X射线衍射法测量铝合金残余应力及误差分析

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7A52铝合金MIG焊接头的X射线衍射分析

7A52铝合金MIG焊接头的X射线衍射分析

收稿日期:2007-03-15基金项目:国家重点基础研究计划(973)项目(2005C B623705)7A52铝合金MIG 焊接头的X 射线衍射分析 黄继武1, 尹志民1, 聂 波1,2, 肖 静1, 陈继强1 (1.中南大学材料科学与工程学院,长沙 410083;2.东北轻合金有限责任公司,哈尔滨 150060)摘 要:采用微合金化Al -Mg -Mn -Sc -Z r 合金焊丝按MIG 方法焊接7A52铝合金板材。

采用高功率X 射线衍射仪对7A52铝合金焊接接头不同部位进行了精确的X 射线衍射分析。

结果表明,在焊接接头中存在四个本质的热扩散区域。

离焊缝中心线0~4mm 范围为焊缝区,焊缝中心为铸态组织;4~10mm 区域为半熔化区,在自然时效过程中有较多微小的强化相η′析出;10~16mm 范围为淬火区,原有沉淀相部分地回溶到基体并不能在自然时效过程中重新析出;最远端为软化区,基材中原有强化相η在焊接热输入的影响下形成了粗大的T 相,导致强度降低。

焊接热输入对不同区域的影响大小不同,导致不同区域的固溶程度和晶格畸变量不同,从而使微观和宏观残余应力都略有差异。

关键词:铝合金板材;焊接;析出;晶粒尺寸;残余应力中图分类号:TG 115.28 文献标识码:A 文章编号:0253-360X (2007)12-013-05黄继武0 序 言AlZnMg 合金由于具有优良的加工性能和高的比强度而得到了工业普遍的应用。

7A52铝合金是Al Zn Mg 合金家族中一种中高强可焊结构材料。

该合金是国内于20世纪80年代自行研制的中高强可焊铝合金,具有较高的比强度、较好的断裂韧性和抗低周疲劳性能。

该合金作为炮架和装甲结构件,被广泛应用于兵器工业领域[1]。

该合金作为焊接结构件使用,其焊接性能在整体性能中具有重要的地位。

7A52铝合金的板材一般采用焊条电弧焊、熔化极惰性气体保护电弧焊(MIG )[2,3]和搅拌摩擦焊(FSW )[4]焊接。

X射线衍射法测试高速列车车体铝合金残余应力

X射线衍射法测试高速列车车体铝合金残余应力

( .西南交通大学材料先进技术 教育部重 点实验 室 ,四川 1 成都 60 3 ; .南车 四方机车车辆股 份有 限公 司 , 10 1 2

要 :为了准确 、 损 、 无 快速地检测高速列车铝合金 的表面残余应力 , 采用 等强杆拉伸试 验方法 , x射线衍 用
射法对测试结果进行标定 , 并用 x射线衍射法 、 盲孔法 以及 有限元法对测得 的车体铝合金焊 接接头残余应力进 行 了对 比. 结果 表明 : 等强杆拉伸试验标 定过程 中 , 1 7 a范围内 , 在 0— 0MP 随着拉 伸载荷的增加 ,X射线法测 得 的应力 与载荷应力具有一致性 ,可采用 x射线衍射 法对 车体关键部位应力状态进行测试分析 , x射线衍射 法残
D : 0 36 /.s .2 82 2 .0 20 . 1 OI 1 .9 9ji n0 5 -7 4 2 1 . 0 3 s 4
X 射 线 衍 射 法 测 试 高 速 列 车车体 铝 合金 残 余应 力
苟 国庆 黄 ,
山东 青岛 2 60 ) 60 0
楠 陈 辉 田爱琴 , ,
tan c u aey,q i ky,a d n n d sr ciey,t e tn i e to n e u ls e gh r d w su e o r i s a c rt l uc l n o - e tu t l h e sl ts fa q a t n t o a s d t v e r
t e XRD t o a e u e o e tn h r sd a sr s n t e ke p rs o h umi u al y h meh d c n b s d f r t si g t e e i u l te s i h y at f t e a l n m 1o

