镜面反射面形光学三维测量技术综述

作者：陶涛;郭红卫;何海涛

作者机构：上海大学精密机械工程系,上海,200072;上海大学精密机械工程系,上海,200072;上海大学精密机械工程系,上海,200072

来源：光学仪器

ISSN：1005-5630

年：2005

卷：027

期：002

页码：90-95

页数：6

中图分类：TN247

正文语种：chi

关键词：三维面形测量;镜面反射;漫反射;主动测量;被动测量

摘要：讨论了用于测量镜面反射物体三维面形的各种光学技术.这些技术分为被动式测量和主动式测量两大类.被动式测量包括基于光度学的测量技术和基于镜面反射成分恢复面形技术.主动式测量主要是采用结构光技术测量镜面物体.同漫反射物体的三维测量技术相比,现有镜面物体三维测量技术的发展还不成熟,其技术研究已严重滞后于其需求的快速增长.文章可为深入研究镜面反射物体的三维测量技术提供有益的参考.