏体晶粒大小的影响这可能是由于在快速加热时,转变被推向高温(大于800℃),奥氏体的核不仅可以在铁素体与渗碳体的交界面上形成,而且可以在铁素体晶粒内嵌镶块的边界上形成。
原始奥氏体晶粒度的测定

原始奥氏体晶粒度的测定奥氏体是一种重要的金属组织结构,在金属材料的加工和性能中起着重要的作用。
奥氏体的晶粒度是指奥氏体晶粒的尺寸和分布情况,对材料的力学性能、耐热性、耐腐蚀性等起着重要的影响。
因此,准确测定奥氏体晶粒度对于材料的研究和应用具有重要意义。
奥氏体晶粒度的测定方法有很多种,常用的方法包括金相显微镜法、电子显微镜法、X射线衍射法等。
其中,金相显微镜法是最常用的一种方法。
下面将详细介绍金相显微镜法测定奥氏体晶粒度的步骤和注意事项。
样品的制备非常关键。
样品应该是金相试样或金属材料的切片样品。
样品制备步骤包括材料的切割、打磨、精磨和抛光等。
切割要求刀口平整,打磨要求逐渐细磨,抛光要求表面光洁度高。
样品制备完毕后,可以进行金相试样的腐蚀处理,以显现奥氏体组织。
使用金相显微镜观察样品。
金相显微镜是一种特殊的显微镜,它可以对金属材料进行放大观察。
观察时,首先选择适当的倍数,使样品中的晶粒清晰可见。
然后,通过调节焦距和光源亮度,进一步优化观察效果。
观察时应注意避免光源干扰和镜头污染,以确保观察结果的准确性。
在观察奥氏体晶粒时,需要一定的经验和技巧。
奥氏体晶粒通常呈现出多边形或等轴状,大小不一。
观察时可以选择一些具有代表性的晶粒进行测量。
通过调节显微镜的焦距和光源亮度,可以清晰地观察到晶粒的边界和形状。
在观察过程中,应尽量避免晶粒的重叠和遮挡,以确保测量结果的准确性。
测量奥氏体晶粒的尺寸可以使用显微镜配备的目镜尺度或图像分析软件进行。
在使用目镜尺度测量时,需要将样品放在显微镜下,通过目镜尺度直接测量晶粒的大小。
在使用图像分析软件测量时,需要将样品放在显微镜下,将显微镜与计算机连接,并通过软件分析晶粒的图像,测量晶粒的大小和分布。
测量奥氏体晶粒的分布情况可以使用统计学方法进行。
常用的统计学方法包括平均晶粒尺寸、晶粒大小分布曲线等。
通过对多个样品的测量数据进行统计分析,可以获得奥氏体晶粒的平均尺寸和尺寸分布,进一步了解材料的晶体结构和性能。
钢的晶粒度测定

一、实验目的 熟悉奥氏体晶粒度的显示 和实际晶粒大小的测定。
二、实验原理 (一)、晶粒显示方法 1、铁素体钢的奥氏体晶粒度 1)、渗碳法 渗碳钢采用渗碳法显示奥氏 体晶粒度。
渗碳层的过共析区的奥氏体晶界析出的渗碳体网 100X
2)、网状铁素体法 含碳0.25~0.60%的碳 钢,含碳0.25~050%的合金钢。
20钢 退火 100X
3)、氧化法 含碳0.35~0.60%的碳钢和 合金钢。
)、直接淬火硬化法 含碳量小于或等于0.35的 钢样。经热处理后,显示出完全 淬硬为马氏体的原始奥氏体晶粒 形貌。
4
25钢
900℃加热 保温1h 淬火马氏体
5)、网状渗碳体法 过共析钢(一般含碳大于 1.00%的碳钢),如没有特别规 定,均在820+10℃下加热。至 少保温30分钟,以足够缓慢的速 度随炉冷却至低于临界温度以 下,使奥氏体晶界上析出渗碳体 网。
