兰宇覆层测厚仪2100F(2100N)说明书讲解
数显薄膜测厚仪操作规程(3篇)
第1篇一、仪器简介数显薄膜测厚仪是一种用于测量薄膜厚度的精密仪器，具有测量精度高、操作简便、功能齐全等特点。
该仪器广泛应用于塑料薄膜、纸张、金属箔、玻璃、陶瓷等材料的厚度测量。
二、操作步骤1. 开机准备（1）检查仪器外观，确保无损坏。
（2）接通电源，打开仪器电源开关。
（3）检查仪器各部分功能是否正常，如数字显示、按键、探头等。
2. 校准仪器（1）将探头放置在标准厚度板上，调整探头位置，使探头与标准板紧密贴合。
（2）按“校准”键，进入校准模式。
（3）根据仪器提示，输入标准板的厚度值。
（4）仪器自动进行校准，校准完成后，仪器进入测量状态。
3. 测量步骤（1）将待测薄膜放置在测量平台上，确保薄膜平整。
（2）将探头放置在薄膜上，调整探头位置，使探头与薄膜紧密贴合。
（3）按“测量”键，仪器开始自动测量薄膜厚度。
（4）测量完成后，仪器显示薄膜厚度值。
4. 保存数据（1）按“保存”键，进入保存数据模式。
（2）输入数据名称，如“薄膜1”、“薄膜2”等。
（3）按“确认”键，将数据保存至仪器内。
5. 关机操作（1）关闭仪器电源开关。
（2）将探头收起，放入仪器保护套内。
（3）整理实验台，清理实验器材。
三、注意事项1. 操作过程中，请勿用力按压探头，以免损坏仪器。
2. 测量过程中，确保薄膜平整，避免测量误差。
3. 仪器长时间不使用时，请关闭电源，以防损坏。
4. 定期对仪器进行校准，以保证测量精度。
5. 遵循仪器操作手册，正确使用仪器。
四、维护保养1. 定期检查仪器外观，如有损坏，及时更换。
2. 保持仪器清洁，定期用软布擦拭仪器表面。
3. 仪器长时间不使用时，请放置在干燥、通风的地方。
4. 按照仪器操作手册，定期对仪器进行保养。
通过以上操作规程，用户可以正确、高效地使用数显薄膜测厚仪，确保测量结果的准确性。
在使用过程中，如遇到问题，请及时联系仪器制造商或专业技术人员进行解决。
第2篇一、概述数显薄膜测厚仪是一种用于测量薄膜、涂层、塑料等材料厚度的精密仪器。
涂层测厚仪的使用方法 测厚仪如何操作
涂层测厚仪的使用方法测厚仪如何操作涂层测厚仪可无损地测量磁性金属基体（如铁和硬磁性钢等）上非磁性涂层的厚度（如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等）及非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上非导涂层测厚仪可无损地测量磁性金属基体（如铁和硬磁性钢等）上非磁性涂层的厚度（如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等）及非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上非导电覆层的厚度（如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等）。
涂镀层测厚仪具有测量误差小、牢靠性高、稳定性好、操作简便等特点，是掌控和保证产品质量必不可少的检测仪器，广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。
该仪器的使用方法：1、准备好待测物件；2、将涂层测厚仪的探头至于空气中（开放空间），同时按下测厚仪按键上的“On/C”按键，仪器显示出：TIME2500涂层测厚仪版本1.0AG0500000000信息；3、将涂层测厚仪的探头垂直接触测量文件涂层，当听到一声鸣响，屏幕即可显示测量的涂层厚度值，重新提起探头移动至其他位置，可快速进行第二次测量；4、测量完成，按“On/C”按键关机。
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防水卷材测厚仪专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精准明确测量。
特点：专业——在不断的创新研发和技术积累中推陈防水卷材测厚仪专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精准明确测量。
特点：专业——在不断的创新研发和技术积累中推陈出新，使用超高精度的位移传感器、科学的结构布局及专业的掌控技术，实现世界比较好的测试稳定性、重复性及精度。
测厚仪操作规程
测厚仪操作规程一、引言测厚仪是一种用于测量物体厚度的仪器设备，广泛应用于工程、建筑、制造业等领域。
为了确保测量结果的准确性和一致性，制定本操作规程，以规范测厚仪的操作流程和注意事项。
二、适用范围本操作规程适用于所有使用测厚仪进行厚度测量的人员。
三、设备准备1. 确保测厚仪处于正常工作状态，检查仪器的电源、显示屏、探头等部件是否正常。
2. 检查测厚仪的探头是否清洁，如有污垢应及时清理。
3. 确保测厚仪的电池电量充足，或连接外部电源。
四、操作流程1. 将测厚仪打开，待仪器自检完成后进入工作状态。
2. 根据需要选择合适的探头，并连接到测厚仪上。
3. 将探头贴紧待测物体表面，确保与物体接触良好。
4. 按下测量按钮，测厚仪开始进行测量。
5. 等待测量结果稳定后，记录显示屏上的厚度数值。
6. 如需连续测量，可将测厚仪移动到下一个测点，重复步骤3至5。
7. 测量完成后，将测厚仪关闭，断开电源。
五、注意事项1. 在使用测厚仪前，应先阅读并理解测厚仪的操作说明书，熟悉仪器的功能和使用方法。
2. 在测量前，应确保待测物体表面清洁，无油污、尘埃等影响测量结果的物质。
3. 测厚仪的探头应保持清洁，避免污垢影响测量准确性。
4. 在测量过程中，应尽量避免探头与物体表面发生摩擦或碰撞，以免损坏仪器。
5. 如需测量较小或不规则表面的物体，可使用适当的夹具或支撑物，以保持测量的稳定性。
6. 测厚仪的测量结果应及时记录，包括测量时间、测点位置和测量数值等信息。
7. 定期对测厚仪进行校准，以确保测量结果的准确性和可靠性。
8. 在使用测厚仪时，应注意自身安全，避免触电、碰伤等意外事故的发生。
六、维护保养1. 定期清洁测厚仪的外壳和探头，使用软布擦拭，避免使用化学溶剂或腐蚀性液体。
2. 如测厚仪长时间不使用，应将其存放在干燥、通风良好的地方，并定期进行开机检查。
3. 如发现测厚仪存在故障或异常情况，应及时联系专业维修人员进行维修。
七、附录测厚仪操作规程示例：1. 测厚仪型号：XYZ-1232. 探头型号：PT-4563. 待测物体：钢板4. 测量位置：钢板表面5. 测量结果：厚度为10.5mm6. 测量人员：张三7. 测量时间：2022年1月1日上午9:00以上为测厚仪操作规程的详细内容，希望能对您的工作有所帮助。
