材料分析测试技术课件1
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《建筑材料检测培训》课件

使用符合标准的研磨设备 、筛分设备等
检测操作
01
02
03
检测方法
根据材料类型和检测项目 选择合适的检测方法
检测设备
使用符合标准的检测设备 ,如天平、量筒、滴定管 等
检测流程
按照相关标准规定进行, 如称量、配制试剂、进行 试验等
结果分析
数据处理
对试验数据进行整理、计算、分 析
结果判定
根据标准对试验结果进行判定,如 合格或不合格
化学性能检测
Hale Waihona Puke 总结词对建筑材料的化学成分和性质进行检测和分析。
详细描述
通过化学分析方法对建筑材料的化学成分、耐腐蚀性、耐候性等进行检测,以 评估其长期性能和使用寿命。
无损检测
总结词
利用非破坏性的检测方法对建筑材料的内部缺陷和损伤进行检查。
详细描述
通过X射线、超声波、磁粉等方法对建筑材料的内部缺陷和损伤进行无损检测, 以确保其安全性和可靠性。
建筑材料检测学习网站推荐
提供一些建筑材料检测学习网站,这些网站上有丰富的资料、教程和案例,方便学员自主学习和参考 。
THANKS
感谢您的观看
建筑材料的质量直接关系到建筑工程 的安全性,对人们的生命财产安全具 有重要意义。
检测的分类与标准
分类
建筑材料检测可以分为出厂检测、进 场检测、现场检测和监督检测等。
标准
建筑材料检测应遵循国家或行业的相 关标准、规范和设计要求,如《混凝 土强度检验评定标准》、《建筑防水 材料试验方法》等。
Part
《建筑材料检测培训 》ppt课件
• 建筑材料检测概述 • 建筑材料检测技术 • 建筑材料检测流程 • 建筑材料检测案例分析 • 建筑材料检测中的问题与对策 • 建筑材料检测实践与培训
纳米材料测试分析技术 ppt课件

第四章:纳米材料测试分析技术
纳米材料测 试分析技术
尺寸评估 结构表征 性能测量
电子显微分析
扫描探针分析
X-射线衍射分析
光谱分析
能谱分析
粒 ppt课件 度 分 析
1
天津理工大学纳米材料与技术研究中心
微观世界的探索
社会发展、科技进步总伴随着工具的完善和革新。 以显微镜来说吧,发展至今可以说是有了三代显 微镜。这也使得人们对于微观世界的认识越来越 深入,从微米级,亚微米级发展到纳米级乃至原 子分辨率。
ppt课件
5
一、电 子 显 微 分 析
电子显 微分析
透射电子显微镜(TEM)
+ 扫描电子显微镜(SEM)
X-射线能谱 分析( EDX)
电子探针显微分析(EPMA)
材料的形貌观察、材料的 表面和内部微结构分析
ppt课件
材料的微区成 分分析(微米)
6
透射电子显微分析
透射电子显微镜(简称透射电镜) Transmission Electron Microscope(TEM)
ppt课件
2
天津理工大学纳米材料与技术研究中心
第一代为光学显微镜
1830年代后期为M.Schleide
和 T.Schmann 所 发 明 ; 它 使
人类“看”到了致病的细菌、
微生物和微米级的微小物体,
对社会的发展起了巨大的促
进作用,至今仍是主要的显
微工具 。
ppt课件
3
天津理工大学纳米材料与技术研究中心
ppt课件 microscope”
8
普通透射电子显微镜(TEM)
透通过两个中间镜
之间的相互配合,可在较大范
围内调整相机长度和放大倍数。
纳米材料测 试分析技术
尺寸评估 结构表征 性能测量
电子显微分析
扫描探针分析
X-射线衍射分析
光谱分析
能谱分析
粒 ppt课件 度 分 析
1
天津理工大学纳米材料与技术研究中心
微观世界的探索
社会发展、科技进步总伴随着工具的完善和革新。 以显微镜来说吧,发展至今可以说是有了三代显 微镜。这也使得人们对于微观世界的认识越来越 深入,从微米级,亚微米级发展到纳米级乃至原 子分辨率。
ppt课件
5
一、电 子 显 微 分 析
电子显 微分析
透射电子显微镜(TEM)
+ 扫描电子显微镜(SEM)
X-射线能谱 分析( EDX)
电子探针显微分析(EPMA)
材料的形貌观察、材料的 表面和内部微结构分析
ppt课件
材料的微区成 分分析(微米)
6
透射电子显微分析
透射电子显微镜(简称透射电镜) Transmission Electron Microscope(TEM)
ppt课件
2
天津理工大学纳米材料与技术研究中心
第一代为光学显微镜
1830年代后期为M.Schleide
和 T.Schmann 所 发 明 ; 它 使
人类“看”到了致病的细菌、
微生物和微米级的微小物体,
对社会的发展起了巨大的促
进作用,至今仍是主要的显
微工具 。
ppt课件
3
天津理工大学纳米材料与技术研究中心
ppt课件 microscope”
8
普通透射电子显微镜(TEM)
透通过两个中间镜
之间的相互配合,可在较大范
围内调整相机长度和放大倍数。
现代材料分析测试技术材料分析测试技术-1

球差是像差影响电磁透镜分辨率的主要因素,它 还不能象光学透镜那样通过凸透镜、凹透镜的组 合设计来补偿或矫正。
据说日本电子已经制造了带球差校正器的透射电 镜,但一个球差校正器跟一台场发射透射电镜的 价格差不多。
TEM Cs Corrector
Un-corrected
Corrected
No Fringe
什么原因导致这样的结果呢?原来电磁透镜也和光学透 镜一样,除了衍射效应对分辨率的影响外,还有像差对 分辨率的影响。由于像差的存在,使得电磁透镜的分辨 率低于理论值。电磁透镜的像差包括球差、像散和色差。
一、球差
球差是因为电磁透镜的中心区域磁场和边缘区域磁场对 入射电子束的折射能力不同而产生的。离开透镜主轴较 远的电子(远轴电子)比主轴附近的电子(近轴电子) 被折射程度大。
