探针基础知识培训
荧光定量PCR基础知识
内参-校准生物学误差
• 内参用于校准实验过程对定量结果的影响核酸提取时通常以重量或体积 为单位取样，再加上提取效率和操作误差，造成等量提取物不一定来源 于等量细胞（或基因组）
1. 用DNase酶处理样本 2. 检测no-RT对照（不进
行逆转录的样本）
+RT 和–RT 应该至少 相差6-7 Cts
(大约1% 信号由DNA 产生).
+RT -RT
4 阳性对照-监控系统故障
• 内参(管家基因) – 标准品线性范围 – 灵敏度 – 扩增效率
• 外源阳性内对照 – 来源PCR产物 – 质粒 – 阳性样本
3’端的前4个碱基不能有3个以上的G
避免重复序列：避免序列中4个以上的G或连续6个A
选择C比G多的链当探针
5‘端第一个碱基不能为G，如为FAM，则第二个碱 基 也 不 能 是 G。5" 端染料最好连接在T或C碱基上 。
Primer PCR产物大小建议50-150bp
Tm值:58-60℃ Primer长度： 20bp
RNA降解（小量等份分装）
两步法
• 先将RNA逆转录成cDNAs
• 将cDNAs 1:2 – 1:10 稀释
• 加入反应板中，实时扩增 cDNA，或-20º C储存（稳定保 存数周）
– 优势：cDNA远比RNA稳定， 可以反复冻融多次
– 不足：和一步法相比，需要更 多的加样步骤
预扩增
传统的基因表达分析
• 原始光谱视图（Raw Date ） : 显示PCR反应中荧光信号的软件视图 • 背景组分: 仪器基座的背景“噪音”。
背景噪音影响反应的灵敏度。 背景读数存储于计算机并被反应的荧光信号扣除
纯荧光校正
偏振荧光光谱原理
偏振荧光光谱原理偏振荧光光谱原理详解引言：偏振荧光光谱是一种重要的技术手段，广泛应用于化学、物理、生物学等多个领域。
通过对荧光信号的偏振特性进行测量和分析，可以揭示物质的结构、动态行为以及与周围环境的相互作用。
本文将为您详细介绍偏振荧光光谱的原理和分析步骤。
第一部分：偏振荧光的基础知识1. 光的偏振性光是一种电磁波，其电场分量在空间中垂直传播方向的方向不同，可分为无偏振光、线偏振光和圆偏振光。
线偏振光具有固定的电场振动方向，而圆偏振光的电场振动方向沿着垂直传播方向旋转。
2. 荧光光谱荧光是一种物质在受到能量激发后，从高能级跃迁到低能级时放出的光。
荧光光谱是荧光的波长分布，通常可由荧光光谱仪进行测量和记录。
第二部分：偏振荧光光谱的原理1. 偏振效应原理偏振荧光光谱的原理基于荧光分子在激发和发射过程中发生的偏振效应。
激发光通常是无偏振光，而发射光的偏振状态与激发光的偏振状态有关。
通过测量和分析荧光分子产生的线偏振光的偏振特性，可以获得物质的结构和动态信息。
2. 偏振荧光的产生机制荧光分子在受到激发后，电子从基态跃迁到激发态，并在激发态停留一段时间。
在这个过程中，荧光分子与周围环境（如溶液、固体等）的相互作用引起偏振效应。
这些相互作用包括取向效应、共振能量传输效应和旋转扭转效应。
3. 偏振荧光的测量与分析为了获得物质的结构和动态信息，我们需要通过测量荧光的偏振特性。
为此，我们可以使用偏振荧光光谱仪进行实验。
该仪器可以通过包括偏振片和分光器在内的光学元件，对荧光信号的偏振度进行测量和分析。
第三部分：偏振荧光光谱的应用1. 蛋白质结构分析偏振荧光光谱可用于研究蛋白质的构象和动态行为。
通过测量和分析荧光蛋白质的偏振特性，可以揭示其分子结构和溶剂化特性。
2. 荧光标记探针偏振荧光光谱可用于研究荧光标记探针和生物分子的相互作用。
通过测量和分析探针的偏振特性变化，可以揭示探针与靶分子之间的结合方式和状况。
3. 材料科学研究偏振荧光光谱在材料科学研究中也有重要应用。
检具设计基础知识培训
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第一部分：检具概述
