材料表征
物理学中的材料表征
物理学中的材料表征材料表征是物理学中研究和描述材料性质的重要领域。
通过表征材料的物理特性，可以深入了解材料的组成、结构和行为。
本文将介绍几种常见的物理学中的材料表征方法，包括X射线衍射、扫描电子显微镜、拉曼光谱和核磁共振等。
1. X射线衍射X射线衍射是一种常用的材料表征技术，通过照射材料表面的X射线，观察其衍射图案来研究材料的晶体结构。
X射线衍射可以确定晶体的晶格常数、晶胞结构和晶体形貌等信息。
此外，X射线衍射还可以用于分析材料的结构缺陷和晶体品质。
2. 扫描电子显微镜扫描电子显微镜（SEM）是一种高分辨率的显微镜技术，可以观察材料的表面形貌和微观结构。
通过扫描电子显微镜，可以获得材料的形貌图像，揭示材料的表面形貌、晶界分布和颗粒大小等信息。
此外，SEM还可以通过能谱分析技术获得材料表面的元素成分分布图像。
3. 拉曼光谱拉曼光谱是一种基于光散射原理的表征技术，可以用来研究材料的分子结构和化学成分。
通过照射材料表面的激光光束，观察光的散射光谱，可以获取材料的拉曼光谱图。
拉曼光谱可以揭示材料的分子振动信息、晶格振动和晶体的晶化程度等重要特征。
4. 核磁共振核磁共振（NMR）是一种基于原子核自旋的表征技术，广泛应用于材料科学中。
通过在强磁场中对材料进行磁化处理，然后应用特定的射频脉冲，观察材料的核磁共振信号，可以获得材料的结构和成分信息。
核磁共振可以鉴定有机分子的化学结构，研究材料的动态行为和相变过程。
总结：物理学中的材料表征是一门重要的研究领域，通过多种表征方法，可以深入研究材料的性质和行为。
本文介绍了X射线衍射、扫描电子显微镜、拉曼光谱和核磁共振等几种常见的材料表征技术。
这些方法在材料科学、化学和物理学等领域中具有广泛的应用，为研究人员提供了有效的工具来理解和探索材料的微观结构和特性。
材料表征常见测试及分类
材料表征是指通过各种测试手段对材料的物理、化学、力学、电学、光学等性质进行测量，以了解材料的内部结构和特性，从而为材料的设计、制备、加工和应用提供依据。
以下是常见的材料表征测试及分类：
1. 显微镜测试：包括光学显微镜、电子显微镜、扫描电镜、透射电镜等，用于观察材料的微观结构和形貌特征，如晶粒大小、晶界、缺陷等。
2. 力学测试：包括压缩、拉伸、弯曲、剪切等，用于测量材料的力学性质，如强度、硬度、韧性、延展性等。
3. 热学测试：包括热膨胀、热导率、热容、热导等，用于测量材料的热学性质，如热膨胀系数、热导率等。
4. 电学测试：包括电阻率、电容率、电导率、介电常数、介电损耗等，用于测量材料的电学性质，如电导率、介电常数、介电损耗等。
5. 光学测试：包括反射率、折射率、吸收率、透射率等，用于测量材料的光学性质，如折射率、吸收率、透射率等。
6. 化学测试：包括化学成分分析、化学稳定性测试、表面分析等，用于测量材料的化学性质，如化学成分分析、化学稳定性测试、表面分析等。
根据测试的目的和方法，材料表征可以分为定性表征和定量表征两类。
定性表征是指通过观察和描述材料的外观、结构、性质等特征，来初步了解材料的基本情况。
定量表征则是通过精确的测试手段，对材料的物理、化学、力学等性质进行精确测量，并得出相应的数值，以便进行比较、分析和研究。
材料的五种表征方法
材料的五种表征方法材料的五种表征方法是材料科学中常用的五种表征材料性质的方法，包括物理性质、化学性质、结构性质、力学性质和热学性质。
这些方法可以帮助我们更全面地了解材料的性质和特点，从而更好地应用和开发材料。
一、物理性质物理性质是指材料在物理方面的性质，如密度、热导率、电导率、磁导率等。