射线衍射方法测量残余应力的原理与方法

射线衍射方法测量残余应力的原理与方法

X射线衍射方法测量残余应力得原理与方法-STRESSX射线衍射方法测量残余应力得原理与方法什么就是残余应力?外力撤除后在材料内部残留得应力就就是残余应力。

但就是,习惯上将残余应力分为微观应力与宏观应力。

两种应力在X射线衍射谱中得表现就是不相同得。

微观应力就是指晶粒内部残留得应力,它得存在,使衍射峰变宽。

这种变宽通常与因为晶粒细化引起得衍射峰变宽混杂在一起,两者形成卷积。

通过测量衍射峰得宽化,并采用近似函数法或傅立叶变换方法来求得微观应力得大小。

宏观应力就是指存在于多个晶体尺度范围内得应力,相对于微观应力存在得范围而视为宏观上存在得应力。

一般情况下,残余应力得术语就就是指在宏观上存在得这种应力。

宏观残余应力(以下称残余应力)在X射线衍射谱上得表现就是使峰位漂移。

当存在压应力时,晶面间距变小,因此,衍射峰向高度度偏移,反之,当存在拉应力时,晶面间得距离被拉大,导致衍射峰位向低角度位移。

通过测量样品衍峰得位移情况,可以求得残余应力。

X射线衍射法测量残余应力得发展X射线衍射法就是一种无损性得测试方法,因此,对于测试脆性与不透明材料得残余应力就是最常用得方法。

20世纪初,人们就已经开始利用X射线来测定晶体得应力。

后来日本成功设计出得X射线应力测定仪,对于残余应力测试技术得发展作了巨大贡献。

1961年德国得E、Mchearauch提出了X射线应力测定得sin2ψ法,使应力测定得实际应用向前推进了一大步。

X射线衍射法测量残余应力得基本原理X射线衍射测量残余内应力得基本原理就是以测量衍射线位移作为原始数据,所测得得结果实际上就是残余应变,而残余应力就是通过虎克定律由残余应变计算得到得。

其基本原理就是:当试样中存在残余应力时,晶面间距将发生变化,发生布拉格衍射时,产生得衍射峰也将随之移动,而且移动距离得大小与应力大小相关。

用波长λ得X射线,先后数次以不同得入射角照射到试样上,测出相应得衍射角2θ,求出2θ对sin2ψ得斜率M,便可算出应力σψ。

x射线衍射测量残余应力实验指导书

x射线衍射测量残余应力实验指导书

X射线衍射方法测量材料的残余应力一、实验目的与要求1.了解材料的制备过程及残余应力特点。

2.掌握X射线衍射(XRD)方法测量材料残余应力的实验原理和方法。

二、了解表面残余应力的概念、分类及测试方法种类, 掌握XRD仪器设备的操作过程。

三、实验基本原理和装置..1.X射线衍射测量残余应力原理当多晶材料中存在内应力时, 必然还存在内应变与之对应, 导致其内部结构(原子间相对位置)发生变化。

从而在X射线衍射谱线上有所反映, 通过分析这些衍射信息, 就可以实现内应力的测量。

材料中内应力分为三大类。

第I类应力, 应力的平衡范围为宏观尺寸, 一般是引起X射线谱线位移。

由于第I类内应力的作用与平衡范围较大, 属于远程内应力, 应力释放后必然要造成材料宏观尺寸的改变。

第II类内应力, 应力的平衡范围为晶粒尺寸, 一般是造成衍射谱线展宽。

第III类应力, 应力的平衡范围为单位晶胞, 一般导致衍射强度下降。

第II类及第III类内应力的作用与平衡范围较小, 属于短程内应力, 应力释放后不会造成材料宏观尺寸的改变。

在通常情况下, 我们测得是残余应力是指第一类残余应力。

当材料中存在单向拉应力时, 平行于应力方向的(hkl)晶面间距收缩减小(衍射角增大), 同时垂直于应力方向的同族晶面间距拉伸增大(衍射角减小), 其它方向的同族晶面间距及衍射角则处于中间。

