DigitalMicrograph-软件标定TEM中衍射花样步骤资料讲解
Digitalmicrograph使用教程.doc
一、求粒度分布以米粒为例：1）打开图像,选择Standard Tools中的魔术棒（如图）点击图像2）拖动Histogram中的虚线,选择合适的灰度值3）选择Analysis－Particles－Find Particles4）选择Analysis－Particles－Analyze Particles搞定！二、简单实用技巧选中虚线方框,按住Alt健,在需要进行变换的区域拉出一个正方形然后点击Process, 选择FFT即可,或者在画出上图中的红色方框后按Ctrl+F即可得到这个软件还可以直接测量条纹间距,首先可以将图片放大（视条纹清晰与否）,放大工具使用红色区域中的工具,然后点击图片即可。
然后选中ROL Tools中的第二个工具（虚线）,上图中的第二个方框。
然后对着图中的标尺,从起点到末端拉一条直线,尽量与标尺一样长短（见下图）。
之后选择Analyze 菜单中的Calibrate,会弹出一个对话框,将对话框中的数字改成标尺的数字如10 , Units中选择nm。
然后用刚才的虚线工具,画一条与条纹尽量垂直的直线,可以取10个或者20个条纹,取平均值。
直线的长度显示在Control面板中的L项。
Control面板可在Window菜单中调取出来,调取出来后,该面板显示在软件的左下方。
可以取10个或者20个条纹,取平均值。
三、各种晶系晶面夹角计算公式设晶面（h1k1l1）和晶面（h2k2l2）的面间距分别为d1、d2。
则二晶面的夹角φ以下列公式计算（V为单胞体积）。
立方晶系：正方晶系：六方晶系：正交晶系：菱方晶系：单斜晶系：三斜晶系：知识改变命运。
TEM分析中电子衍射花样标定
TEM分析中电子衍射花样标定TEM分析中电子衍射花样的标定是指确定其中的晶格参数和晶体结构。
电子衍射是由于电子束通过晶体时，与晶体中的电子相互作用而散射产生的。
电子束通过晶体时，遇到晶体的晶面时，会发生弹性散射，产生衍射现象。
衍射光束的方向、强度和间距在电子显微镜中可以通过观察电子衍射花样来确定，进而得到晶体的晶格参数和结构信息。
在进行电子衍射花样标定之前，首先需要准备一片单晶样品。
单晶样品的制备是一个关键步骤，需要从熔融状态下使样品高度纯净的晶体生长过程中得到。
然后将单晶样品切割成薄片，通常厚度在几十纳米到一百纳米左右。
进行TEM分析时，需要将薄片放置在透明网格上，并将其放入TEM样品船中。
接下来，将TEM样品船放入TEM仪器中，并进行样品的调准和调节。
在TEM仪器中，通过侧向显示出TEM样品的像，调整样品的倾角和旋转角度，使其与电子束的传输轴垂直以及平行于透明栅中的线。
这样才能观察到电子衍射花样。
接下来是电子衍射花样的标定过程。
首先，将TEM仪器调节到电子衍射模式，并将图像显示在荧光屏上。
然后，调节TEM仪器中的操作控制器，使得样品的电子束以其中一种特定的角度来照射样品。
在进行电子衍射花样标定时，可以首先使用标准单晶样品进行实验。
标准单晶样品的晶格参数和结构已经被广泛研究和报道。
通过将标准单晶样品放入TEM仪器中，来测量其电子衍射花样，并将其与实际观察到的电子衍射花样进行对比和校准。
此外，还可以使用获得的电子衍射花样，与理论模拟的电子衍射图案进行比对。
在进行电子衍射花样的标定时，需要考虑到以下几个因素。
首先，样品的薄度和各向异性。
样品的薄度会影响电子束的穿透和样品的衍射效果。
其次，电子束的聚焦和调整，以获得清晰的电子衍射花样。
最后，还需要注意TEM仪器的标定和校准，以确保获得准确的电子衍射花样。
总结起来，TEM分析中电子衍射花样的标定是一个复杂的过程，需要准备好单晶样品，并在TEM仪器中进行样品的调准和调节。
digital micrograph 基本操作
