锻件超声波探伤标准
锻钢件的超声波探伤检查方法缺陷等级分类及判定标准
锻钢件的超声波探伤检查方法缺陷等级分类及判定标准1•目的规范公司锻钢件的超声波探伤检查方法，规范缺陷等级分类及判定标准2•内容2.1探伤装置使用脉冲反射式超声波探伤仪。
2.2探伤方法原则上采用单晶头垂直探伤法。
但是精密探伤及有特殊要求的部位，将同时采用其他探伤方法。
2.3探伤方向及探伤范围按下表实施探伤。
但是，认定有缺陷等异状时，必须从所有方向开始探伤。
探伤方向及扫查范围向：对半圆周进行全面探伤。
但小齿轮、螺纹轴、蜗轮、辊子等表层附近特别重要的锻钢件，要从整周开始进行全面探伤。
轴类锻钢件径向：外周全面探伤轴向：从两个方向进行全面探伤轴向：从两个方向开始进行全面探伤从长度方向，宽度方向，板厚方向三个方向开始进行全面探伤。
但齿条等表层附近特别重要的锻钢件,三个方向均需从两面开始全面探伤。
径向：对外周进行全面探伤轴向：从一个方向开始全面探伤。
但是，齿圈等表层附近特别重要的锻钢件要从两个方向起全面探伤。
径向：对外周进行全面探伤轴向：从一个方向开始全面探伤。
但是，齿轮、车轮等表层附近特别重要的锻钢件要从两个方向起全面探伤。
探伤表面的表面粗糙度要达至【Ra12.5以上较好精加工状态。
2.5测量范围的调整原则上，测定范围要调整至底面回波在显示屏时间轴上显现2次。
2.6探伤方式、使用频率和使用探头探伤方式，使用频率和使用探头见下表。
2.7探伤灵敏度的设定2.7.1底面回波方式的灵敏度设定⑴直径或壁厚在2mm以下的部位，将各不同直径或壁厚的致密部位上第1次底面回波高度（BG）调整至探伤仪显示器刻度板的80%。
然后，根据图4进行灵敏度的增幅，以此作为探伤起始灵敏度。
另外，对于超过检查部位的壁厚1/2以上的区域进行探伤时，需要进一步提高灵敏度12dB进行探伤。
关于小齿轮、螺纹轴、蜗轮、齿轮、齿条、车轮等表层附近特别重要的锻钢件，则用提高了12dB后的灵敏度进行全面或是从两面开始探伤。
⑵试验部位的壁厚超过2m时，使用探头专用的DGS曲线图。
关于锻件超声波探伤的标准及规程
关于锻件超声波探伤的标准及规程1.1.1筒形锻件----轴向长度L大于其外径尺寸D的轴对称空心锻件如图1(a)所示.t为公称厚度.环形锻件----轴向长度L小于等于其外径尺寸D的轴对称空心件如图1(a)所示.t为公称厚度.饼形锻件----轴向长度L小于等于其外径D的轴对称形锻件如图1(b)所示.t为公称厚度.碗形锻件----用作容器封头,中心部份凹进去的轴对称形锻件如图1(c)所示.t为公称厚度.方形锻件----相交面互相垂直的六面体锻件如图1(d)所示.三维尺寸a、b、c中最上称厚度.底波降低量GB/BF(dB)无缺陷区的第一次底波高度(GB)和有缺陷区的第一次底波高度(BF)之比.由缺陷引起的底面反射的降低量用dB值表示.密集区缺陷当荧光屏扫描线上相当于50mm的声程范围内同时有5个或者5个以上的缺陷反射信号;或者在50mm×50mm的探测面上发现同一深度范围内有5个或5个以上的缺陷反射信号.缺陷当量直径用AVG方法求出的假定与超声波束相垂直的平底孔的直径,称为缺陷当量直径,或简称为当量直径.AVG曲线以纵座标轴表示相对的反射回波高度,以横座标轴表示声程,对不同直径且假定与超声波束相垂直的圆平面缺陷所画出的曲线图叫AVG曲线,亦称为DGS曲线.２探伤人员锻件探伤应由具有一定基础知识和锻件探伤经验,并经考核取得国家认可的资格证书者担任.３探伤器材探伤仪应采用A型脉冲反射式超声波探伤仪,其频响范围至少应在1MHz～5Mhz内. 仪器应至少在满刻度的75%范围内呈线性显示(误差在5%以内),垂直线性误差应不大于5%.仪器和探头的组合灵敏度:在达到所探工件最大程处的探伤灵敏度时,有效灵敏度余量至少为10dB.衰减器的精度和范围,仪器的水平线性、动态范围等均应队伍ZBY230-84《A型脉冲反射式超声波探伤仪通用技术条件》中的有关规定.探头探头的公称频率主要为,频率误差为±10%.主要采用晶片尺寸为Φ20mm的硬保护膜直探头.必要时也可采用2MHzs或25MHz,以及晶片尺寸不大于Φ28mm探头.探头主声束应无双峰,无偏斜.耦合剂可采用机油、甘油等透声性能好,且不损害工件的液体.４探伤时机及准备工作探伤时机探伤原则上应安排在最终热处理后,在槽、孔、台级等加工前,比较简单的几何形状下进行.