第五章干涉测量技术
实验用双缝干涉测量光的波长
实验用双缝干涉测量光的波长在本实验中，我们将介绍实验用双缝干涉测量光的波长的方法和步骤。
通过这个实验，我们能够了解光的波属性以及测量光波长的原理和技术。
1. 实验介绍实验用双缝干涉是一种经典的实验方法，用于测量光的波长。
该实验基于干涉现象，利用光的波动性和相长干涉原理，通过测量干涉条纹的间距来计算光的波长。
2. 实验原理光线通过双缝时，会形成一系列明暗交替的干涉条纹。
这些干涉条纹的间距与入射光的波长和双缝之间的距离有关。
根据波长和距离之间的关系，可以通过测量干涉条纹的间距来计算光的波长。
3. 实验步骤3.1 准备工作a. 准备一块透明平板，放置在透明平面上。
b. 在透明平板上划上两个细缝，使它们尽可能平行且距离适当，引入夹子来调节缝宽。
c. 将一束单色光照射到双缝上，可以使用一束激光光源或太阳光透过窄缝进入。
d. 使用屏幕或照相底片作为记录干涉条纹的介质。
3.2 实验操作a. 调节双缝间距和缝宽，以获得清晰的干涉条纹。
b. 将屏幕或照相底片放置在适当位置，以观察干涉条纹。
c. 使用显微镜或放大镜对干涉条纹进行测量。
4. 数据处理和计算通过对干涉条纹的测量，我们可以得到两个相邻条纹之间的距离，即干涉条纹的间距。
根据这个间距和实验中的测量参数，我们可以计算出入射光的波长。
5. 结果与讨论根据实验数据和计算结果，我们可以得到光的波长的近似值。
同时，我们还可以分析实验中的误差源和改进方法，提高实验的准确性。
6. 实验结论通过实验用双缝干涉测量光的波长，我们得到了光的波长的近似值，并了解了光的波动性和干涉现象。
这个实验不仅增加了我们对光学的理解，还展示了实验方法和数据处理的重要性。
通过本实验，我们不仅掌握了实验用双缝干涉测量光的波长的基本原理和操作步骤，还了解了光的波动性和干涉现象。
同时，我们还学会了数据处理和计算的方法，提高了实验的准确性和可靠性。
这个实验对于深入理解光学和科学研究具有重要意义。
差分干涉测量技术
差分干涉测量技术
差分干涉测量技术是一种高精度的测量方法，通过对两个时刻的合成孔径雷达(SAR)图像进行干涉处理，得到地表高度的变化信息。
该技术主要应用于地表形变和地壳运动的监测，如地震、火山活动、地下水位变化等。
差分干涉测量技术具有高精度、高分辨率、无需地面控制点等优点，但也存在着容易受到大气、地形等干扰因素影响的缺点。
随着遥感技术的不断发展，差分干涉测量技术在地理信息、城市规划、资源环境管理等领域中的应用也越来越广泛。
- 1 -。
第五章 大地测量的基本技术与方法(1)
② 技术设计的内容和方法 [1] 搜集和分析资料 （1）测区内各种比例尺的地形图。 （2）已有的控制测量成果（包括全部有关技术文件、图表、手簿 等等）。 （3）有关测区的气象、地质等情况，以供建标、埋石、安排作业 时间等方面的参考。 （4）现场踏勘了解已有控制标志的保存完好情况。 （5）调查测区的行政区划、交通便利情况和物资供应情况。若在 少数民族地区，则应了解民族风俗、习惯。 对搜集到的上述资料进行分析，以确定网的布设形式，起始 数据如何获得，网的未来扩展等。 其次还应考虑网的坐标系投影带和投影面的选择。 此外还应考虑网的图形结构，旧有标志可否利用等问题。
上海港GPS扩展网网图
2 甚长基线干涉测量（VLBI） 甚长基线干涉测量系统是在甚长基线的两端(相距几千公里)， 用射电望远镜，接收银河系或银河系以外的类星体发出的无线电辐 射信号，通过信号对比，根据干涉原理，直接确定基线长度和方向 的一种空间技术。长度的相对精度可优于10-6，对测定射电源的空 间位置，可达0.001”，由于其定位的精度高，可在研究地球的极移 、地球自转速率的短周期变化、地球固体潮、大地板块运动的相对 速率和方向中得到广泛的应用。
