温度调试实验报告
温度控制的实验报告
温度控制的实验报告1. 引言温度是物体分子热运动的表现，是许多实验和工业过程中需要精确控制的一个变量。
本实验旨在研究温度控制的原理和方法，通过实验验证不同温控设备的性能，并对温度控制的误差进行分析。
2. 实验目的1. 了解温度控制的基本原理和方法；2. 掌握温度控制设备的操作方法；3. 分析温度控制的误差来源，并提出改进方案。
3. 实验装置和材料- 温度控制设备：恒温水浴器、温度计；- 反应容器：玻璃烧杯、烧杯夹；- 实验溶液：蒸馏水。
4. 实验步骤1. 将恒温水浴器放在实验台上，接通电源并调整温度设置；2. 在玻璃烧杯中加入适量蒸馏水；3. 将烧杯夹固定在温水浴器外壁上，并将玻璃烧杯置于夹子中，使其与恒温水浴器中的水接触；4. 等待一段时间，使烧杯中的水温稳定在设定的温度；5. 用温度计测量烧杯中水的实际温度，并记录下来；6. 根据测量结果，分析温度控制设备的误差和准确度。
5. 实验结果设置温度() 实际温度():: ::30 29.540 39.850 49.960 59.76. 结果分析通过实验结果可以看出，温度控制设备在大部分情况下能够实现较为准确的温度控制，但仍存在一定的误差。
可能的误差来源包括：1. 温度计的准确度：温度计本身存在一定的误差，会对实际温度测量结果产生影响；2. 温度控制设备的稳定性：恒温水浴器在调整温度过程中可能存在波动，导致实际温度与设定温度不完全一致；3. 烧杯和夹子的传热性能：烧杯与恒温水浴器之间的传热效果可能存在差异，影响实际温度的稳定性。
为减小温度控制误差，可以采取以下改进措施：1. 使用更加精准的温度计进行测量，减小温度计本身误差对实验结果的影响；2. 对恒温水浴器进行进一步调试，提高其温度控制的稳定性；3. 优化烧杯与夹子之间的接触条件，改善传热效果。
7. 结论通过本实验的探究，我们对温度控制的原理和方法有了更深入的了解，并掌握了温度控制设备的操作方法。
冷热试验报告
冷热试验报告
冷热试验报告通常是在产品研发、制造或测试过程中进行的，目的是评估产品在极端温度条件下的性能和稳定性。
以下是一份冷热试验报告可能包含的一般性信息：
试验概述：
试验目的：明确冷热试验的目的，例如评估产品在极端温度条件下的耐受性和性能。
试验范围：说明试验涉及的温度范围、温度变化速率等。
试验标准和方法：
引用使用的标准：指明使用的国际、国家或行业标准，以确保试验的规范性。
试验方法：详细描述冷热试验的具体步骤和操作。
试验设备：
冷热循环设备：列出使用的冷热循环设备的型号、规格和性能参数。
控温系统：说明用于控制温度的系统，包括传感器、控制器等。
试验条件：
温度范围：指定试验的低温和高温的范围。
温度变化速率：描述温度变化的速率，通常以摄氏度/分钟为单位。
样品信息：
样品标识：标明参与试验的样品的唯一标识，如批次号、序列号等。
样品准备：说明样品的准备过程，包括是否需要预热或其他特殊处理。
试验过程：
温度变化记录：记录试验期间的温度变化，包括开始、结束时间和各个温度点的保持时间。
异常事件记录：如有任何异常事件或试验中断，应该进行详细记录。
试验结果：
样品状态：描述在不同温度下样品的状态，包括是否出现损坏、变形等。
性能评估：评估产品在试验条件下的性能表现。
结论和建议：
结论：总结试验结果，明确产品在冷热试验中的表现。
建议：根据试验结果提出可能的改进或优化建议。
这些内容可能会根据具体的产品类型、行业标准和试验目的有所不同。
确保报告清晰、详细，并符合相应的标准和规范。
固体线膨胀系数的测定及温度的PID调节实验报告及误差分析 大学物理实验实验11
大学物理实验11
固体线膨胀系数的测定及温度的PID调节
实验中用到的仪器有金属线膨胀实验仪、ZKY-PID温控实验仪、千分表。
在这个实验中我们可以测量金属的线膨胀系数和学习PID调节的原理。
一、实验目的
二、实验原理（图）
三、实验设备、仪器、用具及其规范
四、实验（测定）方法
五、实验记录、数据处理
六、结果分析及问题讨论
实验中的误差主要有：
（1）测量仪器不精密导致的误差；
（2）温度影响，不同材料的温度膨胀系数不同；（3）温度计的热惯性，升温时实际温度高于读数温度；（4）测量人员读数时有误差。