热处理后锻件形状若不适于超声波探伤也可在热处理前进行.但在热处理后,仍应对锻件尽可能完全进行探伤.准备工作探伤面的光洁度不应低一地5,且表面平整均匀,并与反射面平等,圆柱形锻件其端面应与轴线相垂直,以便于轴向探伤.方形锻件的面应加工平整,相邻的端面应垂直.探伤表面应无划伤以及油垢和油潜心物等附着物.锻件的几何形状及表面检查均合格后,方可进行探伤.重要区锻件的重要区应在设计图样中或按JB 755-85《压力容器锻件技术条件》予以注明.５探伤方法锻件一般应进行纵波探伤,对简形锻件还应进行横波探伤,但扫查部位和验收标准应由供需双方商定.横波探伤横波探伤应按附录B的要求进行.纵波探伤扫查方法锻件原则上应从两相互垂直的方向进行探伤,尽可能地探测到锻件的全体积,主要探测方向如图2所示,其他形状的锻件也可参照执行.扫查范围:应对锻件整个表面进行连续全面扫查.扫查速度:探头移动速度不超过150mm/s.扫查复盖应为探头直径的15%以上.当锻件探测厚度大于400mm时,应从相对两端面探伤.探伤灵敏度的校验原则上利用大平底采用计算法确定探伤灵敏度,对由于几何形状所限,以及缺陷在近场区内的工件,可采用试块法(见附录A).用底波法校正灵敏度,校正点的位置应选以工件上无缺陷的完好区域.曲面补偿:对于探测面是曲面而又无法采用底波法的工件,应采用曲率与工件相同或相近倍)的参考试块(见附录A);或者采用小直径晶片的探头,使其近场区的长度小于等于1/4工件半径,这样可不需进行曲面补偿.探伤灵敏度不得低于Φ2mm当量直径.缺陷当量的确定采用AVG曲线及计算法确定缺陷当量.计算缺陷当量时,当材质衰减系数超过4dB/m时,应考虑修正.材质衰减系数的测定a. 应在被测工件无缺陷区域,选取三处有代表性的闰,求B1/B2的值,即第一次底波高度(B1)与第二次底波高度(B2)之比的dB差值.b. 衰减系数a(dB/m)的计算为式中 T----声程,m.AVG曲线图见附录C.灵敏度的重新校验除每次探伤前应校准灵敏度外,遇有下述情况时,必须对探伤灵敏度进行重新校准.a. 校正后的探头、耦合剂和仪器调节旋钮等发生任何改变时;b. 开路电压波动或操作者怀疑灵敏度有变动时;c. 连续工作4以上;d. 工作结束时.当增益电平降低2dB以上时,应对上一次校准以来所有检查锻件进行复探;当增益电平升高2dB以上时,应对所有的记录信号进行重新评定.６记录记录当量直径超过Φ4mm的单个缺陷的波幅的位置.密集性缺陷:记录密集性缺陷中最大当量缺陷的位置和分布.饼形锻件应记录大于等于Φ4mm当量直径的缺陷密集区.其他锻件应记录大于等于Φ3mm当密集区.缺陷密集区面积以50mm×50mm的方块作为最小量度单位,其边界可由半波高并法决定.应按表2要求记底波降低量衰减系数,若供需双方有规定时,应记录衰减系数.７等级分类单个缺陷反射的等级见表1.表1 单个缺陷反射的等级等级ⅠⅡⅢⅣⅤ缺陷当量直径≤Φ4 ＞Φ4+(＞5～8dB) Φ4+(＞8～12dB) Φ4+(＞12～16dB) ＞Φ4+16dB)底波降低量的等级见表2.表2 由缺陷引起底波防低量的等级等级ⅠⅡⅢⅣⅤ底波降低量BG/BF ≤8 ＞8～14 ＞14～20 ＞20～26 ＞26注: ①在计算缺陷引起的底面反射降低量时,应扣除4dB/m的材质衰减.②表2仅适用于声程大于一倍近场区的缺陷.密集区缺陷等级见表3.表3 密集区缺陷引起的等级等级ⅠⅡⅢⅣⅤ密集区缺陷占探伤总面积百分比H 0 ＞0～5% ＞5～10% ＞10～20% ＞20%注:表1至表3的等级应作为独立的等级分别使用.如果工件的材质衰减对探伤效果有较大的影响时,应重新进行热处理. 按、、节认定级别的缺陷,如果被探伤人员判定为危害性缺陷时,可以不受上述条文的限制.８探伤报告探伤报告不应少于以下内容.工件情况工件名称、材料牌号、编号、材质衰减、主要部位尺寸草图、探伤面的光洁度.探伤条件探伤仪型号、探头频率、晶片尺寸(k值)、探测方向、探伤灵敏度、参考反射体、耦合剂等.探伤结果8.3.1 缺陷位置、缺陷当量直径、底波降低区及缺陷分布示意图.缺陷等级及其他.探伤人员的资格证号、等级、姓名、报告签发人的资格证号、等级、姓名、日期.附录A试块要求(补充件)远场区使用,探测表面为平面时,应采用CS2型标准试块.近场区使用,探测表面为平面时,应采用CS1型标准试块.探伤面是曲面时,原则上应采用与工件具有大致相当曲率半径的对比试块,其具体形状如图A1.