等厚干涉现象的观测

实验一光的等厚干涉现象的观测

【目的与任务】

1、学习使用移测显微镜;

2、观察光的等厚干涉现象,研究等厚干涉现象的规律和条件;

3、利用等厚干涉测量平凸透镜的曲率半径和微小厚度;

4、学习用逐差法处理实验数据的方法。

【仪器与设备】

移测显微镜(又称读数显微镜、比长仪)、牛顿环仪、低压钠灯。

1、移测显微镜结构如图1所示。它由光学部分和机械部分构成,光学部分是一个长焦距显微镜,机械部分主要是底座、由丝杆带动的滑台以及读数标尺等。其测长原理与千分尺相同,可以精确读到0.01mm,估读到0.001mm。

2、移测显微镜的操作方法:

(1)将移测显微镜安放平稳,大致对准待测物;

(2)反复调整显微镜目镜,直到能够看清目镜里的叉丝;

(3)缓慢调节物镜的调焦手轮使显微镜聚焦,直到清楚地看到待测物,并尽可能消除视差;(消除视差的判断标准:当眼睛左右移动时,通过显微镜看去,叉丝和待测物的像之间无相对移动。)

(4)转动鼓轮手柄使显微镜移动,让叉丝对准被测起点,记录一读数,继续转动鼓轮手柄使叉丝对准被测终点,再记录此时的读数,两次读数之差即被测两点的间距。

3、牛顿环仪:是一种干涉装置。由一曲率半径相当大的平凸透镜放在光学玻璃平板(平晶)的上面构成,如图2所示。

【原理与方法】

1、牛顿环干涉现象

牛顿环是牛顿于1657

年在制作天文望远镜时,偶然将一个望远镜的物镜放在平玻璃上

图3b :反射光束形成的干涉图样 图3a :反射光束形成牛顿环的光路图

图4a :透射光束形成牛顿环的光路图

图4b :透射光束形成的干涉图样

发现的,由图2知在透镜的凸面与平板玻璃之间形成以接触点O 为中心向四周逐渐增厚的空气薄膜,离O 点等距离的地方厚度相同。等厚膜的轨迹是以接触点O 为中心的圆。若以波长为λ的单色光垂直照射到该装置上时,其中一部分光线在空气膜上表面反射,一部分在空气膜下表面反射,因此产生两束具有一定光程差的相干光,当它们相遇后就产生干涉现象。因在膜厚度相同的地方具有相同的光程差,所以形成的干涉条纹为膜的等厚各点的轨迹。当在反射方向观察时(见如图3a ),将会看到一组以接触点为中心的明暗相间的圆环形干涉图样,且中心是一暗斑,如图3b 所示。如果在透射方向观察(见如图4a ),则看到的干涉图样与反射光的干涉图样的光强分布恰为互补,中心是亮斑,原来的亮环处变为暗环,暗环处变为亮环,如图4b 所示。这种干涉现象为牛顿最早发现,故称为牛顿环。显然,牛顿环是等厚干涉。

设透镜的曲率半径为R ,第m 级干涉圆环的半径为m r ,其相应的空气膜厚度为m d ,对图3b 由反射光束形成的干涉图样而言,空气膜上、下表面两反射光的光程差为

22m d λ∆=+ (1)

这里假定空气的折射率等于1(以下推导均同),其中,2λ是空气膜下表面反射光线由光

疏媒质到光密媒质,在界面反射时发生半波损失引起的附加光程差。

对图4b 由透射光束形成的干涉图样而言,两相干光束的光程差为

2m

d ∆=

(2)

由图4a 所示的几何关系可知

2

2

2

2

2

2

()2m m m m m R R d r R Rd d r =-+=-++ (3)

因m d R >>,可略去二级无穷小量2

m d ,则有 22m m d r R

=

(4)

当(21)2m λ∆=+时,即得反射光干涉相消(暗环)条件,代入式(1),得

22(21)2

m d m λλ∆=+=+

(5)

当λm '∆=时,即得透射光干涉(明环)条件,代入式(2),得

2m d m λ

'∆==,

(6)

把(4)式分别代入(5)式和(6)式,可得第m 级暗环(反射光时)或第m 级明环(透射光时)的半径为

2m r mR λ

=

(7)

可见,反射光束和透射光束形成的干涉图样的明暗圆环刚好互补。由于所用实验仪器观察到的是透射光束形成的干涉图样,下面,我们仅就此情况进行考虑。

由(7)式可见,明环半径m r 与明环级数m 和R 的平方根成正比,随m 的增大,环纹越来越密,而且越来越细。如果单色光的波长λ已知,只要测出第m 级明环的半径m r ,便可算出平凸透镜的曲率半径R 。但是在透镜与平玻璃板接触处,由于接触压力引起形变,使接触处为一圆面。因此,牛顿环的中心不是一个理想的接触点,而是一个不甚清晰的亮圆斑。有时因镜面有尘埃存在,使光程差更加难以准确确定。因此难以准确判定级数m 和测量m r 。为消除此影响,可用两个明环半径2m r 和1m r 的平方差来计算曲率半径R 。由式(5)知

222m r m R λ

=,

121m r m R λ=

(8)

两式相减可得

212

221()m m r r m m R λ-=-

(9) 即

212

221()()m m R r r m m λ=--

(10)

因2m 和1m 具有相同的不确定性,利用相对条纹级次12m m -恰好可消除由绝对级次的不确定性带来的误差。

考虑到测量中很难确定牛顿环中心的确切位置,所以可用测量直径2m D 和1m D 来代替半径2m r 和1m r ,即有

212221()4()m m R D D m m λ

=--

(11)