30CrMnTi 原始奥氏体晶粒
(三)、晶粒度的数值表示 晶粒度表示法常分两种 1、优势表示法 如果优势晶粒度占视场90%以上,即可写成一种晶 粒度,如果测量的混合晶粒度,占优势的级别写在前 面,如7-8级,7-5级,表示占优势的晶粒度级别为7级。 2、综合表示法 晶粒度评定取5~10个,平均晶粒度级别可有下式 计算 m=∑ab/∑b 其中 m——平均晶粒度 a——各视场中的晶粒度级别 b——视场数
(二)、晶粒度的测定方法 1、比较法 比较法是通过与晶材料或铸态材料。
标准评级图
2、弦计算法 先将待测试样选择有代表性的部位置于100X下观察,当晶 粒过大或过小时,倍数可适当缩小或放大,使视场内直径上不 少于50个晶粒为限。 用所测量目镜上选择出几条足够长的线段(长度相等), 数出直线截的晶粒总数,线段端部未被完成交截的晶粒应按一 个晶粒计算,然后按下列计算弦的平均长度,查表确定晶粒度 级别。 d=nL/ZM 式中 d——弦的平均长度 n——线段条数,一般3条 L——每条线段长度(mm),一般取50mm Z——相截晶粒总数 M——放大倍数
实验一 钢的奥氏体晶粒度的测定及评级方法

实验一钢的奥氏体晶粒度的显示与测定一.实验目的1.熟悉钢的奥氏体晶粒度的显示与测定的基本方法。
学习利用物镜测微尺标定目镜测微尺和毛玻璃投影屏刻度格值。
通过它们间的关系到确定显微镜物镜和显微镜的线放大倍数。
2.熟悉钢在加热时,加热温度和保温时间对奥氏体晶粒大小的影响。
3.测定钢的实际晶粒度。
用直接计算法和弦计算法测量晶粒大小。
用比较法评定晶粒度级别。
二.实验原理金属及合金的晶粒大小与金属材料的机械性能、工艺性能及物理性能有密切的关系。
细晶粒金属的材料的机械性能、工艺性能均比较好,它的冲击韧性和强度都较高,在热处理和淬火时不易变形和开裂。
粒晶粒金属材料的机械性能和工艺性能都比较差,然而粗晶粒金属材料在某些特殊需要的情况下也被加以使用,如永磁合金铸件和燃汽轮机叶片希望得到按一定方向生长的粗大柱状晶,以改善其磁性能和耐热性能。
硅钢片也希望具有一定位向的粗晶,以便在某一方向获得高导磁率。
金属材料的晶粒大小与浇铸工艺、冷热加工变形程度和退火温度等有关。
晶粒尺寸的测定可用直测计算法。
掌握了这种方法也可对其它组织单元长度进行测定,如铸铁中石墨颗粒的直径;脱碳层深度的测定等。
某些具有晶粒度评定标准的材料,可通过与标准图片对比进行评定。
这种方法称为比较法。
1.奥氏体晶粒度的显示钢在临界温度以上直接测量奥氏体晶粒大小比较困难的,而奥氏体在冷却过程中将发生相变。
一般采用间接的方法显示其原奥氏体晶界,以测定奥氏体晶粒大小。
根据GB6394-86规(4)网状渗碳体法适用于含碳量大于1.0%的过共析钢的奥氏体晶粒度。
方法是:将试样在930±10℃(或特定的温度)下加热保温40min以上(或特定的时间)后以缓慢的速度冷却冷却到600℃,在过共析钢的奥氏体晶界上析出网状渗碳体,以此来显示奥氏体晶粒形貌与大小。
经上述热处理的试样抛光后,应使用硝酸或苦味酸酒精溶液腐蚀。
图1 过共析钢的状渗碳体(×100)在经上述方法之一制备的金相试样上,即可进行奥氏体晶粒度的测定。
