十三章低能电子衍射讲义

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十三章低能电子衍射讲义

十三章低能电子衍射讲义
此外在低能电子衍射装置中都装备有原位清洗表 面或制备清洁表面的辅助装置,可实现原位的溅 射剥蚀、在超高真空中沉积新鲜表面等。
二.LEED的应用
荧光屏衍射斑点的排列反映了试样表面原子的二 维排列,由斑点间距、电子波长可知原子间距。
不断改变入射电子的能量(波长),荧光屏上某 斑点的强度随入射电子能量的变化曲线---”强度 特性“、”亮度特性“、I—V或I—E曲线反映二、 三层原子二维排列、层间距离、层间原子相对位 置、吸收原子和基体原子间相对位置信息。
二.二维点阵与LEED衍射图像关系
1.LEED衍射图像为二维倒易点阵在荧光屏上的投影
放大像。
试样位于O点,以O为圆心、1/λ为半径作爱氏球, 与入射线相交于O*,过O*作与试样表面平行的二维倒 易点阵,过二维阵点作垂线垂直于二维点阵面,垂线能 与爱氏球相交的倒易点所代表的点阵列满足衍射条件。 衍射方向为O至交点方向。
低能电子衍射以半球形荧光屏(接收极)接收信息。 荧光屏上显示的衍射花样由若干衍射斑点(衍射
线与荧光屏的交点)组成; 每一个斑点对应于样品表面一个晶列的衍射,亦
即相应于一个倒易点,因而低能电子衍射花样是 样品表面二维倒易点阵的投影像。 荧光屏上与倒易原点对应的衍射斑点(00)处于入 射线的镜面反射方向上。
同理:d0k= r λ b*
说明:荧光屏(投影面)上斑点图像为二维倒 易点阵的放大像,放大倍数为r λ 。测出的斑点 间距除以r λ ,得到二维倒易点阵a*、 b*,由 此可求出a、b及表面点阵排列。
成像原理与衍射花样特征
低能电子衍射的厄瓦尔德图解 (a)电子束正入射 (b)电子束斜入射
3。低能电子衍射的花样特征
1-电子枪阴极 2-聚焦杯 3-样品 4-接收器

高中物理第十三章光第56节光的衍射光的偏振讲义含解析新人教版选修3_420190412160

高中物理第十三章光第56节光的衍射光的偏振讲义含解析新人教版选修3_420190412160

第5、6节光的衍射光的偏振1.衍射条纹是一些明暗相间的条纹,中央条纹最宽、最亮,离中央条纹越远,亮条纹的宽度越小,亮度越低。

2.白光的单缝衍射条纹是中央为白色亮纹,两侧为彩色条纹,外侧呈红色,靠近白色亮纹的内侧为紫色。

3.偏振光:在垂直于传播方向的平面上,只沿着某个特定的方向振动的光。

一、光的衍射1.定义:光通过很小的狭缝(或圆孔)时,明显地偏离了直线传播的方向,在屏上应该出现阴影的区域出现明条纹或亮斑,应该属于亮区的地方也会出现暗条纹或暗斑的现象。