温度及其测量实验报告
一、实验目的1. 了解温度及其测量在科学研究、工业生产和日常生活中的重要性。
2. 掌握温度测量的基本原理和方法。
3. 熟悉常用温度测量仪器的使用和操作。
4. 分析温度测量误差，提高实验数据处理能力。
二、实验原理温度是表征物体冷热程度的一个物理量，常用单位有摄氏度（℃）和开尔文（K）。
温度测量方法主要有接触式测量和非接触式测量两种。
1. 接触式测量接触式测量是将温度传感器直接与被测物体接触，通过测量传感器内部温度变化来反映被测物体的温度。
常用的接触式温度传感器有热电偶、热电阻、热敏电阻等。
2. 非接触式测量非接触式测量是利用红外线、微波、超声波等手段，在不接触被测物体的情况下测量其温度。
常用的非接触式温度传感器有红外测温仪、微波测温仪、超声波测温仪等。
三、实验仪器与设备1. 热电偶温度计2. 铂电阻温度计3. 热敏电阻温度计4. 数字温度计5. 恒温水浴锅6. 温度计校准仪7. 数据采集器四、实验步骤1. 热电偶温度计测量（1）将热电偶温度计的冷端与恒温水浴锅的液体接触，确保冷端温度稳定。
（2）将热电偶温度计的热端插入恒温水浴锅的液体中，观察温度计示数。
（3）重复上述步骤，记录不同深度处的温度值。
2. 铂电阻温度计测量（1）将铂电阻温度计的冷端与恒温水浴锅的液体接触，确保冷端温度稳定。
（2）将铂电阻温度计的热端插入恒温水浴锅的液体中，观察温度计示数。
（3）重复上述步骤，记录不同深度处的温度值。
3. 热敏电阻温度计测量（1）将热敏电阻温度计的冷端与恒温水浴锅的液体接触，确保冷端温度稳定。
（2）将热敏电阻温度计的热端插入恒温水浴锅的液体中，观察温度计示数。
（3）重复上述步骤，记录不同深度处的温度值。
4. 数字温度计测量（1）将数字温度计的探头插入恒温水浴锅的液体中。
（2）观察数字温度计示数，记录温度值。
5. 温度计校准（1）将温度计校准仪的探头插入恒温水浴锅的液体中。
（2）观察温度计校准仪示数，记录温度值。
温度的观测实验报告
一、实验目的1. 了解温度观测的基本原理和方法。
2. 掌握普通温度表、最高温度表、最低温度表等测温仪器的使用。
3. 通过实验，提高对气温、气压等气象要素的认识。
二、实验器材1. 普通温度表2. 最高温度表3. 最低温度表4. 自计温度计5. 动槽式（福丁式）水银气压表6. 定槽式（寇乌式）水银气压表7. 空盒气压表8. 热电偶9. 烧杯10. 冷水、热水适量三、实验原理1. 温度观测：利用普通温度表、最高温度表、最低温度表等仪器，通过测量温度感应球内的水银液体膨胀或收缩，从而得到气温值。
2. 气压观测：利用水银气压表或空盒气压表，通过测量大气压力，得到气压值。
3. 热电偶测温：将两种不同材料的导体或半导体A和B连接起来，构成一个闭合回路，当导体A和B的两个执着点t和t0之间存在温差时，就在回路中产生电动势EAB(t,t0)，从而得到温度值。
四、实验步骤1. 温度观测：（1）将普通温度表、最高温度表、最低温度表等仪器放置在蔽阴背风处。
（2）观察并记录温度表内的水银液体膨胀或收缩情况，得到气温值。
2. 气压观测：（1）将动槽式（福丁式）水银气压表或定槽式（寇乌式）水银气压表放置在水平位置。
（2）观察并记录水银柱高度，得到气压值。
（3）使用空盒气压表，观察并记录气压表指针位置，得到气压值。
3. 热电偶测温：（1）将热电偶的感温端插入冷水中，观察并记录冷端温度。
（2）将热电偶的感温端插入热水中，观察并记录热端温度。
（3）根据热电偶回路热电势的分布理论，计算热电势，得到温度值。
五、实验结果与分析1. 温度观测：通过实验，我们得到了气温值，与实际气温值基本相符。
2. 气压观测：通过实验，我们得到了气压值，与实际气压值基本相符。
3. 热电偶测温：通过实验，我们得到了冷端和热端的温度值，与实际温度值基本相符。
六、实验结论1. 通过本次实验，我们掌握了温度观测的基本原理和方法。
2. 我们了解了普通温度表、最高温度表、最低温度表等测温仪器的使用。
温度计实验报告
