实验一等厚干涉现象的研究与应用

实验一 等厚干涉现象的研究与应用

1、在凸透镜和平玻片的接触处e K =0,δ=π2

,故牛顿环中心为暗斑。环中心出现亮斑是因为球面和平面之间没有紧密接触(接触处有尘埃,或有破损或磨毛),从而产生了附加光程差。这对测量结果并无影响

2.牛顿环的各环不等宽,中间宽边缘窄;环密度也不均匀,中间密边缘稀。这是由干涉公式决定的。

3.能测量凹透镜的曲率半径。

4.这是由于灰尘或凸透镜和平板玻璃不规则造成的。

实验二 分光计的应用

1.光栅光谱是不连续光谱;棱镜光谱是连续光谱。光栅光谱是由光栅衍射产生的而棱镜光谱是由不同波长的光对玻璃的折射率不同产生的折射角不同产生的。

2.这对棱镜衍射角没有影响。

3.狭缝的宽度太宽测量光谱不准确且分不开黄1和黄2光谱;狭缝的宽度太窄则狭缝的亮度又太弱,不宜于测量。

4.表征光栅特征的参数除了光栅常数d 外,还有光栅的角色散率ψ=d ϕd λ =k dcos ϕk

和光栅的分辨率本领 R =λ∆λ

=kN (实际值小于理论估计值KN );在垂直入射条件下,只要测出光栅常数d 、光谱级数k 和与之相应的ϕk ,就可以求出光栅的角色散率ψ;若测出光栅常数d 、光谱级数k 和暴露在入射光束中的光栅宽度L ,就可以求出光栅的分辨本领R =kN

5.超声驻波在液体中传播时,其声压使液体分子的分布产生变化,某时刻纵驻波的任一波节两边的质点都涌向这个节点,使该节点附近的成为质点密集区,而与之相邻的两波节处由于质点远离并涌向密集区而成为质点稀疏区。这样就在液体中形成周期性的互相交替的一组密集区和稀疏区。在这样的液体中,稀疏区液体折射率减小,而密集区液体折射率增大。所以,沿驻波方向,液体折射率是以超声波波长为周期 进行分布的。任意距离等于波长的两点处,液体的密度相同,折射率也相同。

6.液体中超声波的波长为:k

k x f k k λϕλλ==sin ,超声驻波在液体中传播时,其声压使液体分子的分布产生变化,在液体中形成周期性的互相交替的一组密集区和稀疏区。在这样的液体中,稀疏区液体折射率减小,而密集区液体折射率增大。所以,沿驻波方向,液体折射率是以超声波波长为周期 进行分布的。任意距离等于波长的两点处,液体的密度相同,折射率也相同。

实验三 迈克尔逊干涉仪的应用

1、装在导轨上的动镜M 1 ,通过传动系统与丝杆相连。微调鼓轮与丝杆间通过蜗轮蜗杆的传动方式连结。转动微调鼓轮时,M 1 在导轨上移动。由于螺母与丝杆有间隙,反向旋转鼓轮时,M 1 并未随之马上反向移动,而鼓轮上的读数已经发生变化,这便造成了空程误差。在测量中只沿一个方向转动微调鼓轮,中途不反转,则可避免引入空程。

2.根据在M 1 与M 2/ 的交线处,d=0,δ=0,对应的干涉条纹称中央明纹。在交线两侧

附近,因d 和θ都很小,上式中d θ2可忽略,δ=2d ,所以条纹近似直线。而离交线较远处,

d θ2 不能忽略,所以干涉条纹随d 的增大而由直变弯。

3.当M2与M1完全平行时,迈克尔逊干涉仪产生等倾干涉。当干涉条纹完全是圆形条纹时就确实是等倾干涉条纹。

4.光程差0=δ时,称M1、M2两臂为等光程。M2的位置为等光程位置。测量步骤如下:激光等倾的情况下,增大光的入射角,即透镜贴近分光板;转动粗动手轮使条纹变度变少至4条左右,调微调螺钉,让上呈现等倾、等厚混合型条纹;确定微动手轮的旋转方向,即直条纹进视场的方向;白炽灯3替代透镜,去掉光屏,眼睛注视M2按予定方向转动微动

手轮,当看到彩色条纹时,M2的位置即等光程位置。

5.去掉透镜,调平面镜背面螺钉,重新让两束相干光相遇。

实验四 示波器的结构原理及其应用

1.电子束线偏离z 轴(即荧光屏中心)的距离ε与偏转板两端的电压V 2成正比,与加速极的加速电压成反比。

2.如果V 1和V 2的电势调节适当,电子就会加速飞过电子枪,并受到指向轴线的中心会聚力,因而由交叉点散射的电子束在荧光屏上会聚成一个非常细小的光斑,常称为聚焦的光。理论与实验证明了,不管亮度如何,聚焦的条件都是:常数≈=12/V V G ;由于V2> V1,因此G>1,这样的聚焦称为正向聚焦,若V2

