光谱仪,光谱响应,辐射量,辐照度,辐射亮度,辐射率,光栅,辐射计

光谱仪,光谱响应,辐射量,辐照度,辐射亮度,辐射率,光栅,辐射计
光谱仪,光谱响应,辐射量,辐照度,辐射亮度,辐射率,光栅,辐射计

光谱仪简介

光谱仪( Spectroscope)是将成分复杂的光分解为光谱线的科学仪器,由棱镜或衍射光栅等构成,利用光谱仪可测量物体表面反射的光线,。阳光中的七色光是肉眼能分的部分(可见光),但若通过光谱仪将阳光分解,按波长排列,可见光只占光谱中很小的范围,其余都是肉眼无法分辨的光谱,如红外线、微波、紫外线、X射线等等。通过光谱仪对光信息的抓取、以照相底片显影,或电脑化自动显示数值仪器显示和分析,从而测知物品中含有何种元素。这种技术被广泛地应用于空气污染、水污染、食品卫生、金属工业等的检测中。

将复色光分离成光谱的光学仪器。光谱仪有多种类型,除在可见光波段使用的光谱仪外,还有红外光谱仪和紫外光谱仪。按色散元件的不同可分为棱镜光谱仪、光栅光谱仪和干涉光谱仪等。按探测方法分,有直接用眼观察的分光镜,用感光片记录的摄谱仪,以及用光电或热电元件探测光谱的分光光度计等。单色仪是通过狭缝只输出单色谱线的光谱仪器,常与其他分析仪器配合使用。

图片

图中所示是三棱镜摄谱仪的基本结构。狭缝S与棱镜的主截面垂直,放置在透镜L的物方焦面内,感光片放置在透镜L的像方焦面内。用光源照明狭缝S,S的像成在感光片上成为光谱线,由于棱镜的色散作用,不同波长的谱线彼此分开,就得入射光的光谱。棱镜摄谱仪能观察的光谱范围决定于棱镜等光学元件对光谱的吸收。普通光学玻璃只适用于可见光波段,用石英可扩展到紫外区,在红外区一般使用氯化钠、溴化钾和氟化钙等晶体。目前普遍使用的反射式光栅光谱仪的光谱范围取决于光栅条纹的设计,可以具有较宽的光谱范围。

表征光谱仪基本特性的参量有光谱范围、色散率、带宽和分辨本领等。基于干涉原理设计的光谱仪(如法布里-珀罗干涉仪、傅立叶变换光谱仪)具有很高的色散率和分辨本领,常用于光谱精细结构的分析。

单色仪

科技名词定义

中文名称:

单色仪

英文名称:

monochromator

定义:

从一束电磁辐射中分离出波长范围极窄单色光的仪器。

所属学科:

机械工程(一级学科) ;光学仪器(二级学科) ;物理光学仪器(三级学科)

本内容由全国科学技术名词审定委员会审定公布

monochromator

光谱仪器中产生单色光的部件。

单色仪与光谱摄谱仪的结构相似,为从宽波段的辐射束中分离出一系列狭窄波段

的电磁辐射。它以出射狭缝取代摄谱仪焦面上的感光板。有棱镜单色仪和光栅单色仪。

其中光栅单色仪比较应用广泛。在科研、生产、质控等环节。无论是穿透吸收光谱,还是荧光光谱,拉曼光谱,如何获得单波长辐射是不可缺少的手段。由于现代单

色仪可具有很宽的光谱范围(UV- IR),高光谱分辨率(到0.001nm),自动波长扫描,完整的电脑控制功能极易与其他周边设备融合为高性能自动测试系统,使用电脑

自动扫描多光栅单色仪已成为光谱研究的首选。

当一束复合光线进入单色仪的入射狭缝,首先由光学准直镜汇聚成平行光,再通

过衍射光栅色散为分开的波长(颜色)。利用每个波长离开光栅的角度不同,由聚焦

反射镜再成像出射狭缝。通过电脑控制可精确地改变出射波长。

光谱响应

(1)指光阴极量子效率与入射波长之间的关系.

(2)光谱响应表示不同波长的光子产生电子-空穴对的能力。定量

地说,太阳电池的光谱响应就是当某一波长的光照射在电池表面上时,每一光子平均所能收集到的载流子数。太阳电池的光谱响应又分为绝对光谱响应和相对光谱响应。各种波长的单位辐射光能或对应的光子入射到太阳电池上,将产生不同的短路电流,按波长的分布求得其对应的短路电流变化曲线称为太阳电池的绝对光谱响应。如果每一波长以一定等量的辐射光能或等光子数入射到太阳电池上,所产生的短路

电流与其中最大短路电流比较,按波长的分布求得其比值变化曲线,这就是该太阳电池的相对光谱响应。但是,无论是绝对还是相对光谱响应,光谱响应曲线峰值越高,越平坦,对应电池的短路电流密度就越大,效率也越高。

(3)太阳电池并不能把任何一种光都同样地转换成电。例如:通常红光转变为电的比例与蓝光转变为电的比例是不同的。由于光的颜色(波长)不同,转变为电的比例也不同,这种特性称为光谱响应特性。光谱响应特性的测量是用一定强度的单色光照射太阳电池,测量此时电池的短路电流,然后依次改变单色光的波长,再重复测量以得到在各个波长下的短路电流,即反映了电池的光谱响应特性。

(4)光谱响应特性与太阳电池的应用:从太阳电池的应用角度来说,太阳电池的光谱响应特性与光源的辐射光谱特性相匹配是非常重要的,这样可以更充分地利用光能和提高太阳电池的光电转换效率。例如,有的电池在太阳光照射下能确定转换效率,但在荧光灯这样的室内光源下就无法得到有效的光电转换。不同的太阳电池与不同的光源的匹配程度是不一样的。而光强和光谱的不同,会引起太阳能电池输出的变动。

辐射量

科技名词定义

中文名称:

辐射量

英文名称:

radiant quantity

定义:

用能量单位度量的与辐射有关的各种量。

所属学科:

机械工程(一级学科) ;光学仪器(二级学科) ;光学仪器一般名词(三级学科)

辐照度

科技名词定义

中文名称:

辐照度

英文名称:

irradiance

定义1:

单位时间内投射到单位面积上的辐射能量。

所属学科:

大气科学(一级学科) ;大气物理学(二级学科)

定义2:

物体在单位时间、单位表面上接受到的辐射能。单位为W/m2。

所属学科:

电力(一级学科) ;可再生能源(二级学科)

定义3:

照射到包含所述点的无限小面元上辐射通量除以该面元的面积。

所属学科:

海洋科技(一级学科) ;海洋科学(二级学科) ;海洋物理学(三级学科)

定义4:

单位时间内投射到单位面积上的辐射能量。

所属学科:

资源科技(一级学科) ;气候资源学(二级学科)

本内容由全国科学技术名词审定委员会审定公布

辐照度(Ee , E)是一种物理参数,是在某一指定表面上单位面积上所接受的辐射能量。单位:瓦特/平方米。

若为投射到一平表面上的辐射通量密度,则称为辐照度,用符号E表示,指到达一表平面上,单位时间,单位面积上的辐射能;若是从一表平面向外发出的辐射通量密度,则称为辐射出射度,或简称辐出度,用符号M表示,指单位时间,从单位面积上发出的辐射能。E、M的单位同为瓦特/平方米。

辐射亮度

表示面辐射源上某点在一定方向上的辐射强弱的物理量。辐射亮度的SI单位为瓦/( 球面度.米2 ) 。

面辐射源的辐射亮度L:辐射源在某一方向的单位投影面积在单位立体角内的辐射通量,称为辐射亮度(Radiance)L。

单位是W/(sr*m2)。

辐射率

科技名词定义

中文名称:

辐射率

英文名称:

radiance

定义:

辐射源在与发射方向相垂直的单位面积上单位立体角内发出的辐射

功率。

所属学科:

大气科学(一级学科) ;大气物理学(二级学科)