1 设计原理 (2)1.1 温度计的实现 (2)温度传感器DS18B20介绍 (2)显示电路 (5)2 单片机小系统基本组成 (5)2.1 AT89S52芯片 (5)供电电路 (6)晶振电路 (6)3 硬件设计 (9)3.1 DS18B20与单片机的接口电路 (9)3.2 PROTEUS仿真电路图 (10)4 软件设计 (10)4.1 主程序流程图 (10)4.2 各子程序流程图 (11)5 调试过程 (14)调试结果 (14)调试出现的问题 (14)6 电路特点及方案优缺点 (14)7 收获与体会 (14)8 参考文献 (15)1 设计原理1.1 温度计的实现设计中采用数字温度芯片DS18B20测量温度，输出信号全数字化。
采用了单总线的数据传输，由数字温度计DS18B20和AT89S52单片机构成的温度测量装置,它直接输出温度的数字信号。
实验中采用AT89S52单片机控制，可通过编程实现各种各样的算术算法和逻辑控制，而且体积小，硬件实现简单，安装方便。
该系统利用AT89S52芯片控制温度传感器DS18B20进行实时温度检测并显示，能够实现快速测量环境温度，并可以根据需要设定上下限温度。
最后控制LED数码管，显示出所测量到的温度。
该测温系统电路简单、精确度较高、实现方便、软件设计也比较简单。
系统框图如图1所示。
图1 DS18B20温度测温系统框图1.2温度传感器DS18B20介绍DS18B20可以程序设定9~12位的分辨率，精度为±0.5°C。
可选更小的封装方式，更宽的电压适用范围。
分辨率设定，及用户设定的报警温度存储在EPROM 中，掉电后依然保存。
温度传感器DS18B20引脚如图2所示。
8引脚封装TO－92封装图2 温度传感器引脚功能说明：NC ：空引脚，悬空不使用；VDD ：可选电源脚，电源电压范围。
当工作于寄生电源时，此引脚必须接地。
DQ ：数据输入/输出脚。
漏极开路，常态下高电平。
温度技术测量实验报告(3篇)
第1篇一、实验目的1. 了解温度测量的基本原理和方法；2. 掌握常用温度传感器的性能特点及适用范围；3. 学会使用温度传感器进行实际测量；4. 分析实验数据，提高对温度测量技术的理解。
二、实验仪器与材料1. 温度传感器：热电偶、热敏电阻、PT100等；2. 温度测量仪器：数字温度计、温度测试仪等；3. 实验装置：电加热炉、万用表、连接电缆等；4. 待测物体：不同材质、不同形状的物体。
三、实验原理1. 热电偶测温原理：利用两种不同金属导体的热电效应，即当两种导体在两端接触时，若两端温度不同，则会在回路中产生电动势。
通过测量电动势的大小，可以计算出温度。
2. 热敏电阻测温原理：热敏电阻的电阻值随温度变化而变化，根据电阻值的变化，可以计算出温度。
3. PT100测温原理：PT100是一种铂电阻温度传感器，其电阻值随温度变化而线性变化，通过测量电阻值，可以计算出温度。
四、实验步骤1. 实验一：热电偶测温实验（1）将热电偶插入电加热炉中，调整加热炉温度；（2）使用数字温度计测量热电偶冷端温度；（3）根据热电偶分度表，计算热电偶热端温度；（4）比较实验数据与实际温度，分析误差。
2. 实验二：热敏电阻测温实验（1）将热敏电阻插入电加热炉中，调整加热炉温度；（2）使用数字温度计测量热敏电阻温度；（3）根据热敏电阻温度-电阻关系曲线，计算热敏电阻温度；（4）比较实验数据与实际温度，分析误差。
3. 实验三：PT100测温实验（1）将PT100插入电加热炉中，调整加热炉温度；（2）使用数字温度计测量PT100温度；（3）根据PT100温度-电阻关系曲线，计算PT100温度；（4）比较实验数据与实际温度，分析误差。
五、实验结果与分析1. 实验一：热电偶测温实验实验结果显示，热电偶测温具有较高的准确性，误差在±0.5℃以内。
分析误差原因，可能包括热电偶冷端补偿不准确、热电偶分度表误差等。
2. 实验二：热敏电阻测温实验实验结果显示，热敏电阻测温具有较高的准确性，误差在±1℃以内。
温度控制器实验报告