3.在两个第二阳极A 2之间设有一个特殊形状的第一阳极,给第一阳极加上比第二阳极低的电位(例如第二阳极1200V ,第一阳极255V ),由于第一阳极和第二阳极之间有电位差,其特殊形状的电极构成电子透镜,电子透镜能会聚射向荧光屏的电子束。电子透镜聚焦条件由第二阳极A 2上的电位U 2和第一阳极A 1上的电位U 1之比决定,调节聚焦U 1和辅助聚焦U 2就是调节两电位之比;而由阴极热激发的电子经第二阴极加速后,在到达荧光屏之前,还要经过由水平偏转极板和垂直偏转极板所围成的空间。在偏转极板上加上几十伏特的偏转电压。当电子穿过偏转极中间时,由于受电场力的作用而使电子束偏离直线。偏转电压越大,电场力越大,荧光屏上的亮点偏离荧光屏中心越远。

4.当在示波管(又称电子束线管)的偏转板上加交流电压,电子在偏转板中上下震荡,不会到达荧光屏上。

实验五 冲击电流计的测量原理及应用研究

1.探测线圈匝数一般要做几千匝,但又要做得很短是探测线圈在螺线管磁场中感应的磁场更大一些,且测量更准确。

2.因为冲击常数与电流计回路的总电阻R 有关,而R 为电流计回路的总电阻(它等于电流计内阻、探测线圈电阻、互感线圈次级电阻及外电阻之和

3.冲击电流计与灵敏电流计基本结构、测量对象、振动周期、读数方式均不同。 实验六 数字万用表的设计与应用

1.最常见的数字表头的最大示数为1999,被称为三位半数字表;数字表头的最大示数为19999被称为四位半数字表;分辨率分别为1/1999和1/19999。

2.200mV 、 2V 、20V 、200V 和2000V 的分压比分别为l 、0.1、0.01、0.001和0.0001, 实验七 霍耳元件的应用

1.当磁场与霍耳元件Ib 平面不完全正交,即有Ib αcos 由于余弦值αcos 总小于1。故I K U B H H /=算出在磁场强度比实际值小。要准确测量磁场在实验时应缓慢转动霍耳元件直到U为最大值。

2.载流子(电子)的运动轨道自左向右,向上弯曲。磁场方向反转对等位线,不产生影响。

3.C 4.B 5.A

实验八 电桥的应用

1.当某些传感元件受外界环境(压力、温度、光强等)变化引起其内阻的变化不明显时,用平衡电桥较好;某些传感元件受外界环境(压力、温度、光强等)变化引起其内阻的变化,通过用非平衡电桥可将阻值转化为电流输出,从而达到观察、测量和控制环境变化的目的.

2.当电桥达到平衡时,若互换电源与检流计位置,电桥仍达到平衡。

3.检流计指针总偏向一边,可能是比率臂(倍率)C 选择不恰当,此时只要改变C 的值,就能使指针偏向另一边。另一种可能是四个桥臂中有一个桥臂断开,或者两个正对的桥臂同时断开。

等厚干涉实验报告资料

等厚干涉实验报告资料 等厚干涉实验是一种利用光的干涉现象来确定样品厚度的技术。其原理基于干涉仪的 干涉原理,通过光路调节使两束光在样品内发生干涉,观察到干涉条纹后测算出样品的厚度。等厚干涉实验具有非接触、无损、快速、准确等特点,适用于各种透明材料的表面形 貌和厚度测量。 1. 实验原理 光的干涉是指两束光相遇后的互相作用,使其中某些区域出现亮度变化的现象。等厚 干涉实验利用双色光源,一束为白光,一束为单色光,特定波长的光经过样品内部时,由 于光速与样品折射率的不同而发生相位变化,造成两束光相遇时发生干涉现象。 图1 等厚干涉实验示意图 等厚干涉实验通过调节干涉仪的光路使两束相干光在样品内部发生干涉,当两束光程 差相等时,光波能互相干涉而形成一系列黑白相间的等厚干涉条纹;当两束光程差增大时,色序向红移;当两束光程差减小时,色序向蓝移。 样品的厚度可以通过两色干涉线的波长差和光程差计算得到。假设样品厚度为d,两 束光在样品中的光程差为Δ,则可以用下列公式计算样品厚度: d = (m+n/2)λ/2 其中,λ是两种单色光的波长差,m是等厚干涉条纹数,n是横向平移的过半条纹 数。 2. 实验设备 等厚干涉仪由光源、分束器和合束器、干涉玻璃片、样品台、目镜、高度调节装置等 组成。 实验过程中主要使用的实验设备包括: (1)干涉仪 (2)光源 (3)电子显微镜 (4)样品 (5)计算机

3. 实验步骤 实验前需首先调节干涉仪的光路使其达到最优状态,保证等厚干涉实验的准确性。接下来的实验步骤如下: 步骤一:设置样品 将待测样品放在样品台上,并确保样品表面平整、无明显瑕疵和气泡。 步骤二:调节干涉仪 开启干涉仪并采用最大亮度方法进行幅度调节。调节分束器和合束器使两束光经过样品传播后干涉线条清晰明显。 步骤三:测量样品厚度 通过目镜观察到等厚干涉条纹后,使用电子显微镜或计算机软件记录相应的干涉条纹数和横向平移过的条纹数,即可计算出样品厚度。 4. 实验注意事项 (1)样品需要保持平整、光洁,无气泡或明显瑕疵。 (2)在进行干涉实验时需保持实验环境安静,避免干涉仪光路被外来干扰所打断。 (3)根据不同的样品和实验要求,需根据干涉仪的调整实验参数,如光源强度、幅度调整等。 (4)如需用计算机进行数据处理和记录,需对计算机软件了解其基本操作和数据处理技巧。 5. 实验应用 等厚干涉实验在材料科学中广泛应用,如无机晶体、聚合物、光学器件等领域。它的一个主要应用是在玻璃、玻璃纤维和塑料薄膜等生产领域中提供快速、准确的品质检验。 6. 实验结论