奥氏体晶粒度的测定

奥氏体晶粒度的测定奥氏体晶粒度是指奥氏体晶粒的尺寸大小,是衡量金属材料显微组织中晶粒细小程度的参数之一。
奥氏体晶粒度的测定对于金属材料的性能和应用具有重要意义。
本文将介绍奥氏体晶粒度的测定方法和其在材料科学中的应用。
一、奥氏体晶粒度的测定方法1. 金相显微镜法金相显微镜法是一种常用的测定奥氏体晶粒度的方法。
首先,将待测材料的试样进行金相制备,即将试样进行机械研磨、腐蚀和抛光处理,然后在金相显微镜下观察试样的显微组织。
通过显微镜观察,可以直接测量奥氏体晶粒的尺寸,进而计算出奥氏体晶粒的平均尺寸。
2. 电子显微镜法电子显微镜法是一种高分辨率的测定奥氏体晶粒度的方法。
通过电子显微镜观察试样的显微组织,可以得到更精确的奥氏体晶粒尺寸。
电子显微镜法主要有透射电子显微镜和扫描电子显微镜两种。
透射电子显微镜可以观察材料的晶格结构,进而测量奥氏体晶粒的尺寸;扫描电子显微镜则可以获得材料表面的形貌信息,从而间接推断奥氏体晶粒的尺寸。
3. X射线衍射法X射线衍射法是一种非破坏性的测定奥氏体晶粒度的方法。
通过照射待测材料,利用X射线的衍射现象,可以得到奥氏体晶粒的晶格参数,从而计算出晶粒的尺寸。
X射线衍射法具有快速、准确和非破坏性的优点,适用于大批量材料的晶粒度测定。
二、奥氏体晶粒度的应用1. 材料性能评估奥氏体晶粒度是衡量金属材料显微组织细小程度的重要参数之一。
晶粒尺寸的大小会对材料的力学性能、耐磨性、耐腐蚀性等产生影响。
通过测定奥氏体晶粒度,可以评估材料的细晶化程度,从而预测材料的性能。
2. 热处理优化热处理是通过控制材料的加热和冷却过程,改变材料的显微组织和性能的一种方法。
奥氏体晶粒度的测定可以帮助优化热处理工艺,选择合适的加热温度和冷却速率,以获得细小的奥氏体晶粒和优良的性能。
3. 材料的晶界工程晶界是相邻晶粒之间的界面区域,对材料的力学性能和导电性能具有重要影响。
奥氏体晶粒度的测定可以为材料的晶界工程提供基础数据。
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奥氏体晶粒氏体是碳在γ-Fe中的间隙固溶体,具有面心立方结构。
由于体积因素的限制(碳原子半径为0.077nm,而γ-Fe晶体结构的最大间隙即八面体间隙半径为0.053nm),碳在γ-Fe 中的最大固溶度只有2.11%(质量分数)。
[1]中文名奥氏体晶粒外文名austenite grain意义钢在奥氏体化时所得到的晶粒尺寸奥氏体晶粒度▪分类▪显示方法▪测定方法▪影响因素奥氏体晶粒(austenite grain)钢在奥氏体化时所得到的晶粒。
此时的晶粒尺寸称为奥氏体晶粒度。
分类奥氏体晶粒有起始晶粒、实际晶粒和本质晶粒3种不同的概念。
(1)起始晶粒。
指加热时奥氏体转变过程刚刚结束时的晶粒,此时的晶粒尺寸称为奥氏体起始晶粒度。
(2)实际晶粒。
指在热处理时某一具体加热条件下最终所得的奥氏体晶粒,其尺寸大小即为奥氏体实际晶粒度。
(3)本质晶粒。
指各种钢加热时奥氏体晶粒长大的倾向,晶粒容易长大的称本质粗晶粒,晶粒不易长大的称本质细晶粒。