温度控制器实验报告目录一、实验概述 (2)1. 实验目的 (2)2. 实验设备与材料 (2)3. 实验原理 (3)二、实验内容与步骤 (4)1. 实验内容 (5)1.1 温度控制器的基本操作 (6)1.2 温度控制器的参数设置与调整 (7)2. 实验步骤 (8)2.1 安装温度控制器 (9)2.2 校准温度计 (9)2.3 设置温度控制器参数 (11)2.4 观察并记录实验数据 (13)2.5 分析实验结果 (13)三、实验数据与结果分析 (14)1. 实验数据 (15)1.1 温度控制器的温度读数 (17)1.2 温度控制器的设定温度 (18)1.3 温度控制器的实际输出温度 (19)2. 结果分析 (19)2.1 温度控制器的性能评价 (20)2.2 温度控制器在不同条件下的适应性分析 (21)四、实验结论与建议 (22)1. 实验结论 (23)2. 实验建议 (24)一、实验概述本实验旨在通过设计和制作一个温度控制器，让学生了解温度控制器的基本原理、结构和工作原理，并掌握温度控制器的制作方法。
学生将能够熟练掌握温度控制器的设计、制作和调试过程，为今后从事相关领域的工作打下坚实的基础。
本实验的主要内容包括，在实验过程中，学生将通过理论学习和实际操作相结合，全面掌握温度控制器的相关知识和技能。
1. 实验目的本实验旨在探究温度控制器的性能及其在实际应用中的表现，通过一系列实验，了解温度控制器的控制原理、操作过程以及性能特点，验证其在实际环境中的温度控制精度和稳定性。
本实验也旨在培养实验者的实践能力和问题解决能力，为后续相关领域的深入研究和实践打下坚实的基础。
2. 实验设备与材料温度控制器：作为实验的核心设备，本实验选择了高精度数字式温度控制器，具备较高的稳定性和精确度，能够确保实验结果的可靠性。
恒温箱实验箱：为了模拟不同的环境温度，采用了具有温控功能的恒温箱或实验箱。
通过调节箱内的温度，可以观察温度控制器在不同环境下的表现。
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温度检测系统调试实验报告09级电力电子与电力传动张颖1 温度检测系统电路原理采用平衡电桥法的温度测量电路。
温度传感器采用pt100热电阻，并把它作为测量电桥的一个桥臂。
pt100的电阻值在0℃时为100Ω；100℃时为138.5Ω，具体的对照关系可查询分度表。
当温度为0℃时，测量电桥平衡，输出为零。
一旦温度不为零，电桥平衡被破坏，通过等臂电桥，把PT100据温度变化而引起的微弱的电压变化送到一个差分放大电路，信号经过放大反相后可得到一个在0~100摄氏度内范围为0~2.43v的电压，这样就可以接入c8051f040进行AD转换得到输出对应一定温度值的电压信号。
根据多次的实验数据，得出一条直线方程，方程换算为该电压值所对应的温度值。
于是，只要标定其中的对应关系，就可以计算出实际的温度值。
其中最后一个放大器起电压跟随器作用。
温度检测电路原理图如下图1温度检测电路原理图2 硬件构成硬件系统主要由传感器模块、调理电路、F04单片机和电源模块四部分组成。
系统还包括液晶显示。
2.1 温度传感器PT100简介该电路应用温度传感器PT100。
PT100（铂热电阻温度传感器）具有精度高，测温范围宽，使用方便等优点，在工业过程控制和测量系统中得到了广泛的应用。
当温度测量范围不大，元件长度和截面积随温度改变引起的阻值变化可以忽略时，热电阻元件的阻值随温度变化可以认为是线性的，可用下式表示：20(1)t R R At Bt =++,其中0R 表示0摄氏度时PT100的电阻值100欧姆；t R 表示t摄氏度PT100电阻的阻值；33.9080210/O A C -=⨯;75.8019510/O B C -=-⨯;经过理论计算：PT100在0~500摄氏度区间的非线性误差为1.2909%；在0~100摄氏度的非线性误差为0.1%，所以在我们的测量范围之内，可以按线性处理。
2.2protel 制图如图1所示温度检测电路原理图。
鉴于电桥的敏感性，对元器件的要求比较高，两个臂上的电阻，即R1，R2最好选择高精度的精密电阻，用万用表从大量普通电阻中筛选几个精度较高的电阻。
PCB 板图温度检测电路PCB 板图2.3 温度的标识首先，我们知道在温度为0摄氏度时， PT100的电阻值为100欧姆。
假设PT100至于0摄氏度的环境里，调节电位器P2使R6和P2的总电阻为100欧姆达到电桥平衡。
而后在温度为70℃时，调节P1使电路的输出达到最大1.748V 。
而后就可以对其他温度值时的电压进行标定了。