等厚干涉实验报告

等厚干涉实验报告 等厚干涉实验是一种重要的光学实验,根据Fizeau原理,通过将两束光束接近相同的光程、波长、偏振和方向,在干涉环境中观察它们的干涉现象。实验可以用于研究材料的光学属性以及光学元件的设计和制造。 实验装置主要由凸面透镜、振幅分束器、反射镜、准直器、照明光源、读出光学元件等部件组成。具体操作步骤如下: 1. 配置实验装置。定位照明光源、凸面透镜和反射镜的 位置,使得光线可以被准确的引导到振幅分束器的两个入射端口上。 2. 调整振幅分束器。调整振幅分束器使其分区比之间的 光程差约为光波长的1/2,开启干涉仪件后调整读出光学元件 的位置和旋转状态,使得读出干涉条纹后,当前光的路径长度相等。 3. 观察干涉现象。根据读数元件显示的干涉图案,判断 两个光束对应的光程是否相等。若干涉条纹是等间距的,则表示光程相等;若干涉条纹不等距,则表示光程差。 通过等厚干涉实验,我们可以得到目标光学材料的折射率、厚度和表面形貌等参数。其中,折射率可以通过测量材料的相对位移来计算得出,厚度则可以从空气中干涉带的数量和宽度并结合折射率公式进行计算。

此外,等厚干涉实验对于验证材料表面形貌的均匀性也具有重要的作用。不同区域的折射率不一定相等,如果存在表面形貌的偏差,则会产生干涉条纹发生错位的情况,因而通过观察干涉条纹的位置和形态可以得知材料表面是否均匀。 需要注意的是,等厚干涉实验需要高精度的仪器配合操作,同时特别注意光学系统的稳定性和环境的温度变化等因素。实验过程中要严格遵守操作规程,以免影响结果的准确性。 总之,等厚干涉实验是一种非常有用的光学实验,能够大大提高我们的认识和研究光学材料、元件及表面形貌等方面的工作。在实验过程中,需要掌握合适的操作步骤,并积极对实验结果进行记录和分析,以获得准确的结果,并为光学实验提供更好的支持。

光的等厚干涉 实验报告[参考]

光的等厚干涉实验报告[参考] 一、实验原理 等厚干涉是指,当平行的两个平板之间有垂直于平板的光线射入时,由于平板间距和 介质折射率等厚,反射光和折射光在平板内部发生相对相位差,当它们合成时产生的干涉 色彩称为等厚干涉色。同时,由于介质厚度不同,能够产生不同波长干涉色的薄膜高低差,称为牛顿环。 二、实验器材 1. 等厚干涉仪 2. 钠灯 3. 凸透镜 4. 三角形支架 5. 单色滤光片 6. 直角三棱镜 三、实验步骤 1. 开启钠灯,并将光线通过凸透镜做成平行光线。 2. 将直线平板插入实验仪器内,并调节支架保证平板夹持稳定。 3. 调节支架,使得在平板上方观察到明暗交替的干涉带。 4. 插入单色滤光片,观察干涉带间的变化。 5. 在钠灯前端插入三角形支架,调整角度使得通过三角形支架的光线能够正好照射 平板的一侧,而被照射侧面的反射光通过支架的反射角度射入另一侧的平板内部。 6. 在观察镜筒中可以看到由些微异色的干涉环组成的彩色交替带,它是等厚干涉产 生的产物。 四、实验结果 通过上述步骤,我们成功地观察到了等厚干涉产生的彩色干涉带。在平板上方观察到 了明暗交替的干涉带,过滤光以后,较为暗淡的干涉带变得更加清晰,而较明显的干涉带

则逐渐变暗。通过调整三角形支架的角度,还可以发现产生了不同颜色的干涉环,这是由于不同波长光在干涉产生的相位差不同而产生的干涉色彩。 本次实验中,我们通过等厚干涉仪观察到了平板间距以及折射率为常量时产生的干涉色彩。在实验过程中,通过插入单色滤光片观察干涉带的变化,以及通过调整三角形支架的角度观察干涉色彩的变化,更加深入了解了光的等厚干涉现象的原理和特点。

等厚干涉实验报告

等厚干涉实验报告 引言: 等厚干涉实验是一种常见的光学实验方法,通过利用光的干涉现象研究光的特性和性质。干涉是指两束或多束光波在相遇时相互叠加、合成或抵消的现象。等厚干涉实验旨在观察和研究光的干涉效应,并对其进行定量测量和分析。本文将介绍等厚干涉实验的实验原理、步骤和实验结果,旨在帮助读者更好地理解和掌握这一实验方法。 一、实验原理: 等厚干涉实验是基于光的干涉现象展开的实验。干涉是由于光的波动性质导致的。当两束或多束光波相遇时,在特定条件下,它们会产生加强或抵消的现象。等厚干涉实验是通过利用两片等厚透明物体之间存在的遮断和不遮断的区域,观察干涉现象并进行分析。在等厚透明物体之间,光经过折射和反射,当其路径差为波长的整数倍时,光波会相互加强,形成亮纹;当路径差为波长的奇数倍时,光波会相互抵消,形成暗纹。通过观察亮纹和暗纹的分布,可以推测等厚透明物体的厚度和折射率等光学参数。 二、实验步骤:

1. 准备实验所需材料:等厚透明物体(如玻璃片)、光源(如 激光)、光屏等。 2. 将等厚透明物体放置在光源和光屏之间,使其呈现重叠的光斑。 3. 观察光屏上的干涉图样。可以看到明暗相间的亮纹和暗纹。 4. 通过调整等厚透明物体的位置和角度,观察干涉图样的变化。 三、实验结果与分析: 在等厚干涉实验中,我们观察到了明暗相间的干涉图样,进一 步分析得到以下实验结果和结论: 1. 干涉图样的亮纹和暗纹分布呈现交替排列的规律,它们是由 于光波相位差的不同导致的。 2. 干涉图样的亮纹和暗纹间距与等厚透明物体的厚度和入射光 波的波长有关。通常情况下,等厚透明物体的厚度越大,亮纹和 暗纹的间距越大。 3. 通过计算干涉图样中相邻亮纹和暗纹的间距,我们可以获得 等厚透明物体的折射率和厚度等光学参数。

等厚干涉的原理及应用

等厚干涉的原理及应用 等厚干涉是一种光学干涉现象,在等厚介质中发生。当光线通过等厚介质时,由于光线在介质内反射和折射所经历的路径差相等,会发生干涉现象。等厚干涉的原理和应用在科学研究和实际生产中有重要的意义。 等厚干涉的基本原理可以通过菲涅耳半波带来解释。当平行入射的光线通过等厚介质时,会分成两束光线,一束光线反射,另一束光线经介质折射。在介质内,反射和折射光线分别形成一系列等厚的半波带,这些半波带相对于介质表面平行排列。当这两束光线再次相遇时,由于路径差相等,会发生干涉现象。如果在相遇点处,两束光线的相位相同,它们会加强干涉,形成明纹;如果两束光线的相位差为半个波长,它们会相互抵消,形成暗纹。 等厚干涉的应用广泛。以下是几个常见的应用场景: 1. 透射等厚干涉应用于薄膜测量:薄膜测量是等厚干涉的重要应用之一。通过利用等厚干涉的原理,可以测量薄膜的厚度和折射率。常见的测量仪器有菲涅耳干涉仪和Michelson干涉仪。在工业生产中,薄膜的厚度和折射率是非常重要的参数,可以用于检测产品的质量和性能。 2. 干涉仪中的等厚干涉应用:在干涉仪中,如马赫-曾德干涉仪和朗伯干涉仪等,等厚干涉被广泛应用于光学实验和科学研究。通过干涉仪,可以精确测量光线的波长、折射率、透射率等物理参数。干涉仪还可以用于光学元件的测试和校准,

如测量透镜的曲率、平行度等。 3. 等厚干涉在物体表面缺陷检测中的应用:物体表面的缺陷对于产品的质量和外观有很大影响。利用等厚干涉原理,可以检测物体表面的凹凸缺陷。在检测过程中,物体表面上的凹陷会形成干涉条纹,通过观察干涉条纹的变化,可以得到凹陷的大小和形状信息。这种方法被广泛应用于金属、玻璃等材料的表面缺陷检测。 4. 等厚干涉在光学波导器件制造中的应用:光学波导器件是一种能够将光能在波导中传输和控制的元器件。等厚干涉在光学波导器件的制造过程中起到重要的作用。通过等厚干涉的控制,可以实现波导层的厚度均匀,提高波导器件的性能和稳定性。 等厚干涉作为一种重要的光学现象,不仅在科学研究中有着广泛的应用,也在实际生产中起到了重要的作用。通过对等厚干涉原理的研究和应用,可以更好地理解光的性质和行为,同时也为科学研究和工业生产提供了有力的工具。

牛顿环等厚干涉标准实验报告

牛顿环等厚干涉标准实验报告 本次实验是牛顿环等厚干涉标准实验,主要是通过实验观察和研究等厚干涉现象,探究光的传播和干涉规律。实验通过激光器、反射镜和干涉仪等仪器设备,使用各种光学器件将光在空间中传播并产生出牛顿环等厚干涉现象,然后通过观察和测量干涉条纹变化,分析光的性质和干涉规律。 一、实验原理 牛顿环等厚干涉是一种光学干涉现象,通常表示为平行两个平行透明介质之间的光的干涉。在一个带有凸透镜的单色光源下,透过玻璃片和钢化玻璃之间的空气层之后,可以观察到一系列颜色相间的环形干涉带。这些干涉带是由交替的明暗环组成的,其中暗环是由干涉引起的,而亮环是由衍射产生的。 该干涉现象是通过空气层中的相位差引起的,即光线在介质中传播时,速度和光程取决于介质中的折射率,不同厚度的介质会引起不同的相位差,导致干涉现象的产生。在该实验中,使用平行玻璃片制成一个气膜,在光经过气膜后形成一系列环状干涉带。这些干涉带间距相等,并且与气膜的厚度成正比,即同一色环的中心是等径分布的。 二、实验步骤 1.将干涉仪放置在光学桌上,并将光路调整到较好的状态下。 2.开启激光器将光束引入反射镜,然后将光线引入干涉仪中。该光线将通过反射镜和凸透镜,然后进入到平行玻璃片中产生光程差,形成牛顿环等厚干涉现象。 3.观察干涉现象,调整接收屏幕的位置,以使干涉条纹清晰可见。 4.使用显微镜或刻度尺等工具直接测量各个干涉环的半径,并记录在实验记录表格中。 5.改变光的颜色,观察干涉环的变化。 三、实验结果及分析 根据观测的干涉现象和测量得到的数据,可以得出以下结论: 1.牛顿环等厚干涉中,相邻两个暗环和亮环之间的间距相等,与气膜的厚度成正比,证明光是折射在气膜内部的。 2.随着光的波长的变化,干涉环的半径也会发生变化。当光的波长变化很小时,干涉环的半径变化也很小;而当光的波长变化较大时,干涉环的半径变化也较大。

