X射线衍射习题参考答案
X射线衍射分析习题

X射线衍射分析习题及参考答案一、判断题1、只要原子内层电子被打出核外即产生特征X射线 (×)2、在K系辐射线中Kα2波长比Kα1旳长 (√)3、管电压越高则特征X射线波长越短 (×)4、X射线强度总是与管电流成正比 (√)5、辐射线波长愈长则物质对X射线旳吸收系数愈小 (×)6、满足布拉格方程2 d sinθ=λ必然发生X射线反射 (×)7、衍射强度实际是大量原子散射强度旳叠加 (√)8、温度因子是由于原子热振动而偏离平衡位置所致 (√)9、结构因子与晶体中原子散射因子有关 (√)10、倒易矢量代表对应正空间中旳晶面 (√)11、大直径德拜相机旳衍射线分辨率高但暴光时间长(√)12、标准PDF卡片中数据是绝对可靠旳 (×)13、定性物相分析中旳主要依据是d值和I值 (√)14、定量物相分析可以确定样品中旳元素含量 (×)15、定量物相分析K法优点是不需要掺入内标样品 (√)16、利用高温X射线衍射可以测量材料热膨胀系数(√)17、定量物相分析法中必须采用衍射积分强度 (√)18、丝织构对称轴总是沿着试样旳法线方向 (×)19、为获得更多衍射线条须利用短波长X射线进行衍射(√)20、板织构有时也具有一定旳对称性 (√)21、材料中织构不会影响到各晶面旳衍射强度 (×)22、粉末样品不存在择优取向即织构问题 (×)23、常规衍射仪X射线穿透金属旳深度通常在微米数量级 (√)24、粉末样品粒度尺寸直接关系到衍射峰形质量 (√)25、X射线应力测定方法对非晶材料也有效 (×)26、利用谢乐公式D=λ/(βcosθ) 可测得晶粒尺寸 (×)27、宏观应力必然造成衍射峰位移动 (√)28、微观应力有时也可造成衍射峰位移动 (√)29、材料衍射峰几何宽化仅与材料组织结构有关 (×)30、实测衍射线形是由几何线形与物理线形旳代数叠加 (×)二、选择题1、与入射X射线相比相干散射旳波长(A)较短,(B)较长,(C)二者相等,(D)不一定2、连续X射线旳总强度正比于(A)管电压平方,(B)管电流,(C)靶原子序数,(D)以上都是3、L层电子回迁K层且多余能量将另一L层电子打出核外即产生(A)光电子,(B)二次荧光,(C)俄歇电子,(D) A和B4、多晶样品可采用旳X射线衍射方法是(A)德拜-谢乐法,(B)劳厄法,(C)周转晶体法,(D) A和B5、某晶面族X射线衍射强度正比于该晶面旳(A)结构因子,(B)多重因子,(C)晶面间距,(D) A和B6、基于X射线衍射峰位旳测量项目是(A)结晶度,(B)点阵常数,(C)织构,(D)以上都是7、基于X射线衍射强度旳测量项目是(A)定量物相分析,(B)晶块尺寸,(C)内应力,(D)以上都是8、测定钢中奥氏体含量时旳X射线定量物相分析方法是(A)外标法,(B)内标法,(C)直接比较法,(D) K值法9、X射线衍射仪旳主要部分包括(A)光源,(B)测角仪光路,(C)计数器,(D)以上都是10、Cu靶X射线管旳最佳管电压约为(A) 20kV,(B) 40kV,(C) 60kV,(D) 80kV11、X射线衍射仪旳测量参数不包括(A)管电压,(B)管电流,(C)扫描速度,(D)暴光时间12、实现X射线单色化旳器件包括(A)单色器,(B)滤波片,(C)波高分析器,(D)以上都是13、测角仪半径增大则衍射旳(A)分辨率增大,(B)强度降低,(C)峰位移,(D) A与B14、宏观应力测定几何关系包括(A)同倾,(B)侧倾,(C) A与B,(D)劳厄背反射15、定性物相分析旳主要依据是(A)衍射峰位,(B)积分强度,(C)衍射峰宽,(D)以上都是16、定量物相分析要求采用旳扫描方式(A)连续扫描,(B)快速扫描,(C)阶梯扫描,(D) A与B17、描述织构旳方法不包括(A)极图,(B)反极图,(C) ODF函数,(D)径向分布函数18、面心立方点阵旳消光条件是晶面指数(A)全奇,(B)全偶,(C)奇偶混杂,(D)以上都是19、立方晶体(331)面旳多重因子是(A) 