透射电子显微镜的操作流程
透射电子显微镜JEM2100PLUS的使用方法
透射电子显微镜（JEM2100 PLUS）的使用方法一、操作规程1、开机顺序：（1）检查各仪表的读数是否正常（一般一个月检查一次）；a. 离子泵（SIP）：开灯丝前应保证真空压力小于4*10-5Pa；b. 高压箱：未开高压时，高压箱SF6气压表0.47MPa；电子枪SF6气压表0.28-0.32，该压力值不能低于0.28，低于该值不能启动，当前指针在0.3左右；（2）升高压（慢点好）：a.点HT ON，高压自动升到120KV；b.程序升高压，Target HT 160KV，间隔0.1KV，1sec，约6.7min，点START；c.程序升高压，Target HT 180KV，间隔0.1KV，2sec，约6.7min，点START；d.程序升高压，Target HT 200KV，间隔0.1KV，3sec，约10min，点START；（3）放样品：样品杆中放入待观察样品，单倾杆是铜网正面向上，双倾杆是铜网反面向上。
在软件上选择合适的样品杆名称，放样品杆可与升高压过程同时进行。
（4）开灯丝：电脑屏幕上显示HT ON，Filament ready 状态下，点击Filament ON，开始观察。
2、关机程序（可以快）：（1）关灯丝Filament OFF.（2）软件上手动（步长10KV）降高压到120KV，关高压（点OFF）。
（3）如加过液氮，样品杆要拔出，用ACD程序烘烤。
插入烘烤加热管。
二、注意事项1、注意开机、关机的顺序；2、注意主机上高压部位，防止触电；3、仪器的工作环境，应避免阳光直射、避免强电场、避免与较大功率的电器设备共电、避开腐蚀性气体、避免震动；4、制样时注意样品干燥，请勿将挥发性物质放入电镜测试以免污染镜筒5、开灯丝前真空压力必须小于4*10-5Pa；。
电子显微镜标准操作规程
电子显微镜标准操作规程1000字电子显微镜是一种高分辨率的显微镜，适用于不同领域的研究。
为了正确使用电子显微镜并得到准确的结果，需要按照以下标准操作规程进行操作。
一、仪器操作前准备1.检查仪器在使用电子显微镜前，首先需要仔细检查仪器的状态。
检查光源、镜头、样品台、控制面板等是否正常。
如果出现任何问题，请通知维护人员及时修理。
2.准备样品样品准备重要性不言而喻，对于不同的研究目的，采用不同的准备方法。
通常，样品需要被切割、去水、埋脂、染色等处理。
处理过程需要遵守操作规范，保证样品完整、清晰。
3.选择适当的模式根据实验目的选择合适的模式。
常见的模式包括高分辨模式、透射模式等。
二、样品贴附1.选择适当的样品支撑材料为了将样品固定在样品台上，需要使用样品支撑材料，如样品碳网或样品夹等。
选用合适的支撑材料不仅能保护样品，还能保持良好的通透性和导电性。
2.样品贴附将样品放置在支撑材料中，用胶水或任何其他粘合方法固定在材料上。
3.取样从样品储存区中取出样品并在制备过程中注意不要过度拉伸，不要划伤或破坏样品。
三、调整仪器1.焦距调整调整样本平面的焦距，以获得明确的显影结果。
这依赖于样品本身的特性。
2.亮度和对比度调整根据实验目的和样品，调整亮度和对比度，以获得具有高质量的成像结果。
四、使用电子显微镜1.佩戴适当的防护诸如手套和眼镜。
2.启动电子显微镜，注意使用合适的倍率和像素。
五、数据处理和分析1.保存数据在分析和处理数据之前，将数据保存到计算机硬盘或其他储存介质上。
确保文件名有效，并记录样品信息。
2.计算数据将数据导入数据处理软件中，并进行所需的分析和处理。
以上是电子显微镜的标准操作规程。
