集成电路测试介绍
什么是集成电路测试（半导体测试）
什么是集成电路测试（半导体测试）Semiconductor Test 半导体测试，也称为集成电路测试。
在介绍半导体测试之前呢，我们先来了解所谓的半导体产业链是⼀个什么东西。
半导体器件是⼀个很⼴泛的概念，举个⼤家很熟悉的例⼦：⾃家电脑⾥的CPU或者⼿机中的CPU，以及⼤家基本上都⽤过的U盘⾥的存储芯⽚，都属于半导体器件。
这样的⼀个东西，从它的设计，⽣产制造，检测验证，再到被制作成电脑，⼿机，U盘，整个的这样⼀个过程，称为半导体产业链。
当然，芯⽚⽤来制作成电脑⼿机等产品，已经属于半导体产业链的下游了。
整个产业链的上游是设计，⽣产制造已及封装测试。
说到封装测试，就不得不说⼀下设计和⽣产制造。
设计集成电路，有点类似于现在设计电路PCB版，都是先有原理图，再画出制作版图，只不过芯⽚的版图更加精细。
其中集成电路设计⾥还有软核设计，其实就是在FPGA上进⾏功能验证，有点类似跑个虚拟机，跑个仿真。
国内⽐较著名的IC 设计公司就是华为海思。
关于⽣产制造这⼀块，这⾥只讲代⼯⼚，此代⼯⼚⾮富⼠康代⼯⼚能⽐的。
虽然⼤家都叫代⼯⼚，但是半导体代⼯，是因为技术门槛⾼，具有先进制造技术的⼚商分出产能，为设计公司⽣产集成电路，不是富⼠康那种靠廉价劳动⼒来⽣存的代⼯⼚。
讲完了集成电路的设计，制造，就该将封装测试了。
顾名思义，封装测试，就是把芯⽚封装成⼀个个的⼩⿊⾊颗粒；测试，就是把这堆芯⽚⾥不合格的挑选出来 ……^_^ 是不是很简单？感觉有点像⼚⾥的质检员⼲的活是吗？其实，这部分并不是⼈⼯来做，⽽是依靠机械⾃动化来完成，测试机器会⾃动往芯⽚中输⼊各种信号，依据芯⽚的输出信号是否正确来判断⼀个芯⽚的好与坏。
我们⽣活中所应⽤的每⼀颗芯⽚，都是需要经过这样的检测⽽⼀般的ATE ⼯程师呢，也就是测试⼯程师，主要是负责开发⽤于测试芯⽚的外围硬件电路及软件控制脚本，并且，还要负责完成统计学上的数据分析。
下⼀期，我将开始介绍芯⽚测试具体的相关知识。
集成电路芯片电参数测试
集成电路芯片电参数测试集成电路芯片的电参数测试是评估芯片性能和质量的重要步骤之一。
电参数测试可以帮助设计工程师和制造工程师了解芯片的工作条件，优化芯片设计和制造过程。
本文将介绍集成电路芯片的电参数测试的基本原理、测试方法和常见测试指标。
一、电参数测试的基本原理电参数测试是通过将待测芯片接入测试设备，对芯片进行各项电性能指标的测试。
通常，芯片的接口与测试仪器相连接，测试仪器通过向芯片施加电压、电流等信号，测量芯片的电压、电流等响应信号。
通过对这些响应信号的分析，可以得到芯片的电参数信息。
二、电参数测试的方法1. 直流电性能测试直流电性能测试是测试芯片在直流工作状态下的电压、电流等基本电性能指标。
其中包括：(1) 静态电压测量：测量芯片的电源电压、管脚电压等；(2) 静态电流测量：测量芯片的静态工作电流；(3) 动态电流测量：测量芯片在不同工作状态下的动态电流变化。
2. 交流电性能测试交流电性能测试是测试芯片在交流信号下的电性能，用于评估芯片的信号处理能力和频率响应特性。
其中包括：(1) 频率特性测试：测量芯片在不同频率下的增益、相位等指标；(2) 时域响应测试：测量芯片对快速变化信号的响应能力；(3) 噪声测试：测量芯片在不同频率范围内的噪声水平。
3. 温度特性测试温度特性测试用来评估芯片在不同温度环境下的电性能变化，以确定芯片的工作温度范围和温度稳定性。
其中包括：(1) 温度漂移测试：测量芯片在不同温度下的电性能漂移；(2) 温度稳定性测试：测量芯片在恒定温度条件下的电性能稳定性。
4. 功耗测试功耗测试是测试芯片在不同工作模式下的功耗消耗，用于评估芯片的能耗性能和电池寿命。
其中包括：(1) 静态功耗测试：测量芯片在待机模式下的功耗消耗；(2) 动态功耗测试：测量芯片在不同工作负载下的功耗消耗。
三、常见的电参数测试指标1. 电源电压：芯片的工作电压范围和电压稳定性；2. 静态电流：芯片的工作电流和功耗；3. 输出电压范围和电流驱动能力；4. 时钟频率和时钟精度；5. 噪声水平和信噪比；6. 时延、上升时间和下降时间。
集成电路测试
第一章集成电路的测试1.集成电路测试的定义集成电路测试是对集成电路或模块进行检测，通过测量对于集成电路的输出回应和预期输出比较，以确定或评估集成电路元器件功能和性能的过程，是验证设计、监控生产、保证质量、分析失效以及指导应用的重要手段。