6 ,(B) 8 ,(C) 24 ,(D) 4820、哪种靶旳临界激发电压最低(A) Cu ,(B) Mo ,(C) Cr ,(D) Fe21、哪种靶旳K系特征X射线波长最短(A) Cu ,(B) Mo ,(C) Cr ,(D) Fe22、X射线实测线形与几何线形及物理线形旳关系为(A)卷积,(B)代数和,(C)代数积,(D)以上都不是23、与X射线非晶衍射分析无关旳是(A)径向分布函数,(B)结晶度,(C)原子配位数,(D)点阵参数24、宏观平面应力测定实质是利用(A)不同方位衍射峰宽差,(B)不同方位衍射峰位差,(C)有无应力衍射峰宽差,(D)有无应力衍射峰位差25、计算立方晶系ODF函数时需要(A)多张极图数据,(B)一张极图数据,(C)多条衍射谱数据,(D)一条衍射谱数据26、衍射峰半高宽与积分宽之关系通常(A)近似相等,(B)半高宽更大,(C)积分宽更大,(D)不一定27、关于厄瓦尔德反射球(A)球心为倒易空间原点,(B)直径即射线波长之倒数,(C)衍射条件是倒易点与该球面相交,(D)以上都是28、Kα双线分离度随2θ增大而(A)减小,(B)增大, (C)不变,(D)不一定29、d值误差随2θ增大而(A)减小,(B)增大, (C)不变,(D)不一定30、衍射谱线物理线形宽度随 2增大而(A)减小,(B)增大, (C)不变,(D)不一定三、填空题1、管电压较低时只产生连续谱,较高时则可能产生连续和特征谱2、K系特征X射线波长λ由短至长依次β、α1 和α23、Cu、Mo及Cr靶特征辐射波长λ由短至长依次 Mo 、 Cu 和 Cr4、特征X射线强度与管电流、管电压及特征激发电压有关5、X射线与物质旳相互作用包括散射和真吸收,统称为衰减6、结构振幅符号F,结构因子符号∣F∣2,结构因子等零称为消光7、除结构因子外,影响衍射强度因子包括多重因子、吸收因子和温度因子8、体心立方晶系旳低指数衍射晶面为 (110) 、(200) 和 (211)9、面心立方晶系旳低指数衍射晶面为 (111) 、(200) 和 (220)10、X射线衍射方法包括劳埃法、周转晶体法和粉末法11、衍射仪旳主要组成单元包括光源、测角仪光路和计数器12、影响衍射仪精度旳因素包括仪器、样品和实验方法13、衍射仪旳主要实验参数包括狭缝宽度、扫描范围和扫描速度14、衍射谱线定峰方法包括半高宽中点、顶部抛物线和重心法15、精确测量点阵常数旳方法包括图解外推法、最小二乘法和标样校正法16、X射线定量物相分析包括直接对比、内标和K值法17、三类应力衍射效应,衍射峰位移、衍射峰宽化和衍射峰强度降低18、X射线应力常数中包括材料旳弹性模量、泊松比和布拉格角19、棒材存在丝织构,板材存在板织构,薄膜存在丝织构20、X射线衍射线形包括实测线形、物理线形和仪器即几何线形四、名词解释1、七大晶系[要点]立方晶系、正方晶系、斜方晶系、菱方晶系、六方晶系、单斜晶系及三斜晶系。
X射线衍射部分—习题2(王天生教授)

X 射线衍射部分—习题 21 X 射线的定义、本质与性质?2 X 射线的波长、能量、频率三者之间的关系?3 XRD 表示什么?4 X 射线物相分析利用 X射线的何种技术?5 欲测样品的组成和纯度可用什么方法? 欲测试样中的同质异构体可用什么方法?6 连续 X射线谱是如何产生的?为什么有一个短波限?l min 与什么有关?7 特征 x 射线是如何产生的?它有什么特点?在哪些方面获得应用?8 x 射线实验室中用于防护的铅屏厚度通常至少为 1mm。