附录B横波探伤(补充件)横波探伤仅适用于内外径之比大于等于75%的环形和筒形锻件.探头探头公称频率主要为,也可用2MHz.探头晶片面积为140-400mm2.原则上应采用K1探头,但根据工件几何形状的不同,也可采用其他的K值探头.参考反射体为了调整探伤灵敏度,利用被探工件壁厚或长度上的加工余部份制作对比试块,在锻件的内外表面,分别沿轴向和周向加工平行的V形槽作为标准沟槽.V形槽长度为25mm,深度为锻件壁厚的1%,角度为60°.也可用其他等效的反射体(如边角反射等).探伤方法扫查方法扫查方向见图B1.探头移动速度不应超过150mm/s.扫查复盖应为探头宽度的15%以上.灵敏度检验从锻件外圆面将探头对准内圆面的标准沟槽,调整增益,使最大反射高度为满幅的80%,将该值在面板上作一点,以其为探伤灵敏度;再移动探头探外圆面的标准沟槽,并将最大反射高度亦在面板上作一点,将以上二点用直线连接并延长,使之包括全部探伤范围,绘出距离---振幅曲线.内圆面探伤时以同一顺序进行,但探头斜楔应与内圆面曲率一致.记录记录超---振幅曲线一半的缺陷反射和缺陷检出位置.附录CAVG 曲线图(参考件)AVG曲线参考图例如下:AVG曲线图必须在CS1和CS2型标准试块上测定后绘制.。
nbt47013-2015的i级标准超声波探伤
《nbt47013-2015的i级标准超声波探伤》1.介绍在工业领域，超声波探伤技术被广泛应用于材料的质量检测和缺陷分析。
而nbt47013-2015的i级标准超声波探伤作为其中的一种标准，具有重要的意义和价值。
本文将通过深度和广度的评估，探讨这一主题，以帮助读者更好地理解和掌握超声波探伤技术。
2.基本原理超声波探伤是利用超声波对材料进行检测的一种无损检测方法。
而nbt47013-2015的i级标准超声波探伤则是在这一基础上制定的一项标准，其基本原理是通过超声波在被检测材料中的传播、反射和折射现象，来检测材料中的缺陷和变化。
这一标准要求操作人员具有一定的专业知识和技能，并且需要按照标准的要求进行操作，以保证检测结果的准确性和可靠性。
3.技术要求根据nbt47013-2015的i级标准超声波探伤的要求，检测人员需要熟悉超声波探伤设备的使用方法，了解被检测材料的性质和结构，同时需要具备一定的信号处理和分析能力。
在进行检测时，需要选择适当的探头和工作模式，调整合适的检测参数，并对检测信号进行准确的采集和分析。
只有严格按照标准要求进行操作，才能得到准确的检测结果。
4.应用范围nbt47013-2015的i级标准超声波探伤适用于各种金属材料的检测，包括焊接接头、铸件、锻件等。
通过超声波探伤技术，可以有效地检测出材料中的各种缺陷，如气孔、裂纹、夹杂等，从而保证材料的质量和安全性。
这一标准的应用范围非常广泛，涉及到航空航天、汽车制造、铁路运输等多个行业领域。
5.个人观点作为超声波探伤技术的标准之一，nbt47013-2015的i级标准具有相当重要的意义。
对于操作人员来说，严格遵守标准的要求，掌握好超声波探伤技术，不仅可以提高检测的准确性和效率，还可以确保材料的质量和安全。
我认为对这一标准的深入理解和应用是非常有必要的。
6.总结通过对nbt47013-2015的i级标准超声波探伤的深度和广度评估，我们可以清晰地了解到这一标准的基本原理、技术要求、应用范围以及个人观点。
锻件超声波探伤标准
锻件超声波探伤标准锻件超声波探伤标准1.1.1筒形锻件－－－－轴向长度L大于其外径尺寸D的轴对称空心锻件如图1（a）所示.t 为公称厚度.1.1.2 环形锻件－－－－轴向长度L小于等于其外径尺寸D的轴对称空心件如图1（a）所示.t 为公称厚度.1.1.3 饼形锻件－－－－轴向长度L小于等于其外径D的轴对称形锻件如图1（b）所示.t 为公称厚度.1.1.4 碗形锻件－－－－用作容器封头,中心部份凹进去的轴对称形锻件如图1（c）所示.t为公称厚度.1.1.5 方形锻件－－－－相交面互相垂直的六面体锻件如图1（d）所示.三维尺寸a、b、c中最上称厚度.1.2 底波降低量GB/BF（dB）无缺陷区的第一次底波高度（GB）和有缺陷区的第一次底波高度（BF）之比.