这些性质可以通过实验测量得到，从而了解材料的物理特性。
例如，密度可以反映材料的质量和体积之间的关系，热导率可以反映材料传热的能力，电导率可以反映材料导电的能力，磁导率可以反映材料对磁场的响应能力。
二、化学性质化学性质是指材料在化学方面的性质，如化学成分、化学反应等。
这些性质可以通过化学分析和实验测量得到，从而了解材料的化学特性。
例如，化学成分可以反映材料的组成和结构，化学反应可以反映材料与其他物质的反应能力。
三、结构性质结构性质是指材料在结构方面的性质，如晶体结构、晶格常数、晶体缺陷等。
这些性质可以通过X射线衍射、电子显微镜等实验手段得到，从而了解材料的结构特性。
例如，晶体结构可以反映材料的原子排列方式，晶格常数可以反映材料晶格的大小和形状，晶体缺陷可以反映材料中存在的缺陷和杂质。
四、力学性质力学性质是指材料在力学方面的性质，如强度、韧性、硬度等。
这些性质可以通过实验测量得到，从而了解材料的力学特性。
例如，强度可以反映材料承受外力的能力，韧性可以反映材料抗断裂的能力，硬度可以反映材料抗划伤的能力。
五、热学性质热学性质是指材料在热学方面的性质，如热膨胀系数、比热容、热导率等。
这些性质可以通过实验测量得到，从而了解材料的热学特性。
例如，热膨胀系数可以反映材料随温度变化时的体积变化情况，比热容可以反映材料吸收或释放热量的能力，热导率可以反映材料传热的能力。
综上所述，材料的五种表征方法可以帮助我们更全面地了解材料的性质和特点，从而更好地应用和开发材料。
在材料科学研究和工程应用中，这些方法都具有重要的作用。
材料表征方法名词
材料表征方法名词以下是常见的材料表征方法名词：1. X射线衍射（X-ray diffraction，XRD）：利用X射线的衍射原理来分析材料的晶体结构、晶体相、晶体缺陷等。
2. 扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，SEM）：通过使用电子束来照射样品表面并收集其反射电子来观察材料的形貌、表面形态、粒径等。
3. 透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope，TEM）：利用透射电子来观察材料的微观结构，例如晶体结构、晶格缺陷、晶界、原子尺度的成分分析等。
4. 傅里叶变换红外光谱（Fourier Transform Infrared spectroscopy，FTIR）：利用材料对红外辐射的吸收和散射来分析材料的化学组成、分子结构等。
5. 热重分析（Thermogravimetric Analysis，TGA）：通过在控制升温条件下测量材料质量的变化来分析材料的热稳定性、热分解特性等。
6. 原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM）：利用探针与样品表面之间的相互作用力来观察材料的表面形态、表面粗糙度、力学性能等。
7. 核磁共振（Nuclear Magnetic Resonance，NMR）：利用材料中的原子核在外磁场作用下的共振吸收来分析材料的分子结构、组成等。
8. 拉曼光谱（Raman Spectroscopy）：利用材料对激光的散射来分析材料的分子振动、晶体结构、材料性能等。
9. 等离子体质谱（Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry，ICP-MS）：通过将样品化合物转化为离子并通过质谱仪测量其质量-电荷比来分析材料中的元素组成、含量等。
