单晶多晶非晶衍射花样特征及形成原理

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材料现代分析方法试题2(参考答案)

材料现代分析方法试题2(参考答案)

材料现代分析方法试题4(参考答案)一、基本概念题(共10题,每题5分)1.实验中选择X射线管以及滤波片的原则是什么?已知一个以Fe为主要成分的样品,试选择合适的X射线管和合适的滤波片答:实验中选择X射线管的原则是为避免或减少产生荧光辐射,应当避免使用比样品中主元素的原子序数大2~6(尤其是2)的材料作靶材的X射线管。

选择滤波片的原则是X射线分析中,在X射线管与样品之间一个滤波片,以滤掉Kβ线。

滤波片的材料依靶的材料而定,一般采用比靶材的原子序数小1或2的材料。

以分析以铁为主的样品,应该选用Co或Fe靶的X射线管,同时选用Fe和Mn 为滤波片。

2.试述获取衍射花样的三种基本方法及其用途?答:获取衍射花样的三种基本方法是劳埃法、旋转晶体法和粉末法。

劳埃法主要用于分析晶体的对称性和进行晶体定向;旋转晶体法主要用于研究晶体结构;粉末法主要用于物相分析。

3.原子散射因数的物理意义是什么?某元素的原子散射因数与其原子序数有何关系?答:原子散射因数f 是以一个电子散射波的振幅为度量单位的一个原子散射波的振幅。

也称原子散射波振幅。

它表示一个原子在某一方向上散射波的振幅是一个电子在相同条件下散射波振幅的f倍。

它反映了原子将X射线向某一个方向散射时的散射效率。

原子散射因数与其原子序数有何关系,Z越大,f 越大。

因此,重原子对X射线散射的能力比轻原子要强。

4.用单色X射线照射圆柱多晶体试样,其衍射线在空间将形成什么图案?为摄取德拜图相,应当采用什么样的底片去记录?答:用单色X射线照射圆柱多晶体试样,其衍射线在空间将形成一组锥心角不等的圆锥组成的图案;为摄取德拜图相,应当采用带状的照相底片去记录。

5.什么是缺陷不可见判据? 如何用不可见判据来确定位错的布氏矢量? 答:缺陷不可见判据是指:0=⋅R g。

确定位错的布氏矢量可按如下步骤:找到两个操作发射g1和g2,其成像时位错均不可见,则必有g1·b =0,g2·b =0。

材料结构分析习题解析

材料结构分析习题解析

材料结构分析习题解析材料结构分析习题解析⼀、名词解释:球差:由于电⼦透镜中⼼区域和边缘区域对电⼦会聚能⼒不同⽽使得与光轴夹⾓不同的光线交于光轴不同位置,在像平⾯上形成⼀个圆形的弥散斑。

⾊差:是电⼦能量不同,从⽽波长不⼀造成的景深:在保持像清晰的前提下,试样在物平⾯上下沿镜轴可移动的距离或者说试样超过物平⾯所允许的厚度焦深:在保持像清晰的前提下,象平⾯沿镜轴可移动的距离或者说观察屏或照相底板沿镜轴所允许的移动距离分辨率:指所能分辨开来的物⾯上两点间的最⼩距离明场成像:只让中⼼透射束穿过物镜光栏形成的衍衬像称为明场镜。

暗场成像:只让某⼀衍射束通过物镜光栏形成的衍衬像称为暗场像。

中⼼暗场像:⼊射电⼦束相对衍射晶⾯倾斜⾓,此时衍射斑将移到透镜的中⼼位置,该衍射束通过物镜光栏形成的衍衬像称为中⼼暗场成像。

衬度:试样不同部位由于对⼊射电⼦作⽤不同,经成像放⼤系统后,在显⽰装置上显⽰的强度差异。

消光距离:电⼦束强度由极⼤到极⼩再到极⼤完成⼀个周期变化沿⼊射束⽅向所经历的距离菊池花样:平⾏⼊射束经单晶⾮弹性散射失去很少的能量随后⼜与⼀组反射⾯满⾜布拉格定律发⽣弹性散射产⽣的由亮暗平⾏线对组成的⼀种花样。