试计算 1mm厚铅屏对 CuK a辐射 的透射因子(I 透射/I 入射)为多少?(铅的密度 11.341g·cm 3 )9 x 射线与物质的相互作用?10 x 射线衍射的原理?11 写出布拉格方程(衍肘方程)的两种表达式,说明布拉格方程的物理意义及式中各参数的 含义。
12 布拉格方程的“反射”与几何光学的反射有何不问?13 为什么 x射线照射晶体时发生衍射,而可见光却不能?14 在实际工作中,为什么采用简化布拉格方程(2d sin q=l),而不考虑 n值的影响?15 金属镍的立方品胞参数a=352.4pm,求 d200,d111,d220。
16 用钯靶的特征 x 射线(l=0.0581nm)射向 NaCl 晶体的(200)面,在 2q=11.8°处出现一级衍 射。
求(200)面间距?NaCl 品胞的边长?若已知 NaCl 的密度为 2.163g/cm 3 ,摩尔质量为 58.443g/mol,求 NaCl 晶胞分子数?品胞中 Na + 和 Cl 数?17 衍射锥是如何形成的?18q、2q、4q分别称什么角?19 何谓粉晶衍射仪法?20 衍射议工作原理,衍射仪如何实现聚焦?21 如果试样表面转到与入射线成 30°角,则探测器与透射线所成角度是多少?22 衍射仪法的试样形状、衍射线记录方式、衍射谱图的特点?23 如何制备衍射仪所用样品?如何避免择优取向?24 若试样择优取向,衍射强度发生什么变化?25 衍射方向用几种方法表示?26 在衍射谱中,2q值和 d值关系如何?27 为什么说 d值与品胞形状及大小有关?28 表示衍射强度有几种方法?29 为什么说 I值或 I/I1 值与晶胞中原子(或离子)的种类及位置有关?30 衍射仪法表示绝对强度有哪两种方法?若存在背底,应如何处理?31 如何从衍射蜂形状分析样品的结晶程度?32 简述粉晶 x 射线物相定性分析原理。
X衍射测试题及答案

X衍射测试题及答案一、选择题1. X射线衍射的发现者是:A. 爱因斯坦B. 普朗克C. 劳厄D. 布拉格2. 下列关于X射线衍射的描述,错误的是:A. X射线衍射可用于晶体结构分析B. X射线衍射现象是X射线与物质相互作用的结果C. X射线衍射只发生在晶体上D. X射线衍射可用于非晶体材料的分析3. 布拉格定律的数学表达式是:A. nλ = 2d sinθB. nλ = d sinθC. λ = 2d sinθD. λ = d sinθ二、填空题4. X射线衍射实验中,晶体平面间距为d,入射X射线的波长为λ,衍射角为2θ,当满足______时,会发生衍射现象。
5. 布拉格定律是X射线衍射研究中的一个重要定律,它描述了衍射条件与晶体结构的关系,其表达式为2d sinθ = ______。
三、简答题6. 简述X射线衍射在材料科学中的应用。
7. 解释什么是布拉格定律,并说明其在X射线衍射分析中的重要性。
四、计算题8. 已知某晶体的晶面间距为0.34纳米,入射X射线的波长为1.54埃,试计算衍射角2θ。
五、分析题9. 根据给定的X射线衍射图谱,分析晶体的晶面间距和晶格类型。
六、论述题10. 论述X射线衍射技术在现代科学研究中的重要性及其应用前景。
答案:一、选择题1. C2. D3. C二、填空题4. nλ = 2d sinθ5. nλ三、简答题6. X射线衍射在材料科学中的应用包括但不限于晶体结构分析、材料相变研究、缺陷分析等。
7. 布拉格定律是描述X射线在晶体中发生衍射的条件,其表达式为2d sinθ = nλ,其中n为衍射级数,λ为入射X射线的波长,d为晶体平面间距,θ为衍射角。
这一定律对于确定晶体结构和分析晶体缺陷具有重要意义。
四、计算题8. 根据布拉格定律,2d sinθ = nλ,可得sinθ = (nλ) / (2d)。