原来的物点是一个几何点,由于球差的影响现在变成了
半径为ΔrS的漫散圆斑。我们用ΔrS表示球差大小,计
算公式为:
rS
1 4
C
s
3
(1-10)
式中 Cs表示球差系数。 通常,物镜的球差系数值相当于它的焦距大小,
约为1-3mm,α为孔径半角。从式(1-10)中可以 看出,减小球差可以通过减小球差系数和孔径半 角来实现。
引起电子能量波动的原因有两个, 一是电子加速电压不稳,致使入射 电子能量不同;二是电子束照射试 样时和试样相互作用,部分电子产 生非弹性散射,致使能量变化。
最小的散焦斑RC。同 样将RC折算到物平面
上,得到半径为ΔrC 的圆斑。色差ΔrC由 下式来确定:
rC
Cc
E E
(1-12)
更短的波长是X射线。但是,迄今为止还没有找到能使X 射线改变方向、发生折射和聚焦成象的物质,也就是说 还没有X射线的透镜存在。因此X射线也不能作为显微镜 的照明光源。
据说日本电子已经制造了带球差校正器的透射电 镜,但一个球差校正器跟一台场发射透射电镜的 价格差不多。
TEM Cs Corrector
Un-corrected
Corrected
No Fringe
什么原因导致这样的结果呢?原来电磁透镜也和光学透 镜一样,除了衍射效应对分辨率的影响外,还有像差对 分辨率的影响。由于像差的存在,使得电磁透镜的分辨 率低于理论值。电磁透镜的像差包括球差、像散和色差。
一、球差
球差是因为电磁透镜的中心区域磁场和边缘区域磁场对 入射电子束的折射能力不同而产生的。离开透镜主轴较 远的电子(远轴电子)比主轴附近的电子(近轴电子) 被折射程度大。
原来的物点是一个几何点,由于球差的影响现在变成了
半径为ΔrS的漫散圆斑。我们用ΔrS表示球差大小,计
算公式为:
rS
1 4
C
s
3
(1-10)
式中 Cs表示球差系数。 通常,物镜的球差系数值相当于它的焦距大小,
约为1-3mm,α为孔径半角。从式(1-10)中可以 看出,减小球差可以通过减小球差系数和孔径半 角来实现。
引起电子能量波动的原因有两个, 一是电子加速电压不稳,致使入射 电子能量不同;二是电子束照射试 样时和试样相互作用,部分电子产 生非弹性散射,致使能量变化。
最小的散焦斑RC。同 样将RC折算到物平面
上,得到半径为ΔrC 的圆斑。色差ΔrC由 下式来确定:
rC
Cc
E E
(1-12)
更短的波长是X射线。但是,迄今为止还没有找到能使X 射线改变方向、发生折射和聚焦成象的物质,也就是说 还没有X射线的透镜存在。因此X射线也不能作为显微镜 的照明光源。
材料分析测试技术材料X射线衍射和电子显微分析课件

实际案例分析
材料A的X射线衍射和电子显微分析
通过结合应用,确定了材料A的晶体结构和微观结构特征,为其性能研究提供了 有力支持。
材料B的缺陷分析
利用X射线衍射和电子显微分析,成功检测到材料B中的晶体缺陷和微观结构变化 ,为优化制备工艺提供了指导。
材料X射线衍射和电
04
子显微分析的发展
趋势与未来展望
材料X射线衍射与电
03
子显微线衍射
01
局限性:对于非晶体或无定形材料,X射 线衍射效果不佳。
03
02
特点:能够确定晶体结构,提供宏观尺度上 的晶体信息。
04
电子显微分析
特点:高分辨率和高放大倍数,能够观察 材料的微观结构和表面形貌。
05
06
局限性:对于轻元素和某些化学态的识别 能力有限,且需要薄样品。
电子显微镜的工作原理
电子显微镜利用电子替代传统显微镜的光子,通过电子束 与样品的相互作用,将样品中的信息传递到荧光屏上,形 成图像。
分辨率和放大倍数
电子显微镜的分辨率和放大倍数主要取决于物镜的焦距和 中间镜的放大倍数,其分辨率通常比光学显微镜高,能够 观察更细微的结构。
电子显微镜的应用
生物医学研究
料X射线衍射和电子显微分析。
02
自动化和智能化
随着人工智能和机器学习技术的发展,未来的材料X射线衍射和电子显
微分析将更加自动化和智能化,能够自动识别、分类和处理数据。
03
多维度和多尺度分析
未来的材料X射线衍射和电子显微分析将能够实现多维度和多尺度分析
,从微观到宏观全面揭示材料的结构和性能。
技术发展面临的挑战与机遇
挑战
随着材料科学的发展,新型材料不断涌现,需要不断更新和完善材料X射线衍射和电子显微分析技术。同时,随 着环保意识的提高,如何降低这些技术对环境的负面影响也是一个重要的挑战。
《材料分析测试技术》课件

在生物学领域,材料分析测试技术用于研 究生物大分子的结构和功能,以及生物材 料的性能和生物相容性。
医学领域
环境科学领域
在医学领域,材料分析测试技术用于药物 研发、医疗器械性能评价以及人体组织与 器官的生理和病理研究。
在环境科学领域,材料分析测试技术用于 环境污染物检测、生态系统中物质循环的 研究以及环保材料的性能评估。
反射光谱测试技术
通过测量材料对不同波长光的反射率,分 析材料的表面特性、光学常数和光学性能 。
发光光谱测试技术
研究材料在受到激发后发射出的光的性质 ,包括荧光、磷光和热辐射等,以了解材 料的发光性能和光谱特性。
透射光谱测试技术
通过测量材料对不同波长光的透射率,分 析材料的透光性能、光谱特性和光学常数 。
磁粉检测技术
总结词
通过磁粉与材料相互作用,检测其表面和近表面缺陷。
详细描述
磁粉检测技术利用磁粉与被检测材料的相互作用,通过观察磁粉的分布和排列,检测材 料表面和近表面的裂纹、折叠等缺陷。该技术广泛应用于钢铁、有色金属等材料的检测
。
涡流检测技术
总结词
通过电磁感应在材料中产生涡流,检测其表 面和近表面缺陷。
《材料分析测试技术》ppt课件
目录