本内容由全国科学技术名词审定委员会审定公布

辐射率或称辐射亮度,是描述面辐射源特性的物理量。它表示辐射源在某一方向上的单位投影表面在单位立体角内的辐射通量,用符号L表示,L是有方向性的,单位为瓦/米2球面度(Wm-2sr-1)。辐射率是某物体的单位面积辐射的热量和黑体在相同温度、相同条件下的辐射热量之比。辐射率定义是某物体吸收或反射热量的能力。理论上完全黑体对所有波长具有100%的吸收,即反射率为0。因此,黑体的辐射率为1.0。

辐射计

测量电磁辐射量的仪器。它响应的波长范围较宽,包括紫外线、可见光和红外辐射。主要应用于测量各种辐射源的辐射功率。

辐射计一般包含四个基本组成部分。①光学系统:以一定大小的孔径面积收集入射的辐射功率,成像后落在探测器的敏感面积上。②探测器:使接收到的辐射量转变为可测量的信号,通常是电压信号。③放大器和记录显示装置:对探测器输出的信号予以放大、处理、显示或记录。④参考辐射源和调制器:用作仪器内部的辐射基准,一般取黑体的形式。

响应率输入单位辐射量时辐射计的输出。辐射计的响应率R根据测量参数的不同有三种定义。①响应率R:入射辐射通量变化墹Φ与输出信号变化墹V之比,R=墹V/墹Φ。②响应率RE:入射光瞳上辐照度变化墹E与输出信号变化墹V之比,RE=墹V/墹E。③响应率RL:入射光瞳上辐亮度变化墹L(即单位面积单位立体角内的辐射通量的变化)与输出信号变化墹V之比,RL=墹V/墹L。辐射计的响应率确定后,根据辐射计的输出就能获得入射的辐射量。但是,辐射量是波长、方位、偏振和时间的函数。因此,辐射计必须考虑视场、光谱响应和时间常数或频率响应。理想的辐射计应设想为,在辐射计的视场内响应为常数,视场以外响应为零。在光谱响应方面,在工作的波长范围内响应为常数,在这个范围以外响应为零。时间响应也是如此。实际的辐射计都不是理想的,可通过实测其视场和光谱响应,求得等效的理想辐射计的响应曲线。

类型①直流型:用温差电堆作接收器,时间常数约2秒,参考辐射由温差电堆的发射率和温度决定。②交流涂黑调制器型:用热敏电阻作探测器,辐射计的时间常数为25毫秒,其参考辐射为涂黑的调制盘。

③交流平面镜调制器型:探测器为热敏电阻,辐射计时间常数约为几十毫秒,以黑体作为参考辐射源。图中为这类辐射计的结构。它的工作原理是从被测的辐射源发射的辐射(包括可见光、红外辐射等)入射至辐射计,为光学系统所会聚,并成像在探测元件上;探测元件将入射辐射转变为电信号,信号大小正比于输入辐射;电信号经放大处理,加以显示和记录。由于探测元件的性能不同,放大器的增益等可能发生变化,所以,辐射计内部设置一个参考黑体,其发射率是稳定的,温度是精确控制的,由它提供一个参考的辐射基准。用一个与光轴成45°设置的、由电机驱动的扇形平面镜调制器进行调制,其作用是将入射辐射与参考辐射交替地投在探测元件上。经过处理就可将入射辐射与参考辐射相比较,获得测量结果。

定标确定辐射计的响应率,测出输入、输出的定标曲线。定标方法有两种:一种是用标准辐射源,另一种是用标准探测器。高精度的标准辐射源也有两类:一类是腔式黑体,腔口较小,发射率很高,使用时将黑体放在远处,使辐射计瞄准黑体腔,并使腔口充满辐射计的视场,改变黑体的温度,即可得不同的输入辐射和相应的辐射计输出;另一类是面源型黑体,蜂窝结构,面较大,定标时贴近辐射计,使面源充满辐射计的入射孔径,同样可以获得定标曲线。

用标准探测器进行辐射定标。标准探测器的原理是利用电加热功率增减来平衡由于入射辐射的加热。在平衡时,电加热功率即等于入射的辐射功率。这种标准探测器常称为绝对辐射计或电定标辐射计。将辐射计与绝对辐射计相比,也可获得定标曲线。英国国家物理实验室和美国国家标准局都采用电定标热电辐射计作为辐射计量的标准。

应用广泛用于测量目标的辐射特性,特别是军事目标的辐射特性。还可用于非接触的温度测量等。在测量点源时(即被测目标对辐射计的张角小于辐射计的视场),首先要瞄准目标,使点源的像全部进入探测元件。其次注意落入视场内的背景辐射。特别是在热红外波段测常温目标时,背景辐射不可忽视。在测量面源时(即目标的张角大于辐射计的视场),确切确定测量部位,以便消除背景的影响。在大气中测量,还必须研究大气吸收对辐射的影响。

辐射计是最基本的辐射测量仪器。进一步扩展其功能即可改变为各

种性能的辐射计。①光谱辐射计:将入射红外辐射分光后,对各波长的红外辐射分别测量辐射强度的仪器,如地物光谱仪、航空地物光谱仪等,

可用于遥感研究。②扫描辐射计:通过扫描对景物逐点逐行进行红外辐射强度测量的仪器。③多光谱扫描辐射计:通过扫描方式对景物逐点逐行并同时用若干波段进行辐射测量的仪器(见多光谱扫描仪)。

物理上的光栅原理说明

光栅也称衍射光栅。是利用多缝衍射原理使光发生色散(分解为光谱)的光学元件。它是一块刻有大量平行等宽、等距狭缝(刻线)的平面玻璃或金属片。光栅的狭缝数量

很大,一般每毫米几十至几千条。单色平行光通过光栅每个缝的衍射和各缝间的干涉,

形成暗条纹很宽、明条纹很细的图样,这些锐细而明亮的条纹称作谱线。谱线的位置随波长而异,当复色光通过光栅后,不同波长的谱线在不同的位置出现而形成光谱。光通过光栅形成光谱是单缝衍射和多缝干涉的共同结果。

衍射光栅在屏幕上产生的光谱线的位置,可用式(a+b)(sinφ ± sinθ) = kλ表示。式中a代表狭缝宽度,b代表狭缝间距,φ为衍射角,θ为光的入射方向与光栅平面法线之间的夹角,k为明条纹光谱级数(k=0,±1,±2……),λ为波长,a+b称作光栅常数。用此式可以计算光波波长。光栅产生的条纹的特点是:明条纹很亮很窄,相邻明纹间的暗区很宽,衍射图样十分清晰。因而利用光栅衍射可以精确地测定波长。衍射光栅的分辨本领R=l/Dl=kN。其中N为狭缝数,狭缝数越多明条纹越亮、越细,光栅分辨本领就越高。增大缝数N提高分辨本领是光栅技术中的重要课题。

最早的光栅是1821年由德国科学家J.夫琅和费用细金属丝密排地绕在两平行细螺丝上制成的。因形如栅栏,故名为“光栅”。现代光栅是用精密的刻划机在玻璃或金属片上刻划而成的。光栅是光栅摄谱仪的核心组成部分,其种类很多。按所用光是透射还是反射分为透射光栅、反射光栅。反射光栅使用较为广泛;按其形状又分为平面光栅和凹面光栅。此外还有全息光栅、正交光栅、相光栅、炫耀光栅、阶梯光栅等。