（3）从安全生产方面考虑 点位离公路、铁路和其他建筑物以及高压电线等应有一定的 距离。 图上设计的方法及主要步骤 图上设计宜在中比例尺地形图（根据测区大小，选用1：25 000～1 ：100 000地形图）上进行，其方法和步骤如下： a 展绘已知点； b 按上述对点位的基本要求，从已知点开始扩展； c 判断和检查点间的通视； d 估算控制网中各推算元素的精度； e 据测区的情况调查和图上设计结果，写出文字说明，并拟定作业 计划。
2. 大地控制网应有足够的精度。 国家三角网的精度，应能满足大比例尺测图的要求。在测图中 ，要求首级图根点相对于起算三角点的点位误差，在图上应不 超过±0.1mm，相对于地面点的点位误差则不超过 ±0.1Nmm(N 为测图比例尺分母)。 为使国家三角点的误差对图点的影响可以忽略不计，应使相邻国 家三角点的点位误差小于(1/3) ×0.1Nmm。
干涉法技术在量块长度测量中的应用
丝塑，墨凰干涉法技术在量块长度测量中的应用张剑字(广东省计量科学研究院东莞分院，广东东莞523120)脯要】量块是重要的长度实物标准，它将长度单位传i董到工业生产的各个环节．在产品质量保证体系中发挥着重大作用。
本文基于光干涉原理，介绍了干涉法测量量块长度的基本原理，研究了量决长度测量的数字化千涉技术方法。
并在比基础上，详细分析介铝条纹法处理干涉图方法及技术分析。
鹾j套司量块；光于涉测量；条纹法1引言量块是一种高精度的端面量具，它以最简单的几何形状设计，最有利于加工出精确的尺寸。
其中一对相互平行的测量面之间的距离即为其工作长度。
我国与世界上其他国家一样，绝大多数都采用矩形横截面的长方体形量块。
在计量部门和工业校准实验室，它和其测量设备组成的检定系统为溯源国际米标准提供了一种重要手段，其作用在科学研究、工业生产中至关重要。
量块的长度常被用作计量器具的标准，通过它对长度计量仪器、量具和董规等示值误差的检定、对精密机械零件尺寸的测量和对精密机床、夹具在加工中定位尺寸的调整等方式，把机械制造中各种制成品的尺寸，与国家的以至国际的实现米定义所推荐的基准光谱辐射线的波长联系起来，以达到长度董值在全国和国际间的统一，使零件、配件都具有良好的互换性。
长度计量在国防科研和武器生产的质量保证体系中起着重要作用，因此世界各个国家十分关注这一研究领域的技7R进展。
本文介绍对基于干涉法的高等级量燃的测量方法及测量过程中的关键技术进行研究。
2干涉法测量■块长度的基本原理干涉仪输出的是一幅干涉图，借助于数学物理模型，可以将干涉图与多种被测参数相联系，从而实现测量相关的物理参数。
以干涉条纹小数部分重合方式，用光谱辐射线的波长直接测量被测量块的长度，是基于光波干涉理论。
21干涉条纹的小数部分重舍法小数重合法是用于量块高精度测量的主要方法。
1977年，蒂福德对小数重合法做了进—步发展，提出了一套完整的利用多波长尾数确定被测长度的分析方法．其中最重要的两个思想为无导孰绝对距离干涉测量技术发展提供了理论基础，这两个基本思想是合成波长链及利用其进行逐级精化测量结果。
微分干涉测量技术的使用教程
微分干涉测量技术的使用教程很多人对于微分干涉测量技术可能不太熟悉，今天我将为大家介绍一下这项技术的基本原理和使用方法。
首先，我们先来了解一下什么是微分干涉测量技术。
简单说，微分干涉测量技术是一种基于光干涉原理的测量方法，通过测量光的干涉条纹来获取被测量物体的形变、位移等参数。
这项技术广泛应用于材料力学、光学、电子工程等领域。
在使用微分干涉测量技术之前，我们需要准备一些实验装置和材料。
首先，我们需要一台激光器，用来产生高亮度、相干性好的光源。
其次，需要一块分束器，将激光器发出的光分成两束。
一束光直接射向待测物体，另一束光则经过一些光学组件后射向参考面。
在实验装置准备好之后，我们就可以进行实验了。
首先，我们要调整光路，使得两束光在待测物体上交叉。
可以通过精确调整坐标台上的光学元件来实现光路的调整。
调整好光路之后，我们就可以观察干涉条纹了。