衍射衬度:由于晶体薄膜的不同部位满⾜布拉格衍射条件的程度有差异以及结构振幅不同⽽形成电⼦图像反差。

双光束条件:电⼦束穿过样品后,除透射束外,只有⼀族晶⾯严格符合布拉格条件,其他⼤⼤偏离布拉格条件,结果衍射花样除了透射斑外,只有⼀个衍射斑强度较⼤,其他衍射斑强度基本忽略,这种情况为双光束条件电⼦背散射衍射:在扫描电⼦显微镜中,利⽤⾮弹性散射的背散射电⼦与晶体衍射后,在样品的背⾯得到的菊池衍射结果⼆次电⼦:⼊射电⼦轰击试样,试样表层5~50A深度内原⼦的外层电⼦受激发⽽发射出来的电⼦背散射电⼦:⼊射电⼦在试样内经过⼀次或⼏次⼤⾓度弹性散射或⾮弹性散射后离开试样表⾯的电⼦,具有较⾼的能量,可从试样较深部位射出。

⼆、简答1.透射电镜主要由⼏⼤系统构成? 各系统之间关系如何?答:四⼤系统:电⼦光学系统,真空系统,供电控制系统,附加仪器系统。

(完整版)材料分析方法试题及答案07

(完整版)材料分析方法试题及答案07

材料现代分析方法试题7(参考答案)一、基本概念题(共10题,每题5分)1.欲用Mo靶X射线管激发Cu的荧光X射线辐射,所需施加的最低管电压是多少?激发出的荧光辐射的波长是多少?答:欲使Cu样品产生荧光X射线辐射,V =1240/λCu=1240/0.15418=8042,V =1240/λCu=1240/0。

1392218=8907激发出荧光辐射的波长是0。

15418nm激发出荧光辐射的波长是0.15418nm2.判别下列哪些晶面属于[11]晶带:(0),(1),(231),(211),(01),(13),(12),(12),(01),(212)。

答:(0)(1)、(211)、(12)、(01)、(01)晶面属于[11]晶带,因为它们符合晶带定律:hu+kv+lw=0。

答:(0)(1)、(211)、(12)、(01)、(01)晶面属于[11]晶带,因为它们符合晶带定律:hu+kv+lw=0。

3.用单色X射线照射圆柱多晶体试样,其衍射线在空间将形成什么图案?为摄取德拜图相,应当采用什么样的底片去记录?答:用单色X射线照射圆柱多晶体试样,其衍射线在空间将形成一组锥心角不等的圆锥组成的图案;为摄取德拜图相,应当采用带状的照相底片去记录.4.洛伦兹因数是表示什么对衍射强度的影响?其表达式是综合了哪几方面考虑而得出的?答:洛伦兹因数是表示掠射角对衍射强度的影响。

洛伦兹因数表达式是综合了样品中参与衍射的晶粒大小,晶粒的数目和衍射线位置对衍射强度的影响。

5.给出简单立方、面心立方、体心立方以及密排六方晶体结构电子衍射发生消光的晶面指数规律。

答:常见晶体的结构消光规律简单立方对指数没有限制(不会产生结构消光)f. c. c h。

k. L. 奇偶混合b. c。

c h+k+L=奇数h。

c。

p h+2k=3n, 同时L=奇数体心四方 h+k+L=奇数6.透射电镜的成像系统的主要构成及特点是什么?答:透射电镜的成像系统由物镜、物镜光栏、选区光栏、中间镜(1、2)和投影镜组成。

常见晶体标准衍射花样

常见晶体标准衍射花样

常见晶体标准衍射花样晶体衍射是一种常见的物质结构表征手段,通过衍射花样的观察和分析,可以得到晶体的结构信息,包括晶胞参数、晶体结构类型、晶面指数等。

常见的晶体衍射花样有单晶衍射花样和粉末衍射花样两种,它们在实验方法、数据处理和结果解释上有所不同。

单晶衍射是指对单个晶体进行衍射实验,由于每个晶体的结构是有序的,所以单晶衍射可以得到非常清晰的衍射花样。

在单晶衍射实验中,通常使用X射线或电子衍射技术,通过旋转晶体和探测器的位置,可以得到全息的三维衍射数据。

单晶衍射花样的特点是衍射斑点清晰,位置确定,强度可测,可以直接用于晶体结构的确定和修正。

粉末衍射是指对晶体粉末进行衍射实验,由于粉末中含有大量晶体颗粒,所以在衍射图样中会出现许多重叠的衍射斑点。

粉末衍射实验通常使用X射线或中子衍射技术,通过旋转样品台得到一系列衍射图样,然后通过数据处理得到衍射角2θ和衍射强度I的关系图谱。

粉末衍射花样的特点是衍射斑点密集,但由于有重叠,所以需要进行数据处理和解谱才能得到有用的结构信息。

在实际应用中,常见的晶体衍射花样有立方晶系的简单立方、体心立方、面心立方的衍射花样,这些衍射花样具有特定的对称性和衍射规律,可以通过比对实验数据和标准数据来确定晶体的结构类型和晶胞参数。

