利用X射线荧光光谱技术检测有害物质
RoHS指令6种有害物质的检测方法简介
RoHS指令６种有害物质的检测方法简介1、X射线荧光光谱法①适用范围：塑料部件、金属部件、电子元件中铅、汞、镉、总铬、溴的筛选测试②技术特点：一次性快速定性分析样品中的铅、汞、镉、铬、溴元素。
对均质样品无须制样，可进行无损测试。
X荧光光谱仪2、傅立叶红外光谱法①适用范围：对聚合物材料中高含量的PBB和PBDE½øÐÐ筛选测试。
②特点：以PBB和PBDE特征红外光谱为定性依据、部分样品可以进行无损测试。
傅利叶红外光谱仪3、斑点法测六价铬①适用范围：无色和着色铬酸盐涂层中六价铬的定性筛选测试。
②特点：利用显色反应，直接定性测试样品表面涂层中六价铬，简便快速。
如出现阳性反应，需要用分光光度法等进行确证分析。
4、气相色谱/质谱联用分析法（GC-MS法）①适用范围：塑料部件及电子元件中PBB、PBDE阻燃剂的定量分析。
②仪器：台式气质联用仪③GC-MS法是挥发性和半挥发性有机物定性定量测试的常见方法，广泛运用于各种有机毒害物的残留分析项目。
气质联用仪5、液相色谱法（HPLC法）①适用范围：塑料部件及电子元件中PBB、PBDE阻燃剂的定量分析。
②主要仪器：液相色谱仪；③技术特点：适用于十溴联苯和十溴二苯醚等难挥发性阻燃剂的测试，弥补GC-MS法的弱点。
液相色谱仪6、分光光度分析法①适用范围：六价铬的含量测试②主要仪器：紫外分光光度计；③技术特点：该方法是六价铬测试的经典方法，可参考多项国内外标准，如EPA3060A等。
紫外-可见分光光度仪7、电感耦合等离子体原子发射光谱法（ICP-AES法）①适用范围：塑料部件、金属部件、电子元件中铅、汞、镉、总铬的含量测试。
②主要仪器：电感耦合等离子体原子发射光谱仪；③技术要点：选择采用微波消解、湿法消解、干法消解等手段溶解样品，一次性同步测定铅、汞、镉、总铬的含量。
电感耦合等离子体原子发射光谱仪8、原子吸收分析法（AAS法）①适用范围：塑料部件、金属部件、电子元件中铅、镉的含量测试。
ROHS测式方法
ROHS测式方法ROHS指的是限制使用一些有害物质指令(Restriction of Hazardous Substances directive)，它是一项旨在限制电子电气设备中有害物质使用的欧盟指令。
为了确保产品符合ROHS指令，有必要进行相应的测量和测试。
本文将介绍ROHS测试方法之一：XRF光谱筛选法。
XRF光谱筛选法是一种非破坏性的测试方法，也是目前最常用的ROHS测试方法之一、它基于X射线荧光光谱技术，通过检测样品中元素的辐射来分析样品中有害物质的含量。
XRF光谱筛选法的工作原理是：将待测物放置在X射线源下方，然后通过X射线照射样品。
样品中的元素受到X射线的激发后，会发出荧光辐射。
这些辐射将被通过X射线谱仪来检测和分析。
在ROHS测试中，我们主要关注六种有害物质，即铅(Pb)、汞(Hg)、镉(Cd)、六价铬(Cr6+)、多溴联苯(PBBs)和多溴二苯醚(PBDEs)。
XRF光谱筛选法可以对这些物质进行检测和定量。
进行XRF光谱筛选法测试的样品应该是充分准备的：首先，需要将样品进行破碎、混合和粉碎，以确保样品中的有害物质能够充分释放。
然后，取一小部分样品放置在测试装置中，进行测试。
在测试过程中，使用X射线谱仪来获取样品辐射的光谱信息。
光谱可以显示出样品中不同元素的特征峰，根据这些特征峰可以判断样品中是否存在有害物质。
根据特征峰的强度和峰位，可以对有害物质的含量进行定量分析。
XRF光谱筛选法具有准确、迅速、非破坏性等特点。
它可以在较短时间内完成大量样品的测试，并且对样品没有破坏性，可以保留样品的完整性。
另外，该方法不需要使用化学试剂，可以降低对环境的污染。
然而，XRF光谱筛选法也存在一些限制。
首先，由于不同元素的辐射特征不同，需要事先了解需要测试的有害物质的特征峰，才能正确进行测试。
其次，这种方法只能对样品进行表面的筛选，对于深层物质的检测相对困难。
此外，该方法在测试高浓度物质时可能存在饱和问题，需要进行相应的稀释处理。
rohs的测试方法