当材料中存在压应力时, 其晶面间距及衍射角的变化与拉应力相反。

材料中宏观应力越大, 不同方位同族晶面间距或衍射角之差异就越明显, 这是测量宏观应力的理论基础。

原理见图1。

由于X射线穿透深度很浅, 对于传统材料一般为几十微米, 因此可以认为材料表面薄层处于平面应力状态, 法线方向的应力(σz )为零。

当然更适用于薄膜材料的残余应力测量。

图1 x 射线衍射原理图图2中φ及ψ为空间任意方向OP 的两个方位角, εφψ 为材料沿OP 方向的弹性应变, σx 及σy 分别为x 及y 方向正应力。

X射线衍射方法测量残余应力的原理与方法

X射线衍射方法测量残余应力的原理与方法

X射线衍射方法测量残余应力的原理与方法-STRESSX射线衍射方法测量残余应力的原理与方法什么是残余应力?外力撤除后在材料部残留的应力就是残余应力。

但是,习惯上将残余应力分为微观应力和宏观应力。

两种应力在X射线衍射谱中的表现是不相同的。

微观应力是指晶粒部残留的应力,它的存在,使衍射峰变宽。

这种变宽通常与因为晶粒细化引起的衍射峰变宽混杂在一起,两者形成卷积。

通过测量衍射峰的宽化,并采用近似函数法或傅立叶变换方法来求得微观应力的大小。

宏观应力是指存在于多个晶体尺度围的应力,相对于微观应力存在的围而视为宏观上存在的应力。

一般情况下,残余应力的术语就是指在宏观上存在的这种应力。

宏观残余应力(以下称残余应力)在X射线衍射谱上的表现是使峰位漂移。

当存在压应力时,晶面间距变小,因此,衍射峰向高度度偏移,反之,当存在拉应力时,晶面间的距离被拉大,导致衍射峰位向低角度位移。

通过测量样品衍峰的位移情况,可以求得残余应力。

X射线衍射法测量残余应力的发展X射线衍射法是一种无损性的测试方法,因此,对于测试脆性和不透明材料的残余应力是最常用的方法。

20世纪初,人们就已经开始利用X射线来测定晶体的应力。

后来日本成功设计出的X射线应力测定仪,对于残余应力测试技术的发展作了巨大贡献。

1961年德国的E.Mchearauch提出了X射线应力测定的sin2ψ法,使应力测定的实际应用向前推进了一大步。

X射线衍射法测量残余应力的基本原理X射线衍射测量残余应力的基本原理是以测量衍射线位移作为原始数据,所测得的结果实际上是残余应变,而残余应力是通过虎克定律由残余应变计算得到的。