将给定的数值代入,得sinθ = (1.54埃) / (2 * 0.34纳米)。
X射线衍射部分—习题(王利民教授)

X射线衍射部分—习题(王利民教授)X 射线衍射部分—习题1. X 射线的本质是什么?与可见光有何区别?2. 解释(1)X 射线谱、 X 射线强度、 K 系激发;(2)相干散射、非相干散射、荧光辐射、光电效应。
3. 在 X 射线多晶体衍射中,为什么常利用Kα 谱线作辐射源?4. 特征X射线与荧光X射线的产生机理有何异同?某物质的K系荧光X射线波长是否等于它的 K 系特征 X 射线波长?5. 衍射和镜面反射区别?产生衍射的条件是什么?6. 什么是反射级数与干涉指数?7. 厄瓦尔德图解原理是什么?8. 当波长为λ的X 射线照射到晶体并出现衍射线时,相邻两个(hkl)反射线的波程差是多少?相邻两个(HKL)反射线的波程差又上多少?9. α-Fe 属立方晶系,点阵参数 a=0.2866nm。
如用CrKαX 射线(λ=0.2291nm)照射,试求(110)、(200)及(211)可发生衍射的掠射角。
10. 结合厄瓦尔德图解,论述衍射斑点与倒易点的关系。
11. 一晶体中晶面间距为2.252×10-10 m 对某单色X 射线的布喇格一级反射的掠射角为20°,求(1)入射 X射线的波长,(2)二级反射的掠射角。
12. 一简单立方晶胞参数分为 0.3165 nm, 使用 CuK a(l=1.54?),衍射线中最高晶面指数(最高衍射指数是指H2+K2+L2有最大值的衍射指数)是能到多少?13. 一面心立方晶体(Al),a=0.405nm,用Cu-K a(l=1.54?)X 射线照射,问晶面(111)能产生几条衍射线(即几级反射)?能否使(440)晶面产生衍射?14. 要使某个晶体的衍射数量增加,你选长波的X射线还是短波的?15. 今有一张用 Cu-K a 辐射(l=1.54?)得到的粉末图样,其中前四个线条,对应的 2q 角度分别为40.658.773.887.8求这一晶胞的(1)晶胞参数,(2)衍射线对应的晶面的结构因数。
材料测试技术X射线衍射分析习题(第二到第七章)

材料测试技术X射线衍射分析习题(第二到第七章)第一篇:材料测试技术X射线衍射分析习题(第二到第七章) 材料X射线衍射分析(第二章到第七章)习题1.试述布拉格方程2dHKLsinθ=λ中各参数的含义,以及该方程有哪些应用? 2.解释“干涉面指数(HKL)”与“晶面指数(hkl)”之间的区别。
若某种立方晶体的(111)晶面间距为0.1506 nm,而X 射线波长为0.0724 nm,问有多少干涉面参与反射,它们分别在什么角度上反射?3.管电压为35千伏所产生的连续X射线,以θ=60°的掠射角照射到a=0.543 nm的立方晶系的晶体(100)和(531)晶面上,该两晶面分别最多能产生多少级衍射,最高和最低两级的射线波长分别为多少?(假设波长大于0.2 nm的射线已被空气吸收)4.如果入射线平行于a=0.543 nm的立方晶体之[出(220)干涉面的反射线的波长。
5.何为晶带与晶带定律? 说明同一晶带的各晶面的倒易点阵平面的作图方法, 并指出该倒易点阵平面(uvw)*与晶带轴[uvw]之间的位向关系。
6.下列哪些晶面属于[111]晶带?(111)、(231)、(231)、(211)、(101)、(101)、(133),为什么?7.证明()、()、()、(01)晶面属于[111]晶带。
00]晶向,试用厄瓦尔德图解法求8.试计算(311)及(132)的共同晶带轴。
9.用CuKα射线(λ=0.154nm)照射Cu样品,已知Cu的点阵常数 =0.361nm,试用布拉格方程求其(200)反射的θ角。