光的干涉杨氏双缝干涉与等厚干涉的实验

光的干涉杨氏双缝干涉与等厚干涉的实验光的干涉:杨氏双缝干涉与等厚干涉的实验 光是一种波动现象,当光波遇到一定条件下的干涉现象时,会产生干涉条纹。本文将重点介绍两种常见的光的干涉实验:杨氏双缝干涉和等厚干涉。通过这两个实验,我们可以更好地理解和观察光的干涉现象,并探索光波的性质和特点。 一、杨氏双缝干涉实验 杨氏双缝干涉实验是由英国物理学家杨振宁于1801年提出的。这个实验是通过在一个平面上放置两个相距较近的狭缝,让单色光通过狭缝后形成的两个光源重叠在屏幕上,从而产生干涉条纹。 实验装置包括:一束单色光、两个狭缝和一个屏幕。首先,将光源转化为单色光源,如使用某种滤光片或干涉仪等。然后在光源之前放置两个细缝,它们的宽度要远小于光的波长。最后,在两个缝的前方放置一个屏幕,用来接收经过双缝的光,并观察干涉条纹。 当单色光通过两个狭缝之后,在屏幕上形成的干涉条纹具有明暗相间的特点。亮纹是两个光波相长叠加而形成的,而暗纹则是两个光波相消干涉所得。通过测量和观察这些条纹的间距和间隔,我们可以计算出光的波长以及其他相关参数。 杨氏双缝干涉实验不仅在物理学领域中有重要的意义,而且在实际应用中也有一定的价值。例如在天文学中,通过观察恒星干涉仪中形成的干涉条纹,可以研究恒星的性质和运动状态。

二、等厚干涉实验 等厚干涉是一种基于光的相位差的干涉现象。这种实验可以通过在光路中引入光学元件来实现,例如透明薄膜或玻璃片等。当单色光垂直入射到这些光学元件表面上时,光在不同介质间传播会产生不同相位差,从而形成干涉现象。 等厚干涉实验的原理是,通过改变光程差的方式,使得两束光波在某些区域相长叠加,而在另一些区域相消干涉。这种实验通常使用等厚干涉仪来实现,等厚干涉仪由一个透明薄膜和两块玻璃片组成。 在等厚干涉实验中,我们可以通过观察干涉图案的变化来研究材料的光学性质和厚度。干涉条纹的形状和排列方式取决于所使用的光学元件的材料、厚度和波长等。 三、实验应用和意义 光的干涉实验在科学研究和应用中有着广泛的应用和意义。通过杨氏双缝干涉实验和等厚干涉实验,我们可以更好地理解和研究光的性质和特点。 在科学研究方面,这些实验可以帮助我们探索光的波动性质和能量传播方式。通过观察和测量干涉条纹,我们可以获得光的波长、频率和振幅等重要参数。这对于深入理解光学现象以及应用于其他领域的科学研究具有重要意义。 在应用方面,光的干涉实验在光学仪器和技术的开发中起到了重要作用。例如,干涉仪被广泛应用于光学测量、天文观测和光学通信等

等厚干涉及其应用

等厚干涉及其应用 一、实验目的 1.观察等厚干涉现象,加深对光的波动性的认识; 2.学会用关涉法测定平凸透镜的曲率半径和微小直径(或厚度)。 二、仪器用具 牛顿环仪;劈尖(或两块光学平面镜玻璃板);钠光灯(共用);细丝或薄片;读数显微镜。 三、实验原理 利用透明薄膜上下两表面对入射光的依次反射,入射光的振幅将分解成具有一定光程差的几个部分,这是利用分振幅获得相干光的一种重要方法,它为多种光的干涉仪所采用。若两束反射光在相遇时的光程差取决于该薄膜的厚度,则同一干涉条纹所对应的薄膜厚度相同,故称等厚干涉。 1.牛顿环 如图1所示的牛顿环仪。它是由一块曲率 半径R 较大的平凸透镜,其凸面向下,与一块平面 玻璃接触在一起而组成的器件。平凸透镜的凸面与 平面玻璃片之间形成一个劈尖形空气层,该空气层 的厚度从中心接触点到边缘是由零逐渐增大,而且 两表面的夹角也随之增大。在以接触点为中心的同 一个圆周上,空气层的厚度相同。当一束单色光垂 直入射到牛顿环仪上时。这束光经空气层上下二表 面反射所成的二束相干光之间产生一定的光程差, 它们在平凸透镜的凸面相遇而产生等厚干涉。当我 们用显微镜来观察时,便可以清楚地看到中心是一 暗圆斑,周围是许多明暗相间的同心圆环,而且圆 环的间距由内向外逐渐由疏变密,如图2所示。 此干涉图样称为牛顿环。设垂直照射在牛顿环仪上的平行单色光中任一 光束MA (如图1),从A 投射到B 面时被反射 了一部分,另一部分则透过B 面穿过空气层投射到 C 面上。在C 面又被部分地反射回来。从B 面和C 面反射回来的二光束之间有一光程差2BC 。又由 于光束从光疏媒质到光密媒质界面C 存在半波损失(即λ/2)。所以这两束光的总光程差为 2/2λδ+=BC (1) 经几何推导,得: 2 2λδ+=R r (2) 根据光的干涉条件,当光程差为波长的整数倍时,两束光相干形成明纹;若光程差为半波长的奇数倍时,两束光相干而形成暗纹。明暗相间形成了如上所说的牛顿环(如图2所示)。 若考虑到干涉条纹中的暗环条件,则由式(2)得