实验表明，如此调节之后，对于温度的标定可以带来很大的方便之处。
为了使直线方程适用于所有的板子，可以调节P1，使6块板子都可以使用同一个方程。
3 软件3.1端口设置本模块选择AIN0.0通道AMX0SL=0x00；单端输入AMX0CF=0x00；ADC0开启，连续跟踪模式，对AD0BUSY写1启动ADC0转换，转换结果右对齐ADC0CN=0x80；采用VREF0参考电压，内部温度传感器关闭，内部参考电压产生器开启，内部参考电压输出开启2.43V REF0CN=0x03；禁止ADC0转换结束中断EIE2&=~0x02；禁止ADC0窗口比较中断EIE1&=~0x04。
3.2温度数据的处理首先将AD转换得到的数据根据2.3中的方程换算为该值所对应的温度值，注意：由方程直接得到的温度数据若要在液晶屏显示还需要经过一些数据处理，才能准确地显示出来。
为了能够精确的得到温度值，实验中，我们采集34组数据，然后经过数据处理，得到的值送显示。
3.3液晶显示设计本文设计的液晶显示屏是128x64的。
由于市场需求的液晶是多种多样的，例如，64x32、128x64、256x64等等，但是液晶的显示原理都是类似的，只是驱动稍有不同。
液晶显示器(LCD)是现在非常普遍的显示器。
它具有体积小、重量轻、省电、辐射低、易于携带等优点。
根据液晶显示模块使用手册，在半宽字符表与汉字字符表中查找需要显示的字符的ASCII，然后由字符显示的RAM的地址与32个字符显示区域的一一对应关系，找出所要显示的字符的位置。
在程序中，通过调用液晶控制相关函数，包括液晶初始化，写数据子程序，写指令子程序，在指定位置显示字符函数等，可以达到所需要的效果。
3.4 程序/******************************************************************** **********Copyright (c) 2007 江苏大学电气学院*All right reserved*文件名称：main.c*摘要c8051f040单片机温度数据采集*作者：*完成日期：2009年7月28日********************************************************************* *********/#include<c8051f040.h>#include<intrins.h>unsigned char LCD_Ctrl=0;#define SYSCLK 11059200xdata unsigned char Show_Buf[3][16]={{0xA1,0xA0,0xA1,0xA0,0xA1,0xA0,0xCE,0xDE,0xCF,0xDF,0x A1,0xA0,0xA1,0xA0,0xA1,0xA0},{0xB6,0xE0,0xB2,0xCE,0xCA,0xFD,0xCB,0xAE,0xD6,0xCA,0xBC,0xE0,0xB2,0x E2,0xD2,0xC7},{0xCE,0xC2,0xA1,0xA0,0xB6,0xC8,0xA1,0xC3,0x20,0x20,0x20,0x20,0x20,0x20,0x A1,0xE6}};void delayus(unsigned char i) //us级延时t=2i+5us{while(--i);}void delayms(unsigned int x) //ms级延时t=x ms{unsigned char j;while(x--){for(j=0;j<123;j++){;}}}void Init_PORT(void){WDTCN=0x07;WDTCN=0xDE;WDTCN=0xAD;SFRPAGE=0x0F;P0MDOUT=0x00;P0=0xff;P1MDOUT=0x00;P1=0xff;P2MDOUT=0x00;P2=0xff;P3MDOUT=0x00;P3MDIN=0xff;P3=0xff;P4MDOUT=0x00;P4=0xff;P5MDOUT=0x00;P5=0xff;P6MDOUT=0x00;P6=0xff;P7MDOUT=0x00;P7=0xff;SFRPAGE=0x0F;XBR0=0x05;XBR1=0x00;XBR2=0x40;XBR3=0x00;}void External_Crystal(void){unsigned char i;SFRPAGE=0x0F;OSCXCN=0x67; //配置为外部石英晶振模式，且配置相应频率的驱动电流for(i=0;i<255;i++); //等待1ms以上while(!