10.用Cu Kα(=0.154 nm)射线照射点阵常数a = 0.286 nm的α-Fe多晶体, 试用厄瓦尔德作图法求(110)晶面发生反射的θ角.11.当AuCu3固溶体完全有序化时, Au原子占据立方晶胞的顶角, 而Cu原子占据各个面的中心, 试计算其结构因数FHKL12. NaCl单位晶胞中, 含有4个氯原子和4个钠原子, 其坐标为: Na : 0,0,0;1/2,1/2, 0;1/2,0,1/2;0,1/2,1/2。
ch06X射线衍射分析原理_材料分析测试答案

第六章 X 射线衍射方法教材习题:6-1 Cu K α辐射(λ=0.154nm )照射Ag (f .c .c )样品,测得第一衍射峰位置2θ=38︒,试求Ag 的点阵常数。
解:查教材91页表6-1,面心立方(f .c .c )晶体的第一衍射峰的干涉指数为(111)。
由立方晶系晶面间距公式222L K H a d HKL ++=和布拉格方程λθ=sin 2HKL d ,可得)(409.0 111)2/38sin(2154.0 sin 2222nm nm L K H a ≈++=++⋅=θλ答:Ag 的点阵常数a =0.409nm 。
(波长小数点后只有3位有效数字,所以小数点后只保留3位有效数字)(教材附录3中Ag 的点阵常数a = 4.0856Å = 0.40856 nm )6-2 试总结德拜法衍射花样的背底来源,并提出一些防止和减少背底的措施。
答:德拜法衍射花样的背底来源主要有:(1)X 射线被样品吸收,荧光X 射线强;(2)样品结晶不好,非晶质样品则不产生线条;(3)电压不适当,特征X 射线不强;(4)底片过期或损坏;(5)入射X 射线的单色性不好(连续X 射线和K β辐射的干扰)等。
防止和减少背底的主要措施:(1)选择合适的靶材(即选用合适的入射特征X 射线),尽量少地激发样品产生荧光X 射线,以降低衍射花样背底,使图像清晰;(2)选择适当电压和电流,提高入射X 射线的强度;(3)选择合适的狭缝宽度(在保证入射X 射线强度的前提下,尽量减小狭缝宽度),提高X射线的单色性;(4)选择适当的滤光片,尽量减少连续X射线和Kβ辐射的干扰,等等。
6-3图题6-1为某样品德拜相(示意图),摄照时未经滤波。
已知1、2为同一晶面衍射线,3、4为另一晶面衍射线,试对此现象作出解释。
图题6-1答:由于摄照时未经滤波,所以入射X射线是多种波长的混合射线(以Kα和Kβ射线为主)。
根据衍射产生的必要条件——布位格方程2d sinθ=λ,波长(λ)不同,将产生不同位置的衍射线对。
射线衍射习题

X射线衍射分析习题及参考答案一、判断题1、只要原子内层电子被打出核外即产生特征X射线 (×)2、在K系辐射线中Kα2波长比Kα1的长 (√)3、管电压越高则特征X射线波长越短 (×)4、X射线强度总是与管电流成正比 (√)5、辐射线波长愈长则物质对X射线的吸收系数愈小 (×)6、满足布拉格方程2 d sinθ=λ必然发生X射线反射 (×)7、衍射强度实际是大量原子散射强度的叠加 (√)8、温度因子是由于原子热振动而偏离平衡位置所致 (√)9、结构因子与晶体中原子散射因子有关 (√)10、倒易矢量代表对应正空间中的晶面 (√)11、大直径德拜相机的衍射线分辨率高但暴光时间长(√)12、标准PDF卡片中数据是绝对可靠的 (×)13、定性物相分析中的主要依据是d值和I值 (√)14、定量物相分析可以确定样品中的元素含量 (×)15、定量物相分析K法优点是不需要掺入内标样品 (√)16、利用高温X射线衍射可以测量材料热膨胀系数(√)17、定量物相分析法中必须采用衍射积分强度 (√)18、丝织构对称轴总是沿着试样的法线方向 (×)19、为获得更多衍射线条须利用短波长X射线进行衍射(√)20、板织构有时也具有一定的对称性 (√)21、材料中织构不会影响到各晶面的衍射强度 (×)22、粉末样品不存在择优取向即织构问题 (×)23、常规衍射仪X射线穿透金属的深度通常在微米数量级 (√)24、粉末样品粒度尺寸直接关系到衍射峰形质量 (√)25、X射线应力测定方法对非晶材料也有效 (×)26、利用谢乐公式D=λ/(βcosθ) 可测得晶粒尺寸 (×)27、宏观应力必然造成衍射峰位移动 (√)28、微观应力有时也可造成衍射峰位移动 (√)29、材料衍射峰几何宽化仅与材料组织结构有关 (×)30、实测衍射线形是由几何线形与物理线形的代数叠加 (×)二、选择题1、与入射X射线相比相干散射的波长(A)较短,(B)较长,(C)二者相等,(D)不一定2、连续X射线的总强度正比于(A)管电压平方,(B)管电流,(C)靶原子序数,(D)以上都是3、L层电子回迁K层且多余能量将另一L层电子打出核外即产生(A)光电子,(B)二次荧光,(C)俄歇电子,(D) A和B4、多晶样品可采用的X射线衍射方法是(A)德拜-谢乐法,(B)劳厄法,(C)周转晶体法,(D) A和B5、某晶面族X射线衍射强度正比于该晶面的(A)结构因子,(B)多重因子,(C)晶面间距,(D) A和B6、基于X射线衍射峰位的测量项目是(A)结晶度,(B)点阵常数,(C)织构,(D)以上都是7、基于X射线衍射强度的测量项目是(A)定量物相分析,(B)晶块尺寸,(C)内应力,(D)以上都是8、测定钢中奥氏体含量时的X射线定量物相分析方法是(A)外标法,(B)内标法,(C)直接比较法,(D) K值法9、X射线衍射仪的主要部分包括(A)光源,(B)测角仪光路,(C)计数器,(D)以上都是10、Cu靶X射线管的最佳管电压约为(A) 20kV,(B) 40kV,(C) 60kV,(D) 80kV11、X射线衍射仪的测量参数不包括(A)管电压,(B)管电流,(C)扫描速度,(D)暴光时间12、实现X射线单色化的器件包括(A)单色器,(B)滤波片,(C)波高分析器,(D)以上都是13、测角仪半径增大则衍射的(A)分辨率增大,(B)强度降低,(C)峰位移,(D) A与B14、宏观应力测定几何关系包括(A)同倾,(B)侧倾,(C) A与B,(D)劳厄背反射15、定性物相分析的主要依据是(A)衍射峰位,(B)积分强度,(C)衍射峰宽,(D)以上都是16、定量物相分析要求采用的扫描方式(A)连续扫描,(B)快速扫描,(C)阶梯扫描,(D) A与B17、描述织构的方法不包括(A)极图,(B)反极图,(C) ODF函数,(D)径向分布函数18、面心立方点阵的消光条件是晶面指数(A)全奇,(B)全偶,(C)奇偶混杂,(D)以上都是19、立方晶体(331)面的多重因子是(A) 6 ,(B) 8 ,(C) 24 ,(D) 4820、哪种靶的临界激发电压最低(A) Cu ,(B) Mo ,(C) Cr ,(D) Fe21、哪种靶的K系特征X射线波长最短(A) Cu ,(B) Mo ,(C) Cr ,(D) Fe22、X射线实测线形与几何线形及物理线形的关系为(A)卷积,(B)代数和,(C)代数积,(D)以上都不是23、与X射线非晶衍射分析无关的是(A)径向分布函数,(B)结晶度,(C)原子配位数,(D)点阵参数24、宏观平面应力测定实质是利用(A)不同方位衍射峰宽差,(B)不同方位衍射峰位差,(C)有无应力衍射峰宽差,(D)有无应力衍射峰位差25、计算立方晶系ODF函数时需要(A)多张极图数据,(B)一张极图数据,(C)多条衍射谱数据,(D)一条衍射谱数据26、衍射峰半高宽与积分宽之关系通常(A)近似相等,(B)半高宽更大,(C)积分宽更大,(D)不一定27、关于厄瓦尔德反射球(A)球心为倒易空间原点,(B)直径即射线波长之倒数,(C)衍射条件是倒易点与该球面相交,(D)以上都是28、Kα双线分离度随2θ增大而(A)减小,(B)增大, (C)不变,(D)不一定29、d值误差随2θ增大而(A)减小,(B)增大, (C)不变,(D)不一定30、衍射谱线物理线形宽度随 