(11)式就是本实验测量平凸透镜曲率半径的公式。不难证明,即使测量的不是直径,而是同一直线上的弦长,上式仍然成立。

2、劈尖干涉现象

片、纸张、头发丝或金属箔等),在两玻璃之间便形成了一个空气劈尖,如图5所示。显然这也是一种等厚干涉。当单色光垂直入射时,经空气劈尖上下两表面反射的两束光的光程差为

22

K e λ

∆=+

当(21)2K λ∆=+时,得反射光干涉相消(暗纹)条件

2(21)

2

2

K e K λ

λ

∆=+

=+

所以第k 级暗纹处的空气膜厚度为

2

K e K

λ

=,(K=0,1,2,3,…) (12)

由(12)式可知当0=k 时,0e 0=,即两玻璃板直接接触的交线处为零级暗条纹。因此第

N 级暗纹处的厚度N e (如图5(b)中的C 处)就等于暗纹级数N 乘以/2λ。

实验中暗纹级数N 的值一般较大,为避免计数出错,可先求出单位长度的暗纹条数00/L N n = (0L 为0N 条暗纹之间的距离),再测出交线到C 的距离L ,则

00L /L N nL N ==。若已知入射光波长λ,可求得C 处的厚度为

02

N N e L L λ=

(13)

【指导与要求】

一、实验课前预习

1、光发生干涉的条件是什么?

2、什么是等倾干涉?什么是等厚干涉?它们分别有那些干涉装置? 二、实验操作提示

1、测量平凸透镜的曲率半径 (1)将仪器按图6所示装置好。

(2)把牛顿环仪置于显微镜的载物台上。点亮钠光灯,调节升降台的高度,使显微镜进光口和低压钠灯的出光口对齐;再调节显微镜进光口的反射镜的倾斜度和左右方位,直到显微镜视场中出现明亮的黄斑。

(3)调节移测显微镜目镜,直至能看到清晰十字叉丝;再调节移测显微镜的物镜焦距,直至能看到清晰的干涉条纹;然后转动显微镜的目镜或移动牛顿环仪,使十字叉丝与固定直尺平行并通过牛顿环的中心。

(4)测量各级明环直径。转动测微鼓轮使十字叉丝从牛顿环的中心开始向右移动,直到十字叉丝的竖线推移到右侧的第12级明环以外(准确地说是超过第12级明环一些就可以了,目的是为了避免显微镜的回程误差),反向转动鼓轮,直到十字叉丝的竖线向左推移到右侧的第12级明环的中间(如图6所示),记录读数12x ,估读到0.001mm 。继续转动鼓轮向左移动,依次测出直到右边第3级明环的各明环位置的读数11x ,10x ,…,3x 。继续向

左移动,使镜筒沿圆心依次测出左侧第3级至第12级各明环的位置3

x ',4x '…,12x '值得一提的是,图7中的第3级明环,只是一个象征性的干涉级数,由于牛顿环的中央亮斑太亮,可能会屏蔽很多的暗环。

实验时,也可以测量暗环直径,这样得出的结果和测量明环直径得出的结果是完全一致的。原因在于:根据透射光干涉相消条件,可以同样得出表达式(11),请读者自己推导。

(5)计算连续10个牛顿环的直径。取3m ≥,即从第3级明环到第12级明环,各环的直径m m m x x D -=',见图7。

(6)用逐差法计算平凸透镜的曲率半径R 。取12m m -=5,则

23281D D -=∆,24292D D -=∆, (2)

72125D D -=∆,

λ

λ1002054321

∆+∆+∆+∆+∆=∆

=

R (14)偏差 λ

λ1002054321∆-∆+∆-∆+∆-∆+∆-∆+∆-∆=∆∆

=∆R (15)

2、测量涤纶薄片的厚度

(1)将劈尖置于显微镜载物台上,调节显微镜至能看清劈尖干涉条纹。

(2)将十字叉丝的竖线向某一方向推移到某条干涉条纹处,记下此时显微镜读数x ,然后转动鼓轮使显微镜继续向该方向移动,直至十字叉丝的竖线移过20条干涉条纹,记下此时读数x ',则200=N ,x x L '=-0。重复测量5遍,取平均值0L 。

(3)测出交线到C 的距离L ,重复测量3遍,取平均值L 。 (4)将0N 、0L 和L 代入(13)式,计算待测厚度。

三、实验注意

1、牛顿环仪、透镜和显微镜的光学表面不清洁,要用专门的擦镜纸轻轻揩拭。

2、当用镜筒对待测物聚焦时,为防止损坏显微镜物镜,正确的调节方法是使镜筒移离待测物(即提升镜筒)。

3、用标尺定标时尽可能选择显示屏中心部位的干涉环。

4、实验操作中应避免螺距误差。在测量过程中,显微镜应朝一个方向移动,不能在中途返回(包括读第一个数据也是如此)。

【思考与练习】

1、怎样用牛顿环检验透镜质量?

2、在牛顿环实验中,平板玻璃上若有微小的凸起或凹陷,试问由于凸起或凹陷,干涉条纹将有何变化?