2.衍射图像:衍射时产生的明暗条纹或光环。

3.单缝衍射:单色光通过狭缝时,在屏幕上出现明暗相间的条纹,中央为亮条纹,中央条纹最宽最亮,其余条纹变窄变暗;白光通过狭缝时,在屏上出现彩色条纹,中央为白条纹。

4.圆孔衍射:光通过小孔时(孔很小)在屏幕上会出现明暗相间的圆环。

5.泊松亮斑:障碍物的衍射现象。

在单色光传播途中,放一个较小的圆形障碍物,会发现在阴影中心有一个亮斑,这就是著名的泊松亮斑。

二、衍射光栅1.衍射光栅的结构由许多等宽的狭缝等距离地排列起来形成的光学仪器。

2.衍射图样的特点与单缝衍射相比,衍射条纹的宽度变窄,亮度增加。

3.衍射光栅的种类反射光栅、透射光栅。

三、光的偏振1.横波与纵波的特点横波中各点的振动方向总与波的传播方向垂直。

纵波中,各点的振动方向总与波的传播方向在同一直线上。

横波有偏振现象。

2.自然光和偏振光(1)自然光:太阳、电灯等普通光源发出的光,包含着在垂直于传播方向上沿一切方向振动的光,沿着各个方向振动的光波的强度都相同。

(2)偏振光:在垂直于传播方向的平面上,只沿着某个特定的方向振动的光。

3.光的偏振1.自主思考——判一判(1)白光通过盛水的玻璃杯,在适当的角度,可看到彩色光,是光的衍射现象。

(×)(2)菜汤上的油花呈现彩色,是光的折射现象。

(×)(3)用两支圆柱形铅笔并在一起,形成一个狭缝,使狭缝平行于日光灯,会看到彩色的衍射条纹。

低能电子衍射

低能电子衍射
θ
cosθ
2d sin θ = nλ
倒易晶格 reciprocal lattice
吸附层
真实基矢 倒易基矢
av1 ~ av2
av1* ~ av2*
真实基矢 倒易基矢
vv
b1 ~ b2
bv1*
~
v b2
*
av1* ⋅ av1 = av2* ⋅ av2 = 1 av1* ⋅ av2 = av2* ⋅ av1 = 0
Ewald Sphere 厄华德球
LEED图案的性质
A' B' = r sin θ = r a * = rλa * 1λ
荧光屏的LEED图案是二维倒易晶格的透影
E1 > E2 > E3
入射电子能量的影响 (00)点位置不变
LEED Patterns from Cu(110)
(4x2) c(4x2)
a2* is parallel to a2
⇒ The angle, A, between a1 a1* is 0 The angle, A , between a2 a2* is 0
⇒ | a1*| = 1 / | a1 |
| a2*| = 1 / | a2 |
⇒ If | a1 | = 1 unit, | a1*| = 1 unit
⇒ | b1 | = 2| a1 | = 2units; | b1*| = ½ unit | b2 | = 2| a2 | = 2units; | b2*| = ½unit
1. | b1 | = | b2 | = √2 units; | b1*| = | b2*| = 1/ √2 units 2. rotated by 45°
低能电子衍射(LEED) Low Energy Electron Diffraction

电子衍射

电子衍射

(1)由于电子波波长很短,一般只有千分之几nm, 按布拉格方程2dsin=可知,电子衍射的2角很小(一 般为几度),即入射电子束和衍射电子束都近乎平行 于衍射晶面。
由衍射矢量方程(s-s0)/=r*,设K=s/、K=s0/、 g=r*,则有
K-K=g
(8-1)
此即为电子衍射分析时(一般文献中)常用的衍射矢 量方程表达式。
H3=H1+H2、K3=K1+K2和L3=L1+L3。
单晶电子衍射花样的标定
立方晶系多晶体电子衍射标定时应用的关 系式:R21:R22:…:R2n=N1:N2:…:Nn 在立方晶 系单晶电子衍射标定时仍适用,此时R=R。 单晶电子衍射花样标定的主要方法为: 尝试核算法 标准花样对照法
“180不唯一性”或“偶合不唯一性”现象的产生,根 源在于一幅衍射花样仅仅提供了样品的“二维信息”。
通过样品倾斜(绕衍射斑点某点列转动),可获得另一晶带 电子衍射花样。而两个衍射花样组合可提供样品三维信息。
通过对两个花样的指数标定及两晶带夹角计算值与实测 (倾斜角)值的比较,即可有效消除上述之“不唯一性”。
(8-7)
式中:N——衍射晶面干涉指数平方和,即 N=H2+K2+L2。
多晶电子衍射花样的标定
对于同一物相、同一衍射花样各圆环而言,(C2/a2) 为常数,故按式(8-7),有
R12:R22:…:Rn2=N1:N2:…:Nn
(8-8)
此即指各衍射圆环半径平方(由小到大)顺序比等于
各圆环对应衍射晶面N值顺序比。
一、电子衍射基本公式
电子衍射基本公式的导出
设样品至感光平面的距离为L(可称为 相机长度),O与P的距离为R,
由图可知