10. X射线光电子能谱（X-ray Photoelectron Spectroscopy，XPS）：利用材料表面电子对X射线的光电离来分析材料表面的成分、化学态等。
材料表征方法
材料表征方法一、引言。
材料表征是材料科学研究中的一个重要环节，通过对材料进行表征可以了解材料的结构、性能和特性，为材料的设计、合成和应用提供重要依据。
本文将介绍常见的材料表征方法，包括显微结构表征、物理性能表征和化学性能表征。
二、显微结构表征。
1. 光学显微镜。
光学显微镜是最常用的显微结构表征方法之一，通过光学显微镜可以观察材料的表面形貌和微观结构，了解材料的晶体形态、晶粒大小和分布等信息。
2. 电子显微镜。
电子显微镜包括扫描电子显微镜（SEM）和透射电子显微镜（TEM），能够观察材料的微观形貌和晶体结构，对材料的晶体学性质进行详细表征。
三、物理性能表征。
1. X射线衍射。
X射线衍射是一种常用的物理性能表征方法，通过分析材料对X射线的衍射图样，可以得到材料的晶体结构信息，包括晶格常数、晶面指数和结晶度等。
2. 热分析。
热分析是通过对材料在不同温度下的热学性质进行测试，包括热重分析（TGA）、差热分析（DSC）和热膨胀分析（TMA），可以得到材料的热稳定性、热容量和热传导性等信息。
四、化学性能表征。
1. 质谱分析。
质谱分析是一种常用的化学性能表征方法，通过对材料中各种化合物的质谱进行分析，可以确定材料的组成和结构，了解材料的化学成分和分子结构。
2. 红外光谱。
红外光谱可以用于表征材料的化学成分和分子结构，通过分析材料在红外光谱下的吸收特征，可以得到材料中各种官能团的信息，包括羟基、羰基和氨基等。
五、结语。
材料表征是材料科学研究中的重要内容，通过对材料的显微结构、物理性能和化学性能进行全面表征，可以为材料的设计、合成和应用提供重要依据。
本文介绍了常见的材料表征方法，希望能够对材料科学研究者有所帮助。
materials characterization jcr分区 -回复
materials characterization jcr分区-回复关于材料表征的JCR分区问题。
JCR分区是指科学引文索引（Science Citation Index，SCI）根据期刊的影响力和学术质量，将期刊划分为不同的分区。
JCR分区系统对于科学研究领域的评估和发展非常重要，对于材料学科也不例外，例如材料表征领域。
材料表征（Materials Characterization）是一门研究材料结构、性能和行为的学科，通过采用各种分析方法和仪器，对材料进行表面形貌、组成、结构和性质的分析和测试。
材料表征的目的是为了获得材料的详细信息，以便设计和开发新材料，改进现有材料的性能，以及解决材料相关问题。
在JCR分区中，材料表征期刊被分为不同的分区，以反映其对学术界的影响力和学术质量。
一般来说，JCR分区包括四个大的分区，即科学、社会科学、艺术与人文和医学。
在这些大的分区下，又进一步划分了多个小的分区。
材料表征期刊的具体分区取决于其在整个学科领域中的重要性和引用率。
在JCR分区中，材料表征期刊主要集中在科学分区和工程技术分区下的材料科学领域，同时也可能涉及到其他相关领域，比如物理学和化学等。
而具体分区如何划分，则需要根据具体杂志的学术水平和影响力来决定。
对于材料科学领域的研究者和学术机构来说，JCR分区可以被视为一个重要的参考指标。
高水平的JCR分区意味着一个杂志在学术界中的声誉和影响力较高，其发表的研究成果也更容易被其他学者接受和引用。
而且，高水平的JCR分区还可以帮助研究者申请科研项目和职称晋升等。
总之，JCR分区是衡量材料表征期刊学术质量和影响力的重要指标。
