光学薄膜表面微细缺陷在线检测方法研究

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钟球盛 胡广华 李静 蓉
( 华南理 工大学 机械 与汽 车工程 学院 , 广州 5 0 4 ) 16 1
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机 械 设 计 与 制 造
12 0 文 章 编 号 :0 1 3 9 (0 1 l— 12 0 1 0 — 9 7 2 1 )0 0 0 — 3
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第1 0期 21年 1 01 0月
光学薄膜表 面微细缺 陷在线检测方法研究 木
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传统的光学薄膜质量的检测方法主要是人工离线通过放大 种通用 的视觉 系统。 首先 , 光学薄膜作 为被检测对象 , 其材质具有
镜肉眼检测 的方法。 用于光学薄膜行业 的机器视觉检测 系统 尚不 透明性 , 透光率大于 9 %, 0 高透光率 、 低反射率对光路系统设计 有 多见。人工视觉一般能够对常见物体进行准确判断 , 但是也存在 着 特殊要求 , 括光源的选择 、 源的安装位置 、c 包 光 c D镜头安 装 限制O 旦环境异常, - 人工视觉可能会对被识别物产生错误判断 , 位 置与角度 ; 次 , 其 被测物 体处于运动 当中 , 实现在线 同步 检 要 甚至是无法识别 。 人工对缺陷的检测 , 由于检测工作劳动强度大 , 测 ,则相机的采集频率必须与光学薄膜的运动速度保持一致 ; 最 容易受周 围环境 的影响 , 而产生误判 ; 能力有限 , 观测 检测精度不 后 , 光学薄膜处于复杂的背景 中, 要实现缺 陷特征与背景分离 , 图 高, 无法识别微米级 的光膜缺 陷; 的主观I , 人 生强 得到结论不一定 像处理的算法必须进行大量的实例验证 ; 并且要实现高速图像 的
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关键词: 光学薄膜; 缺陷检测; 计算机视觉


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中图分类号 :H 6T 3 1 ,N 4 文献标识码 : T 1 ,Pnt a eot 8 f it mC p ewh a a et or mrnm heo r t s0 t des el.mad i mn udo n l kg ai k p inoh ec nh  ̄o r t u o m h i fe f i l
}光学薄膜缺陷图像的同步采集。 基于计算机视觉的理论 , 出了一种有效的 自 提 动质量监测方案, 实现对 {
;光学薄膜表面 微细缺陷项目 的检测, 并根据检测结果驱动打标机对光学薄膜缺陷进行 自 动标识和定 :
}位 , 该方法具有高精度、 实时、 在线和非接触的显著优势。 探索性实验结果表明 , 采用该方法可获得光学 l薄膜表面缺陷的清晰图像 , 缺陷的细节能够得到很好的展现, 并且能够完成缺陷特征的提取与/  ̄ 。 71 .j 2
l hn s. eo t a i ineno , cna ei ui mnonseei rol adnhMcnVi c ogae itn e c e ay oti h co uys e he s th ly nf e df t q t i gc m B o i f fv l r
(colf caia& A tm teE gneigSuhC iaU io ehG aghu50 4 ,hn ) Sho o hncl uo oi nier ,ot hn nv f c ,unzo 16 1C ia Me v n .T

【 要】 摘 为了对光学薄膜进行精密光学检测, 需要采用数个具有高解析度的线阵C D相机进行 i C
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