• 材料分析测试技术概述 • 材料物理性能测试技术 • 材料化学性能测试技术 • 材料力学性能测试技术 • 材料无损检测技术 • 材料分析测试技术的应用与展望
01
材料分析测试技术概述
Chapter
定义与目的
定义
材料分析测试技术是指通过一系列实验手段对材料 进行物理、化学、机械等性能检测,以获取材料组 成、结构、性能等方面的信息。
电学性能测试技术
电容率测试技术
材料分析方法绪论课件

拉曼光谱分析
原理
拉曼光谱分析是一种利用拉曼散射效应测量样品对入射光的散射强度和波长,从而得到样品分子结构 和组成信息的方法。
应用
拉曼光谱分析广泛应用于化学、材料科学、生物学等多个领域,可以确定样品中分子的官能团、化学 键等信息。
核磁共振波谱分析
原理
核磁共振波谱分析是一种利用核磁共振 现象测量样品中原子核的磁矩和相互作 用信息的方法。在磁场中,样品中的原 子核发生自旋并产生磁矩,通过测量原 子核的共振频率和裂分形状,可以获得 样品的分子结构和组成信息。
物理和化学领域的研究中 ,材料分析方法可用于研 究物质的性质、反应机理 和制备工艺等。
生物学和医学领域
在生物学和医学领域,材 料分析方法可用于研究生 物分子的结构和功能,以 及药物的制备和筛选等。
工业生产中的应用
制造业
材料分析方法在制造业中有着广 泛的应用,如钢铁、陶瓷、塑料 等材料的生产和加工过程中,需 要使用材料分析方法对材料进行
原子结构分析
原子能级测量
运用光谱学方法测量原子能级,了解原子光谱线和光谱项的归属 。
原子壳层结构分析
根据原子核外电子排布规律,分析原子壳层结构和电子云分布。
原子相互作用与效应
研究原子之间相互作用和效应,包括化学键、离子键、金属键等相 互作用的基础。
04
CATALOGUE
材料性能分析
力学性能分析
比热容
材料吸收或释放热量的能力, 反映了材料对温度变化的响应
。
热导率
材料传导热量的能力,反映了 材料在热量传递过程中的效率 。
热膨胀系数
材料在温度变化下体积变化的 能力,反映了材料对温度变化 的敏感性。
热稳定性
材料在高温下的稳定性,反映 了材料在高温环境下的耐受能
材料分析测试技术PPT课件
■分光晶体:是专门用来对X射线起分光 作用的晶体,它具有高的衍射效率、强 的反射能力和好的分辨率。每种晶体只 能色散一段范围波长的X射线,只适用于 一定原子序数的元素分析。常见的分光 晶体及其应用范围见P160表2-7。
■X射线探测器:WDS中使用的探测器和 XRD中使用的一样。
5
WWDDSS和EDSS的的比比较较
能谱仪(EDS)
• 目前最常用的能谱仪是Si(Li)X射线能谱仪。 其关键部件是Si(Li)检测器即锂漂移硅固态 检测器(结构示意图见P162图2-94)。
• Si(Li)探测器要始终处在真空中,探头装在 与存有液氮的杜瓦瓶相连的冷指内,日常 保养麻烦费用较高。
1
Si(Li)能谱仪的优点
▲分析速度快,几分钟内即可分析和确定样 品中含有的所有元素。分析范围为11Na~ 92U的所有元素。
操作特性
WDS
分析元素范围 Z≥4
分辨率
高
分析精度
±1~5%
对表面要求 平整,光滑
分析速度
慢
谱失真
少
最小束斑直径 ~200nm
探测极限
0.01~0.1%
使用范围
精确的定量分
析
EDS
Z≥11 低
≤±5% 粗糙表面也适用
快
多
~5nm
0.1~0.5%
适合于与SEM配合
使用
6
EPMA分析方法
EPMA有四种分析方法
11
2.8 扫描隧道显微镜(简介)
• 扫描隧道显微镜简称STM,是新型的表面分析仪 器,是1982年,由G.Binnig和H.Rhrer等人发明 的,该发明于1986年获诺贝尔奖。
• STM的原理:STM以原子尺度的极细探针及样品 作为电极,当针尖与样品非常接近时(约1nm), 就产生隧道电流。通过记录扫描过程中,针尖位 移的变化,可得到样品表面三维显微形貌图。
■X射线探测器:WDS中使用的探测器和 XRD中使用的一样。
5
WWDDSS和EDSS的的比比较较
能谱仪(EDS)
• 目前最常用的能谱仪是Si(Li)X射线能谱仪。 其关键部件是Si(Li)检测器即锂漂移硅固态 检测器(结构示意图见P162图2-94)。
• Si(Li)探测器要始终处在真空中,探头装在 与存有液氮的杜瓦瓶相连的冷指内,日常 保养麻烦费用较高。
1
Si(Li)能谱仪的优点
▲分析速度快,几分钟内即可分析和确定样 品中含有的所有元素。分析范围为11Na~ 92U的所有元素。
操作特性
WDS
分析元素范围 Z≥4
分辨率
高
分析精度
±1~5%
对表面要求 平整,光滑
分析速度
慢
谱失真
少
最小束斑直径 ~200nm
探测极限
0.01~0.1%
使用范围
精确的定量分
析
EDS
Z≥11 低
≤±5% 粗糙表面也适用
快
多
~5nm
0.1~0.5%
适合于与SEM配合
使用
6
EPMA分析方法
EPMA有四种分析方法
11
2.8 扫描隧道显微镜(简介)
• 扫描隧道显微镜简称STM,是新型的表面分析仪 器,是1982年,由G.Binnig和H.Rhrer等人发明 的,该发明于1986年获诺贝尔奖。
• STM的原理:STM以原子尺度的极细探针及样品 作为电极,当针尖与样品非常接近时(约1nm), 就产生隧道电流。通过记录扫描过程中,针尖位 移的变化,可得到样品表面三维显微形貌图。
材料现代分析方法课件- 概论
● 分 辨 率:0.34nm ● 加速电压:75KV-200KV ● 放大倍数:25万倍 ● 能 谱 仪:EDAX-9100 ● 扫描附件:S7010
JEM-2010透射电镜
加速电压200KV LaB6灯丝 点分辨率 1.94Å
CM200-FEG场发射枪电镜