电感耦合等离子体发射光谱仪技术参数

电感耦合等离子体发射光谱仪技术参数 设备名称:电感耦合等离子体发射光谱仪 数量:1套 1、工作条件: 1.1 适于在交流电源相电压为230V±10%,频率50/60Hz的中国电网条件下长期正常工作; 2、设备用途 主要应用于对用于对各类样品中主量、微量及痕量元素的定性、半定量和定量分析, 仪器以固体检测器为基础,由进样系统、高频发生器、等离子体炬、光路系统、检测器、分析软件和计算机系统组成,全自动控制,仪器监控仪表全部由计算机控制. 3、技术规格与要求: 3.1技术规格 ★1具备耐HF酸,分析1ppm的锰标准溶液,Mn 257nm谱线的强度大于990万cps。 2蠕动泵为四通道系统。具有智能快速冲洗功能,随时监测特定的谱线 3炬管、雾室和雾化器为一体式设计,雾室、雾化器和等离子体相互分隔。具有雾化器压力提示功能,随时监控雾化器是否堵塞。提供软件截屏作为证明资料。 ★4自激式射频发生器,频率40.00MHz以上。功率稳定性优于0.1%。射频发生器的功率传输效率优于80%。最大功率≥1500W。提供软件截屏作为证明资料 ★5等离子体为垂直式,轴向、轴向衰减和径向、径向衰减四种观测方式,具有实时全彩色摄像系统,在仪器的控制软件中可以实时全彩色看到等离子体的运行图形,并观察炬管、炬管中心管是否变脏需要清洗。至少可设置1/500秒、1/1000秒、1/2000秒摄像速度抓拍等离子体。提供软件截屏作为证明资料。6免维护的平板或线圈等离子体且无需循环冷却水或气体进行冷却。 ★7等离子体气、雾化器、辅助气全部采用质量流量计控制,连续可调。等离子体正常运行的氩气消耗总量小于11升/分钟。 ★8光学系统高性能二维(交叉)色散中阶梯光栅(或棱镜),波长范围包含170-900nm。 能测试Cs894.347、Cl894.806nm;提供光谱图及标准曲线作为证明资料并作为验收指标。 9固态检测器,其形状与中阶梯二维光谱图完全匹配且无紫外线转换荧光涂层。强光和弱光同时测量采用不同的积分时间,避免检测器的损坏。 10 计算机控制系统与数据工作站为主流品牌最新款高配置商务机型,配激光高速打印机。软件为全中文多任务操作。控制软件可以在中文版Windows 7下运行,可以脱离仪器安装在其它计算机上进行模

自主光栅光谱仪实验

自组式光栅光谱仪 一、实验目的 1、了解光栅的分光原理及主要特性; 2、了解光栅光谱仪的工作原理; 3、掌握利用光栅光谱仪进行测量的实验方法。 二、实验仪器 1低压汞灯及电源:2狭缝及固定调节架1个:0~2mm;3一维光栅及干板调节架1个;4、透镜及固定调节架3个(焦距f=60mm、焦距f=60mm、焦距f=200mm); 5、白板1个; 6、读数显微镜及固定调节架1个。 三、实验原理 本实验用的是透射光栅,是用光学玻璃片刻制而成的(如图5-11-1)。当光照射到光栅表面时,刻痕处不透光。只有在两刻痕之间的光滑部分,光才能通过,相当于一条狭缝,因此,光栅实际上是一密排、均匀而又平行的狭缝。设a为缝宽,b为刻痕宽度,d=a+b称为光栅常数。 由夫琅和费衍射理论,当波长为λ的平行光束垂直照射到光栅平面时,在每一狭缝处都产生衍射,但由于各缝发出的衍射波都是相干光,彼此又产生干涉。这样就会在光栅后面的屏上形成一系列被相当宽的暗区隔开的亮度大、宽度窄的明条纹,成为谱线(如图5-11-2)。 如图5-11-3所示,设S为位于透镜L1第一焦平面上的细长狭缝,G为光栅,光栅的常数为d,L1射出的平行光垂直地照射在光栅G上。透镜L2将与光栅法线成θ角的衍射光会聚于其第二焦平面上的Pθ点。由夫琅和费衍射理论知,相邻两缝对应点出射的光束之光程差为:? = (a + b)sinθ = d sinθ 当衍射角符合下列条件: d sinθ = kλ k = ±1, ± 2, ± 3, ..., ± n (5-11-1)

该衍射角方向的光将会得到加强,叫做主极大,形成明纹;其他方向的衍射光线或者完全抵消,或者强度很弱,几乎成暗背景。(5-11-1)式称为光栅方程,其中:λ为单色光波长,k称为光谱线的级数。在k=0的方向上可观察到中央极强,称为零级谱线,其它谱线则对称地分布在零级谱线的两侧,如图5-11-2所示。 图5-11-3 平行光通过光栅 当k=0时,任何波长的光均满足(5-11-1)式,亦即在θ = 0 的方向上,各种波长的光谱线重叠在一起,形成明亮的零级光谱;对于k 的其它数值,不同波长的光谱线出现在不同的方向上(θ的值不同),从而在不同的位置上形成谱线,称为光栅谱线。而与k的正负两组相对应的两组光谱,则对称地分布在零的光谱两侧。 若光栅常数d 已知,在实验中测定了某谱线的衍射角θ和对应的光谱级k ,则可由(5-11-1)式求出该谱线的波长λ;反之,如果波长λ是已知的,则可求出光栅常数d 。 四、实验内容 1、自组装置光栅光谱实验仪,实验装置图见图2所示。 光源发出的光经过60mm透镜会聚到狭缝上,光线经过狭缝(狭缝放置在200mm 透镜的前焦面上),从200mm透镜出来的光为平行光,再入射到光栅上。通过光栅衍射的光成像于60mm透镜的后焦平面上(实为无穷远处可调狭缝的像)。

等离子体发射光谱

等离子体光谱是指等离子体从红外到VUV发射的电磁辐射光谱。 资源 它包含了大量关于等离子体复杂原子过程的信息。利用光谱原理、实验技术和等离子体理论模型对等离子体光谱进行测量和分析具有重要意义。 包括 等离子体光谱主要是线性的和连续的。当等离子体中的中性原子和离子从高能能级的激发态转移到低能能级时,会产生线性谱;②在电子从高能能级跃迁到低能能级逃逸出等离子体之前光子的再吸收量被重新吸收。然而,谱线的总强度与电子和离子的密度和温度有关,每一条谱线都有其强度分布规律。因此,结合光谱模型中的理论模型和原子数据,通过测量谱线的强度,可以得到电子和离子的密度和温度。根据多普勒效应,等离子体的宏观速度可以由谱线波长的偏移来确定。当电子在其他粒子的势场中加速或减速时,就会产生连续的谱。连续谱强度测量也可获得电子密度和温度的数据。 改变

随着等离子体温度的升高,当达到10℃以上时,原子的外部电子逐渐剥离形成各种离子态的离子,如C IV、CV、O VI、n V、Fe Xi x、Ti Xi x(I为中性原子,II,III,IV损失1,2,3)的一个电子外层。这些高电离离子的线性谱主要在远紫外波段。在连续谱情况下,当温度升高时,最大发射强度向短波方向移动;对于聚变高温等离子体,其工作物质为氢,同位素为氘和三种,但不可避免地会含有一些杂质,如C、O、Fe,Ti、Mo、W等元素的温度已达到10度以上。这些杂质离子的光谱大多在真空紫外和X射线波段。分析时间非常重要。比较了高阶重杂质电离线的位置和位置。他们的强度。研究等离子体参数的测量、传输过程和在如此高的温度下的辐射损耗是非常重要的。特别是分析氢离子和氦离子的线强度更为有用,因为这些离子的原子数据相对完整。 形状 等离子体光谱的另一个重要方面是光谱线的形状或轮廓。谱线不是“线”,而是具有一定宽度的等高线。在等离子体光谱中,线展宽的机理非常复杂。多普勒效应和斯塔克效应是影响多普勒效应的两个重要因素。等离子体中的各种粒子都处于随机热运动状

光栅光谱仪的使用(北科大实验报告)

光栅光谱仪的使用实验报告 学院高等工程 师学院 班级自E152学号41518170姓名郑子亮 一、实验目的与实验仪器 【实验目的】 1.了解平面反射式闪耀光栅的分光原理及主要特性 2.了解光栅光谱仪的结构,学习使用光栅光谱仪 3.测量钨灯和汞灯在可见光范围的光谱 4.测定光栅光谱仪的色分辨能力 5.测定干涉滤光片的光谱透射率曲线 【实验仪器】 WDS-3平面光栅光谱仪(200~800nm)。汞灯,钨灯氘灯组件,干涉滤光片等。 二、实验原理 (要求与提示:限400字以内,实验原理图须用手绘后贴图的方式) (1)平面反射式光栅与光栅方程 规定衍射角Θ恒为正,i与Θ在光栅平面法线的同侧为正,异侧为负。K是光谱级 对于常用的平面光栅光谱仪,谱板中心到光栅中心的连线与入射光线在同一平面内,因此,衍射角Θ可当做入射角i,光谱方程为: (2)闪耀问题 闪耀波长: 2平面光栅光谱仪结构组成 (1)光学系统 (2)电子系统 (3)光栅光谱仪操作