.2.集成电路测试的基本原理输出回应Y 被测电路DUT（x和网络功能集F（x），确定原始输出回应y，并分析y是否表达了电路网络的实际输出。
因此，测试的基本任务是生成测试输入，而测试系统的基本任务则是将测试输人应用于被测器件，并分析其输出的正确性。
测试过程中，测试系统首先生成输入定时波形信号施加到被测器件的原始输入管脚，第二步是从被测器件的原始输出管脚采样输出回应，最后经过分析处理得到测试结果。
3.集成电路故障与测试集成电路的不正常状态有缺陷（defect）、故障（fault）和失效（failure）等。
由于设计考虑不周全或制造过程中的一些物理、化学因素，使集成电路不符合技术条件而不能正常工作，称为集成电路存在缺陷。
集成电路的缺陷导致它的功能发生变化，称为故障。
故障可能使集成电路失效，也可能不失效，集成电路丧失了实施其特定规范要求的功能，称为集成电路失效。
故障和缺陷等效，但两者有一定区别，缺陷会引发故障，故障是表象，相对稳定，并且易于测试；缺陷相对隐蔽和微观，缺陷的查找与定位较难。
4.集成电路测试的过程1.测试设备测试仪：通常被叫做自动测试设备，是用来向被测试器件施加输入，并观察输出。
测试是要考虑DUT 的技术指标和规范，包括：器件最高时钟频率、定时精度要求、输入\输出引脚的数目等。
要考虑的因素：费用、可靠性、服务能力、软件编程难易程度等。
1.测试界面测试界面主要根据DUT的封装形式、最高时钟频率、ATE的资源配置和界面板卡形等合理地选择测试插座和设计制作测试负载板。
3.测试程序测试程序软件包含着控制测试设备的指令序列，要考虑到：器件的类型、物理特征、工艺、功能参数、环境特性、可靠性等5.集成电路测试的分类按测试目的分类：检验测试（验证IC功能的正确性）、生产测试、验收测试（在进行系统集成之前对所购电路器件进行入厂测试）、使用测试。
集成电路测试原理
集成电路测试原理
集成电路测试是对集成电路或模块进行检测，通过测量对于集成电路的输出回应和预期输出比较，以确定或评估集成电路元器件功能和性能的过程，是验证设计、监控生产、保证质量、分析失效以及指导应用的重要手段。
1.基本原理
被测电路DUT可作为一个已知功能的实体，测试依据原始输入x和网络功能集F（x），确定原始输出回应y，并分析y是否表达了电路网络的实际输出。
因此，测试的基本任务是生成测试输入，而测试系统的基本任务则是将测试输入应用于被测器件的原始输入管脚，第二步是从被测器件的原始输出管脚采样输出回应，最后经过分析处理得到结果。
图1 基本原理
2.测试过程
(1)测试设备
通常被叫做自动测试设备，是用来向被测试器件施加输入，并观察输出。
考虑被测器件的技术指标和规范，费用(美分/美秒、可靠性、服务能力、软件编程难易程度。
(2)测试接口
合理地选择测试插座和设计制作测试负载。
集成电路IC测试简介
FT设备示例FT equipment
• Tester测试机
• Load Board/Socket/Handler
➢其测试系统称为ATE，由电子电路和机械硬 件组成，是由同一个主控制器指挥下的电 源、计量仪器、信号发生器、模式（pattern ）生成器和其他硬件项目的集合体，用于 模仿被测器件将会在应用中体验到的操作
成测示意图FT schematic
diagram
Contact chuck
Contact blade
测试相关术语 Test technicalities
• CP - Circuit probing(晶圆测试、中测) • FT - Final test (成品测试) • ATE - Automatic Test Equipment(自动测试
设备) • DUT - Device Under Test(被测器件) • DIB - Device Interface Board / Load board(
集成电路测试简 介
Brief instruction of IC Test
目录catalog
IC制造工艺流程简介 IC测试定义与术语 中测简介 成测简介
IC制造工艺流程 ( I ) IC MFG process flow
Product
Design
Design House
Front End
Dut socket
TESTER
Test Head
Load board
Han