检具功能和应用目的 检具公差规则 偏差 检具基本类型和应用 计量型检具 பைடு நூலகம்能性检具
检具概述：
什么是检测？
用指定的方法检验测试物品指定的技术性能指标。 模拟最严酷的装配状态。（如上限、下限配合）
什么是检具？
检具是一种用来测量零件尺寸和形位公差的专用工装； 在生产现场，对零件进行在线检测； 将零件按要求安装在检具上，通过目测或专用检测器具检查； 用于检验产品尺寸，形状，位置特性的专用夹具和检测附件。
位置度：
孔(要素)组的位置度： 板类件：一般位置度(给二个相互垂直的方向）
同轴度：
公差带是围绕基准轴直径为t 的圆柱。 被测特征的中点要素在公差带内。
对称度：
公差带是围绕基准中心面的两个平行面。 被测特征的中点要素在公差带内。
线轮廓度：
线轮廓度：线轮廓度是限制实际曲线对理想曲线变动量的一项指标， 它是对非圆曲线的形状精度要求。 公差带：平行于理论轮廓线的两个曲线内。 公差值：两平形曲线间的距离。
位置度：
位置度：
位置度公差带－点的位置（球）：公差值前加Sφ,公差带为直径等于公差值 Sφt 的圆球面所限定的区域；该圆球的中心理论位置由A,B,C和理论正确尺 寸确定。
位置度：
位置度测量： CMM（三座标系统）测量。 位置度检具测量（GB中叫综合检具）。
位置度：
孔(要素)组的位置度： 盘类件：
平面度用于实体表面控制：
平面度：形状公差，控制平面上所有元素的偏差。 公差带：两个平行平面，所有元素落在中间。 公差值：两面之间的距离。
平面度用于实体表面控制：
测量：比较待测表面与它的真实面公差带的第一个平面由被控 表面上的三个最高点组成，第二个平面是偏离第一个平面控制 公差值距离的平行平面。
工艺培训资料 基本知识
顺序书、 操作指导书、设备操作规程等工艺 文件），对技术文件的要求（正确、完整、 有效、受控）。 2）设备和工艺装备的技术状况。 3）材料、在制品符合工艺要求。 4）操作者。 5）环境文明卫生。 6）检验的正确性和及时性。
一、法—技术文件的质量
技术文件的质量应包括两个方面：
基本组成： 1．作业内容：此工序所需要做的事。（每一位作业 员要知道自己做什么。需要做好什么） 2．作业简图：用图示的方式表达作业内容（一看就 能明白这是什么工序需要做什么） 3．物料内容：此工序所用到的物料（找到自己这一 道工序所需要的用到的物料） 4．使用工具：本工序所用到的工具（要用到什么工 具） 5．注意事项：在操作时所遇到的问题与必须注意的 地方。（产品不定因素确认） 6．符号 修改作业指导书用的 7．品名 工序 编号 日期 文件管理的需要
注：现场所使用的工艺文件 都是受控文件，而且是只有 经过相关部门审批并加盖 紅色印章“受控文件”才 是合法有效的工艺文件
一〃 生产作业指导书的作用 释义：顾名思义，就是指导我们员工作业方法与 方式，把产品的合理的生产过程以文件的方式做 出来。（并不是一陈不变的，如果我们有更好的 方式与方法，可以向工艺技术部门提出你的见解， 我们将合理采纳你们宝贵的意见。） 目的：通过对我们的作业人员进行技术性指导， 提高我们的工作效率与品质。又好又快的做出我 们的产品。我们最重要就是时间，在同样的时间 内产生我们最大的价值。这就是作业指导书最关 键的作用。
从实例中讲解1-5：我们公司产品的高温老化工序 1〃老化前准备工作做好，按要求作业的时间,确保生 产的进度。 （1） 产品的识别：名称、电流规格等加以确认。 （2） 部品的检查 ：产品类型（终端模块还是其它） （3） 提前做好一些准备，简化复杂的工序。 2〃外观检查工序：一般要注意事项。 这一道工序主要是通过目视，与意识中要形成的合格 品作比较、检出不良品。 3.预热房开机点检，记录填写。确认老化室是否运行 正常和时间、温度达到设定温度、开始放入所需老化 的产品进行预热。 4.老化后检查：走字误差、液晶背光亮度是否均匀， 按键是否灵活可控）。 5.记录填单：填写老化产品型号、日期，记录老化产 品不良。