Contracer CV-2100 系列 测量仪器 产品说明书
Mitutoyo reserves the right to change any or all aspects of any product specification, including prices, designs and service content, without notice.by arranging the controls for stylus position • The quick-vertical-motion stand allows operators measurement height Refer to the Contracer CV-2100 Catalog (No. E15020) for more details.Motor-driven jog shuttleQuick-vertical-motion standCentralized front control panelCV-2100M4CV-2100N4• CV-3200 series are contour measuring instruments equipped with a high-precision arc scale and newly designed arm on the Z1-axis (detector). The high-precision arc scale can directly read the arc track of the stylus tip to achieve high accuracy and resolution. The new arm has extended the Z1-axis measuring range by 10 mm while reducing the chance of interference with workpieces compared to conventional models. The arm mount can be attached/detached with a single touch on the magnet joint for improved ease of operation.• The 700 mm Z2-axis (column) range models are new to the lineup.Dramatically ImprovedHigh-Precision Contour Measuring Instruments.Z1-axis measuring range has been extended by 10 mm.• CV-3100(conventional model)• CV-320050mm10 mm60mm19 mmLMitutoyo reserves the right to change any or all aspects of any product specification, including prices, designs and service content, without notice.Refer to the Contracer CV-3200/4500 series Catalog (No. E15010) for more details.magnet joint for improved ease of operation.• The following two features have been added exclusively for the CV-4500 series:(1) Continuous measurement in the vertical direction (up/down) is available incombination with a double-sided conical stylus. Up/down continuous measurement data facilitates the analysis of the effective diameter of screw threads, which has been difficult to measure in the past.• The 700 mm Z2-axis (column) range models are new to the lineup.CV-4500S4plane) measurementUpward/downward measurement direction isswitchable on the softwaremeasurementMeasuring directionZ1-axis measuring range has been extended by 10 mm.• CV-4100(conventional model)• CV-450050mm10 mm60mm19 mm。
JEM-2100F_面板
域(1200nm,500nm,200nm,100nm)
4、按下SA DIFF按钮转为衍射模式，退出物镜光阑，荧 光屏上出现衍射花样，调节MAG/CAM L旋钮至希望的
相机长度（20cm）
5、顺时针旋转BRIGHTNESS使图像足够暗 6、调节DIFF FOUCS获得圆锐的衍射斑点。
明场像
1、获得感兴趣的选区衍射图像 2、在SA DIFFT模式按下BRIGHT TILT按钮，用DEF/STIG X Y 旋钮将透射斑点移至荧光屏中心 3、选择合适尺寸的物镜光阑插入光路，套取透射斑点 3、按下MAG1按钮转为MAG模式，退出选区光阑，荧光屏上出现明场图像 4、调节放大MAG/CAM L旋钮，获得合适放大倍率的图像。
高分辨像
1、获得感兴趣的选区衍射图像 2、在SA DIFFT模式按下PLA按钮，用DEF/STIG X Y 旋钮将透射斑点移至荧光屏中心 3、选择合适尺寸的物镜光阑插入光路，同时套取透射和衍射斑点 3、按下MAG1按钮转为MAG模式，退出选区光阑，荧光屏上出现明场图像 4、调节放大MAG/CAM L旋钮，获得合适放大倍率的图像（400K以上），选 择洞边非晶区域，进行物镜消像散。
TEM是一台高真空设备 TEM 总是保持在高真空状态，因此,插拔样品杆时一定要精心
TEM 是一台高电压设备 200 kV的高电压用于加速电子运动，任何不合适的操作都很容易通过电 子的放电损坏设备。 场发射TEM的电子枪必须保持在高真空状态 场发射TEM的电子枪必须时刻保持在10-7MPa的高真空下，否者就被损坏.