由缺陷引起的底面反射的降低量用dB值表示.1.3 密集区缺陷当荧光屏扫描线上相当于50mm的声程范围内同时有5个或者5个以上的缺陷反射信号;或者在50mm×50mm的探测面上发现同一深度范围内有5个或5个以上的缺陷反射信号.1.4 缺陷当量直径用A VG方法求出的假定与超声波束相垂直的平底孔的直径,称为缺陷当量直径,或简称为当量直径.1.5 A VG曲线以纵座标轴表示相对的反射回波高度,以横座标轴表示声程,对不同直径且假定与超声波束相垂直的圆平面缺陷所画出的曲线图叫AVG曲线,亦称为DGS曲线.２探伤人员锻件探伤应由具有一定基础知识和锻件探伤经验,并经考核取得国家认可的资格证书者担任. ３探伤器材3.1 探伤仪3.1.1 应采用A型脉冲反射式超声波探伤仪,其频响范围至少应在1MHz～5Mhz内.3.1.2 仪器应至少在满刻度的75%范围内呈线性显示（误差在5%以内）,垂直线性误差应不大于5%.3.1.3 仪器和探头的组合灵敏度:在达到所探工件最大程处的探伤灵敏度时,有效灵敏度余量至少为10dB.3.1.4 衰减器的精度和范围,仪器的水平线性、动态范围等均应队伍ZBY230-84《A型脉冲反射式超声波探伤仪通用技术条件》中的有关规定.3.2 探头3.2.1 探头的公称频率主要为2.5Mhz,频率误差为±10%.3.2.2 主要采用晶片尺寸为Φ20mm的硬保护膜直探头.3.2.3 必要时也可采用2MHzs或25MHz,以及晶片尺寸不大于Φ28mm探头.3.2.4 探头主声束应无双峰,无偏斜.3.3 耦合剂可采用机油、甘油等透声性能好,且不损害工件的液体.４探伤时机及准备工作4.1 探伤时机探伤原则上应安排在最终热处理后,在槽、孔、台级等加工前,比较简单的几何形状下进行.热处理后锻件形状若不适于超声波探伤也可在热处理前进行.但在热处理后,仍应对锻件尽可能完全进行探伤.4.2 准备工作4.2.1 探伤面的光洁度不应低一地5,且表面平整均匀,并与反射面平等,圆柱形锻件其端面应与轴线相垂直,以便于轴向探伤.方形锻件的面应加工平整,相邻的端面应垂直.4.2.2 探伤表面应无划伤以及油垢和油潜心物等附着物.4.2.3 锻件的几何形状及表面检查均合格后,方可进行探伤.4.3 重要区锻件的重要区应在设计图样中或按JB 755-85《压力容器锻件技术条件》予以注明.５探伤方法锻件一般应进行纵波探伤,对简形锻件还应进行横波探伤,但扫查部位和验收标准应由供需双方商定.5.1 横波探伤横波探伤应按附录B的要求进行.5.2 纵波探伤5.2.1 扫查方法5.2.1.1 锻件原则上应从两相互垂直的方向进行探伤,尽可能地探测到锻件的全体积,主要探测方向如图2所示,其他形状的锻件也可参照执行.5.2.1.2 扫查范围:应对锻件整个表面进行连续全面扫查.5.2.1.3 扫查速度:探头移动速度不超过150mm/s.5.2.1.4 扫查复盖应为探头直径的15%以上.5.2.1.5 当锻件探测厚度大于400mm时,应从相对两端面探伤.5.2.2 探伤灵敏度的校验5.2.2.1 原则上利用大平底采用计算法确定探伤灵敏度,对由于几何形状所限,以及缺陷在近场区内的工件,可采用试块法（见附录A）.5.2.2.2 用底波法校正灵敏度,校正点的位置应选以工件上无缺陷的完好区域.5.2.2.3 曲面补偿:对于探测面是曲面而又无法采用底波法的工件,应采用曲率与工件相同或相近（0.7-1.1倍）的参考试块（见附录A）;或者采用小直径晶片的探头,使其近场区的长度小于等于1/4工件半径,这样可不需进行曲面补偿.5.2.2.4 探伤灵敏度不得低于Φ2mm当量直径.5.2.3 缺陷当量的确定5.2.3.1 采用A VG曲线及计算法确定缺陷当量.5.2.3.2 计算缺陷当量时,当材质衰减系数超过4dB/m时,应考虑修正.5.2.3.3 材质衰减系数的测定a. 应在被测工件无缺陷区域,选取三处有代表性的闰,求B1/B2的值,即第一次底波高度（B1）与第二次底波高度（B2）之比的dB差值.b. 衰减系数a（dB/m）的计算为式中T－－－－声程,m.5.2.3.4 A VG曲线图见附录C.5.3 灵敏度的重新校验5.3.1 除每次探伤前应校准灵敏度外,遇有下述情况时,必须对探伤灵敏度进行重新校准.a. 校正后的探头、耦合剂和仪器调节旋钮等发生任何改变时;b. 开路电压波动或操作者怀疑灵敏度有变动时;c. 连续工作4以上;d. 工作结束时.5.3.2 当增益电平降低2dB以上时,应对上一次校准以来所有检查锻件进行复探;当增益电平升高2dB以上时,应对所有的记录信号进行重新评定.