观察干涉条纹时，需要使用干涉仪。
干涉仪可以将干涉条纹放大，使其更容易观察和分析。
在观察过程中，我们需要注意干涉条纹的变化以及其与待测物体之间的关系。
通过观察干涉条纹的变化，我们可以分析出待测物体的形变情况。
除了观察干涉条纹外，我们还可以使用一些图像处理技术对干涉条纹进行进一步的分析。
通过将干涉条纹图像输入到计算机中，我们可以使用数字图像处理技术提取出条纹的形状、密度等信息。
这些信息可以帮助我们更准确地测量待测物体的形变。
当然，在进行微分干涉测量时，我们还需要注意一些实验上的细节。
例如，要保持实验环境的稳定，避免外界干扰对实验结果产生影响。
此外，还要根据实际情况选择适当的实验参数，如激光器的功率、光路的调整等。
总的来说，微分干涉测量技术是一项非常有用的测量方法，可以在很多领域发挥重要作用。
通过了解其基本原理和使用方法，我们可以更好地使用这项技术进行实验和研究。
注：本文为科普文章，仅供参考，不构成任何实际操作指南。
在进行实验时，请遵循实验室的规范和注意安全。
干涉法测量球面面形偏差
直镜的口径为320min，准直镜焦距2581mm，用三面互检法来标定参考平面的偏
差，测量结果显示面形误差最大P-V值为λ /20。仪器的测量精度可高达nm量级国外研究现状
•
• • • • • •
Zygo激光干涉仪：
DynaFiz™ GPI™系列 Verifire™系列 大口径激光干涉仪 波长拓展激光干涉仪 MetroPro®软件：
线性组合。
（3）波面拟合
选择Zernike多项式的理由如下：
（1）Zernike多项式在单位圆上正交； （2）Zernike多项式自身所特有的旋转对称性，使它在光学问题的求解过程中，一般 均具有良好的收敛性； （3）Zernike多项式与初级像差有着一定的对应关系。 Zernike多项式的拟合方法有最小二乘法、Gram-schimdt正交法以及Householder
常用的光学测量技术
常用的光学测量技术光学测量技术是一种利用光传播特性进行测量的技术，广泛应用于工业、科研和生活中各个领域。
本文将介绍一些常用的光学测量技术，包括激光测距、光学投影测量、干涉测量和光学显微镜。
一、激光测距技术激光测距技术是利用激光束的传输特性进行距离测量的一种技术。
通过测量激光束从发射到接收所需的时间，并结合光速的已知值，可以计算出测量目标与测量器之间的距离。
激光测距技术具有测量精度高、测量范围广、测量速度快等优点，广泛应用于建筑、地质勘探、工业制造等领域。
二、光学投影测量技术光学投影测量技术是利用光的折射、反射和散射等特性进行尺寸测量的一种技术。
通过将被测物体放置在光学投影仪下方，利用光的投影特性在屏幕上形成被测物体的放大影像，通过测量影像在屏幕上的尺寸，可以计算出被测物体的实际尺寸。
光学投影测量技术具有测量精度高、测量速度快、适用于复杂形状的物体等优点，广泛应用于制造业中的零部件尺寸测量。
三、干涉测量技术干涉测量技术是利用光的波动性进行测量的一种技术。
通过将光束分为两束并使其相交，通过干涉现象观察到光的干涉条纹，通过分析干涉条纹的变化来测量被测物体的形状、表面粗糙度等参数。
干涉测量技术具有测量精度高、非接触式测量、适用于光滑表面的物体等优点，广泛应用于光学元件的检测、表面质量评估等领域。
四、光学显微镜技术光学显微镜技术是利用光的折射、反射和散射等特性进行显微观察的一种技术。
通过利用透镜和物镜等光学元件对被观察样品进行放大，通过目镜观察样品的细节。
光学显微镜技术具有放大倍数高、分辨率高、操作简便等优点，广泛应用于生物学、物理学、化学等领域的实验室研究和教学。
激光测距、光学投影测量、干涉测量和光学显微镜是常用的光学测量技术。
它们分别利用光的传播、投影、干涉和放大特性进行测量，具有测量精度高、测量范围广、测量速度快等优点，广泛应用于工业、科研和生活中的各个领域。
这些光学测量技术的应用不仅提高了测量的准确性和效率，也推动了科学技术的发展。