3、比较牛顿环与劈尖干涉条纹的异同处。

图 7

等厚干涉实验报告

等厚干涉实验报告 等厚干涉实验是一种重要的光学实验,根据Fizeau原理,通过将两束光束接近相同的光程、波长、偏振和方向,在干涉环境中观察它们的干涉现象。实验可以用于研究材料的光学属性以及光学元件的设计和制造。 实验装置主要由凸面透镜、振幅分束器、反射镜、准直器、照明光源、读出光学元件等部件组成。具体操作步骤如下: 1. 配置实验装置。定位照明光源、凸面透镜和反射镜的 位置,使得光线可以被准确的引导到振幅分束器的两个入射端口上。 2. 调整振幅分束器。调整振幅分束器使其分区比之间的 光程差约为光波长的1/2,开启干涉仪件后调整读出光学元件 的位置和旋转状态,使得读出干涉条纹后,当前光的路径长度相等。 3. 观察干涉现象。根据读数元件显示的干涉图案,判断 两个光束对应的光程是否相等。若干涉条纹是等间距的,则表示光程相等;若干涉条纹不等距,则表示光程差。 通过等厚干涉实验,我们可以得到目标光学材料的折射率、厚度和表面形貌等参数。其中,折射率可以通过测量材料的相对位移来计算得出,厚度则可以从空气中干涉带的数量和宽度并结合折射率公式进行计算。

此外,等厚干涉实验对于验证材料表面形貌的均匀性也具有重要的作用。不同区域的折射率不一定相等,如果存在表面形貌的偏差,则会产生干涉条纹发生错位的情况,因而通过观察干涉条纹的位置和形态可以得知材料表面是否均匀。 需要注意的是,等厚干涉实验需要高精度的仪器配合操作,同时特别注意光学系统的稳定性和环境的温度变化等因素。实验过程中要严格遵守操作规程,以免影响结果的准确性。 总之,等厚干涉实验是一种非常有用的光学实验,能够大大提高我们的认识和研究光学材料、元件及表面形貌等方面的工作。在实验过程中,需要掌握合适的操作步骤,并积极对实验结果进行记录和分析,以获得准确的结果,并为光学实验提供更好的支持。

光的等厚干涉(牛顿环)

实验五 光的等厚干涉(牛顿环) 在光学发展史上,光的干涉实验证实了光的波动性。当薄膜层的上、下表面有一很小的倾角时,由同一光源发出的光,经薄膜的上、下表面反射后在上表面附近相遇时产生干涉,并且厚度相同的地方形成同一干涉条纹,这种干涉就叫等厚干涉。其中牛顿环和劈尖是等厚干涉两个最典型的例子。光的等厚干涉原理在生产实践中具有广泛的应用,它可用于检测透镜的曲率,测量光波波长,精确地测量微小长度、厚度和角度,检验物体表面的光洁度、平整度等。 一 实 验 目 的 (1)观察光的等厚干涉现象,了解等厚干涉的特点。 (2)学习用干涉方法测量平凸透镜的曲率半径。 (3)掌握读数显微镜的原理和使用。 二 实 验 原 理 1.牛顿环 牛顿环是由一块曲率半径很大的平凸透镜的凸面放在一块光学平板玻璃上构成的,如图19所示,在平凸透镜和平板玻璃的上表面之间形成了一层空气薄膜,其厚度由中心到边缘逐渐增加,当平行单色光垂直照射到牛顿环上时,经空气薄膜层上、下表面反射的光在凸面附近相 遇产生干涉,其干涉图样是以玻璃接触点为中心的一组明暗相间的圆环,如图19-1(b)所示。 设平凸透镜的曲率半径为R ,与接触点O 相距为k r 处的空气薄层厚度为e k ,那么由几何关系: 222)(k k r e R R +-= 因R >> e k ,所以2 k e 项可以被忽略,有: 现在考虑垂直入射到k r 处的一束光,它经薄膜层上、下表面反射后在凸面处相遇时其光程差: δ = 2e k + λ/2 其中 λ/2 为光从平板玻璃表面反射时的半波损失,把(1)式代入得: (2) 由干涉理论,产生暗环的条件为: K =0,1,2,3,……) (3) 从(2)式和(3)式可以得出,第K 级暗纹的半径: λKR r K =2 (4) 所以只要测出k r ,如果已知光波波长λ,即可求出曲率半径R ;反之,已知R 也可由(4)式求出波长λ。 公式(4)是在透镜与平玻璃面相切于一点(00=e )时的情况,但实际上并非如此,观测到的牛顿环中心是一个或明或暗的小圆斑,这是因为接触面间或有弹性形变,使得00e ,所以用公式(4)很难准确地判定干涉级次k ,也不易测准暗环半径。因此实验中用以下方法来计算曲率半径R 。 x 1x '(b ) 图19-1 牛顿环 (a ) 图19

等厚干涉

等厚干涉-牛顿环 实验目的: 1. 观察和研究等厚干涉现象及其特点。 2. 学习用牛顿环法测量透镜的曲率半径。 实验仪器: 读数显微镜、光源、牛顿环装置 实验原理及原理图: 图1 牛顿环装置 图2 干涉圆环—牛顿环图 设平凸透镜的半径为R ,光波的波长为λ,D m 和D n 分别代表第m 和第n 条暗条纹的直径,则透镜的曲率半径可以表示为:R=(D m 2-D n 2 )/4(m-n)λ(见讲义P125)。 本实验中m-n 的取值为14,λ的取值为58930 A 。 实验内容: 1. 点亮光源。调节位于物镜下方的玻璃片,使反射光线垂直于牛顿环装置,此时显微镜视场中亮度应达到最大。 2. 调节目镜焦距,看清叉丝。由下而上缓慢移动显微镜筒,直到视场中出现清晰的干涉圆环。 3. 观察干涉条纹的形状及分布规律。移动显微镜筒及牛顿环的位置,使得十字叉丝中心与干涉圆环中心重合。 4. 转动测微鼓轮,使叉丝向右(左)移动并记下叉丝移过的暗环级数,使其对准第35环。然后向左(右)移动鼓轮,从第32环开始测量并记录数据于表格中,直到完成表中所有的数据记录。 注意事项: 1. 牛顿环装置不得随意拆卸,以免找不到透镜凸面。 2. 调焦时望远镜筒应自下而上移动,反向移动可能压坏牛顿环装置。 3. 测量牛顿环直径时,手轮必须沿同一方向移动。以避免由于螺距差的存在而引起测量误差。