3.色分辨率 光栅光谱仪的色分辨率是分开两条邻近谱线能力的量度 4.滤光片光谱特性 光谱透射率为: 三、实验步骤 (要求与提示:限400字以内) 1.准备工作 开机前,需要缓慢旋转入射狭缝宽度调节旋钮,设置参数 2.校准光谱仪的波长指示值 利用氘灯波长值为486.0nm的谱线校准光谱仪,利用“数据处理”菜单的功能读出测量的氘灯光谱谱线波长,如果有偏差,用“系统操作”菜单中的“波长校正”功能进行校正3.汞灯光谱和光谱仪分辨率的测量 (1)入射缝宽和出射缝宽设定在0.15~0.20nm之间,负压-300~-600之间 (2)移去钨灯&氘灯组件,将汞灯置于入射狭缝前,进行快速全谱扫描,根据光谱测量结果进一步调节狭缝宽度、负高压等参数,使得记录的谱线高度适当,再进行一次慢速全谱扫描,保存实验数据。 4.滤色片光谱特性的测量 5.退出系统与关机 四、数据处理 (要求与提示:对于必要的数据处理过程要贴手算照片) 1. (1)汞灯光谱

W光栅光谱仪实验

光栅光谱仪实验 一 实验目的 1、了解光栅光谱仪的工作原理 2、掌握利用光栅光谱仪进行测量的技术 二 实验仪器 WDS8A 型组合式多功能光栅光谱仪,计算机, 氘灯、钠灯、汞灯等各种光源 三 实验原理 光谱仪是指利用折射或衍射产生色散的一类光谱测量仪器。光栅光谱仪是光谱测量中最常用的仪器,基本结构如图1所示。它由入射狭缝S1、准直球面反射镜M1、光栅G 、聚焦球面反射镜M2以及输出狭缝S2构成。 衍射光栅是光栅光谱仪的核心色散 器件。它是在一块平整的玻璃或金属材 料表面(可以是平面或凹面)刻画出一 系列平行、等距的刻线,然后在整个表 面镀上高反射的金属膜或介质膜,就构 成一块反射试验射光栅。相邻刻线的间 距d 称为光栅常数,通常刻线密度为每 毫米数百至数十万条,刻线方向与光谱 仪狭缝平行。入射光经光栅衍射后,相 邻刻线产生的光程差 (sin sin )s d αβ?=±,α为入射角, β为衍射角,则可导出光栅方程: (sin sin )d m αβλ±= (0.1) 光栅方程将某波长的衍射角和入射角通过光栅常数d 联系起来,λ为入射光波长,m 为衍射级次,取0,1,2,±±等整数。式中的“±”号选取规则为:入射角和衍射角在光栅法线的同侧时取正号,在法线两侧时取负号。如果入射光为正入射0α=,光栅方程变为sin d m βλ=。衍射角度随波长的变化关系,称为光栅的角色散特性,当入射角给定时,可以由光栅方程导出 cos d m d d βλβ=, (0.2) 复色入射光进入狭缝S1后,经M2变成复色平行光照射到光栅G 上,经光栅色散后,形成不同波长的平行光束并以不同的衍射角度出射,M2将照射到它上面的某一波长的光聚焦在出射狭缝S2上,再由S2后面的电光探测器记录该波长的光强度。光栅G 安装在一个转台上,当光栅旋转时,就将不同波长的光信号依次聚焦到出射狭缝上,光电探测器记录不同光栅旋转角度(不同的角度代表不同的波长)时的输出光信号强度,即记录了光谱。这种光谱仪通过输出狭缝选择特定的波长进行记录,称为光栅单色仪。 在使用单色仪时,对波长进行扫描是通过旋转光栅来实现的。通过光栅方程可以给出出射波长和光栅角度之间的关系(如图2所示) 2cos sin d m λψη=, (0.3) 图1光栅光谱仪示意图

光栅光谱仪的应用 复旦介绍

光栅光谱仪的应用 摘要:本实验通过光栅光谱仪,测量并分析不同光源的发射光谱、溶液的吸收光谱、滤光片的透射光谱以及实验条件对光谱的影响。 关键词:光栅光谱仪、光电倍增管、发射光谱、吸收光谱、透射光谱 Abstract:In this experiment, the emission spectra of different light source, the absorption spectra of the solution, the transmission spectra of optical filters with several colours, and the effects caused by experimental conditions are measured and analyzed with the help of the grating spectrometer. Keywords: grating spectrometer, photomultiplier, emission spectrum, absorption spectrum, transmission spectrum.

一、引言 光栅光谱仪,是将成分复杂的光分解为光谱线的科学仪器。本实验利用定标后的光栅光谱仪,测量不同光源的发射光谱、物质吸收光谱以及透射光谱,并研究分析实验条件对光谱的影响,了解光谱特性。 二、实验原理 1.发射光谱: 物体发光直接产生的光谱叫做发射光谱1。处于高能级的原子或分子在向较低能级跃迁时产生辐射,将多余的能量发射出去形成的光谱。 由于产生的情况不同,发射光谱又可分为连续光谱和明线光谱。 稀薄气体发光是由不连续的亮线组成(实际由于光线通过时会产生吸收光谱,特定频率的光被吸收后形成暗线或暗带,剩下的就是光谱中的明线),这种发射光谱又叫做明线光谱,原子产生的明线光谱也叫做原子光谱。 固体或液体及高压气体的发射光谱,是由连续分布的波长的光组成的,这种光谱叫做连续光谱。 白炽灯与汞灯的发射光谱区别就在于,前者是连续光谱而后者是明线光谱。 2.吸收光谱: 物质吸收电磁辐射后,以吸收波长或波长的其他函数所描绘出来的曲线即吸收光谱。是物质分子对不同波长的光选择吸收的结果,是对物质进行分光光度研究的主要依据2。 吸光度是指光线通过溶液或某一物质前的入射光强度与该光线通过溶液或物质后的透射光强度比值的以10为底的对数(即lg(Iin/Iout))3。 吸光度与物质的浓度、温度、本身性质等有关。 在多组分体系中,如果各组分的吸光质点彼此不发生作用,那么吸光度便等于各组分吸光度之和,这一规律称吸光度的加和性。 [I0为入射光强,I为出射光强] (1) 吸光度公式:Aλ=log I0 I 对较稀溶液,有比尔—朗伯定律: A=αlc [α是吸收系数,l是光在样本中经过距离,c是浓度] (2) 3.光栅单色仪: 1引自《百度百科·发射光谱》; 2引自《百度百科·吸收光谱》; 3

光栅光谱仪实验报告

光栅光谱仪的使用 学号 2015212822 学生姓名张家梁 专业名称应用物理学(通信基础科学) 所在系(院)理学院 2017 年 3 月 14 日

光栅光谱仪的使用 张家梁 1 实验目的 1.了解光栅光谱仪的工作原理。 2.学会使用光栅光谱仪。 2实验原理 1. 光栅光谱仪 光栅光谱仪结构如图所示。光栅光谱仪的色散元件为闪耀光栅。入射狭缝和出射狭缝分别在两个球面镜的焦平面上,因此入射狭缝的光经过球面镜后成为平行光入射到光栅上,衍射光经后球面镜后聚焦在出射狭缝上。光栅可在步进电机控制下旋转,从而改变入射角度和终聚焦到出射狭缝处光线的波长。控制入射光源的波长范围,确保衍射光无级次重叠,可通过控制光栅的角度唯一确定出射光的波长。 光谱仪的光探测器可以有光电管、光电倍增管、硅光电管、热释电器件和CCCD 等多种,经过光栅衍射后,到达出射狭缝的光强一般都比较弱,因此本仪器采用光电倍增管和CCD 来接收出射光。 2. 光探测器 光电倍增管是一种常用的灵敏度很高的光探测器,它由光阴极、电子光学输入系统、倍增系统及阳极组成,并且通过高压电源及一组串联的电阻分压器在阴极──打拿极(又称“倍增极”) ──阳极之间建立一个电位分布。光辐射照射到阴极时,由于光电效应,阴极发射电子,把微弱的光输入转换成光电子;这些光电子受到各电极间电场的加速和聚焦,光电子在电子光学输入系统的电场作用下到达第一倍增极,产生二次电子,由于二次发射系数大于1,电子数得到倍增。以后,电子再经倍增系统逐级倍增,阳极收集倍增后的电子流并输出光电流信号,在负载电阻上以电压信号的形式输出。