加速电压20KV、40KV、80KV、 160KV、200KV 可连续设置加速电压 热场发射枪 晶格分辨率 1.4Å 点分辨率 2.4Å 最小电子束直径1nm 能量分辨率约1ev 倾转角度α=±20度
a axis (inclination)
Operation range:15~120°
b axis (intraplanar rotation)
Operation range:360°
Z axis (front and back) Operation range:10mm
Z axis
薄膜测试-Thin film measurement 极图测试-Pole figure measurement 残余应力-Residual Stress measurement
镍基合金中第二相(GdNi5)粒子在基体中的分布
母相
透射电镜-位向分析
母相 新相
图像分析的分辨率
(3)表面分析方法及分辨尺度
本课程主要内容
材料X射线衍射分析技术 材料微观结构的电子显微学分析 谱分析技术
1) X射线衍射分析技术
X射线物理学基础 X射线衍射方向 X射线衍射强度 多晶体分析方法 物相分析及点阵参数精确测定 宏观残余应力的测定 多晶体织构的测定
材料分析方法
Analysis Method of Materials
公认的材料科学与工程四大要素
JEM-2010透射电镜
加速电压200KV LaB6灯丝 点分辨率 1.94Å
CM200-FEG场发射枪电镜
加速电压20KV、40KV、80KV、 160KV、200KV 可连续设置加速电压 热场发射枪 晶格分辨率 1.4Å 点分辨率 2.4Å 最小电子束直径1nm 能量分辨率约1ev 倾转角度α=±20度
a axis (inclination)
Operation range:15~120°
b axis (intraplanar rotation)
Operation range:360°
Z axis (front and back) Operation range:10mm
Z axis
薄膜测试-Thin film measurement 极图测试-Pole figure measurement 残余应力-Residual Stress measurement
镍基合金中第二相(GdNi5)粒子在基体中的分布
母相
透射电镜-位向分析
母相 新相
图像分析的分辨率
(3)表面分析方法及分辨尺度
本课程主要内容
材料X射线衍射分析技术 材料微观结构的电子显微学分析 谱分析技术
1) X射线衍射分析技术
X射线物理学基础 X射线衍射方向 X射线衍射强度 多晶体分析方法 物相分析及点阵参数精确测定 宏观残余应力的测定 多晶体织构的测定
材料分析方法
Analysis Method of Materials
公认的材料科学与工程四大要素
材料分析测试方法课件
详细描述
紫外光谱法利用紫外线照射样品,测量样品对不同波长紫外光的吸收或反射,从而获得样品的紫外光谱。紫外光 谱图中,不同波长的峰代表着不同的化学键或官能团,通过比对标准谱图可以确定样品的化学组成和结构。此外 ,紫外光谱法还可以用于研究材料的电子云分布和能级结构。
核磁共振
总结词
核磁共振是一种常用的材料分析方法, 可以提供分子结构和化学键信息,以及 材料的磁学性质。
THANKS
03
布氏硬度
通过测量压痕直径来确定硬度 ,主要适用于硬质材料,如钢
和硬铝合金。
韧性测试
要点一
冲击测试
通过在材料上施加冲击力来测量其韧性,通常使用摆锤冲 击仪进行测试。
要点二
弯曲测试
通过在材料上施加弯曲力来测量其韧性,通常使用三点或 四点弯曲测试仪进行测试。
拉伸测试
弹性模量测试
通过测量材料在拉伸过程中的弹性变形来计算弹性模量 ,通常使用拉伸试验机进行测试。
应用
常用于材料科学、化学、生物学等领域 ,用于研究材料的晶体结构和化学键结 构等。
优点
可以快速、准确地测定晶体结构,且对 样品的损害较小。
缺点
对于非晶体或复杂的多晶材料,分析结 果可能存在误差。
中子衍射分析
原理
中子衍射分析是一种通过测量中子 在晶体中衍射角度的方法,推断晶
体结构的技术。
应用
常用于研究材料内部的结构和化学 键等信息,尤其适用于研究原子序
数较小的元素。
优点
对于某些元素,如氢、硼等,中子 衍射比X射线衍射更具优势。
缺点
需要使用中子源,实验成本较高, 且对样品的损害程度尚不明确。
红外光谱法
01
原理
红外光谱法是一种通过测量样 品对红外光的吸收光谱的方法 ,推断样品分子结构的的技术
紫外光谱法利用紫外线照射样品,测量样品对不同波长紫外光的吸收或反射,从而获得样品的紫外光谱。紫外光 谱图中,不同波长的峰代表着不同的化学键或官能团,通过比对标准谱图可以确定样品的化学组成和结构。此外 ,紫外光谱法还可以用于研究材料的电子云分布和能级结构。
核磁共振
总结词
核磁共振是一种常用的材料分析方法, 可以提供分子结构和化学键信息,以及 材料的磁学性质。
THANKS
03
布氏硬度
通过测量压痕直径来确定硬度 ,主要适用于硬质材料,如钢
和硬铝合金。
韧性测试
要点一
冲击测试
通过在材料上施加冲击力来测量其韧性,通常使用摆锤冲 击仪进行测试。
要点二
弯曲测试
通过在材料上施加弯曲力来测量其韧性,通常使用三点或 四点弯曲测试仪进行测试。
拉伸测试
弹性模量测试
通过测量材料在拉伸过程中的弹性变形来计算弹性模量 ,通常使用拉伸试验机进行测试。
应用
常用于材料科学、化学、生物学等领域 ,用于研究材料的晶体结构和化学键结 构等。
优点
可以快速、准确地测定晶体结构,且对 样品的损害较小。
缺点
对于非晶体或复杂的多晶材料,分析结 果可能存在误差。
中子衍射分析
原理
中子衍射分析是一种通过测量中子 在晶体中衍射角度的方法,推断晶