通过JCR分区，研究者和学术机构可以更加全面和客观地评估材料表征期刊的学术价值，并将其纳入研究计划和决策中。
同时，JCR分区也为材料表征领域提供了更大的交流和合作机会，促进了学科的发展和进步。
材料表征教案
材料表征教案教案标题：材料表征教案教学目标：1. 了解材料表征的概念和重要性。
2. 掌握常见的材料表征方法和技术。
3. 能够运用所学知识，选择合适的表征方法对不同材料进行分析和评估。
教学准备：1. 材料表征相关的教材、参考书籍和资料。
2. 实验室设备和材料，如显微镜、光谱仪等。
3. 幻灯片或投影仪。
教学过程：步骤一：引入（5分钟）通过提问或展示相关图片，引起学生对材料表征的兴趣，并让学生思考为什么材料表征对于科学研究和工程应用非常重要。
步骤二：概念解释（10分钟）解释材料表征的概念，即通过一系列的实验和测试手段来研究和描述材料的性质、结构、组成等特征。
强调不同材料表征方法的适用范围和优缺点。
步骤三：常见的材料表征方法（15分钟）介绍常见的材料表征方法，包括但不限于：1. 显微镜观察：光学显微镜、电子显微镜等。
2. 光谱分析：红外光谱、紫外光谱、拉曼光谱等。
3. 表面分析：扫描电子显微镜、原子力显微镜等。
4. 结构分析：X射线衍射、核磁共振等。
5. 热分析：差示扫描量热法、热重分析等。
步骤四：案例分析（20分钟）选择一个具体的材料案例，例如金属、陶瓷或聚合物材料，结合所学的材料表征方法，进行案例分析。
指导学生根据所选材料的特性和需要，选择合适的表征方法进行分析和评估，并讨论分析结果对材料性能和应用的影响。
步骤五：实践操作（30分钟）安排学生进行实践操作，使用实验室设备和材料进行材料表征实验。
可以选择简单的实验，如使用光学显微镜观察材料的微观结构，或者使用红外光谱仪分析材料的化学成分。
步骤六：总结和评估（10分钟）总结本节课所学的内容，并进行学生的学习评估。
可以通过小组讨论、问题解答或简答题等形式进行。
拓展活动：鼓励学生进行更多的材料表征实验和研究，可以组织学生参观科研机构或工程实验室，了解更多前沿的材料表征技术和应用。
教学反思：在教学过程中，要注重理论与实践的结合，通过案例分析和实践操作，帮助学生深入理解材料表征的重要性和应用价值。
常用的材料表征手段及方法
常用的材料表征手段及方法
一、常用的材料表征手段及方法
1、电子显微镜（Scanning Electron Microscope，SEM）：利用电子束扫描样品表面，产生高放大倍数的图像，研究材料表面形貌结构及其细节特征，可以分析出材料表面的厚度、形貌、角度等。
2、X射线衍射（X-ray Diffraction，XRD）：利用X射线以一定角度射向样品，检测其衍射的现象，从而分析样品的结构及其组成。
3、热重分析（Thermal Analysis）：分析材料在温度变化过程中物质的重量变化，从而推断材料的性质变化，或者判定材料过程中发生的反应。
4、拉伸测试（Tensile Test）：拉伸测试是检测材料力学性能的主要手段，拉伸力的大小可以反映出材料的强度和延伸率等特性。
5、硬度测试（Hardness Test）：硬度测试是对材料的耐磨性和硬度的检测，通过摩擦和冲击计测量材料的硬度，从而评估材料的抗磨损性能。
6、热膨胀测试（Thermal Expansion Test）：热膨胀测试是检测材料对温度变化的反应，通过测量材料在不同温度下的体积变化，从而判断材料的热膨胀性能。
7、真空测试（Vacuum Test）：真空测试是检测材料密封性能的主要手段，将材料放入真空环境中，测量材料的密封性能，从而判
断材料的使用寿命。