其基本原理是:当试样中存在残余应力时,晶面间距将发生变化,发生布拉格衍射时,产生的衍射峰也将随之移动,而且移动距离的大小与应力大小相关。

用波长λ的X射线,先后数次以不同的入射角照射到试样上,测出相应的衍射角2θ,求出2θ对sin2ψ的斜率M,便可算出应力σψ。

X射线衍射方法主要是测试沿试样表面某一方向上的应力σφ。

x射线衍射法测残余应力

x射线衍射法测残余应力

x射线衍射法测残余应力x射线衍射法是一种常用的测量材料中残余应力的方法。

残余应力是指在材料内部存在的无外力作用下的应力状态。

x射线衍射法通过观察材料晶体的衍射图样,可以间接获得材料中的残余应力信息。

在材料制备和加工过程中,常常会产生各种类型的应力,如热应力、机械应力等。

这些应力可能会导致材料的性能下降甚至失效。

因此,了解材料中的残余应力分布情况对于材料的设计和使用具有重要意义。

x射线衍射法测量残余应力的原理是基于布拉格衍射定律。

根据布拉格衍射定律,当x射线入射到晶体上时,会与晶体中的原子产生相互作用,形成衍射峰。

这些衍射峰的位置和强度与晶体中的晶格常数、晶体结构以及晶体内部的应力状态有关。

x射线衍射实验通常使用x射线衍射仪进行。

首先,将待测材料制备成适当的样品,通常为薄片或者粉末。

然后,将样品放置在x射线衍射仪的样品台上,调整x射线的入射角度和入射波长,使得x 射线与样品发生衍射。

通过观察和分析衍射图样,可以得到一些重要的信息。

首先,衍射峰的位置可以计算出晶格常数,从而了解材料的晶体结构。

其次,衍射峰的宽度可以反映出材料中的残余应力大小。

在材料中存在应力时,晶体中的晶面会发生畸变,从而导致衍射峰的展宽。

根据衍射峰的形状和宽度,可以计算出材料中的残余应力大小和分布情况。

x射线衍射法测量残余应力具有许多优点。

首先,它是一种非破坏性的测量方法,可以对样品进行多次测量,而不会对样品的性能和结构造成损害。

其次,x射线衍射法可以测量材料中的残余应力分布情况,而不仅仅是某一个点的应力值。

这对于了解材料的应力状态以及应力的来源具有重要意义。

然而,x射线衍射法也存在一些限制。

首先,它只能测量具有晶体结构的材料,无法对非晶态材料进行测量。

其次,x射线衍射法对于样品的制备要求较高,需要将样品制备成适当的形状和尺寸,并且表面应该光滑且无缺陷。

此外,x射线衍射法对于测量环境的稳定性要求较高,温度和湿度的变化都会对测量结果产生影响。

X射线衍射法残余应力测试

目录1.概述 (2)1.1 X射线残余应力测试技术和测量装置的进展 (2)a.测试技术的进展 (3)b.测量装置的进展 (4)1.2测试标准 (5)2、测定原理及方法: (6)2.1二维残余应力 (6)2.1.1原理 (6)2.1.2方法 (9)2.2三维残余应力 (15)2.2.1沿深度分布的应力测定一剥层法 (16)2.2.2 X射线积分法(RIM) (17)2.2.3 多波长法 (20)3、X射线残余应力测定法的优、缺点 (21)4、一些应用 (22)参考文献: (23)X射线衍射法残余应力测试原理、计算公式、测试方法的优缺点、目前主要应用领域。

1.概述X射线法是利用X射线入射到物质时的衍射现象测定残余应力的方法。

包括X射线照相法、X射线衍射仪法和X射线应力仪法。

1.1 X射线残余应力测试技术和测量装置的进展早在1936年,Glocker等就建立了关于x射线应力测定的理论。

但是当时由于使用照相法,需要用标准物质粉末涂敷在被测试样表面以标定试样至底片的距离,当试样经热处理或加工硬化谱线比较漫散时,标准谱线与待测谱线可能重叠,测量精度很低,因此,这种方法未受到重视,直到二十世纪四十年代末还有人认为淬火钢的应力测定是不可能的。

只有在使用衍射仪后,X射线应力测定才重新引起人们的重视,并在生产中日渐获得广泛应用。

美国SAE在巡回试样测定的基础上,于1960年对X射线应力测定技术进行了全面的讨论。

日本于1961年在材料学会下成立了X射线应力测定分会,并在1973年颁布了X射线应力测定标准方法。

a.测试技术的进展在二十世纪五十年代,X射线应力测定多采用0°~ 45°法(又称两次曝光法),这种方法在dψϕ与sin2ψ有较好的线性关系时误差不大,但当试件由于各种原因,dψϕ与sin2ψ偏离离直线关系时,0°~ 45°法就会产生很大误差。

为了解决这个问题,德国E.Macherauch在1961年提出了X射线应力测定的sin2ψ法,使x射线应力测定的实际应用向前迈进了一大步。

对接焊铝合金板材残余应力的X射线测试

目前,测试残余应力的方法很多,大致分为破 坏性的应力释放法(如切割法、套环法及小孔松弛法 等)和非破坏性的无损测量法(如电阻应变片法、超 声波法及 X 射线衍射法等)[10-11]。除超声波法外, 其他方法的共同点都是测定应变,再通过弹性力学 定律由应变计算出应力值。由于 X 射线法测定残余 应力是根据晶面间距的变化来确定应变的,因此可 以测定很小范围内的应变。该方法的理论推导严谨, 试验技术日臻完善,测量结果比较可靠,且又是一 种无损测定表面残余应力的方法,在运用适当的剥 除方法后,X 射线应力测定法也能测得残余应力沿 层深的分布[12]。该方法已被广泛应用于科学研究和 工业生产的各个领域之中。因此,本文采用 X 射线 衍射法对铝合金 LD10 板材对接焊构件残余应力的 分布进行测试,得出其分布规律并加以分析。
第 45 卷第 3 期 2009 年 3 月
机械工程学报
JOURNAL OF MECHANICAL ENGINEERING
Vo l . 4 5 N o . 3
Mar.
2009
DOI:10.3901/JME.2009.03.275
对接焊铝合金板材残余应力的 X 射线测试*
郑卜祥 1 宋永伦 1 席 峰 1 张万春 2 闫志鸿 1
(1. 北京工业大学机械工程与应用电子技术学院 北京 100124; 2. 中国航天科技集团公司长征机械厂 万源 636371)
摘要:用X射线衍射法对对接焊LD10铝合金板材表面残余应力进行测试试验,对比半高宽法和抛物线法,得出残余应力分布 情况,并对其进行分析。分析结果表明两种定峰方法所得应力测定值较接近,且抛物线法所得应力分布曲线在大多数情况下 处于半高宽法所得曲线下方,即抛物线法所得拉应力值偏低,压应力值偏高。同时,半高宽法较抛物线法对衍射峰的重复性、 稳定性、适应性要好,应力测定的准确度较高,且采用X射线衍射法测量残余应力分布数据可靠,是一种有效的应力测试方 法。这些结论对LD10铝合金板材的焊接残余应力分布具有参考意义。 关键词:对接焊 铝合金 残余应力 X 射线 测试 应力分布 中图分类号:TG115.22 TB302.1