正确的操作流程可以确保研究结果的准确性和可靠性，同时也有助于保护仪器以及研究人员的健康。
透射电子显微镜使用说明书
透射电子显微镜使用说明书一、介绍透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope, TEM）是一种高性能的显微镜，通过使用电子束而非光束，可以提供高分辨率的样品图像。
本使用说明书将详细介绍透射电子显微镜的使用方法，以帮助您正确操作该设备。
二、安全操作指南1. 请确保在操作透射电子显微镜之前，您已经受过相关培训并明确了安全操作指南。
2. 使用透射电子显微镜时，请务必佩戴适当的个人防护装备，包括眼镜、手套和防护服。
3. 在操作过程中，严禁将任何物体直接接触到样品表面，以免损坏样品或损伤设备。
4. 当调整透射电子显微镜参数时，请小心操作，避免过度拉伸或扭曲设备部件。
三、样品准备1. 在进行透射电子显微镜观察之前，样品应该经过适当的预处理和制备。
例如，必要时使用透明薄膜包裹样品，以防止样品受到污染。
2. 样品应该足够薄，并且尺寸适中，以确保电子束能够透射样品并产生清晰的图像。
3. 在将样品放置在透射电子显微镜上之前，请确保样品表面干净且无杂质，并注意避免静电带来的干扰。
四、设备操作1. 打开透射电子显微镜之前，请先确认所有电线和连接器已正确插入并固定。
2. 根据需要，选择适当的电子束加速电压和焦距，以获得所需的图像清晰度。
3. 在操作设备时，请遵循制造商提供的操作手册，以确保正确的设备设置和参数调整。
4. 当使用透射电子显微镜时，应避免长时间持续使用，以防止设备过热或电子束损坏样品。
五、图像捕获与分析1. 在透射电子显微镜观察过程中，可以使用相机或其他图像捕获设备记录图像或视频。
2. 使用图像分析软件来处理和分析捕获的图像，以获得所需的数据和结论。
3. 在进行图像分析之前，请确保校准所有测量工具，以保证测量结果的准确性和可靠性。
六、设备维护和清洁1. 在每次使用透射电子显微镜之后，请仔细清理设备表面，以去除样品残留物和有害物质。
2. 定期检查设备的电线和连接器，确保其处于良好状态，没有磨损或损坏。
电子显微镜的操作规程
电子显微镜的操作规程一、概述电子显微镜（Electron Microscope）是一种利用电子束来观察物体的微观结构和形貌的高精密仪器。
它通过利用电磁透镜对电子束进行聚焦，以及对透射电子进行衍射和成像，能够提供比传统光学显微镜更高的分辨率和放大倍数。
本操作规程旨在引导用户正确使用电子显微镜，确保获得准确、清晰的显微图像。
二、仪器准备1. 确保电子显微镜所处环境整洁、干净，远离尘埃、霉菌等污染源。
2. 检查电子显微镜的电源、冷却系统和真空系统是否正常工作，确保仪器在运行时不会出现故障。
3. 准备样品，将待观察的样品切割成适当的大小，并保证其表面光洁无尘。
三、仪器操作1. 打开电子显微镜的电源开关，并逐步启动冷却系统和真空系统，确保系统逐渐稳定运行。
2. 通过操作电子束对准样品，并校正对焦和图像亮度，确保获得清晰的图像。
3. 调整电子束的加速电压和亮度，根据样品的性质和所需观察的细节调整参数，以获得最佳成像效果。
4. 若需要对样品进行成分分析，可以启动能谱仪或电子衍射仪等附件设备，获得相应的数据。
5. 使用适当的目标物和样品支架，确保样品固定牢固，并避免影响图像质量。
6. 当观察完毕后，依次关闭附件设备、电子束以及仪器的冷却系统和真空系统。
四、安全注意事项1. 操作人员必须戴上防护眼镜和手套，确保个人安全。
2. 禁止在电子显微镜附近食用、饮水或吸烟等，并确保工作区域干燥清洁。
3. 使用仪器时，应遵守相关操作手册和安全规范，严禁未经授权或无专业知识的人员操作电子显微镜。