rohs的测试方法RoHS（限用有害物质指令）是指欧洲联盟制定的一项环保法规，旨在限制和排除电子和电气设备中的有害物质，以保护人类健康和环境。
在这篇文章中，我们将探讨RoHS测试的方法。
RoHS测试是由制造商、供应商和认证机构进行的，以确保产品符合RoHS指令的要求。
以下是RoHS测试的一般步骤：1.文件审查：首先，检测机构会对产品的相关文件进行审查，包括材料报告、零部件清单、供应商声明等。
这有助于确定产品中是否存在被限制的物质。
2.样品收集：根据文件审查的结果，样品会被选中进行进一步的化验和测试。
通常，样品数量的选择应该具有代表性，以确保测试结果的准确性。
3.化验分析：选取的样品将进行化验分析，目的是确定产品中是否存在RoHS指令中列出的有害物质。
以下是常用的化验分析方法：-X射线荧光光谱（XRF）:XRF是一种非破坏性的化学分析方法，可用于检测产品中的重金属含量。
通过X射线的激发，样品中的元素发射特定的能量，从而确定有害物质的存在。
-电感耦合等离子体质谱（ICP-MS）:ICP-MS是一种高灵敏度的质谱分析方法，可用于检测微量金属元素。
它将样品中的物质原子化，然后通过质谱仪分离和检测。
-质子能量损失谱（PIXE）:PIXE是一种基于质子束激发样品的方法，可以测量样品中的元素含量。
它的分辨率高，可以检测微量的有害物质。
4.问题解决：如果在化验分析中发现产品中存在被限制的物质，制造商需要采取相应的措施去消除或减少这些物质的使用。
例如，更换材料、改进生产工艺等。
5.检验和验证：在问题解决后，制造商需要重新进行测试，以确保产品符合RoHS指令的要求。
这个过程可以通过内部检验或第三方机构认证来完成。
需要注意的是，RoHS测试可以由制造商自行完成，也可以通过第三方认证机构进行。
第三方认证将增加其可靠性和可信度，因为这些机构通常具有高度的专业性和独立性。
同时，RoHS测试也需要定期进行，以确保产品在生命周期内一直符合指令的要求。
帕纳科xrf原理-概述说明以及解释
帕纳科xrf原理-概述说明以及解释1.引言1.1 概述帕纳科XRF原理（即帕纳科X射线荧光光谱仪原理）是一种非常重要的分析技术，它利用X射线荧光光谱仪进行物质的分析与检测。
X射线荧光光谱仪（XRF）是一种基于X射线的分析技术，能够快速、无损地分析样品的元素成分及其含量。
帕纳科XRF原理通过将样品暴露在高能量的X射线辐射下，激发样品中的原子发生内层电子跃迁，从而产生特定能量的特征X射线。
这些特征X射线与样品中元素的种类和含量密切相关。
X射线荧光分析原理基于这个原理，通过测量样品中发射出的特征X射线的能量和强度来确定样品的元素成分。
帕纳科XRF原理在许多领域都有广泛的应用。
在材料分析方面，它可以用于合金分析、陶瓷成分分析、矿石成分分析等。
在环境监测方面，它可以用于土壤中重金属含量的检测、水中有害物质的检测等。
在文物保护方面，它可以用于非破坏性地分析文物的元素成分，以了解其制作材料和年代等信息。
帕纳科XRF原理具有许多优点。
首先，它非常快速和高效，能够在几分钟内完成样品的分析。
其次，它是一种无损检测技术，不需要破坏样品，适用于各种形态的样品。
此外，它还具有高准确性和重复性，并且可以同时分析多个元素。
然而，帕纳科XRF原理也存在一些局限性。
首先，它对于低能量X射线不敏感，因此无法检测低原子序数元素。
其次，样品的尺寸和形态对分析结果可能产生影响。
最后，它对于元素的定量分析相对有限，通常只能得到元素的相对含量。
随着科学技术的不断发展，帕纳科XRF原理也在不断进步和完善。
未来，我们可以期待更加精确和灵敏的X射线荧光光谱仪的研发，以及更加全面和准确的元素分析方法的开发。
综上所述，帕纳科XRF原理是一种重要的分析技术，具有广泛的应用领域和许多优点。
随着技术的不断进步，帕纳科XRF原理将在各个领域发挥更大的作用。
文章结构部分的内容如下所示：1.2 文章结构本篇长文主要围绕帕纳科XRF原理展开，文章的主要部分分为引言、正文和结论三个部分。
PCB行业中关于RoHS指令有害物质的检测方法.