等厚干涉实验1

等厚干涉实验 【实验目的】 1.观察等厚干涉现象及其特点。 2.用牛顿环测平凸透镜的曲率半径。 3.用劈尖干涉测量微小厚度。 4.学会使用读数显微镜。 【实验仪器】 读数显微镜、牛顿环、劈尖、钠光灯 【实验原理】 1. 牛顿环 牛顿环属于分振幅等厚干涉现象。干涉现象在科学研究和工业技术中有着广泛的应用,如测量光波波长、精确测量微小物体的长度、厚度和角度,检查光学元件、精密机械表面的光洁度、平整度,研究机械零件内应力分布以及测量半导体器件上镀膜厚度等。 在一块平玻璃片B上,放一曲率半径R很大的平凸透镜A,在A、B间形成一从中间向四周渐渐加厚的空气薄膜,以接触点O为中心的圆周上空气膜的厚度相等。当单色平行光束垂直地射向平凸透镜时,在空气膜的上下表面(平凸透镜的下表面和平面玻璃的上表面)所反射的两束光因存在一定的光程差而相互干涉。从透镜上侧俯视,干涉图样是以两玻璃接触点O为圆心的一系列明暗相间的同心圆环,称为牛顿环。它是等厚干涉图样,空气膜厚度相同的点都处于同一条纹上。 图1 实验光路图及牛顿环

设第k 级环的环半径为k r ,该处空气膜厚度为e ,波长为λ,显然有下列干涉条件成立: λλ k e =+2 2 (k =1,2,3,…) 明环 (1) 2 ) 12(2 2λ λ +=+ k e (k =0,1,2,…) 暗环 (2) 式中的2λ 是由于从空气膜的下表面反射的反射光有半波损失。中心处0=e ,形成中央 暗斑。从图1(b )中的三角形得 22222)(e Re e R R r k -=--= 因e R >>,所以22e Re >>,可以把上式中2 e 略去,于是 R r e k 22 = (3) 上式说明e 与2k r 成正比,所以离开中心愈远光程差增加愈快,牛顿环也变得愈来愈密。 把(3)代入(2),求得暗环半径为: λkR r k = (4) 如果测量第k 级暗环的半径,必须确定环心的位置,也就是牛顿环中央暗斑的中心位置,实验中这一位置不易确定,于是第k 级暗环的半径不易测准,为此,把(4)变成牛顿环直经k D 表达式: λkR r D k k 22== λkR r D k k 4422 == 对m 级和n 级暗环有 λmR D m 42= λnR D n 42= 二式相减,得: λ )(42 2n m D D R n m --= (5) 由(5)式通过测量暗环直径计算出平凸透镜的曲率半径R ,可克服测量暗环半径环心不容易确定的困难。 2. 读数显微镜 读数显微镜是用于精确测量直线长度的光学仪器。一般的显微镜只有放大物体的作用,不能测量物体的大小。如果在显微镜上装上十字叉丝,并把镜筒固定在一个可以左右或上下移动的托板上,而托板移动的距离由螺旋测微器读出来,则这样改装的显微镜称为读数显微镜。 JXD-Bb 型读数显微镜的结构和调整方法 ① 使用时,将待测物体用压板15固定在工作台面16上,通过大手柄10和小手柄12调节镜管20部分的升降及水平位置,使物镜18对准物体的待测部分。将大手柄和小手柄锁紧。 ② 转动棱镜盒4至便于观察的位置,并用锁紧螺钉5固定。