低能电子衍射1

低能电子衍射1
波长大, 波长大,试样为大块粉末 要精确满足布拉格条件 衍射角可以很大 衍射强度弱, 衍射强度弱,曝光时间长 波长小,试样为薄片 波长小, 要精确满足布拉格条件 衍射角很小 衍射强度强, 衍射强度强,曝光时间短
电 子 束
镍单晶
低能电子衍射
将能量为5~500eV范围的单色电子入 射于样品表面,通过电子与晶体相互作用,一 部分电子以相干散射 相干散射的形式反射 反射到真空中, 相干散射 反射 所形成的衍射束进入可移动的接收器进行 强度测量,或者再被加速至荧光屏,给出 可观察的衍射图像。
低能电子衍射-基本假设
入射电子在样品内只可能受到不多于一次 的散射; 入射电子波在样品内传播的过程中,强度 的衰减可以忽略,即衍射波强度始终远小 于入射波强度,否则衍射波会发生较为显 著的再次衍射。
低能电子衍射-模拟
观测屏
电子束( ~ 电子束(5~500eV) ) 倾斜度大约 1゜~2゜ ゜ ゜
低能电子衍射-适用举例
电子束通过铝箔时的衍射图样
பைடு நூலகம்
TiS2会聚束电子衍射带轴图样 会聚束电子衍射带轴图样
低能电子衍射-适用举例
NiAl多层模的组织形貌(a),大范围衍射花样 , 多层模的组织形貌( ),大范围衍射花样(b), ),大范围衍射花样 多层模的组织形貌 单个晶粒的选区衍射(c) 单个晶粒的选区衍射
低能电子衍射
——LEED(low energy electron diffraction)
电子衍射-历史
1927年,C.J.戴维孙和L.H.革末在观察镍 单晶表面对能量为100电子伏的电子束进行 散射时,发现了散射束强度随空间分布的不连 续性,即晶体对电子的衍射现象。
电子衍射-理论
当电子波(具有一定能量的电子)落到晶 体上时,被晶体中原子散射,各散射电子 波之间产生互相干涉现象。晶体中每个原 子均对电子进行散射,使电子改变其方向 和波长。

《电子衍射原理》课件

《电子衍射原理》课件

透射电子显微镜技术
透射电子显微镜技术是一种利用透射 电镜观察物质内部微细结构的方法, 具有高分辨率和高放大倍数的特点。 随着科技的不断进步,透射电子显微 镜技术的应用范围越来越广泛,在材 料科学、生物学、医学等领域得到广 泛应用。
VS
例如,在材料科学领域,透射电子显 微镜技术可用于研究材料的晶体结构 和相变行为,为新材料的开发和优化 提供有力支持。在生物学领域,透射 电子显微镜技术可用于研究细胞器和 生物大分子的结构和功能,为生命科 学和医学研究提供新的视角。
电子显微镜的放大倍数较高,能够观察到非常细微的结构细节,是研究物质结构和 形貌的重要工具之一。
电子源
电子源是电子显微镜中的核心部件之一,它能够产生用于观察和成像的 电子束。
电子源通常由加热阴极、栅极和加速电极等部分组成,通过加热阴极使 得电子逸出并经过栅极和加速电极的调制和加速,形成用于成像的电子
电子衍射可以揭示细胞内部的超微 结构,有助于理解细胞的生理和病 理过程。
在表面科学中的应用
表面晶体结构
电子衍射可以用于研究固体表面 的晶体结构和化学组成,对表面 改性和催化等应用具有指导意义

表面应力分析
通过电子衍射可以分析表面应力 状态,有助于理解表面行为的物
理机制。
表面吸附和反应
电子衍射可以研究表面吸附分子 的结构和反应活性,对表面化学 和工业催化等领域有重要意义。
05
电子衍射的发展前景
高能电子衍射技术
高能电子衍射技术是一种利用高能电子束进行物质结构分析的方法,具有高分辨 率和高灵敏度的特点。随着科技的不断进步,高能电子衍射技术的应用范围越来 越广泛,在材料科学、生物学、医学等领域发挥着重要作用。
例如,在材料科学领域,高能电子衍射技术可用于研究材料的微观结构和晶体取 向,为新材料的开发和优化提供有力支持。在生物学领域,高能电子衍射技术可 用于研究生物大分子的结构和功能,为药物设计和疾病治疗提供新的思路。