此外,各种晶体结构类型如六方晶系、四方晶系、单斜晶系等也有各自特定的衍射花样,可以通过衍射实验来确定晶体的结构类型和晶面指数。

总之,通过对常见晶体标准衍射花样的观察和分析,可以得到有关晶体结构的重要信息,对材料科学、化学、地质学等领域具有重要的应用价值。

希望本文的介绍能够帮助读者更好地理解晶体衍射的基本原理和实验方法,对相关领域的研究工作有所帮助。

透射电镜习题答案及总结

透射电镜习题答案及总结

透射电镜习题答案及总结二、简答1、透射电镜主要由几大系统构成? 各系统之间关系如何?答:三大系统:电子光学系统,真空系统,供电系统。

其中电子光学系统是其核心。

其他系统为辅助系统。

2、照明系统的作用是什么?它应满足什么要求?答:照明系统由电子枪、聚光镜和相应的平移对中、倾斜调节装置组成。

它的作用是提供一束亮度高、照明孔经角小、平行度好、束流稳定的照明源。

它应满足明场和暗场成像需求。

3、成像系统的主要构成及其特点、作用是什么?答:主要由物镜、物镜光栏、选区光栏、中间镜和投影镜组成、1)物镜:强励磁短焦透镜(f=1-3mm),放大倍数100120um,无磁金属制成。

作用:a、提高像衬度,b、减小孔经角,从而减小像差。

C、进行暗场成像3)选区光栏:装在物镜像平面上,直径20-400um,作用:对样品进行微区衍射分析。

4)中间镜:弱压短透镜,长焦,放大倍数可调节0—20倍作用a、控制电镜总放大倍数。

B、成像/衍射模式选择。

5)投影镜:短焦、强磁透镜,进一步放大中间镜的像。

投影镜内孔径较小,使电子束进入投影镜孔径角很小。

小孔径角有两个特点:a、景深大,改变中间镜放大倍数,使总倍数变化大,也不影响图象清晰度。

焦深长,放宽对荧光屏和底片平面严格位置要求。

4、分别说明成像操作与衍射操作时各级透镜(像平面与物平面)之间的相对位置关系,并画出光路图。

答:如果把中间镜的物平面和物镜的像平面重合,则在荧光屏上得到一幅放大像,这就是电子显微镜中的成像操作,如图(a)所示。

如果把中间镜的物平面和物镜的后焦面重合,则在荧光屏上得到一幅电子衍射花样,这就是电子显微镜中的电子衍射操作,如图(b)所示。

5、简要说明多晶(纳米晶体)、单晶及非晶衍射花样的特征及形成原理。

答:单晶花样是一个零层二维倒易截面,其倒易点规则排列,具有明显对称性,且处于二维网络的格点上。

因此表达花样对称性的基本单元为平行四边形。

单晶电子衍射花样就是(uvw)*0零层倒易截面的放大像。

材料现代测试方法习题

材料现代测试方法习题

材料现代测试方法习题1.X射线照射固体物质(样品),可能发生的相互作用主要有二次电子、背散射电子、特征X射线、俄歇电子、吸收电子、透射电子2.多晶体(粉晶)X射线衍射分析的基本方法为(照相法)和(X射线衍射仪法)。

3.衍射产生的充分必要条件是(满足布拉格方程且不存在消光现象)。

4.单晶电子衍射花样标定的主要方法有(尝试核算法)和(标准花样对照法)。

5.扫描电子显微镜、透射电镜、X射线粉末衍射仪的英文字母缩写分别是(SEM)、(TEM)、(XRD)。

6. 电磁透镜的像差有球差、色差和像散。

7. 透射电子显微镜的结构分为光学成像系统、真空系统和电源系统。

8. 所谓扫描电镜的分辨率是指用(二次电子)信号成像时的分辨率?三、填空题1.下列方法中,X射线衍射线分析可用于测定方解石的点阵常数。

2.要分析钢中碳化物成分和基体中碳含量,一般应选用波谱仪型电子探针仪,3. 透射电镜的两种主要功能:表面形貌和晶体结构四、名词解释1. 分辨率:是指成像物体上能分辨出的两个物点的最小距离2. 明场像:用另外的装置来移动物镜光阑,使得只有未散射的透射电子束通过他,其他衍射的电子束被光阑挡掉,由此得到的图像3. 质厚衬度:样品上的不同微区无论是质量还是厚度的差别,均可引起相应区域投射电子强度的改变,从而在图像上形成亮暗不同的区域这一现象叫质厚衬度效应4. 特征X射线:是具有特定波长的X射线,也称单色X射线。