2. Function switches：用于选择成像模式。选择模式下的 放大倍数和相机长度可通过MAG-CAM L 旋钮改变。
– – – – – MAG 1开关：选择正常的放大模式：6000~150000 倍； MAG 2开关：未设定； LOW MAG开关：选择低倍放大模式：80~2000倍； SA MAG开关：未设定； SA DIFF开关：选区衍射模式。
测厚仪操作规程
测厚仪操作规程一、引言测厚仪是一种用于测量物体厚度的仪器设备，广泛应用于工业生产、建筑、航空航天等领域。
为了确保测量结果的准确性和一致性，制定本操作规程，规范测厚仪的使用方法和操作流程。
二、适用范围本操作规程适用于所有使用测厚仪进行厚度测量的人员。
三、设备准备1. 确保测厚仪处于正常工作状态，电源接通并稳定。
2. 根据测量对象的特点选择合适的探头，并安装在测厚仪上。
3. 检查探头是否干净无损，如有损坏或污染应及时更换或清洁。
四、操作流程1. 将测厚仪放置在稳定的平面上，确保仪器处于水平状态。
2. 打开测厚仪的电源开关，待仪器自检完成后进入待机状态。
3. 根据需要选择合适的测量模式，如单点测量、连续测量等。
4. 将探头贴近待测物体表面，确保与物体表面保持良好接触。
5. 按下测量按钮，测厚仪开始进行测量。
测量过程中要保持探头与物体表面的稳定接触，避免晃动或施加过大压力。
6. 等待测量结果稳定后，记录测量数值。
如需连续测量，可以按下相应按钮进行下一次测量。
7. 测量完成后，关闭测厚仪的电源开关，将仪器放置在安全干燥的地方。
五、注意事项1. 操作人员应熟悉测厚仪的使用方法和操作流程，并按照规程进行操作。
2. 在测量过程中，要保持环境的稳定，避免强光照射或有干扰物存在。
3. 使用过程中应注意安全，避免探头或测厚仪与尖锐物体接触，防止损坏设备。
4. 定期对测厚仪进行校准和维护，确保仪器的准确性和可靠性。
5. 如发现测厚仪出现异常情况或故障，应及时停止使用并联系专业维修人员进行修复。
六、附录1. 测厚仪的技术参数和规格。
2. 测厚仪的维护记录和校准证书。
3. 测厚仪的操作培训记录和操作人员名单。
以上为测厚仪操作规程的详细内容，希望对您有所帮助。
如有任何疑问或需要进一步了解，请随时与我们联系。
FORM CONTOURS 测量器 CV-2100 系列说明书
After a thorough analysis of all contour measurement operations, key operating functions are redesigned to enable fast, accurate and easy measurements.Centralized front control panelKey operation buttons are now mounted onto the X-axis driveunit to reduce set-up time and improve high-volume repetitivemeasurement processess.Inside: Fine feedOutside: Coarse feedSpeed range: 0.02 - 20 mm/sThe operation flow is significantly shortened by arranging the switches for stylus position change, measurement start/stop and return on the front of the drive unit. These operations are required for every single measurement cycle. This centralized panel can therefore reduce the workload of operators and improve measurement efficiency.A jog shuttle covering a wide range of speed is a standard feature.The drive unit can be moved easily to the measurement position by using the jog shuttle.A quick-vertical-motion stand with remarkable operabilityHighly efficient measurementHandleFine-feed knobUpside BottomThe newly designed stand allows operators to quickly and easily move the drive unit to and from the measurement height without having to push or pull.Moreover, this stand is equipped with a reference stop for quick repositioning to the measurement height, which ensures an easy and highly efficient measurement flow.By enabling faster X-axis movement and enhancing the stylus up/down functions, the drive unit can return to the measurement start position after auto-displacement of the stylus. This is especially useful when high volume repetitive measurements are being executed by a part program."Pursuing high accuracy is our mission"Introducing a new highly accurate digital scaleEasy setup for highly accurate and efficient measurementThe detector unit (Z1 axis) is equipped with a highly accurate arc scale. This scale directly tracks the arc locus of the stylus tip so that the most accurate compensation can be applied to the scale output, which leads to higher accuracy and resolution.The highly accurate digital arc scale not only improves measurement accuracy, but can also be set up easily.Light emitter receiverThe Circular ScaleDigital-scale detectorConstant ResolutionOperators are free from bothersome operations such as measurementmagnification switching and calibrating each magnification as required for analog instruments.The combination of high accuracy and excellent operability allows for increased support of a wide range of measurement needs.Measurement range of detector: 50mmAccuracy: ±(2.5+|0.1H |) μm, where H is displacementfrom mid-range position (mm)Resolution: 0.1μm (over entire measurement range)X-axis inclination handle is a standard featureA