通常在实际金属热处理条件下所得到的奥氏体晶粒大小,即为该条件下的实际晶粒度,而一系列实际晶粒度的测得即表示出该钢材的本质晶粒度。
据中国原冶金工业部标准YB27—77规定,测定奥氏体本质晶粒度是将钢加热到930℃,保温3~8h后进行。
因此温度略高于一般热处理加热温度,而相当于钢的渗碳温度,经此正常处理后,奥氏体晶粒不过分长大者,即称此钢为本质细晶粒钢。
显示方法绝大部分钢的奥氏体只是在高温下才是稳定的。
因此欲测定奥氏体晶粒就得设法将高温状态奥氏体轮廓的痕迹在室温下显示出来,常用的显示奥氏体晶粒的方法可归纳为渗入外来元素法、化学试剂腐蚀法和控制冷却速度法3种。
(1)渗入外来元素法。
如渗碳法和氧化法,是利用奥氏体晶界优先形成渗碳体和氧化亚铁等组成物,形成网络显示出奥氏体轮廓。
渗碳法一般适用于不高于0.3%c的渗碳钢和含不高于0.6%c而含碳化物元素较多的其他类型钢。
氧化法却适用于任何结构钢和工具钢。
(2)化学试剂腐蚀法。
钢材经不同温度的淬火一回火处理后,磨光并用饱和苦味酸水溶液和新洁尔灭几滴浸蚀能抑制马氏体组织,促使奥氏体晶界的显示。
或者直接用盐酸1~5mL、苦味酸(饱和的)和乙醇浸蚀,使马氏体直接显示出来,利用马氏体深浅不同和颜色的差异而显示出奥氏体的晶粒大小,此法适用于合金化程度高的能直接淬硬的钢。
(3)控制冷却速度法。
低碳钢、亚共析钢、共析钢、过共析钢可控制冷却速度使钢的奥氏体周围先共析析出网状铁素体、网状渗碳体,或使屈氏体沿晶界少量析出以显示出奥氏体晶粒。
测定方法测定奥氏体晶粒度常用比较法和统计法。
比较法测定奥氏体晶粒度是根据YB27—77级别图与之相比较。
标准晶粒度分8级,1~4级属粗晶粒,5~8级属细晶粒,8级以上的10~13级为超细晶粒。
此法均在100倍显微镜下观察。
晶粒度级别N与晶粒大小之间符合n=2或n’=2的关系,式中n为在放大100倍下观察时,每6.45mm视野中的平均晶粒数;n’为实际每1mm面积中平均晶粒数。
若出现过粗或过细晶粒,需在50倍或大于100倍的显微镜下观察进行换算。
表1为换算为100倍的晶粒度表。
统计法实际为测定晶粒的平均直径法。
表2为晶粒度与其他晶粒大小表示法的比较。
①为了避免在晶粒号前出现“—”号,有人把—3、—2、—1等晶粒号改为0000、000、00号。
影响因素首先,奥氏体起始晶粒度取决于形核率N和长大速度G的比值N/G,此值愈大,奥氏体起始晶粒就愈小。
其次,在起始晶粒形成之后,钢的实际晶粒则取决于奥氏体在继续保温或升温过程中的长大倾向,而奥氏体晶粒长大倾向又与起始晶粒的大小、均匀性以及晶界能有关。
晶粒大小愈不均匀、曲率半径愈小、表面弯曲度愈大,则界面能愈大,晶粒长大的倾向性就愈大。
此外,奥氏体的实际晶粒度还受加热温度、保温时间、钢的成分以及第二相颗粒的大小、多少、性质、原始组织和加热速度等的影响。
(1)加热速度和保温时间的影响。
晶粒长大和原子的扩散密切相关,温度愈高,相应的保温时间愈长,原子的活动能力愈大,扩散愈容易进行,奥氏体晶粒亦将愈粗大。
(2)加热速度的影响。
加热速度实质上是过热度问题,过热度愈大,即成核率与成长速度之比越大,将获得细小的起始晶粒。