扩展实验—测量两根头发丝的直径差 实验目的: 1.观察和研究等厚干涉现象及其特点。 2.学会用光的干涉原理测量两个微小细丝的直径差。 实验器材: 读数显微镜、光源、玻璃板、头发丝 实验原理及原理图: 图-3 干涉原理图 设D1和D2分别为两根头发丝的直径,K为两根头发丝间所含的干涉暗纹数目,λ为入射光波长。则两个头发细丝间的直径差为△D=D1-D2=Kλ/2(见讲义P127)。 实验内容: 1.将待测的头发丝夹在两块玻璃间,然后置于显微镜载物台上。头发丝应与玻璃板窄边平行,且可以用读数显微镜测出其距离。 2.参考牛顿环实验的调节过程,用显微镜观测干涉现象并与牛顿环比较。 3.测出两根头发细丝间的距离L:转动读数鼓轮,在显微镜中找到头发丝的像,设其中一根所在的位置为L1 ,另一根的位置为L2,则L=︱L1-L2︱。 , 4.用读数显微镜找到一段清晰的干涉条纹,计某一暗纹的位置为l1,移动十字叉丝使其移过n(20或30 )条暗纹,记下位置l2,则单位长度内的暗纹数目为n/∣l -l2∣。 1 5.两根头发丝间所含暗纹数目为K=n L/∣l1-l2∣。 6.代入公式计算头发丝直径差。 表1 测量头发丝直径差数据记录表 注意事项: 1.读数时显微镜筒应沿一个方向移动。 2.单位长度的条纹数n/∣l1-l2∣,既可在L1和L2之间测量,也可在L1或L2之外测量。

等厚干涉实验报告

等厚干涉实验报告 引言: 等厚干涉实验是一种常见的光学实验方法,通过利用光的干涉现象研究光的特性和性质。干涉是指两束或多束光波在相遇时相互叠加、合成或抵消的现象。等厚干涉实验旨在观察和研究光的干涉效应,并对其进行定量测量和分析。本文将介绍等厚干涉实验的实验原理、步骤和实验结果,旨在帮助读者更好地理解和掌握这一实验方法。 一、实验原理: 等厚干涉实验是基于光的干涉现象展开的实验。干涉是由于光的波动性质导致的。当两束或多束光波相遇时,在特定条件下,它们会产生加强或抵消的现象。等厚干涉实验是通过利用两片等厚透明物体之间存在的遮断和不遮断的区域,观察干涉现象并进行分析。在等厚透明物体之间,光经过折射和反射,当其路径差为波长的整数倍时,光波会相互加强,形成亮纹;当路径差为波长的奇数倍时,光波会相互抵消,形成暗纹。通过观察亮纹和暗纹的分布,可以推测等厚透明物体的厚度和折射率等光学参数。 二、实验步骤:

1. 准备实验所需材料:等厚透明物体(如玻璃片)、光源(如 激光)、光屏等。 2. 将等厚透明物体放置在光源和光屏之间,使其呈现重叠的光斑。 3. 观察光屏上的干涉图样。可以看到明暗相间的亮纹和暗纹。 4. 通过调整等厚透明物体的位置和角度,观察干涉图样的变化。 三、实验结果与分析: 在等厚干涉实验中,我们观察到了明暗相间的干涉图样,进一 步分析得到以下实验结果和结论: 1. 干涉图样的亮纹和暗纹分布呈现交替排列的规律,它们是由 于光波相位差的不同导致的。 2. 干涉图样的亮纹和暗纹间距与等厚透明物体的厚度和入射光 波的波长有关。通常情况下,等厚透明物体的厚度越大,亮纹和 暗纹的间距越大。 3. 通过计算干涉图样中相邻亮纹和暗纹的间距,我们可以获得 等厚透明物体的折射率和厚度等光学参数。

牛顿环等厚干涉标准实验报告

牛顿环等厚干涉标准实验报告 本次实验是牛顿环等厚干涉标准实验,主要是通过实验观察和研究等厚干涉现象,探究光的传播和干涉规律。实验通过激光器、反射镜和干涉仪等仪器设备,使用各种光学器件将光在空间中传播并产生出牛顿环等厚干涉现象,然后通过观察和测量干涉条纹变化,分析光的性质和干涉规律。 一、实验原理 牛顿环等厚干涉是一种光学干涉现象,通常表示为平行两个平行透明介质之间的光的干涉。在一个带有凸透镜的单色光源下,透过玻璃片和钢化玻璃之间的空气层之后,可以观察到一系列颜色相间的环形干涉带。这些干涉带是由交替的明暗环组成的,其中暗环是由干涉引起的,而亮环是由衍射产生的。 该干涉现象是通过空气层中的相位差引起的,即光线在介质中传播时,速度和光程取决于介质中的折射率,不同厚度的介质会引起不同的相位差,导致干涉现象的产生。在该实验中,使用平行玻璃片制成一个气膜,在光经过气膜后形成一系列环状干涉带。这些干涉带间距相等,并且与气膜的厚度成正比,即同一色环的中心是等径分布的。 二、实验步骤 1.将干涉仪放置在光学桌上,并将光路调整到较好的状态下。 2.开启激光器将光束引入反射镜,然后将光线引入干涉仪中。该光线将通过反射镜和凸透镜,然后进入到平行玻璃片中产生光程差,形成牛顿环等厚干涉现象。 3.观察干涉现象,调整接收屏幕的位置,以使干涉条纹清晰可见。 4.使用显微镜或刻度尺等工具直接测量各个干涉环的半径,并记录在实验记录表格中。 5.改变光的颜色,观察干涉环的变化。 三、实验结果及分析 根据观测的干涉现象和测量得到的数据,可以得出以下结论: 1.牛顿环等厚干涉中,相邻两个暗环和亮环之间的间距相等,与气膜的厚度成正比,证明光是折射在气膜内部的。 2.随着光的波长的变化,干涉环的半径也会发生变化。当光的波长变化很小时,干涉环的半径变化也很小;而当光的波长变化较大时,干涉环的半径变化也较大。