range of options available according to the applicationThe CV-2100 series * is equipped with a drive unit inclination mechanism that enables inclined-plane measurement without changing settings.Inclination angle (MAX): ±45 °(For CV-2100M4)CV-2100N4Manual column stand for CV-2100N4*2CV-2100M4Desktop PC*1: If the CV-2100N4 is operated without the dedicated manual stand, the measuring range of the Z axis might be reduced, depending on the installation conditions. If you are considering using the CV-2100N4 without the stand, contact your local Mitutoyo sales office for advice.*2: Optional accessory (refer to page 13).*1* For CV-2100N4, a manual column stand No.218-042 (refer to P13) is required (optionally available.)Contour Analysis Software: FORMTRACEPAKFORMTRACEPAK functions offer total support for measurement system control, surface roughness analysis, contour analysis, contour tolerancing, and inspection report creation.To make only a single measurement, you can create a part program in the single mode. To measure multiple workpieces of an identical shape, you can use the teaching mode.Since you can embed the entire flow, from making measurement to printing a report, into a part program, you can efficiently make measurements, analyze data, and output a report. A function is also provided that enables you to insert comments accompanied with photographs at desired timings, enabling you to embed the roles described in a measurement procedure document that specifies important points such as work settings.To make immediate measurements, you can use the pull-down menu to easily select and call up the desired operating procedure.You can hide buttons that are not used frequently. For example,You can switch the language* to be used in the measurement,analysis, and layout windows.After measurements have been made, you can switch to another language and create a report in that language. This function can be used worldwide.* Supported languages: Japanese, English, German, French, Italian, Spanish, Polish, Hungarian, Swedish, Czech, Simplified Chinese, Traditional Chinese, Korean, Turkish, Portuguese, Dutch, Russian and Thai.* Online help function supports only Japanese and English.Measurement controlMultiple language support (18 languages)Button-editing functionCircle and line automatic determination functionUsing the circle/line auto-fitting command, you can automatically calculate all circles and lines contained in the data without having to click the command button each time.Removal of abnormal points functionIrregular defects in the data are filtered out from the calculation. This function can effective when specifying the calculation range for locations at which the boundary between circle and line is difficult to determine.Text output of the calculation result and graphics dataYou can output the calculation result as text (in csv or txt format),output graphics data obtained from measurements as point-string data to a text file or CAD file (in the DXF or IGES format), or copy the data to the clipboard. Combined with commercial document or statistical processing software, this feature can be used to share data with computers that do not have dedicated analysis software installed or execute CAD-based reverse engineering.Contour analysis functionA wide variety of commands, which form the basic elements for analysis, are provided, including those for points (10 kinds), lines (6 kinds), and circles (6 kinds).A rich set of commands that combine these elements Simple pitch calculation functionYou can efficiently analyze the pitch between identical shapes,such as a screw pitch or the distance between circles (center-to-center pitch), by simply specifying the desired range using mouse operations.Example of range specification for screw thread pitch withrectangular tool.Contour-tolerancing function as a standard featureThe best-fit processing function that moves the coordinate values of the design data and measurement data to the optimum positions is provided as a standard feature. Measurement results can be displayed as graphics that show deviations of the measured contour from nominal with the tolerance values expanded in each coordinate for easy comparison. Results can also be output as a text file, or utilized as feedback data for machining systems.Contour AnalysisExample of contour-tolerancing result in graphical formExample of contour-tolerancingContour Analysis Software: FORMTRACEPAKContour AnalysisDesign value generation functionYou can generate design data from CAD data (DXF or IGES file) or text data. Furthermore, since you can also convert measurement data into design data, you can save parts data prior to use (testing) as design data and effectively utilize it for checking the wear following use (testing).Data combination functionYou can combine partial data collected separately from a work-piece (made necessary due to shape characteristics) into a single graphic for convenient analysis.Calculation command repetition settingWhen identical shapes have the same pitch, you can analyze all of the shapes in a batch by specifying a single analysis location and the pitch.Best-fit processing function for measurement point stringsThis function tries to fit the measurement points to the stored reference data on the same coordinate system. It can eliminate the effects of a shift that may occur when setting the workpiece during automatic analysis.Data superimposition commandYou can superimpose two sets of data by detecting their charac-teristic points. Use the mouse to drag and move the measurement point strings to the desired positions to be superimposed.Integrated layoutYou can use simple operations to lay out graphics obtained from measurements as well as measure-ment results for surface roughness, contour, and roundness on a single page.Furthermore, since the program now allows you to specify a saved file and paste it, you can easily paste results from multiple files.Note: The optional ROUNDPAK roundness/cylindricity analysis program is required. For adaptable version, please contact your local Mitutoyo sales office.Optional Accessories3-axis Adjustment Table: 178-047Table and fixture systemsThis table helps make the adjustments required when measuring cylindrical surfaces. The corrections for the pitch angle and the swivel angle are determined from a preliminary measurement and the Digimatic micrometers are adjusted accordingly. A flat-surfaced workpiece can also be leveled with this table. By using Mitutoyo’s 3-axis adjustment table, the workpiece can be aligned and leveled easily, simply by following the FORMTRACEPAK guidance. No experience or special expertise is required.Guidance display when using 3-axis adjustment tableRotary vise218-003V-block 998291Precision vise 178-019Cross-travel table218-001 (mm), 218-011(inch)V-block with clamp 172-234, 172-378Holder with clamp176-107Swivel centersupport172-197Center support riser 172-143Center support172-142Leveling table 178-043-1 (mm), 178-053-1 (inch)Digital Leveling table 178-042-1 (mm), 178-052-1 (inch)Leveling table 178-016Calibration stand *112AAG175*1 Required for calibrating in bulk by mounting straight arm/small-hole stylus arm without using cross-travel table and Y-axis table.Optional AccessoriesExample combination *2: with monitor arm but no side table *3Vibration isolators (Desk types)Manual column stand for CV-2100N4Vibration isolators (Desktop types), floor stand and tablesExample combination *2: with a side table but no monitor armVibration isolators (Desk type)178-188Monitor arm *112AAK120Side table 178-181*1 Used together with vibration isolator (178-188).