CCD 是电荷耦合器件的简称,是一种金属—氧化物—半导体结构的新型器件,在电路中常作为信号处理单元。对光敏感的CCD 常用作图象传感和光学测量。由于CCD 能同时探测一定波长范围内的所有谱线,因此在新型的光谱仪中得到广泛的应用。 3. 闪耀光栅 在光栅衍射实验中,我们了解了垂直入射时(Φ=90°)光栅衍射的一般特性。当入射角Φ=90°时,衍射强度公式为 光栅衍射强度仍然由单缝衍射因子和多缝衍射因子共同决定,只不过此时 当衍射光与入射光在光栅平面法线同侧时,衍射角θ取+号,异侧时取-号。单缝衍射中央主极大的条件是u=0,即sinΦ=-sinθ或Φ=θ。将此条件代入到多缝干涉因子中,恰好满足v=0,即0 级干涉大条件。这表明单缝衍射中央极大与多缝衍射0 级大位置是重合的(图9.1a),光栅衍射强度大的峰是个波长均不发生散射的0 级衍射峰,没有实用价值。而含有丰富信息的高级衍射峰的强度却非常低。 为了提高信噪比,可以采用锯齿型的反射光栅(又称闪耀光栅)。闪耀光栅的锯齿相当于平面光栅的“缝”。与平面光栅一样,多缝干涉条件只取决于光栅常数,与锯齿角度、形状

Varian 715-ES等离子体发射光谱仪图文操作手册

Varian 715-ES等离子体发射光谱仪的 图文操作手册 一、V arian 715-ES等离子体发射光谱仪: V arian 715-ES等离子体发射光谱仪 二、功能和用途: 1、功能:本仪器可以全波段同时测量,所以可选择不同的波长轻易避免光谱 干扰,意味着具有更好的精度、更好的背景矫正和更高的效率;采用百万像素CCD检测器搭配Echelle二维分光器,可以使系统在一次观测就可完成高低浓度样品的检测,并具有更低的检出限和更宽的动态线性范围; CCI冷锥切割尾焰技术使水平观测检测限更低,并能分析较高TDS含量的样品;测定过程中没有任何移动部件的光学系统提高了仪器稳定性;直观、强大、易学易用的ICP Expert II全中文操作软件大大提高了工作效率。 2、用途:本仪器可以同时测定元素周期表中73中元素,每个元素的波长可 以任意选择,最大限度地减少了元素之间的相互干扰,液体进样适用于金属材料、食品、医药、环保等领域中低含量及中等含量的化学元素的快速定量或半定量分析。 三、操作步骤: 1、开机 a、冷开机(从仪器关闭状态开机) (1)、依次打开计算机主机、显示器和打印机,进入操作系统;

(2)、打开氩气气源阀,检查并调节减压阀在5.5MPa左右,气体纯度≥99.996%; (3)、打开循环水电源开关,检查压力指示在0.5~3.1MPa,温度设定在20℃±1℃; (4)、打开仪器后部高压电源开关(向上); (5)、打开仪器前部系统电源开关(绿色指示灯处于亮的状态); (6)、打开实验室排风系统; (7)、如有其它附件,依次打开。 b、热开机 (1)、依次打开计算机主机、显示器和打印机开关; (2)、打开循环水开关;

电感耦合等离子体原子发射光谱法

电感耦合等离子体原子发射光谱法 电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)是以等离子体为激发光源的原子发射光谱分析方法,可进行多元素的同时测定。 样品由载气(氩气)引入雾化系统进行雾化后,以气溶胶形式进入等离子体的轴向通道,在高温和惰性气氛中被充分蒸发、原子化、电离和激发,发射出所含元素的特征谱线。根据特征谱线的存在与否,鉴别样品中是否含有某种元素(定性分析);根据特征谱线强度确定样品中相应元素的含量(定量分析)。 本法适用于各类药品中从痕量到常量的元素分析,尤其是矿物类中药、营养补充剂等药品中的元素定性定量测定。 1、对仪器的一般要求 电感耦合等离子体原子发射光谱仪由样品引入系统、电感耦合等离子体(ICP)光源、分光系统、检测系统等构成,另有计算机控制及数据处理系统,冷却系统、气体控制系统等。 样品引入系统 按样品状态不同可以分为以液体、气体或固体进样,通常采用液体进样方式。样品引入系统由两个主要部分组成:样品提升部分和雾化部分。样品提升部分一般为蠕动泵,也可使用自提升雾化器。要求蠕动泵转速稳定,泵管弹性良好,使样品溶液匀速地泵入,废液顺畅地排出。雾化部分包括雾化器和雾化室。样品以泵入方式或自提升方式进入雾化器后,在载气作用下形成小雾滴并进入雾化室,大雾滴碰到雾化室壁后被排除,只有小雾滴可进入等离子体源。要求雾化器雾化效率高,雾化稳定性高,记忆效应小,耐腐蚀;雾化室应保持稳定的低温环境,并需经常清洗。常用的溶液型雾化器有同心雾化器、交叉型雾化器等;常见的雾化室有双通路型和旋流型。实际应用中宜根据样品基质,待测元素,灵敏度等因

素选择合适的雾化器和雾化室。 电感耦合等离子体(ICP)光源 电感耦合等离子体光源的“点燃”,需具备持续稳定的高纯氩气流,炬管、感应圈、高频发生器,冷却系统等条件。样品气溶胶被引入等离子体源后,在6,000K~10,000K的高温下,发生去溶剂、蒸发、离解、激发、电离、发射谱线。根据光路采光方向,可分为水平观察ICP源和垂直观察ICP源;双向观察ICP 光源可实现垂直/水平双向观察。实际应用中宜根据样品基质、待测元素、波长、灵敏度等因素选择合适的观察方式。 色散系统 电感耦合等离子体原子发射光谱的色散系统通常采用棱镜或光栅分光,光源发出的复合光经色散系统分解成按波长顺序排列的谱线,形成光谱。 检测系统 电感耦合等离子体原子发射光谱的检测系统为光电转换器,它是利用光电效应将不同波长光的辐射能转化成电信号。常见的光电转换器有光电倍增管和固态成像系统两类。固态成像系统是一类以半导体硅片为基材的光敏元件制成的多元阵列集成电路式的焦平面检测器,如电荷注入器件(CID)、电荷耦合器件(CCD)等,具有多谱线同时检测能力,检测速度快,动态线性范围宽,灵敏度高等特点。检测系统应保持性能稳定,具有良好的灵敏度、分辨率和光谱响应范围。 冷却和气体控制系统 冷却系统包括排风系统和循环水系统,其功能主要是有效地排出仪器内部的热量。循环水温度和排风口温度应控制在仪器要求范围内。气体控制系统须稳定正常地运行,氩气的纯度应不小于99.99%。 2、干扰和校正 电感耦合等离子体原子发射光谱法测定中通常存在的干扰大致可分为两类:

等离子发射光谱实验报告

等离子发射光谱实验报告 一实验目的 1、理解仪器原理和应用 2、了解仪器构成 3、了解整个分析过程 二实验仪器及其构成 本实验所用仪器为:美国Varian ICP-710ES电感耦合等离子发射光谱仪。 等离子体是一种由自由电子、离子、中性原子与分子所组成的在总体上呈中性能导电的气体。当高频发生器接通电源后,高频电流I通过感应线圈产生交变磁场(绿色)。开始时,管内为Ar气,不导电,需要用高压电火花触发,使气体电离后,在高频交流电场的作用下,带电粒子高速运动,碰撞,形成“雪崩”式放电,产生等离子体气流。在垂直于磁场方向将产生感应电流(涡电流,粉色),其电阻很小,电流很大(数百安),产生高温。又将气体加热、电离,在管口形成稳定的等离子体焰炬。 ICP 特点: a)温度高,惰性气氛,原子化条件好,有利于难熔化合物的分解和元素激发,有很高的灵敏度和稳定性; b)“趋肤效应”,涡电流在外表面处密度大,使表面温度高,轴心温度低,中心通道进样对等离子的稳定性影响小。能有效消除自吸现象,线性范围宽(4~5个数量级) c)I CP中电子密度大,碱金属电离造成的影响小 d)Ar气体产生的背景干扰小 e)无电极放电,无电极污染 f)ICP焰炬外型像火焰,但不是化学燃烧火焰,气体放电 缺点:对非金属测定的灵敏度低,仪器昂贵,操作费用高 仪器组成为: 1、样品导入系统 a)蠕动泵。进入雾化器的液体流,由蠕动泵控制。泵的主要作用是为雾化器提供恒定样品流,并将雾化室中多余废液排出。除通常进样和排废液通道外,三通道蠕动泵为用户提供一个额外通道,用该通道可在分析过程中导入内标等。b)雾化器。雾化器将液态样品转化成细雾状喷入雾化室,较大雾滴被滤出,细雾状样品到达等离子炬。 c)雾化室由雾化器、蠕动泵和载气所产生的雾状样品进到雾化室。雾化室的功能相当于一个样品过滤器,较小的细雾通过雾化室到达炬管,较大的样品滴被滤除流到废液容器中。 d)炬管。外层管(等离子气)通Ar气作为冷却气,沿切线方向引入,并螺旋上升,其作用:第一,将等离子体吹离外层石英管的内壁,可保护石英管不被烧毁;第二,是利用离心作用,在炬管中心产生低气压通道,以利于进样;第三,这部分Ar气流同时也参与放电过程。中间层管(辅助气)中层管通入辅助气体Ar 气,用于点燃等离子体。注射管(样品)内层石英管内径为1-2mm左右,以Ar为载气,把经过雾化器的试样溶液以气溶胶形式引入等离子体中。

光栅光谱仪的使用

光栅光谱仪的使用实验报告 一、实验目的与实验仪器 1.实验目的 (1)了解平面反射式闪耀光栅的分光原理及主要特性; (2)了解光栅光谱仪的结构,学习使用光栅光谱仪; (3)测量钨灯和汞灯在可见光范围的光谱; (4)测定光栅光谱仪的色分辨能力; (5)测定干涉滤光片的光谱透射率曲线。 2.实验仪器 WDS-3平面光栅光谱仪(200~800nm),汞灯,钨灯&氘灯组件,干涉滤光片。 二、实验原理 (要求与提示:限400字以内,实验原理图须用手绘后贴图的方式) 1.平面反射式闪耀光栅原理 (1)θ方向的光强:I θ=(sinα α )2(sinNβ sinβ )2 (2)光栅方程:d(sinθ+sin i)= kλ (3)闪耀光栅:光强最大的方向就是槽面反射定律所规定的方向,0级谱线出现在光栅平面反射的方向,闪耀光栅能够把能量集中在需要的光谱级里。 (4)闪耀波长的计算:λ=2dsinγ k 2.平面光栅光谱仪的结构与组成 (1)光学系统结构:

光栅:1200/mm;闪 耀波长250nm;M1 和M2凹面镜焦距 为300mm;狭缝0- 2mm连续可调。 电子系统:电源系统、光接收系统、步进电动机系统组成。 光学接收系统:光电倍增管及其放大电路组成。 光电倍增管:光信号转变成电信号。是测光仪器和光电自动化设备中的主要探测元件。 目前测量光信号最灵敏的器件之一。 结构: 3.色分辨率 光栅光谱仪的色分辨率是分开两条邻近谱线能力的量度。 以汞灯的两条黄谱线(波长为 577.0nm和579.1nm)为例测出谱 线λ1和λ2峰间的间隔a以及峰 的半宽度b,则色分辨能力为: Δλ =b α δλ δλ=λ 2-λ 1 =2.10nm 4.滤光片光谱特性

等离子发射光谱法(附答案)

等离子发射光谱法(附答案) 一、填空题 1. ICP发射光谱技术具有灵敏度高、精密度高、基体干扰少、线性范围宽和可以_____同时分析的优点。答案:多元素 2. ICP焰炬通常分成三区:即_____、_____和______。答案:预热区初始辐射区正常分析区3.ICP-AES法测定时,_____法是实际应用最广泛的校正干扰的数学法,多数ICP光谱仪软件中采用这种方法。答案:干扰系数 4.目前常用的电感耦合等离子发射光谱仪通常分为_____式、_____式和_____式3种。答案:多道顺序扫描全谱直读 5. ICP光谱仪的进样装置通常是由_____、_____、_____和_____组成。 答案:雾化器雾室相应的供气管路 二、判断题 1. 电感耦合等离子体原子发射光谱法,是以电感耦合等离子炬为激发光源的一类光谱分析方法。( )答案:正确 2. 电感耦合等离子体焰炬自下而上温度逐渐升高。( )答案:错误 正确答案为:电感耦合等离子体焰炬自下而上温度逐渐降低。 3. ICP进样装置的性能对光谱仪的分析性能影响不大。答案:错误正确答案为:ICP进样装置的性能对光谱仪的分析性能有重大影响,仪器的检出限、测量精度、灵敏度与它有直接关系。 4. ICP光谱仪进样系统的作用是把试样雾化成气溶胶导入ICP光源。答案:正确 5. ICP光谱仪分光装置的作用是把复合光按照不同波长展开而获得光谱。正确 6. 电感耦合等离子体原子发射光谱法的光谱干扰是指连续背景干扰和谱线重叠干扰。答案:错误正确答案为:还有杂散光干扰 7. 固体样品引入ICP光源的方法有多种,但优先考虑的仍是将液体引入ICP光源(溶液雾化法)的方法。从实践看来,溶液雾化法有很好的效果与实用性。因此需要把固体样品转化成液体样品。( 答案:正确8. 在应用化学方法进行样品处理时,应根据需要将被测元素进行富集分离。分离的目的是将干扰被测元素测定的基体及其他元素予以分离以提高测定准确度。分离的组分必须分离得十分干净。( 答案:错误 正确答案为:分离的组分不必分离得十分干净。 三、选择题 1. 在常规分析工作中,分析试液的总固体溶解量希望愈低愈好,一般控制在___mg/ml左右。因此,ICP-AES 的样品处理应尽可能地采用酸分解而不用碱熔。A. 0.5 B. 1 C. 5 D. 10答案:B 2.氢氟酸(HF)会腐蚀玻璃和硅酸盐材质容器,因此在用氢氟酸(HF)分解样品时不能用玻璃、石英或陶瓷等器皿,而最常用的是以_____为材料的烧杯、坩埚等器皿,其最高使用温度为_____℃。( ) A.铂金,160 B.聚氯乙烯,250 C.聚四氟乙烯,250 D.镍,200

光栅光谱仪的使用实验报告-董芊宇

实验报告 题目: 光栅光谱仪的使用 姓名董芊宇 学院理学院 专业应用物理学 班级2013214103 学号2013212835 班内序号22 2015年9 月

一. 实验目的 1. 了解光栅光谱仪的工作原理。 2. 学会使用光栅光谱仪。 二. 实验原理 1.闪耀光栅 在光栅衍射实验中,我们了解了垂直入射时(φ=90?)光栅衍射的一般特性。当入射角φ=90?时,衍射强度公式为 22 2 sin sin sin I u Nv A u v = ???? ? ????? (9.1) 光栅衍射强度仍然由单缝衍射因子和多缝干涉因子共同决定。只不过此时 ()sin sin a u π φθλ= + (9.2) ()sin sin d v πφθλ =+ (9.3) 当衍射光与入射光在光栅平面法线同侧时,衍射角θ取+号,异侧时取-号,单缝衍射中央主 极大的条件是0u =,即sin sin φθ=-或?θ=-。将此条件代入到多缝干涉因子中,恰好满足0v =,即0级干涉最大条件。这表明单缝衍射中央极大与多缝衍射0级最大位置是重合的,光栅衍射强度最大的峰是个波长均不发生散射的0级衍射峰,没有实用价值。而含有丰富信息的高级衍射峰的强度却非常低。 为了提高信噪比,可以采用锯齿形的反射光栅(又称闪耀光栅)。闪耀光栅的锯齿相当于平面光栅的“缝”,与平面光栅一样,多缝干涉条件只取决于光栅常数,与锯齿角度、形状无关。所以当光栅常数及入射角与平面光栅一样时,两者0级极大的角度也一样。闪耀光栅的沟槽斜面相当于单缝,衍射条件与锯齿面法线有关。中央极大的衍射方向与入射线对称于齿面法线N ,于是造成衍射极大与0级干涉极大方向不一致。适当调整光栅参数,可以使光栅衍射的某一波长最强峰发生在1级或其他高级干涉极大的位置。 2.非平衡光辐射(发光) 处于激发态上的电子处于非平衡态。它向低能级跃迁时就会发光。设电子跃迁1 E 和0E ,发 射光子的能量为 10hc hv E E E λ ==-=? (9.4) 电子受光辐射激发到高能态上导致的发光成为光致发光。光致发光时,电子在不同能级间跃迁常见如下情况。 (1) 电子受光辐射激发,然后以无辐射情况跃迁到低能级。(无发射跃迁释放的能量转化成热能