冷原子干涉测量法
冷原子干涉测量法冷原子干涉测量法是21世纪物理研究的关键技术之一。
它不仅可以用于精密测量物理量的测量和研究，而且可以应用于若干其他重要的领域，如物理和化学分析、激光加工、精密控制等。
本文重点介绍冷原子干涉测量法的基本原理和应用领域。
一、冷原子干涉测量法的基本原理冷原子干涉测量法是将原子缩放到极小尺度，控制原子的温度为接近零度，然后通过利用原子的相对性状态来实现对微小物理量的精确测量的测量技术。
该技术的基本思想是将原子停止在一个较小的范围内运动，将原子温度控制在接近绝对零度的温度范围。
在这个定义范围内，原子受到温度影响较小，从而可以精确测量相关物理量。
典型的冷原子干涉测量法包括密度波断续发射技术（DBT）和原子气激子技术（AGT）。
其中，密度波断续发射技术通过发射和检测原子的密度波，实现对物理量的测量；原子气激子技术通过测量原子气的激子，实现对物理量的测量。
二、冷原子干涉测量法的应用领域冷原子干涉测量法有着广泛的应用前景，并已广泛应用于化学和物理分析，激光加工，精密控制，生物传感器等领域。
（1）化学和物理分析冷原子干涉测量法可以用于精确测量，电学，化学和光学性质。
例如，可以通过它的测量方法来测量原子球的间隙或构型，它还可以用于研究分子系统的电子结构和化学反应过程。
（2）激光加工冷原子干涉测量法的优点是可以测量激光与物质之间的相互作用，从而实现激光加工过程的控制。
例如，利用这种方法可以精确控制光束的功率、角度、偏振特征等。
（3）精密控制冷原子干涉测量法还可以用于精密控制应用，例如原子腔位相关测量，该技术可以用来实现多原子构型精确控制，可以实现多原子构型的调控，从而获得精确的测量结果。
（4）生物传感器最近，研究人员利用冷原子干涉测量法开发的生物传感器，可以用来测量细胞活动、病毒粒子的数量、病毒表位表达强度等。
此外，该技术也可以用来对生物样品进行反应性测试，并实现实时监控。
三、结论冷原子干涉测量法是当今物理研究的关键技术，可以应用于若干关键领域，包括物理和化学分析、激光加工、精密控制、生物传感器等。
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性，平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益，请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间：9:00-18:30)。
★ 均方根偏差 ERMS 指被测波面相对于参考波面的各 点偏差值的均方根值，可用下式表示：
E RMS 1 N 2 Ei N - 1 i 1
最大偏差 EMAX 指被测波面与参考波面的最大偏差值， 可用下式表示
E MAX 1 Emax Emin 2
求得试样表面微观几何形状、场密度分布和光学系统
波像差等，即所谓静态干涉；另一类是通过测量干涉
场上指定点的干涉条纹的移动或光程差的变化量，进
而求得试样的尺寸大小、位移量等，即所谓动态干涉。
分波面是从同一光源等位相面上分两光束产生干 涉(如：杨氏双缝干涉)；分振幅是利用分束镜的反射 和透射分出两光束产生干涉(等倾干涉和等厚干涉)。 光学测量常用的是分振幅式等厚测量技术。
(3)、干涉条纹计数与判向
干涉仪在实际测量过程中，由于测量反射镜可能 需要正反两个方向运动，或由于外界振动、导轨误差 等干扰，使反射镜在正向移动中，偶尔有反向移动， 所以，干涉仪中需要设计判向电路，将计数脉冲分为 加和减两种，用可逆计数器进行可逆计算以获得真正 的脉冲数据。
图5-7 干涉条纹判向计数原理框图
分波面法
p 分振幅法
S *
·
p
S*
薄膜
图5-1 普通光源获得相干光的途径
泰曼干涉仪 分光路
斐索干涉仪 部分共光路
§5.1 干涉测量基础 §5.2 基本光学干涉仪 §5.3 光学零件面形误差测量与评价 §5.4 习题