*2 The vibration isolators does not include the measuring unit, controller, and analysis unit *3 User to provide a printer rack.Desk typesAir StandVibration Isolation Stand 30" x 48" x 30"(762x1219x762mm)25.7”x18.5”x26.4”(640×470×670mm)3.94”.47”218-042 Does not include (CV-2100N4)Vertical adjustment range: 12.6"(320mm)Inclination angle (MAX): ±45°Dimensions (W×D×H) : 23.6"x17.7"x29.1"(600×450×740mm)Mass: 242 lbs (110 kg)* Quick-vertical-motion function is not availableArms and StylusTip shape: One-sided cut (Tip Angle: 20°)Tip shape: Cone (Tip Angle: 30°)Tip radius: 25 µm Tip Material: CarbideTip Material: CarbideIntersecting cut stylusCone stylusBall stylusFor small-hole stylus SP-11/31For small-hole stylus SP-12/32For small-hole stylus SP-13/33Tip Angle: 12°Tip radius: 25 µm Tip Material: CarbideTip Angle: 20°Tip radius: 25 µm Tip Material: CarbideTip Angle: 20°Tip radius: 25 µm Tip Material: CarbideTip radius: 25 µmTip Material: Sapphire·Carbide (SPH-79: Diamond)Tip radius: 25 µm Edge width: 3 mm Tip Material: CarbideTip radius: 1 mm Tip Material: CarbideH* Select an arm and stylus that match the type of measurement you require.Type of arm Arm No.Parts No.Adaptation stylus No.h (mm)AB-51935111SPH-51,52,53,54,55,56,576Type of stylus Stylus No.Parts No.Adaptation arm No.h (mm)SPH-51354882AB-51·526Arms (option)Styli (option)SpecificationsSpecificationsDimensionsMeasuring area T-groove dimensions (CV-2100M4)CV-2100M4Unit: inch(mm)CV-2100N42.87”Sensor SystemsTest EquipmentDigital Scale and DRO SystemsSmall Tool Instruments and Data ManagementMitutoyo America Corporation One Number to Serve You Better 1-888-MITUTOYO (1-888-648-8869)M 3Solution Centers:Aurora, Illinois (Headquarters)Boston, Massachusetts Charlotte, North Carolina Cincinnati, Ohio Detroit, Michigan Los Angeles, California Seattle, Washington Houston, Texas© 2022 M i t u t o y o A m e r i c a C o r p o r a t i o nFind additional product literature and our product catalogNote: All inform ation regarding our products, and in particular the illustrations, drawings, dim ensional and perform ance data contained in this printed matter as well as other technical data are to be regarded as approximate average values. We therefore reserve the right to make changes to the corresponding designs. The stated standards, similar technical regulations, descriptions and illustrations of the products were valid at the time of printing. In addition, the latest applicable version of our General Trading Conditions will apply. Only quotations submitted by ourselves may be regarded as definitive. Specifications are subject to change without notice.Mitutoyo products are subject to US Export Administration Regulations (EAR). Re-export or relocation of our products may require prior approval by an appropriate governing authority.Trademarks and RegistrationsDesignations used by companies to distinguish their products are often claimed as trademarks. In all instances where Mitutoyo Am erica Corporation is aware of a claim, the product nam es appear in initial capital or all capital letters. The appropriate companies should be contacted for more complete trademark and registration information.500 0722 • Printed in USA • July 2022。
JEM-2100F 操作步骤
JEM-2100F/2200FS操作说明制作：北京东方捷欧技术服务站马宁一，开机（此步只能由实验室管理员操作）。
1. 合上配电柜中电镜主机的单相电源，同时合上循环水的三相电源。
2. 合上主机的稳压电源开关。
3. 合上主机电源柜上的电源开关。