等厚干涉实验1

等厚干涉实验 【实验目的】 1.观察等厚干涉现象及其特点。 2.用牛顿环测平凸透镜的曲率半径。 3.用劈尖干涉测量微小厚度。 4.学会使用读数显微镜。 【实验仪器】 读数显微镜、牛顿环、劈尖、钠光灯 【实验原理】 1. 牛顿环 牛顿环属于分振幅等厚干涉现象。干涉现象在科学研究和工业技术中有着广泛的应用,如测量光波波长、精确测量微小物体的长度、厚度和角度,检查光学元件、精密机械表面的光洁度、平整度,研究机械零件内应力分布以及测量半导体器件上镀膜厚度等。 在一块平玻璃片B上,放一曲率半径R很大的平凸透镜A,在A、B间形成一从中间向四周渐渐加厚的空气薄膜,以接触点O为中心的圆周上空气膜的厚度相等。当单色平行光束垂直地射向平凸透镜时,在空气膜的上下表面(平凸透镜的下表面和平面玻璃的上表面)所反射的两束光因存在一定的光程差而相互干涉。从透镜上侧俯视,干涉图样是以两玻璃接触点O为圆心的一系列明暗相间的同心圆环,称为牛顿环。它是等厚干涉图样,空气膜厚度相同的点都处于同一条纹上。 图1 实验光路图及牛顿环

设第k 级环的环半径为k r ,该处空气膜厚度为e ,波长为λ,显然有下列干涉条件成立: λλ k e =+2 2 (k =1,2,3,…) 明环 (1) 2 ) 12(2 2λ λ +=+ k e (k =0,1,2,…) 暗环 (2) 式中的2λ 是由于从空气膜的下表面反射的反射光有半波损失。中心处0=e ,形成中央 暗斑。从图1(b )中的三角形得 22222)(e Re e R R r k -=--= 因e R >>,所以22e Re >>,可以把上式中2 e 略去,于是 R r e k 22 = (3) 上式说明e 与2k r 成正比,所以离开中心愈远光程差增加愈快,牛顿环也变得愈来愈密。 把(3)代入(2),求得暗环半径为: λkR r k = (4) 如果测量第k 级暗环的半径,必须确定环心的位置,也就是牛顿环中央暗斑的中心位置,实验中这一位置不易确定,于是第k 级暗环的半径不易测准,为此,把(4)变成牛顿环直经k D 表达式: λkR r D k k 22== λkR r D k k 4422 == 对m 级和n 级暗环有 λmR D m 42= λnR D n 42= 二式相减,得: λ )(42 2n m D D R n m --= (5) 由(5)式通过测量暗环直径计算出平凸透镜的曲率半径R ,可克服测量暗环半径环心不容易确定的困难。 2. 读数显微镜 读数显微镜是用于精确测量直线长度的光学仪器。一般的显微镜只有放大物体的作用,不能测量物体的大小。如果在显微镜上装上十字叉丝,并把镜筒固定在一个可以左右或上下移动的托板上,而托板移动的距离由螺旋测微器读出来,则这样改装的显微镜称为读数显微镜。 JXD-Bb 型读数显微镜的结构和调整方法 ① 使用时,将待测物体用压板15固定在工作台面16上,通过大手柄10和小手柄12调节镜管20部分的升降及水平位置,使物镜18对准物体的待测部分。将大手柄和小手柄锁紧。 ② 转动棱镜盒4至便于观察的位置,并用锁紧螺钉5固定。

等厚干涉

实验十二 等厚干涉——牛顿环、劈尖 牛顿环与劈尖干涉都是由振幅分割法产生的等厚干涉。牛顿环在检验光学元件的球面度、材料的平整度、测量透镜的曲率半径等方面有着重要的应用,劈尖干涉常用于测定细丝直径及薄片的厚度,也可以用来检验光学元件表面的光洁度和平整度。 【实验目的】 一、观察牛顿环和劈尖产生的等厚干涉条纹并认识其特性; 二、学习用干涉法测量透镜的曲率半径和薄片厚度(或微小直径); 三、掌握使用读数显微镜的正确方法。 【实验原理】 图12.1 牛顿杯 一、牛顿环 一块曲率半径较大的平凸透镜的凸面置于一光学玻璃板上,在透镜凸面和平玻璃板间就形成从中心向周边逐渐增厚的空气薄膜。当以平行单色光垂直入射时,入射光将在空气膜下缘面与上缘面反射的光,在空气膜上缘面附近相遇而干涉,出现以接触点为中心的一系列明暗交替的同心圆环,即牛顿环。如图所示, 由图12.1(b)可知 R 2 = r 2+(R – e ) 2 其中R 为透镜的曲率半径,与接触点相距r 处的空气薄膜厚度为e , 化简后得到 r 2 = 2eR - e 2 由于空气薄膜厚度远小于透镜的曲率半径,即e 《R ,则可略去二级小量e 2 。于是得 e = r 2 /2R (12.1) 由光路分析可知,与第k 级条纹对应的两束相干光的光程差为 2 2λ δ+ =k e (12.2) e k 为第k 级条纹对应的空气膜的厚度。 将(12.1)代入(12.2),得 2 2 λ δ+=R r k