digital micrograph 基本操作Digital Micrograph（DM）是一种图像处理和分析软件，主要用于处理电子显微镜（EM）和能量色散X射线（EDX）图像。
以下是Digital Micrograph的基本操作：1. 打开图像：在Digital Micrograph主界面上点击“文件”菜单，选择“打开”选项，然后浏览和选择要打开的图像文件。
2. 图像浏览：打开图像后，可以使用Digital Micrograph提供的缩放、平移和调整亮度/对比度等操作功能来浏览图像。
3. 图像增强：Digital Micrograph有多种图像增强工具，如滤波、直方图均衡化、锐化等。
可以在“处理”菜单中找到这些工具。
4. 标记和标度：Digital Micrograph允许在图像上添加标记、测量尺寸以及添加比例尺等。
可以在“标记”菜单中找到这些工具。
5. 图像分析：Digital Micrograph具有许多用于图像分析的工具，如粒度分析、颗粒计数、线性拟合等。
可以在“分析”菜单中找到这些工具。
6. 保存图像：对于处理后的图像，可以使用Digital Micrograph 将其保存为不同的图像格式，如BMP、JPEG、TIFF等。
使用“文件”菜单中的“另存为”选项来保存图像。
7. 定制设置：Digital Micrograph可以根据用户的需求进行定制设置，如调整默认显示参数、设置快捷键、配置实验设备等。
可以在“选项”菜单中找到这些设置。
这些是Digital Micrograph的基本操作，通过熟悉和运用这些操作，可以更好地使用Digital Micrograph进行图像处理和分析。
DigitalMicrograph软件傅立叶变换和反变换图文教程-TEM
DigitalMicrograph软件傅立叶变换
和反变换图文教程
DigitalMicrograph, 傅立叶变换, 反变换, 图文教程
傅立叶变换的目的是标定高分辨像的傅立叶谱确定晶带轴；在倒空间乘上一个滤波函数，再进行发傅立叶变换可以降低噪音。
DigitalMicrograph也可以处理普通的TEM图像，比如锐化、平滑、颗粒分析、扣背底等。
1）打开一张高分辨像，选择ROI Tools中的矩形选框工具，按住Alt在图像上拉出一个正方形，先松开鼠标再松开Alt键。
*这很重要，因为FFT只对面积为
2的n次方的区域有效*
2）选择Process－FFT
3）选择Masking Tool中的周期性Mask工具，在FFT of ***点击
4）选择周期性的Bragg点
5）选择Process－Apply Mask
6）选择Process－Inverse FFT
7）加标尺，选择Edit－Data Bar－Add Scale Maker
如果不加Mask就进行Inverse FFT，只是相当于把选的图像切下来；加Mask再
进行Inverse FFT可以降低图像的噪音，突出周期性的信息。
TEM衍射斑点标定实例-软件标定法
TEM衍射斑点标定实例-软件标定法
TEM衍射斑点标定实例
下图为某钢淬⽕回⽕后TEM显微组织和衍射斑点图，采⽤软件对其进⾏标定。
θ
⼀、根据衍射斑点计算晶⾯间距
1、使⽤ipp6.0测量R1、R2和θ
单击
单击
移动此线到下标尺处，
并调整和标尺⼀样长
1输⼊下标尺上
的数字2
2单击
测得R1=4.516，R2=4.577， =88由此计算的晶⾯间距d1=1/R1=0.22，d2=1/R2=0.22。
2、使⽤CaRIne软件进⾏标定
（1）利⽤jade6.5软件查询Fe的所有相晶格常数
1单击2单击
1单击
2单击
右击
根据热处理⼯艺猜测⼤概是α相，点阵常数为a=b=c=2.867 （2）利⽤CaRIne软件模拟衍射斑点
1单击
2单击1单击
α相
单击
1单击Fe
2单击
1输⼊α相点阵常数2单击
单击
2单击1输⼊测得的d1、d2和单位为埃