体结构的技术。
应用
常用于研究材料内部的结构和化学 键等信息,尤其适用于研究原子序
数较小的元素。
优点
对于某些元素,如氢、硼等,中子 衍射比X射线衍射更具优势。
缺点
需要使用中子源,实验成本较高, 且对样品的损害程度尚不明确。
红外光谱法
01
原理
红外光谱法是一种通过测量样 品对红外光的吸收光谱的方法 ,推断样品分子结构的的技术
材料测试方法-Xray-part1
……
思考: 1、Kα和Kβ哪个波长大? 能量大?强度大? 2、Kα和Lα哪个波长大? 能量大?
精细辐射(由亚电子层跃迁产生的辐射)
K激发,LⅢ跃迁引起的辐射→ Kα1辐射 K激发,LⅡ跃迁引起的辐射→ Kα2辐射 由于量子效应的缘故不存在LⅠ跃迁,故没有 Kα3辐射 Kα辐射由Kα1和Kα2 合成得到
§1-2 X射线的本质
X射线的特点 1、肉眼不可见 2、具有很强的穿透性 3、可使照相底片感光 4、可使荧光物质发光 5、可使空气电离 6、对生物细胞有杀伤作用 7、电磁场不能使其偏转 8、可通过晶体产生衍射
X射线的本质
是波长为10-8cm左右的电磁波,波长介于γ射线和紫 外线波长之间,与晶体的晶格常数为同一数量级。
聚焦罩——避免热电子束在加速过程中发散,与灯 丝保持有100-400V的负电位差
冷却套 ——防止阳极靶的熔化,电子束轰击阳极 靶时只有1%的能量转化为X射线能量,其余99%都 转为热能,必须用冷却水使其降温
电子束 X射线
高功率旋转阳极 ——无需水冷
X光管电路参数
管电压V(阳极电 压),作用在阴极
描述X射线强弱的参量
强度(Intensity)I ——单位时间内通过单位截面 积上的能量(J / m2S) 波动性描述 I ∝︱A︱2(正比于波振幅A的平方) 粒子性描述 I = n hν(正比于光子的数量和能量) 绝对强度, J / m2S 相对强度,无量纲
§1-3 X射线的产生及X射线管
X射线的产生机理 粒子(带电或不带电)作高速运动→撞击到障碍 物质的电子→猝然减速→入射粒子以释放电磁波 的形式进行能量交换→X射线
电子显微分析
电子光学基础 透射电子显微镜 复型技术 电子衍射 扫描电子显微镜 电子探针显微分析
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2010-11-1 4
晶体结构分析重要手段:X射线衍射
利用固体物理学的方法,可以从衍射光斑的图样确定晶 体的结构;为了获得晶体结构的信息,可以采取以下衍射 方法: 劳厄法:晶体固定不动,采用连续X射线入射。 转动单晶法:采用标识谱X射线,波长是固定的,但是晶 体旋转改变角度也可以使得条件满足。 粉末法:对于多晶即使用标识谱单色入射,并且固定晶 体不动,反射条件也容易满足。下图是X射线通过NaCl单 X NaCl 晶时的衍射图样。
将布拉格方程改写为
d h∗ k ∗l ∗ n
= d hkl
λ = 2sin θ hkl
好象与λ有关, 表面上看起来 dhkl 好象与λ有关 实际上它是产生 主要反射线的晶面间的距离. 由晶体的决定的, 主要反射线的晶面间的距离 由晶体的决定的 与 入射波长无关. 入射波长无关
2010-11-1 12
2010-11-1 15
ICDD数据库—2003版
PDF-4数据库 第一版 2002
279864套数据,关系数据库 2 DVD’s, 6GB
PDF-2数据库 第一版 1985
157048套数据,文本文件 CD-ROM, 760MB
数据书 1-53集 第一版 1957
92011套数据,纸版
2010-11-1 16
衍射花样中八条强线的面间距和相对强度, 按相对强度递减顺序列在前面,随后,依次 排列着,化学式,卡片编号,参比强度 (I/Ic)。
索引示例 索引说明
2010-11-1 31
2010-11-1
32
Hanawalt索引说明(1)
每个条目中,衍射线的相对强度分为10个等 级,最强线为100用×表示,其余者均以小10 倍的数字表示,写在面间距d值的右下角处。 参比强度I/Ic是被测相与刚玉按1:1重量配比时, 被测相最强线峰高与刚玉(六方晶系,113峰) 最强线峰高之比。
2010-11-1 13
二、PDF卡片
1. PDF卡片简介; 2. PDF试样图; 3. PDF卡片结构图; 4. PDF卡片内容。
2010-11-1
14
PDF卡片简介
J.D.Hanawalt等人于1938年首先发起,以d-I数 据组代替衍射花样,制备衍射数据卡片的工作。 1942年“美国材料试验协会(ASTM)”出版约 1300张衍射数据卡片(ASTM卡片)。 1300 ASTM 1969年成立了“粉末衍射标准联合委员会 (JCPDS)”,由它负责编辑和出版粉末衍射卡 片,称为PDF卡片。 1985年46000张卡片,每年2000张递增。
定性相分析的判据
通常用d(晶面间 距表征衍射线位置) 和I(衍射线相对 强度)的数据代表 衍射花样。用d-I 数据作为定性相分 析的基本判据。 定性相分析方法是 将由试样测得的d-I 数据组与已知结构 物质的标准d-I数据 组(PDF卡片)进 卡片) ( 卡片 行对比,以鉴定出 试样中存在的物相。
晶胞参数 晶系 空间群, Pna21 a/b和 c/b值 理论 密度 单胞化学 式量数
光学数据
2010-11-1 19
New PDF-4 Card offering tabular visualization and on-the-fly calculations
PDF Card
Historical “Card” Format
2010-11-1 26
PDF卡片的内容(4)
(6)试样来源,制备方法;化学分析,有 时亦注明升华点(S.P.),分解温度 (D.T.),转变点(T.P.),摄照温度等。