由干涉条件可知,暗纹的条件是2 )12(22λ λδ+=+= k R r ,于是得 λkR r k =2 (k = 0,1,2…) (12.3) 观察牛顿环时将会发现,牛顿环中心不是一点,而是一个不甚清晰的,不完全规则的暗 的或者亮的圆斑。其原因是透镜和平玻璃板接触时,由接触压力引起明显的表面形变,使接触处为一圆面,故其附近圆环的直径不能按式(12.3)计算;再则,镜面上可能有微小灰尘,“接触点”实际上有间隙,从而引起附加的光程差,这时也就不能确定某环的级数k 。这些都会给测量带来较大的系统误差。 根据(12.3)式,可得λmR r m =2 , λnR r n =2 两式相减,得λR n m r r n m )(22-=-,因m 、n 有着不确定性,利用n m -这一相对性测 量恰好消除了有绝对测量的不确定性带来的误差。 又因暗环圆心不易确定,故取暗环的直径来替换半径,得 λR n m D D n m )(42 2-=- 因而,透镜的曲率半径R 为 ()λ --=n m 4D D R 2n 2m (12.4) 由至于测出的是近中心的干涉环的弦长而非真正的直径,这对实验结果并没有影响,从几何学上可以证明:任意两干涉环的直径的平方差等于它们的弦长的平方差。 二、劈尖干涉 将两块光学平玻璃板迭在一起,一端插入一薄片(或细丝等),则在两玻璃板间形成一空气劈尖。当用单色光垂直照射时,和牛顿环一样,在劈尖薄膜上下两表面反射的两束光发生干涉,产生平行于两块玻璃面交线的等距干涉条纹。 两束反射光的光程差为 2 2λ δ+=k e 形成暗条纹的条件为 () 2 122 2λ λ δ+=+=k e k (k=0,1,2……) 与k 级暗条纹对应的薄膜厚度为 2 k e k λ = (12.5) 利用此式,可知相邻暗(或亮)条纹的空气薄膜厚度差为λ/2,相隔N 级暗(或亮)条纹的空气薄膜厚度 差为N λ/2。 图12.2 劈尖干涉

等厚干涉实验报告数据

等厚干涉实验报告数据 等厚干涉实验报告数据 等厚干涉实验是一种常见的光学实验,通过光的干涉现象来研究光的性质和波动特性。在这篇文章中,我将介绍一些等厚干涉实验的基本原理和实验数据,并讨论其应用和意义。 等厚干涉实验是利用光的干涉现象来观察透明薄片的厚度变化。当一束平行光照射到透明薄片上时,光线会经过薄片的两个表面,发生反射和折射。如果薄片的厚度是均匀的,光线在薄片内部会发生干涉现象,形成明暗条纹。 在实验中,我们使用一台干涉仪来观察等厚干涉现象。干涉仪由一束光源、一个分束器和一个合束器组成。光源发出的光经过分束器分成两束,一束照射到透明薄片上,另一束照射到参考平面上。两束光线再次合并,形成干涉条纹。通过观察干涉条纹的变化,我们可以得到薄片的厚度信息。实验数据显示,当薄片的厚度变化时,干涉条纹的间距也会发生变化。当薄片的厚度增加时,干涉条纹的间距变大;当薄片的厚度减小时,干涉条纹的间距变小。通过测量干涉条纹的间距,我们可以计算出薄片的厚度。 等厚干涉实验在科学研究和工程应用中具有广泛的应用价值。首先,它可以用来研究光的波动性质和干涉现象。通过观察干涉条纹的变化,我们可以验证光的波动理论,并探索光的传播规律和折射定律。其次,等厚干涉实验可以用来测量透明薄片的厚度。在材料科学和光学工程中,我们经常需要测量薄片的厚度,以便控制产品的质量和性能。等厚干涉实验提供了一种非接触、精确测量薄片厚度的方法。此外,等厚干涉实验还可以用来研究光学材料的光学性质和折射率。通过观察干涉条纹的形态和变化,我们可以推断材料的折射率,并进

一步研究材料的光学特性。 在实际应用中,等厚干涉实验还可以结合其他技术和方法进行更深入的研究。例如,我们可以将等厚干涉与激光技术相结合,实现更高精度的测量。激光光源具有高亮度和单色性的特点,可以提供更稳定的干涉条纹和更精确的测量结果。此外,等厚干涉实验还可以与数字图像处理技术相结合,实现自动化数据采集和分析。通过对干涉条纹图像的处理和分析,我们可以快速、准确地获取薄片厚度的信息。 综上所述,等厚干涉实验是一种重要的光学实验方法,通过观察干涉条纹的变化来研究光的性质和波动特性。实验数据显示,干涉条纹的间距与薄片的厚度密切相关。等厚干涉实验在科学研究和工程应用中具有广泛的应用价值,可以用来测量薄片的厚度、研究材料的光学性质,并结合其他技术和方法进行更深入的研究。通过不断改进和创新,等厚干涉实验将为光学领域的发展和应用做出更大的贡献。