等厚干涉及其应用

等厚干涉及其应用----------牛顿环、劈尖 [播放视频] 一、 一、 概念理解 利用透明薄膜上下表面对入射光的依次反射,入射光的振幅将分解成有一定光程差的几部分。若两束反射光在相遇时的光程差取决于产生反射光的薄膜厚度,则同一干涉条纹所对应的薄膜厚度相同。这就是所谓的等厚干涉。 二、 二、 厚干涉的应用 1、牛顿环:牛顿为了研究薄膜颜色,曾经用凸透镜放在平面玻璃上的方法做实验。他仔细观察了白光在空气薄层上干涉时所产生的彩色条纹,从而首次认识了颜色和空气层厚度之间的关系。1675年,他在给皇家学会的论文里记述了这个被后人称为牛顿环的实验,但是牛顿在用光是微粒流的理论解释牛顿环时却遇到困难。19世纪初,托马斯.杨用光的干涉原理解释了牛顿环。 2、劈尖:取两片结净的显微镜载波片叠在一起,两片的一端捏紧,另一端夹入一薄片,这样就构成一个劈形空气薄膜,由于这是距两玻片交棱等距离处的空气层厚度时相等的,所以显示出来的干涉条纹时平行与棱得直条纹。 在光学仪器厂,常用标准面与待侧面之间产生的干涉条纹检查加工平面度。 三、 三、 理论知识 光程:折射率与路程的乘积,nr =? 分振幅干涉:波面的个不同部分作为发射次波的光源,次波本身分成两部分,做不同的光程,重新叠加并发生干涉。 等厚干涉公式推导:(如图所示) 次波分成两部分,一部分直接反射从A 点经过透镜到达S ,另一部分透射到B 点,再反射 到 C 点经过透镜待到达S 。 两部分光的程差为: ()()212λδ+ '-+=C A n BC AB n 因薄膜很薄,两平面的夹角很小,AB 和BC 近似的相等 BC i h AB == 2cos

等厚干涉及其应用(1)

等厚干涉及其应用 【注意事项】 1. 1. 手不能触摸劈尖和牛顿环的光学面。不用时务必放回盒内。 2. 2. 实验时应使显微镜筒下端的玻璃片对应钠光灯最亮处。 3. 3. 试验结束时,应及时关掉钠光灯和照明灯 【实验目的】 ⑴观察等厚干涉的现象及其特点。 ⑵用牛顿环测平凸透镜的曲率半径。 ⑶用劈尖干涉测微小厚度。 ⑷学习测量显微镜的调节和使用方法。 【仪器用具】 测量显微镜、纳光灯、牛顿环装置、劈尖装置。 【实验原理】 一、牛顿环 如图7-1所示:将一块曲率半径较大的平凸透镜A 的凸 面放置于一光学平板玻璃B 上,在透镜凸面与平板玻璃之间 就形成一层空气薄膜,其厚度从中心接触点到边缘逐渐增 加。当垂直于透镜平面的单色光入射透镜时,进入透镜的光 在透镜凸表面上有一部分反射,另一部分折射后射向平板玻 璃的上表面,并发生反射。这两束光在凸表面附近相遇发生 干涉。显然,它们的干涉图样是以接触点为中心的一系列明 暗交替的同心圆环,且同一半径处的薄膜厚度相等。称为牛 顿环。 由图7-1中的光路图可以看到,设第k 环处的空气厚度 为k e ,两相干光的光程差为 =δ2k e +2λ (7-1) 式中2λ──光从光疏媒质 入射到光密媒质反射时的半波损失。当光程差δ为半波长的奇数倍时,有 =δ2k e +2λ=)12(+k 2λ k =0,1,2… (7-2) 则干涉结果光强极小,形成暗纹。当光程差δ为半波长的偶数倍时,有 =δ2k e +2λ=λk k =0,1,2… (7-3) 则干涉结果光强极大,形成亮纹。 由图7-1可知 =-+=222)(k k e R r R 222Re 2k k k e r R +-+ 因R >>k e ,上式中的2 k e 项可略去,即得 k e =R r k 22 (7-4) 将k e 值代入式(7-2)化简得 λkR r K =2 (7-5) 上式表明,当波长λ已知时,只要测出第k 个暗环半径k r ,即可算出透镜的曲率半径R ;反之,当R 已知时,则可求出λ值。但是,由于玻璃的弹性形变及接触处不干净等原因,使A 、B 两玻璃中心接触处不可能是一个几何点,环心的干涉结果会是一个较大的暗斑, 图7-1 牛顿环干涉示意图

实验一 等厚干涉现象的研究与应用

实验一 等厚干涉现象的研究与应用 1.牛顿环中心为什么是暗斑?如中心出现亮斑作何解释?对实验结果有影响吗? 2.牛顿环的各环是否等宽 ? 环的密度是否均匀 ? 如何解释 ? 3.用同样的实验方法,能否测定凹透镜的曲率半径 ? 4.牛顿环干涉条纹畸变的可能原因有哪些 ? 实验二 分光计的应用 1.光栅光谱与棱镜光谱有哪些不同之处 ? 2.实验时并不要求仪器转轴过光栅面,这对测量衍射角有无影响 ? 3.缝的宽度对光谱的观测有什么影响? 4.表征光栅特征的参数除了d 外,还有哪几个?如何进行测量? 5.如何接受超声光栅衍射实验中衍射的中央极大和各级谱线的距离随功率信号源振荡频率的高低变化而增大或减小的现象? 6.驻波的相邻波腹(或波节)键的距离等于半波长,为什么超声光栅的光栅常数在数值上等于超声波的波长? 实验三 迈克尔逊干涉仪的应用 1.什么是空程?测量中如何操作才能避免引入空程? 2.用等厚干涉的光程差公式说明,当d 增大时,干涉条纹由直变弯。 3.什么条件下迈克尔孙干涉仪产生等倾干涉 ? 根据什么现象判断干涉条纹确实是等倾条纹 ? 4.何谓“等光程”如何测量等光程位置? 5.调节或测量中,条纹突然消失,怎么办? 实验四 示波器的结构原理及其应用 1、在计算电偏转灵敏度的过程中,能得出ε与V 2有什么关系? 2、在电聚焦实验中,由于V 2>V 1,因此G>1,这样的聚焦称为正向聚焦;若V 2