4. 当发现仪器异常或故障时，应立即停止使用并寻求专业技术支持。
五、仪器维护1. 定期对电子显微镜进行内部和外部的清洁，去除灰尘和污渍，以维护其正常工作状态。
2. 检查和更换电子源、透镜等关键部件，保证其性能稳定。
3. 定期校准仪器的各项参数，确保显示图像的准确度和质量。
4. 注意维护仪器的真空系统，定期排气和更换必要的零件。
六、操作规程的培训和记录1. 操作人员应经过相关培训，了解电子显微镜的操作规程和安全注意事项，并保持其熟练的操作技能。
TEM操作流程
JEM-2100透射电子显微镜操作流程⏹冷阱、高压以及LENSE分两次加液氮，分两步升高压总计1h开LENSE，聚光镜光阑1档⏹安放样品使用样品杆前，请仔细检查样品杆是否完好、是否需要维护：销钉是否松动、高度感应端是否脱落）载物铜网正面朝上，压片压好载物铜网后轻轻旋紧螺钉洗耳球吹气确保样品杆关键部位没有杂物用样品杆中部轻击左手手掌，确保压片压好载物铜网⏹装样品杆预抽过程销钉对准卡槽，水平垂直推入样品杆（不得旋转）,开泵预抽（PUMP），听到噗的声音后松手，等样品杆旁边绿灯变亮后开始进杆；进杆紧握样品杆把手分两次向里均匀旋进（顺时针），直至样品杆进入样品室（该过程不得松手并有向外拉力、不得产生轴向力）拔杆确保关闭灯丝与CCD的前提下，用均匀的外力将样品杆向外拔（该过程较长），当样品杆受到阻力时，即可向外旋转（逆时针），旋转受到助力时，停止旋转，再用均匀力向外拔（该过程较短），当样品杆再次受到阻力时，即可向外旋转（逆时针），听到气门“噗”的声音时，停止拔杆。
手挡住样品杆尾部，放气（AIR）直至气门再次发出“噗”的声音时，将样品杆拔出样品室外。
测试步骤电压中心STD FOCUS低倍找样LOW MAG SPOTSIZE 1高倍照相MAG 1双中心调节聚光（BRIGHTNESS）看光斑是否在中心，不在中心采用电子束（SHIFT X Y）平移至中心粗聚焦利用IMAGE WOBB X Y、Z ⇑，Z ⇓调至样品不动为止1—5合轴在双中心的基础上（30 K），SPOTSIZE 5 光斑不在中心，采用电子束（SHIFT X Y）平移到中心，SPOTSIZE 1光斑不在中心，采用电子枪（F4+SHIFT X Y）平移到中心，调完点去F4，继调SPOTSIZE 1，反复多次，直至光斑中心不因SPOTSIZE的变化而偏移荧光屏中心注意：SPOTSIZE 5时不得采用F4键盘调像散100 K 将样品移开，用红线框选住碳膜，配合OBJ FOCUS 的FINE 或COARSE调出傅里叶椭球后，采用OBJ STIG+STIG X Y将椭球调节为圆形120 K 将样品移开，用红线框选住碳膜，先采用OBJ STIG+NTRL调出傅里叶椭球，再配合OBJ FOCUS 的FINE 或COARSE，采用OBJ STIG+STIG X Y将椭球调节为圆形。
《透射电子显微镜》课件
限制照明区域，减小成像的视场，提高成像的分辨率 。
光路调节器
调节光路中的光束方向和大小，确保光束正确投射到 样品上。
成像系统
Hale Waihona Puke 物镜将样品上的图像第一次放 大并投影到中间镜上。
中间镜
将物镜放大的图像进一步 放大并投影到投影镜上。
投影镜
将中间镜放大的图像最终 放大并投影到荧光屏或成
像设备上。
真空系统
谢谢您的聆听
THANKS
透射电子显微镜技术不断改进，分辨率和放大倍数得到显著提 高。
透射电子显微镜技术不断创新，出现了许多新型的透射电子显 微镜，如高分辨透射电子显微镜、冷冻透射电子显微镜等。
透射电子显微镜的应用领域
生物学