短波长X射线衍射无损测定铝板内部残余应力


u l te si 0 5 T6 au n m l y pa ewi hc n s f 0 mm a e n d t r n d f rt ef s i t o v n r d sr cie a s rs 7 7 一 l mi u al lt t t ik e so n o h 3 h d b e e e mie o h i tt r mea meb o l e tu t h _ v
No — e t u tv e s r n e n lRe i u lS r s n A l m i u Alo n d sr c i e M a u ng I t r a sd a t e s i u n m l y Pl ts Usn h r _ v lng h Ch r c e itc X_ a fr c i n a e i g S o twa e e t a a tr si 。 y Dif a to 。 r
资 少, 用 维护方便 等优 势 。 使
关 键 词 :内 部 残 余 应 力 ;铝 合 金 板 ;短 波 长 特 征 X 射 线 ;衍 射 中 图 分 类 号 :TG3 9:O7 5 3 6 文 献 标 识 码 :A
文 章 编 号 :1 7 —4 7 2 1 ) 2 0 2 — 6 6 4 6 5 (0 1 0 0 50
的 原 理 和 方 法 , 国 内 首 次 无 损 地 测 定 了 3 l 厚 7 7 在 0Im T 0 5铝 合 金 淬 火板 内部 残 余 应 力 及 其 分 布 , 与 中子 衍 并
射 和 高能 同步辐射 的短 波 长 x射 线衍射 测 定 内部 应 力进 行 了比较 分 析 , 明 该新 方 法具 有 设备 体 积A NG n H E C a g gu n , Ji , h n — a g PENG e — u ,GAO h n u n M OU J a —e。 Zh n k n Z e g h a , i n li