2010-11-1
27
PDF卡片的内容(5)
(7)物相的化学式和名称。 在化学式之后 常有一个数字和大写英文字母的组合说 明。数字表示单胞中的原子数;英文字 母表示布拉菲点阵类型:C—简单立方; B—体心立方;F—面心立方;T—简单 正方;U—体心正方;R—简单菱方; H—简单六方;O简单斜方;Q—底心斜 方;S—面心斜方;M—简单单斜;N— 底心单斜;Z—简单三斜。
2010-11-1
24
PDF卡片的内容(2)
(3)实验条件:Rad.—辐射种类(如Cu Kα); λ—波长;Filter—滤波片;Dia.—相 机直径;Cut off—相机或测角仪能测得 的最大面间距;Coll—光阑尺寸;I/I1— 衍射强度的测量方法;d corr.abs.?—所测 值是否经过吸收校正;Ref—参考资料
2010-11-1
35
1982年版本又作了进一步改进,它的编 排规则为:
(1)所有的相最少都以d1d2的编排顺序出现 一次; (2)对I2/I1>0.75和I3/I1 ≤0.75的相,以d1d2 和d1d3的编排顺序出现二次; (3)对I3/I1 >0.75和I4 /I1 ≤0.75的相,以d1d2、 d2d1 和d3 d1的编排顺序出现三次; (4)对I4/I1 >0.75的相,以d1d2、 d2d1 和 d3 d1和d4 d1的编排顺序出现四次。
PDF卡片索引是一种能帮助实验者从数 万张卡片中迅速查到所需要的PDF卡片 的工具书。由JCPDS编辑出版手册有: Hanawalt无机物检索手册; 有机相检索手册; 无机相字母索引; Fink无机索引; 矿物检索手册等品种。
2010-11-1 30
Hanawalt无机相数值索引
索引的编排方法是:每个相作为一个条 目,在索引中占一横行。每个条目中的 内容包括:
X-射线物相分析 射线物相分析 引言 基本原理; PDF卡片; PDF卡片索引; 分析方法; 物相定量分析。
2010-11-1
8
引言
物质的元素组成??
利用X射线的方法对试 样中由各种元素形成的 具有固定结构的化合物, 进行定性和定量分析。 X射线物相分析给出的 结果,不是试样的化学 成分,而是由各种元素 组成 的具有固定结构的 化合物的组成和含量。
2010-11-1 2
亨斯菲尔德
科马克
2010-11-1
3
♦精密分析物质的成分X-ray Photoelectron Spectroscopy 精密分析物质的成分 ♦(XPS)。 ( )。 (所需样品量小,无损伤,灵敏度高 所需样品量小, 所需样品量小 无损伤,灵敏度高)
例如 . 对珍贵出土文物的分析 1965年出土的 2500年前的 年出土的 年前的 越王勾践宝剑的成分 的成分。 越王勾践宝剑的成分。 例如 . 对人的头发中痕量元素分析 长寿、疾病、弱智与痕量元素的关系。 长寿、疾病、弱智与痕量元素的关系。 空气采样分析(上海与拉萨 上海与拉萨) 例如 . 空气采样分析 上海与拉萨
第五章 X射线物相分析
返回目录
2010-11-1 1
X 射线应用举例
♦X光透视 光透视 ♦CT与CAT 与
CT: computed tomography computerized tomography 计算机体层照相术 计算机断层照相术 计算机控制断层扫描术 computerized axial tomography (CAT) 计算机控制〔 轴向〔 线 断层〔 计算机控制〔横〕轴向〔X线〕断层〔扫 描〕术
2010-11-1 28
PDF卡片的内容(6)
(8)矿物学名称。右上角的符号标记表 示:*—数据高度可靠;i—已指标化和 估计强度,但可靠性不如前者;O—可靠 性较差;C—衍射数据来自理论计算。 (9)晶面间距,相对强度和干涉指数。 (10)卡片的顺序号。
2010-11-1
29
三、PDF卡片索引
2010-11-1
25
PDF卡片的内容(3)
(4)晶体学数据:Sys.—晶系;S.G—空 间群;a0、b0、c0,α、β、γ—晶胞参数; A= a0/b0 ,C= c0 / b0 ;Z—晶胞中原子或 分子的数目; Ref—参考资料。 (5)光学性质: εα、nωβ、εγ—折射率; Sign—光性正负;2V—光轴夹角;D— 密度;mp—熔点;Color—颜色; Ref—参考资料。
2010-11-1
Dorothy Hodgkin霍奇金 于1956年得到维生素 年得到维生素B12的结构。 的结构。 霍奇金 年得到维生素 的结构 1964年获诺贝尔奖 年获诺贝尔奖 维生素B12也是第一个通过解晶体结构得到分子结构的分子 也是第一个通过解晶体结构得到分子结构的分子 维生素 2010-11-1 7
2010-11-1
11
自然界中的大部分物质以晶体而存在. 自然界中的大部分物质以晶体而存在. 每一种 结晶物质都有它的特定结构(原子的种类, 结晶物质都有它的特定结构(原子的种类, 数目及 其在空间的排列结合方式).决定了每一种结晶物质 其在空间的排列结合方式).决定了每一种结晶物质 ).决定了 均有特定的衍射特征。 均有特定的衍射特征。
22nd Int’l. Conf. On X-ray Analysis – Durham, 2001 4
2010-11-1 new forma样图
2010-11-1
22
PDF卡片结构图
2010-11-1
23
PDF卡片的内容(1)
(1)1a、1b、1c,三个位置上的数据是衍 射花样中前反射区(2 θ <90°)中三条 最强衍射线对应的面间距,1d位置上的 数据是最大面间距。 如图7-2: (2)2a、2b、2c、2d,分别为上述各衍射 线的相对强度,其中最强线的强度为100.