等厚干涉现象的观测

实验一光的等厚干涉现象的观测 【目的与任务】 1、学习使用移测显微镜; 2、观察光的等厚干涉现象,研究等厚干涉现象的规律和条件; 3、利用等厚干涉测量平凸透镜的曲率半径和微小厚度; 4、学习用逐差法处理实验数据的方法。 【仪器与设备】 移测显微镜(又称读数显微镜、比长仪)、牛顿环仪、低压钠灯。 1、移测显微镜结构如图1所示。它由光学部分和机械部分构成,光学部分是一个长焦距显微镜,机械部分主要是底座、由丝杆带动的滑台以及读数标尺等。其测长原理与千分尺相同,可以精确读到0.01mm,估读到0.001mm。 2、移测显微镜的操作方法: (1)将移测显微镜安放平稳,大致对准待测物; (2)反复调整显微镜目镜,直到能够看清目镜里的叉丝; (3)缓慢调节物镜的调焦手轮使显微镜聚焦,直到清楚地看到待测物,并尽可能消除视差;(消除视差的判断标准:当眼睛左右移动时,通过显微镜看去,叉丝和待测物的像之间无相对移动。) (4)转动鼓轮手柄使显微镜移动,让叉丝对准被测起点,记录一读数,继续转动鼓轮手柄使叉丝对准被测终点,再记录此时的读数,两次读数之差即被测两点的间距。 3、牛顿环仪:是一种干涉装置。由一曲率半径相当大的平凸透镜放在光学玻璃平板(平晶)的上面构成,如图2所示。 图1移测显微镜结构图 原理与方法】 图2牛顿环仪示意图 1、牛顿环干涉现象 牛顿环是牛顿于1657年在制作天文望远镜时,偶然将一个望远镜的物镜放在平玻璃上

发现的,由图2知在透镜的凸面与平板玻璃之间形成以接触点O为中心向四周逐渐增厚的空气薄膜,离O点等距离的地方厚度相同。等厚膜的轨迹是以接触点O为中心的圆。若以波长为九的单色光垂直照射到该装置上时,其中一部分光线在空气膜上表面反射,一部分在空气膜下表面反射,因此产生两束具有一定光程差的相干光,当它们相遇后就产生干涉现象。因在膜厚度相同的地方具有相同的光程差,所以形成的干涉条纹为膜的等厚各点的轨迹。当在反射方向观察时(见如图3a),将会看到一组以接触点为中心的明暗相间的圆环形干涉图样,且中心是一暗斑,如图3b所示。如果在透射方向观察(见如图4a),则看到的干涉图样与反射光的干涉图样的光强分布恰为互补,中心是亮斑,原来的亮环处变为暗环,暗环处变为亮环,如图4b所示。这种干涉现象为牛顿最早发现,故称为牛顿环。显然,牛顿环是等厚干涉。 图3a:反射光束形成牛顿环的光路图图4a:透射光束形成牛顿环的光路图 图3b:反射光束形成的干涉图样图4b:透射光束形成的干涉图样设透镜的曲率半径为R,第m级干涉圆环的半径为r,其相应的空气膜厚度为d,mm 对图3b由反射光束形成的干涉图样而言,空气膜上、下表面两反射光的光程差为 (1) 这里假定空气的折射率等于1(以下推导均同),其中,V2是空气膜下表面反射光线由光

大物实验报告-光的等厚干涉

大学物理实验报告实验名称:光的等厚干涉 学院:机电工程学院 班级:车辆151班 姓名:吴倩萍 学号:5902415034 时间:第8周周三下午3:45开始 地点:基础实验大楼313

一、实验目的: 1.观察牛顿环和劈尖的干涉现象。 2.了解形成等厚干涉现象的条件及特点。 3.用干涉法测量透镜的曲率半径以及测量物体的微小直径或厚度。 二、实验仪器: 牛顿环装置、钠光灯、读数显微镜、劈尖等。 三、实验原理: 在平面玻璃板BB上放置一曲率半径为R的平凸透镜AOA,两者之间便形成一层空气薄层。当用单色光垂直照射下来时,从空气上下两个表面反射的光束1和光束2在空气表面层附近相遇产生干涉,空气层厚度相等处形成同一级的干涉条纹,这种干涉现象称为等厚干涉。 1.用牛顿环测量平凸透镜表面的曲率半径 (1)安放实验仪器。(2)调节牛顿环仪边框上三个螺旋,使在牛顿环仪中心出现一组同心干涉环。将牛顿环仪放在显微镜的平台上,调节45°玻璃板,以便获得最大的照度。(3)调节读数显微镜调焦手轮,直至在显微镜内能看到清晰的干涉条纹的像。适当移动牛顿环位置,使干涉条纹的中央暗区在显微镜叉丝的正下方,观察干涉条纹是否在显微镜的读数范围内,以便测量。(4)转动测微鼓轮,先使镜筒由牛顿环中心向左移动,顺序数到第

24暗环,再反向至第22暗环并使竖直叉丝对准暗环中间,开始记录。在整个测量过程中,鼓轮只能沿同一个方向依次测完全部数据。将数据填入表中,显然,某环左右位置读数之差即为该环的直径。用逐差法求出R,并计算误差。 2.用劈尖干涉法则细丝直径 (1)将被测细丝夹在两块平板玻璃的一端,另一端直接接触,形成劈尖,然后置于读数显微镜载物台上。(2)调节叉丝方位和劈尖放置方位,使镜筒移动方向与干涉条纹相垂直,以便准确测出条纹间距。(3)用读数显微镜测出20条暗条纹间的垂直距离l,再测出棱边到细丝所在处的总长度L,求出细丝直径d。(4)重复步骤3,各测三次,将数据填入自拟表格中。求其平均值。 四、实验内容: 观察牛顿环 (1)接通钠光灯电源使灯管预热。 (2)将牛顿环装置放置在读数显微镜镜筒下,并将下面的反射镜置于背光位置。 (3)待钠光灯正常发光后,调节光源的位置,使450半反射镜正对钠灯窗口,并且同高。 (4)在目镜中观察从空气层反射回来的光,整个视场应较亮,颜色呈钠光的黄色,如果看不到光斑,可适当调节45度半反射