4. 确认电子枪的模式转换器在COND模式（见图一）。
（图一）5. 按压主机控制台上的I 键2、3秒钟后松开，RP开始动作，主机启动。
6. 打开TEM控制PC，首先等待PC显示器右下角的图标由未建立通讯状态转变为已建立通讯状态，这通常要等待5分钟，再等操作控制台上按键指示灯变亮后双击桌面上图标打开TEM控制软件，确认Status Monitor-System中各项显示都为Running状态（如图二）。
（图二）未建立通讯状态（图三）：如果发生这种情况，关闭软件确认通信建立后再打开。
如果还不行，关闭计算机，然后再VME RESET，等1分钟再将PC打开，通信建立后打开软件。
（图三）7. 确认电源柜上的60L，20LSIP真空档位选择器在X10-6Pa的位置，并且指针基本上是在左端基本到底的位置，如指针指示超过0.5X10-6Pa,请立即通知服务中心。
（图四）8. 确认真空符合要求后加高压（在COND模式，从100KV起加，参照长假期处理）备注：如无法正常开机，请检查下列各项：1，检查电源，包括电源柜中的主闸及电镜分开关是否正常，稳压电源是否在开启状态，以及主机电源柜的空开是否在开启状态。
2，打开Status Monitor-Alarm，察看是否有变红的报警提示(一般会自动弹出此报警窗口，如图五)，如有请与服务中心联系。
（图五）3，打开TEMCON软件后弹出下列窗口（图六）是由于过早打开软件造成，关闭软件后再次开启此问题就会解决（图六）二，插拔样品杆1，放入样品杆前，如当时EMSN 是ON 的状态不要关掉灯丝（热场的灯丝一般总保持在发射状态，所以无须关灯丝，这是与普通电镜的区别之处），同时更换不同的样品杆要在计算机里选择相应的型号。
涂层测厚仪的原理和使用介绍 测厚仪技术指标
涂层测厚仪的原理和使用介绍测厚仪技术指标涂层测厚仪又称为覆层测厚仪，原理以及应用如下：一、原理磁性测厚原理：当测头与覆层接触时，测头和磁性金属基体构成一闭合磁路，由于非磁性覆盖层的存在，使磁路磁阻变化，通过测量其变化可计算覆盖层的厚度。
涡流测厚原理：利用高频交电流在线圈中产生一个电磁场，当测头与覆盖层接触时，金属基体上产生电涡流，并对测头中的线圈产生反馈作用，通过测量反馈作用的大小可导出覆盖层的厚度。
二、适用行业1、电镀、喷涂：这个行业是使用我们仪器较多的，占每年销量相当大的比例，是我们紧要用户群体，需要花大的精力去不断挖掘。
2、管道防腐：紧要以石化方面的用户比较多，一般防腐层比较厚，TT260配F10探头的用户比较多。
3、铝型材：今年以来受国家实施强制标准，型材企业换发许可证的影响，该行业显现前所未有的好势头，紧要测型材上面的氧化膜，据了解生产企业每少镀一微米，一吨型材“节省”150元，特别可观，因此国家强制要求配备包括涂层测厚仪在内的相关检测设备。
此举也给我们带来了特别好的机会。
这个机会也同样受到竞争对手的关注，他们最大限度的调低了价格，而且实行铺货等多种方式快速在此行业打开攻势，针对于此唐总、石总也多次指示紧密关注对手动向时世实行相应策略，宗旨是让利不让市场。
希望分公司同仁也能切实利用好这次机会，充分发挥区域优势，使我们的产品更多进入该行业，也为今后在此行业的销售打下基础。
另外，也可以扩大我们的产品在整个市场的影响。
4、钢结构：对于我们的产品这类企业也可以单独划为一个行业。
涂层测厚仪在此行业也的确有很大的应用，包括铁塔等厂家近来购买信息也比较多。
5、印刷线路版及丝网印刷等行业，这类企业相对来讲数特别行业，购买量目前来看只是来自零星一些厂家， 8月份我们就有两家印刷企业购买。
可以看出还是有需求的，需要我们不断做工作，挖掘信息资源，多发觉一些新的销售机会。
涂层测厚仪如何使用才可避开降低误差在运用涂层测厚仪测量时尽量运用被测材质来作为调零的基体，以防止由于不同的材质而致使导磁性不同，而呈现测量误差。
测厚仪基本操作
测厚仪基本操作规程测厚仪基本操作包括三个部分，第一部分是开启、停止；第二部分是校准，包括零位校准、框架校准、标准膜测试等；第三部分是维护操作，比如更换铝膜、上下探头对中（对中将单独列出详细介绍）等，下面将详细介绍以上具体操作方法：第一部分<1>开启1、打开测厚仪主电源开关，并一秒钟后按下安全急停按钮，如果一切正常（左侧为远端控制、右端为本地控制），此时测厚仪开始自检；2、待测厚仪开机自检完毕以后，按shift+home+enter组合键，将测厚仪归回home位置，显示器显示“MOVEMENT”，当回到home位置后，其会自动停止（注意有时开启牵引时会出现测厚仪未归回home位置报警，此时需要手动推动其归位）；3、当测厚仪归回到home位置后，按下scanning+enter组合键，数秒后扫描运行指示灯亮起，扫描探头开始来回扫描测量，显示器小视窗显示实时扫描厚度。
<2>停止1、当遇到破膜或者停机时，需要及时停止测厚仪，按下shift+home+enter组合键，测厚仪将自动停止扫描并回到home位置，此时扫描指示灯熄灭；（注意在测厚仪回到home位置过程中要及时清除探头间的废膜及厚片，以免伤到铝膜）2、当测厚仪回到home位置以后，如果是长时间停机，则可以关掉测厚仪电源，如果是短时间停机，则让其处于待机状态。
第二部分<1>零位校准：通常当我们更换完测厚仪铝膜后，或者测量曲线出现波动的时候，我们有必要对测厚仪进行零位校准。
1、首先将测厚仪归位到home位置；2、按下shift+zero+enter组合键，对测厚仪进行0位校准。
显示器依次显示“ZERO（offset）”、“ZERO（Gain）”、“GAIN------（XXXXX）”。
注：此过程耗时较长，（其中XXXXX为一个数值，例如8896）。
3、当做完零位校准后，需要对测厚仪进行扫描测试，按下scanning+enter组合键，显示器显示“SCANNING”，当扫描开始时，显示器将显示实际测量数值，因为没有膜，所以在整个来回扫描过程中数值都应该为“0.0”，如果不全为零，有必要重复第二步操作再次校准，直到扫描值都为零；（注意有时如果上下探头没有对齐，在做零位校准时可能会出现始终无法归零的情况）4、最后将测厚仪归位home位置。
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覆层测厚仪TT2100F-TT2100N使用说明书石家庄兰宇科技有限公司1概述本仪器根据探头类型的不同，分别运用磁感应和涡流原理测量覆层厚度，并符合以下工业标准：GB/T 4956─2003 磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量磁性方法GB/T 4957─2003非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量涡流方法1.1应用本仪器是便携式、快速、无损、精密地进行涂、镀层厚度的测量。
既可用于实验室，也可用于工程现场。
本仪器能广泛地应用在电镀、防腐、航天航空、化工、汽车、造船、轻工、商检等检测领域。
配置不同的探头，适用于不同场合。
1.2测量原理本仪器根据探头类型的不同，采用了磁性法和涡流法两种测厚方法。
TT2100F采用磁性法，可测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆盖层的厚度(如锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等)。
TT2100N采用涡流法，可测量非铁磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)和奥氏体不锈钢上非导电覆盖层的厚度(如:橡胶、油漆、塑料、阳极氧化膜等)。
1.3仪器配置1.3.1标准配置主机 1台探头（F1或N1）1支标准片 3片基体 1块9V碱性电池 1节使用说明书 1本1.4使用环境温度：0℃～40℃ 湿度：20%RH ～90%RH 无强磁场环境1.5电源一节9V 碱性干电池1.6仪器各部件名称1.6.1主机1、探头插座2、液晶显示器3、键盘1231.6.1.1 液晶显示1. 工作方式指示2. 测量厚度值3.统计值4. 测头类型指标5. 低电压指标6. 设限界指示7. 打印指示1.6.2探头1.6.2.1 探头结构所有探头（CN02除外）都安装在滑套里，以确保探头安全稳定地定位，并保持探头适当的接触压力。
滑套前端的V 型槽可保证在凸面上准确测量。
测量时须握住探头上的滑套，保持探头轴线与被测面垂直。
探头的顶端由耐用的硬质材料制成。