原子力显微镜基础知识解读
原子力显微镜基础知识解读原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM）是一种高分辨率的显微镜，可用于研究物质的表面形态、力学性质等。
AFM采用扫描探针从样品表面扫描，利用针尖与样品表面的相互作用力来获得样品表面的形貌信息。
AFM具有高分辨率、非接触测量、可以在常温常压下进行实验等优点，因此被广泛应用于物理、化学、材料等多个领域的研究。
AFM工作原理AFM探头在扫描样品表面的过程中，通过针尖与样品表面的相互作用力（包括原子间力、化学键力、范德华力、弹性力等）来感知样品表面形态信息。
AFM采用的采样频率一般在几十赫兹到几百赫兹之间，探测范围在纳米到微米之间，精度可达纳米级别。
AFM探测原理大体可以分为力-位移探测和干涉仪探测两种方式。
力-位移探测是利用弹性探针尖部与样品表面间的相互作用力来感知样品表面形态信息。
探针在扫描样品表面时，探针尖部的位置发生微小变化，这种变化可以通过晶体谐振试验测量得到。
干涉仪探测则是采用光学干涉原理，通过探针尖部的振动干涉信号来获得样品表面形态的信息。
AFM应用领域AFM在各个领域有着广泛的应用。
在表面形态方面，AFM可以获得样品表面形貌、粗糙度、角度等信息。
在生物领域，AFM 可以用于测量蛋白质、DNA、细胞等的力学性质，如弹性模量、形变硬度等。
在材料科学领域，AFM可以用于材料表面物理性质的研究，如表面润湿性、磁性、电学性质等。
在纳米科技领域，AFM可以用于制备纳米结构及其表面形态研究等。
使用AFM时需要注意的事项在使用AFM时需注意：1、准备好样品。
样品应具备光洁度、平整度等要求，要排除可能引起探针损坏或测量误差的因素。
2、确定扫描范围。
根据需要获得的样品表面信息，确定扫描范围及分辨率。
3、选择适量的力度。
根据样品类型及探针硬度等因素，选择适量的力度。
4、检测探针。
检测探针的质量及硬度等特性。
5、设置参数。
根据采样方式、探租类型及大小等，设置相应的参数。
执业兽医资格考试之外科及手术学-无菌术基础知识培训
1、切开长度要适当。
2、途径最短。
3、切开组织切口整齐，力求一次切开。
4、注意避开大的血管、神经、腺体导管、 瘢痕。
5、利于创液的排出，特别是脓汁的流出。
6、分割骨组织前，先分离骨膜。
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ห้องสมุดไป่ตู้
执业兽医资格考试之外科及手术学-
第四节 止血
一、出血种类
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执业兽医资格考试之外科及手术学-
二、引流物种类
1、纱布条引流 2、橡皮管引流 3、皮片引流 4、胸腔闭式引流 5、菌状导尿管（导尿用） 6、双套管引流
6
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消毒方向
非 感 染 创
感 染 创
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执业兽医资格考试之外科及手术学-
二、手术器械及物品的准备
1、煮沸灭菌法
➢ 普通水（常水）： 器械保持煮沸30分钟，急用 至少保持10分钟。
➢ 2％Na2CO3：煮沸10－15分钟即可充分灭菌。 ➢ 2％Na2CO3优点：
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执业兽医资格考试之外科及手术学-
第六节 拆线
碘酊消毒创口和缝线，镊子夹住线头，
剪刀剪断一侧缝线，同时将线头向拆线一侧 轻轻拉出，碘酊再次消毒。
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执业兽医资格考试之外科及手术学-