不同的晶体有一系列不同的特定d值及相应的强度 不同的晶体有一系列不同的特定 值及相应的强度. 即 值及相应的强度
d hkl =
d h∗k ∗l∗ n
I ~ I0
这套数据就好象人的指纹一样, 可以用来确定 这套数据就好象人的指纹一样 相应的结晶物相. 相应的结晶物相 现在内容最丰富的多晶衍射数据 是由JCPDS ( Joint Committee on Powder 是由 Diffraction Standards)编的 编的PDF卡, 即粉末衍射卡 编的 卡 即粉末衍射卡.
晶体结构分析重要手段:X射线衍射
利用固体物理学的方法,可以从衍射光斑的图样确定晶 体的结构;为了获得晶体结构的信息,可以采取以下衍射 方法: 劳厄法:晶体固定不动,采用连续X射线入射。 转动单晶法:采用标识谱X射线,波长是固定的,但是晶 体旋转改变角度也可以使得条件满足。 粉末法:对于多晶即使用标识谱单色入射,并且固定晶 体不动,反射条件也容易满足。下图是X射线通过NaCl单 X NaCl 晶时的衍射图样。
将布拉格方程改写为
d h∗ k ∗l ∗ n
= d hkl
λ = 2sin θ hkl
好象与λ有关, 表面上看起来 dhkl 好象与λ有关 实际上它是产生 主要反射线的晶面间的距离. 由晶体的决定的, 主要反射线的晶面间的距离 由晶体的决定的 与 入射波长无关. 入射波长无关
2010-11-1 12
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ICDD数据库—2003版
PDF-4数据库 第一版 2002
279864套数据,关系数据库 2 DVD’s, 6GB
PDF-2数据库 第一版 1985
157048套数据,文本文件 CD-ROM, 760MB
数据书 1-53集 第一版 1957
92011套数据,纸版
2010-11-1 16
衍射花样中八条强线的面间距和相对强度, 按相对强度递减顺序列在前面,随后,依次 排列着,化学式,卡片编号,参比强度 (I/Ic)。
索引示例 索引说明
2010-11-1 31
2010-11-1
32
Hanawalt索引说明(1)
每个条目中,衍射线的相对强度分为10个等 级,最强线为100用×表示,其余者均以小10 倍的数字表示,写在面间距d值的右下角处。 参比强度I/Ic是被测相与刚玉按1:1重量配比时, 被测相最强线峰高与刚玉(六方晶系,113峰) 最强线峰高之比。
2010-11-1 13
二、PDF卡片
1. PDF卡片简介; 2. PDF试样图; 3. PDF卡片结构图; 4. PDF卡片内容。
2010-11-1
14
PDF卡片简介
J.D.Hanawalt等人于1938年首先发起,以d-I数 据组代替衍射花样,制备衍射数据卡片的工作。 1942年“美国材料试验协会(ASTM)”出版约 1300张衍射数据卡片(ASTM卡片)。 1300 ASTM 1969年成立了“粉末衍射标准联合委员会 (JCPDS)”,由它负责编辑和出版粉末衍射卡 片,称为PDF卡片。 1985年46000张卡片,每年2000张递增。
定性相分析的判据
通常用d(晶面间 距表征衍射线位置) 和I(衍射线相对 强度)的数据代表 衍射花样。用d-I 数据作为定性相分 析的基本判据。 定性相分析方法是 将由试样测得的d-I 数据组与已知结构 物质的标准d-I数据 组(PDF卡片)进 卡片) ( 卡片 行对比,以鉴定出 试样中存在的物相。
晶胞参数 晶系 空间群, Pna21 a/b和 c/b值 理论 密度 单胞化学 式量数
光学数据
2010-11-1 19
New PDF-4 Card offering tabular visualization and on-the-fly calculations
PDF Card
Historical “Card” Format
2010-11-1 26
PDF卡片的内容(4)
(6)试样来源,制备方法;化学分析,有 时亦注明升华点(S.P.),分解温度 (D.T.),转变点(T.P.),摄照温度等。
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PDF卡片的内容(5)
(7)物相的化学式和名称。 在化学式之后 常有一个数字和大写英文字母的组合说 明。数字表示单胞中的原子数;英文字 母表示布拉菲点阵类型:C—简单立方; B—体心立方;F—面心立方;T—简单 正方;U—体心正方;R—简单菱方; H—简单六方;O简单斜方;Q—底心斜 方;S—面心斜方;M—简单单斜;N— 底心单斜;Z—简单三斜。
2010-11-1
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PDF卡片的内容(2)
(3)实验条件:Rad.—辐射种类(如Cu Kα); λ—波长;Filter—滤波片;Dia.—相 机直径;Cut off—相机或测角仪能测得 的最大面间距;Coll—光阑尺寸;I/I1— 衍射强度的测量方法;d corr.abs.?—所测 值是否经过吸收校正;Ref—参考资料
2010-11-1
35
1982年版本又作了进一步改进,它的编 排规则为:
(1)所有的相最少都以d1d2的编排顺序出现 一次; (2)对I2/I1>0.75和I3/I1 ≤0.75的相,以d1d2 和d1d3的编排顺序出现二次; (3)对I3/I1 >0.75和I4 /I1 ≤0.75的相,以d1d2、 d2d1 和d3 d1的编排顺序出现三次; (4)对I4/I1 >0.75的相,以d1d2、 d2d1 和 d3 d1和d4 d1的编排顺序出现四次。
PDF卡片索引是一种能帮助实验者从数 万张卡片中迅速查到所需要的PDF卡片 的工具书。由JCPDS编辑出版手册有: Hanawalt无机物检索手册; 有机相检索手册; 无机相字母索引; Fink无机索引; 矿物检索手册等品种。
2010-11-1 30
Hanawalt无机相数值索引
索引的编排方法是:每个相作为一个条 目,在索引中占一横行。每个条目中的 内容包括:
X-射线物相分析 射线物相分析 引言 基本原理; PDF卡片; PDF卡片索引; 分析方法; 物相定量分析。
2010-11-1
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引言
物质的元素组成??