• Handler 必须与 tester意相图连接(docking)及接上interface才能进 行测试, 动作过程为handler的手臂将 DUT 放入socket，此时 contact chuck下压, 使 DUT的脚正确与 socket 接触后, 送出 start 讯号, 透过 interface tester, 测试完后, tester 送回 binning 及EOT 讯号; handler 做分类动作。客户产品的尺寸 及脚数不同, handler 提供不同的模具 (kits) 供使用。
集成电路测试与建模
集成电路测试与建模集成电路测试与建模集成电路测试是指对集成电路进行功能、性能、可靠性等方面的测试，以保证其在正常使用条件下的可靠性和稳定性。
而建模则是为了更好地理解和分析集成电路的特性而进行的一种数学描述。
一、集成电路测试1. 测试方法（1）功能测试：对芯片的各个功能进行测试，包括输入输出端口、逻辑运算单元、存储单元等。
（2）性能测试：对芯片的各项性能进行测试，如速度、功耗、温度等。
（3）可靠性测试：对芯片在不同环境下长时间工作的稳定性进行测试，如温度循环、湿热循环等。
2. 测试流程（1）设计测试方案：根据芯片规格书确定需要测试的项目和参数，并编写相应的测试程序。
（2）准备测试设备：包括仪器设备和软件工具等。
（3）制作样品：根据设计方案制作待测样品，并将其安装到测试台上。
（4）执行测试程序：按照设计方案执行相应的测试程序，并记录数据结果。
（5）数据处理和分析：将所得数据进行处理和分析，评估芯片在各项指标下是否符合要求。
3. 测试技术（1）扫描测试技术：通过扫描链路对芯片内部的逻辑电路进行测试，可以提高测试效率和精度。
（2）BIST（Built-In Self-Test）技术：将测试电路集成到芯片中，使得芯片自身具备自测能力，可以减少外部测试设备的使用。
（3）ATE（Automatic Test Equipment）技术：使用自动化测试设备进行测试，可以提高测试效率和准确性。
二、集成电路建模1. 建模方法（1）SPICE模型：SPICE是一种基于电路分析理论的建模方法，可以对芯片内部的电路进行仿真分析。
（2）Verilog模型：Verilog是一种硬件描述语言，可以对芯片内部逻辑进行描述和仿真。
（3）VHDL模型：VHDL也是一种硬件描述语言，与Verilog类似，可以对芯片内部逻辑进行描述和仿真。
2. 建模流程（1）确定建模目标：确定需要建立哪些模型以及其应用场景。
（2）获取数据信息：获取芯片的规格书、原理图等信息，并通过实验测量获得相关参数数据。
集成电路测试
求。
03
测试可扩展性
随着集成电路规模的不断扩大，测试可扩展性成为技术发展的关键。高
性能集成电路测试技术应具备高效扩展的能力，以适应大规模集成电路
的测试需求。
人工智能在集成电路测试中的应用
自动化测试
人工智能技术能够实现自动化测 试，提高测试效率，降低人工干
预和错误率。
故障诊断与预测
人工智能算法可以对测试结果进行 分析，快速准确地定位故障，并对 潜在故障进行预测，提高测试的可 靠性。
安全性测试
检测集成电路在紧急情况下的性能表现，如突然断电、过载等。
05
CATALOGUE
集成电路测试发展趋势
高性能集成电路测试技术
01
测试速度
随着集成电路复杂度的提高，测试速度成为关键性能指标。高性能集成
电路测试技术能够快速准确地完成测试，缩短产品上市时间。
02
测试精度
高精度的测试技术能够确保集成电路的性能和可靠性，满足各种应用需
片的准确连接和可靠的测试结果。
04
CATALOGUE
集成电路测试应用
消费电子产品的测试
总结词功能测试Fra bibliotek消费电子产品种类繁多，包括手机、电视 、电脑等，这些产品的集成电路测试主要 关注功能、性能和可靠性等方面。
确保集成电路在产品中能够正常工作，满 足设计要求。
性能测试
可靠性测试
检测集成电路在不同工作条件下的性能表 现，如温度、电压等。
检测集成电路在电磁干扰下 的性能表现。
故障注入测试
模拟电路故障情况，检测集 成电路的故障诊断和容错能 力。
航空电子产品的测试
总结词
航空电子产品对安全性和可靠性要求极高，因此测试重点在于确保集 成电路在高空、高速等极端环境下的性能表现。
集成电路的测试方法
一）常用的检测方法集成电路常用的检测方法有在线测量法、非在线测量法和代换法。