3⼿机拍照或点击print保存此数据，数据是按误差递增的顺序排列
4单击
单击
单击
1输⼊保存数据的晶带轴
2单击
右击
右击
将复制的模拟衍射斑点粘贴到word中设置成浮于⽂字上⽅，将此图和TEM衍射斑点图叠加在⼀起，等⽐例缩放和适当旋转看两者能否重合，若重合则标定成功，不重合再试另外⼏个相，操作过程如上，直⾄匹配。
tem 衍射斑 标定 标尺
tem 衍射斑标定标尺一、引言TEM（透射电子显微镜）是一种非常重要的科学仪器，广泛应用于材料科学、生物学等领域。
在使用TEM进行观察和分析时，准确的衍射斑标定是非常关键的一步。
本文将详细介绍TEM衍射斑的概念、标定方法以及使用标尺进行标定的步骤。
二、TEM衍射斑概述TEM衍射斑是指透射电子显微镜中电子束通过样品后所形成的衍射图案。
衍射斑的形状和分布可以提供关于样品的结构和晶格信息。
因此，准确地标定TEM衍射斑对于获得可靠的样品结构信息至关重要。
三、TEM衍射斑标定方法为了准确地标定TEM衍射斑，可以采用以下方法：1. 布拉格公式布拉格公式是描述衍射现象的基本公式，可以用于计算衍射斑的位置和间距。
布拉格公式的表达式为：nλ=2dsin(θ)其中，n为衍射阶次，λ为电子波长，d为晶格间距，θ为入射角。
通过测量衍射斑的位置和间距，可以利用布拉格公式计算出晶格的相关参数。
2. 标定衍射斑位置标定衍射斑的位置是衍射斑标定的第一步。
可以选择一个已知晶格参数的标准样品，如硅晶片，将其放置在TEM中进行观察。
通过测量衍射斑的位置，可以计算出电子波长和入射角的数值。
3. 标定衍射斑间距标定衍射斑间距是衍射斑标定的第二步。
可以选择一个已知晶格参数的标准样品，如金属薄膜，将其放置在TEM中进行观察。
通过测量衍射斑的间距，可以利用布拉格公式计算出晶格间距的数值。
四、使用标尺进行标定步骤使用标尺进行TEM衍射斑标定是一种简单而有效的方法。
以下是使用标尺进行标定的步骤：1. 准备标尺选择一根已知刻度的标尺，并将其放置在TEM中与样品平行。
确保标尺的刻度清晰可见，并且与TEM的光轴平行。
2. 调整TEM参数调整TEM的参数，使得衍射斑清晰可见。
可以调节电子束的对准和聚焦，以获得最佳的衍射斑图案。
3. 观察衍射斑和标尺通过TEM观察器观察衍射斑和标尺。
确保衍射斑和标尺都在视野范围内，并保持清晰可见。
4. 测量衍射斑位置和间距使用标尺测量衍射斑的位置和间距。
TEM 分析中电子衍射花样标定
TEM分析中电子衍射花样的标定原理第一节 电子衍射的原理1.1 电子衍射谱的种类在透射电镜的衍射花样中，对于不同的试样，采用不同的衍射方式时，可以观察到多种形式的衍射结果。
如单晶电子衍射花样，多晶电子衍射花样，非晶电子衍射花样，会聚束电子衍射花样，菊池花样等。
而且由于晶体本身的结构特点也会在电子衍射花样中体现出来，如有序相的电子衍射花样会具有其本身的特点，另外，由于二次衍射等会使电子衍射花样变得更加复杂。
上图中，图a和d是简单的单晶电子衍射花样，图b是一种沿[111]p方向出现了六倍周期的有序钙钛矿的单晶电子衍射花样（有序相的电子衍射花样）；图c是非晶的电子衍射结果，图e和g是多晶电子的衍射花样；图f是二次衍射花样，由于二次衍射的存在，使得每个斑点周围都出现了大量的卫星斑；图i和j是典型的菊池花样；图h和k是会聚束电子衍射花样。
在弄清楚为什么会出现上面那些不同的衍射结果之前，我们应该先搞清楚电子衍射的产生原理。
电子衍射花样产生的原理与X 射线并没有本质的区别，但由于电子的波长非常短，使得电子衍射有其自身的特点。
1.2 电子衍射谱的成像原理在用厄瓦尔德球讨论X射线或者电子衍射的成像几何原理时，我们其实是把样品当成了一个几何点，但实际的样品总是有大小的，因此从样品中出来的光线严格地讲不能当成是一支光线。
之所以我们能够用厄瓦尔德来讨论问题，完全是由于反射球足够大，存在一种近似关系。