5. 俄歇电子:原子中一个K层电子被激发出以后,L层的一个电子跃迁入K 层填补空白,剩下的能量不是以辐射6. 二次电子:是指被入射电子轰击出来的核外电子。

7. 表面形貌衬度: 是由于试样表面形貌差别而形成的衬度8. 热分析:是指在温度程序控制下,测量物质的物理性质(参数)随温度变化的一类技术9. 透射电镜:以波长极短的电子束作为照明源,用电子透镜聚焦成像的一种高分辨率本领、高放大倍数的电子光学仪器五、基本概念题1.产生X射线需具备什么条件?答:实验证实:在高真空中,凡高速运动的电子碰到任何障碍物时,均能产生X射线,对于其他带电的基本粒子也有类似现象发生。

材料分析方法课后答案周玉

材料分析方法课后答案周玉

材料分析方法课后答案周玉【篇一:材料分析方法考试重点】纹衍射的图样,条纹间距随小孔尺寸的变大,衍射的图样的中心有最大的亮斑,称为埃利斑。

2、差热分析是在程序的控制条件下,测量在升温、降温或恒温过程中样品和参比物之间的温差。

3、差示扫描量热法(dsc)是在程序控制条件下,直接测量样品在升温、降温或恒温过程中所吸收的或放出的热量。

4、倒易点阵是由晶体点阵按照一定的对应关系建立的空间点阵,此对应关系可称为倒易变换。

5、干涉指数在(hkl)晶面组(其晶面间距记为dhkl)同一空间方位,设若有晶面间距为dhkl/n(n为任意整数)的晶面组(nh,nk,nl)即(h,k,l)记为干涉指数。

6、干涉面简化布拉格方程所引入的反射面(不需加工且要参与计算的面)。

7、景深当像平面固定时(像距不变)能在像清晰地范围内,允许物体平面沿透镜轴移动的最大距离。

8、焦长固定样品的条件下,像平面沿透镜主轴移动时能保持物象清晰的距离范围。

9、晶带晶体中,与某一晶向【uvw】平行的所有(hkl)晶面属于同一晶带,称为晶带11、数值孔径子午光线能进入或离开纤芯(光学系统或挂光学器件)的最大圆锥的半顶角之余弦,乘以圆锥顶所在介质的折射率。

12、透镜分辨率用物理学方法(如光学仪器)能分清两个密切相邻物体的程度 13 衍射衬度由样品各处衍射束强度的差异形成的衬度成为衍射衬度。

15质厚衬度由于样品不同区间存在原子序数或厚度的差异而形成的非晶体样品投射电子显微图像衬度,即质量衬度,简称质厚衬度。

制造水平。

(√)二、填空题6)按入射电子能量的大小,电子衍射可分为(高能电子衍射)、(低能电子衍射)及(反射式高能电子衍射)。

18)阿贝成像原理可以简单地描述为两次(干涉):平行光束受到有周期性特征物体的衍射作用形成(衍射波),各级衍射波通过(物镜)重新在像平面上形成反映物的特征的像。

12)按照出射信号的不同,成分分析手段可以分为两类:x光谱和电子能谱),出射信号分别是(x射线,电子)。

试说明多晶、单晶及厚单晶衍射花样的特征及形成原理

试说明多晶、单晶及厚单晶衍射花样的特征及形成原理

试说明多晶、单晶及厚单晶衍射花样的特征及形成原理多晶、单晶和厚单晶衍射花样的特征及其形成原理多晶是由多个单晶构成的晶体,其特征在于晶胞大小和晶面法向间的差异。

当一个多晶物体放置在X射线聚焦处时,晶胞和晶面间的差异会导致X射线在物体表面反射出多个衍射花样,这些衍射花样的形状和数量取决于晶胞大小和晶面法向的变化,因此,衍射花样可以用来分析物体的组成成分、结构和性质。