低能电子衍射

低能电子衍射

低能电子衍射摘要:低能电子衍射技术(LEED)是研究物质表面原子结构的主要手段之一。

本文综合数篇文献,主要介绍了低能电子衍射技术的原理和应用。

关键词:低能电子衍射;表面结构1.前言自从Davisson和Germer发现低能电子衍射(LEED)现象以来[1],LEED已经历了好几个发展阶段。

早在七十年代初期,LEED已发展成为可以确定简单金属表面原子结构的有力工具,而且在当时亦是唯一的手段。

随着表面科学的迅速成长和壮大,目前已有不下十种方法可用以确定表面的原子结构。

但LEED仍然是当今确定表面原子结构的主要手段之一。

事实上,在已确定数百种表面的原子结构中,用LEED方法确定的占绝大部分[2]。

LEED确定的表面原子结构的可信性大、精度高(可达0.01A)。

LEED不仅可准确地确定表面最外一个原子层中的原子位置,而且还可确定其底下的几个原子层中的原子位置。

近十年来,LEED取得了很大的进展,成为更有效的分析表面结构之手段。

近年来,LEED沿着两条平行的路线发展,一些人继续研究清洁和吸附表面的有序结构,它们随温度和覆盖度的变化,报告二维晶胞的信息和形成条件.另一部分工作是仔细地从这些有序表面结构测量衍射束强度与电子能量、角度和温度的关系,决定表面原子的位置、它们的距离和近邻之间的夹角.迄今已报道了1000多种有序表面结构和100多种表面结构的定量分析结果。

LEED在一友面研究中大致起着三方面的功能:①认证表面的有序程序及表面的周期性和对称性;②确定单胞内原子的位置;③测定表面的缺陷及缺陷随温度、时间和吸附量的变化。