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⑸STM 的应用： 表面结构观测：STM 是研究表面原子结构强有力的工具，尽管有些时候并不能将 STM 图像的结构细节
简单地归结为原子的空间排布情况，但人们利用 STM 可解决许多表面科学问题。例如：Si（111）表面的 7×7 重构结构。
表面化学反应研究：STM 对工作环境的要求相当宽松，可以在大气、空气、溶液、低温、高温等环境下 工作，这是 STM 技术的一个重要特色。由此可以方便地研究表面化学反应。
4、扫描电子显微镜（SEM）的图像主要利用什么电子成像？优点有哪些？以及它的发射量主要与哪些因素有关？ 答：⑴二次电子； ⑵二次电子成像的优点：①分辨率高，可达 6nm；②放大倍数高，可达 18 万倍；③景深好，是光学显微 镜的几百倍，所以立体感强；④反差对比度好，图像细节清楚；⑤可以与成份分布状态结合观察；⑥制样 极为方便，不损坏样品的原始形貌和各部分相互关系。
2、X 射线能量色散谱仪的工作原理是什么？可以对样品进行什么分析？它检测到的是什么信号？这种信号如何 产生的？并说明 Kα物理意义。
答：⑴电子束轰击样品使各种元素被激发而发射出不同能量的 X 射线，将这些 X 射线收集起来，按能量的大小 将其分类，并快速显示出谱线，同时加以检测。
⑵X 射线能量色散谱仪是透射电镜附带的能量色谱仪。是一种利用特征 X 射线能量不同而进行分辨谱的方 法。可以对样品进行定性和定量分析。 ⑶它能检测到：X 射线的能量，也可以检测到这些 X 射线之间的强度关系，（特征 X 射线） ⑷特征 X 射线的产生：电子流束轰击固体样品时除了引起大量价电子电离外，还会引起一定量内层电子激 发或电离，使原子处于一种较高的激发状态。这是一种不稳定的状态，较多电子会迅速填补内层电子空位， 使原子的能量降低而再回到稳定状态，这种能量跃迁过程直接释放一种具有特征能量和特征波长的电磁波， 即特征 X 射线。 ⑸Kα 的物理意义：在高能量的电子作用下，使原子的一个 K层电子电离，原子体系就处于 K层激发状态， 此时较外层的电子都可以落到那个空位上，若 L 层的电子落到 K空位上，释放的特征 X 射线称作 Kα。
⑵扫描电子显微镜的样品制备要点: ①在高真空条件下，样品为干燥的固体。②防止样品污染。 ③不导电样品表面一般镀上金薄膜，使表面导电消除电荷堆积，增加样品的二次电子发射率，提高图像 衬度，减小入射电子对样品的照射损伤。 ④导电性好的样品一般可保持原样形态，进行分析。 ⑤样品尺寸大小应符合要求。
⑶SEM 能检测到： 二次电子：入射电子束（一次）从样品表层 10nm 左右深度激发出来的低能电子 50eV（二次）。当以价 电子为主的原子核核外电子从入射电子那里获得了大于相应临界电离激发结合能的能量可以离开原子成 为自由电子，其中一些从样品表面溢出，变为真空中的自由电子，即二次电子； 背散射电子：背散射电子就是由样品反射出来的初次电子。当电子束照射样品时，入射电子在样品内遭 到衍射时，会改变方向，甚至损失一部分能量（在非弹性散射的情况下）。在这种弹性和非弹性散射的过 程中，有些入射电子累积散射角超过 90 度，并将重新从样品表面逸出。 吸收电子：吸收电流是指入射电子束照射样品时，残存在样品中的电子通过导线流向大地的电流。
纳米材料的形貌测定：AFM 不仅可用来表征导体、半导体的形貌，还可以直接用于绝缘体样品的研究。 纳米尺度的物性测量：对纳米尺度的物性研究，有助于人们进一步认识纳米世界的运动规律，运用这些 性质来设计和制备下一代纳米器件。 生物材料的研究：AFM 不仅可以对生物分子进行高分辨成像，而且还可以对生物分子进行操纵。 纳米结构加工：利用 AFM 针尖与样品之间的相互作用力可以搬动样品表面的原子、分子，而且可利用 此作用力改变样品的结构，从而对其性质进行调制。