ICP等离子体发射光谱仪

ICP等离子体发射光谱仪 仪器组成及工作原理 ICP等离子体单道扫描光谱仪,是多元素顺序测量的分析测试仪器。该仪器由扫描分光器、射频发生器、试样引入系统、光电转换、控制系统、数据处理系统、分析操作软件组成。等离子体是在三重同心石英炬管中产生。炬管内分别以切向通入氩气,炬管上部绕有紫铜负载线圈〈内通冷却水〉当高频发生器产生的高频电流(工作频率40MHz功率1KW左右)通过线圈时,其周围产生交变磁场,使少量氩气电离产生电子和离子,在磁场作用下加速运动与其它中性原子碰撞,产生更多的电子和离子,在炬管内形成涡流,在电火花作用下形成等离子炬(即等离子体),这种等离子体温度可达10000K以上。待测水溶液经喷雾器形成气溶胶进入石英炬管中心通道。原子在受到外界能量的作用下电离,但处于激发态的原子十分不稳定,从较高能级跃迁到基态时,将释放出巨大能量,这种能量是以一定波长的电磁波的形式辐射出去。不同元素产生不同的特征光谱。这些特征光谱通过透镜射到分光器中的光栅上,计算通过控制步进电机转动光栅,传动机构将分光后的待测元素特征谱线光强准确定位于出口狭缝处,光电倍增管将该谱线光强转变为电流,再经电路处理和V/F转换后,由计算机进行数据处理,最后由打印机打出分析结果。 仪器型号:HKYT-2000型 技术指标 整机技术指标 (1) 分析速度快 (2) 扫描范围:范围180~500nm、方式为正弦杆,由计算机控制的脉冲马达 驱动,最小扫描步距0.0005nm (3) 波长示值误差和重复性:波长示值误差:± 0.03nm 重复性≤0.005nm (4)相关系数≥0.9998% (5) 精密度高相对标准偏差RSD≤1.5%(HKYT-2000型RSD≤2.0%) (6) 稳定性:相对标准偏差RSD≤2.0%(HKYT-2000型RSD≤3.0%) (7) 测量范围:超微量到常量 (8) 检出限低 ppb(ug/L)级(部分元素检出限见附录一)_ (9) 分析元素多可对72种金属元素和部分非金属元素(如B、P、Si、Se、 Te)进行定量或定性分析 (10) 测量方式单、多元素顺序测量 (11) 功率 800W—1200W 可调 (12) 操作便捷全新WindowsXP下运行的第三代多窗口升级中文或英文 分析软件速度更快,功能更全,多窗口多任务同时执行(国 内独此一家) 射频发生器(RF) (1)电路类型:电感反馈自激式振荡电路、同轴电缆输出、匹配调谐、取功率

光栅光谱仪实验报告

光栅光谱仪的使用 学号2015212822 学生姓名张家梁 专业名称应用物理学(通信基础科学)所在系(院)理学院 2017 年3 月14 日

光栅光谱仪的使用 张家梁 1 实验目的 1. 了解光栅光谱仪的工作原理。 2. 学会使用光栅光谱仪。 2实验原理 1. 光栅光谱仪 光栅光谱仪结构如图所示。光栅光谱仪的色散元件为闪耀光栅。入射狭缝和出射狭缝分别在两个球面镜的焦平面上,因此入射狭缝的光经过球面镜后成为平行光入射到光栅上,衍射光经后球面镜后聚焦在出射狭缝上。光栅可在步进电机控制下旋转,从而改变入射角度和终聚焦到出射狭缝处光线的波长。控制入射光源的波长范围,确保衍射光无级次重叠,可通过控制光栅的角度唯一确定出射光的波长。 光谱仪的光探测器可以有光电管、光电倍增管、硅光电管、热释电器件和CCCD 等多种,经过光栅衍射后,到达出射狭缝的光强一般都比较弱,因此本仪器采用光电倍增管和CCD 来接收出射光。

2. 光探测器 光电倍增管是一种常用的灵敏度很高的光探测器,它由光阴极、电子光学输入系统、倍增系统及阳极组成,并且通过高压电源及一组串联的电阻分压器在阴极──打拿极(又称“倍增极”) ──阳极之间建立一个电位分布。光辐射照射到阴极时,由于光电效应,阴极发射电子,把微弱的光输入转换成光电子;这些光电子受到各电极间电场的加速和聚焦,光电子在电子光学输入系统的电场作用下到达第一倍增极,产生二次电子,由于二次发射系数大于1,电子数得到倍增。以后,电子再经倍增系统逐级倍增,阳极收集倍增后的电子流并输出光电流信号,在负载电阻上以电压信号的形式输出。 CCD 是电荷耦合器件的简称,是一种金属—氧化物—半导体结构的新型器件,在电路中常作为信号处理单元。对光敏感的CCD 常用作图象传感和光学测量。由于CCD 能同时探测一定波长范围内的所有谱线,因此在新型的光谱仪中得到广泛的应用。 3. 闪耀光栅 在光栅衍射实验中,我们了解了垂直入射时(Φ=90°)光栅衍射的一般特性。当入射角

等离子体发射光谱

等离子体发射光谱 等离子体(Plasma)在近代物理学中是一个很普通的概念,是一种在一定程度上被电离(电离度大于0.1%)的气体,其中电子和阳离子的浓度处于平衡状态,宏观上呈电中性的物质。 1仪器介绍 电感耦合等离子体发射光谱仪原理 矩管外高频线圈产生高频电磁场,高纯氩气在高频电磁场中失去电子,该电子轰击待测样品,样品的各元素产生跃迁,发射出具有一定的特征谱线的光。通过检测器探测这种特征谱线并检测其强度,可以定性分析元素和定量计算该元素的浓度。 2性能特点 ICP-AES分析性能特点 电感耦合等离子体(ICP)是由高频电流经感应线圈产生高频电磁场,使工作气体形成等离子体,并呈现火焰状放电(等离子体焰炬),达到10000K的高温,是一个具有良好的蒸发-原子化-激发-电离性能的光谱光源。而且由于这种等离子体焰炬呈环状结构,有利于从等离子体中心通道进样并维持火焰的稳定;较低的载气流速(低于1L/min)便可穿透ICP,使样品在中心通道停留时间达2~3ms,可完全蒸发、原子化;ICP环状结构的中心通道的高温,高于任何火焰

或电弧火花的温度,是原子、离子的最佳激发温度,分析物在中心通道内被间接加热,对ICP放电性质影响小;ICP光源又是一种光薄的光源,自吸现象小,且系无电极放电,无电极沾污。这些特点使ICP 光源具有优异的分析性能,符合于一个理想分析方法的要求。 一个理想的分析方法,应该是:可以多组分同时测定;测定范围要宽(低含量与高含量成分能同测定);具有高的灵敏度和好的精确度;可以适用于不同状态的样品的分析;操作要简便与易于掌握。ICP-AES分析方法便具有这些优异的分析特性: ICP-AES法首先是一种发射光谱分析方法,可以多元素同时测定。