1、非在线测量：非在线测量潮在集成电路未焊入电路时，通过测量其各引脚之间的直流电阻值与已知正常同型号集成电路各引脚之间的直流电阻值进行对比，以确定其是否正常。
2、在线测量：在线测量法是利用电压测量法、电阻测量法及电流测量法等，通过在电路上测量集成电路的各引脚电压值、电阻值和电流值是否正常，来判断该集成电路是否损坏。
3、代换法：代换法是用已知完好的同型号、同规格集成电路来代换被测集成电路，可以判断出该集成电路是否损坏。
（二）常用集成电路的检测1、微处理器集成电路的检测：微处理器集成电路的关键测试引脚是VDD电源端、RESET 复位端、XIN晶振信号输入端、XOUT晶振信号输出端及其他各线输入、输出端。
在路测量这些关键脚对地的电阻值和电压值，看是否与正常值（可从产品电路图或有关维修资料中查出）相同。
不同型号微处理器的RESET复位电压也不相同，有的是低电平复位，即在开机瞬间为低电平，复位后维持高电平;有的是高电平复位，即在开关瞬间为高电平，复位后维持低电平。
2、开关电源集成电路的检测：开关电源集成电路的关键脚电压是电源端（VCC）、激励脉冲输出端、电压检测输入端、电流检测输入端。
测量各引脚对地的电压值和电阻值，若与正常值相差较大，在其外围元器件正常的情况下，可以确定是该集成电路已损坏。
内置大功率开关管的厚膜集成电路，还可通过测量开关管C、B、E极之间的正、反向电阻值，来判断开关管是否正常。
3．音频功放集成电路的检测：检查音频功放集成电路时，应先检测其电源端（正电源端和负电源端）、音频输入端、音频输出端及反馈端对地的电压值和电阻值。
若测得各引脚的数据值与正常值相差较大，其外围元件与正常，则是该集成电路内部损坏。
对引起无声故障的音频功放集成电路，测量其电源电压正常时，可用信号干扰法来检查。
测量时，万用表应置于R×1档，将红表笔接地，用黑表笔点触音频输入端，正常时扬声器中应有较强的“喀喀”声。
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Jerry Gao Jun. 2008
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集成电路的种类(1/5)
• 集成电路的种类很多，按其功能不同可分为模拟集成电路 和数字集成电路两大类。 • 前者用来产生、放大和处理各种模拟电信号；后者则用来 产生、放大和处理各种数字电信号。所谓模拟信号，是指 幅度随时间连续变化的信号。例如，人对着话筒讲话，话 筒输出的音频电信号就是模拟信号，收音机、收录机、音 响设备及电视机中接收、放大的音频信号、电视信号，也 是模拟信号。所谓数字信号，是指在时间上和幅度上离散 取值的信号，例如，电报电码信号，按一下电键，产生一 个电信号，而产生的电信号是不连续的。这种不连续的电 信号，一般叫做电脉冲或脉冲信号，计算机中运行的信号 是脉冲信号，但这些脉冲信号均代表着确切的数字，因而 又叫做数字信号。在电子技术中，通常又把模拟信号以外 的非连续变化的信号，统称为数字信号。目前，在家电维 修中或一般性电子制作中，所遇到的主要是模拟信号；那 么，接触最多的将是模拟集成电路。
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IC测试－成品测试(2/3)
• 当Die封装出来后，它们还要经过FT测试，这种封装后的 测试需要手工将一个个这些独立的电路放入负载板（Load board）上的插座（Socket）里，这叫手工测试（hand test）。一种快速进行FT测试的方法是使用自动化的机械 手（Handler），机械手上有一种接触装置实现封装引脚到 负载板的连接，这可以在测试机和封装内的Die之间提供 完整的电路。机械手可以快速的抓起待测的芯片放入测试 点（插座），然后拿走测试过的芯片并根据测试pass/fail 的结果放入事先定义好的相应的Bin区。
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集成电路的种类(5/5)