5、关于扫描隧道显微镜(STM)的工作原理及工作模式。它的组成和特点及用途有哪些？ 答：⑴工作原理：当探针与样品表面间距小到纳米量级﹙﹤1nm﹚时，经典力学认为：由于中间的空气将探针与样品 表面隔开，探针与样品表面是不导电的；但从量子力学的观点来看，探针尖端的原子与样品表面的原子具有波 动性，两者的波函数会发生重叠，因此探针与表面之间会产生电流，该电流称隧道电流，隧道电流的强度与针 尖和样品间距 S 成指数关系，对间距 S 的变化非常敏感，STM 就是利用这一原理来工作的。 ⑵它的工作模式有两种： 恒高模式：探针在样品表面扫描时，使探针的绝对高度不变，这时探针与样品表面的相对距离就会改变， 即隧道电流会改变，通过测量电流的变化来反映样品表面的高低起伏。这种扫描模式叫做恒高模式。 恒流模式（常用）：探针在样品表面扫描时，通过反馈回路控制隧道电流恒定不变，即探针与样品表面相 对距离保持恒定，这时探针沿 xy 平面内扫描时在 z 轴方向的运动就反映了样品表面的高低起伏，这种扫描 模式叫恒流模式。 ⑶STM 由下列几部分组成： 振动隔绝系统 ：保证系统工作不受外界振动等干扰。 机械传感系统：STM 的机械系统应满足 STM 扫描及调整针尖与样品距离等操作的要求。 电子控制系统：用于产生隧道电流并维持其恒定, 控制针尖扫描。 探头(隧道针尖)：STM 常用的针尖材料: 是 Pt-Ir 针尖和 W 针尖。 计算机控制系统：控制各个系统运动、收集、存贮、处理获得信息和图像。 ⑷扫描隧道显微镜的特点： ①极高的分辨率；②实时获得真实空间表面的三维图像，从而可用于观察和研究各种表面结构；③在各种 不同环境下工作；④利用 STM 针尖，可以对原子和分子进行操作，甚至可以在表面移走原子而构成图形；
纳米尺度的加工：STM 不仅仅是被动地观测表面结构的工具，并且可用来诱导表面发生局域的物理和化 学性质的变化，以对表面进行纳米尺度的加工，构成新一代的纳米电子器件或者发展新一代的超高密度信 息存储器件。 6、原子力显微镜（AFM）的工作原理和检测方式及工作模式。它的装置和对力学传感器要求及用途有哪些？ 答：⑴工作原理：将探针装在一弹性微悬臂的一端，微悬臂的另一端固定，当探针在样品表面扫描时，探针与 表面之间存在极微弱的作用力 (10-8～10-6N)，会使微电子发射量主要决定于样品表面的起伏状况： ①当电子束垂直于样品表面入射时，发射二次电子量最小； ②随着电子束的倾斜或样品的倾斜，二次电子发射量就增加； ③二次电子发射量还与样品中元素的原子序数有关。原子序数高，产生二次电子的价电子会增多； ④喷镀金膜除了使样品导电外，还有一个目的就是使样品表面二次电子产额增加； ⑤样品的不同几何外形对二次电子作用是不一样的。
杨合情 1、透射电镜（TEM）主要利用什么电子成像？它对样品的要求是什么？配有电子衍射和能谱的高分辨率的透射 电镜能对一个纳米晶体材料进行哪些分析？
答：⑴利用到透射电子成像； ⑵样品很薄，薄膜厚度<200nm，有时要求薄膜厚度在 10nm 左右。透射电子显微分析中，要求样品达到几 个基本条件： ① 样品置于载托样的铜网上，铜网的 d=2–3mm，所观察的试样最大尺寸不超过 1mm。 ② 电子束可以穿透样品，样品的一般厚度不超过 100–200nm ③ 透射电子显微镜中处于高真空状态，只能研究固体样品。 ④ 样品要有较好的强度和稳定性，在电子轰击下不至损坏变化，样品制备后导电性应较好。 ⑤ 样品应非常清洁，以保证图像质量和真实性。 ⑶价态分析和成分分析。