６记录6.1 记录当量直径超过Φ4mm的单个缺陷的波幅的位置.6.2 密集性缺陷:记录密集性缺陷中最大当量缺陷的位置和分布.6.2.1 饼形锻件应记录大于等于Φ4mm当量直径的缺陷密集区.6.2.2 其他锻件应记录大于等于Φ3mm当密集区.6.2.3 缺陷密集区面积以50mm×50mm的方块作为最小量度单位,其边界可由半波高并法决定.6.3 应按表2要求记底波降低量6.4 衰减系数,若供需双方有规定时,应记录衰减系数.７等级分类7.1 单个缺陷反射的等级见表1.表1 单个缺陷反射的等级等级ⅠⅡⅢⅣⅤ缺陷当量直径≤Φ4 ＞Φ4+（＞5～8dB）Φ4+（＞8～12dB）Φ4+（＞12～16dB）＞Φ4+16dB）7.2 底波降低量的等级见表2.表2 由缺陷引起底波防低量的等级等级ⅠⅡⅢⅣⅤ底波降低量BG/BF ≤8 ＞8～14 ＞14～20 ＞20～26 ＞26注: ①在计算缺陷引起的底面反射降低量时,应扣除4dB/m的材质衰减.②表2仅适用于声程大于一倍近场区的缺陷.7.3 密集区缺陷等级见表3.表3 密集区缺陷引起的等级等级ⅠⅡⅢⅣⅤ密集区缺陷占探伤总面积百分比H 0 ＞0～5% ＞5～10% ＞10～20% ＞20%注:表1至表3的等级应作为独立的等级分别使用.7.4 如果工件的材质衰减对探伤效果有较大的影响时,应重新进行热处理.7.5 按7.1、7.2、7.3节认定级别的缺陷,如果被探伤人员判定为危害性缺陷时,可以不受上述条文的限制.８探伤报告探伤报告不应少于以下内容.8.1 工件情况工件名称、材料牌号、编号、材质衰减、主要部位尺寸草图、探伤面的光洁度.8.2 探伤条件探伤仪型号、探头频率、晶片尺寸（k值）、探测方向、探伤灵敏度、参考反射体、耦合剂等.8.3 探伤结果8.3.1 缺陷位置、缺陷当量直径、底波降低区及缺陷分布示意图.8.3.2 缺陷等级及其他.8.4 探伤人员的资格证号、等级、姓名、报告签发人的资格证号、等级、姓名、日期.附录A试块要求（补充件）A.1 远场区使用,探测表面为平面时,应采用CS2型标准试块.A.2 近场区使用,探测表面为平面时,应采用CS1型标准试块.A.3 探伤面是曲面时,原则上应采用与工件具有大致相当曲率半径的对比试块,其具体形状如图A1.附录B横波探伤（补充件）B.1 横波探伤仅适用于内外径之比大于等于75%的环形和筒形锻件.B.2 探头B.2.1 探头公称频率主要为2.5MHz,也可用2MHz.B.2.2 探头晶片面积为140-400mm2.B.2.3 原则上应采用K1探头,但根据工件几何形状的不同,也可采用其他的K值探头.B.3 参考反射体B.3.1为了调整探伤灵敏度,利用被探工件壁厚或长度上的加工余部份制作对比试块,在锻件的内外表面,分别沿轴向和周向加工平行的V形槽作为标准沟槽.V形槽长度为25mm,深度为锻件壁厚的1%,角度为60°.也可用其他等效的反射体（如边角反射等）.B.4 探伤方法B.4.1 扫查方法B.4.1.1 扫查方向见图B1.B.4.1.2 探头移动速度不应超过150mm/s.B.4.1.3 扫查复盖应为探头宽度的15%以上.B.4.2 灵敏度检验从锻件外圆面将探头对准内圆面的标准沟槽,调整增益,使最大反射高度为满幅的80%,将该值在面板上作一点,以其为探伤灵敏度;再移动探头探外圆面的标准沟槽,并将最大反射高度亦在面板上作一点,将以上二点用直线连接并延长,使之包括全部探伤范围,绘出距离－－-振幅曲线.内圆面探伤时以同一顺序进行,但探头斜楔应与内圆面曲率一致.B.5 记录记录超－－-振幅曲线一半的缺陷反射和缺陷检出位置.附录CA VG 曲线图（参考件）C.1 A VG曲线参考图例如下:C.2 A VG曲线图必须在CS1和CS2型标准试块上测定后绘制.文章链接：中国化工仪器网/Tech_news/Detail/110051.html。
锻件超声波探伤记录和报告(试块)47013-友联
△=9=40 lg
Φ X X2 φ 2 X1
Φ X ×225
＝ 40 lg
＝40 lg0.5625Φ X
2×200
0=3 (mm)
三.结论; 对该锻件垂直方向进行超声全面扫查,发现距锻件表面 200mm 处有一缺陷,缺陷当 量为 3mm. 根据 JB/T4730.3-2005 标准,该钢板评为Ⅰ级,合格
报告日期
年月日
探伤结果
一. 检测内容：对锻件 T=225mm 进行超声检测,如何利用锻件 T=175mm 调节锻件φ 2 灵敏 度.