§5.1 干涉测量基础
干涉测量是基于光波叠加原理，在干涉场中产 生亮、暗交替的干涉条纹，通过分析处理干涉条纹 获取被测量的有关信息。
=
干涉图
§5.1.1 干涉条件及其测量保证
为获取明亮、清晰和稳定的干涉条纹，在测量 中需要采取保证良好干涉条件的一些技术措施。
I max - I min K= I max + I min
Imax Imin
-4
-2
I1 I 2
I
I1 I 2
I
4I1
o
2
4
-4
-2
o
2
4
▲相消干涉（暗）
(k 0,1,2,3…)
=
( 2k 1) ,
I I min I 1 I 2 2 I 1 I 2
当把被测量引入干涉仪的一支光路中，干涉仪 的光程差则发生变化。通过测量干涉条纹的变化量， 可以获得与介质折射率和几何路程有关的各种物理 量和几何量。
(k 0,1,2,3…)
图 5-1等厚干涉仪中的扩展光源
图 5-2光阑孔大小对干涉条纹对比度的影响
如干涉仪干涉条纹的对比度为0.9。可得光源的 许可半径：
f λ rm 2 h
式中， rm:光源许可半径，f´:准直物镜焦距，h:等效 空气层厚度。单位mm。 可见，在干涉测量中，尽量采取减小光源的尺 寸的措施，固然可以提高条纹的对比度，但干涉场
实线表示了干涉条纹对比度K随两支光束强度 比H的变化。可见，没有必要追求两支相干光束的 光强严格相等。
图５-3 对比度Ｋ与两束光强比Ｈ以及杂散光与干涉光强比Ｍ的关系
4、提高干涉条纹对比度的的技术措施
采取如下措施改善激光干涉图形的质量： ※ 清洁光学元件。特别是靠近光阑孔或焦点附近的 镜面，要绝对保持清洁。 ※ 在激光光束会聚点处，用连续转动的毛玻璃屏消 除（或模糊）散斑效应。 ※ 在激光光束会聚点处，设置小孔光阑，可以起到 空间滤波作用，即滤去部分或大部分的非零频成分 光线。
图5-4 斐索干涉仪装置简图
表5-1 基本光学干涉仪的比较
迈克尔逊 响应度R 平衡/不平衡结构 基本光路的通道数 可否获得参考 2 平衡/不平衡 1 可 1 是 是 2 无 法布里-佩罗 F 不平衡 1 否 1 是/否 是 2 有 马赫-泽德 1 平衡/不平衡 2 可 2 否 否 0 有 塞纳克 2 平衡 1 否 1 是 是 0 无
D
-1N 0M 0N 0L +1L
x =Dλ /d
x
• 极限宽度
当光源宽度b等于某个宽度b0 时，干涉条纹刚 好消失，b0 称为光源的极限宽度。 设B>>d 和 b x
单色光源
L
b0 /2
r1
r1 r2
·
o ·
+1L
△ x /2
r2
B
d
D
(r2 r2 ) (r1 r1) (一级亮纹)
干涉测量技术是以光波干涉原理为基础进行测量 的一门技术。与一般光学成像测量技术相比，干涉测 量具有大量程、高灵敏度、高精度等特点。随着激光 技术的出现及其在干涉测量领域中应用，使干涉测量 技术在量程、分辨率、抗干涉能力、测量精度等方面 有了显著的进步。从光学零件的质量控制到光学系统 的象质评价，从经典的光学技术到自适应光学工程， 现代干涉测量技术的应用领域不断扩展。另一方面， 现代数字图像处理技术、传感器技术和计算机技术使 干涉图像判读技术实现了计算机实时自动判读，大大 提高了干涉测量的精度和灵敏度。
对此所采取的技术措施，称其为保证时间相干性。
２、光源大小的影响与空间相干性 • 空间相干性：空间上不同两点发出的波列经过不 同的光程到达同一点时能够相遇干涉，则这两个波 列具有空间相干性。 设光源宽度为b 。
S1 L b/2 M N B S2 I 合成光强 d /2 +1L 0N 非 相 0M 干 0L 叠 加
(2)、光学零件面形偏差 在光学车间广泛使用玻璃样板来检验球面(包括平 面)光学零件的面形偏差，国家标准GB2813-81规定 了光圈的识别方法，包括三个方面(图5-5所示)：
★ 半径偏差(Ｎ) 被检光学表面的曲率半径相对参考