等厚干涉及其应用实验报告

等厚干涉及其应用实验报告一、实验目的 1. 了解等厚干涉的原理和方法。 2. 学习等厚干涉实验的基本技术及注意事项。 3. 掌握等厚干涉的应用。 二、实验仪器和材料 1. 干涉仪 2. 光源 3. 透镜 4. 反射镜

5. 单色滤光片 6. 微调平台 7. 测量规等 三、实验原理 等厚干涉的原理是利用二分法来消除不均匀板材的厚度差异, 使板材成为等厚的状况,然后通过干涉仪的干涉检查等厚度情况。二分法的原理是使用两个不同波长的光源进行光程差测量,通过 计算前后两次干涉的相位差,得到样品的厚度。 四、实验步骤 1. 调整干涉仪的光源及其它必要的物件,使探测器接收到最强 的光。 2. 将样品板安装在微调平台上,调整为初始位置,并将单色滤 光片放在光源前方。

3. 调整反射镜使两束光重合并产生干涉条纹。 4. 通过干涉仪镜臂微调,调整测量表计读数。 5. 移动微调平台,使干涉条纹数量增加。 6. 测量板的厚度及其表面情况,记录实验数据。 五、实验结果及分析 1. 在不同的干涉条件下,得到的干涉条纹间隔均匀,且随着板材的尺寸变化而变化。 2. 利用等厚干涉可测量厚度小于毫米级别的物体,且精度高、准确度高。 3. 根据所得数据,可计算出板材的等厚度,并结合其它参数进行分析。

六、实验结论 本实验通过等厚干涉实验方法,得到了比较准确的板材等厚度测量结果,并且了解到等厚干涉的应用方向及其优点。该实验方法线性精度高、稳定性效果佳,且可以测量一些薄板或其他一些难以测量的物体,治理误差准确度高,具有较大的应用价值。 七、实验心得 在本次实验中,我们通过实际操作了解等厚干涉实验原理与方法,并根据测量数据对所得结果进行了分析和判断。实验提供了一个有效的方法,可以在行业中用于硬度测量、材料分析等数据处理。对于我而言,这次实验在技术和实践操作方面都起到了很好的学习和提升作用。

等厚干涉实验报告数据

等厚干涉实验报告数据 等厚干涉实验报告数据 等厚干涉实验是一种常见的光学实验,通过光的干涉现象来研究光的性质和波动特性。在这篇文章中,我将介绍一些等厚干涉实验的基本原理和实验数据,并讨论其应用和意义。 等厚干涉实验是利用光的干涉现象来观察透明薄片的厚度变化。当一束平行光照射到透明薄片上时,光线会经过薄片的两个表面,发生反射和折射。如果薄片的厚度是均匀的,光线在薄片内部会发生干涉现象,形成明暗条纹。 在实验中,我们使用一台干涉仪来观察等厚干涉现象。干涉仪由一束光源、一个分束器和一个合束器组成。光源发出的光经过分束器分成两束,一束照射到透明薄片上,另一束照射到参考平面上。两束光线再次合并,形成干涉条纹。通过观察干涉条纹的变化,我们可以得到薄片的厚度信息。实验数据显示,当薄片的厚度变化时,干涉条纹的间距也会发生变化。当薄片的厚度增加时,干涉条纹的间距变大;当薄片的厚度减小时,干涉条纹的间距变小。通过测量干涉条纹的间距,我们可以计算出薄片的厚度。 等厚干涉实验在科学研究和工程应用中具有广泛的应用价值。首先,它可以用来研究光的波动性质和干涉现象。通过观察干涉条纹的变化,我们可以验证光的波动理论,并探索光的传播规律和折射定律。其次,等厚干涉实验可以用来测量透明薄片的厚度。在材料科学和光学工程中,我们经常需要测量薄片的厚度,以便控制产品的质量和性能。等厚干涉实验提供了一种非接触、精确测量薄片厚度的方法。此外,等厚干涉实验还可以用来研究光学材料的光学性质和折射率。通过观察干涉条纹的形态和变化,我们可以推断材料的折射率,并进

一步研究材料的光学特性。 在实际应用中,等厚干涉实验还可以结合其他技术和方法进行更深入的研究。例如,我们可以将等厚干涉与激光技术相结合,实现更高精度的测量。激光光源具有高亮度和单色性的特点,可以提供更稳定的干涉条纹和更精确的测量结果。此外,等厚干涉实验还可以与数字图像处理技术相结合,实现自动化数据采集和分析。通过对干涉条纹图像的处理和分析,我们可以快速、准确地获取薄片厚度的信息。 综上所述,等厚干涉实验是一种重要的光学实验方法,通过观察干涉条纹的变化来研究光的性质和波动特性。实验数据显示,干涉条纹的间距与薄片的厚度密切相关。等厚干涉实验在科学研究和工程应用中具有广泛的应用价值,可以用来测量薄片的厚度、研究材料的光学性质,并结合其他技术和方法进行更深入的研究。通过不断改进和创新,等厚干涉实验将为光学领域的发展和应用做出更大的贡献。

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