二. 检测步骤：(1) 扫描比例调节; 将纵波直探头放置锻件 T=175mm 上,找出一次(B1)和二 次(B2)底面反射波，分别将两波对准水平刻度 175 和 350 处, 此时, 深度 1:1 比例调好. (2).计算试块 150/φ 3 与锻件 225/φ 2 回波分贝差;
△=40 lg
φ 1 X2 φ 2 X1
＝ 40 lg
3×225 2×150
=14(dB)
(3).灵敏度调节;探头对准 150/φ 3 平底孔试块的平底孔,使φ 3 平底孔回波达到最高,调至 基准高度(80%),然后增益 14dB,此时 225/φ 2 灵敏度调好.
(4).锻件检测;将探头放置 225mm 锻件上进行全面扫查,距锻件表面 200mm 发现一缺陷 波,波高比 225/φ 2 灵敏度基准波高高 9dB.求缺陷当量. 已知 X1=200 φ 2=2 X2=225 △=9 求; φ X
锻件超声波探伤记录和报告（南通友联专用）
准考号: 试件编号 试件规格 仪器型号 探测灵敏度
X
试件名称
φ 70×225 探头规格
PXUT-350C 型 扫查比例
GB4730超声波探伤标准
GB/T4730-2005承压设备用钢锻件超声检测和质量分级4.2 承压设备用钢锻件超声检测和质量分级4.2.1范围本条适用于承压设备用碳钢和低合金钢锻件的超声检测和质量分级。
本条不适用于奥氏体钢等粗晶材料锻件的超声检测，也不适用于内外半径之比小于80%的环形和筒形锻件的周向横波检测。
4.2.2探头双晶直探头的公称频率应选用5MHz。
探头晶片面积不小于150mm2；单晶直探头的公称频率应选用2MHz～5MHz，探头晶片一般为φ14mm～φ25mm。
4.2.3试块应符合3.5的规定。
4.2.3.1单直探头标准试块采用CSI试块，其形状和尺寸应符合图4和表4的规定。
如确有需要也可采用其他对比试块。
图4 CSI标准试块表4 CSI标准试块尺寸 mm4.2.3.2双晶直探头试块a) 工件检测距离小于45mm时，应采用CSⅡ标准试块。
b) CSⅡ试块的形状和尺寸应符合图5和表5的规定。
图5 CSⅡ标准试块表5 CSⅡ标准试块尺寸 mm4.2.3.3 检测面是曲面时，应采用CSⅢ标准试块来测定由于曲率不同而引起的声能损失，其形状和尺寸按图6所示。
图6 CSIII标准试块4.2.4检测时机检测原则上应安排在热处理后，孔、台等结构机加工前进行，检测面的表面粗糙度Rα≤6.3μm。
4.2.5 检测方法 4.2.5.1 一般原则锻件应进行纵波检测，对筒形和环形锻件还应增加横波检测。
4.2.5.2 纵波检测a) 原则上应从两个相互垂直的方向进行检测，尽可能地检测到锻件的全体积。
主要检测方向如图7所示。
其他形状的锻件也可参照执行。
b) 锻件厚度超过400mm 时，应从相对两端面进行100%的扫查。
注: 为应检测方向； ※为参考检测方向。
图7 检测方向(垂直检测法)4.2.5.3 横波检测钢锻件横波检测应按附录C(规范性附录)的要求进行。
4.2.6 灵敏度的确定4.2.6.1 单直探头基准灵敏度的确定当被检部位的厚度大于或等于探头的3倍近场区长度，且探测面与底面平行时，原则上可采用底波计算法确定基准灵敏度。
关于锻件超声波探伤的标准及规程
关于锻件超声波探伤的标准及规程1.1.1筒形锻件----轴向长度L大于其外径尺寸D的轴对称空心锻件如图1(a)所示.t为公称厚度.环形锻件----轴向长度L小于等于其外径尺寸D的轴对称空心件如图1(a)所示.t为公称厚度.饼形锻件----轴向长度L小于等于其外径D的轴对称形锻件如图1(b)所示.t为公称厚度.碗形锻件----用作容器封头,中心部份凹进去的轴对称形锻件如图1(c)所示.t为公称厚度.方形锻件----相交面互相垂直的六面体锻件如图1(d)所示.三维尺寸a、b、c中最上称厚度.底波降低量GB/BF(dB)无缺陷区的第一次底波高度(GB)和有缺陷区的第一次底波高度(BF)之比.由缺陷引起的底面反射的降低量用dB值表示.密集区缺陷当荧光屏扫描线上相当于50mm的声程范围内同时有5个或者5个以上的缺陷反射信号;或者在50mm×50mm的探测面上发现同一深度范围内有5个或5个以上的缺陷反射信号.缺陷当量直径用AVG方法求出的假定与超声波束相垂直的平底孔的直径,称为缺陷当量直径,或简称为当量直径.AVG曲线以纵座标轴表示相对的反射回波高度,以横座标轴表示声程,对不同直径且假定与超声波束相垂直的圆平面缺陷所画出的曲线图叫AVG曲线,亦称为DGS曲线.