2增大而(A)减小,(B)增大, (C)不变,(D)不一定三、填空题1、管电压较低时只产生连续谱,较高时则可能产生连续和特征谱2、K系特征X射线波长λ由短至长依次β、α1 和α23、Cu、Mo及Cr靶特征辐射波长λ由短至长依次 Mo 、 Cu 和 Cr4、特征X射线强度与管电流、管电压及特征激发电压有关5、X射线与物质的相互作用包括散射和真吸收,统称为衰减6、结构振幅符号F,结构因子符号∣F∣2,结构因子等零称为消光7、除结构因子外,影响衍射强度因子包括多重因子、吸收因子和温度因子8、体心立方晶系的低指数衍射晶面为 (110) 、(200) 和 (211)9、面心立方晶系的低指数衍射晶面为 (111) 、(200) 和 (220)10、X射线衍射方法包括劳埃法、周转晶体法和粉末法11、衍射仪的主要组成单元包括光源、测角仪光路和计数器12、影响衍射仪精度的因素包括仪器、样品和实验方法13、衍射仪的主要实验参数包括狭缝宽度、扫描范围和扫描速度14、衍射谱线定峰方法包括半高宽中点、顶部抛物线和重心法15、精确测量点阵常数的方法包括图解外推法、最小二乘法和标样校正法16、X射线定量物相分析包括直接对比、内标和K值法17、三类应力衍射效应,衍射峰位移、衍射峰宽化和衍射峰强度降低18、X射线应力常数中包括材料的弹性模量、泊松比和布拉格角19、棒材存在丝织构,板材存在板织构,薄膜存在丝织构20、X射线衍射线形包括实测线形、物理线形和仪器即几何线形四、名词解释1、七大晶系[要点]立方晶系、正方晶系、斜方晶系、菱方晶系、六方晶系、单斜晶系及三斜晶系。
X射线衍射参考答案

X射线衍射参考答案第⼀部分X射线衍射1.X射线的本质是什么?谁⾸先发现了X射线,谁揭⽰了X射线的本质?2.X射线学有⼏个分⽀?每个分⽀的研究对象是什么?答:X射线学分为三⼤分⽀:X射线透射学、X射线衍射学、X射线光谱学。
X射线透射学的研究对象有⼈体,⼯件等,⽤它的强透射性为⼈体诊断伤病、⽤于探测⼯件内部的缺陷等。
X射线衍射学是根据衍射花样,在波长已知的情况下测定晶体结构,研究与结构和结构变化的相关的各种问题。
X射线光谱学是根据衍射花样,在分光晶体结构已知的情况下,测定各种物质发出的X 射线的波长和强度,从⽽研究物质的原⼦结构和成分。
3.为什么特征X射线的产⽣存在⼀个临界激发电压?X射线管的⼯作电压与其靶材的临界激发电压有什么关系?为什么?4. 产⽣X射线需具备什么条件?答:实验证实:在⾼真空中,凡⾼速运动的电⼦碰到任何障碍物时,均能产⽣X射线,对于其他带电的基本粒⼦也有类似现象发⽣。
电⼦式X射线管中产⽣X射线的条件可归纳为:1,以某种⽅式得到⼀定量的⾃由电⼦;2,在⾼真空中,在⾼压电场的作⽤下迫使这些电⼦作定向⾼速运动;3,在电⼦运动路径上设障碍物以急剧改变电⼦的运动速度。
5.X射线具有波粒⼆象性,其微粒性和波动性分别表现在哪些现象中?答:波动性主要表现为以⼀定的频率和波长在空间传播,反映了物质运动的连续性;微粒性主要表现为以光⼦形式辐射和吸收时具有⼀定的质量,能量和动量,反映了物质运动的分⽴性。
6.什么是光电效应?光电效应在材料分析中有哪些⽤途?光电效应是指以光⼦激发电⼦所发⽣的激发和辐射过程称为光电效应。
光电效应在材料分析可⽤于光电⼦能谱分析与荧光光谱分析。
7. 分析下列荧光辐射产⽣的可能性,为什么?(1)⽤CuKαX射线激发CuKα荧光辐射;(2)⽤CuKβX射线激发CuKα荧光辐射;(3)⽤CuKαX射线激发CuLα荧光辐射。