无损检测技术中的残余应力测量与分析方法剖析

无损检测技术中的残余应力测量与分析方法剖析残余应力是指在物体内部存在的,由于外部加载和热应变引起的应力状态。

残余应力的存在对材料的性能和稳定性有着重要影响,因此在工程领域中需要对其进行准确测量和分析。

无损检测技术在残余应力测量与分析中起到了重要的作用,本文将对无损检测技术中的残余应力测量与分析方法进行剖析。

一、X射线衍射法X射线衍射(XRD)技术是一种常用的测量材料残余应力的方法。

该方法通过分析材料中晶体的衍射图谱来确定其残余应力。

当材料发生应力时,晶格的排列会发生变化,从而引起X射线的衍射角度的变化。

通过测量和分析这种变化,可以得到材料的残余应力信息。

XRD技术具有测量范围广、准确性高、可重复性好等优点。

对于单晶材料,XRD技术能够直接测量晶体中的残余应力,精度较高。

而对于多晶材料,则需要通过倾角扫描或者称为θ-2θ扫描,来获得材料中的残余应力信息。

不过,XRD技术对于非晶态材料的测量精度较低。

二、中子衍射法中子衍射(ND)技术是一种利用中子进行测量的方法,可用于测量材料的残余应力。

中子的波长大约为0.1-1.0纳米,相较于X射线而言,中子的波长更适合用于测量晶体结构。

中子与材料作用时,受到材料中的晶格排列和残余应力的影响,从而产生衍射。

中子衍射技术具有穿透性强、对非晶态材料测量精度高等优点。

相较于XRD技术,中子衍射技术在测量多晶材料的残余应力时精度更高,适用范围更广。

不过,中子衍射技术的设备成本较高,且实验条件要求较为苛刻。

三、位错法位错法是一种基于物理模型的测量残余应力的方法。

位错是材料晶体结构中的缺陷,它们是材料中形成应力的主要机制之一。

位错法通过测量材料中位错的密度和分布来推导残余应力。

位错法具有非常高的空间分辨率和准确性,适用于各种材料的残余应力测量。

位错法可以通过电子显微镜和X射线繁切分析仪等设备进行实施。

但是,位错法需要对材料进行特殊制备和取样,且实验条件更为复杂。

四、光弹法光弹法是一种基于光学和力学原理的测量方法,通过测量光线透过或反射于材料表面时产生的应力光学效应来推断残余应力。

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X 射线衍射仪为实验仪器 , 采用不同的方向和衍射角对水域淬火后的 7075 铝板的表面残余应力进行测试 , 对测试结果
进行处理并分析了应力产生的原因 , 提出了针对各种原因的解决方法 。 发现在单一方向上测量结果的线性和相关性在 一端较好 , 另一端偏差较大 , 而相反方向时则相反 。 实验结果表明 , 从两个方向测定可减少应力测试误差 ; 当测定值 2θ 的距离差平方和越小 , 自变量 sin2 ψ 的间距越大 , 测试点越多且 直 线 性 越 好 , 则 应 力 测 定 误 差 越 小 ; 较 长 的 曝 光 时 间 和 合适的表面处理可以提高测试精度 。 关键词 :X 射线衍射法 ; 残余应力 ; 误差分析 ; 7075 铝合金 中图分类号 :TG146.2+1 文献标识码 :A 文章编号 :1001-3814(2010)24-0005-04
X 射线衍射法一般是测试试样表面某一方向上
的内应力 σψ, 为此需利用弹性力学理论求出 σψ 的 表达式 。 由于 X 射线对试样穿入能力有限 , 对高强 度铝合金而言一般不能超过 60 μm , 只能探测铝合 金试样的表面应力 , 根据弹性力学理论可知 , 这种表 面应力分布可视为二维平面应力状态 , 其垂直试样 的主应力 σ3≈0, 因此 , 可求得与铝合金试样表面法 向成 ψ 角的应变 εψ 为[7]
表 1 材料的化学成分及残余应力测试条件 Tab.1 Chemical composition of the material and the measurement conditions of residual stress
材料 化学成分 ( 质量分数 ,%)
2 1
图 1 X 射线衍射原理图
Fig.1 X-ray diffraction diagram
收稿日期 :2010-06-04 基金项目 : 国家重点基础研究发展规划项目973 项目 (2005CB623708) 作者简介:马昌训 (1985- ), 男 , 湖南武冈人 , 硕士研究生 , 研究方向为机 械设计及理论 ; 电话 :0731-88877840;
X 射线衍射法是一种无损性的测试方法 , 常用
随着航空工业的发展 , 现代飞机的性能要求不 断提高 , 飞机的结构设计发生了较大变化 。 从零件 结构上看 , 为了减轻质量 , 整体结构件在新机型中开 始得到广泛应用 , 航空整体结构件通常采用高强度 变形铝合金厚板直接铣削加工而成 [1]。 7XXX 系高 强度铝合金正是一类应用于航空航天工业的铝合金 材料 [2], 现代航 空 航 天 工 业 的 高 速 发 展 对 7XXX 系 铝合金的大尺寸高性能构件 , 尤其是高性能板材的 需 求日 趋 迫 切 [3], 而 残 余 应 力 造 成 的 铝 合 金 轧 制 板 材加工变形是高性能铝材加工过程中的一大问题 , 因而对铝合金材料残余应力的研究越来越受到普遍 重视 。
下半月出版
Material & Heat Treatment 材料热处理技术
X 射线衍射法测量铝合金残余应力及误差分析
马昌训 , 吴运新 , 郭俊康
(中南大学 机电工程学院 , 湖南 长沙 410083)
摘 要 : 在介绍了 X 射线 衍 射 法 测 量 残 余 应 力 基 本 原 理 的 基 础 上 , 以 7075 铝 合 金 板 材 为 实 验 对 象 ,Photo 公 司 的
Residual Stress in Aluminum Alloy Measured by X-ray Diffraction and Error Analysis
MA Changxun, WU Yunxin, GUO Junkang