观察细胞、蛋白质、核酸等生物大分子的 结构和功能。
医学
研究病毒、细菌、癌症等疾病的发生、发 展和治疗。
真空泵
01
通过抽气作用维持透射电子显微镜内部的高真空状态。
真空阀门
02
控制真空泵的工作时间和进气流量，以保持透射电子显微镜内
部真空度的稳定。
真空检测器
03
监测透射电子显微镜内部的真空度，当真空度不足时提醒操作
人员进行处理。
03
透射电子显微镜的操作与维护
透射电子显微镜的操作步骤
打开电源
确保实验室电源稳定，打开透射电子显微镜 的电源开关。
记录
对透射电子显微镜的使用和维护情况进行 记录，方便日后追踪和管理。
04
透射电子显微镜的样品制备技术
金属样品的制备技术
电解抛光
通过电解抛光液对金属样品进行抛光 ，去除表面杂质和氧化层，使样品表 面光滑、平整。
离子减薄
电子显微镜使用方法说明书
电子显微镜使用方法说明书一、简介电子显微镜（Electron Microscope，简称EM）是一种利用电子束来观察样品细微结构的强大工具。
相比传统光学显微镜，电子显微镜具有更高的放大倍数和更好的分辨率。
本说明书旨在介绍电子显微镜的使用方法，包括仪器的操作流程、样品的制备及观察技巧等。
二、仪器操作步骤1. 准备工作在使用电子显微镜之前，确保仪器已经接通电源并处于稳定的工作状态。
检查真空系统是否正常运行，以确保样品在低压环境中观察。
2. 打开电子显微镜软件将电子显微镜软件（如FEI Amira）打开，并通过USB或网络连接与显微镜主机进行链接。
3. 加载样品将待观察的样品放置在样品台上，并固定好。
根据样品的特性以及观察目的，可进行一些必要的预处理，如切片、腐蚀、染色等。
4. 调整参数根据样品的特性及所需观察的细节，适当调整电子束的加速电压、束流强度以及焦点等参数。
通过直接调整软件界面上的相应滑块或输入框来实现。
5. 对焦和定位利用显微镜软件中的对焦功能，通过调节样品台的高度和微调焦距来使样品清晰可见。
此外，通过在显微镜软件中的光学影像观察界面，可对样品在显微镜视野中的位置进行微调。
6. 观察和记录在样品清晰可见且位于所需位置后，可以开始观察并获取所需图像。
可以通过调整对比度、亮度、缩放等参数来优化图像质量。
同时，可以通过显微镜软件进行图像的实时保存和记录。
三、样品制备技巧1. 样品选择根据所需观察的目的，选择与其性质和尺寸相适应的样品。
常见的样品包括金属、细菌、细胞、纤维等。
2. 样品固定根据样品的特性，采用合适的固定方法，例如冰冻法、固定液固定法等。
确保样品在固定过程中不会失去结构和形态。
3. 制备薄切片对于较大的样品，需要进行薄切片制备。
使用合适的切片工具，如超薄切片机，将样品切割成足够薄的切片，以便电子束穿透。
4. 表面处理对于某些样品，如纤维或材料表面，可能需要进行特殊的处理。
例如，可以采用金属镀膜技术来提高样品的导电性。
电子显微镜使用指南
电子显微镜使用指南引言:电子显微镜是一种高分辨率的显微镜，广泛应用于材料科学、生物学和纳米科技等领域。
本文将为读者提供一份电子显微镜的使用指南，旨在帮助读者更好地理解和掌握这一复杂的科学工具。
一、电子显微镜原理与分类电子显微镜利用电子束的特性来观察样品，相比光学显微镜，具有更高的分辨率。
根据不同的工作方式和应用，电子显微镜可以分为透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope，TEM）和扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，SEM）两类。
二、准备工作在使用电子显微镜之前，我们需要进行一些准备工作。