PCB行业中关于RoHS指令有害物质的检测方法要求2006年7月1日开始，电子电气设备中禁止使用铅、汞、六价铬、镉和多溴联苯（PBB）、多溴二苯醚（PBDE）；其中镉限量指标 100PPm（0.01％），另五种限量l000ppm（0.1％）。
企业出口欧盟的产品都需符合以上的限量要求，并且要展示相应的证明文件，不符合要求的产品将会被拒绝进入欧盟市场。
下文介绍RoHS指令6种有害物质的检测方法。
１、X射线荧光光谱法① 适用范围：塑料部件、金属部件、电子元件中铅、汞、镉、总铬、溴的筛选测试② 技术特点：一次性快速定性分析样品中的铅、汞、镉、铬、溴元素。
对均质样品无须制样，可进行无损测试。
X荧光光谱仪2、傅立叶红外光谱法① 适用范围：对聚合物材料中高含量的PBB和PBDE??DD筛选测试。
② 特点：以PBB和PBDE特征红外光谱为定性依据、部分样品可以进行无损测试。
傅利叶红外光谱仪3、斑点法测六价铬① 适用范围：无色和着色铬酸盐涂层中六价铬的定性筛选测试。
② 特点：利用显色反应，直接定性测试样品表面涂层中六价铬，简便快速。
如出现阳性反应，需要用分光光度法等进行确证分析。
4、气相色谱/质谱联用分析法（GC-MS法）① 适用范围：塑料部件及电子元件中PBB、PBDE阻燃剂的定量分析。
② 仪器：台式气质联用仪③ GC-MS法是挥发性和半挥发性有机物定性定量测试的常见方法，广泛运用于各种有机毒害物的残留分析项目。
气质联用仪5、液相色谱法（HPLC法）① 适用范围：塑料部件及电子元件中PBB、PBDE阻燃剂的定量分析。
② 主要仪器：液相色谱仪；③ 技术特点：适用于十溴联苯和十溴二苯醚等难挥发性阻燃剂的测试，弥补GC-MS法的弱点。
液相色谱仪6、分光光度分析法① 适用范围：六价铬的含量测试② 主要仪器：紫外分光光度计；③ 技术特点：该方法是六价铬测试的经典方法，可参考多项国内外标准，如EPA3060A等。
紫外-可见分光光度仪7、电感耦合等离子体原子发射光谱法（ICP-AES法）① 适用范围：塑料部件、金属部件、电子元件中铅、汞、镉、总铬的含量测试。
X射线荧光光谱仪校准操作规程
X射线荧光光谱仪1 适用范围本规范适用于使用中和修理后的能量色散X射线荧光光谱仪的校准。
2 参考文献JJG 810-1993 波长色散X射线荧光光谱仪检定规程SN/T2003.1：2005 X射线荧光光谱法测铅，汞，铬，镉，溴SJ/T11365-2006 电子信息产品中有毒有害物质的检测方法3 概述能量色散X射线荧光光谱仪用于固体、粉末或液体物质的元素分析。
工作的基本原理是X射线管发出的初级X射线激发试样中的原子，测定由此产生的X射线的荧光的能量强度，根据各种元素特征X荧光光谱线的能量强度进行元素的定性和定量分析。
工厂购买能量色散X射线荧光光谱仪，主要用来确定产品中有害物质含量是否超标，主要依据是欧盟委员会先后颁布的（2002/95/EC）指令和2005/618/EC决议。
其中铅（Pb）、汞(Hg)、六价铬(Cr6+)、多溴联苯(PBB)、多溴二苯醚(PBDE)的最大允许含量为0.1%(1000mg/kg)，镉(cd)为0.01%(100 mg/kg)该限值是制定产品是否符合RoHS指令的法定依据。
金属材质只需要做重金属检测（铅、汞、镉、六价铬），塑料材质需要做规定的六项（铅、汞、镉、六价铬、多溴联苯、多溴二苯醚），其它材质只需做重金属测试。
X射线荧光光谱仪主要作用是做有害物质总含量的分析，对产品起到快速筛选的作用。
基体matrix含有或附有被分析物的材料或物质。
背景background叠加在分析线上的连续谱，主要来自试料对入射辐射的散射。
检出限limit of detection在一定置信水平下能检出的最低含量。