(College of Mechanical and Electrical Engineering, Central South University, Changsha 410083, China) Abstract:The principle of measuring residual stress was introduced by X-ray diffraction. Taking aluminum alloy 7075 plate as experiment object and Photo's X-ray diffraction apparatus as experiment instrument, the residual stress was measured with different orientation and diffraction angle, then the errors and reasons were analyzed by contrasting testing results. It is discovered that the linear measurement and relevance in one end is much better in a single direction, while it's contrary in the opposite direction. The results show that it's effective to decrease the error of measurement from two directions, the linear stress-measurement error is smaller when the numerical difference of 2 θ is smaller. The greater the Sin2 ψ, the more the testing points, the better the linear. A longer exposure time and a suitable surface treatment can improve the testing precision. Key words :X-ray diffraction; residual stress; error analysis; 7075 aluminum alloy
0.9322 0.9318 (2θ) ψ 0.9316 0.9312 0.9308 102 204 307 2θ / (°) 409 512 0.9304 0.9318 0.9316 0.0 (b) 0.1 0.2 Sin2 ψ
2010 年 12 月
的斜率 , 对同一衍射面 , 选择一组 ψ 值 , 测量相应的
(2θ)ψ 并以 (2θ)ψ-sin2ψ面内选定主应力
方向后测得的应力与主应力方向的夹角 [8]。
2θ, 求出 2θ 对 sin2ψ 的斜率 M, 便可算出内应力 σψ,
测试电流 / mA
Cu
Si Fe Mn
Mg
Zn
Cr
Ti Other Al
20 8
衍射晶面 302
方向 1 0.1 s
10 10
1 1
式中 ,σ1、σ2 为沿试样表面的主应力 ; E、v 是试样 的
光栅缝隙 1 mm 方向 2 0.1 s
由于现实测试环境中或多或少地存在各种射 线 , 为了减小环境中射线对测试的影响 , 应该在测试 时加入背低 , 测试得到的曝光曲线衍射峰如图 2 所 示 , 其中下面平缓的曲线即为背低 , 反应的是环境中 射线的强度 , 图 2 中 背 低 曲 线 远 低 于 曝 光 曲 线 , 需 调整背低电压 , 使背低曲线与曝光曲线下边沿重合 。 表 2 分别给出了方向 Ⅰ 和方向 Ⅱ 的测试数据 , 图 3 为 7075 铝合金残余 应 力 测 试 中 两 个 方 向 的 (2θ)ψ-
产的 i XRD 型便携式 X 射线衍射仪 。 其核心部件为
P2
试样表面
测角仪 , 其上装有可绕试样测点转动的 X 射线管和
σψ
探测器 , 通过改变 ψ 角使 X 射线管转动 , 以改变入 射线的方向 , 再通过精测衍射峰位的方法来确定对 应的 2θ 值 。 为了使测量更准确 , 同一测试点的同一 应力方向将从正负两个 ψ 角来进行测量 , 综合两个 方向测得的数值按最小二乘法回归 , 得出 (2θ)ψ-sin2 ψ 直线的斜率 , 从而得出测试点的残余应力值 , 具体的 残余应力测试条件见表 1。
7075 铝
εψ = 1+v σψ sin2ψ - v (σ1+σ2) E E
弹性模量和泊松比 。
(1)
合金 , 水域淬火 1.2~2.0 0.4 0.5 0.3 2.1~2.9 5.1~6.1 0.4 0.06 0.15 余量 曝光 曝光 曝光 特征 X 射线 Cr_K_Alpha 波长 (A 觷 ) 2.291 时间 数量 增益 测试电压 / kV
εψ 值可以用衍射晶面间距的相对变化来表示 ,
且与衍射峰的位移联系起来得到
εψ= Δd =-cotθ0(θψ-θ0) d
(2)
式中 ,θ0 为无应力试样衍射峰的布拉格角 ,θψ 为有应 力试样衍射峰位的布拉格角 。 将式 (1) 代入式 (2) 并求 偏导 , 得
坠(2θ) σψ=- E cotθ0 π 2(1+v) 180 坠(sin2ψ)
5
材料热处理技术 Material & Heat Treatment 力时 , 晶面间距将发生变化 , 发生布拉格衍射时 , 产 生的衍射峰也随之移动 , 而且移动距离的大小与应 力大小相关 [6]。 用波长为 λ 的 X 射线 , 先后数次以不 同的入 射 角 ψ 照 射 到 试 样 上 , 测 出 相 应 的 衍 射 角
令 K=-
(3)
sin2 ψ 回归曲线图 。
E cotθ π ,M= 坠(2θ) ,则有 σ =K · M 0 ψ 2(1+v) 180 坠(sin2 ψ)
3
X 射线应力测量的误差分析
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