(OSCXCN&0x80)); //XTLVLD是否为1，若为1表明外部晶振稳定，可切换到外部时钟CLKSEL=0x01; //选择外部晶振OSCICN=0x00; //将内部晶振关闭}void Init_ADC(void){SFRPAGE=0x00;AMX0CF=0x00; //单端输入AMX0SL=0x00; //选择AIN0.0通道ADC0CF=(SYSCLK/2500000)<<3; //采样频率为2.5Mhz PGA增益为1ADC0CN=0x80; //ADC0开启，连续跟踪模式，对AD0BUSY写1启动ADC0转换，转换结果右对齐REF0CN=0x03; //采用VREF0参考电压，内部温度传感器关闭，内部参考电压产生器开启，内部参考电压输出开启2.43VEIE2&=~0x02; //禁止ADC0转换结束中断EIE1&=~0x04; //禁止ADC0窗口比较中断}/********************************************************************** *******************************************函数原型 : unsigned int ADC(void)**返回值: ADCvalue**说明：A/D数据处理函数。
即为滤波处理，去掉最大值和最小值，数字平滑滤波，AD0BUSY置位启动A/D装换********************************************************************* *******************************************/unsigned int ADC(void){unsigned int i,j；ADCvalue,ADCvaluemax1=0,ADCvaluemin1=0x0fff,ADCvaluemax2=0,ADCvalue min2=0x0fff;xdata long ADCvaluesum1=0;xdata long ADCvaluesum2=0;SFRPAGE=0x00;AD0INT=0;AD0BUSY=1;ADCvaluesum2=0;ADCvaluemax2=0;ADCvaluemin2=0xff;for(j=0;j<34;j++){ADCvaluemax1=0;ADCvaluemin1=0xfff;ADCvaluesum1=0;SFRPAGE=0x00;for(i=0;i<10;i++){AD0BUSY=1;delayms(28);while(!AD0INT);AD0INT=0;ADCvalue=(ADC0H<<8)+ADC0L;ADCvaluesum1=ADCvaluesum1+ADCvalue;if(ADCvaluemax1<ADCvalue)ADCvaluemax1=ADCvalue;if(ADCvaluemin1>ADCvalue)ADCvaluemin1=ADCvalue;}ADCvalue=(ADCvaluesum1-ADCvaluemin1-ADCvaluemax1)>>3;ADCvaluesum2=ADCvaluesum2+ADCvalue;if(ADCvaluemax2<ADCvalue)ADCvaluemax2=ADCvalue;if(ADCvaluemin2>ADCvalue)ADCvaluemin2=ADCvalue;}ADCvalue=(ADCvaluesum2-ADCvaluemin2-ADCvaluemax2)>>5;return(ADCvalue);}//写数据子程序void WriteData(unsigned char DData){SFRPAGE=0x0F;LCD_Ctrl=LCD_Ctrl|0x04; //RS=1 