表面曲率半径的偏差，以所对应的光圈数 N来表示。
★ 像散差(Δ1Ｎ) 被检光学表面与参考表面在两个互
0 d和B 0 b0 0
0小 b0大,在b < b0，且b一定的情况下， 0越大空间相干性越好。
如图5-1所示，光源是被均匀照明的直径为２ ｒ的光阑孔，光阑孔上不同点Ｓ经准直物镜后形成 与光轴不同夹角θ的平行光束。不同θ角的平行光束 经干涉仪形成彼此错位的等厚干涉条纹，经叠加后 形成的干涉条纹如图5-2所示。
§5.2 基本的光学干涉仪
光学干涉仪都是将光束分为参考光路和测量 光路，被测样品对测量光路的光程产生影响，然 后两束光重新结合在光电探测器，产生1+COSΦ 类型的干涉信号。 ※迈克尔逊干涉仪 ※马赫-泽德干涉仪 ※塞纳克干涉仪 泰曼-格林干涉仪
※法布里-佩罗干涉仪
※斐索干涉仪
图5-3 一般的光学干涉仪和其光学结构。M和R分别是测量和参考臂
当两束光亮度满足频率相同，振动方向相同以 及相位差恒定的条件，两束光就会产生干涉现象， 在干涉场中任一点的合成光强为：
I = I 1 + I 2 + 2 I 1I 2 cosΔ
其中 Δ = 2 - 1
▲相长干涉（明）
2k , I I max I 1 I 2 2 I 1 I 2
图5-6 光学倍频原理
(2)、电路细分方法 电路细分方法有多种，如细分辨向、计算机软件 细分、鉴相法细分等。综合来看，鉴相法细分的不确 定度最小，使用灵活、方便、集成度高，适合于激光 干涉信号的细分。 鉴相是在参考光和测量光之间进行的。由干涉原 理可知，当被测物体产生位移时，测量光和参考光之 间的相位差将随之按比例变化。只要精确测出参考光 和测量光之间的相位差，就能精确得出光程差的变化 量。鉴相方法主要有数字式、锁相倍频式和模拟式三 种。
（一）干涉条纹的分析判读
(1)、波面偏差的表示
图5-4 波面偏差的表示 （a）用条纹弯曲量表示波面偏差 （b）波面偏差的综合表示（一维分布的描述）
图5-4所示，轴对称波面和波面偏差分布的一维 描述，整个波面偏差可用下述几种综合指标表示。
★ 峰谷偏差 EPV 指被测波面相对于参考波面的峰值 与谷值之差，可用下式表示：
的光亮度也随之减弱。如能设法改变参考光路或测
量光路的光程，使两支光的等效空气层厚度减薄， 可以达到适当开大光阑孔的目的。为此，在干涉仪 中采取相应技术措施，称之为保证空间相干性。
３、两相干光的光强比和杂散光的影响
I2 设两支光强比 H = ，Ｍ为杂散光系数，可得： I1 2 H K 1 H M
λ/2 ，干
涉条纹变化一个级次，得到一个计数脉冲。为了提高
λ/2 K时(K取2，4…)，也
得到一个脉冲。采用光学倍频和各种相位细分的技术，
(1)、光学倍频技术 如图5-6(ａ)所示的光学倍频原理图，Ｍ1为测量 反射镜。当Ｍ1移动λ/2时，由于入射光经过Ｍ1反射 到Ｍ2上，再反射回来，等于光程增大了一倍，在分 光板Ｂ上发生干涉时，相当于光程差变化了λ，出现 两个条纹变化。如果将图5-6(ａ)装置改成图5-6(ｂ) 的形式，加进一个直角棱镜，使测量光束在Ｍ1和Ｍ4 之间形成Ｋ次反射(Ｋ为偶数)，那么，棱镜Ｍ1的移动， 反映在Ｍ3和Ｍ4之间的干涉光程差是棱镜Ｍ1移动距 离的Ｋ倍，即当Ｍ1移动的距离为λ/2Ｋ时，干涉场中 就有一个条纹变化。这种技术称为光程差放大技术， 也称为光学倍频技术。
对比度差
(Ｋ<1)
对比度好 (Ｋ=1)
决定对比度的因素： ▲振幅比 ▲光源的大小
▲光源的单色性
1、光源单色性的影响与时间相干性 (1)、理想的单色光
、
(2)、准单色光、谱线宽度 I I • 准单色光：在某个中心波长(频率) I /2 附近有一定波长(频率)范围的光。
0 0
谱线宽度
o I
0
x 2 d sin d D 2
b0 2 d sin d ( B >>b0 ,d ) B b0 d 2 2B B b0 —光源的极限宽度 d B b b0 b0 时，才能观察到干涉条纹。 d