第一个功能是人们熟悉的。

第二个功能常被认为是LEED的主要功能而被强调,所以亦相当熟悉。

但由于庞大而耗时的计算程序,繁冗而低效率的尝试一误差探索过程,令人生畏止步。

幸而,近十年来的迅速发展,正在深刻地改变这一状况。

第三个功能则往往被遗忘,但它是近年得到快速发展的一个肥沃领域。

LEED已成为表面实验室最“常规”的装备之一,因此,如何从LEED提取有用信息,一直为广大表面科学家所关注。

低能电子衍射Microsoft PowerPoint 演示文稿

低能电子衍射Microsoft PowerPoint 演示文稿
由于表面层所处的特殊位置使其各方面的性质与固体内部有着明显差别表面物理学就是研究这几个原子层内原子的排列情况电子状态吸附在表面上的外来原子或分子存在于表面几个原子层内的外来杂质以及相关的物理性质
低能电子衍射(LEED) 低能电子衍射
Low Energy Electron Diffraction
表面物理
LEED的动力学理论简介
为精确计算LEED谱的细节, 为精确计算LEED谱的细节,除需要从理论上计算晶体原子对 LEED谱的细节 低能电子的散射外,还要考虑多次散射, 低能电子的散射外,还要考虑多次散射,非弹性碰撞及温度 效应等问题.考虑多重散射的理论称为动力学理论. 效应等问题.考虑多重散射的理论称为动力学理论. 这些问题是很复杂的,必须做一些假定才能简化计算, 这些问题是很复杂的,必须做一些假定才能简化计算,并得 到和实际相近的结果.由于动力学的复杂性, 1980年前后 年前后, 到和实际相近的结果.由于动力学的复杂性,到1980年前后, 只有大约一百多种表面结构被确定. 只有大约一百多种表面结构被确定.
LEED的动力学理论简介
低能电子衍射图形提供的只是有关表面周期性的信息, 低能电子衍射图形提供的只是有关表面周期性的信息,即元 格的大小和形状,他不能给出有关原子的位置. 格的大小和形状,他不能给出有关原子的位置.表面层与衬 底之间的距离和有关元格中原子分布的信息. 底之间的距离和有关元格中原子分布的信息 . 例如在立方 001)面上形成C( C(2 结构时, (001) 面上形成 C(2×2) 结构时 , 表层原子相对衬底可以有四 种不同的位置, 种不同的位置,而表层与衬底顶层的间距则取决于表层原子 取何种位置. 取何种位置.
低能电子衍射
低能电子衍射(LEED),利用能量较低的电子束(20-500eV) ,利用能量较低的电子束 低能电子衍射 进行电子衍射的技术.是将能量为5~ 进行电子衍射的技术.是将能量为 ~500eV范围的单色电 范围的单色电 子入射于样品表面,通过电子与晶体相互作用 通过电子与晶体相互作用,一部分电子以 子入射于样品表面 通过电子与晶体相互作用 一部分电子以 相干散射的形式反射到真空中, 相干散射的形式反射到真空中,所形成的衍射束进入可移动 的接收器进行测量,或者被加速至荧光屏, 的接收器进行测量,或者被加速至荧光屏,给出可观察的衍 射图像. 射图像. LEED已成为表面原子结构实验研究的标准手段. 已成为表面原子结构实验研究的标准手段. 已成为表面原子结构实验研究的标准手段 LEED在表面研究中的功用:5个 在表面研究中的功用: 个 在表面研究中的功用 研究表面结构的LEED实验分两类:一类实验所的信息是电 实验分两类: 研究表面结构的 实验分两类 子弹性相干散射形成的衍射图样, 图样. 子弹性相干散射形成的衍射图样, LEED图样.另一类实验 图样 得到I-V曲线 称为低能电子衍射谱. 曲线, 得到 曲线,称为低能电子衍射谱.
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§ 13.3 低能电子衍射原理
一.低能电子衍射原理 1.二维电子衍射方向 低能电子衍射线来自于样品表面(几个原子层)
的相干散射。衍射方向(衍射必要条件)可近 似由二维劳埃方程描述
将二维点阵视为三维点阵特例,二维点阵衍 射方向亦可由衍射矢量方程描述,可写为 (S-S0)/=r*HK=Ha*+Kb*(+0c*)
一.表面状态
由于晶体结构的周期性在表面中断,单晶表面的 原子排列有3种可能的状态
单晶表面原子排列的可能状态 (a)体原子的暴露面
维持原体内周期性对应位置,表面原子面暴露。 (b) 表面驰豫
表面原子平面排列周期性不变,层间距变化。 (c) 表面重构
表面原子发生重新排列。
二.单晶表面原子排列规则可用二维点阵描述
阴极-VP低能电子枪发射电子,经三级加速聚焦 杯聚焦,打在试样上,发射电子干涉波,在荧光 屏上的电子斑点排列表征表面原子二维排列规律。 斑点间距反映原子间距。
低能电子衍射装置必须采用无油的超高真空系统, 真空度要优于1.33×10-7Pa,以避免晶体表面吸 收残余气体分子造成表面污染,使固有表面衍射 图发生变化。
低能电子衍射以半球形荧光屏(接收极)接收信息。 荧光屏上显示的衍射花样由若干衍射斑点(衍射