虽然如此,但高温下奥氏体晶粒极易长大,因此,在高温下不能有长的保温时间。
(3)钢中含碳量的影响。
在钢中含碳量不足以形成未溶解的碳化物时,含碳量增高,奥氏体的晶粒容易长大而粗化。
当形成未溶解的二次渗碳体时,因奥氏体晶粒长大受第二相的阻碍作用,使奥氏体晶粒长大的倾向反而减小。
(4)脱氧剂及合金化元素的影响。
用铝脱氧的钢,晶粒长大的倾向小,属本质细晶粒钢。
这是因为钢中含有大量难溶的六方点阵结构的A1N、机械地阻碍奥氏体长大。
用硅和锰脱氧的钢,晶粒长大的倾向大,一般属于本质粗晶粒钢。
其他合金元素按阻碍奥氏体晶粒长大程度的不同,可以分为:有强烈阻碍晶粒长大作用的,如铌、锆、钛、钽、钒和铝等;有中等阻碍作用的,如钨、钼和铬等;稍有阻碍或无阻碍作用的,如铜、镍、钴和硅等;有增大晶粒长大倾向的,如碳(指溶入奥氏体中的)、磷、锰等。
(5)原始组织的影响。
钢的原始组织愈细、碳化物分散度愈大,所得到的奥氏体起始晶粒愈细小。
但从晶粒长大的原理可知,起始晶粒愈细小,则钢的晶粒长大倾向性愈大,即钢的过热敏感性增大,生产上难于控制。
所以原始组织极细的钢,不可用过高的加热温度和长的保温时间,而宜采用快速加热、短时保温的热处理工艺。
晶粒度的作用加热时所得到的奥氏体实际晶粒的大小,对冷却后钢的组织和性能有很大的影响。
一般地说,粗大的奥氏体实际晶粒往往导致冷却后获得粗大的组织,而粗大的组织又往往相应地具有较低的塑性和韧性。
就冲击韧性而言,普通碳钢和低合金钢的奥氏体晶粒度每细化一级,冲击韧性值能提高19.6~39.2J/cm,同时冷脆转化温度可降低10℃以上。
因此,在热处理时应严格控制奥氏体晶粒大小,以获得良好的综合性能。
细化晶粒已成为强化金属材料的重要手段之一。
通过多次反复奥氏体化处理,或用交变冷变形及在(α+γ)两相区退火等方法,获得超细化奥氏体晶粒,可以同时提高钢的强度和韧性。
特别是低温下使用的高强度合金,经此类处理后可使其断裂韧性大幅度提高,例如将40crNiMo 钢的奥氏体晶粒度由5~6级细化到12~13级时,其KIc 值可由1.382kPa·m 。
(138.2×10N/cm)提高到2.607kPa·m(260.7×10N/cm)。
实验 钢的奥氏体晶粒度的测定在钢铁等多晶体金属中,晶粒的大小用晶粒度来衡量,其数值可由下式求出:12-=N n式中:n —显微镜放大100倍时,6.45cm 2 (1in 2) 面积内晶粒的个数。
N —晶粒度奥氏体晶粒的大小称奥氏体晶粒度。
钢中奥氏体晶粒度,一般分为1~8等8个等级。
其中1级晶粒度晶粒最粗大,8级最细小(参看YB27—64)。
奥氏体晶粒的大小对以后冷却过程中所发生的转变以及转变所得的组织与性能都有极大的影响。
因此,研究奥氏体晶粒度的测定及其变化规律在科学研究及工业生产中都有着重要的意义。
一、奥氏体晶粒度的一般概念奥氏体晶粒按其形成条件不同,通常可分为起始晶粒、实际晶粒与本质晶粒三种,它们的大小分别以起始晶粒度,实际晶粒度与本质晶粒度等表示。
1、起始晶粒度在临界温度以上,奥氏体形成刚刚结束时的晶粒尺寸,称起始晶粒度。
起始晶粒度决定于奥氏体转变的形核率(n )及线生长速度(c )。