光的等厚干涉实验报告

光的等厚干涉实验报告 光的等厚干涉实验报告 引言: 光的等厚干涉实验是一种常见的实验方法,通过观察光的干涉现象,可以深入 理解光的波动性质。本实验旨在通过实际操作,观察和分析光的等厚干涉现象,并探究其原理和应用。 实验器材和原理: 实验所需器材包括光源、透明平板、反射镜、干涉条纹观察装置等。光源发出 的光经透明平板后会发生折射和反射,形成两束光线。当两束光线相遇时,由 于光的波动性质,会出现干涉现象。干涉现象的产生是由于光的波长相同,相 位差满足一定条件时,会出现干涉条纹。 实验步骤: 1. 将光源放置在适当位置,保证光线能够通过透明平板。 2. 调整透明平板的位置和角度,使得透明平板能够将光线分为两束。 3. 将反射镜放置在适当位置,使得反射镜能够将两束光线引导到同一位置。 4. 在观察装置上观察干涉条纹,并调整透明平板的位置和角度,观察条纹的变化。 实验结果和分析: 通过实验观察,我们可以看到在观察装置上出现了一系列明暗相间的干涉条纹。这些条纹呈现出一定的规律性,通过观察条纹的变化,我们可以得出以下结论:1. 条纹的间距与波长相关:在实验中,我们可以通过调整透明平板的位置和角度,观察到干涉条纹的间距发生变化。根据干涉条纹的间距变化,我们可以推

断出光的波长。通过实验计算,我们可以得到光的波长。 2. 条纹的明暗变化与相位差相关:条纹的明暗变化是由于两束光线的相位差引 起的。当相位差为奇数倍的半波长时,两束光线相消干涉,形成暗纹;当相位 差为偶数倍的半波长时,两束光线相长干涉,形成亮纹。通过观察条纹的明暗 变化,我们可以计算出两束光线的相位差。 应用: 光的等厚干涉实验在实际应用中有着广泛的应用价值。以下是几个常见的应用 领域: 1. 光学薄膜的制备:在光学薄膜的制备过程中,光的等厚干涉实验可以用于控 制薄膜的厚度和质量。通过观察干涉条纹的变化,可以对薄膜的厚度进行精确 控制,从而得到所需的光学性能。 2. 光学测量:在光学测量领域中,光的等厚干涉实验可以用于测量物体的形状 和表面粗糙度。通过观察干涉条纹的变化,可以计算出物体的高度差和表面形貌,从而实现精确的测量。 3. 光学显微镜:在光学显微镜中,光的等厚干涉实验可以用于观察细胞和组织 的结构。通过观察干涉条纹的变化,可以得到细胞和组织的形态和内部结构信息,从而实现高分辨率的显微观察。 结论: 通过光的等厚干涉实验,我们可以深入理解光的波动性质,并通过观察干涉条 纹的变化,得到光的波长和相位差的信息。光的等厚干涉实验在光学领域有着 广泛的应用,可以用于光学薄膜的制备、光学测量和光学显微镜等领域。通过 实际操作和观察,我们可以更好地理解光的干涉现象,深入探究光的波动性质。

等厚干涉实验报告

等厚干涉实验报告 LT

一、实验目的: 1.、观察牛顿环和劈尖的干涉现象。 2、了解形成等厚干涉现象的条件极其特点。 3、用干涉法测量透镜的曲率半径以及测量物体的微小直径或厚度。

二、实验原理: 1.牛顿环 牛顿环器件由一块曲率半径很大的平凸透镜叠放在一块光学平板玻璃上构成,结构如图所示。 当平行单色光垂直照射到牛顿环器件上时,由于平凸透镜和玻璃之间存在一层从中心向外厚度递增的空气膜,经空气膜和玻璃之间的上下界面反射的两束光存 在光程差,它们在平凸透镜的凸面(底面)相遇后将发生干涉,干涉图样是以接触点为中心的一组明暗相间、内疏外密的同心圆,称为牛顿环(如图所示。由牛顿最早发现)。由于同一干涉圆环各处的空气薄膜厚度相等,故称为等厚干涉。牛顿环实验装置的光路图如下图所示: 设射入单色光的波长为λ,在距接触点r k处将产生第k级牛顿环,此处对应的空气膜厚度为d k,则空气膜上下两界面依次反射的两束光线的光程差为

相间的等距平行条纹, 属于等厚干涉。 干涉条件如下: 2)12(22λ λδ+=+=k d k k 可知, 第k 级暗条纹对应的空气劈尖厚度为 2 λ k d k = 由干涉条件可知, 当k=0时d 0=0, 对应玻璃板的搭接处, 为零级暗条纹。 若在待测薄物体出出现的是第N 级暗条纹, 可知待测薄片的厚度(或细丝的直径)为 2λN d = 实际操作中由于N 值较大且干涉条纹细密, 不利于N 值的准确测量。 可先测出n 条干涉条纹的距离l , 在测得劈尖交线到薄片处的距离为L , 则干涉条纹的总数为: L l n N = 代入厚度计算式, 可得厚度/直径为: L l n d 2λ= 三、实验仪器: 牛顿环装置,钠光灯,读数显微镜,劈尖,游标卡尺 k=0, 1,

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