首先，保持实验室环境干净，避免灰尘和杂质对显微镜的影响。
同时，使用前要确保显微镜内部的真空环境正常。
三、样品制备在样品制备过程中，我们需要注意以下几点。
首先，样品应选择合适的大小和形状，以便放入显微镜中观察。
其次，样品表面应光滑，尽量避免杂质和氧化物的存在。
最后，可以通过切片、离子薄化等方法来制备适合电子显微镜观察的样品。
四、操作步骤1. 打开显微镜系统并进行预热，确保各个部件正常工作。
2. 将样品安装在样品台上，注意调整好观察角度和位置。
3. 根据需要选择透射电镜或扫描电镜模式，调整电子束强度和聚焦度。
4. 开始观察，可以通过调节电子束的扫描速度、图像增强等参数来获得所需的图像效果。
5. 观察结束后，关闭显微镜，进行后续的数据处理和分析工作。
五、常见问题与解决方案1. 样品的准备过程中出现杂质：可以尝试重新制备样品，注意样品制备过程中的卫生和环境条件。
2. 图像分辨率不够高：可以尝试调整电子束的聚焦度和强度，检查显微镜系统是否存在故障。
3. 显微镜出现机械故障：将及时联系维修人员进行检修和维护。
六、安全注意事项在进行电子显微镜实验过程中，需要注意以下安全事项。
首先，遵守实验室的安全规定，佩戴上适当的防护装备。
其次，小心操作显微镜内部的部件，避免损坏设备或造成伤害。
透射电子显微镜
其中，h表示普朗克常数，m0表示电子的静质量，E是加速后电子的能量。电子显微镜中的电子通常通过电子 热发射过程从钨灯丝上射出，或者采用场电子发射方式得到。随后电子通过电势差进行加速，并通过静电场与电 磁透镜聚焦在样品上。透射出的电子束包含有电子强度、相位、以及周期性的信息，这些信息将被用于成像。
基本的TEM光学元件布局图。从上至下，TEM包含有一个可能由钨丝制成也可能由六硼化镧制成的电子发射源。 对于钨丝，灯丝的形状可能是别针形也可能是小的钉形。而六硼化镧使用了很小的一块单晶。通过将电子枪与高 达10万伏-30万伏的高电压源相连，在电流足够大的时候，电子枪将会通过热电子发射或者场电子发射机制将电 子发射入真空。该过程通常会使用栅极来加速电子产生。一旦产生电子，TEM上边的透镜要求电子束形成需要的 大小射在需要的位置，以和样品发生作用。
电子能量损失光谱仪通常在光谱模式和图像模式上操作，这样就可以隔离或者排除特定的散射电子束。由于 在许多图像中，非弹性散射电子束包含了许多操作者不关心的信息，从而降低了有用信息的可观测性。这样，电 子能量损失光谱学技术可以通过排除不需要的电子束有效提高亮场观测图像与暗场观测图像的对比度。
晶体结构可以通过高分辨率透射电子显微镜来研究，这种技术也被称为相衬显微技术。当使用场发射电子源 的时候，观测图像通过由电子与样品相互作用导致的电子波相位的差别重构得出。然而由于图像还依赖于射在屏 幕上的电子的数量，对相衬图像的识别更加复杂。然而，这种成像方法的优势在于可以提供有关样品的更多信息。
电镜资料：电镜操作---透射电子显微镜、扫描电子显微镜
④ 抽真空(Air→Pump),查看真空状态
⑤ 旋转样品杆,在真空吸力的作用下
送入
⑥ 样品杆坐标清零(Stage neatral)
铜网 样品台 样品槽
样品杆
3. 电镜合轴
>100k
减少像差, 提高分辨率 操作方便 操作需要
① 开灯丝(Filament ON或BEAM按钮)
② 调物镜(样品)共心高度(STD FOCUS
注：在图象整个观察过程中，若对图象的对比度和亮度不满意，用鼠标点击
也可通过
进行手动调节。
3. 样品观察与拍照
h. 将所要放大的区域移到图象中心,同时顺时针旋转Magnification旋钮,把图象放大