• 按导电类型不同，分为双极型集成电路和单极型集成电路 两类。 • 前者频率特性好，但功耗较大，而且制作工艺复杂，绝大 多数模拟集成电路以及数字集成电路中的TTL、ECL、 HTL、LSTTL、STTL型属于这一类。后者工作速度低， 但输人阻抗高、功耗小、制作工艺简单、易于大规模集成， 其主要产品为MOS型集成电路。MOS电路又分为NMOS、 PMOS、CMOS型。 NMOS集成电路是在半导体硅片上，以N型沟道MOS器件 构成的集成电路；参加导电的是电子。PMOS型是在半导 体硅片上，以P型沟道MOS器件构成的集成电路；参加导 电的是空穴。CMOS型是由NMOS晶体管和PMOS晶体管 互补构成的集成电路称为互补型MOS集成电路，简写成 CMOS集成电路。 • 集成电路从用途上可区分为模拟类、数字类、存储器类、5)
• 过去，在模拟和数字电路设计之间，有着显著的不同。数字电路控制电子 信号，表现为逻辑电平“0”和“1”，它们被分别定义成一种特殊的电压分 量，所有有效的数字电路数据都用它们来表示，每一个“0”或“1”表示数 据的一个比特（bit）位，任何数值都可以由按照一定顺序排列的“0”“1”比 特位组成的二进制数据来表示，数值越大，需要的比特位越多。每8个比特 一组构成一个Byte，数字电路中的数据经常以Byte为单位进行处理。 • 不同于数字信号的“0”“1”界限分明（离散），模拟电路时连续的，在任何 两个信号电平之间有着无穷的数值。模拟电路可以使用电压或电流来表示 数值，我们常见的也是最常用的模拟电路实例就是运算放大器，简称运放。 • 为帮助理解模拟和数字电路数值的基本差别，我们可以拿时钟来比方。 “模拟”时钟上的指针连续地移动，因此所有的任一时间值可以被观察者 直接读出，但是所得数值的准确度或者说精度取决于观察着认知的程度。 而在“数字”时钟上，只有最小增量以上的值才能被显示，而比最小增量 小的值则无法显示。如果有更高的精度需求，则需要增加数据位，每个新 增的数据位表示最小的时间增量。 • 有的电路里既有数字部分也有模拟部分，如AD转换器（ADC）将模拟信号 转换成数字信号，DA转换器（DAC）则相反，我们称之为“混合信号电路” （Mixed Signal Devices）。另一种描述这种混合电路的方法则基于数字部 分和模拟部分占到电路的多少：数字部分占大部分而模拟部分所占比例较 少归于数字电路，反之则归于模拟电路。
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IC测试简述(1/3)
• 随着集成电路制造技术的进步，人们已经能制造出电路结构相当复杂、 集成度很高、功能各异的集成电路。但是这些高集成度，多功能的集成 块仅是通过数目有限的引脚完成和外部电路的连接，这就给判定集成电 路的好坏带来不少困难。 • 什么是测试? • 任何一块集成电路都是为完成一定的电特性功能而设计的单片模块，集 成电路的测试就是运用各种方法，检测那些在制造过程中由于物理缺陷 而引起的不符合要求的样品。如果存在无缺陷的工程的话，集成电路的 测试也就不需要了。可是由于实际的制作过程所带来的以及材料本身或 多或少都有的缺陷，因而无论怎样完美的工程都会产生不良的个体，因 而测试也就成为集成电路制造中不可缺少的工程之一。 • 就模拟电路的测试而言，一般分为以下两类测试，第一类是直流特性测 试，主要包括端子电压特性、端子电流特性等；第二类是交流特性测试， 这些交流特性和该电路完成的特定功能密切有关，比如一块音频功放电 路，其增益指标、输出功率、失真指标等都是很重要的参数；色处理电 路中色解码部分的色差信号输出，色相位等参数也是很重要的交流测试 项目。
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集成电路的种类(4/5)
• 按集成度高低不同，可分为小规模、中规模、大规模及超 大规模集成电路四类。 • 对模拟集成电路，由于工艺要求较高、电路又较复杂，所 以一般认为集成50个以下元器件为小规模集成电路，集成 50－100个元器件为中规模集成电路，集成100个以上的元 器件为大规模集成电路；对数字集成电路，一般认为集成 1～10等效门／片或10～100个元件／片为小规模集成电路， 集成10～100个等效门／片或100～1000元件／片为中规模 集成电路，集成100～10,000个等效门／片或1000～ 100,000个元件／片为大规模集成电路，集成10,000以上个 等效门／片或100,000以上个元件／片为超大规模集成电路。
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IC测试－芯片测试(2/3)