线与荧光屏的交点)组成; 每一个斑点对应于样品表面一个晶列的衍射,亦
即相应于一个倒易点,因而低能电子衍射花样是 样品表面二维倒易点阵的投影像。 荧光屏上与倒易原点对应的衍射斑点(00)处于入 射线的镜面反射方向上。
表达其周期性的点阵基本单元称为(单元)网格。 网格由表示其形状及大小的两个矢量a与b描述,
称为(二维)点阵基矢或单元网格矢量。 与三维点阵的排列规则可用14种布拉菲点阵表达
相似,二维点阵的排列可用5种二维布拉菲点阵 表达 正方、长方、菱形(面心长方)、六角、平行 四边形。
三、二维点阵的倒易点阵
§ 13.4 低能电子衍射分析与应用
一、低能电子衍射图样的基本分析过程:
由样品衍射花样确定a*与b*的方向,并 按有关公式求得a*与b*,从而确定样品表 面二维倒易点阵单元网格,进而按倒易基矢 与正点阵基矢的对应关系确定样品表面点阵 单元网格的形状与大小。
二、应用
◆分析与研究晶体表面结构:
◆晶体表面及吸附层二维点阵单元网格的形状与大小;
二.二维点阵与LEED衍射图像关系
1.LEED衍射图像为二维倒易点阵在荧光屏上的投影
放大像。
试样位于O点,以O为圆心、1/λ为半径作爱氏球, 与入射线相交于O*,过O*作与试样表面平行的二维倒 易点阵,过二维阵点作垂线垂直于二维点阵面,垂线能 与爱氏球相交的倒易点所代表的点阵列满足衍射条件。 衍射方向为O至交点方向。
1.定义:对于由点阵基矢a与b定义的二维点阵,若由点 阵基矢a*与b*定义的二维点阵满足 a* ·a=b*·b=1
a* ·b=b*·a =0 则称a*与b*定义的点阵是a与b定义的点阵的倒易点阵。 2.性质:
a* ⊥b, b * ⊥a a*=1/asinθ, b *=1/asinθ
θ为正点阵基矢量a、b的夹角。
第二篇 电子显微分析
第十三章 低能电子衍射
◆二维点阵 ◆低能电子衍射LEED
Low Energy Electron Diffraction
低能电子衍射是指以能量为10~500eV的 电子束照射晶体样品表面产生的衍射现象。给出 样品表面1~5个原子层的结构信息,是研究晶体 表面结构的重要方法。
§ 13.1 单晶表面原子排列与二维点阵
同理:d0k= r λ b*
说明:荧光屏(投影面)上斑点图像为二维倒 易点阵的放大像,放大倍数为r λ 。测出的斑点 间距除以r λ ,得到二维倒易点阵a*、 b*,由 此可求出a、b及表面点阵排列。
成像原理与衍射花样特征
低能电子衍射的厄瓦尔德图解 (a)电子束正入射 (b)电子束斜入射
3。低能电子衍射的花样特征
◆表面原子位置(单元网格内原子位置、吸附原子相对于基底原 子位置等)及沿表面深度方向(两三个原子层)原子三维排列情 况(层间距、层间原子相对位置、吸附是否导致表面重构等);
◆分析表面结构缺陷(点缺陷、台阶表面、镶嵌结构、应变结构、 规则和不规则的畴界和反畴界)等。
◆不仅应用于半导体、金属及合金等材料表面结构与缺陷的分 析及吸附、偏析和重构相的分析,也应用于气体吸附、脱附 及化学反应、外延生长、沉积、催化等过程的研究;
二维布拉菲点阵与其倒易点阵
3.二维倒易点阵特点
■ 二维倒易点阵矢量垂直于原子列(hk) ■ 二维倒易点阵矢量ghk=1/dhk ■ 二维倒易点代表一原子列 ■ 二维倒易点阵阵点延伸为倒易杆
§ 13.2 低能电子衍射仪
一.低能电子衍射仪 主要由电子光学系统、记录系统、超高真空系统和控 制电源组成。
1-电子枪阴极 2-聚焦杯 3-样品 4-接收器
说明:
试样接地,阴极电位为-VP(-10-- -500V). 半球形荧光屏及四个半球形网状栅极(栅丝直径
25μm,栅丝间距0.25mm).G1极接地,与试样 间无电场,电子可自由运动。G2G3为排斥极,接 等于-VP电位,使非弹性散射电子不能穿过。G4 接容地。对半接 球收 荧极 光屏屏蔽接作接用5k,v减(少0—G73与kv接)收,极对间穿的过电栅 极的电子束起加速作用,增加电子的能量(亮 度)。
在爱氏球后方的半球荧光屏上的斑点,实为垂线与 爱氏球交点的延伸放大,所以,LEED图像为二维点阵 在荧光D图像与表面二维点阵关系
g=1/dhk= (1/λ)sinφ dh0=r sinφ (r荧光屏的半径) =r a*/ (1/λ) =r λ a*
此外在低能电子衍射装置中都装备有原位清洗表 面或制备清洁表面的辅助装置,可实现原位的溅 射剥蚀、在超高真空中沉积新鲜表面等。
二.LEED的应用
荧光屏衍射斑点的排列反映了试样表面原子的二 维排列,由斑点间距、电子波长可知原子间距。
不断改变入射电子的能量(波长),荧光屏上某 斑点的强度随入射电子能量的变化曲线---”强度 特性“、”亮度特性“、I—V或I—E曲线反映二、 三层原子二维排列、层间距离、层间原子相对位 置、吸收原子和基体原子间相对位置信息。
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