20140224光栅光谱仪实验要求

光栅光谱仪 实验仪器 WGD-5型组合式多功能光栅光谱仪,滤色片一组(红绿蓝),汞灯,溴钨灯,水,玻璃片。 预习思考题 1.简述工作原理(不可照抄课本),在此基础上画出光栅光谱仪的光路图,。 2.改变光谱仪入射或出射狭缝的大小会对测量结果有什么影响? 3.测量透过率曲线对光源有什么要求?汞灯是合适的光源吗? 4.水和玻璃是什么颜色的?为什么? 实验内容 一. 测量前的准备(自带U 盘) (1) 记录螺旋尺旋转方向与缝宽变化的关系。 (2) 打开单色仪的电源开关,打开汞灯、溴钨灯电源,预热5min。 (3) 将倍增管的高压调至400V(不得超过600V)。 (4) 打开计算机,进入win98 后,双击“WGD-5 倍增管”图标进入工作界面。待系统和波长初始化完成后便可以工作。 二. 单色仪波长校准 探测器选用光电倍增管,高压加到400伏。在能量模式下测量汞灯光谱。扫描范围300-750nm,扫描步长选1nm。用“自动寻峰”测量谱线波长,与标准值比较,如果波长差大于1nm,进行波长修正。 说明:光源:汞灯 参数设置:工作方式:模式“能量”,间隔“1nm”;工作范围:300—750nm。 狭缝宽度调节,使入射缝与出射缝相匹配。 点击“单程”,单色仪开始扫描。 扫描完成根据谱线强度重新调整入射和出射狭缝,使谱线尽量增高,并使黄线 576.9nm、579.0nm 分开 (以划线谱线作为参照) (汞灯谱线:波长(nm)365.02、404.66、407.78、435.83、546.07、576.96、579.07、623.4) 三. 测量滤色片透过率曲线 光源:取下高压汞灯,换上溴钨灯 1. 扫描基线 工作方式:模式“基线”。 点击“单程”,单色仪开始扫描。调节入射缝的缝宽使基线的峰值达到900以上; 扫描结束后,点击“当前寄存器”列表框右侧“---”,在弹出的“环境信息”填入信息,然后关闭。保存该寄存器的数据,选用“txt”的文本格式。 2. 扫描透过率曲线 打开样品池顶盖,将一个滤色片放在入射狭缝的前面,盖上顶盖。

光栅光谱仪实验报告

光栅光谱仪实验报告公司内部档案编码:[OPPTR-OPPT28-OPPTL98-OPPNN08]

光栅光谱仪的使用 学号 22 学生姓名张家梁 专业名称应用物理学(通信基础科学)所在系(院)理学院 2017 年 3 月 14 日

光栅光谱仪的使用 张家梁 1 实验目的 1. 了解光栅光谱仪的工作原理。 2. 学会使用光栅光谱仪。 2实验原理 1. 光栅光谱仪 光栅光谱仪结构如图所示。光栅光谱仪的色散元件为闪耀光栅。入射狭缝和出射狭缝分别在两个球面镜的焦平面上,因此入射狭缝的光经过球面镜后成为平行光入射到光栅上,衍射光经后球面镜后聚焦在出射狭缝上。光栅可在步进电机控制下旋转,从而改变入射角度和终聚焦到出射狭缝处光线的波长。控制入射光源的波长范围,确保衍射光无级次重叠,可通过控制光栅的角度唯一确定出射光的波长。 光谱仪的光探测器可以有光电管、光电倍增管、硅光电管、热释电器件和 CCCD 等多种,经过光栅衍射后,到达出射狭缝的光强一般都比较弱,因此本仪器采用光电倍增管和 CCD 来接收出射光。 2. 光探测器

光电倍增管是一种常用的灵敏度很高的光探测器,它由光阴极、电子光学输入系统、倍增系统及阳极组成,并且通过高压电源及一组串联的电阻分压器在阴极──打拿极(又称“倍增极”) ──阳极之间建立一个电位分布。光辐射照射到阴极时,由于光电效应,阴极发射电子,把微弱的光输入转换成光电子;这些光电子受到各电极间电场的加速和聚焦,光电子在电子光学输入系统的电场作用下到达第一倍增极,产生二次电子,由于二次发射系数大于 1,电子数得到倍增。以后,电子再经倍增系统逐级倍增,阳极收集倍增后的电子流并输出光电流信号,在负载电阻上以电压信号的形式输出。 CCD 是电荷耦合器件的简称,是一种金属—氧化物—半导体结构的新型器件,在电路中常作为信号处理单元。对光敏感的 CCD 常用作图象传感和光学测量。由于 CCD 能同时探测一定波长范围内的所有谱线,因此在新型的光谱仪中得到广泛的应用。 3. 闪耀光栅 在光栅衍射实验中,我们了解了垂直入射时(Φ=90°)光栅衍射的一般特性。当入射角Φ=90°时,衍射强度公式为 光栅衍射强度仍然由单缝衍射因子和多缝衍射因子共同决定,只不过此时

电感耦合等离子体发射光谱仪原理要点

电感耦合等离子体发射光谱仪原理 1、ICP-AES分析性能特点 等离子体(Plasma)在近代物理学中是一个很普通的概念,是一种在一定程度上被电离(电离度大于0.1%)的气体,其中电子和阳离子的浓度处于平衡状态,宏观上呈电中性的物质。 电感耦合等离子体(ICP)是由高频电流经感应线圈产生高频电磁场,使工作气体形成等离子体,并呈现火焰状放电(等离子体焰炬),达到10000K的高温,是一个具有良好的蒸发-原子化-激发-电离性能的光谱光源。而且由于这种等离子体焰炬呈环状结构,有利于从等离子体中心通道进样并维持火焰的稳定;较低的载气流速(低于1L/min)便可穿透ICP,使样品在中心通道停留时间达2~3ms,可完全蒸发、原子化;ICP环状结构的中心通道的高温,高于任何火焰或电弧火花的温度,是原子、离子的最佳激发温度,分析物在中心通道内被间接加热,对ICP放电性质影响小;ICP 光源又是一种光薄的光源,自吸现象小,且系无电极放电,无电极沾污。这些特点使ICP光源具有优异的分析性能,符合于一个理想分析方法的要求。 一个理想的分析方法,应该是:可以多组分同时测定;测定范要围宽(低含量与高含量成分能同测定);具有高的灵敏度和好的精确度;可以适用于不同状态的样品的分析;操作要简便与易于掌握。ICP-AES分析方法便具有这些优异的分析特性: ⑴ ICP-AES法首先是一种发射光谱分析方法,可以多元素同时测定。

发射光谱分析方法只要将待测原子处于激发状态,便可同时发射出各自特征谱线同时进行测定。ICP-AES仪器,不论是多道直读还是单道扫描仪器,均可以在同一试样溶液中同时测定大量元素(30~50个,甚至更多)。已有文献报导的分析元素可达78个[4],即除He、Ne、Ar、Kr、Xe惰性气体外,自然界存在的所有元素,都已有用ICP-AES法测定的报告。当然实际应用上,并非所有元素都能方便地使用ICP-AES法进行测定,仍有些元素用ICP-AES法测定,不如采用其它分析方法更为有效。尽管如此,ICP-AES法仍是元素分析最为有效的方法。 ⑵ ICP光源是一种光薄的光源,自吸现象小,所以ICP-AES法校正曲线的线性范围可达5~6个数量级,有的仪器甚至可以达到7~8个数量级,即可以同时测定0.00n%~n0%的含量。在大多数情况下,元素浓度与测量信号呈简单的线性。既可测低浓度成分(低于mg/L),又可同时测高浓度成分(几百或数千mg/L)。是充分发挥ICP-AES多元素同时测定能力的一个非常有价值的分析特性。 ⑶ ICP-AES法具有较高的蒸发、原子化和激发能力,且系无电极放电,无电极沾污。由于等离子体光源的异常高温(炎炬高达1万度,样品区也在6000℃以上),可以避免一般分析方法的化学干扰、基体干扰,与其它光谱分析方法相比,干扰水平比较低。等离子体焰炬比一般化学火焰具有更高的温度,能使一般化学火焰难以激发的元素原子化、激发,所以有利于难激发元素的测定。并且在Ar气氛中不易生成难熔的金属氧化物,从而使基体效应和共存元素的影响变得不明显。很多可直接测定,使分析操作变得简单,实用。

相关文档
最新文档