干扰线interference lines与分析线重叠或部分重叠，从而影响对分析线强度进行准确测量的谱线。
4 计量性能要求4.1外观4.1.1 仪器应有仪器名称、制造厂、出厂日期和编号的标志。
4.1.2 所有部件连接良好、动作正常。
4.1.3 面板上的仪表、指示灯和安全保护装置工作正常。
化妆品含铅汞测试方法
化妆品含铅汞测试方法化妆品是现代人日常生活中不可或缺的一部分，但是其中可能存在的有害物质却让人们担忧不已。
铅和汞是两种常见的有害金属，它们可能存在于化妆品中，对人体健康造成潜在威胁。
因此，对化妆品中含铅汞的测试方法显得尤为重要。
本文将介绍化妆品含铅汞测试的方法，希望能够帮助人们更加科学地选择和使用化妆品。
首先，化妆品含铅汞测试的方法之一是使用X射线荧光光谱仪。
这是一种常见的无损分析方法，通过测定化妆品中金属元素的含量来判断其中是否含有铅汞等有害物质。
X射线荧光光谱仪具有快速、准确、无损等特点，能够对化妆品进行全面的检测，是一种较为可靠的测试方法。
其次，化妆品含铅汞测试的方法还可以采用化学分析法。
这种方法通过将待测样品与适当的试剂发生化学反应，然后利用仪器测定反应产物来确定化妆品中的铅汞含量。
化学分析法能够对不同类型的化妆品进行测试，并且对于微量元素的检测也有较高的灵敏度，是一种较为常用的测试方法。
此外，还可以利用质谱法进行化妆品含铅汞的测试。
质谱法是一种高灵敏度、高选择性的分析方法，通过对待测样品进行质谱分析，可以准确地测定其中的各种成分，包括铅汞等有害物质。
质谱法对于化妆品中微量有害物质的检测效果较好，是一种较为精准的测试方法。
最后，还可以采用电化学方法进行化妆品含铅汞的测试。
电化学方法是利用电化学技术对待测样品进行分析，通过测定化妆品中的金属离子含量来判断其中是否含有铅汞等有害物质。
电化学方法具有操作简便、成本较低等优点，适用于化妆品中微量金属元素的测试。
综上所述，化妆品含铅汞测试的方法有多种，包括X射线荧光光谱仪、化学分析法、质谱法和电化学方法等。
每种方法都有其特点和适用范围，可以根据具体情况选择合适的测试方法进行化妆品的检测。
在日常生活中，消费者也可以通过选择有资质、信誉良好的化妆品品牌，减少化妆品中含铅汞的风险，保障自身健康。
希望本文所述的化妆品含铅汞测试方法能够为大家带来一些帮助，让大家在使用化妆品时更加放心和安全。
XRF筛选检测技术应用
操作流程与规范
样品准备
根据检测要求对样品进行适当处 理，如破碎、研磨、溶解等，以 便于XRF检测。
操作流程
遵循标准的操作流程，包括样品 放置、设备调整、数据采集等步 骤，确保检测过程的规范性。
规范操作
为避免误差和干扰因素，操作人 员需遵循相关规范，确保检测结 果的可靠性。
数据处理与分析
数据处理
01
要点二
环保措施
合理处理实验过程中产生的废液、废气等污染物，遵守相 关环保法规，确保环境安全。
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泛的应用领域。
局限性分析
对轻元素检测的局限性
XRF技术对于轻元素（如Li、Be、B等） 的检测存在一定的局限性，检测效果不
理想。
对复杂样品检测的局限性
对于一些结构复杂或成分不均匀的样 品，XRF技术的检测结果可能会存在
偏差。
对高含量元素检测的局限性
当样品中某元素含量过高时，XRF技 术的检测效果可能会受到影响。
便携
设备体积小，便于携带和移动 。
技术发展历程
20世纪50年代
20世纪70年代
XRF技术开始发展，最初主要用于地质和矿 产资源勘探等领域。
随着计算机技术和电子技术的发展，XRF技 术逐渐应用于工业生产和质量控制等领域 。
20世纪90年代
21世纪
随着小型化和集成化技术的发展，便携式 XRF仪器开始出现，广泛应用于考古、环境 监测、食品安全等领域。