到自己需要的倍数,调节Focus中的Fine旋钮
继续聚焦,调节到图象没有形变。
i. 调节Stigma x和y旋钮，进行象散校正，需对x和y进行单独校正，可反复多次校正，
电镜操作
---透射电子显微镜、扫描电子显微镜
一、透射电子显微镜
目录
1 实验前准备
2 装入样品杆
3 电镜合轴
4 电镜实验
5 拔出样品杆
1. 实验前准备
01
选择样品 （制样）
UV-vis
02
了解仪器
03
检查仪器
空调、除湿机开启正常 冷肼液氮已添加 循环水供应正常 软件界面各项参数正常
JEOL JEM-2100
4. 电镜实验
③ 高分辨透射(HRTEM)
选定样品中感兴趣的区域(若是单晶样品,需倾转至正晶带轴); 取出物镜光阑;调整至合适放大倍数(SA),仔细调节共心高度; 仔细进行电镜合轴,尤其是Rotation Center ; 放大至350K或400K;CCD观察,用FFT判断象散及聚焦情况; 曝光时间设置为1s,拍摄图像并保存
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透射电子显微镜的操作流程透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope，简称TEM）是一种高分辨率的显微镜，能够在纳米级别观察样品的内部结构和原子级别的细节。
本文将介绍透射电子显微镜的操作流程。
一、准备工作
在操作透射电子显微镜之前，需要进行一些准备工作。
首先，确保显微镜的主要部件都处于正常工作状态，如电子源、电子透镜、样品夹持器等。
其次，检查透射电子显微镜的真空系统是否正常运行，避免气体对电子束的干扰。
最后，选择适当的样品，将其切片并磨制至适当厚度，以便透射电子通过。
二、样品装载
将事先制备好的样品装载到透射电子显微镜的样品夹持器上。
夹持器通常有细螺纹固定装置，通过轻轻旋转可以固定样品。
在装载过程中，需注意避免样品与夹持器之间产生机械应力，以免影响显微镜观察的结果。
三、对准操作
对准是使用透射电子显微镜必不可少的一步，它确保电子束能够准确地照射在样品上并通过样品，以获取清晰的图像。
对准操作主要包括以下几个步骤：
1. 调整透射电子显微镜的电子源，使其发射的电子束平行并具有适当的亮度和聚焦度。
2. 调节电子透镜系统，包括调节聚焦透镜和透镜间距，以使电子束在样品上得到合适的聚焦。
3. 利用荧光屏或高放大倍率的光学系统对电子束进行对齐，以确保电子束与样品表面垂直。
四、图像获取
在对准完成后，可以开始进行图像的获取。
操作过程中需要注意以下几点：
1. 调节透射电子显微镜中的电子束强度，避免过高的电子束强度对样品产生伤害。
2. 选择适当的像场和放大倍率，使得所需观察的细节能够在图像中清晰可见。
3. 调整对比度和亮度，以获得最佳的图像效果。
4. 在浏览图像时，可以调整样品的不同区域和焦平面，以获取更全面的信息。
五、数据分析与处理
获取到的图像可以进行数据分析与处理，提取感兴趣的信息。
常见的数据处理方法包括图像增强、图像对比度调整、图像滤波等。
这些方法可以帮助更好地理解和解释样品的结构和特性。
六、实验结束
实验结束后，务必关闭透射电子显微镜的电子源，并关闭真空系统，以防止设备长时间处于高度抽气状态。
将样品从样品夹持器上取下，
并妥善存放，等待下次实验使用。
通过以上的操作流程，可以顺利地进行透射电子显微镜的操作。
在
实际操作中需要细心和耐心，同时结合相关知识和经验，能够更好地
观察和研究样品的微观结构。
透射电子显微镜作为一种强大的工具，
在物质科学、生物科学等领域具有广泛的应用前景。