轻敲模式：轻敲模式中，探针在样品表面上以接近微悬臂固有频率振动，振荡的针尖交替地与样品表面 接触和抬高，这种交替通常每秒钟 5×104～5×105 次。
另外还有两种工作模式：插行扫描模式和力调制模式。 ⑷原子力显微镜的装置和 STM 一样，AFM 也有振动隔绝系统、机械系统、针尖系统、电子系统和计算机 系统几个大的部分组成。
恒力模式：通过反馈系统使探针、样品表面作用力保持恒定，当探针在 xy 平面内扫描时，探针的 z 向运 动就可反映样品表面形貌及其它表面结构。 这种检测方式为恒力模式。
恒高模式：在 x、y 平面内扫描时,不使用反馈回路，保持针尖与样品绝对距离恒定，直接检测微悬臂 Z 方向的变量来成像。这种检测方式为恒高模式。 ⑶AFM 的工作模式，主要有三种：
其关键部分仍是针尖系统：这里，针尖感受的不是隧道电流，而是原子间的相互作用力；微悬臂及其针 尖是 AFM 所特有的，并且是技术成败的关键之处； ⑸为了准确反映样品的形貌和尽可能提高仪器的刚性，力传感器要满足以下要求：低的力弹性常数；高的 力学共振频率 ；高的横向刚性；短的微悬臂长度；传感器带有镜子或电极 ；带有一个尽可能尖的针尖。 ⑹它的用途主要有：
填空题： 1、电子波长比可见光波长 短 的多，随着加速电压的升高，电子波长将 减少 。其电镜图像清晰度 增大 。 2、多级电磁镜组成的电子显微镜的放大倍数等于各级透镜放大倍数的 积 。 3、背散射电子除了与样品 形貌 有关外，还与样品成分有密切关系，平均原子序数高的物相背散射能力 强 。 4、随电磁透镜孔径角的减小，球差 散焦斑 半径将会 减小 ，但衍射引起的 埃里斑 半径却 增大 。 5、电镜的 有效放大率 与仪器的 分辨率 相对应。 6、背散射电子比二次电子，俄歇电子能量都 大 一些。溢出深度也 多的多 ，成像的 色差较大 ，所以背散射 电子图像 分辨率较差 。然而背散射电子的成像即代表形貌相也代表 成分 的像。 7、随着原子序数的减小，非弹性散射所占的比例 越大 ，利用散射电子成像时，由于轻元素试样成像的色差 较 大 ，因此图像清晰度 下降 。 8、理想的单晶体试样产生 周期规律排列 的电子衍射斑点，多晶试样产生 同心环状 衍射花样，无定形的试样 产生 弥散状 的衍射花样。 9、X 射线能量色谱仪利用 特征 X 射线 能量的不同，对试样进行定性和定量分析。 10、扫描隧道显微镜检测的是 探针和样品 之间 隧道电流 ，它与探针和样品之间 距离 有强烈的依赖关系。 原子力显微镜与它相比最大的优点是 可用来研究有较厚氧化层的样品 和 不要求样品表面导电 。 11、透射电子显微镜分析要求样品对电子束是 透明的 ，它的放大倍数比一般的扫描电子显微镜的 大 。 12、原子力显微镜检测的是 探针和样品 之间的 作用力 ，它与探针和样品之间的 距离有强烈的依赖关系 。 13、衍射衬度的明场像是 透射电子 透过光栏孔，暗场像是 衍射电子 透过光栏孔。 14、电子束与物质相互作用时，随着特征 X 射线产生的同时常常也产生 俄歇电子 。 15、透射电镜的电子光学系统由 照明系统 ， 成像系统 ， 图像观察和记录系统 和 样品室 四部分组成。 16、电镜的能量谱仪利用 透射电子 能量的不同，对试样进行 定性、定量 分析。 17、电子显微镜是利用电子束流作 光源 使物体成像。电子束流的波长随着加速电压的增大而减小。 18、电磁透镜的分辨率一定时，它的景深随孔径半角的减小而 增大 ，它的焦长除了与分辨率和孔径半角有关 外还与 透镜的放大倍数 有关。