XRF筛选检测技术应 用
contents
目录
• XRF技术简介 • XRF技术的应用领域 • XRF技术的优势与局限性 • XRF技术应用案例分析 • XRF技术的实践操作与注意事项01XRF技术简介
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利用X射线荧光光谱技术检测有害物质
摘要：本文主要概述X射线荧光光谱的基本特点及原理。
主要由三个方面来说明如何充分利用ED-XRF来进行有害物质的过程监控，这三个方面分别是资料的监控、评估及生产过程评估和成品评估。
利用样品对X射线的吸收随样品中的成分及其多少而变化来定性或定量测定样品中成分的这种方法被称为X射线荧光光谱技术。
关键词：ED-XRF；过程监控；有害物质
光光度法、原子光谱法、X射线荧光分析法（XRF）、气相色谱-质谱法，这些都是国内RoHS指令规定的有害物质的检测技术；电感耦合等离子体原子发射光谱仪（ICP-AES）、原子吸收分光光度计（AAS）、能量色散型X射线荧光光谱仪（ED-XRF）等，这些是常用的设备及仪器，其中最常用的就是ED-XRF。
1.X射线荧光光谱法的基本原理
首先，X射线管发射出原级X射线，然后滤光片把原级X射线照射出去，这样样品才会随即产生荧光X射线，然后荧光X射线在样品上的散射线和原级X射线一起通过光阑、吸收器和初级准直器装置，最后再以平行光束照射到需要分析的晶体上。
分析晶体时，入射的X射线通过次级准直器的晶体的散射线、衍射线按布喇格定律衍射直接进入探查仪器进行信号的光电转换，转换后经过仪表放大器和脉冲幅度分析器产生的电压信号，数据的测量和后期处理要用到。
将脉冲信号直接输入计算机，在数据定量分析时然后进行处理，在计算机中可读取到，从而分析元素含量。
从标定器上读取分析线的强度，便可进行脱机处理。
可用技术仪表将信号直接输入计数，再用记录仪器将数据记录下来，进行半定量分析，可以完成数据定性分析。
进行近似计算处理，也可采用其他方式完成半定量分析。
2.X射线荧光光谱法的特点
X射线荧光分析法是一种优势特别明显的方法，主要用于物质成分分析。
它的优势主要体现在：首先，化学键基本上不影响特征X射线光谱，原子发射光谱法与之相比，在定量分析中除氢元素外都较易校正，谱线简单，干扰较少，能够克服基体吸收和增强效应。
其次，不存在连续X射线光谱不存在其中，对比原级X射线发射光谱法和X射线荧光光谱法，本底强度小的是以散射线为主构成的，显著提高了谱峰与本底的对比度以及分析灵敏度，也较以及简便的操作，多种类型的固态和液态样品的测定都能够适用，易于实现分析过程的自动化。
而且能够保持本性特征在样品激发的过程中，有很好的再现性体现在强度测量上，于无损分析也同样更适用。
3.ED-XRF的测试误差分析
为了确保构成产品的各种材料所含的有害物质不超过限定浓度范围，所以要检测ED-XRF有害物质，因此至关重要的是对测试误差的分析。
除了操作误差和仪器本身的误差外，更要注意由样品误差和系统误差所产生的误差。
鉴于此，ED-XRF的筛选测试往往要设置高达30%的安全余量，一旦样品的测试数据超出安全余量范围，应进行确认测试。
3.1样品误差
3.1.1均匀性
测试样品必须为均质材料，即其各部分组成均相同，通过机械手段不能进一步拆分为不同材料的材料，如各种陶瓷、玻璃、金属、树脂、塑胶、涂料等，因为ED-XRF的入射光线较窄，直径只有1——5μm。
一旦位置或深度影响样品成分
的变化，测试前必须将样品拆分至基本的检测单元，否则测试结果就无法代表整体。
3.1.2厚度
ED-XRF对样品的厚度要求为无限厚是为防止样品厚度不同导致的测试误差，
因为X射线荧光谱线的信号强度往往随样品厚度的增加而呈现先增加后稳定的趋势，即X射线荧光强度不再随样品厚度增加而变化时的厚度，或样品所产生X射