每一平方毫米面积内奥氏体晶粒的数目N 与n 及c 的关系为2101.1⎪⎭⎫ ⎝⎛=c n N 由上式可知,若n 大而c 小,则起始晶粒就细小。
若n 小而c 大则起始晶粒就粗大。
在一般情况下n 及c 的数值决定于原始组织的形态和弥散程度以及加热时的加热速度等因素。
由于在珠光体中存在着大量奥氏体形核部位,n 极大。
故奥氏体的起始晶粒总是比较细小的。
如果加热速度快,则转变被推向高温,奥氏体起始晶粒将更加细化。
这是因为,随着加热速度的增大和转变温度的升高,虽然形核n 和c 都增大,但n 比c 增加的幅度更大。
表1—6示出钢在加热时,奥氏体的n 与c 数值与加热温度的关系,由表1—6中的数据可知。
相变温度从740℃提高到800℃时n 增大280倍而c 仅增加40倍。
表1—6 奥氏体形核(n )和线生长速度(c )与温度的关系应当指出,奥氏体起始晶粒随加热速度的增大而细化的现象,只是在加热速度不太大时比较明显。
当加热速度很大时起始晶粒不再随之细化(见表1—7)表1—7 加热速度对起始奥氏体晶粒大小的影响这可能是由于在快速加热时,转变被推向高温(大于800℃),奥氏体的核不仅可以在铁素体与渗碳体的交界面上形成,而且可以在铁素体晶粒内嵌镶块的边界上形成。
铁素体的含碳量虽然很低,但铁素内碳的分布是不均匀的,碳原子大都集中在嵌镶块边界。
实验测定嵌镶块边界上的碳浓度或达0.2—0.3% 。
由Fe—Fe3C状态图可知,这样的地区,对应的奥氏体形成温度为800~840℃(实验证明嵌镶块边界的厚度亦远大于该温度下临界晶核的尺寸)。
因此,只要加热速度足以把转变温度提高到上述范围,则奥氏体的核除了在铁素体与渗碳体的分界面上形成外,还将在铁素体嵌镶块边界上大量形成,增加了形核率,因而使奥氏体晶粒进一步细化。
但是,当加热速度继续增大,使转变温度超过840℃,因不能继续出现新的形核部位,奥氏体晶粒也将不能继续细化。
上述关于加热速度的影响,是限制在常用的普通加热速度范围之内。
近几年来,随着科学技术的发展,出现了加热速度高于1000℃/秒的所谓“超快速加热淬火法”,如超高频脉冲加热,激光加热或电子束加热等方法。
经过这些方法加热后以极快的令速淬火,得到的组织极细,甚至在30万倍的电子显微镜下观察,仍看不清楚该种组织的细节。
2、实际晶粒度在热处理(或热加工)的某一具体加热条件下所得到的奥氏体晶粒的大小称为实际晶粒度。
奥氏体转变终了后,若不立即冷却而在高温停留,或者继续升高加热温度,则奥氏体将长大。
因为上述过程在热处理时是不可避免的,所以奥氏体开始冷却时的晶粒(实际晶粒度)总要比起始晶粒大。
实际晶粒度除了与起始晶粒度有关外,还与钢在奥氏体状态停留的温度及时间有关,在快速加热时,与加热速度和最终的加热温度有关。
当加热温度相同时,加热速度越大,实际奥氏体晶粒越细小。
奥氏体晶粒的长大是自发的,因为减少晶界可以降低表面能。
如果不存在阴碍晶粒长大的因素而又给以足够的时间,则从原则上说应该能长成一单晶奥氏体。
但是由于存在着一些阻碍奥氏体晶粒长大的因素,所以当达到一定尺寸后就不再长大了。
奥氏体晶粒的长大是通过大晶粒吞并小晶粒进行的。
在长大阶段晶粒大小是不均匀的。