• 当一个测试系统用来验证一片晶圆上的某个独立 的Die的正确与否，需要用ProbeCard来实现测试 系统和Die之间物理的和电气的连接，而 ProbeCard和测试系统内部的测试仪之间的连接则 通过一种叫做“Load board”或“Performance board” 的接口电路板来实现。在CP测试中，Performance board和Probe card一起使用构成回路使电信号得以 在测试系统和Die之间传输。
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IC测试－芯片测试(2/3)
当制造过程完成，每个die都必须经过 测试。测试一片晶圆称为“Circuit probing”（即我们常说的CP测试，芯 片测试）、“Wafer porbing”或者 “Die sort”。 在这个过程中，每个die都被测试以确 保它能基本满足器件的特征或设计规 格书（Specification），通常包括电压、 电流、时序和功能的验证。如果某个 die不符合规格书，那么它会被测试过 程判为失效（fail），通常会用墨点将 其标示出来（当然现在也可以通过 Maping图来区分）。
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IC测试简述(3/3)
集成电路制造工艺流程图
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IC测试－芯片测试(1/3)
• 晶圆、晶片和封装 晶圆、 • 1947年，第一只晶体管的诞生标志着半导体工业的开始， 从那时起，半导体生产和制造技术变得越来越重要。以前 许多单个的晶体管现在可以互联加工成一种复杂的集成的 电路形式，这就是半导体工业目前正在制造的称之为"超 大规模"（VLSI，Very Large Scale Integration）的集成电路， 通常包含上百万甚至上千万门晶体管。 • 半导体电路最初是以晶圆形式制造出来的。晶圆是一个圆 形的硅片，在这个半导体的基础之上，建立了许多独立的 单个的电路；一片晶圆上这种单个的电路被称为die（我前 面翻译成"晶片"，不一定准确，大家还是称之为die好了）， 它的复数形式是dice.每个die都是一个完整的电路，和其他 的dice没有电路上的联系。
• 在一个Die封装之后，需要经过生产流程中 的再次测试。这次测试称为成品测试 “Final test”（即我们常说的FT测试）或 “Package test”。在电路的特性要求界限方 面，FT测试通常执行比CP测试更为严格的 标准。 芯片也许会在多组温度条件下进行 多次测试以确保那些对温度敏感的特征参 数。商业用途（民品）芯片通常会经过0℃、 25℃和75℃条件下的测试，而军事用途 （军品）芯片则需要经过 -55℃、25℃和 125℃。
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IC测试简述(2/3)
• 如从生产流程方面讲，一般分为芯片测试、成品测试和检验测试，除 非特别需要，芯片测试一般只进行直流测试，而成品测试既可以有交 流测试，也可以有直流测试，在更多的情况下，这两种测试都有。在 一条量产的生产线上，检验测试尤为重要，它一般进行和成品测试一 样的内容，它是代表用户对即将入库的成品进行检验，体现了对实物 质量以及制造部门工作质量的监督。 • 产品测试文件的编制思想 • 测试项目和测试条件、测试规范这些通称为测试文件。 • 特定的集成电路服务于特定的用途，因而集成电路的规格均是根据用 户应用的要求而提出来的。通过和用户的讨论，根据设计和生产的能 力尽量去满足用户的需要，比如，用户提出的电源电压范围，输入电 压、负载大小，封装形式，该产品的应用环境等。 • 应该指出的是测试项目、条件和规范并不是一成不变的，在产品设计 和试制阶段的测试文件和最终形成的文件可能会有很大的差异，这是 很容易理解的，主要原因是因为产品的测试项目有一个不断完善的过 程，本来认为有必要测试的项目可能因为制造工艺的稳定而不再需要 测试，而同时很可能会增加一些由于用户在使用过程中提出来的新的 测试项目。
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IC测试－芯片测试(3/3)