利用X射线的方法对试 样中由各种元素形成的 具有固定结构的化合物, 进行定性和定量分析。 X射线物相分析给出的 结果,不是试样的化学 成分,而是由各种元素 组成 的具有固定结构的 化合物的组成和含量。
2010-11-1 2
亨斯菲尔德
科马克
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3
♦精密分析物质的成分X-ray Photoelectron Spectroscopy 精密分析物质的成分 ♦(XPS)。 ( )。 (所需样品量小,无损伤,灵敏度高 所需样品量小, 所需样品量小 无损伤,灵敏度高)
例如 . 对珍贵出土文物的分析 1965年出土的 2500年前的 年出土的 年前的 越王勾践宝剑的成分 的成分。 越王勾践宝剑的成分。 例如 . 对人的头发中痕量元素分析 长寿、疾病、弱智与痕量元素的关系。 长寿、疾病、弱智与痕量元素的关系。 空气采样分析(上海与拉萨 上海与拉萨) 例如 . 空气采样分析 上海与拉萨
第五章 X射线物相分析
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X 射线应用举例
♦X光透视 光透视 ♦CT与CAT 与
CT: computed tomography computerized tomography 计算机体层照相术 计算机断层照相术 计算机控制断层扫描术 computerized axial tomography (CAT) 计算机控制〔 轴向〔 线 断层〔 计算机控制〔横〕轴向〔X线〕断层〔扫 描〕术
2010-11-1 28
PDF卡片的内容(6)
(8)矿物学名称。右上角的符号标记表 示:*—数据高度可靠;i—已指标化和 估计强度,但可靠性不如前者;O—可靠 性较差;C—衍射数据来自理论计算。 (9)晶面间距,相对强度和干涉指数。 (10)卡片的顺序号。
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三、PDF卡片索引
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PDF卡片的内容(3)
(4)晶体学数据:Sys.—晶系;S.G—空 间群;a0、b0、c0,α、β、γ—晶胞参数; A= a0/b0 ,C= c0 / b0 ;Z—晶胞中原子或 分子的数目; Ref—参考资料。 (5)光学性质: εα、nωβ、εγ—折射率; Sign—光性正负;2V—光轴夹角;D— 密度;mp—熔点;Color—颜色; Ref—参考资料。
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Dorothy Hodgkin霍奇金 于1956年得到维生素 年得到维生素B12的结构。 的结构。 霍奇金 年得到维生素 的结构 1964年获诺贝尔奖 年获诺贝尔奖 维生素B12也是第一个通过解晶体结构得到分子结构的分子 也是第一个通过解晶体结构得到分子结构的分子 维生素 2010-11-1 7
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自然界中的大部分物质以晶体而存在. 自然界中的大部分物质以晶体而存在. 每一种 结晶物质都有它的特定结构(原子的种类, 结晶物质都有它的特定结构(原子的种类, 数目及 其在空间的排列结合方式).决定了每一种结晶物质 其在空间的排列结合方式).决定了每一种结晶物质 ).决定了 均有特定的衍射特征。 均有特定的衍射特征。
22nd Int’l. Conf. On X-ray Analysis – Durham, 2001 4
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PDF卡片结构图
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PDF卡片的内容(1)
(1)1a、1b、1c,三个位置上的数据是衍 射花样中前反射区(2 θ <90°)中三条 最强衍射线对应的面间距,1d位置上的 数据是最大面间距。 如图7-2: (2)2a、2b、2c、2d,分别为上述各衍射 线的相对强度,其中最强线的强度为100.
不同的晶体有一系列不同的特定d值及相应的强度 不同的晶体有一系列不同的特定 值及相应的强度. 即 值及相应的强度
d hkl =
d h∗k ∗l∗ n
I ~ I0
这套数据就好象人的指纹一样, 可以用来确定 这套数据就好象人的指纹一样 相应的结晶物相. 相应的结晶物相 现在内容最丰富的多晶衍射数据 是由JCPDS ( Joint Committee on Powder 是由 Diffraction Standards)编的 编的PDF卡, 即粉末衍射卡 编的 卡 即粉末衍射卡.