２探伤人员锻件探伤应由具有一定基础知识和锻件探伤经验,并经考核取得国家认可的资格证书者担任.３探伤器材探伤仪应采用A型脉冲反射式超声波探伤仪,其频响范围至少应在1MHz～5Mhz内.仪器应至少在满刻度的75%范围内呈线性显示(误差在5%以内),垂直线性误差应不大于5%.仪器和探头的组合灵敏度:在达到所探工件最大程处的探伤灵敏度时,有效灵敏度余量至少为10dB.衰减器的精度和范围,仪器的水平线性、动态范围等均应队伍ZBY230-84《A型脉冲反射式超声波探伤仪通用技术条件》中的有关规定.探头探头的公称频率主要为,频率误差为±10%.主要采用晶片尺寸为Φ20mm的硬保护膜直探头.必要时也可采用2MHzs或25MHz,以及晶片尺寸不大于Φ28mm探头.探头主声束应无双峰,无偏斜.耦合剂可采用机油、甘油等透声性能好,且不损害工件的液体.４探伤时机及准备工作探伤时机探伤原则上应安排在最终热处理后,在槽、孔、台级等加工前,比较简单的几何形状下进行.热处理后锻件形状若不适于超声波探伤也可在热处理前进行.但在热处理后,仍应对锻件尽可能完全进行探伤.准备工作探伤面的光洁度不应低一地5,且表面平整均匀,并与反射面平等,圆柱形锻件其端面应与轴线相垂直,以便于轴向探伤.方形锻件的面应加工平整,相邻的端面应垂直.探伤表面应无划伤以及油垢和油潜心物等附着物.锻件的几何形状及表面检查均合格后,方可进行探伤.重要区锻件的重要区应在设计图样中或按JB 755-85《压力容器锻件技术条件》予以注明.５探伤方法锻件一般应进行纵波探伤,对简形锻件还应进行横波探伤,但扫查部位和验收标准应由供需双方商定.横波探伤横波探伤应按附录B的要求进行.纵波探伤扫查方法锻件原则上应从两相互垂直的方向进行探伤,尽可能地探测到锻件的全体积,主要探测方向如图2所示,其他形状的锻件也可参照执行.扫查范围:应对锻件整个表面进行连续全面扫查.扫查速度:探头移动速度不超过150mm/s.扫查复盖应为探头直径的15%以上.当锻件探测厚度大于400mm时,应从相对两端面探伤.探伤灵敏度的校验原则上利用大平底采用计算法确定探伤灵敏度,对由于几何形状所限,以及缺陷在近场区内的工件,可采用试块法(见附录A).用底波法校正灵敏度,校正点的位置应选以工件上无缺陷的完好区域.曲面补偿:对于探测面是曲面而又无法采用底波法的工件,应采用曲率与工件相同或相近倍)的参考试块(见附录A);或者采用小直径晶片的探头,使其近场区的长度小于等于1/4工件半径,这样可不需进行曲面补偿.探伤灵敏度不得低于Φ2mm当量直径.缺陷当量的确定采用AVG曲线及计算法确定缺陷当量.计算缺陷当量时,当材质衰减系数超过4dB/m时,应考虑修正.材质衰减系数的测定a. 应在被测工件无缺陷区域,选取三处有代表性的闰,求B1/B2的值,即第一次底波高度(B1)与第二次底波高度(B2)之比的dB差值.b. 衰减系数a(dB/m)的计算为?式中 T----声程,m.AVG曲线图见附录C.灵敏度的重新校验除每次探伤前应校准灵敏度外,遇有下述情况时,必须对探伤灵敏度进行重新校准.a. 校正后的探头、耦合剂和仪器调节旋钮等发生任何改变时;b. 开路电压波动或操作者怀疑灵敏度有变动时;c. 连续工作4以上;d. 工作结束时.当增益电平降低2dB以上时,应对上一次校准以来所有检查锻件进行复探;当增益电平升高2dB以上时,应对所有的记录信号进行重新评定.６记录记录当量直径超过Φ4mm的单个缺陷的波幅的位置.密集性缺陷:记录密集性缺陷中最大当量缺陷的位置和分布.饼形锻件应记录大于等于Φ4mm当量直径的缺陷密集区.其他锻件应记录大于等于Φ3mm当密集区.缺陷密集区面积以50mm×50mm的方块作为最小量度单位,其边界可由半波高并法决定.应按表2要求记底波降低量衰减系数,若供需双方有规定时,应记录衰减系数.７等级分类单个缺陷反射的等级见表1.表1 单个缺陷反射的等级等级 ?Ⅰ ?Ⅱ ?Ⅲ ?Ⅳ ?Ⅴ缺陷当量直径?≤Φ4?＞Φ4+(＞5～8dB)?Φ4+(＞8～12dB)?Φ4+(＞12～16dB)?＞Φ4+16dB)底波降低量的等级见表2.表2 由缺陷引起底波防低量的等级等级 ? ?Ⅰ ?Ⅱ ?Ⅲ ?Ⅳ ?Ⅴ底波降低量?BG/BF?≤8?＞8～14?＞14～20?＞20～26?＞26注: ①在计算缺陷引起的底面反射降低量时,应扣除4dB/m的材质衰减.