单晶是由一个晶胞组成的晶体,晶胞之间没有大小和晶面的差异,因此,单晶衍射花样的形状和数量都是固定的,只有晶胞中原子的排列顺序不同,才会产生不同的衍射花样。

厚单晶是由多层单晶组成的晶体,每层单晶之间的厚度相差较大,晶胞大小和晶面法向也有所不同,因此,每一层的衍射花样都会有所不同,而且整个厚单晶会产生多个较大的衍射花样,而这些衍射花样的形状和数量取决于每层单晶的厚度、晶胞大小和晶面法向的变化。

晶体衍射花样形成的原理是:当X射线照射到晶体表面时,X射线与晶体表面上的晶胞和晶面间的变化会导致X射线发生多次反射和衍射,从而形成衍射花样。

衍射花样的形状取决于晶胞大小和晶面法向的变化,而数量取决于多晶物体的晶胞结构。

而单晶的衍射花样数量是固定的,只有一条晶面,它只能产生一系列的衍射束来表示。

多晶衍射花样是由多个晶体构成,每个晶体都有自己的晶面,这些晶面可以合并,并且不同的晶面之间有不同的晶面间距,这就导致多晶的衍射花样非常多,它可以产生多种衍射束,每一种衍射束都代表了一种特定的衍射花样。

厚单晶衍射花样是由一块厚的单晶组成,它有多个晶面,这些晶面之间有一定的间距,它可以产生大量的衍射束,来表示特定的衍射花样,其原理就是晶体衍射原理,当晶体把X射线折射并发射出来时,这些X射线会被晶体的晶面所反射和折射,形成不同的衍射束,从而形成衍射花样。

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单晶多晶非晶衍射花样特征及形成原理
单晶、多晶和非晶是材料的晶体结构状态,它们的衍射花样特征和形成原理各不相同。

本文将分别介绍这三种晶体结构的特征和形成原理。

一、单晶的衍射花样特征及形成原理
单晶是指材料中晶粒的结构呈现出完全一致的现象。

在衍射实验中,单晶的特征是产生清晰而有序的衍射花样。

这是因为单晶的晶格结构完全一致,光线在晶格中的传播路径也是一致的,所以在经过衍射现象后,可以得到清晰的衍射花样。

单晶的形成原理与晶体的生长过程有关。

在固态材料中,单晶的形成需要满足两个条件:一是原料中晶粒的尺寸足够大,使得晶粒可以长成完整的晶体;二是晶体的生长过程中需要保持稳定的温度和压力条件,以便晶体按照其晶格结构有序生长。

二、多晶的衍射花样特征及形成原理
多晶是指材料中存在多个晶粒,并且这些晶粒的晶格结构不完全一致的现象。

在衍射实验中,多晶的特征是产生多个衍射斑点,这些斑点分布在不同的方向上,且强度不一致。

这是因为多晶的晶格结构存在着不同的取向,光线在不同晶粒中的传播路径不同,所以在经过衍射现象后,会产生多个衍射斑点。

多晶的形成原理与晶体生长过程中的晶粒取向有关。

在晶体生长过
程中,如果晶粒的取向不一致,那么在晶体形成后就会形成多晶结构。

多晶的形成也可能是由于晶体生长过程中的外界因素(如温度、压力等)的变化导致晶体的取向发生变化。

三、非晶的衍射花样特征及形成原理
非晶是指材料中晶粒的结构呈现出无序状态的现象。

在衍射实验中,非晶的特征是没有明显的衍射花样,而是产生了连续的散射,形成弥散环状的衍射图样。

这是因为非晶的晶格结构是无序的,光线在晶格中的传播路径也是无序的,所以在经过衍射现象后,得到的是连续的散射。

非晶的形成原理与材料的结构特点有关。

非晶材料的晶格结构是无序的,其中的原子或分子排列没有规律性。

这可能是由于材料的制备过程中,原料中的晶粒没有完全长成完整的晶体,或者是由于晶体生长过程中的外界因素干扰导致晶格结构无序。

总结起来,单晶、多晶和非晶的衍射花样特征和形成原理各不相同。

单晶的衍射花样清晰有序,多晶的衍射花样多个斑点分布不均,非晶的衍射花样连续散射。

单晶的形成需要满足晶粒尺寸足够大且生长过程稳定,多晶的形成与晶粒取向有关,非晶的形成与材料结构无序有关。

这些特征和形成原理的了解对于研究材料的晶体结构和性质具有重要意义。

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