第七节 引 流
二、手术剪
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口腔器械识别基础知识
恒牙拔牙钳子222#
• 用途：拔除下颌智齿 用
恒牙拔牙钳27#
• 用途：拔除下颌后磨 牙用
恒牙拔牙钳子66#
• 用途：用于下颌牙根 分离
恒牙拔牙钳44#
• 用途：拔除下颌残根 用
• 下颌根尖钳为直角式 钳，钳喙类似于上颌 根尖钳，使用方法与 上颌根尖钳相似，在 使用中应注意保护对 颌牙。
握持方法
• 银汞合金输送器：包括推压手柄、一定角度弯
曲的输送套筒和弹簧栓头。将调制好的银汞合金 放到套筒口中，通过推压手压缩弹簧栓头，将银 汞合金推至窝洞内。
• 银汞合金充填器：工作端由大中小三种型号之
分，呈粗细部同德圆柱状，用于充填银汞合金。
• 银汞合金雕刻器：其工作端成卵圆形或小圆球分
叉形，用于雕刻银汞合金外形。注意应保持雕刻器 工作端的角度和光滑的边缘。
采取糊剂；另一端为光滑柱状小头形，用于充填 糊剂。
• 成形片和成形片夹：
成形片为不锈钢制成的弹性薄片，中间突出部为紧贴龈 壁且深入牙龈沟的部分，可分为大、小两型，两侧各有 3或2个固定小孔，分别用于成人磨牙和前磨牙，后者也 用于乳磨牙。成形片夹由两个不锈钢的手柄螺丝和两个 固定臂组成。主要用于复面洞充填，保持充填体与洞壁 的密合，且利于成形，恢复患牙与邻牙的接触关系。
恒牙拔牙钳子17#
• 用途：拔除下颌后磨牙用
• 下颌磨牙钳为直角式钳，喙宽， 双侧喙中部各有喙尖一个，自 喙上方俯视喙缘为葫芦形。喙 尖主要用于夹持下颌磨牙的根 分叉区。防止在拔除过程中牙 钳脱落。在使用中应采用颊舌 向摇力及合向牵引力并使牙齿 向舌向脱位。在脱位时应注意 保护对颌牙。此外安放牙钳时 应注意钳喙的喙尖是否正确的 放入根分叉内，避免因夹持牙 龈引发牙龈撕裂进而导致拔牙 术后出血。
三坐标基础培训手册
三坐标基础培训手册教材（一）三坐标测量机概述一、三坐标测量机的概念三坐标测量机的测量功能有二个：一是对工件几何尺寸的测量；二是对工件的形位公差的测量，并可用于逆向工程。
其测量的数据通过计算机进行运算及数据处理，将所需结果（数据）打印出来，并绘制出图形。
二、什么叫形位公差？形位公差分为形状公差和位置公差。
(1）形状公差：构成零件的几何特征的点，线，面元素之间的实际形状相对与理想形状的允许变动量。
给出形状公差要求的元素称为被测元素。
(2）位置公差：零件上的点，线，面元素的实际位置相对与理想位置的允许变动量。
用来确定被测元素位置的元素称为基准元素。
(1)理想元素和实际元素具有几何学意义的元素称为理想元素.零件上实际存在的元素称为实际元素,通常都以测得元素代替实际元素.(2)被测元素和基准元素在零件设计图样上给出了形状或(和)位置公差的元素称为被测元素.用来确定被测元素的方向或(和)位置的元素,称为基准元素.(3)单一元素和关联元素给出了形状公差的元素称为单一元素.给出了位置公差的元素称为关联元素.三、机器的结构以及特点（一）机器采用桥式结构（二）结构特点1.结构刚性好、承重能力大、空间开阔、布局合理、操作简单、维修方便、采用空气轴承、移动轻便。
2.工作台是机器的基准，采用高精度的大理石。
大理石的主要优点是变形小、稳定性好、不生锈，易于作平面加工，易于达到比铸铁更高的平面度，适合制作高精度的平台与导轨。
目前许多三坐标测量机采用这种材料。
机器的基座、工作台、桥框、各轴导轨、Z轴等全用花岗岩制造。
由于花岗石的热膨胀系数小，很适合与气浮导轨配合。
使用中应注意防水防潮，禁止用混水的清洗剂擦拭花岗石表面，也应防气体中的水分对导轨的影响。
四、机器的工作原理与用途（一）机器的工作原理将被测工件放置在三坐标测量机的平台上，移动X、Y、Z三轴，对工件进行测量，便可获得被测几何形面上各测点的几何坐标尺寸经过计算和数据处理，可求出待测几何尺寸和相互位置尺寸以及形位误差值。