1 2 31、插头（与主机连接）2、 测头部分3、滑套D PRINT LIMIT Fe50.0μmMAX=50.2 MIN=49.9 MEAN=50.1 NO=1012 765431.6.2.2 探头的技术参数用户根据需要测量工件的特点选用下列不同探头。
表一：技术参数表探头型号F1N1工作原理磁感应涡流测量范围(μm)0～1250低限分辨力(μm) 0.1 0.1示值误差一点校准(μm)±(2%H+1)±(2%H+1.5)二点校准(μm)±((1%H+1)±（1%H+1.5）测试条件最小曲率半径(mm)凸 1.5凸3最小面积的直径(mm)Φ7Φ5基体临界厚度(mm)0.50.3注：H——标称值2仪器使用前的准备使用本仪器前，请务必仔细阅读第3章(校准)和第8章(影响测量精度的因素)2.1检查电源a)本仪器使用9V碱性电池。
b)按“ON/OFF”键，检查电池。
●开机时无显示，表示无电池或电池电压太低，无法显示。
需更换电池。
●无低电压指示，表示电池电压充足。
●有低电压指示，表示电池电压不足则显示低压指示约1秒钟后自动关机。
这时应立即更换电池。
2.2更换电池a)按“ON/OFF ”键关机； b)打开电池仓盖； c)取出电池，放入新电池； d)盖好电池仓盖。
注意：仪器长时间不使用时应将电池取出，以避免电池漏液腐蚀仪器。
2.3测量操作a) 准备好待测试件,将测头置于开放空间，按一下“ON/OFF ”键开机，正常开机后显示上次关机前的测量值；如：说明：开机时若电池电压不足则显示低压指示约1秒钟后自动关机。
这时应立即更换电池；b) 如果需要校准仪器，则选择适当的校准方法进行校准（参见第3章）； c) 测量迅速将测头与测试面垂直地接触并轻压测头定位套，随着一声鸣响，屏幕显示测量值，提起探头可进行下次测量；d) 关机在无任何操作的情况下，大约2 3min 后仪器自动关机。
按一下“开/关”键，立即关机。
说明: 1. 如果在测量中探头放置不稳，显示一个明显的可疑值，可删除该值； 2.重复测量三次或三次以上，测量后可显示四个统计值：平均值（MEAN ）、 测量次数（NO.）、最大测量值（MAX ）、最小测量值（MIN ）。
DFe 50.0μm2.4功能设置2.4.1工作方式该仪器具有两种工作方式：直接方式和成组方式a)直接方式：此方式用于随意性测量，此方式下可存储100个测量值，当存满100个值时，新的测量值将替掉旧的测量值,总保留最新的100个测量值。
b)成组方式：此方式便于用户分批记录所测试的数据，一组最多存100个测量值，总共五组，可存500个测量值。
当每组存满100个值时，屏幕将显示“存储器满”，此时，仍可进行测量，但是测量值只显示不存储，也不参与统计计算。
只有删除该组数据，才保存新的测量值。
每组内设有一个校准值，即该组下各个数据都是基于这个校准值测得的。
成组方式下，每个测量值都参与统计计算。
因为成组方式下，可存贮几套基于不同校准值的测量数据，因此该方式特别适合于现场测量。
两种方式的转换方法：仪器开机后，自动进入直接工作方式，工作方式区显示“D ”。
a)按“MENU ”键，显示如下： b)按“MENU ”键，进入系统设置； c)按“↑”或“↓”键，选择“工 作方式：”设置；d)按“MENU ”键，设置工作方式。
说明： “*” 表示该组中已有校准值；e)按两次“ESC ”键退出。
2.4.2测量方式该仪器具有两种测量方式：单次测量和连续测量系统设置 限界设置 功能选择 浏览数据测量方式： 单次 工作方式： 直接 单位： μm 在线打印： 关测量方式： 单次 工作方式： *组1 单位： μm 在线打印： 关单次测量──测头每接触被测件1次，随着一声鸣响，显示一个测量结果； 连续测量──不提起测头动态测量，测量过程中不伴鸣响，屏幕连续显示测量结果； 两种方式的转换方法：a)按“MENU ”键， 选择系统设置；b)按“MENU ”键， 选择测量方式；c) 按“MENU ”键，选择单次测量或连续测量； d) 按两次“ESC ”键退出。
2.4.3单位制式转换（米制<=>英制）a)按“MENU ”键， 选择系统设置；b)按“MENU ”键，再按 “↑”或“↓”键选择 “单位：”设置； c)按“MENU ”键，选择 “单位：um”或 “ 单位：mils”；d)按两次“ESC ”键，退出。
2.4.4在线统计值a) 按“MENU ”键， 选择系统设置；b) 按“MENU ”键，再按“↑”或“↓”键选择“在线统计值：”系统设置 限界设置 功能选择 浏览数据测量方式： 单次 工作方式： 直接 单位： μm 在线打印： 关系统设置 限界设置 功能选择 浏览数据系统设置 限界设置 功能选择浏览数据测量方式： 单次 工作方式： 直接 单位： μm 在线打印： 关设置；c) 按“MENU ”键选择“在线统计值：开”或“在线统计值：关”； d) 按两次“ESC ”键，退出。
2.4.5设置限界a)按“MENU ”键，然后按“↑” 或“↓”键，选择“限界设置”；b)按“MENU ”键，进入“限界设置”；c)按“MENU ”键选择“上限”或“下 限”，数据区显示以前设置的上限或 下限的值，按“↑”或“↓”键设定新 的上限或下限的值；说明: 1. 大于上限或小于下限的测试结果由蜂鸣声报警；2. 限界以外的测试结果与其它测试结果一起被存贮并进行统计计算。
3.上限与下限的接近程度是有限的。
在上限值为200μm 以上时，上、下限最小接近程度为上限的3%，在上限值为200μm 以下时，上、下限最小接近程度为5μm 。
d)按两次“ESC ”键，退出。
2.4.6背光设置按“BACKLIGHT ”键可随时打开或关闭背光3仪器的校准为使测量准确，应在测量场所对仪器进行校准。
系统设置 限界设置 功能选择 浏览数据上限 1250 下限 0.0工作方式： 直接单位： μm 在线打印： 关 在线统计值： 开3.1校准标准片（包括箔和基体）已知厚度的箔或已知覆盖层厚度的试样均可作为校准标准片。
简称标准片。
a)校准箔对于磁性方法，“箔”是指非磁性金属或非金属的箔或垫片。
对于涡流方法，通常采用塑料箔。
“箔”有利于曲面上的校准，而且比用有覆盖层的标准片更合适。
b)有覆盖层的标准片采用已知厚度的、均匀的、并与基体牢固结合的覆盖层作为标准片。
对于磁性方法，覆盖层是非磁性的。
对于涡流方法，覆盖层是非导电的。
3.2基体a)对于磁性方法，标准片基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与待测试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。
对于涡流方法，标准片基体金属的电性质，应当与待测试件基体金属的电性质相似。
为了证实标准片的适用性，可用标准片的基体金属与待测试件基体金属上所测得的读数进行比较。
b)如果待测试件的金属基体厚度没有超过表一中所规定的临界厚度，可采用下面两种方法进行校准：1)在与待测试件的金属基体厚度相同的金属标准片上校准；2)用一足够厚度的，电学性质相似的金属衬垫金属标准片或试件，但必须使基体金属与衬垫金属之间无间隙。
对两面有覆盖层的试件，不能采用衬垫法。
c)如果待测覆盖层的曲率已达到不能在平面上校准，则有覆盖层的标准片的曲率或置于校准箔下的基体金属的曲率，应与试样的曲率相同。
3.3校准方法本仪器有三种测量中使用的校准方法: 零点校准、二点校准、在喷沙表面上校准。
二点校准法又分一试片法和二试片法。
本仪器的校准方法是非常简单的。
3.3.1零点校准a)在基体上进行一次测量，屏幕显示＜×.×µm＞。
b)按“ZERO”键，屏显<0.0>。
校准已完成，可以开始测量了。
c)重复上述a、b步骤可获得更为精确的零点，高测量精度。
零点校准完成后就可进行测量了。
3.3.2二点校准3.3.2.1一试片法这一校准法适用于高精度测量及小工件、淬火钢、合金钢。
a)先校零点（如上述）。
b)在厚度大致等于预计的待测覆盖层厚度的标准片上进行一次测量，屏幕显示＜×××µm＞。
c)用“↑”或“↓”键修正读数，使其达到标准值。
校准已完成，可以开始测量了。
注意:1.即使显示结果与标准片值相符，按“↑” “↓”键也是必不可少的，例如按一次“↑”一次“↓”。
这一点适用于所有校准方法。
2. 如欲较准确地进行二点校准，可重复b、c过程，以提高校准的精度，减少偶然误差。
3.3.2.2二试片法两个标准片厚度至少相差三倍。
待测覆盖层厚度应该在两个校准值之间。
这种方法尤其适用于粗糙的喷沙表面和高精度测量。
a)先校零值;b)在较薄的标准片上进行一次测量，用“↑”或“↓”键修正读数，使其达到标准值;c)紧接着在厚的一个样片上进行一次测量，用“↑”或“↓”键修正读数，使其达到标准值。