答:根据经典原⼦模型,原⼦内的电⼦分布在⼀系列量⼦化的壳层上,在稳定状态下,每个壳层有⼀定数量的电⼦,他们有⼀定的能量。
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原理:负号的个数和负号的位置排列组合。
二、解答题
1.下面是某立方晶系物质的几个晶面,请将它们按晶面间距的大小从
小到大依次排列。(123),(100),(200),(311),(121),(111),(210),
(220),(030),(221),(110)。
解:(123),(311),(221)(030),(220),(121),(210),(200),
3.一束 X 射线照射到晶体表面上能否产生衍射取决于( C )
A.是否满足布拉格条件 B.是否满足衍射强度 I≠0 C.A+B D.晶体ห้องสมุดไป่ตู้状
4.面心立方晶体的(111)晶面族的多重性因素是( B )
A.4
B.8 C.6
D.12
(111)(������11)(1������1)(11������)( ������������1)( ������ 1������ )( ������������������)( ������������������)
A.Cu
B.Fe
C.Ni
D.Mo
4.当电子把所有能量都转换为 X 射线时,该 X 射线波长称( A )
A.短波限λ0 B.激发限λk
C.吸收限 D.特征 X 射线
第二章
一、选择题
1.有一倒易矢量为 g*=2a※+2b※+c※,与它对应的正空间晶面为( C )
A.(220) B. (210) C.(221) D.(110)
(011),(212)。
解:由晶带定理,属于该晶带的晶面为:(1������������),(0������������)
4.试计算(311)及(132)的共同晶带轴。
解:由晶带轴定理得晶带轴为:[578]
5.铝为面心立方点阵,a=0.409nm。今用 CrKα(λ = 0.209nm)摄照
周转晶体相,X 射线垂直于[001].试用厄瓦尔德图解法原理判断下列
第一章
一、选择题
1.用来进行晶体结构分析的 X 射线学分支是 ( B )
A.X 射线透射学 B.X 射线衍射学 C.X 射线光谱学 D 其他
2.M 层电子回迁到 K 层后,多余的能量放射出的特征 X 射线称 ( B )
A. Kα
B. Kβ
C.Kγ
D. Lα
3.当 X 射线发生装置时 Cu 靶,滤波片应选 ( C )
(331)
(111),(110),(100) 即:晶面指数的平方和越大的晶面,晶面间 距越小。
2.当波长为λ的 X 射线射到晶体并出现衍射线时,相邻两个(hkl)反
射线的程差是多少?相邻两个(HKL)反射线的程差又是多少?
解:n������,
������
3.判断哪些晶面属于[111]晶带:(110),(133),(112),(132),
晶面有无可能参与衍射:(111),(200),(220),(311),(331),(420)。
解:反射球(厄瓦尔德球)的半径 r=1/������=4.78; 倒易球的半径 r*=1/d 由厄瓦尔德图解知 可以衍射的晶面需满足:r*<2r
d
及 hkl
a h2 k2 l2
得可衍射的晶面为(: 111),(200),(220),(311),
解题思路:正空间中的晶面对应于倒空间中同指数的一个阵点。
2.有一体心立方晶体的晶格常数是 0.286nm,用铁靶 Kα (λKα=0.194nm)照射
能产生( B )条衍射线。
A.3
B.4
C.5
D.6
解题思路:产生衍射的晶面需满足:1.体心立方消光条件 2.满足衍射极限条
件,同时满足上述两条件的晶面为(110),(200),(211),(200)