如果要严格地理解电子衍射的形成原理，就有必要搞清楚两个概念：Fresnel（菲涅尔）衍射和Fraunhofer（夫朗和费）衍射。
所谓Fresnel（菲涅尔）衍射又称为近场衍射，而Fraunhofer（夫朗和费）衍射又称为远场衍射.在透射电子显微分析中，即有Fresnel（菲涅尔）衍射（近场衍射）现象，同时也有Fraunhofer（夫朗和费）衍射（远场衍射）。
Fresnel（菲涅尔）衍射（近场衍射）现象主要在图像模式下出现，而Fraunhofer（夫朗和费）衍射（远场衍射）主要是在衍射情况下出现。
tem衍射标定
tem衍射标定TEM衍射标定是电子显微镜下表征晶体材料结构的一项基础研究技术，它的目的是通过对样品的TEM衍射图案进行标定，并通过在TEM 衍射图案中识别出特征点和迹线，从而准确地求出样品中晶格、晶面间距和晶格旋转角度等结构参数，为后续的表征和研究提供基础支撑。
TEM衍射标定的实现涉及多个步骤，下面将一步步进行介绍：1.样品制备：样品制备是TEM衍射标定的重要前提。
需要选取结晶质量好、形态完整、不含太多的杂质或混杂相的样品。
用特定的方法将样品转化为一定厚度的薄片，并保证其表面光整度和平坦度，以保证高质量的TEM衍射图案。
2.TEM成像：进行TEM成像时需要对TEM设备的条件进行合理的调整，如选择合适的电压、电流、收集器的角度、透镜和能量散射器的参数等。
此外，在对样品进行成像时还需要进行图像补偿、去噪和染色等处理，以保证得到的TEM衍射图案质量可靠。
3.TEM衍射图案校准：获得TEM衍射图案后，需要对其进行校准，以获得高精度的样品结构参数。
具体而言，校准过程分为以下两个步骤：（1）标定物距：通过对TEM衍射图案中表征散斑尺寸的标准样品（通常是一个晶体，其晶格常数已知）进行测量，求得样品到屏幕的距离（即物距）。
（2）确定镜头的对中：将标准样品对称地拍摄两个不同的图像，然后通过对两幅图像进行对准和测量，确定不同影响因素对TEM镜头对中的影响，从而保证TEM衍射图案的准确性。
4.图像分析和参数计算：在进行TEM衍射图案校准之后，需要对图像进行分析和参数计算，从而得出样品的晶格参数、晶格旋转角度和晶面间距等重要结构参数。
具体而言，这需要先识别TEM衍射图案中的各种衍射点、特征点和迹线，并使用衍射补偿和显微补偿等方法进行重建，然后利用衍射谱学或倾斜拍摄等方法进行参数计算。
总之，TEM衍射标定技术在表征晶体材料结构和研究晶体材料性质中发挥着重要的作用，通过以上的步骤可以获得高质量和高精度的TEM衍射图案和相关的样品结构参数。
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首先，打开需要标定的衍射花样，如下图
然后，选定基点；
具体做法为，在左侧工具菜单（下图）中
选择红色标记的工具，在衍射图（下图）中
依次用鼠标左键点击（1）与（2）斑点的中心位置，然后会发现在（0）
斑点中心自动出现一个黑点（如下图），该点即为选中的基点。
基点选定后，就可以开始标定各衍射斑的相应取向了，所用工具见下图（红框内）
选定该工具后，在衍射图像上分别点击需要标记的点，如下图
在该示例中的操作为，从下向上依次点击（点击次序是有编号的，就是上图白色小方框内的黑点，放大可看清是编号），将所需要标注的衍射斑点击完毕后。
在下图菜单中
选择红框内菜单（DIFPACK）
会出现以下子菜单
最终选择List All，会出现一下对话框
该对话框为刚刚选中的各衍射斑列表，最左为各点的序号，第二列为d值，根据d值与XRD中数据或已知的晶面间距，可以判断出各衍射斑所代表的方向。
接下来就是标注了，先在Object菜单（下图）中
选定各种对字体格式的设置，如下图
然后采用字体工具（见下图）
选中红色框内的工具，在衍射图上需要标注的位置标出方向（如下图）
以上仅供参考，如有错误与不足之处还请多多指教。