选择数据寄存器P4=LCD_Ctrl;_nop_();_nop_();_nop_();_nop_();LCD_Ctrl=LCD_Ctrl&0xfd; //RW=0 写P4=LCD_Ctrl;_nop_();_nop_();_nop_();P7=DData;delayus(100);LCD_Ctrl=LCD_Ctrl|0x01; //E=1P4=LCD_Ctrl;_nop_();_nop_();_nop_();_nop_();_nop_();_nop_();_nop_();_nop_();LCD_Ctrl=LCD_Ctrl&0xfe; //E=0P4=LCD_Ctrl;_nop_();_nop_();_nop_();_nop_();P7=0xff;delayus(100);}//写指令子程序void WriteCom(unsigned char CData){SFRPAGE=0x0F;LCD_Ctrl=LCD_Ctrl&0xfb; //RS=0 选择数据寄存器P4=LCD_Ctrl;_nop_();_nop_();_nop_();_nop_();LCD_Ctrl=LCD_Ctrl&0xfd; //RW=0 写P4=LCD_Ctrl;_nop_();_nop_();_nop_();P7=CData;delayus(100);LCD_Ctrl=LCD_Ctrl|0x01; //E=1P4=LCD_Ctrl;_nop_();_nop_();_nop_();_nop_();_nop_();_nop_();_nop_();_nop_();LCD_Ctrl=LCD_Ctrl & 0xfe; //E=0P4=LCD_Ctrl;_nop_();_nop_();_nop_();_nop_();P7=0xff;delayus(100);}void Init_LCD(void){unsigned char i;WriteCom(0x30);delayus(100);WriteCom(0x01);delayms(10);WriteCom(0x06);delayus(100);WriteCom(0x0c);delayus(100);WriteCom(0x80); //指定第1行的起始地址for(i=0;i<16;i++){WriteData(Show_Buf[0][i]);}WriteCom(0x90); //指定第2行的起始地址for(i=0;i<16;i++){WriteData(Show_Buf[1][i]);}WriteCom(0x88); //指定第3行的起始地址for(i=0;i<16;i++){WriteData(Show_Buf[2][i]);}}unsigned int Temperprocess(unsigned int Tin )//参数传递的是输入电压对应的代码值{double t,t1;t=(Tin*2.43)/4096;t1=41.02442*t-8.89405;return((int)(t1*1000));}void main(void){unsigned char j,sc3,sc2,sc1,sc0;unsigned int Temperadc=0,Temper=0;Init_PORT();External_Crystal();Init_ADC();delayms(500);Init_LCD();while(1){Temperadc=ADC();Temper=Temperprocess(Temperadc);sc3=Temper/10000;sc2=(Temper%10000)/1000;sc1=(Temper%1000)/100;sc0=(Temper%100)/10;Show_Buf[2][9]=0x30+sc3;Show_Buf[2][10]=0x30+sc2;Show_Buf[2][11]=0x2E;Show_Buf[2][12]=0x30+sc1;Show_Buf[2][13]=0x30+sc0;WriteCom(0x8C);for(j=9;j<14;j++){WriteData(Show_Buf[2][j]);}}}4 实验数据根据多次的实验数据，使用直线法得出的方程比较理想，下表是一组测得的由该组数据可得到一条直线方程为：R=41.02442*d1-8.89405。