②表2仅适用于声程大于一倍近场区的缺陷.密集区缺陷等级见表3.表3 密集区缺陷引起的等级等级 ?Ⅰ ?Ⅱ ?Ⅲ ?Ⅳ ?Ⅴ密集区缺陷占探伤总面积百分比H?0?＞0～5%?＞5～10%?＞10～20%?＞20% 注:表1至表3的等级应作为独立的等级分别使用.如果工件的材质衰减对探伤效果有较大的影响时,应重新进行热处理.按、、节认定级别的缺陷,如果被探伤人员判定为危害性缺陷时,可以不受上述条文的限制.８探伤报告探伤报告不应少于以下内容.工件情况工件名称、材料牌号、编号、材质衰减、主要部位尺寸草图、探伤面的光洁度.探伤条件探伤仪型号、探头频率、晶片尺寸(k值)、探测方向、探伤灵敏度、参考反射体、耦合剂等.探伤结果8.3.1 缺陷位置、缺陷当量直径、底波降低区及缺陷分布示意图.缺陷等级及其他.探伤人员的资格证号、等级、姓名、报告签发人的资格证号、等级、姓名、日期.附录A试块要求(补充件)远场区使用,探测表面为平面时,应采用CS2型标准试块.近场区使用,探测表面为平面时,应采用CS1型标准试块.探伤面是曲面时,原则上应采用与工件具有大致相当曲率半径的对比试块,其具体形状如图A1.附录B横波探伤(补充件)横波探伤仅适用于内外径之比大于等于75%的环形和筒形锻件.探头探头公称频率主要为,也可用2MHz.探头晶片面积为140-400mm2.原则上应采用K1探头,但根据工件几何形状的不同,也可采用其他的K值探头.参考反射体为了调整探伤灵敏度,利用被探工件壁厚或长度上的加工余部份制作对比试块,在锻件的内外表面,分别沿轴向和周向加工平行的V形槽作为标准沟槽.V形槽长度为25mm,深度为锻件壁厚的1%,角度为60°.也可用其他等效的反射体(如边角反射等).探伤方法扫查方法扫查方向见图B1.探头移动速度不应超过150mm/s.扫查复盖应为探头宽度的15%以上.灵敏度检验从锻件外圆面将探头对准内圆面的标准沟槽,调整增益,使最大反射高度为满幅的80%,将该值在面板上作一点,以其为探伤灵敏度;再移动探头探外圆面的标准沟槽,并将最大反射高度亦在面板上作一点,将以上二点用直线连接并延长,使之包括全部探伤范围,绘出距离---振幅曲线.内圆面探伤时以同一顺序进行,但探头斜楔应与内圆面曲率一致.记录记录超---振幅曲线一半的缺陷反射和缺陷检出位置.附录CAVG 曲线图(参考件)AVG曲线参考图例如下:AVG曲线图必须在CS1和CS2型标准试块上测定后绘制.。
GB4730超声波探伤标准
GB/T4730-2005承压设备用钢锻件超声检测和质量分级4.2 承压设备用钢锻件超声检测和质量分级4.2.1范围本条适用于承压设备用碳钢和低合金钢锻件的超声检测和质量分级。
本条不适用于奥氏体钢等粗晶材料锻件的超声检测，也不适用于内外半径之比小于80%的环形和筒形锻件的周向横波检测。
4.2.2探头双晶直探头的公称频率应选用5MHz。
探头晶片面积不小于150mm2；单晶直探头的公称频率应选用2MHz～5MHz，探头晶片一般为φ14mm～φ25mm。
4.2.3试块应符合3.5的规定。
4.2.3.1单直探头标准试块采用CSI试块，其形状和尺寸应符合图4和表4的规定。
如确有需要也可采用其他对比试块。
图4 CSI标准试块表4 CSI标准试块尺寸 mm试块序号CSI-1 CSI-2 CSI-3 CSI-4 L 50 100 150 200D 50 60 80 804.2.3.2双晶直探头试块a) 工件检测距离小于45mm时，应采用CSⅡ标准试块。
b) CS Ⅱ试块的形状和尺寸应符合图5和表5的规定。
图5 CS Ⅱ标准试块表5 CS Ⅱ标准试块尺寸 mm试块序号 孔径 检测距离L123456789CSII-1 φ2 51015202530354045CSII-2 φ3 CSII-3 φ4 CSII-4φ64.2.3.3 检测面是曲面时，应采用CS Ⅲ标准试块来测定由于曲率不同而引起的声能损失，其形状和尺寸按图6所示。
图6 CSIII 标准试块4.2.4 检测时机检测原则上应安排在热处理后，孔、台等结构机加工前进行，检测面的表面粗糙度R α≤6.3μm 。
4.2.5检测方法4.2.5.1一般原则锻件应进行纵波检测，对筒形和环形锻件还应增加横波检测。
4.2.5.2 纵波检测a) 原则上应从两个相互垂直的方向进行检测，尽可能地检测到锻件的全体积。
主要检测方向如图7所示。
其他形状的锻件也可参照执行。
b) 锻件厚度超过400mm时，应从相对两端面进行100%的扫查。