线荧光强度的99%到达试样表面时的厚度（又称99%的无限厚度），在组成不变
的前提情况下。
另外，为了减少由厚度的数学校正所引起的误差，因此而选择无
限厚的样品。
厚度至少5mm的聚合物和轻合金，最小厚度为15mm的液体，厚
度大约为1mm的其他合金。
由于发泡类的包装材料内部空隙较多，应尽量通过
重叠以增加厚度，且通过增加压力的方式来减少空隙。
3.1.3测试面积
样品的测试面积越大，元素的特征X射线荧光谱线的强度越大，ED-XRF测试
的数据准确性越高，当X射线光束大小一定时。
样品的测试面积必须大于X射线
光束的照射面积，即所有样品必须完全覆盖光谱仪的测量窗口，这是ED-XRF要求。
粉末样品存在粒度效应，粒度越小，X射线强度越高，特别对于轻元素，液
态或粉末状样品的测试应在样品杯里进行。
3.1.4表面平整度
粒度效应的出现是由样品的表面粗糙所导致的，轻元素尤其敏感，主要体现
在表面光洁度越好，X射线荧光谱线的强度就越高。
因此，在测试时金属样品要
对其表面进行研磨或抛光处理，且为了防止表面氧化或污染处理后应立即进行测试。
3.2系统误差
基体的吸收—增强效应就是ED-XRF所指的系统误差，X射线荧光照射率与含
量之间的线性关系被吸收—增强效应的存在破坏了，所以必须考虑吸收—增强效
应问题，当测量对象为非单一组分时。
因为大多数该元素的受激发原子位于基体
内部，所以当产生的特征辐射离开基体时，基体中某个元素必须穿过一定体积的
基体才能产生特征辐射，且基体中的另一种元素会把它吸收从而导致强度减弱。
产生增强效应，即特征辐射是由吸收产生的光电效应所引起的。
一般可以通过实
验校正或数学校正的方法减少吸收—增强效应表现的分析元素特征谱线的干扰，
其中经验系数法和基本参数法，应用比较广泛，是包括在数学校正法里的。
4.ED-XRF进行有害物质检测的过程监控
4.1资材的评估和监控
资材导入时，若无法拆分的则可根据组织的化学实验室基础，设定最小拆分
尺寸，并记录于拆分报告中。
其余的根据资材的结构将其尽可能拆分为均质材料。
制定有害物质高中低风险表，并针对不同风险的资材制定不同的定期抽测计划，
如测试的频率、数量、人员等，达到定期监控的效果。
通过资材之于产品的作用
和ED-XRF的检测结果，对资材进行分类。
另外，进行相应的过程能力指数管控，根据ED-XRF的检测结果统计不同有害物质在不同资材中的存在风险，从而达到
重点监控的效果。
4.2生产过程评估
产品的有害物质管控是个特殊过程的控制，在生产过程中，作业人员、环境
和设备等不同因素的影响着产品，所以可以利用ED-XRF对产品的生产过程进行
评估和监控，从而防止过程中的有害物质引入。
通过对建立起的过程评估表定期
评估来达到过程监控的目的，分析容易产生污染的关键控制点，将制造过程分解
为不同的工序，并对各工序的半成品进行筛选测试。
4.3成品评估
有效控制资材和工艺往往是有害物质管控中所强调的源头管理，特别对于结
构复杂的整机产品，ED-XRF的测试要耗费大量的人力和物力，才能到达成品阶段。
成品的ED-XRF定期评估可以充分降低有害物质带来的质量风险，对于检测管理
颇为完善的大型企业来说。
5结论
随着时代的发展X射线荧光光谱法分析技术也在逐渐完善，以其高选择性，
高灵敏度，可以连续测定微量元素，而且检出限低，测定速度快，在各个领域中
得到了广泛应用。
它不仅可以应用于冶金、地质、化工、机械、石油、建材等工
业部门，以及物理、化学、生物、地学、环境科学、考古学等学科；还可用于测
定涂层和金属薄膜的厚度和组成以及动态分析等研究。
它在今后分析技术中是必
不可少的一部分。
参考文献：
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